CN112747902A - 光学测定方法和处理装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种光学测定方法和处理装置。光学测定方法包括以下步骤：获取已被赋予针对第一波长范围的光谱辐射照度的值的第一标准灯的第一检测结果；获取已被赋予针对至少一部分波长范围与第一波长范围重复的第二波长范围的光谱辐射照度的值的第二标准灯的第二检测结果；计算关于第一波长范围与第二波长范围重复的波长范围的波长的校准系数的校正值；至少基于第一校准系数和校正值来决定第三校准系数；获取第三标准灯的第三检测结果；以及基于第三检测结果和第三校准系数，来对第三标准灯赋予测光量的值。

Description

光学测定方法和处理装置
技术领域
本发明涉及一种能够使能够测定测光量的波长范围扩大的光学测定方法和适用于该光学测定方法的处理装置。
背景技术
产生包含紫外区域和红外区域这样的可见区域以外的波长的光的光源被利用于各种领域。例如，照射紫外区域的光的汞灯、氘灯、UV-LED等使用于杀菌用或灭菌用、化学分析用、树脂固化用等用途。
为了评价这样的产生包含可见区域以外的波长的光的光源，需要准备与该光源所产生的波长相应的标准灯(标准器)。
如木下健一、“検出器の応答度に基づく測光·放射標準の具現方法に関する調査研究(关于基于检测器的响应度的测光/辐射标准的具体实现方法的调查研究)、”2008年3月、産総研計量標準報告(产综研计量标准报告)Vol.7,No.1、<URL:https://unit.aist.go.jp/nmij/public/report/bulletin/Vol7/1/V7N1P41.pdf>所公开的那样，在日本，在光辐射量的值的赋予方面，具有最高水平的是产业技术综合研究所计量标准综合中心(NMIJ：National Metrology Institute of Japan：日本计量研究所)管理的国家计量标准组。在对光度、照度、分布温度等测光量进行值的赋予时，使用由NMIJ(或者日本电气仪表检定所)提供的标准灯。校准业务商使用由NMIJ(或日本电气仪表检定所)校准后的标准灯，来校准照度计、白炽灯、荧光灯等面向一般用户的设备。
如“JCSS技術的要求事項適用指針登録に係る区分：光校准手法の区分の呼称：光度標準電球等(JCSS技术要求事项应用指南与登录有关的分类：光校准方法的分类的称呼：光度标准灯等)(第10版)”、平成29年5月26日、独立行政法人製品評価技術基盤機構認定センター(独立行政法人产品评价技术基础机构认定中心)、<URL:https://www.nite.go.jp/data/000001491.pdf>所公开的那样，针对校准业务商提出的光谱辐射照度标准灯，通过特定标准器赋予针对200[nm]以上400[nm]以下的校准范围的每个波长的光谱辐射照度，通过特定副标准器赋予针对250[nm]以上2500[nm]以下的校准范围的每个波长的光谱辐射照度。
另外，对于校准业务商所提出的光度标准灯和总光通量标准灯，以波长范围为360[nm]至830[nm]的可见区域为前提，赋予与指定电压或指定分布温度对应的光度测定值或总光通量测定值。
如“参考资料1特定標準器による校准等の実施について(分光全放射束)(基于特定标准器的校准等的实施(分光总辐射通量))”、2018年2月16日、平成29年第一次计量行政审议会计量标准部会，<URL:https://www.meti.go.jp/shingikai/keiryogyoseishin/keiryo_hyojun/pdf/h29_01_s01_00.pdf>所公开的那样，在250[nm]以上2500[nm]以下的校准范围内，将光谱辐射照度用卤素灯用作被校准光源，在250[nm]以下的校准范围内，将氘灯用作被校准光源。其中，氘灯的校准范围被设为200[nm]以上400[nm]以下。
如上所述，关于覆盖从紫外区域到红外区域的国家标准可追溯的标准灯，当前只有(1)适用于200[nm]以上400[nm]以下的校准范围的光谱辐射照度标准灯(氘灯)以及(2)适用于250[nm]以上2500[nm]以下的校准范围的光谱辐射照度标准灯(卤素灯)这两种。这些标准灯的已被赋予值的物理量是光谱辐射照度(作为单位，例如是[W/m2/nm]或[μW/cm2/nm])。
作为已被赋予光谱辐射照度以外的物理量的值的标准灯，存在已被赋予总光通量的值的总光通量标准灯和已被赋予光度的值的光度标准灯等。
通过将对应的辐射量(例如，辐射通量和辐射强度)乘以标准比能见度V(λ)，来计算光通量和光度之类的测光量。在此，定义V(λ)的波长范围是360[nm]至830[nm]的可见区域，因此计算出的光通量和光度也是以可见区域为对象，无法关于紫外区域(波长360[nm]以下)和红外区域(波长830[nm]以上)进行测定。
因而，在紫外区域(波长360[nm]以下)或红外区域(波长830[nm]以上)中，若要测定辐射通量等辐射量，则不得不通过使用光谱辐射照度标准灯(氘灯或卤素灯)对测定装置进行校准来确保国家标准可追溯性。
作为一例，如“LEDの全光束測定の効率化を実現－新方式に基づく全光束LED校准装置の開発－(实现LED的总光通量测定的高效化-基于新方式的总光通量LED校准装置的开发-)”、2009年5月、地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター(地方独立行政法人东京都立产业技术研究中心)TIRI News 2009年5月号、<URL:https://www.iri-tokyo.jp/uploaded/attachment/2602.pdf>所公开的那样，提出了在积分球的外部配置光谱辐射照度标准灯来进行装置校准的方法。
然而，上述公开的校准方法由于使用积分球而难以提高校准精度。
发明内容
本发明的一个目的在于提供一种即使在未提供已被赋予光谱辐射照度以外的物理量的值的国家标准可追溯的标准灯的波长范围内也能够测定样品的测光量的光学测定方法等。
本发明的某个方面的光学测定方法包括以下步骤：使已被赋予针对第一波长范围的光谱辐射照度的值的第一标准灯点亮，并且获取从分光光度计输出的第一检测结果，分光光度计配置在与第一标准灯相距赋予了光谱辐射照度的值的第一距离的位置处；使已被赋予针对至少一部分波长范围与第一波长范围重复的第二波长范围的光谱辐射照度的值的第二标准灯点亮，并且获取从分光光度计输出的第二检测结果，分光光度计配置在与第二标准灯相距第一距离的位置处；基于第一检测结果和已赋予给第一标准灯的光谱辐射照度的值，来计算第一校准系数；基于第二检测结果和已赋予给第二标准灯的光谱辐射照度的值，来计算第二校准系数；基于第一校准系数和第二校准系数，来计算关于第一波长范围与第二波长范围重复的波长范围的波长的校准系数的校正值；至少基于第一校准系数和校正值来决定第三校准系数；使第三标准灯点亮，并且获取从配置在与第三标准灯相距规定距离的位置处的分光光度计输出的第三检测结果；以及基于第三检测结果和第三校准系数，来对第三标准灯赋予测光量的值。
也可以是，决定第三校准系数的步骤包括以下步骤：在第一波长范围与第二波长范围重复的波长范围中决定要决定校正值的校正对象区间；以及针对校正对象区间内包含的各波长决定校正值。
也可以是，决定校正对象区间的步骤包括以下步骤：搜索第一校准系数的值与第二校准系数的值之间的偏差量最小的区间。
也可以是，针对校正对象区间内包含的各波长决定校正值的步骤包括以下步骤：对校正对象区间内包含的各波长的第一校准系数的值和第二校准系数的值赋予与各波长对应的各个权重，由此决定对应的校正值。
光学测定方法还包括以下步骤：获取由第三标准灯产生的第一辐射照度；获取由任意的样品产生的第二辐射照度；以及基于第一辐射照度与第二辐射照度的比率以及已赋予给第三标准灯的测光量的值，来获取样品的测光量。
第一辐射照度也可以是使来自第三标准灯的光入射到积分器后在积分器的内壁产生的照度，第二辐射照度也可以是使来自样品的光入射到积分器后在积分器的内壁产生的照度。
第一波长范围也可以包括紫外区域，第二波长范围也可以包括可见区域。
本发明的另一个方面的处理装置包括第一校准系数计算单元，该第一校准系数计算单元基于与已被赋予针对第一波长范围的光谱辐射照度的值的第一标准灯有关的第一检测结果、以及已赋予给第一标准灯的光谱辐射照度的值来计算第一校准系数。第一检测结果是使第一标准灯点亮并且使用配置在与第一标准灯相距赋予了光谱辐射照度的值的第一距离的位置处的分光光度计获取到的结果。处理装置包括第二校准系数计算单元，该第二校准系数计算单元基于与已被赋予针对至少一部分波长范围与第一波长范围重复的第二波长范围的光谱辐射照度的值的第二标准灯有关的第二检测结果、以及已赋予给第二标准灯的光谱辐射照度的值来计算第二校准系数。第二检测结果是使第二标准灯点亮并且使用配置在与第二标准灯相距第一距离的位置处的分光光度计获取到的结果。处理装置包括：校正值计算单元，其基于第一校准系数和第二校准系数，来计算同第一波长范围与第二波长范围重复的波长范围的波长有关的校准系数的校正值；第三校准系数决定单元，其至少基于第一校准系数和校正值来决定第三校准系数；以及测光量决定单元，其基于与第三标准灯有关的第三检测结果和第三校准系数，来决定赋予给第三标准灯的测光量的值。第三检测结果是使用配置在与第三标准灯相距规定距离的位置处的分光光度计获取到的结果。
根据本发明的某个方面，即使是未提供已被赋予光谱辐射照度以外的物理量的值的国家标准可追溯的标准灯的波长范围，也能够测定样品的测光量。
根据以下的关于结合附图所能理解的本发明的详细说明，本发明的上述目的、特征、方面及优点以及其它目的、特征、方面及优点会变得明确。
附图说明
图1是示出本实施方式的光学测定方法的测定过程的处理过程的流程图。
图2是用于说明本实施方式的光学测定方法中的校准系数的决定处理的图。
图3是示出在本实施方式的光学测定方法中使用的测定系统的光接收头的结构例的剖视图。
图4是用于说明本实施方式的光学测定方法中的校准系数的计算方法的图。
图5是用于说明本实施方式的光学测定方法中的针对二次标准灯进行的测光量的值的赋予的图。
图6是用于说明本实施方式的光学测定方法中的样品的光谱辐射通量的测定的图。
图7是更为详细地示出图6所示的第三测定系统的内部构造的图。
图8是示出在本实施方式的光学测定方法中使用的光谱辐射照度标准灯所产生的光的光谱的一例的图。
图9是将图8所示的光谱的一例放大后的图。
图10是示出在本实施方式的光学测定方法中使用的光谱辐射照度标准灯中产生的不确定度的一例的图。
图11是用于说明在本实施方式的光学测定方法中使用的光谱辐射照度标准灯中产生的杂散光的影响的图。
图12是示出使用在本实施方式的光学测定方法中使用的光谱辐射照度标准灯计算出的校准系数的一例的图。
图13是用于说明本实施方式的光学测定方法中的决定接合处波长范围的处理的图。
图14是示出本实施方式的光学测定方法中的决定接合处波长范围的处理的一例的图。
图15是用于说明本实施方式的光学测定方法中的将校准系数进行接合的处理的图。
图16是用于说明本实施方式的光学测定方法中的将校准系数进行接合的处理例的图。
图17是示出图1的步骤S18的更为详细的处理过程的流程图。
图18是示出在本实施方式的光学测定方法中进行合成所得到的校准系数C(λ)的一例的图。
图19是示出用于实现本实施方式的光学测定方法的处理装置的硬件结构例的示意图。
附图标记说明
2：紫外用标准灯；4：可见用标准灯；6：二次标准灯；8：样品；10：第一测定系统；12：光学工作台；14：支承构件；16、18：基座构件；20：第二测定系统；22：测角台；24：第一旋转轴；26：保持构件；28：第二旋转轴；30：第三测定系统；32：积分器；34：样品窗；36：测光窗；37：遮光板；38：校正用光源；50：分光光度计；60：光接收头；62：光圈；64：扩散板；66：光轴；68：光纤；100：处理装置；102：处理器；104：主存储器；106：输入部；108：显示部；110：存储装置；112：操作系统；114：测定程序；116：测定结果；118：设定参数；120：通信接口；122：网络接口；124：介质驱动器；126：记录介质；AX1、AX2：旋转轴。
具体实施方式
参照附图来详细地说明本发明的实施方式。此外，对图中的相同或相当的部分标注相同的附图标记，不重复其说明。
<A.解决方案>
如上所述，由于在可见区域以外没有提供总光通量标准灯，因此使用总光通量标准灯通过球形光通量计法等方法进行比较测定来评价样品的测光量是困难的。
因此，在本发明的实施方式中，提供一种光谱辐射通量标准灯，其输出未提供已被赋予光谱辐射照度以外的物理量的值的国家标准可追溯的标准灯的波长范围，并且本发明的实施方式提供一种能够在确保国家标准可追溯性并能够使用该光谱辐射通量标准灯来评价样品的测光量的方法。下面，主要对产生紫外区域(例如为220[nm]至340[nm])的光的光谱辐射通量标准灯进行说明。
另外，作为样品的测光量的一例，对测定光谱辐射通量或总辐射通量的情况进行说明。
<B.测定过程概要>
首先，对本实施方式的光学测定方法的测定过程的概要进行说明。
图1是示出本实施方式的光学测定方法的测定过程的处理过程的流程图。图1所示的步骤中的运算处理所涉及的步骤也可以由如后述那样的处理装置来执行。
参照图1，首先，实施测定系统的校准系数的决定处理(步骤S1)。
具体地说，构建包括光学工作台、光接收头以及分光光度计(或分光照度计)的第一测定系统(步骤S11)。
接着，安装适用于200[nm]以上400[nm]以下的校准范围的光谱辐射照度标准灯(氘灯)(以下，也称为“紫外用标准灯”。)，并调整紫外用标准灯与光接收头的光轴(步骤S12)。在该状态下，将紫外用标准灯点亮来进行老炼(步骤S13)。在老炼后，获取在点亮紫外用标准灯时从分光光度计输出的第一检测结果(步骤S14)。
另外，安装适用于250[nm]以上2500[nm]以下的校准范围的光谱辐射照度标准灯(卤素灯)(以下，也称为“可见用标准灯”。)，并调整可见用标准灯与光接收头的光轴(步骤S15)。在该状态下，将可见用标准灯点亮来进行老炼(步骤S16)。在老炼后，获取在点亮可见用标准灯时从分光光度计输出的第二检测结果(步骤S17)。
使用在步骤S14中获取到的第一检测结果、在步骤S17中获取到的第二检测结果以及已赋予给紫外用标准灯和可见用标准灯的光谱辐射照度的值，来决定构建出的第一测定系统的校准系数C(λ)(步骤S18)。
此外，步骤S12～S14的处理和步骤S15～S17的处理的实施顺序可以是任意的顺序。
接着，实施对光谱辐射通量标准灯(以下也称为“二次标准灯”。)赋予测光量(光谱辐射通量以及/或者总辐射通量)的值的处理(步骤S2)。二次标准灯已被赋予针对紫外区域的值，因此二次标准灯也能够称为紫外用光谱辐射通量标准灯。
具体地说，构建包括光学工作台、测角台、光接收头以及分光光度计的第二测定系统(步骤S21)。接着，将二次标准灯安装于第二测定系统(步骤S22)。在该状态下，将二次标准灯点亮来进行老炼(步骤S23)。使用第二测定系统对二次标准灯进行配光测定，来测定二次标准灯的光谱辐射通量(步骤S24)。对二次标准灯赋予测定出的该光谱辐射通量的值。此外，针对二次标准灯，也可以赋予总辐射通量的值来代替光谱辐射通量的值，或者除了赋予光谱辐射通量的值之外还赋予总辐射通量的值。
最后，使用第三测定系统对样品实施测光量(光谱辐射通量以及/或者总辐射通量)的测定(步骤S3)。
具体地说，构建包括积分器的第三测定系统(步骤S31)。接着，将二次标准灯安装在积分器的样品窗上(步骤S32)。在该状态下，将二次标准灯点亮来进行老炼(步骤S33)。在老炼后，获取在点亮二次标准灯时从分光光度计输出的检测结果来作为基准值(步骤S34)。
接着，从积分器的样品窗卸下二次标准灯，将作为测定对象的样品安装在积分器的样品窗上(步骤S35)。在该状态下，将样品点亮来进行老炼(步骤S36)。在老炼后，获取在点亮样品时从分光光度计输出的检测结果(步骤S37)。基于在步骤S34中获取到的基准值和在步骤S37中获取到的检测结果，来计算样品的光谱辐射通量(步骤S38)。此外，也可以计算总辐射通量来代替光谱辐射通量，或者除了计算光谱辐射通量之外还计算总辐射通量。然后，一系列的处理结束。
此外，步骤S36～S38的处理也可以重复进行与样品的数量相应的次数。另外，步骤S32～S34的处理和步骤S35～S37的处理的实施顺序也可以是任意顺序。
<C.校准系数的决定处理(步骤S1)>
首先，对校准系数的决定处理(步骤S1)进行说明。
图2是用于说明本实施方式的光学测定方法中的校准系数的决定处理的图。如图2的(A)和图2的(B)所示，在校准系数的决定处理(步骤S1)中，使用第一测定系统10来决定针对分光光度计50和光接收头60的校准系数C(λ)。
第一测定系统10是以光学工作台12为基部的装置，通过配置在光学工作台12上的支承构件14来将光接收头60配置在规定位置。光学工作台12是用于固定标准灯和光接收头60的治具。光接收头60经由光纤68而与分光光度计50以光学方式连接。
分光光度计50的测定波长范围至少包括紫外区域。光纤68由至少在紫外区域具有透过性的材料(例如石英等)构成，将经由光接收头60从一端入射的光导向分光光度计50。
图3是示出在本实施方式的光学测定方法中使用的测定系统的光接收头的结构例的剖视图。光接收头60具有适于测定辐射照度的构造。具体地说，参照图3，光接收头60包括在穿过光纤68的连接位置的光轴66上配置的光圈62和扩散板64。透过了光圈62的光在扩散板64上被扩散后，经由光纤68入射到分光光度计50。
在图2的(A)所示的状态下，在与光接收头60相向的位置处，通过配置在光学工作台12上的基座构件16来配置紫外用标准灯2。调整支承构件14和基座构件16的位置，以使得紫外用标准灯2和光接收头60被配置在同一光轴上。另外，紫外用标准灯2与光接收头60之间的距离被调整为预先关于紫外用标准灯2的校准所决定出的标准距离R1(通常为500[mm])。在图2的(A)所示的状态下，获取在点亮紫外用标准灯2时产生的从分光光度计50输出的检测结果来作为第一检测结果。
这样，实施以下处理：使已被赋予针对200nm以上400nm以下的校准范围(第一波长范围)的光谱辐射照度的值的紫外用标准灯2(第一标准灯)点亮，并且获取从分光光度计50输出的第一检测结果，该分光光度计50配置在与紫外用标准灯2相距赋予了光谱辐射照度的值的标准距离R1(第一距离)的位置处。在此，第一波长范围包括紫外区域。
另一方面，在图2的(B)所示的状态下，在与光接收头60相向的位置处，通过配置在光学工作台12上的基座构件18来配置可见用标准灯4。调整支承构件14和基座构件18的位置，以使得可见用标准灯4和光接收头60配置在同一光轴上。另外，可见用标准灯4与光接收头60之间的距离被调整为预先关于可见用标准灯4的校准所决定的标准距离R1(通常为500[mm])。在图2的(B)所示的状态下，获取在点亮可见用标准灯4时从分光光度计50输出的检测结果来作为第二检测结果。
这样，实施以下处理：使已被赋予针对250[nm]以上2500[nm]以下的校准范围(至少一部分波长范围与第一波长范围重复的第二波长范围)的光谱辐射照度的值的可见用标准灯4(第二标准灯)点亮，并且获取从分光光度计50输出的第二检测结果，该分光光度计50配置在与可见用标准灯4相距赋予了光谱辐射照度的值的标准距离R1(第一距离)的位置处。在此，第二波长范围包括可见区域。
此外，从分光光度计50输出暗校正后的每单位时间的检测结果(Sig-Dark)。
基于在点亮紫外用标准灯2时产生的从分光光度计50输出的检测结果，来计算针对紫外用标准灯2的校准系数CUV(λ)。即，实施基于第一检测结果和已赋予给紫外用标准灯2(第一标准灯)的光谱辐射照度的值来计算校准系数CUV(λ)(第一校准系数)的处理。
同样地，基于在点亮可见用标准灯4时产生的从分光光度计50输出的检测结果，来计算针对可见用标准灯4的校准系数CVIS(λ)。即，实施基于第二检测结果和已赋予给可见用标准灯4(第二标准灯)的光谱辐射照度的值来计算校准系数CVIS(λ)(第二校准系数)的处理。
图4是用于说明本实施方式的光学测定方法中的校准系数的计算方法的图。图4的(A)中示出分光光度计50的检测结果的一例。图4的(B)中示出在图4的(A)所示的测定中使用的针对标准灯的检定值的一例。图4的(C)中示出根据分光光度计50的检测结果和对应的检定值计算出的校准系数的一例。
计算图4的(A)所示的测定出的分光光度计50的检测结果与图4的(B)所示的针对所对应的标准灯的检定值的比(每个波长)，来作为校准系数C(λ)。计算出的校准系数C(λ)包含针对每个波长的值。
在本实施方式中，能够获取校准系数CUV(λ)和校准系数CVIS(λ)，其中，该校准系数CUV(λ)是使用适用于200nm以上400nm以下的校准范围的光谱辐射照度标准灯(氘灯)(紫外用标准灯2)计算出的校准系数，校准系数CVIS(λ)是使用适用于250nm以上2500nm以下的校准范围的光谱辐射照度标准灯(卤素灯)(可见用标准灯4)计算出的校准系数。
通过将这两个校准系数进行合成，来决定本实施方式的测定系统的校准系数C(λ)。此外，在后文中详细叙述根据使用紫外用标准灯2计算出的校准系数CUV(λ)和使用可见用标准灯4计算出的校准系数CVIS(λ)来决定一个校准系数C(λ)的处理。
<D.针对二次标准灯进行的测光量的值的赋予(步骤S2)>
接着，说明针对二次标准灯进行的测光量的值的赋予(步骤S2)。
图5是用于说明本实施方式的光学测定方法中的针对二次标准灯进行的测光量的值的赋予的图。如图5所示，在针对二次标准灯进行的测光量的值的赋予(步骤S2)中，使用第二测定系统20。
第二测定系统20是将图2所示的第一测定系统10的一部分构造进行变更所得到的系统，配置二次标准灯6来代替标准灯(紫外用标准灯2或可见用标准灯4)。由于光接收头60、光纤68以及分光光度计50与在第一测定系统10中使用的光接收头60、光纤68以及分光光度计50相同，因此能够直接利用在上述校准系数的决定处理(步骤S1)中决定出的校准系数C(λ)。
二次标准灯6能够通过配置在光学工作台12上的测角台22而相对于光接收头60配置在任意的相向位置。
更为具体地说，测角台22包括：第一旋转轴24，其能够沿旋转轴AX1旋转；保持构件26，其被第一旋转轴24支承；以及第二旋转轴28，其设置于保持构件26，且能够沿旋转轴AX2(与旋转轴AX1正交)旋转。二次标准灯6与第二旋转轴28连结。因此，二次标准灯6能够分别沿旋转轴AX1和旋转轴AX2相对于光接收头60旋转。无论旋转状态如何，光接收头60与二次标准灯6之间的测定距离R2都维持固定。即，测角台22是在将到光接收头60的距离保持固定的状态下使二次标准灯6沿两个旋转轴分别独立地旋转的机构。
这样，实施以下处理：使二次标准灯6(第三标准灯)点亮，并且获取从分光光度计50输出的检测结果(第三检测结果)，该分光光度计50配置在与二次标准灯6相距规定距离即测定距离R2的位置处。
使用像这样获取到的检测结果来测定二次标准灯6的光谱辐射通量ΦST(λ)。对二次标准灯6的光谱辐射通量ΦST(λ)的测定过程和测定方法等进行说明。
在二次标准灯6与光接收头60处于任意的相对关系(旋转轴AX1的角度θ、旋转轴AX2的角度
Figure BDA0002754168030000132
)的状态下，将分光光度计50的检测结果(暗校正后的每单位时间的信号强度)设为
Figure BDA0002754168030000133
使用在上述的校准系数的决定处理(步骤S1)中决定出的校准系数C(λ)，如以下的(1)式那样表示二次标准灯6的光谱辐射照度
Figure BDA0002754168030000134
Figure BDA0002754168030000135
由于辐射照度E[W/m2]与辐射强度I[W/sr]之间存在逆平方律E＝I/r2的关系，因此二次标准灯6的光谱辐射强度
Figure BDA0002754168030000136
如以下的(2)式所示。
Figure BDA0002754168030000137
通过对二次标准灯6的光谱辐射强度
Figure BDA0002754168030000138
关于所有立体角进行积分，能够计算出二次标准灯6的光谱辐射通量ΦST(λ)[W/nm]。即，二次标准灯6的光谱辐射通量ΦST(λ)如以下的(3)式所示。
Figure BDA0002754168030000131
如上所述，一边使用第二测定系统20的测角台22依次改变二次标准灯6相对于光接收头60的位置，一边依次累计将从分光光度计50依次输出的检测结果(Sig-Dark)乘以校准系数C(λ)的倒数以及测定距离R2的平方值所得到的值，由此能够计算出二次标准灯6的光谱辐射通量ΦST(λ)。
此外，能够根据光接收头60的视野范围来适当设定二次标准灯6相对于光接收头60的移动量(位置的变化量)。
并且，通过对二次标准灯6的光谱辐射通量ΦST(λ)关于波长λ进行积分，能够计算出二次标准灯6的总辐射通量ΦST。
通过以上的处理，针对二次标准灯6进行的光谱辐射通量ΦST(λ)和总辐射通量ΦST的值的赋予完成。
这样，实施以下处理：基于在点亮二次标准灯6(第三标准灯)时从分光光度计输出的检测结果(第三检测结果)、以及校准系数C(λ)(第三校准系数)，来对二次标准灯6赋予测光量(光谱辐射通量ΦST(λ)以及/或者总辐射通量ΦST)的值。
<E.样品的光谱辐射通量的测定(步骤S3)>
接着，对样品的光谱辐射通量的测定(步骤S3)进行说明。
图6是用于说明本实施方式的光学测定方法中的样品的光谱辐射通量的测定的图。图7是更为详细地示出图6所示的第三测定系统30的内部构造的图。
如图6所示，在样品的光谱辐射通量的测定(步骤S3)中，使用第三测定系统30。
第三测定系统30作为总辐射通量测定装置(球形光通量计)发挥功能，包括积分器32、光接收头60以及经由光纤68而与光接收头60以光学方式连接的分光光度计50。在图6中，作为一例，示出测定样品8的光谱辐射通量的情况。
更为具体地说，在第三测定系统30中，通过与被赋予了光谱辐射通量以及/或者总辐射通量的值的二次标准灯6之间的比较测定，来测定样品8的光谱辐射通量以及/或者总辐射通量。
在积分器32的内壁涂布有硫酸钡(BaSO4)、Spectralon(注册商标)(PTFE)等白色的漫反射材料。入射到积分器32的光或者在积分器32的内部产生的光或入射到内部的光在积分器32的内壁被多重反射之后，成为对积分器32的内壁均匀地照明的状态。在这样的状态下，积分器32的内壁的平均辐射照度与入射的光的总辐射通量成比例。
在积分器32的内壁的一部分设置有嵌入了透过型扩散板等的测光窗36。在测光窗36上安装有光接收头60，通过观测积分器32的内壁的辐射照度，能够获取与光源的光谱辐射通量或总辐射通量成比例的测定结果。
此外，作为积分器32，既可以使用如图6所示的全球状的积分全球，也可以使用具有镜面的半球状的积分半球。
如图7所示，在积分器32的内部也可以设置遮光板37，以使得从样品窗34入射的光不直接入射到测光窗36。
另外，也可以设置用于校正自吸收的校正用光源38。校正用光源38用于决定自吸收校正系数α，该自吸收校正系数α用于校正存在于积分器32内部的构件对光的吸收产生的影响。
如上所述，在步骤S2中，对作为紫外用光谱辐射通量标准灯的二次标准灯6赋予了测光量(光谱辐射通量以及/或者总辐射通量)的值。在第三测定系统30中，通过将二次标准灯6与样品8进行比较测定，来计算样品8的测光量(光谱辐射通量以及/或者总辐射通量)。
如果将已赋予给二次标准灯6的总辐射通量的值设为ΦST、将在点亮二次标准灯6时产生的分光光度计50的检测结果设为SST、将在点亮样品8时产生的分光光度计50的检测结果设为SSMP，则样品8的总辐射通量ΦSMP如以下的(4)式所示。
ΦSMP＝α×SSMP/SST×ΦST…(4)
在二次标准灯6的形状与样品8的形状实质上相同的情况下，也可以视为自吸收校正系数α≈1。
或者，如果考虑每个波长(每个通道)的检测结果，则样品8的光谱辐射通量ΦSMP(λ)如以下的(5)式所示。
ΦSMP(λ)＝α×SSMP(λ)/SST(λ)×ΦST(λ)…(5)
如图6的(A)所示，将二次标准灯6安装于积分器32的样品窗34，获取点亮二次标准灯6时的分光光度计50的检测结果SST。这样，实施获取由二次标准灯6(第三标准灯)产生的辐射照度的处理。所获取的辐射照度是使来自二次标准灯6(第三标准灯)的光入射到积分器32后在积分器32的内壁产生的照度。
同样地，如图6的(B)所示，将样品8安装于积分器32的样品窗34，获取点亮样品8时的分光光度计50的检测结果SSMP。这样，实施获取由任意的样品8产生的辐射照度的处理。所获取的辐射照度是使来自样品8的光入射到积分器32后在积分器32的内壁产生的照度。
使用获取到的检测结果SST和检测结果SSMP、以及已赋予给二次标准灯6的光谱辐射通量ΦST(λ)或总辐射通量ΦST的值，来计算样品8的光谱辐射通量ΦSMP(λ)或总辐射通量ΦSMP。这样，实施以下处理：基于针对二次标准灯6获取到的辐射照度与针对样品8获取到的辐射照度的比率、以及已赋予给二次标准灯6的测光量(光谱辐射通量ΦST(λ)或总辐射通量ΦST)的值，来获取样品8的测光量。
通过如上所述的处理过程，能够获取样品8的测光量(光谱辐射通量ΦSMP(λ)或总辐射通量ΦSMP)的值。
此外，已知在积分器32的内壁涂布的漫反射材料(例如硫酸钡、Spectralon)的反射率随着经年变化而逐渐降低。因此，优选在获取点亮二次标准灯6时产生的分光光度计50的检测结果SST的处理与获取点亮样品8时产生的分光光度计50的检测结果SSMP的处理之间尽量不空出时间。因此，优选定期实施获取作为基准值的检测结果SST的处理。
<F.校准系数C(λ)的决定处理>
接着，详细说明校准系数的决定处理(步骤S1)中的决定校准系数C(λ)的处理(步骤S18)。
(f1：整体处理)
图8是示出在本实施方式的光学测定方法中使用的光谱辐射照度标准灯所产生的光的光谱的一例的图。在图8中，以标准化的状态示出各个标准灯产生的光的强度。
参照图8，紫外用标准灯2产生包含大致200[nm]至400[nm]的波长范围的光。另一方面，可见用标准灯4产生包含大致250[nm]以上的波长范围的光。
图9是将图8所示的光谱的一例放大后的图。参照图9，250[nm]至400[nm]的范围为紫外用标准灯2产生的光与可见用标准灯4产生的光之间重叠的波长范围。
在本实施方式的光学测定方法中，考虑(1)不确定度的观点和(2)由杂散光引起的误差的观点，通过将使用紫外用标准灯2计算出的校准系数CUV(λ)和使用可见用标准灯4计算出的校准系数CVIS(λ)进行接合，来合成校准系数C(λ)。首先，对各个观点进行说明。
图10是示出在本实施方式的光学测定方法中使用的光谱辐射照度标准灯产生的不确定度的一例的图。参照图10，紫外用标准灯2的不确定度与可见用标准灯4的不确定度相比相对较大。即，认为使用紫外用标准灯2计算出的校准系数CUV(λ)的精度比使用可见用标准灯4计算出的校准系数CVIS(λ)的精度低。
因此，还认为最好以可见用标准灯4的下限波长250[nm]为边界，在边界以下的波长范围内采用校准系数CUV(λ)，在边界以上的波长范围内采用校准系数CVIS(λ)。然而，在可见用标准灯4的下限波长附近，由在分光光度计50的内部可能产生的杂散光引起的误差的影响大。
图11是用于说明在本实施方式的光学测定方法中使用的光谱辐射照度标准灯产生的杂散光的影响的图。在图11的(A)中示出紫外用标准灯2产生的杂散光，在图11的(B)中示出可见用标准灯4产生的杂散光。
如图11的(A)所示，关于紫外用标准灯2产生的光，越是短波长侧，强度越高，杂散光的影响相对变小。其结果，能够认为使用紫外用标准灯2计算出的校准系数CUV(λ)的在短波长侧的值更准确。
与此相对地，如图11的(B)所示，关于可见用标准灯4产生的光，越是短波长侧，强度越低，杂散光的影响相对变大。其结果，能够认为使用可见用标准灯4计算出的校准系数CVIS(λ)的在短波长侧的值更不准确。
图12是示出使用在本实施方式的光学测定方法中使用的光谱辐射照度标准灯计算出的校准系数的一例的图。在图12中示出使用紫外用标准灯2计算出的校准系数CUV(λ)和使用可见用标准灯4计算出的校准系数CVIS(λ)的一例。
可知，关于这些校准系数中的使用可见用标准灯4计算出的校准系数CVIS(λ)，在比350[nm]短的波长侧校准系数急剧地变化。这样的校准系数的急剧变化被认为是由在分光光度计50的内部可能产生的杂散光造成的影响。根据图12所示的校准系数的计算例，可以说不能将可见用标准灯4的下限波长250[nm]之前的范围使用于校准。
根据如上所述的研究，关于在如图9所示的紫外用标准灯2产生的光和可见用标准灯4产生的光之间重叠的波长范围(例如，250[nm]至400[nm])的校准系数C(λ)，优选将校准系数CUV(λ)和校准系数CVIS(λ)适当进行接合。
作为将校准系数进行接合时的基本想法，例如在能够实际应用使用不确定度小的可见用标准灯4计算出的校准系数CVIS(λ)的范围内，采用校准系数CVIS(λ)来作为校准系数C(λ)。另外，针对从不存在可见用标准灯4的检定值的下限波长(例如200nm)起至使用紫外用标准灯2计算出的校准系数CUV(λ)与使用可见用标准灯4计算出的校准系数CVIS(λ)表示出接近的值的波长为止的范围(以下，也称为“接合处波长范围”。)，主要采用校准系数CUV(λ)。
这样，为了将校准系数CUV(λ)和校准系数CVIS(λ)进行接合来决定校准系数C(λ)，需要进行以下两个处理。
(1)校准系数一致或近似的接合处波长范围的搜索处理
(2)将校准系数进行接合的运算处理
下面，详细说明这些处理。
(f2：校准系数一致或近似的波长范围(接合处波长范围)的搜索处理)
接合处波长范围相当于在紫外用标准灯2的波长范围与可见用标准灯4的波长范围重叠的波长范围中的应决定校准系数的校正值的校正对象区间。接合处波长范围的搜索处理是指决定应决定校准系数的校正值的校正对象区间的处理。
优选的是，接合处波长范围不是通过用户的视觉观察来决定的，而是按照规定的算法来进行数值的搜索。特别地，接合处波长范围的宽度根据所使用的标准灯和分光光度计的规格而变化。在通过用户的视觉观察来决定的情况下，每个用户的偏差大。
图13是用于说明本实施方式的光学测定方法中的决定接合处波长范围的处理的图。参照图13，优选通过包含多个连续的校准系数的区间来评价使用紫外用标准灯2计算出的校准系数CUV(λ)与使用可见用标准灯4计算出的校准系数CVIS(λ)一致或近似的接合处波长范围。
例如，在仅通过校准系数CUV(λ)与校准系数CVIS(λ)交叉的一个点进行评价的情况下，在存在多个交叉的点那样的情况下无法适当地决定接合处波长范围。因此，在校准系数CUV(λ)与校准系数CVIS(λ)在多个点处交叉那样的情况下，如图13所示，优选通过包含多个连续的校准系数的区间来进行评价。
在图13所示的例子中，校准系数CUV(λ)与校准系数CVIS(λ)在三个点处交叉。示出了通过以交叉的各点为中心包括相邻的两个点在内的共计三个点来进行评价的例子。通过评价连续的三个点的校准系数的差(均方根和平方和等)，来决定哪个区间是适当的。
在图13所示的例子中，判断为包括正中间的交点的区间是适当的，该区间被决定为接合处波长范围。
更为具体地说，也可以按照如以下的(6)式所示的均方根(RMS：Root MeanSquare)来评价校准系数的一致度。
Figure BDA0002754168030000191
SUV(λ)：使紫外用标准灯点亮时的分光光度计的检测值
RUV(λ)：针对紫外用标准灯的检定值
CUV(λ)＝SUV(λ)/RUV(λ)：针对紫外用标准灯的校准系数
SVIS(λ)：点亮可见光用标准灯时的分光光度计的检测值
RVIS(λ)：针对可见光用标准灯的检定值
CVIS(λ)＝SVIS(λ)/RVIS(λ)：针对可见光用标准灯的校准系数
ΔC(λi)＝CUV(λi)/CVIS(λi)-1：针对波长λi的校准系数的偏差量
在上述的(6)式中，假设以所关注的波长λi为中心的连续的(2N+1)个点的范围长度，计算各点处的校准系数CUV(λ)与校准系数CVIS(λ)的差(偏差量)，并且计算对象的波长范围内的差的均方根ΔCRMS(λi)来作为系数偏差量。在校准系数CUV(λ)与校准系数CVIS(λ)重叠的范围内改变波长λi，并且还在规定范围内改变相邻长度N。然后，将系数偏差量ΔCRMS(λi：N)最小的波长λK和相邻长度N的组合决定为接合处波长范围。即，将接合处波长范围决定为以波长λK为中心在短波长侧和长波长侧分别包括N个点的范围。
此外，基于校准系数CUV(λ)与校准系数CVIS(λ)的比来计算波长λi时的校准系数的偏差量，但也可以基于校准系数CVIS(λ)与校准系数CUV(λ)的比来计算波长λi时的校准系数的偏差量，也可以单纯是校准系数CUV(λ)与校准系数CVIS(λ)的差。
这样，决定接合处波长范围的处理包括搜索校准系数CUV(λ)的值与校准系数CVIS(λ)的值的偏差量最小的区间的处理。
图14是示出本实施方式的光学测定方法中的决定接合处波长范围的处理的一例的图。在图14所示的例子中，关于波长λK，针对相邻长度N＝1、2、3这三种长度计算出系数偏差量ΔCRMS(λi：N)。在该例中，系数偏差量ΔCRMS(λi：N)在相邻长度N＝1的情况下取最小值，因此决定为相邻长度N＝1。然后，将包括以波长λK为中心的三个点的区间决定为接合处波长范围。
这样，在接合处波长范围的搜索处理中，针对相邻长度N(N＝1、2、…)分别计算系数偏差量ΔCRMS(λi：N)，并决定所计算出的系数偏差量ΔCRMS(λi：N)中的取最小值的系数偏差量。基于系数偏差量ΔCRMS(λi：N)取最小值的波长λK以及相邻长度N，来决定接合处波长范围。
通过如上所述的搜索处理，能够决定接合处波长范围。此外，接合处波长范围通常是指包含多个波长的范围，但也能包括仅包含一个波长的情况。在该情况下，典型地说，校准系数CUV(λ)与校准系数CVIS(λ)的交点相当于接合处波长范围。
(f3：将校准系数进行接合的运算处理)
接着，说明在决定出的接合处波长范围内将校准系数进行接合的运算处理。将校准系数进行接合的运算处理相当于针对接合处波长范围(应决定校准系数的校正值的校正对象区间)所包含的各波长决定校准系数的校正值的处理。
图15是用于说明本实施方式的光学测定方法中的将校准系数进行接合的处理的图。参照图15，即使是接合处波长范围，在校准系数CUV(λ)与校准系数CVIS(λ)之间也存在偏差。即，在各波长时，校准系数CUV(λ)与校准系数CVIS(λ)不完全一致。
因此，为了决定针对各波长的校准系数，优选应用某种插值处理。在该插值处理中，优选尽可能地维持与相邻的波长时的校准系数之间的连续性。
图16是用于说明本实施方式的光学测定方法中的将校准系数进行接合的处理例的图。参照图16，在接合处波长范围内，通过对校准系数CUV(λ)和校准系数CVIS(λ)分别进行与波长相应的加权，来决定校准系数C(λ)。
更为具体地说，越是短波长侧，对校准系数CUV(λ)赋予越大的权重，另一方面，越是长波长侧，对校准系数CVIS(λ)赋予越大的权重。所赋予的权重也可以设为与距接合处波长范围的中心波长即波长λK的距离(波长差)相应的权重。更为具体地说，例如能够按照如以下的(7)式所示那样的加权计算，来决定校准系数C(λ)的波长λi时的校准系数的校正值。
Figure BDA0002754168030000211
λK：接合处波长范围的中心波长
λK-N：接合处波长范围的下限波长
λK+N：接合处波长范围的上限波长
CUV(λ)：针灯紫外用标准灯的校准系数
CVIS(λ)：针对可见光用标准灯的校准系数
如上所述，实施以下处理：基于校准系数CUV(λ)(第一校准系数)和校准系数CVIS(λ)(第二校准系数)，来计算关于紫外用标准灯2的校准范围(第一波长范围)与可见用标准灯4的校准范围(第二波长范围)重复的波长范围内的波长的校准系数的校正值。更为具体地说，通过对接合处波长范围(校正对象区间)内包含的各波长的校准系数CUV(λ)的值和校准系数CVIS(λ)的值赋予与各波长相应的各个权重，来决定对应的校准系数的校正值。
通过这种将校准系数进行接合的运算处理，能够决定接合处波长范围内的校准系数C(λi)。
(f4：处理过程)
接着，对决定校准系数C(λ)的处理进行说明。
图17是示出图1的步骤S18的更为详细的处理过程的流程图。参照图17，基于针对紫外用标准灯2获取到的第一检测结果和已赋予给紫外用标准灯2的光谱辐射照度的值，来计算针对紫外用标准灯2的校准系数CUV(λ)(步骤S181)。同样地，基于针对可见用标准灯4获取到的第二检测结果和已赋予给可见用标准灯4的光谱辐射照度的值，来计算针对可见用标准灯4的校准系数CVIS(λ)(步骤S182)。
针对校准系数CUV(λ)和校准系数CVIS(λ)，搜索系数偏差量ΔCRMS(λi：N)最小的波长λK和相邻长度N的组合(步骤S183)。基于在步骤S183中搜索到的波长λK和相邻长度N，来决定接合处波长范围(步骤S184)。
针对在步骤S184中决定的接合处波长范围内包含的各波长，基于校准系数CUV(λ)和校准系数CVIS(λ)，通过加权运算来计算校准系数的校正值(步骤S185)。
针对比接合处波长范围短的波长采用校准系数CUV(λ)的对应的校准系数，针对接合处波长范围采用在步骤S185中计算出的校准系数的校正值，针对比接合处波长范围长的波长采用校准系数CVIS(λ)的对应的校准系数，由此决定校准系数C(λ)(步骤S186)。
此外，也可以是，在接合处波长范围被设定为包含400[nm]的范围的情况下，不一定需要校准系数CVIS(λ)的对应的校准系数。因此，至少基于校准系数CUV(λ)(第一校准系数)以及接合处波长范围内包含的校准系数的校正值来决定校准系数C(λ)。
(f5.合成结果)
图18是示出在本实施方式的光学测定方法中合成的校准系数C(λ)的一例的图。参照图18可知，通过根据多个校准系数来合成校准系数C(λ)，能够决定更准确的校准系数。
<G.处理装置>
本实施方式的光学测定方法的一部分也可以由与分光光度计50连接的处理装置来执行。
图19是示出用于实现本实施方式的光学测定方法的处理装置100的硬件结构例的示意图。参照图19，处理装置100包括处理器102、主存储器104、输入部106、显示部108、存储装置110、通信接口120、网络接口122以及介质驱动器124。
典型地说，处理器102是CPU(Central Processing Unit：中央处理单元)、GPU(Graphics Processing Unit：图形处理单元)等运算处理部，用于将存储装置110中存储的一个或多个程序读出到主存储器104中来执行。主存储器104是DRAM(Dynamic RandomAccess Memory：动态随机存取存储器)或SRAM(Static Random Access Memory：静态随机存取存储器)之类的易失性存储器，作为处理器102执行程序所需的工作存储器发挥功能。
输入部106包括键盘、鼠标等，用于接受来自用户的操作。显示部108向用户输出由处理器102执行程序所得到的执行结果等。
存储装置110包括硬盘、闪存等非易失性存储器，用于保存各种程序、数据。更为具体地说，存储装置110保持操作系统112(OS：Operating System)、测定程序114、测定结果116以及设定参数118。
操作系统112提供处理器102执行程序的环境。通过处理器102来执行测定程序114，由此实现本实施方式的光学测定方法等。测定结果116包含样品的测光量(光谱辐射通量ΦSMP(λ)或总辐射通量ΦSMP)的测定结果。设定参数118包含紫外用标准灯2的检定值、可见用标准灯4的检定值、对二次标准灯6赋予的光谱辐射通量ΦST(λ)的值、在点亮二次标准灯6时从分光光度计50输出的检测结果(基准值)等值。
通信接口120对处理装置100与分光光度计50之间的数据传输进行中继。网络接口122对处理装置100与外部的服务器装置之间的数据传输进行中继。
介质驱动器124从存储有由处理器102执行的程序等的记录介质126(例如光盘等)读出必要的数据，并存储到存储装置110中。此外，在处理装置100中执行的测定程序114等既可以经由记录介质126等安装，也可以经由网络接口122等从服务器装置下载。
测定程序114也可以在规定的定时以规定的序列调用作为操作系统112的一部分而被提供的程序模块中的必要的模块来执行处理。在这样的情况下，不包含该模块的测定程序114也包含在本发明的技术范围内。测定程序114也可以通过被编入其它程序的一部分程序中的方式来提供。
此外，通过由处理装置100的处理器102执行测定程序114而提供的功能的全部或一部分也可以通过专用的硬件来实现。另外，也可以将图19所示的处理装置100所负责的处理的一部分或全部编入分光光度计50中。
<H.变形例>
在上述实施方式中，作为样品的测光量的一例，说明了光谱辐射通量ΦSMP(λ)和总辐射通量ΦSMP，但不限于此，能够将能够测定的任意的测光量作为测定对象。
在上述实施方式中，说明了将被赋予了光谱辐射照度的值的紫外用标准灯和可见用标准灯组合来使用的例子，但不限于此，也可以将红外用标准灯和可见用标准灯组合来使用。
<I.总结>
根据本实施方式，使用国家标准可追溯的光谱辐射照度标准灯(氘灯：紫外用标准灯2)和光谱辐射照度标准灯(卤素灯：可见用标准灯4)对二次标准灯进行值的赋予，并且将赋予了值的二次标准灯与样品进行比较测定，仅通过这样，即使是未提供被已被赋予光谱辐射照度以外的物理量的值的国家标准可追溯的标准灯的波长范围，也能够测定样品的测光量。
根据本实施方式，与如非专利文献4所公开的那样在积分球的外部配置光谱辐射照度标准灯来进行装置校准的方法相比，整体的作业工序少，并且也不需要熟练的技术等。因此，根据本实施方式，能够更容易且在短时间内实现高精度的测定，并且能够更频繁地实施必要的校准，因此能够提高测定精度。
对本发明的实施方式进行了说明，但应该认为本次公开的实施方式在所有方面均为例示，而非限制性的。本发明的范围通过权利要求书来表示，还包括与权利要求书等同的意思和范围内的所有变更。

Claims (8)

1.一种光学测定方法，包括以下步骤：
使已被赋予针对第一波长范围的光谱辐射照度的值的第一标准灯点亮，并且获取从分光光度计输出的第一检测结果，所述分光光度计配置在与所述第一标准灯相距赋予了光谱辐射照度的值的第一距离的位置处；
使已被赋予针对至少一部分波长范围与所述第一波长范围重复的第二波长范围的光谱辐射照度的值的第二标准灯点亮，并且获取从所述分光光度计输出的第二检测结果，所述分光光度计配置在与所述第二标准灯相距所述第一距离的位置处；
基于所述第一检测结果和已赋予给所述第一标准灯的光谱辐射照度的值，来计算第一校准系数；
基于所述第二检测结果和已赋予给所述第二标准灯的光谱辐射照度的值，来计算第二校准系数；
基于所述第一校准系数和所述第二校准系数，来计算关于所述第一波长范围与所述第二波长范围重复的波长范围的波长的校准系数的校正值；
至少基于所述第一校准系数和所述校正值来决定第三校准系数；
使第三标准灯点亮，并且获取从配置在与所述第三标准灯相距规定距离的位置处的所述分光光度计输出的第三检测结果；以及
基于所述第三检测结果和所述第三校准系数，来对所述第三标准灯赋予测光量的值。
2.根据权利要求1所述的光学测定方法，其中，
决定所述第三校准系数的步骤包括以下步骤：
在所述第一波长范围与所述第二波长范围重复的波长范围中决定要决定所述校正值的校正对象区间；以及
针对所述校正对象区间内包含的各波长决定所述校正值。
3.根据权利要求2所述的光学测定方法，其中，决定所述校正对象区间的步骤包括以下步骤：
搜索所述第一校准系数的值与所述第二校准系数的值之间的偏差量最小的区间。
4.根据权利要求2所述的光学测定方法，其中，针对所述校正对象区间内包含的各波长决定所述校正值的步骤包括以下步骤：
对所述校正对象区间内包含的各波长的所述第一校准系数的值和所述第二校准系数的值赋予与各波长对应的各个权重，由此决定对应的所述校正值。
5.根据权利要求1～4中的任一项所述的光学测定方法，其中，还包括以下步骤：
获取由所述第三标准灯产生的第一辐射照度；
获取由任意的样品产生的第二辐射照度；以及
基于所述第一辐射照度与所述第二辐射照度的比率以及已赋予给所述第三标准灯的测光量的值，来获取所述样品的测光量。
6.根据权利要求5所述的光学测定方法，其中，
所述第一辐射照度是使来自所述第三标准灯的光入射到积分器后在所述积分器的内壁产生的照度，
所述第二辐射照度是使来自所述样品的光入射到所述积分器后在所述积分器的内壁产生的照度。
7.根据权利要求1～4中的任一项所述的光学测定方法，其中，
所述第一波长范围包括紫外区域，
所述第二波长范围包括可见区域。
8.一种处理装置，具备：
第一校准系数计算单元，其基于与已被赋予针对第一波长范围的光谱辐射照度的值的第一标准灯有关的第一检测结果、以及已赋予给所述第一标准灯的光谱辐射照度的值来计算第一校准系数，其中，所述第一检测结果是使所述第一标准灯点亮并且使用配置在与所述第一标准灯相距赋予了光谱辐射照度的值的第一距离的位置处的分光光度计获取到的结果；
第二校准系数计算单元，其基于与已被赋予针对至少一部分波长范围同所述第一波长范围重复的第二波长范围的光谱辐射照度的值的第二标准灯有关的第二检测结果、以及已赋予给所述第二标准灯的光谱辐射照度的值来计算第二校准系数，其中，所述第二检测结果是使所述第二标准灯点亮并且使用配置在与所述第二标准灯相距所述第一距离的位置处的所述分光光度计获取到的结果；
校正值计算单元，其基于所述第一校准系数和所述第二校准系数，来计算同所述第一波长范围与所述第二波长范围重复的波长范围的波长有关的校准系数的校正值；
第三校准系数决定单元，其至少基于所述第一校准系数和所述校正值来决定第三校准系数；以及
测光量决定单元，其基于与第三标准灯有关的第三检测结果和所述第三校准系数，来决定赋予给所述第三标准灯的测光量的值，其中，所述第三检测结果是使用配置在与所述第三标准灯相距规定距离的位置处的所述分光光度计获取到的结果。
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