DE10135802A1 - Sputterbeschichtungsanlage zur Beschichtung von zumindest einem Substrat und Verfahren zur Regelung dieser Anlage - Google Patents
Sputterbeschichtungsanlage zur Beschichtung von zumindest einem Substrat und Verfahren zur Regelung dieser AnlageInfo
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Abstract
Eine Sputterbeschichtungsanlage (1) zur Beschichtung von zumindest einem Substrat (2, 3), insbesondere einer Glasscheibe, weist eine Kathode (9), die mit einem Sputtertarget (10) verbunden ist, eine Anode (7) und einen Gaseinlaß (15, 16) auf, durch den ein Reaktivgas in den Raum (17) zwischen der Anode (7) und dem Substrat (2, 3) bzw. dessen Transporteinrichtung (4) geleitet wird. Dabei ist die Kathode (9) gegenüber der Anode (7) mit einer Kathodenspannung beaufschlagt, um zwischen der Kathode (9) und der Anode (7) ein Plasma auszubilden. Eine Regelschaltung (20), die die Meßgröße, die die Kathodenspannung angibt, und die Meßgröße, die die Einbrüche der Kathodenspannung angibt, die infolge Entladung der Kathode (9) über das Plasma auftreten, erfaßt, regelt in Abhängigkeit von diesen Meßgrößen den Gasfluß des Reaktivgases, basierend auf einer Fuzzy-Logik.
Description
Die Erfindung betrifft eine Sputterbeschichtungsanlage zur
Beschichtung von zumindest einem Substrat, insbesondere
einer Glasscheibe, und ein Verfahren zur Regelung dieser
Sputterbeschichtungsanlage. Insbesondere dient die Regelung
zur Regelung des Gasflusses eines Reaktivgases, das beim
Sputtern zur Anwendung kommt, auf einen vorbestimmten Soll
wert, d. h. zur Arbeitspunktregelung.
Eine Sputterbeschichtungsanlage gemäß dem Oberbegriff des
Anspruches 1 und ein Verfahren zur Steuerung einer Sputter
beschichtungsanlage gemäß dem Oberbegriff des Anspruches 13
sind aus der DE 43 03 462 C2 bekannt. Bei der bekannten
Sputterbeschichtungsanlage wird die Kathodenspannung von
einer Gleichstrom- oder einer Hochfrequenz-Spannungsver
sorgung bereitgestellt. Die Stabilisierung einer solchen
Hochfrequenz-Spannungsversorgung ist aus der EP 0 902 457 A1
bekannt. Dabei wird mittels einer Fuzzy-Regelung eine
Impedanz- und Amplitudenanpassung der Spannungsversorgung an
das erzeugte Plasma erreicht.
Die bekannte Regelung hat jedoch mehrere Nachteile. Beim
Beschichten von einer Vielzahl von Substraten, insbesondere
großflächigem Float-Glas, ist die Gleichmäßigkeit der
optischen Schichteigenschaften längs und quer zur Bewegungs
richtung des Substrats ein entscheidender Güteparameter. Es
ist daher insbesondere erforderlich, die Gaszusammensetzung
im Gasraum konstant zu halten. Dies wird dadurch erschwert,
daß die Lücke zwischen zwei aufeinanderfolgenden Substraten
zu einer Störung des Anteils des Reaktivgases in dem Raum
zwischen der Kathode und dem Substrat bzw. dessen
Transporteinrichtung führt, was zu einem veränderten
Schichtaufbau führt und damit ungünstiger ist. Erschwerend
kommt hinzu, daß bei einer Erhöhung der Zufuhr des
Reaktivgases in den Raum zwischen der Kathode und dem
Substrat sich zugleich die Kathodenspannung verringert. Die
Regelung verändert den Reaktivgasfluß und damit indirekt die
Kathodenspannung. Falls die Anzahl der Entladungen über das
Plasma stark ansteigt, wird, um die Anzahl der Entladungen
der Kathode wieder zu verringern, Sauerstoff herausgenommen,
so daß die Kathodenspannung ansteigt. In der Praxis wird
diese Arbeitspunktregelung von speziell geschulten
Anlagenfahrern übernommen, die den Gasfluß des Reaktivgases
manuell steuern, wobei sie die Anzahl der Entladungen der
Kathode über das Plasma, den Gasfluß des Reaktivgases und
die Kathodenspannung der Kathode durchgehend beobachten.
Dies ist allerdings sehr aufwendig und personalintensiv, da
während des Sputterprozesses eine durchgehende Beobachtung
erforderlich ist.
Ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Beschichten eines
Substrats ist außerdem aus der EP 0 502 242 A2 bekannt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Sputter
beschichtungsanlage und ein Verfahren zu deren Regelung
bereitzustellen, bei denen der Gasfluß des Reaktivgases so
gesteuert wird, daß ein stabiler Betrieb der
Sputterbeschichtungsanlage gewährleistet ist, und bei denen
insbesondere eine Regelung des Gasflusses des Reaktivgases
auf einen durch den Arbeitspunkt vorgegebenen Sollwert
erzielt wird.
Die Aufgabe wird durch eine Sputterbeschichtungsanlage mit
den Merkmalen des Anspruches 1 und durch ein Verfahren zur
Regelung einer Sputterbeschichtungsanlage mit den Merkmalen
des Anspruches 13 gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen der
in Anspruch 1 angegebenen Sputterbeschichtungsanlage sind
durch die in den Ansprüchen 2 bis 12 angegebenen Maßnahmen
möglich. Vorteilhafte Weiterbildungen des in Anspruch 13
angegebenen Verfahrens sind durch die in den Ansprüchen 14
bis 19 angegebenen Maßnahmen möglich.
Die erfindungsgemäße Sputterbeschichtungsanlage hat den
Vorteil, daß der Gasfluß des Reaktivgases basierend auf
einer Fuzzy-Logik in Abhängigkeit von der Kathodenspannung
und der Anzahl der Einbrüche der Kathodenspannung, die
infolge Entladung der Kathode über das Plasma auftreten,
mittels einer Regelschaltung geregelt ist. Die Anzahl der
Einbrüche der Kathodenspannung, die infolge Entladung der
Kathode über das Plasma auftreten, kann vorzugsweise auch
nur dazu herangezogen werden, die Kathodenspannung als
Regelgröße zu "überbrücken", damit die Regelung nicht auf
die Spannungseinbrüche reagiert. Dadurch kann der Gasfluß
des Reaktivgases auch bei auftretenden Störungen, die z. B.
durch Lücken zwischen den nacheinanderfolgend zu
beschichtenden Substraten auftreten, auf den vorgegebenen
Sollwert geregelt werden, wobei die Anzahl der Einbrüche der
Kathodenspannung, die infolge Entladung der Kathode über das
Plasma auftreten, erfaßt und kontinuierlich überwacht wird,
um unmittelbar auf einen Anstieg dieser zu reagieren. Somit
wird bei der Regelung des Gasflusses des Reaktivgases auch
das ausgebildete Plasma stabilisiert, da verhindert wird,
daß die Anzahl der Einbrüche der Kathodenspannung einen
kritischen Wert übersteigt. Da durch die Anpassung der
Fuzzy-Logik eine optimierte Regelung durch die
Regelschaltung eingestellt werden kann, kann selbst bei
größeren Störungen unmittelbar eine ausreichende Korrektur
erfolgen, so daß stets eine gleichmäßige Beschichtung des
Substrats auch bei Kundenmaßen, d. h. Substraten mit
unterschiedlichen Größen, und großflächigen Substraten
erreicht wird.
Die wesentlichen Vorteile sind eine bessere Ausnützung des
Targetmaterials, d. h. geringere Kathoden-Leerbrennzeiten,
und damit verbunden auch geringere Energiekosten zum Betrieb
der Sputterbeschichtungsanlage. Des weiteren kann die
optische Güte des beschichteten Substrats, insbesondere
bezüglich Transmission, Reflexion und Infrarot-Reflexion,
verbessert werden.
Vorteilhaft ist es, daß die Regelschaltung eine Fuzzyfizie
rungseinheit umfaßt, die die Meßgrößen in fuzzyfizierte
Signale umsetzt. Insbesondere ist es vorteilhaft, daß ein
Zeitgeber vorgesehen ist, der ein Taktsignal erzeugt, daß
die die Meßgröße, die die Einbrüche der Kathodenspannung
angibt, mit dem Taktsignal zu einem Signal umgesetzt wird,
das die Anzahl der Einbrüche der Kathodenspannung pro
Zeiteinheit angibt, und daß die Fuzzyfizierungseinheit das
durch die Umsetzung erhaltene Signal fuzzyfiziert. Dadurch
kann die zeitliche Dichte der Einbrüche der Kathodenspannung
erfaßt werden, wobei es außerdem möglich ist, eine zeitliche
Mittelung über die Anzahl der Einbrüche der Kathodenspannung
zu tätigen, um ein Ausbrechen der Regelung zu verhindern.
Vorteilhaft ist es ferner, daß das Prozeßleitsystem einen
Kathodenspannung-Sollwertspeicher aufweist, der einen
Sollwert für die Kathodenspannung bereitstellt, daß das
Prozeßleitsystem den Istwert der Kathodenspannung mit dem
Sollwert der Kathodenspannung zu einem Signal verrechnet,
und daß die Fuzzyfizierungseinheit das durch die Verrechnung
erhaltene Signal fuzzyfiziert. Dadurch kann der Sollwert der
Kathodenspannung der Kathode beliebig vorgegeben werden,
wobei auch eine Anpassung während des
Beschichtungsprozesses, z. B. in Abhängigkeit von der
Betriebszeit des Sputtertargets oder aufgrund der Vorgabe
eines Anlagenfahrers, denkbar ist, wobei bezüglich der
Abweichung des gemessenen Istwerts der Kathodenspannung der
Kathode von dem Sollwert eine Fuzzyfizierung erfolgt.
Vorteilhaft ist es ferner, daß in dem Kathodenspannung-
Sollwertspeicher mehrere Sollwerte für die Kathodenspannung
der Kathode hinterlegt sind, die verschiedenen
Sputtertargets zugeordnet sind, da dadurch die Umrüstung der
Sputterbeschichtungsanlage auf ein anderes Sputtertarget
erheblich vereinfacht ist.
Vorteilhaft ist es, daß die Regelschaltung nur dann einen
neuen Wert für den Gasfluß des Reaktivgases ausgibt, wenn
die Kontrolleinheit ein Freigabesignal ausgibt, und daß die
Kontrolleinheit das Freigabesignal ausgibt, wenn der
gemessene Istwert des Gasfluß des Reaktivgases innerhalb
eines vorgegebenen Bereichs um den Sollwert des Gasflusses
des Reaktivgases liegt, wobei die Kontrolleinheit Teil des
Prozeßleitsystems sein kann. Dadurch ist ein Toleranzbereich
vorgegeben, innerhalb dem gemessene Istwerte als
ausreichende Annäherung an den Sollwert betrachtet werden,
so daß verhindert wird, daß die Regelung von den
tatsächlichen Prozeßparametern, z. B. infolge Übersteuerung,
wegläuft, da die Kontrolleinheit das Freigabesignal,
aufgrund dessen ein neuer Sollwert für den Gasfluß des
Reaktivgases ausgegeben wird, nur ausgibt, wenn der
gemessene Istwert den Sollwert erreicht. Somit kann zur
Erhöhung der Geschwindigkeit der Regelung auch der Einfluß
von externen bzw. beschichtungsprozeßbedingten Schwankungen,
gedämpften Anpassungsvorgängen und dergleichen eliminiert
bzw. verringert werden. Dadurch ist ferner eine
Spannungsaktivierung gegeben, die dazu dient, die Regler
nach dem Einfahrprozess der Kathoden und mit Glasfluß zu
aktivieren, d. h. die Regler werden im laufenden Betrieb zur
Arbeitspunkteinstellung aufgeschaltet.
In vorteilhafter Weise umfaßt die Regelschaltung eine
Inferenzeinheit, die die von der Fuzzyfizierungseinheit
ausgegebenen fuzzyfizierten Signale aufgrund von Fuzzy-
Regeln miteinander verknüpft, um zumindest ein fuzzyfi
ziertes Ergebnissignal für den Gasfluß des Reaktivgases zu
erhalten. Durch die Inferenzeinheit können die fuzzyfi
zierten Signale, auch wenn diese von einander widersprech
enden Inhaltes sind, überlagert werden, so daß auch komplexe
Prozeßzustände unmittelbar aufgelöst werden können. Die
Erhöhung des Gasflusses des Reaktivgases kann unter
Berücksichtigung der Anzahl der Einbrüche der Kathoden
spannung, die pro Zeiteinheit auftreten, auf den diesbezüg
lich optimalen Wert in einem Schritt erfolgen. Im
Reglerbetrieb wird der Reaktivgasfluß aber nicht von der
Anzahl der Einbrüche der Kathodenspannung, die pro
Zeiteinheit auftreten, gesteuert, da nur die
Spannungseinbrüche eliminiert werden. Die Fuzzy-Logik ist
hier einem Anlagenfahrer deutlich überlegen, da sie auch
größere Änderungen des Gasflusses des Reaktivgases in
kritischen Prozeßzuständen zuverlässig und schnell vornehmen
kann.
Vorteilhaft ist es, daß die Regelschaltung eine Defuzzyfi
zierungseinheit, die das fuzzyfizierte Ergebnissignal für
den Gasfluß des Reaktivgases in ein diskretes Ergebnissignal
für den Gasfluß des Reaktivgases defuzzyfiziert, und ein
Prozeßleitsystem umfaßt, das überwacht, ob das
Ergebnissignal in einem vorgegebenen Bereich liegt, und,
falls das Ergebnissignal außerhalb des zugeordneten vorge
gebenen Bereichs liegt, dieses auf einen vorgegebenen
Maximal- bzw. Minimalwert begrenzt, wobei der Gasfluß des
Reaktivgases aufgrund des Ergebnissignals neu eingestellt
wird. Durch das Prozeßleitsystem wird sichergestellt, daß
der in der Sputterbeschichtungsanlage laufende Prozeß nicht
durch eine zu große, durch das Ergebnissignal bedingte
Änderung des Gasflusses des Reaktivgases beeinträchtigt
wird.
Vorteilhaft ist es ferner, daß das Prozeßleitsystem, falls
das Ergebnissignal für den Gasfluß des Reaktivgases den
vorgegebenen Bereich überschritten hat, ein Fehlersignal
erzeugt, das eine Bereichsüberschreitung des Ergebnissignals
anzeigt. Durch das Fehlersignal kann einem Operator,
insbesondere einer Bedienperson, die Bereichsüberschreitung
angezeigt werden, woraufhin dieser einen Eingriff in die
Regelung vornehmen kann. Das erzeugte Fehlersignal kann auch
zur Protokollierung des Einfahr- bzw. Beschichtungsprozesses
verwendet werden, um insbesondere auf den vorgegebenen
Sollwert für den Gasfluß des Reaktivgases Einfluß zu nehmen.
In vorteilhafter Weise gibt die Kontrolleinheit, falls das
Prozeßleitsystem ein Fehlersignal erzeugt, solange kein
Freigabesignal, das die Ausgabe eines neuen Wertes für den
Gasfluß des Reaktivgases freigibt, aus, bis durch einen
Operator, insbesondere eine Bedienperson, die Ausgabe wieder
freigegeben ist. Dadurch kann, insbesondere bei kritischen
Prozessen, eine Erneuerung des Sollwerts für den Gasfluß des
Reaktivgases verhindert werden, um den Prozeß auf den
ursprünglich vorgegebenen Sollwert zu stabilisieren, wobei
die erneute Freigabe im Ermessen des Operators liegt. Wird
die Sputterbeschichtungsanlage von einer Bedienperson
überwacht, dann ergibt sich außerdem der Vorteil, daß, wenn
an mehreren Sputterkammern oder Kathoden der
Gesamtsputteranlage, die das gesamte Schichtsystem auf das
Substrat aufbringt, und/oder an mehreren
Sputterbeschichtungsanlagen zur gleichen Zeit Fehlersignale
erzeugt werden, die Bedienperson die Fehler der einzelnen
Sputterkammern oder Kathoden der Gesamtsputteranlage
und/oder der einzelnen Sputterbeschichtungsanlagen
nacheinander abarbeiten kann.
Vorteilhaft ist es ferner, daß, falls das Prozeßleitsystem
ein Fehlersignal erzeugt und durch den Operator die Ausgabe
des Freigabesignals der Kontrolleinheit freigegeben ist, die
Kontrolleinheit das Freigabesignal sogar dann ausgibt, wenn
das Ergebnissignal für den Gasfluß des Reaktivgases
weiterhin außerhalb des vorgegebenen Bereichs liegt. Dadurch
kann der Operator, insbesondere bei unkritischen Prozessen,
erzwingen, daß der Beschichtungsprozeß unbeeinflußt
fortgesetzt wird.
Das erfindungsgemäße Verfahren zur Regelung einer Sputter
beschichtungsanlage hat den Vorteil, daß eine Regelung des
Gasflusses des Reaktivgases gegeben ist, die auftretende
Störungen, z. B. infolge einer Lücke zwischen zwei aufein
anderfolgenden Substraten, unter Berücksichtigung der Anzahl
der Einbrüche der Kathodenspannung, die pro Zeiteinheit
auftreten, unmittelbar und schnell ausgleicht. Daher weisen
die optischen Eigenschaften, insbesondere Transmission,
Reflexion und Infrarot-Reflexion, der mit der Sputter
beschichtungsanlage beschichteten Substrate eine höhe Güte
auf, selbst wenn diese großflächig sind.
Vorteilhaft ist es, daß die Anzahl der Einbrüche der
Kathodenspannung unter Verwendung eines Taktsignals in ein
Signal umgesetzt wird, das die Anzahl der Einbrüche der
Kathodenspannung pro Zeiteinheit angibt, und daß dieses
Signal bezüglich der linguistischen Variablen "wenig",
"mittel" und "viel" fuzzyfiziert wird; und daß der Istwert
der Kathodenspannung von einem Sollwert der Kathodenspannung
abgezogen wird und das Ergebnis bezüglich der linguistischen
Variablen "negativ", "Null" und "positiv" zu einem
fuzzyfizierten Signal fuzzyfiziert wird; daß die
fuzzyfizierten Signale gemäß vorgegebenen Fuzzy-Regeln mit
einander verknüpft werden, wodurch ein bezüglich der
linguistischen Variablen "wenig", "mittel" und "viel"
fuzzyfiziertes Ergebnissignal für den Gasfluß erhalten wird;
und daß das fuzzyfizierte Ergebnissignal auf ein diskretes
Ergebnissignal defuzzyfiziert wird. Das fuzzyfizierte
Signal, das sich aus der Differenz von dem Istwert der
Kathodenspannung und dem Sollwert der Kathodenspannung
ergibt, und das fuzzyfizierte Signal, das sich aus der
Anzahl der Einbrüche der Kathodenspannung pro Zeiteinheit
ergibt, werden mittels Fuzzy-Regeln zum Erhalten der
fuzzyfizierten Ergebnissignale miteinander überlagert bzw.
zur Inferenz gebracht, wobei vorgegebene Fuzzy-Regeln die
Verknüpfung der fuzzyfizierten Signale vorgeben. In vorteil
hafter Weise umfassen die Fuzzy-Regeln dabei folgende
Regeln: Die Verknüpfung von "wenig" und "negativ" wird auf
"viel" abgebildet, die Verknüpfung von "wenig" und "Null"
wird auf "mittel" abgebildet und die Verknüpfung von "wenig"
und "positiv" wird auf "viel" abgebildet. Im Rahmen der
Fuzzy-Logik kann die Verknüpfung, die insbesondere als UND-
Verknüpfung bezeichnet wird, je nach Prozeß definiert
werden. Zum Beispiel kann durch die Wahl der Verknüpfung
eine eher prozeßstabilisierende oder eine eher prozeßbe
schleunigende Vorgabe für die Ergebnissignale erreicht
werden. Für kritische Prozesse wird in vorteilhafter Weise
die Verknüpfung der Zugehörigkeitsgrade zu den linguisti
schen Variablen mittels der Minimumsfunktion definiert. Die
Minimumsfunktion ist so definiert, daß sie zwei reelle
Zahlen, insbesondere zwei Zahlen zwischen 0 und 1, auf die
kleinere der beiden Zahlen abbildet. Die UND-Verknüpfung
kann auch anders definiert werden, insbesondere durch UND
(a, b) = ab/(a + b - ab) oder durch UND (a, b) = (ab)1- λ(1-(1-a)(1-b))λ.
Dabei ist die letzte Verknüpfung das kompensie
rende UND, das für λ = 0 bis 1 zwischen UND und ODER inter
poliert. Durch das kompensierende UND kann dem Erfahrungs
wissen der Anlagenfahrer besser entsprochen werden, da dies
der sprachlichen Ausdrucksweise näher kommt. Wenn beispiels
weise der unscharfe Begriff "Gasfluß des Reaktivgases viel"
definiert wird durch "Anzahl der Einbrüche pro Zeiteinheit
wenig" UND "Sollwert minus Istwert der Kathodenspannung
negativ", dann ist implizit gemeint, daß eine etwas
geringere Anzahl der Einbrüche der Kathodenspannung pro
Zeiteinheit den Effekt von einem etwas größeren Istwert der
Kathodenspannung aufwiegen kann und umgekehrt. Das kompen
sierende UND ist ein Mittelding zwischen dem logischen UND
und dem logischen ODER, das diesem sprachlichen Gebrauch
Rechnung trägt. Für λ = 0 ergibt sich die Minimumsfunktion,
während für λ = 1 das kompensierende UND zur Maximums
funktion, also dem logischen ODER wird. Zwischenwerte von λ
interpolieren zwischen UND und ODER, so daß eine Anpassung
des kompensierenden UNDs möglich ist.
Alternativ ist es vorteilhaft, daß die fuzzyfizierten
Signale gemäß vorgegebenen Fuzzy-Regeln miteinander ver
knüpft werden, wodurch ein bezüglich der linguistischen
Variablen "wenig", "konstant" und "mehr" fuzzyfiziertes
Ergebnissignal für den Gasfluß erhalten wird; und daß das
fuzzyfizierte Ergebnissignal auf ein diskretes Ergebnis
signal defuzzyfiziert wird. Dabei umfassen die Fuzzy-Regeln
in vorteilhafter Weise die Regeln, daß "wenig" UND "negativ"
gleich "mehr" ist, daß "wenig" UND "Null" gleich "konstant"
ist, daß "wenig" UND "positiv" gleich "weniger" ist, daß
"mittel" gleich "konstant" ist und daß "viel" gleich
"konstant" ist. Dadurch ist eine relative Regelung des
Gasflusses des Reaktivgases gegeben, bei der die Vorgabe
eines Sollwerts für den Gasfluß des Reaktivgases nicht
erforderlich ist.
In vorteilhafter Weise verknüpft die in den Fuzzy-Regeln
angegebene UND-Verknüpfung die Zugehörigkeitsgrade zu den
linguistischen Variablen "wenig", "negativ", "Null" und
"positiv" mittels der Minimumsfunktion, um eine prozeßsta
bilisierende Regelung zu erzielen.
Ausführungsbeispiel der Erfindung sind anhand der nach
folgenden Beschreibung unter Bezugnahme auf die Zeichnungen
näher beschrieben. Es zeigen:
Fig. 1 ein Ausführungsbeispiel einer Sputterbeschich
tungsanlage;
Fig. 2 die in Fig. 1 dargestellte Sputterbeschichtungs
anlage in einem Blockschaltbild;
Fig. 3 die in Fig. 2 dargestellte Fuzzyfizierungseinheit
im Detail;
Fig. 4A und 4B Teile des in Fig. 3 dargestellten Fuzzyfi
zierungsglieds der Fuzzyfizierungseinheit im
Detail;
Fig. 5 ein Detail der in Fig. 2 dargestellten
Inferenzeinheit;
Fig. 6A und 6B Teile der in Fig. 2 dargestellten Defuzzyfi
zierungseinheit im Detail; und
Fig. 7 einen Signalflußplan eines weiteren
Ausführungsbeispiels zur Regelung einer
Sputterbeschichtungsanlage.
Fig. 1 zeigt ein Ausführungsbeispiel einer Sputterbeschich
tungsanlage 1. Die Sputterbeschichtungsanlage 1 dient ins
besondere zur Beschichtung von Substraten 2, 3, die aufein
anderfolgend durch die Sputterbeschichtungsanlage 1 in
Transportrichtung 14 geschleust werden. Speziell können
dadurch als großflächige Float-Glasscheiben ausgebildete
Substrate 2, 3 mittels der Sputterbeschichtungsanlage 1
beschichtet werden. Zum Transport der Substrate 2, 3 weist
die Sputterbeschichtungsanlage 1 eine Transporteinrichtung 4
auf, die die Transportrollen 5a bis 5e umfaßt, so daß eine
Vielzahl von Substraten 2, 3 aufeinanderfolgend beschichtet
werden kann. Die erfindungsgemäße Sputterbeschichtungsanlage
eignet sich allerdings auch für andere Anwendungsfälle,
insbesondere zum Beschichten von einzelnen Substraten.
Die Sputterbeschichtungsanlage 1 weist ein Gehäuse 6 und
eine mit dem Gehäuse 6 mechanisch verbundene, als Anoden
blende ausgebildete Anode 7 auf, die gegenüber dem Gehäuse 6
elektrisch isoliert ist. Außerdem ist ein Kathodenhalter 8
vorgesehen, der ebenfalls mit dem Gehäuse 6 verbunden und
gegenüber diesem elektrisch isoliert ist. Der Kathodenhalter
8 hält eine Kathode 9, an die ein Sputtertarget 10 befestigt
ist. Die Kathode 9 wird gegenüber der Anode 7 mit einer
Spannung U beaufschlagt, die sowohl durch eine Gleich-,
Mittelfrequenz-, Puls-, eine Hochfrequenzspannung oder
dergleichen gegeben sein kann. Dadurch liegt an der Kathode
9 eine Kathodenspannung an, die von einem Spannungsmeßgerät
11 gemessen wird, das parallel zu der die Kathode
versorgenden Spannungsquelle 12 geschaltet ist. Zwischen die
Spannungsquelle 12 und die Anode 7 ist ein Strommeßgerät 13
geschaltet, das den Kathoden- bzw. Anodenstrom mißt. Das
Strommeßgerät 13 kann auch zwischen die Spannungsquelle 12
und die Kathode 9 geschaltet sein.
Mittels des Spannungsmeßgeräts 11 und des Strommeßgeräts 13
werden die Kathodenspannung der Kathode und der Kathoden
strom gemessen, woraus sich die Kathodenleistung ermitteln
läßt. Beispielhafte Werte sind 0 bis 60 V für die Kathoden
spannung und 0 bis 70 A für den Kathodenstrom, wobei der
Arbeitsbereich der Kathodenspannung in Abhängigkeit des
verwendeten Targets, z. B. für Nickelchrom bei ca. 460 V
liegt. Die Spannungsquelle 12 kann dabei beispielsweise für
maximal 40 kW ausgelegt, sein, so daß die Kathode 9 mit
maximal 40 kW versorgt wird. Die Anode 7 ist nicht
notwendigerweise mit Masse verbunden und kann, insbesondere
in Abhängigkeit von Ablagerungen des Targetmaterials auf
dieser, eine positive Anodenspannung aufweisen, die z. B.
zwischen 0 und 80 V bei einem Anodenstrom von 0 bis 70 A
liegt.
In den Raum 32 zwischen der Kathode 9 bzw. dem Sputtertarget
10 und der Anode 7 wird als Arbeitsgas ein Inertgas, bei
spielsweise Argon, geleitet. Durch Anlegen der Kathoden
spannung zwischen Kathode 9 und Anode 7 zündet zum Bewirken
des Sputterprozesses ein Plasma. Dieses entsteht, wenn durch
Zusammenstöße mit Elektronen schwere, positiv geladene Ionen
aus den Atomen des Inertgases erzeugt werden. Die hohe
Spannung erzeugt ein starkes elektrisches Feld, das die
schweren, positiv geladenen Ionen zur Kathode hin
beschleunigt. Die entstandenen schweren, positiv geladenen
Ionen werden auf die negativ geladene Kathode 9 zu
beschleunigt, auf der das aus dem Beschichtungsmaterial
bestehende Sputtertarget 10 befestigt ist. Die mit hoher
Energie auftreffenden Ionen schlagen aus dem Sputtertarget
10 Material heraus, das sich anschließend auf den Substraten
2 bzw. 3 niederschlägt. In Abhängigkeit von der
Beschichtungsrate und der Transportgeschwindigkeit der
Substrate 2, 3 in der Transportrichtung 14, die durch den
Transport mittels der Transportrollen 5a bis 5e der
Transporteinrichtung 4 erreicht wird, scheidet sich auf den
Substraten 2, 3 eine aus dem Material des Sputtertargets 10
bestehende dünne Schicht von vorgegebener Schichtdicke ab.
Indem die Substrate 2, 3 mehrere der beschriebenen Sputter
kammern durchlaufen, kann auf den Substraten 2, 3 ein
beliebiges Schichtsystem ausgebildet werden.
Die Sputterbeschichtungsanlage 1 dient zum Sputtern von
Targetmaterialien in einer Reaktivgasatmosphäre, die z. B.
aus Sauerstoffgas oder Stickstoffgas besteht. Das Reaktivgas
wird dabei durch einen Gaseinlaß 15, 16 in den Raum 17
zwischen der Anode 7 und den Substraten 2, 3 bzw. der die
Substrate 2, 3 befördernden Transporteinrichtung 4 geleitet.
Der Gasfluß des Reaktivgases wird dabei über zumindest einen
Gasflußregler oder Massflowmeter 18 geregelt, wobei der
Gasfluß des Reaktivgases über eine Leitung 19 an eine
Regelschaltung 20 gemeldet wird. Die Regelschaltung 20
erfaßt außerdem über die Leitung 29 den Kathodenstrom der
Kathode 9, der von dem Strommeßgerät 13 gemessen wird, und
über die Leitung 21 die Kathodenspannung der Kathode, die
von dem Spannungsmeßgerät 11 gemessen wird. Durch die
zeitliche Erfassung der Kathodenspannung der Kathode 9
ermittelt die Regelschaltung 20 die Anzahl der Einbrüche der
Kathodenspannung, die infolge Entladung der Kathode über das
Plasma auftreten. In Abhängigkeit von der Kathodenspannung
der Kathode 9 und der Anzahl der Einbrüche der
Kathodenspannung, die infolge Entladung der Kathode über das
Plasma auftreten, steuert die Regelschaltung 20, die auf
einer Fuzzy-Logik basiert, den Gasfluß des Reaktivgases
mittels einer Drossel, die in der Drosseleinheit 18
vorgesehen ist. Hierdurch wird insbesondere berücksichtigt,
daß durch eine Erhöhung des Gasflusses des Reaktivgases die
Kathodenspannung der Kathode 9 verringert wird und
umgekehrt. Abhängig von dem Erfahrungswissen der
Anlagenfahrer können mit verschiedensten Materialien
Fuzzyregeln aufgestellt werden und diese können relativ
einfach mit der Fuzzyeinheit in die Regeltechnik umgesetzt
werden, wobei der Vorteil überproportional wächst, wenn mehr
als eine Regelgröße vorliegt, was einem nicht linearen
Regler entspricht.
Das Reaktivgas wird über die Gasleitung 26 zu dem
Gasflußregler 18 und von dort über die Gasleitungen 27, 28
zu den Gaseinlässen 15, 16 des Gehäuses 6 der
Sputterbeschichtungsanlage 1 geleitet.
Um das zum Funktionieren des Sputterprozesses insbesondere
in den Räumen 17, 32 benötigte Vakuum zu schaffen, ist ein
Pumpensystem vorgesehen, das den Innenraum des Gehäuses 6
über Gasleitungen 22, 23 durch in dem Gehäuse 6 vorgesehene
Gasaustrittsöffnungen 24, 25 auspumpt. Beim Betrieb des
Plasmas herrscht im Bereich des Plasmas beispielsweise ein
Druck von 1.10-3 bis 5.10-3 mbar bei einem Druck des
Restgases von 10-5 mbar, ohne Berücksichtigung eines
eventuellen Reaktivgasflusses.
Das zum Auspumpen des Gehäuses 6 der Sputterbeschichtungs
anlage 1 verwendete Pumpensystem kann z. B. aus einer
Anordnung von mehreren Turbomolekularpumpen, die an
geeignete Vorpumpen angeschlossen sind, bestehen.
In dem beschriebenen Ausführungsbeispiel ist die Anode 7 als
Anodenblende ausgebildet, wobei sie zur elektrischen
Stabilisierung des Plasmas dient. Dadurch kann die
Eigenschaft und Güte der auf die Substrate 2, 3
aufgesputterten Schicht verbessert werden, insbesondere wird
eine gleichmäßige Schichtdicke und eine hohe Homogenität
erreicht.
Fig. 2 zeigt die anhand der Fig. 1 beschriebene
Sputterbeschichtungsanlage 1 in einer schematischen
Darstellung, wobei Teile der Regelschaltung 20 aufgegliedert
dargestellt sind. Bereits beschriebene Elemente sind in
dieser und in allen anderen Figuren mit übereinstimmenden
Bezugszeichen versehen, wodurch sich eine wiederholende
Beschreibung erübrigt.
In der Sputterbeschichtungsanlage 1 ist die Kathodenspannung
der Kathode 9 in Abhängigkeit von dem verwendeten
Sputtertarget 10 durch einen Sollwert für die Kathoden
spannung im Arbeitspunkt vorgegeben. Allerdings wird die
Kathodenspannung der Kathode 9 auch durch den Gasfluß bzw.
den im Raum 17 herrschenden Partialgasdruck des Reaktivgases
beeinflußt. Diese und weitere Prozeßparameter definieren
einen Prozeß 40, der zum Beschichten der Substrate 2, 3
durchgeführt wird. Weitere Prozeßparameter sind z. B. die
Einbrüche der Kathodenspannung (ARC), die infolge Entladung
der Kathode über das Plasma auftreten. Die Prozeßparameter
des Prozesses 40 werden gemessen und an die Kontrolleinheit
41 der Steuerschaltung 20 übergeben. Die Meßgrößen umfassen
die Meßgröße, die die Kathodenspannung angibt, und die
Meßgröße, die die Einbrüche der Kathodenspannung angibt, die
infolge Entladung der Kathode 9 über das Plasma auftreten.
Die Meßgrößen werden mittels mehrerer Einheiten 42 bis 45
verarbeitet, wodurch zumindest eine Stellgröße erhalten
wird, die den Sollwert des Gasflusses des Reaktivgases des
Gasflußreglers 18, der wiederum einen eigenen Regler
besitzt, einstellt. Dabei werden von der Kontrolleinheit 41
fortlaufend die Meßgrößen des Prozesses 40 aufgrund der
vorliegenden Prozeßparameter erfaßt und mit der Stellgröße,
die den Gasfluß des Reaktivgases angibt, verglichen, wobei
die Kontrolleinheit 41 die Ermittlung neuer Stellgrößen
durch die Einheiten 42 bis 45 freigibt, wenn die bestehenden
Meßgrößen in geeigneter Beziehung zu der ermittelten
Sollgröße stehen. Die Kontrolleinheit 41 umfaßt dazu einen
Eingang 46, über den die aus den Prozeßparametern des
Prozesses 40 ermittelten Meßgrößen übergeben werden, und
einen Eingang 47, über den die Stellgröße von dem
Prozeßleitsystem 45 übergeben wird. Außerdem umfaßt die
Kontrolleinheit einen Ausgang 48 zur Übergabe der Meßgrößen
an die Fuzzyfizierungseinheit 42.
Die Fuzzyfizierungseinheit 42 ist mittels der Signalleitung
49 mit der Inferenzeinheit 43 verbunden, die mittels einer
weiteren Signalleitung 50 mit der Defuzzyfizierungseinheit
44 verbunden ist. Die Defuzzyfizierungseinheit 44 ist
wiederum mittels einer Signalleitung 51 mit der Über
wachungseinheit 45 verbunden. Das Prozeßleitsystem 45 gibt
die von den Einheiten 42 bis 45 ermittelte Stellgröße für
den Gasfluß des Reaktivgases mittels der Verbindung 52 zum
einen an den Prozeß 40 und zum anderen an die Kontroll
einheit 41 weiter.
Die Regelschaltung 20 weist dabei zwei Betriebsarten auf,
durch die eine unterschiedliche Einwirkung auf den Gasfluß
des Reaktivgases erreicht wird. In der ersten Betriebsart
sind die Einheiten 42 bis 45 so geschaltet, daß sie eine
Vorgabe für die Stellgröße ausgeben, die eine absolute
Vorgabe für den Gasfluß des Reaktivgases darstellt. In einer
zweiten Betriebsart sind die Einheiten 42 bis 45 so
geschaltet, daß sie eine relative Vorgabe, d. h. eine
Änderung für den Gasfluß des Reaktivgases vorgeben. Somit
kann durch die Einheiten 42 bis 45 entweder ein absoluter
Vorgabewert für den Gasfluß des Reaktivgases ermittelt
werden oder eine Vorgabe, die angibt, um wieviel der Gasfluß
des Reaktivgases zu ändern ist, ermittelt werden, was in der
nachfolgenden Beschreibung, insbesondere unter Bezugnahme
auf Fig. 5, näher beschrieben ist.
Figur. 3 zeigt die in Fig. 2 dargestellte Fuzzyfizierungs
einheit 42 im Detail.
Die Fuzzyfizierungseinheit 42 weist die Eingänge 53a und 53b
auf, die in Fig. 2 zu dem Eingang 53 zusammengefaßt sind.
Über den Eingang 53a wird die Meßgröße ARC, d. h. die Meß
größe, die die Einbrüche der Kathodenspannung, die infolge
Entladung der Kathode 9 über das Plasma auftreten, angibt,
an die Fuzzyfizierungseinheit 42 übertragen. Über den
Eingang 53b wird die Meßgröße, die den Istwert der Kathoden
spannung der Kathode 9 angibt, an die Fuzzyfizierungseinheit
42 übergeben.
Ferner ist ein Zeitgeber 54 vorgesehen, der ein Taktsignal
erzeugt und dieses über eine Signalleitung 55 an eine
Verrechnungseinheit 56 abgibt. Die Verrechnungseinheit 56
verrechnet die erfaßte Meßgröße ARC durch Division mit dem
Taktsignal zu einem Signal ARC, das die Anzahl der Einbrüche
der Kathodenspannung pro Zeiteinheit angibt, wobei dieses
Signal von der Verrechnungseinheit 56 über die Signalleitung
57 an ein Fuzzyfizierungsglied 58 geleitet wird. Das
Fuzzyfizierungsglied 58 1 fuzzyfiziert das Signal ARC, das
die Anzahl der Einbrüche der Kathodenspannung pro
Zeiteinheit angibt, zu einem fuzzyfizierten Signal ARC* und
gibt dieses über eine Signalleitung 49a aus.
Über den Eingang 53b der Fuzzyfizierungseinheit 42 wird die
Meßgröße, die den Istwert der Kathodenspannung der Kathode 9
angibt, an die Fuzzyfizierungseinheit 42 übergeben. Ferner
ist ein Kathodenspannung-Sollwertspeicher 59 vorgesehen, der
einen Sollwert für die Kathodenspannung der Kathode 9
bereitstellt und über die Signalleitung 60 an die
Verrechnungseinheit 61 übergibt. Der Sollwertspeicher kann
dabei auch in Form einer Tabelle hinterlegt sein, deren
Sollwerte in Abhängigkeit einer geeigneten Prozeßzeit linear
interpoliert werden, so daß auch Zwischenwerte als Sollwerte
für die Kathodenspannung der Kathode 9 bereitgestellt werden
können. Die Verrechnungseinheit 61 bildet die Differenz
zwischen dem Sollwert der Kathodenspannung der Kathode 9 und
dem Istwert der Kathodenspannung der Kathode 9 und gibt das
erhaltene Signal über die Signalleitung 62 an das
Fuzzyfizierungsglied 58 2 aus. Dabei gibt das ausgegebene
Signal die Differenz zwischen dem Sollwert und dem Istwert
der Kathodenspannung der Kathode 9 an. Das Fuzzyfizierungs
glied 58 2 fuzzyfiziert das erhaltene Signal, das die
Differenz zwischen dem Sollwert und dem Istwert der
Kathodenspannung der Kathode 9 angibt, zu einem
fuzzyfizierten Signal und gibt dieses über die Signalleitung
49b an die Inferenzeinheit 43 aus.
Die Signalleitungen 49a und 49b, über die die fuzzyfizierten
Signale von der Fuzzyfizierungseinheit ausgegeben werden,
sind in Fig. 2 zu der Signalleitung 49, die die Signalver
bindung zwischen der Fuzzyfizierungseinheit 42 und der
Inferenzeinheit 43 darstellt, zusammengefaßt.
Der Sollwert für die Kathodenspannung der Kathode 9 wird von
dem Kathodenspannung-Sollwertspeicher 59 in Abhängigkeit von
dem Sputtertarget 10, d. h. insbesondere abhängig von dem
Material des Sputtertargets 10, bereitgestellt. Dadurch wird
der Wechsel des Sputtertargets 10, insbesondere hin zu einem
anderen Material des Sputtertargets, erheblich vereinfacht,
da die jeweils benötigten Sollwerte bereits bereitstehen.
Im folgenden wird anhand der Fig. 4A und 4B die Fuzzyfizie
rungseinheit 42, insbesondere deren Fuzzyfizierungsglied 58,
näher erläutert. Zur Veranschaulichung werden hierfür bei
spielhafte Signale verwendet, die in willkürlichen Einheiten
angegeben sind.
Die in Fig. 2 dargestellte Kontrolleinheit 41 ermittelt aus
der Kathodenspannung die Meßgröße, die die Einbrüche der
Kathodenspannung der Kathode 9, die infolge der Entladung
der Kathode über das Plasma auftreten, angibt und leitet
diese zur Weiterverarbeitung durch die
Fuzzyfizierungseinheit 42 weiter. Mittels des Zeitgebers 54
und der Verrechnungseinheit 56 wird diese Meßgröße zuvor
noch zu einem Signal ARC umgesetzt, das die Anzahl der Ein
brüche der Kathodenspannung pro Zeiteinheit angibt. Dieses
Signal wird in dem Fuzzyfizierungsglied 58 1 zu einem
fuzzyfizierten Signal ARC* fuzzyfiziert. Wie in Fig. 4A
dargestellt, sind drei Fuzzy-Mengen vorgesehen, die das
Signal ARC bezüglich der linguistischen Variablen "wenig",
"mittel" und "viel" aufteilen: Ist beispielsweise die Größe
des ARC-Signals gleich -9, dann ist der Zugehörigkeitsgrad
zu "wenig" gleich 0,7 = 70% und der Zugehörigkeitsgrad zu
"mittel" gleich 0,3 = 30%, während der Zugehörigkeitsgrad
zu "viel" gleich 0 ist. Die Zugehörigkeitsgrade werden dabei
ermittelt, indem die Schnittpunkte 70, 71 mit den den
linguistischen Variablen "wenig", "mittel" und "viel" zuge
ordneten Kurven ermittelt werden. Dabei ergibt sich ein
Schnittpunkt 70 mit der Kurve 72 für "wenig" auf der Höhe
von 0,7 und ein Schnittpunkt mit der Kurve 73 für "mittel"
auf der Höhe 0,3. Mit der Kurve 74 für "viel" ergibt sich
kein Schnittpunkt, so daß der entsprechende Zugehörigkeits
grad gleich 0 ist.
Die in Fig. 2 dargestellte Kontrolleinheit 41 leitet der
Fuzzyfizierungseinheit 42 zur Weiterverarbeitung außerdem
die Meßgröße zu, die den Istwert der Kathodenspannung der
Kathode 9 angibt. Die Verrechnungseinheit 61 erzeugt zuvor
noch das Signal, das die Differenz aus dem Sollwert der
Kathodenspannung und dem Istwert der Kathodenspannung
angibt, und sendet dieses an das Fuzzyfizierungsglied 58 2
zur Fuzzyfikation. Dieses Signal wird in dem
Fuzzyfizierungsglied 58 2, wie in Fig. 4B dargestellt,
bezüglich der linguistischen Variablen "negativ", "Null" und
"positiv" zerlegt, wodurch die jeweiligen Zugehörigkeits
grade zu den Fuzzy-Mengen ermittelt werden. Liegt beispiels
weise der Istwert der Kathodenspannung um drei Einheiten
oberhalb des Sollwerts, dann ergibt sich für die Differenz
zwischen dem Sollwert der Kathodenspannung und dem Istwert
der Kathodenspannung ein Wert von -3 Einheiten, so daß sich
für den Zugehörigkeitsgrad zu "negativ" 60%, den Zugehörig
keitsgrad zu "Null" 60% und für den Zugehörigkeitsgrad zu
"positiv" 0% ergibt. Diese Werte werden erhalten, indem vom
Abszissenwert -3 (Bezugszeichen 80) aus in der Richtung 81
der Schnittpunkt 82 mit den Kurven, die den linguistischen
Variablen zugeordnet sind, ermittelt wird. Der Schnittpunkt
82 stellt sowohl den Schnittpunkt mit der "negativ"-Kurve 83
als auch mit der "Null"-Kurve 84 dar, wobei sich in beiden
Fällen ein Zugehörigkeitsgrad von 60% ergibt. Mit der
"positiv"-Kurve 85 ergibt sich kein Schnittpunkt, so daß der
entsprechende Zugehörigkeitsgrad 0% ist.
Die in Fig. 4B dargestellte "negativ"-Kurve 83 berück
sichtigt, daß unterhalb eines Schwellenwertes von -5 die
Abweichung des Istwerts der Kathodenspannung von dem Soll
wert der Kathodenspannung als zu 100% "negativ" zu beur
te ilen ist, während oberhalb eines Schwellenwertes von +5
die Abweichung des Istwerts der Kathodenspannung von dem
Sollwert der Kathodenspannung als zu 100% positiv zu beur
teilen ist. Allerdings ist die Zugehörigkeitsfunktion zur
Fuzzy-Menge "Null" auch außerhalb des Bereichs von -5 bis 5
größer als 0%, um einen verringerten aber doch merklichen
Einfluß auch für große Abweichungen zu erhalten. Dadurch
kann einer starken Abweichung des Istwerts der Kathoden
spannung von dem Sollwert mit einer größeren Korrektur
begegnet werden.
Die von der Fuzzyfizierungseinheit 42 aus den Meßgrößen
erhaltenen fuzzyfizierten Signale werden über die Signal
leitung 49 an die Inferenzeinheit 43 weitergeleitet. Die in
Fig. 2 dargestellte Inferenzeinheit 43 überlagert die
fuzzyfizierten Signale, d. h. sie bringt diese zur Inferenz,
und ermittelt aufgrund vorgegebener Fuzzy-Regeln
fuzzyfizierte Ergebnissignale für den Gasfluß des Reaktiv
gases.
In Fig. 5 ist eine Tabelle dargestellt, die die Fuzzy-Regeln
zur Überlagerung der fuzzyfizierten Signale umfaßt, um die
fuzzyfizierten Ergebnissignale zu erhalten. Zur Auswertung
der in der Tabelle angegebenen Fuzzy-Regeln ist ferner eine
UND-Verknüpfung erforderlich, die die Zugehörigkeitsgrade
zum Auswerten der Fuzzy-Regeln (WENN-DANN) verknüpft. Im
beschriebenen Ausführungsbeispiel ist die UND-Verknüpfung
durch die Minimumsfunktion gegeben.
Die Inferenzeinheit 43 weist eine WENN-Seite 90 und eine
DANN-Seite 91 auf. Auf der WENN-Seite 90 sind die fuzzyfi
zierten Signale, die als Eingangssignale in die
Inferenzeinheit 43 eingehen, aufgeführt. In dem
beschriebenen Ausführungsbeispiel sind dies das Signal, das
die Anzahl der Einbrüche der Kathodenspannung (ARC) pro
Zeiteinheit angibt, und das Signal, das die Differenz
zwischen dem Sollwert der Kathodenspannung und dem Istwert
der Kathodenspannung angibt. Allerdings sind auch weitere
Signale denkbar, z. B. ein Signal, das sich aus dem Kathoden
strom der Kathode 9 ergibt und das bereits über die Leitung
29 an die Regelschaltung 20 übertragen wird, und ein Signal,
das von der Regelschaltung 20 aufgrund des Alters bzw. der
bisherigen Betriebsdauer des Sputtertargets 10 ermittelt
wird. Auf der DANN-Seite 91 stehen die linguistischen
Variablen für die fuzzyfizierten Ergebnissignale, wobei in
dem beschriebenen Ausführungsbeispiel wahlweise die
Ergebnisse der Spalte 92 oder der Spalte 93 zur Beein
flussung der Stellgröße, die den Gasfluß des Reaktivgases
vorgibt, verwendet werden können. Durch die in der Spalte 92
aufgeführten linguistischen Variablen "wenig", "mittel" und
"viel" wird eine absolute Regelung des Gasflusses des
Reaktivgases erreicht, indem nach erfolgter Bearbeitung
durqh die Einheiten 44, 45 ein Absolutwert für den Gasfluß
des Reaktivgases bereitgestellt wird. Durch die Wahl der
Spalte 93 wird durch die Auswahl der linguistischen
Variablen "weniger", "konstant" und "mehr" erreicht, daß
nach erfolgter Bearbeitung durch die Einheiten 44, 45 eine
relative Änderung des Gasflusses des Reaktivgases ausgehend
von dem derzeitigen Wert des Gasflusses erzeugt wird. Die
Auswahl, ob die Ergebnisse der Spalte 92 oder die Ergebnisse
der Spalte 93 verwendet werden, kann von einem Operator,
insbesondere einem Anlagenfahrer, der Kontrolleinheit 41
oder der Überwachungseinheit 45, z. B. in Abhängigkeit davon,
ob der Gasfluß des Reaktivgases in der Nähe des Sollwertes
liegt oder nicht, übernommen werden.
Beispielsweise ergibt sich daraus, daß die Anzahl der ARCs
pro Zeiteinheit zu 70% "wenig" ist und der Sollwert abzüg
lich des Istwerts der Kathodenspannung zu 60% negativ ist,
ein Zugehörigkeitsgrad von 60% für "viel" bzw. von 60% für
"mehr" für den Gasfluß des Reaktivgases.
In Fig. 5 sind unter "WENN" die jeweiligen
Zugehörigkeitsgrade zu den linguistischen Variablen, die aus
den obigen anhand der Fig. 4A und 4B beschriebenen
Beispielswerten erhalten werden, eingetragen, woraus sich
unter Berücksichtigung der Fuzzy-Regeln unter Zuhilfenahme
der Minimumsfunktion als UND-Verknüpfung die unter "DANN"
angegebenen Zugehörigkeitsgrade zu den linguistischen
Variablen der fuzzyfizierten Ergebnissignale ergeben. Die
fuzzyfizierten Ergebnissignale betreffen im beschriebenen
Ausführungsbeispiel dabei den Gasfluß des Reaktivgases,
wobei die Wahl zwischen dem auf den linguistischen Variablen
der Spalte 92 beruhenden Ergebnissignal und dem auf den
linguistischen Variablen der Spalte 93 beruhenden
Ergebnissignal besteht. Die ermittelten Zugehörigkeitsgrade
zu den Fuzzy-Mengen bzw. linguistischen Variablen werden von
der Inferenzeinheit 43 mittels der Signalleitung 50 an die
Defuzzyfizierungseinheit 44 weitergeleitet. In dem
betrachteten Beispiel ergibt sich für den Gasfluß des
Reaktivgases der Zugehörigkeitsgrad für "viel" zu 60%, der
für "mittel" zu 60% und der für "wenig" zu 0%. Für die
Alternative gemäß Spalte 93 ergibt sich für den
Zugehörigkeitsgrad zu "mehr" 60%, für den Zugehörigkeits
grad zu "weniger" 0% und für den Zugehörigkeitsgrad zu
"konstant" 60% + 30% + 0% = 90%. Daß die Summe der
Zugehörigkeitsgrade für die fuzzyfizierten Ergebnissignale
jeweils mehr als 100% ergibt, ist für die nachfolgende
Auswertung unerheblich, da die Defuzzyfizierungseinheit 44
implizit eine Normierung vornimmt.
Alternativ kann bei der Ermittlung der unscharfen
Ergebnissignale 92, 93 für den Gasfluß des Reaktivgases ein
Gewichtungsfaktor berücksichtigt werden. Beispielsweise kann
jeder Eintrag in der für das Ergebnissignal 92
bereitgestellten Spalte der WENN-DANN-Tabelle, die in der
Fig. 5 dargestellt ist, ein Gewichtungsfaktor zugeordnet
werden, der vorzugsweise zwischen 0 und 1 liegt. Wird
beispielsweise dem Eintrag in der Spalte für den Gasfluß 92,
in dem die linguistische Variable "viel" aufgeführt ist, ein
Gewichtungsfaktor von 0,2 zugeordnet, darin ergibt sich für
den Zugehörigkeitsgrad zu "viel" statt 60%: 60%.0,2 = 12%.
Entsprechend kann jedem Eintrag in der Spalte, die dem
Gasfluß 23 zugeordnet ist, ein Gewichtungsfaktor zugeordnet
werden.
Die Defuzzyfizierungseinheit 44 setzt die unscharfen
Ergebnissignale in konkrete Ergebnissignale um, um eine
Stellgröße zu erhalten, die eine definierte Vorgabe für den
Gasfluß des Reaktivgases darstellt.
Die Defuzzyfizierungseinheit 44 erhält folgende Eingangs
signale:
| "wenig" | 0% |
| "mittel" | 60% |
| "viel" | 60% |
und/oder
| "weniger" | 0% |
| "konstant" | 90% |
| "mehr" | 60% |
Dabei bezieht sich die Variable "Gasfluß des Reaktivgases
(relativ)" auf eine Änderung des Gasflusses.
In Fig. 6A ist dargestellt, wie die Fuzzy-Mengen bezüglich
der linguistischen Variablen "wenig", "mittel" und "viel"
überlagert bzw. zur Inferenz gebracht werden, um das
defuzzyfizierte Ergebnissignal für den Gasfluß des Reaktiv
gases zu erhalten. Die Fuzzy-Menge "mittel" wird bis zu
einer Höhe, die 60% entspricht, gefüllt, und die Fuzzy-
Menge "viel" wird ebenfalls bis zu einer Höhe, die 60% ent
spricht, gefüllt, während die Fuzzy-Menge für "wenig" nicht
gefüllt wird, da der entsprechende Zugehörigkeitsgrad 0%
ist. Dadurch ergeben sich die Fläche 100, die der Fuzzy-
Menge "mittel" zugeordnet ist, und die Fläche 101, die der
Fuzzy-Menge "viel" zugeordnet ist, wobei sich die Flächen
100, 101 in einem Bereich 102 überlappen. Zur
Defuzzyfizierung des fuzzyfizierten Ergebnissignals für den
Gasfluß des Reaktivgases, d. h. der linguistischen
Ausgangsvariablen für den Gasfluß des Reaktivgases, wird die
x-Koordinate 103 des Schwerpunkts der beiden Flächen 100,
101 ermittelt, wobei der Überlagerungsbereich 102 nur einmal
berücksichtigt wird. In dem beschriebenen Ausführungs
beispiel ergibt sich für die x-Koordinate 103 ein Wert von
ungefähr +9,0, so daß der Gasfluß des Reaktivgases auf einen
Wert einzustellen ist, der oberhalb des Schwerpunkts für
"mittel" liegt. Da in dem beschriebenen Ausführungsbeispiel
der Zugehörigkeitsgrad des ermittelten fuzzyfizierten
Ergebnissignals für den Gasfluß des Reaktivgases bezüglich
der linguistischen Variablen "wenig" 0% ist, hat die in
Fig. 6A dargestellte Fuzzy-Menge "wenig" in diesem Fall
keinen Einfluß auf die Berechnung des Schwerpunkts.
Entsprechend wird auch das von der Inferenzeinheit 43
erzeugte bezüglich der linguistischen Variablen "weniger",
"konstant" und "mehr" fuzzyfizierte Ergebnissignal für den
Gasfluß des Reaktivgases in der Defuzzyfizierungseinheit 44
zur Überlagerung gebracht, um ein defuzzyfiziertes Ergebnis
signal für den Gasfluß des Reaktivgases in Form eines
diskreten Ergebniswertes zu erhalten. In dem beschriebenen
Beispiel hat das fuzzyfizierte Ergebnissignal bezüglich der
Fuzzy-Menge "weniger" einen Zugehörigkeitsgrad von 0%, so
daß in diesem Fall die Fuzzy-Menge "weniger" keinen Einfluß
auf das Ergebnis hat. Die Fuzzy-Menge "konstant" wird bis
auf eine Höhe, die 90% entspricht, aufgefüllt, wodurch die
Fläche 105 erhalten wird. Die Fuzzy-Menge "mehr" wird bis zu
einer Höhe, die 60% entspricht, aufgefüllt, wodurch die
Fläche 106 erhalten wird. Die Flächen 105 und 106 überlagern
sich in einem Überlagerungsbereich 107. Zur Defuzzyfizierung
berechnet die Defuzzyfizierungseinheit 44 die x-Koordinate
108 des Schwerpunkts der Flächen 105, 106, wobei der Über
lagerungsbereich 107 nur einmal herangezogen wird. In dem
behandelten Beispiel ergibt sich für die x-Koordinate 108
des Schwerpunkts ungefähr ein Wert von 1,4, was bedeutet,
daß der Gasfluß des Reaktivgases um 1,4 Einheiten zu erhöhen
ist.
Die ermittelten Werte werden an die in Fig. 2 dargestellte
Überwachungseinheit 45 von der Defuzzyfizierungseinheit 44
über die Signalleitung 51 übermittelt. Das Prozeßleitsystem
45 überwacht, ob das ausgewählte Ergebnissignal in dem
vorgegebenen Bereich liegt. Falls das ausgewählte Ergebnis
signal außerhalb des zugeordneten vorgegebenen Bereichs
liegt, wird dieses auf einen vorgegebenen Maximal- bzw.
Minimalwert begrenzt. Bei einer Bereichsüberschreitung
erzeugt das Prozeßleitsystem 45 außerdem ein Fehlersignal,
das diese an die Kontrolleinheit 41 weiterleitet. Durch das
Fehlersignal wird einem Operator, insbesondere einer
Bedienperson, angezeigt, daß eine Bereichsüberschreitung
vorliegt bzw. erfolgt ist.
Im normalen Betrieb, d. h. wenn das Prozeßleitsystem 45 kein
Fehlersignal ausgegeben hat, überprüft die Kontrolleinheit
41 die durch die Einheiten 42 bis 45 bestimmte Stellgröße
für den Gasfluß des Reaktivgases und vergleicht diese mit
den aus dem Prozeß 40 entnommenen Meßgrößen. Erst wenn die
Meßgrößen in geeigneter Beziehung zu der ermittelten
Stellgröße liegen, gibt die Kontrolleinheit 41 die
Verarbeitung der Meßgrößen zur Ermittlung einer neuen Stell
größe für den Gasfluß des Reaktivgases durch die Einheiten
42 bis 45 frei. Dadurch wird gewährleistet, daß die Fuzzy-
Regelung stets an den Prozeßparametern des Prozesses 40
orientiert ist und den Prozeßparametern nicht davon läuft.
Die Kontrolleinheit 41 kann außerdem so eingestellt sein,
daß diese, falls das Prozeßleitsystem 45 ein Fehlersignal
erzeugt bzw. erzeugt hat, solange die Freigabe zur
Verarbeitung der Meßgrößen durch die Einheiten 42 bis 45 zur
Erzeugung einer neuen Stellgröße für den Gasfluß des
Reaktivgases unterdrückt, bis ein Operator, insbesondere
eine Bedienperson, die Ausgabe wieder freigibt. Die
Kontrolleinheit 41 kann bei der Freigabe durch den Operator
so eingestellt werden, daß sie das Freigabesignal nach
folgend sogar dann ausgibt, wenn das Ergebnissignal für den
Gasfluß des Reaktivgases, das von der Defuzzyfizierungs
einheit 44 ermittelt wird, außerhalb des von dem
Prozeßleitsystem 45 vorgegebenen Bereichs liegt.
Fig. 7 zeigt einen Signalflußplan des Verfahrens zur
Regelung einer Sputterbeschichtungsanlage gemäß einem
weiteren Ausführungsbeispiel.
Die Fuzzysteuerung 110 umfaßt eine Fuzzyfizierungseinheit
42, eine Inferenzeinheit 43 und eine
Defuzzyfizierungseinheit 44. Die Fuzzyfizierungseinheit 42
umfaßt mehrere Fuzzyfizierungsglieder 58 1 bis 58 N. Die
Fuzzyfizierungsglieder 58 1 bis 58 N dienen zum fuzzyfizieren
mehrerer Eingangssignale 111, 112 und 113. Dabei ist für
jedes Eingangssignal 111 bis 113 ein Fuzzyfizierungsglied
58 1 bis 58 N vorgesehen. Beispielsweise wird die Sollspannung
114 mit einer gemessenen Spannung 115, die aus dem Prozeß 40
ermittelt wird, im Signalflußknoten 116 durch Subtraktion
verrechnet und als Eingangssignal 113 von einem der
Fuzzyfizierungsglieder 58 1 bis 58 N der Fuzzyfizierungseinheit
42 fuzzyfiziert. Weitere Eingangsgrößen können
beispielsweise die Kathodenleistung 111 und der Anodenstrom
112 sein, die Verwendung dieser stellt allerdings eine
vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung dar, die nicht
zwingend erforderlich ist.
Die Inferenzeinheit 43 umfaßt mehrere WENN-DANN-Blöcke 116 1
bis 116 N. Dadurch kann zwischen M Möglichkeiten ausgewählt
werden, die N fuzzyfizierten Eingangssignale miteinander zur
Inferenz zu bringen, um unscharfe Ausgangssignale zu
erhalten, die an die Defuzzyfizierungseinheit 44 übergeben
werden. Die Defuzzyfizierungseinheit 44 umfaßt die
Defuzzyfizierungsglieder 117 1 bis 117 J. Wobei J so groß
gewählt ist, daß unabhängig von der Wahl des WENN-DANN-
Blocks 116 1 bis 116 M eine ausreichende Anzahl an
Defuzzyfizierungsgliedern zur Verfügung steht, um die
erhaltenen fuzzyfizierten Ausgangssignale in den
Defuzzyfizierungsgliedern 117 1 bis 117 J zu defuzzyfizieren.
In dem in der Fig. 7 dargestellten Ausführungsbeispiel des
Singalflußplans werden beispielsweise zwei der J
Defuzzyfizierungsglieder 117 1 bis 117 J benötigt, um die
defuzzyfizierten Ausgangssignale 118 und 119 zu erhalten.
Dabei beschreibt das Signal 118 die Absolutmenge Sauerstoff
O2 und das Signal 119 beschreibt die Sauerstoffänderung ΔO2.
Im Signalflußknoten 120 werden die beiden Signale 118, 119
durch regelungstechnische Addition miteinander verknüpft,
wodurch das Ausgangssignal Y erhalten wird, das den Prozeß
40 beeinflußt. Das aus dem Prozeß 40 erhaltene Signal 115
für die Meßspannung wird anschließend mit dem Eingangssignal
114, das die Sollspannung beschreibt, überlagert, um den
Regelungskreis zu schließen.
In diesem Ausführungsbeispiel der Erfindung errechnen die
Defuzzyfizierungsglieder 117 1 bis 117 J der
Defuzzyfizierungseinheit 44 die defuzzyfizierten
Ausgangssignale über die Singleton-Methode. Bei der
Singleton-Methode wird jeder unscharfe Begriff als Peak der
Höhe 1 beschrieben, der mit dem entsprechenden
Zugehörigkeitsgrad multipliziert wird. Das Ergebnis der
Defuzzyfizierung ergibt sich dann als Mittelwert der
gewichteten Summe über die Abszissenwerte der jeweils als
Peak dargestellten linguistischen Variablen.
Die Erfindung ist nicht auf das beschriebene Ausführungs
beispiel beschränkt. Insbesondere können in der Inferenz
einheit 43 andere Fuzzy-Regeln verwendet werden. Außerdem
kann auch eine andere Anzahl an linguistischen Variablen für
jedes der zu fuzzyfizierenden Signale vorgesehen werden.
Ferner können die Fuzzy-Mengen eine von den dargestellten
Mengen abweichende Gestalt aufweisen. Außerdem können auch
weitere Prozeßparameter gemessen und von der Regelschaltung
mittels der Fuzzy-Logik verarbeitet werden.
Claims (20)
1. Sputterbeschichtungsanlage (1) zur Beschichtung von
zumindest einem Substrat (2, 3), insbesondere einer
Glasscheibe, mit
zumindest einer Kathode (9), die mit einem Sputtertarget (10) verbunden ist,
zumindest einer Anode (7) und
zumindest einem Gaseinlaß (15, 16), durch den ein Reaktivgas in den Raum (17) zwischen der Anode (7) und dem Substrat (2, 3) beziehungsweise dessen Transporteinrichtung (4) geleitet wird,
wobei die Kathode (9) gegenüber der Anode (7) mit einer Kathodenspannung beaufschlagt ist, um zwischen der Kathode (9) und der Anode (7) ein Plasma auszubilden,
gekennzeichnet durch
eine Regelschaltung (20), die die Meßgröße, die die Kathodenspannung angibt, und die Meßgröße, die die Einbrüche der Kathodenspannung angibt, die infolge Entladung der Kathode (9) über das Plasma auftreten, erfaßt und in Abhängigkeit von diesen Meßgrößen den Gasfluß des Reaktivgases basierend auf einer Fuzzylogik steuert.
zumindest einer Kathode (9), die mit einem Sputtertarget (10) verbunden ist,
zumindest einer Anode (7) und
zumindest einem Gaseinlaß (15, 16), durch den ein Reaktivgas in den Raum (17) zwischen der Anode (7) und dem Substrat (2, 3) beziehungsweise dessen Transporteinrichtung (4) geleitet wird,
wobei die Kathode (9) gegenüber der Anode (7) mit einer Kathodenspannung beaufschlagt ist, um zwischen der Kathode (9) und der Anode (7) ein Plasma auszubilden,
gekennzeichnet durch
eine Regelschaltung (20), die die Meßgröße, die die Kathodenspannung angibt, und die Meßgröße, die die Einbrüche der Kathodenspannung angibt, die infolge Entladung der Kathode (9) über das Plasma auftreten, erfaßt und in Abhängigkeit von diesen Meßgrößen den Gasfluß des Reaktivgases basierend auf einer Fuzzylogik steuert.
2. Sputterbeschichtungsanlage nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Regelschaltung (20) eine Fuzzyfizierungseinheit (42)
umfaßt, die die Meßgrößen in fuzzyfizierte Signale umsetzt.
3. Sputterbeschichtungsanlage nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß ein Zeitgeber (54) vorgesehen ist, der ein Taktsignal erzeugt,
daß die Meßgröße, die die Einbrüche der Kathodenspannung angibt, mit dem Taktsignal zu einem Signal umsetzt wird, das die Anzahl der Einbrüche der Kathodenspannung pro Zeiteinheit angibt, und
daß die Fuzzyfizierungseinheit (42) das durch die Umsetzung erhaltene Signal fuzzyfiziert.
daß ein Zeitgeber (54) vorgesehen ist, der ein Taktsignal erzeugt,
daß die Meßgröße, die die Einbrüche der Kathodenspannung angibt, mit dem Taktsignal zu einem Signal umsetzt wird, das die Anzahl der Einbrüche der Kathodenspannung pro Zeiteinheit angibt, und
daß die Fuzzyfizierungseinheit (42) das durch die Umsetzung erhaltene Signal fuzzyfiziert.
4. Sputterbeschichtungsanlage nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß ein Kathodenspannung-Sollwertspeicher (59) vorgesehen ist, der einen Sollwert für die Kathodenspannung bereitstellt,
daß der Istwert der Kathodenspannung mit dem Sollwert der Kathodenspannung zu einem Signal verrechnet wird, und
daß die Fuzzyfizierungseinheit (42) das durch die Verrechnung erhaltene Signal fuzzyfiziert.
daß ein Kathodenspannung-Sollwertspeicher (59) vorgesehen ist, der einen Sollwert für die Kathodenspannung bereitstellt,
daß der Istwert der Kathodenspannung mit dem Sollwert der Kathodenspannung zu einem Signal verrechnet wird, und
daß die Fuzzyfizierungseinheit (42) das durch die Verrechnung erhaltene Signal fuzzyfiziert.
5. Sputterbeschichtungsanlage nach Anspruch 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß in dem Kathodenspannung-Sollwertspeicher (59) mehrere
Sollwerte für die Kathodenspannung der Kathode (9)
hinterlegt sind, die verschiedenen Sputtertargets (10)
zugeordnet sind.
6. Sputterbeschichtungsanlage nach einem der Ansprüche 2 bis
5,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Regelschaltung (20) eine Kontrolleinheit (41) aufweist,
daß die Regelschaltung (20) nur dann einen neuen Wert für der Gasfluß des Reaktivgases ausgibt, wenn die Kontrolleinheit (41) ein Freigabesignal ausgibt, und
daß die Kontrolleinheit (41) das Freigabesignal ausgibt, wenn der gemessene Istwert des Gasflusses des Reaktivgases innerhalb eines vorgegebenen Bereichs um dem Sollwert des Gasflusses des Reaktivgases liegt.
daß die Regelschaltung (20) eine Kontrolleinheit (41) aufweist,
daß die Regelschaltung (20) nur dann einen neuen Wert für der Gasfluß des Reaktivgases ausgibt, wenn die Kontrolleinheit (41) ein Freigabesignal ausgibt, und
daß die Kontrolleinheit (41) das Freigabesignal ausgibt, wenn der gemessene Istwert des Gasflusses des Reaktivgases innerhalb eines vorgegebenen Bereichs um dem Sollwert des Gasflusses des Reaktivgases liegt.
7. Sputterbeschichtungsanlage nach einem der Ansprüche 2 bis
6,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Regelschaltung (20) eine Inferenzeinheit (43)
umfaßt, die die von der Fuzzyfizierungseinheit (42)
ausgegebenen fuzzyfizierten Signale aufgrund von Fuzzyregeln
miteinander verknüpft, um zumindest ein fuzzyfiziertes
Ergebnissignal für den Gasfluß des Reaktivgases zu erhalten.
8. Sputterbeschichtungsanlage nach Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Regelschaltung (20) eine Defuzzyfizierungseinheit (44), die das fuzzyfizierte Ergebnissignal für den Gasfluß des Reaktivgases in ein diskretes Ergebnissignal für den Gasfluß des Reaktivgases defuzzyfiziert, und ein Prozeßleitsystem (45) umfaßt, das überwacht, ob das Ergebnissignal in einem vorgegebenen Bereich liegt und, falls das Ergebnissignal außerhalb des zugeordneten vorgegebenen Bereichs liegt, dieses auf einen vorgegebenen Maximal- beziehungsweise Minimalwert begrenzt,
wobei der Gasfluß des Reaktivgases aufgrund des Ergebnissignals neu eingestellt wird.
daß die Regelschaltung (20) eine Defuzzyfizierungseinheit (44), die das fuzzyfizierte Ergebnissignal für den Gasfluß des Reaktivgases in ein diskretes Ergebnissignal für den Gasfluß des Reaktivgases defuzzyfiziert, und ein Prozeßleitsystem (45) umfaßt, das überwacht, ob das Ergebnissignal in einem vorgegebenen Bereich liegt und, falls das Ergebnissignal außerhalb des zugeordneten vorgegebenen Bereichs liegt, dieses auf einen vorgegebenen Maximal- beziehungsweise Minimalwert begrenzt,
wobei der Gasfluß des Reaktivgases aufgrund des Ergebnissignals neu eingestellt wird.
9. Sputterbeschichtungsanlage nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Prozeßleitsystem (45), falls das Ergebnissignal für
den Gasfluß des Reaktivgases den vorgegebenen Bereich
überschritten hat, ein Fehlersignal erzeugt, das eine
Bereichsüberschreitung des Ergebnissignals anzeigt.
10. Sputterbeschichtungsanlage nach Anspruch 9,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Kontrolleinheit(41), falls das Prozeßleitsystem (45)
ein Fehlersignal erzeugt, solange kein Freigabesignal, das
die Ausgabe eines neuen Wertes für den Gasfluß des
Reaktivgases freigibt, ausgibt, bis durch einen Operator,
insbesondere eine Bedienperson, die Ausgabe wieder
freigegeben ist.
11. Sputterbeschichtungsanlage nach Anspruch 10,
dadurch gekennzeichnet,
daß, falls das Prozeßleitsystem (45) ein Fehlersignal
erzeugt und durch den Operator die Ausgabe des
Freigabesignals der Kontrolleinheit (41) freigegeben ist,
die Kontrolleinheit (41) das Freigabesignal sogar dann
ausgibt, wenn das Ergebnissignal für den Gasfluß des
Reaktivgases weiterhin außerhalb des vorgegebenen Bereichs
liegt.
12. Sputterbeschichtungsanlage nach einem der Ansprüche 1
bis 11,
dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen der Kathode (9) und der Anode (7) zumindest zum
Teil ein Inertgas vorgesehen ist.
13. Verfahren zur Regelung einer Sputterbeschichtungsanlage
(1), die zur Beschichtung von zumindest einem Substrat (2,
3), insbesondere einer Glasscheibe, dient und zumindest eine
Kathode (9), die mit einem Sputtertarget (10) verbunden ist,
zumindest eine Anode (7) und zumindest einen Gaseinlaß (15,
16) aufweist, durch den ein Reaktivgas in den Raum (17)
zwischen der Anode (7) und dem Substrat (2, 3) geleitet
wird, wobei die Kathode (9) gegenüber der Anode (7) mit
einer Kathodenspannung beaufschlagt wird, um zwischen der
Kathode (9) und der Anode (7) ein Plasma auszubilden,
gekennzeichnet durch folgende Verfahrensschritte:
- a) Messen der Kathodenspannung der Kathode (9);
- b) Messen der Anzahl der Einbrüche der Kathodenspannung, die infolge Entladung der Kathode (9) über das Plasma auftreten; und
- c) Verarbeiten der Meßgrößen Kathodenspannung und Anzahl der Einbrüche der Kathodenspannung unter Anwendung von vorbestimmten Fuzzyregeln zur Regelung des Gasflusses des Reaktivgases.
14. Verfahren nach Anspruch 13,
dadurch gekennzeichnet,
daß im Verfahrensschritt (c) die Anzahl der Einbrüche der Kathodenspannung unter Verwendung eines Taktsignals in ein Signal umgesetzt wird, das die Anzahl der Einbrüche der Kathodenspannung pro Zeiteinheit angibt, und
daß dieses Signal bezüglich der linguistischen Variablen "wenig", "mittel" und "viel" zu einem fuzzyfizierten Signal fuzzyfiziert wird; und
daß der Istwert der Kathodenspannung von einem Sollwert der Kathodenspannung abgezogen wird und das Ergebnis bezüglich der linguistischen Variablen "negativ", "Null" und "positiv" zu einem fuzzyfizierten Signal fuzzyfiziert wird.
daß im Verfahrensschritt (c) die Anzahl der Einbrüche der Kathodenspannung unter Verwendung eines Taktsignals in ein Signal umgesetzt wird, das die Anzahl der Einbrüche der Kathodenspannung pro Zeiteinheit angibt, und
daß dieses Signal bezüglich der linguistischen Variablen "wenig", "mittel" und "viel" zu einem fuzzyfizierten Signal fuzzyfiziert wird; und
daß der Istwert der Kathodenspannung von einem Sollwert der Kathodenspannung abgezogen wird und das Ergebnis bezüglich der linguistischen Variablen "negativ", "Null" und "positiv" zu einem fuzzyfizierten Signal fuzzyfiziert wird.
15. Verfahren nach Anspruch 14,
dadurch gekennzeichnet,
daß die fuzzyfizierten Signale gemäß vorgegebenen Fuzzyregeln miteinander überlagert werden, wodurch ein bezüglich der linguistischen Variablen "wenig", "mittel" und "viel" fuzzyfiziertes Ergebnissignal für den Gasfluß erhalten wird; und
daß das fuzzyfizierte Ergebnissignal auf ein diskrete Ergebnissignal defuzzyfiziert wird.
daß die fuzzyfizierten Signale gemäß vorgegebenen Fuzzyregeln miteinander überlagert werden, wodurch ein bezüglich der linguistischen Variablen "wenig", "mittel" und "viel" fuzzyfiziertes Ergebnissignal für den Gasfluß erhalten wird; und
daß das fuzzyfizierte Ergebnissignal auf ein diskrete Ergebnissignal defuzzyfiziert wird.
16. Verfahren nach Anspruch 15,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Fuzzyregeln folgende Regeln umfassen:
"wenig" UND "negativ" ist gleich "viel";
"wenig" UND "Null" ist gleich "mittel";
"wenig" UND "positiv" ist gleich "wenig".
"wenig" UND "negativ" ist gleich "viel";
"wenig" UND "Null" ist gleich "mittel";
"wenig" UND "positiv" ist gleich "wenig".
17. Verfahren nach Anspruch 14,
dadurch gekennzeichnet,
daß die fuzzyfizierten Signale gemäß vorgegebenen Fuzzyregeln miteinander verknüpft werden, wodurch ein bezüglich der linguistischen Variablen "weniger", "konstant" und "mehr" fuzzyfiziertes Ergebnissignal für den Gasfluß des Reaktivgases erhalten wird; und
daß das fuzzyfizierte Ergebnissignal auf ein diskretes Ergebnissignal defuzzyfiziert wird.
daß die fuzzyfizierten Signale gemäß vorgegebenen Fuzzyregeln miteinander verknüpft werden, wodurch ein bezüglich der linguistischen Variablen "weniger", "konstant" und "mehr" fuzzyfiziertes Ergebnissignal für den Gasfluß des Reaktivgases erhalten wird; und
daß das fuzzyfizierte Ergebnissignal auf ein diskretes Ergebnissignal defuzzyfiziert wird.
18. Verfahren nach Anspruch 17,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Fuzzyregeln folgende Regeln umfassen:
"wenig" UND "negativ" ist gleich "mehr";
"wenig" UND "Null" ist gleich "konstant";
"wenig" UND "positiv" ist gleich "weniger";
"mittel" ist gleich "konstant"; und
"viel" ist gleich "konstant".
"wenig" UND "negativ" ist gleich "mehr";
"wenig" UND "Null" ist gleich "konstant";
"wenig" UND "positiv" ist gleich "weniger";
"mittel" ist gleich "konstant"; und
"viel" ist gleich "konstant".
19. Verfahren nach Anspruch 16 oder 18,
dadurch gekennzeichnet,
daß die in den Fuzzyregeln angegebene UND-Verknüpfung die
Zugehörigkeitsgrade zu den linguistischen Variablen "wenig",
"negativ", "Null" und "positiv" mittels der Minimumsfunktion
verknüpft.
20. Verfahren nach einem der Ansprüche 13 bis 19,
dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen der Kathode (9) und der Anode (7) zumindest zum
Teil ein Inertgas vorgesehen ist.
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE10135802A DE10135802A1 (de) | 2000-10-11 | 2001-07-23 | Sputterbeschichtungsanlage zur Beschichtung von zumindest einem Substrat und Verfahren zur Regelung dieser Anlage |
| DE50106957T DE50106957D1 (de) | 2000-10-11 | 2001-09-07 | Sputterbeschichtigungsanlage zur Beschichtung von zumindest einem Substrat und Verfahren zur Regelung dieser Anlage |
| EP20010121454 EP1197578B1 (de) | 2000-10-11 | 2001-09-07 | Sputterbeschichtigungsanlage zur Beschichtung von zumindest einem Substrat und Verfahren zur Regelung dieser Anlage |
Applications Claiming Priority (2)
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|---|---|---|---|
| DE10050354 | 2000-10-11 | ||
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE10135802A1 true DE10135802A1 (de) | 2002-05-02 |
Family
ID=7659414
Family Applications (2)
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| DE10135802A Withdrawn DE10135802A1 (de) | 2000-10-11 | 2001-07-23 | Sputterbeschichtungsanlage zur Beschichtung von zumindest einem Substrat und Verfahren zur Regelung dieser Anlage |
| DE50106957T Expired - Lifetime DE50106957D1 (de) | 2000-10-11 | 2001-09-07 | Sputterbeschichtigungsanlage zur Beschichtung von zumindest einem Substrat und Verfahren zur Regelung dieser Anlage |
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| DE50106957T Expired - Lifetime DE50106957D1 (de) | 2000-10-11 | 2001-09-07 | Sputterbeschichtigungsanlage zur Beschichtung von zumindest einem Substrat und Verfahren zur Regelung dieser Anlage |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (2) | DE10135802A1 (de) |
-
2001
- 2001-07-23 DE DE10135802A patent/DE10135802A1/de not_active Withdrawn
- 2001-09-07 DE DE50106957T patent/DE50106957D1/de not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE50106957D1 (de) | 2005-09-08 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| 8141 | Disposal/no request for examination |