DE19909266A1 - Dünnschicht-Hochtemperatursupraleiteranordnung - Google Patents
Dünnschicht-HochtemperatursupraleiteranordnungInfo
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Abstract
Die Erfindung betrifft eine Dünnschicht-Hochtemperatursupraleiteranordnung mit einer supraleitenden Schicht (3) aus YBa¶2¶Cu¶3¶O¶7-x¶. Als Schutz gegen die Bildung von Hot-Spots ist in gutem Wärmekontakt zur supraleitenden Schicht (3) ein elektrisch nichtleitender thermischer Bypass (5) mit einer überdurchschnittlichen Wärmeleitfähigkeit vorgesehen. Der thermische Bypass (5) ermöglicht die Verteilung von lokal erzeugter Joulscher Wärme auf einen großen Bereich, verringert somit Temperaturgradienten in der supraleitenden Schicht (3) und favorisiert ein homogenes Quenchen. Der thermische Bypass (5) ist vorzugsweise eine Diamantschicht, welche mittels CVD (chemical vapor deposition) Techniken auf die supraleitende Schicht (3) aufgebracht wird.
Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf das Gebiet der
technischen Anwendung von Hochtemperatursupraleitern. Sie
geht aus von einer Dünnschicht-Hochtemperatursupraleiter
anordnung welcher eine auf einem tragenden Substrat aufge
brachte supraleitende Schicht umfasst.
Die Erfindung bezieht sich auf eine Dünnschicht-Hochtempe
ratursupraleiteranordnung, wie sie aus dem Artikel von B.
Gromoll et al., "Resistive Current Limiters with YBCO Films",
IEEE Transactions on Applied Superconductivity Vol. 7 No. 2,
1997, p 828-831, bekannt ist. Ein Substrat dient dabei als
Unterlage für eine dünne Schicht aus einem keramischen Hoch
temperatursupraleitermaterial. Derartige Anordnungen finden
beispielsweise Verwendung in supraleitenden Strombegrenzern
für ein elektrisches Energieverteilungsnetz. Bei einem sol
chen Strombegrenzer wird ausgenutzt, dass ein Supraleiter bei
entsprechend tiefer Temperatur seine Supraleitfähigkeit nur
solange beibehält, als die Stromdichte eines ihn durchflies
senden Stromes unterhalb eines gewissen Grenzwertes bleibt.
Dieser Grenzwert wird herkömmlich als kritische Stromdichte
(jc) bezeichnet und ist grundsätzlich abhängig von der Tempe
ratur des Supraleiters und dem ihn durchsetzenden Magnetfeld.
Dünnschicht-Hochtemperatursupraleiteranordnungen wie die ein
gangs erwähnte umfassen ein normalerweise polykristallines,
untexturiertes Substrat, eine qualitativ hochwertige dünne
supraleitende Schicht und dazwischen eine möglicherweise
texturierte Pufferschicht. Die Pufferschicht stimmt in ihren
thermomechanischen Eigenschaften, insbesondere dem Wärmeaus
dehnungskoeffizienten, mit dem Hochtemperatursupraleiter gut
überein. Im eingangs genannten Artikel wird als Hochtempera
tursupraleitermaterial insbesondere eine Verbindung mit der
chemischen Formel YBa2Cu3O7-x mit einer kritischen Stromdichte
von 106 A/cm2 in Betracht gezogen. Als Pufferschicht für
Hochtemperatursupraleiter bewährt hat sich vollstabilisiertes
Zirkonoxid, in welchem einige Mol% Yttriumoxid zu reinem
Zirkonoxid beigefügt werden. Als Substrat kommen metallische
Legierungen (z. B. Hastelloy), teilstabilisiertes Zirkonoxid
oder Saphir in Frage.
Zur Aufbringung der Pufferschicht und der supraleitenden
Schicht werden spezielle PVD (Physical Vapor Deposition) oder
CVD (Chemical Vapor Deposition) Prozesse verwendet. Dabei
wird durch Bestrahlung mit Ionen, Elektronen oder einem Laser
aus einem Target Material in Form einer Plasmawolke heraus
gelöst. Die gegebenenfalls ionisierten Atome oder Moleküle
gelangen zum Substrat und scheiden sich dort ab. Bevorzugte
Verfahren zur Abscheidung der Pufferschicht sind Sputterver
fahren, bei denen das Target durch Ionen bombardiert wird.
Das Aufwachsen der supraleitenden Schicht erfolgt durch ther
mische Co-Verdampfung (co-evaporation) oder mittels eines
Laserablationsverfahrens. Die Dicke der dergestalt präparier
ten supraleitenden Schicht beträgt bis 5 µm.
Verfahren zur Herstellung von Diamantbeschichtungen haben in
letzter Zeit enorme Fortschritte gemacht. So ist es bereits
möglich, mittels CVD (chemical vapor deposition) Verfahren
dicke Schichten aus Diamant abzuscheiden, und dies bei Wachs
tumsgeschwindigkeiten von über 100 µm/h. Die CVD-Diamant
schichten lassen sich auf einer Vielzahl von Substraten
aufbringen, welche dazu allerdings auf Temperaturen zwischen
700°C und 1100°C geheizt werden müssen. Eine Übersicht über
verschiedene CVD Techniken ist in H. Liu and D. S. Dandy,
"Diamond chemical vapor deposition", noyes publications, Park
Ridge NJ, 1995, p. 14-19, gegeben.
Die Eigenschaften dieser, im folgenden CVD-Diamant genannten
Schichten sind vergleichbar mit denjenigen von Diamant-Ein
kristallen. Eine CVD-Diamantschicht weist beispielsweise
ebenfalls eine herausragende Wärmeleitfähigkeit auf. Der
Wärmeleitkoeffizient beträgt bei Raumtemperatur λ(300 K) =
2000 W/mK (zum Vergleich λAg = 420 W/mK) und bei den im Wei
teren interessierenden Temperaturen sogar λ(77 K) = 3400 W/mK
(zum Vergleich λSL = 2 W/mK).
Für Anwendungen von Supraleitern bei hohen elektrischen
Leistungen, beispielsweise in einem Kurzschluss-Strombegren
zer, muss die Problematik der sogenannten "Hot-Spots" gebüh
rend berücksichtigt werden. Infolge von unvermeidlichen Mate
rialinhomogenitäten im Supraleiter oder wegen lokalen ther
mischen Fluktuationen ist die kritische Stromdichte nicht
über den ganzen Supraleiter konstant. Folglich wird im Kurz
schlussfall bei der anfänglichen Zunahme des Kurzschlussstro
mes die Stromdichte an der schwächsten Stelle des Supralei
ters die lokale kritische Stromdichte zuerst überschreiten.
An dieser Stelle des Supraleiters beginnt sich also ein Span
nungsabfall aufzubauen. Dabei wird Joule'sche Wärme erzeugt,
welche den Supraleiter in einem kleinen Bereich aufheizt und
die Supraleitung lokal zusammenbrechen lässt. Wird die dissi
pierte Energie nicht rasch genug weggeführt, entsteht ein
Hot-Spot welcher letztendlich zu einer Zerstörung des Supra
leiters führt.
Bei einem idealen Strombegrenzer mit perfekt konstanter kri
tischer Stromdichte jc und uniformer Stromverteilung im
Supraleiter wird letzterer im Kurzschlussfall homogen über
seine ganze Länge "quenchen", d. h. in den resistiven Zustand
übergehen. Dadurch fällt die am entsprechenden Netzabschnitt
anliegende Spannung über die ganze Länge des Supraleiters ab,
was zu kleinen elektrischen Feldern und entsprechend unter
kritischen Energiedichten führt. Bei realen Strombegrenzern
auf Supraleiterbasis stellt sich also die Frage, wie Hot-
Spots vermieden werden können beziehungsweise ein homogener
Quench herbeigeführt werden kann.
Erste Abhilfe bietet zumindest ein elektrischer Bypass, wie
er beispielsweise aus dem eingangs genannten Artikel bekannt
ist. Dieser elektrische Bypass steht über die ganze Länge
eines Hochtemperatursupraleiters mit diesem in elektrischem
Kontakt und liegt somit parallel zu jedem potentiellen Hot-
Spot. Der elektrische Bypass stellt einen alternativen Strom
pfad dar, durch welchen der Kurzschlussstrom den Hot-Spot
umgehen kann, wodurch die Spannungsverteilung homogenisiert
wird.
Der elektrische Bypass ist typischerweise eine Schicht aus
einem auch bei Wärmebehandlungen gegenüber dem Hochtempera
tursupraleiter inerten Edelmetall wie Silber oder Gold. Um
die Begrenzungseigenschaften des betrachteten Strombegrenzers
nicht einzuschränken, darf der Bypasswiderstand pro Länge
nicht zu klein sein. Die genannte Schicht darf also nicht zu
gut leiten oder muss einen entsprechend geringen Querschnitt
aufweisen. Der vom Hot-Spot übernommene Kurzschlussstrom wird
auch im Bypass Joule'sche Wärme erzeugen, wodurch sich auch
der elektrische Bypass mehr oder weniger schnell aufheizt und
letztendlich Schaden nimmt.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, bei einer Dünn
schicht-Hochtemperatursupraleiteranordnung der eingangs ge
nannten Art die Ausbildung von Hot-Spots zu verhindern.
Die Aufgabe wird durch eine Dünnschicht-Hochtemperatursupra
leiteranordnung mit den Merkmalen des ersten Patentanspruchs
gelöst.
Kern der Erfindung ist es, die lokal konzentrierte Energie
dissipation im Bereich eines potentiellen Hot-Spots möglichst
schnell zu unterbinden indem die dort erzeugte Wärme in ande
re Bereiche der supraleitenden Schicht geleitet wird und
diese sich grossflächig erwärmt und homogen zum Quenchen
gebracht wird. Da die Wärmeleitfähigkeit der supraleitenden
Schicht selbst dazu nicht ausreicht, wird ein thermischer
Bypass mit einer effizienten Wärmeleitfähigkeit in guten
thermischen Kontakt mit der supraleitenden Schicht gebracht.
In Verbindung mit einem hinreichend geringen thermischen
Widerstand zwischen der supraleitenden Schicht und dem ther
mischen Bypass wird lokal entstehende Wärmeenergie durch den
Bypass an benachbarte Abschnitte der supraleitenden Schicht
weitergeleitet. Temperaturunterschiede innerhalb der supra
leitenden Schicht werden somit verringert und ein lokales
Quenchen verhindert.
Eine erste Ausführungsform der erfindungsgemässen Dünn
schicht-Hochtemperatursupraleiteranordnung zeichnet sich
dadurch aus, dass der thermische Bypass direkt auf die
supraleitende Schicht aufgebracht ist.
Eine zweite bevorzugte Ausführungsform sieht eine Zwischen
schicht zwischen der supraleitenden Schicht und dem thermi
schen Bypass vor. Diese Zwischenschicht kann sowohl (analog
zur erwähnten Pufferschicht) das Aufbringen des thermischen
Bypasses unterstützen oder auch als elektrische Bypassschicht
dienen.
Infolge seiner exzellenten Wärmeleitfähigkeit und seiner er
probten Herstellungsverfahren bietet sich eine Schicht aus
CVD-Diamant als thermischer Bypass an.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand von Ausführungsbeispie
len im Zusammenhang mit den Zeichnungen näher erläutert.
Diese zeigen jeweils im Schnitt den Aufbau einer Dünnschicht-
Hochtemperatursupraleiteranordnung, nämlich
Fig. 1 gemäss einem ersten Ausführungsbeispiel der Erfindung
mit einem thermischen Bypass, welcher unmittelbar auf der
supraleitenden Schicht aufliegt,
Fig. 2 gemäss einem zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung
mit einem sich zwischen zwei supraleitenden Schichten
befindlichen thermischen Bypass,
Fig. 3 gemäss einem dritten Ausführungsbeispiel der Erfindung
mit einer Zwischenschicht zwischen Supraleiter und
thermischem Bypass.
Die in den Zeichnungen verwendeten Bezugszeichen sind in der
Bezugszeichenliste zusammengefasst. Grundsätzlich sind
gleiche Teile mit denselben Bezugszeichen versehen.
In Fig. 1 ist ein Ausschnitt aus einer Dünnschicht-Hochtem
peratursupraleiteranordnung nach der Erfindung gezeigt. Diese
umfasst eine dünne supraleitende Schicht 3, die mittels eines
der aus dem Stand der Technik bekannten Verfahren auf ein
Substrat 1 aufgebracht wurde. Zwischen dem Substrat 1 und der
supraleitenden Schicht 3 befindet sich eine Pufferschicht 2,
und auf der supraleitenden Schicht 3 ist ein schichtartiger
thermischer Bypass 5 aufgebracht.
Die Pufferschicht 2 ist einerseits texturiert ist und ande
rerseits in ihrem thermischen Ausdehnungskoeffizienten an
denjenigen der supraleitenden Schicht 3 angeglichen. Die Puf
ferschicht 2 kann auch die Aufgabe haben, eine chemische
Reaktion zwischen der supraleitenden Schicht 3 und dem Sub
strat 1 zu verhindern oder die supraleitende Schicht 3 elekt
risch von einem metallischen Substrat 1 zu isolieren. Es ist
auch durchaus denkbar, die Pufferschicht 2 als thermischen
Bypass vorzusehen, d. h. den thermischen Bypass zwischen Sub
strat 1 und supraleitender Schicht 3 einzubauen. Es versteht
sich, dass die Erfindung unabhängig ist vom Aufbau und der
Herstellung der supraleitenden Schicht 3 und insbesondere
nicht auf das Vorhandensein einer oder gar mehrerer Puffer
schichten 2 angewiesen ist.
Der thermische Bypass 5 ist als Schicht ausgebildet, deren
erste Hauptfläche 51 unmittelbar auf der supraleitenden
Schicht 3 aufliegt. Der thermische Bypass 5 steht also in
flächenhaftem Kontakt zur supraleitenden Schicht 3, wobei
dieser Kontakt einen geringen Wärmeübergangswiderstand auf
weist. Die in der supraleitenden Schicht 3 (oder in einem
allfällig vorhandenen elektrischen Bypass, siehe unten) er
zeugte Joulsche Wärme muss effizient in den thermischen By
pass 5 übergehen können. Der thermische Bypass 5 ist elekt
risch nichtleitend, da die Strombegrenzungseigenschaft der
supraleitenden Schicht 3 nicht durch einen dazu parallelge
schalteten guten elektrischen Leiter unwirksam gemacht werden
soll.
Sobald nun die Kurzschlussstromdichte an der schwächsten
Stelle der supraleitenden Schicht 3 die lokale kritische
Stromdichte überschreitet, baut sich ein Spannungsabfall auf
und Joulsche Wärme wird erzeugt. Diese Energie tritt in den
benachbarten thermischen Bypass 5 über und wird dort weiter
geleitet. Dadurch werden auch andere Bereiche der supralei
tenden Schicht 3, in denen die kritische Stromdichte noch
nicht erreicht ist, erwärmt und treten in den resistiven Zu
stand über (sie "quenchen"). Dadurch fällt die am Strombe
grenzer anliegende Spannung nicht nur lokal an einer einzigen
Stelle ab und die Energiedissipation führt nicht zu seiner
thermischen Zerstörung.
In Fig. 2 ist eine weitere vorteilhafte Ausgestaltung der Er
findung dargestellt, bei welcher von der elektrischen Isola
tionsfestigkeit des thermischen Bypasses 5 profitiert wird.
Eine weitere supraleitende Schicht 3' ist auf der der ersten
supraleitenden Schicht 3 gegenüberliegenden Seite des ther
mischen Bypass 5 vorgesehen und kontaktiert diesen über seine
zweite Hauptfläche 52. In dieser zweiten supraleitenden
Schicht 3' fliesst der Strom I vorzugsweise in die zur Strom
richtung in der ersten supraleitenden Schicht 3 entgegenge
setzten Richtung. In dieser Anordnung wird auch die Wärme
leitfähigkeit des thermischen Bypass 5 senkrecht zur Ebene
der supraleitenden Schicht 3 optimal ausgenützt.
Solange der Wärmeübergang in den thermischen Bypass 5 gewähr
leistet bleibt, können, wie in Fig. 3 dargestellt, zwischen
der supraleitenden Schicht 3 und dem thermischen Bypass 5
eine oder mehrere Zwischenschichten 4 vorgesehen sein. Eine
solche Zwischenschicht 4 kann sich zur Aufbringung des ther
mischen Bypass 5 als vorteilhaft erweisen und eine Funktion
analog zur Rolle, welche die Pufferschicht 2 für die supra
leitende Schicht 3 spielt, übernehmen. Oder sie können als
elektrische Bypassschicht ausgebildet sein zwecks elektri
scher Stabilisierung der supraleitenden Schicht 3. Gute
elektrische und somit auch thermische metallische Leiter sind
wie eingangs dargelegt relativ dünn und bilden somit nur
einen kleinen thermischen Übergangswiderstand, selbst sind
sie aber als thermischer Bypass nicht geeignet.
Als thermischer Bypass 5 geeignet ist insbesondere eine CVD-
Diamantschicht, wie sie eingangs erwähnt wurde und welche
sich durch eine herausragende Wärmeleitfähigkeit auszeichnet.
Das Aufwachsen einer CVD-Diamantschicht auf einer Hochtempe
ratursupraleiter-Dünnschicht geschieht mittels einer der
bekannten CVD-Techniken. Die Temperatur, auf welche das Sub
strat inklusive des Hochtemperatursupraleiters dazu erwärmt
wird, muss unterhalb der Zersetzungstemperatur des letzteren
bleiben, sollte also für die Hochtemperatursupraleiter der
YBa2Cu3O7-x-Familie 900°C nicht übersteigen. Dies ist bei
einigen der bekannten CVD Diamant-Beschichtungstechniken
bereits gewährleistet und wird bei weiterentwickelten
Verfahren eine immer geringere Anforderung bilden. Die
Supraleiteranordnung kann vor oder nach dem Aufbringen der
CVD-Diamantschicht noch einer Wärmebehandlung unterzogen
werden.
Zur Dimensionierung können die folgenden Angaben gemacht wer
den. Die Dicke der supraleitenden Schicht 3 reicht vorzugs
weise bis zu 5 µm, diejenige einer als elektrischer Bypass
konzipierten Zwischenschicht 4 liegt vorzugsweise zwischen 10 nm
und einigen 100 nm. Für den thermischen Bypass 5 gilt,
dass die Wärmeleitung parallel zur Ebene der supraleitenden
Schicht 3 umso besser ist, je dicker der thermische Bypass 5
ist. Vorzugsweise 10 µm-50 µm sind daher ausreichend.
Man beachte dass bei angewandten Tieftemperatursupraleitern
die Ausbreitungsgeschwindigkeit eines Hot-Spots sehr gross
ist (einige hundert m/s), da dort die supraleitenden Filamen
te in einer Matrix mit hoher Wärmeleitfähigkeit eingebaut
sind. Weiter sei bemerkt dass der gelegentlich als Substrat 1
zur Anwendung gelangende Saphir eine stark anisotrope Wärme
leitfähigkeit aufweist, welche viel ausgeprägter ist in einer
Richtung senkrecht zur supraleitenden Schicht 3 als in einer
Ebene parallel dazu.
Insgesamt ergibt sich unter Verwendung eines erfindungsgemäs
sen thermischen Bypasses 5 ein wirksamer Schutz einer Hoch
temperatursupraleiter-Dünnschicht 3 gegen die Bildung von
Hot-Spots und der ihrer darauffolgenden thermischen Zerstö
rung. Die ausgezeichnete Wärmeleitfähigkeit des thermischen
Bypasses 5 ermöglicht die Verteilung von lokal erzeugter
Joulscher Wärme auf einen grossen Bereich, verringert somit
Temperaturgradienten in der supraleitenden Schicht 3 und
favorisiert ein homogenes Quenchen.
1
Substrat
2
Pufferschicht
3
Supraleitende Schicht
4
Zwischenschicht
5
Thermischer Bypass
51
1. Hauptfläche
52
2. Hauptfläche
Claims (8)
1. Dünnschicht-Hochtemperatursupraleiteranordnung mit einer
supraleitenden Schicht (3), welche auf ein Substrat (1)
aufgebracht ist, dadurch gekennzeichnet, dass ein elekt
risch nichtleitender thermischer Bypass (5) vorhanden ist,
welcher mit der supraleitenden Schicht (3) in Wirkverbin
dung steht.
2. Dünnschicht-Hochtemperatursupraleiteranordnung nach
Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der thermische
Bypass (5) über eine erste Hauptfläche (51) mit der dem
Substrat (1) abgewandten Seite der supraleitenden Schicht
(3) in flächenhaftem wärmeleitendem Kontakt steht.
3. Dünnschicht-Hochtemperatursupraleiteranordnung nach
Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der thermische
Bypass (5) über eine zweite Hauptfläche (52) mit einer
weiteren supraleitenden Schicht (3') in wärmeleitendem
Kontakt steht.
4. Dünnschicht-Hochtemperatursupraleiteranordnung nach einem
der Ansprüche 1-3, dadurch gekennzeichnet, dass die
supraleitende Schicht (3) aus einem keramischen Hoch
temperatursupraleiter, insbesondere aus einer Verbindung
gemäss der Formel YBa2Cu3O7-x, besteht.
5. Dünnschicht-Hochtemperatursupraleiteranordnung nach
Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass der thermische
Bypass (5) eine CVD-Diamantschicht ist.
6. Dünnschicht-Hochtemperatursupraleiteranordnung nach
Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der thermische
Bypass (5) in unmittelbarem Kontakt mit der supraleitenden
Schicht (3) steht.
7. Dünnschicht-Hochtemperatursupraleiteranordnung nach
Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen der
supraleitenden Schicht (3) und dem thermischen Bypass (5)
mindestens eine Zwischenschicht (4) vorgesehen ist.
8. Dünnschicht-Hochtemperatursupraleiteranordnung nach
Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die mindestens
eine Zwischenschicht (4) eine elektrisch leitende Schicht,
vorzugsweise aus Silber oder Gold, ist.
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| WO (1) | WO2000052767A1 (de) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10230083B3 (de) * | 2002-06-27 | 2004-02-05 | Siemens Ag | Strombegrenzungseinrichtung mit verbesserter Wärmeableitung |
| WO2006037740A1 (de) * | 2004-10-04 | 2006-04-13 | Siemens Aktiengesellschaft | VORRICHTUNG ZUR STROMBEGRENZUNG VOM RESISTIVEN TYP MIT BANDFÖRMIGEM HOCH-Tc-SUPRALEITER |
| DE102004048644B4 (de) * | 2004-10-04 | 2006-08-10 | Siemens Ag | Vorrichtung zur resistiven Strombegrenzung mit bandförmiger Hoch-Tc -Supraleiterbahn |
| DE102017221129A1 (de) * | 2017-11-27 | 2019-05-29 | Siemens Aktiengesellschaft | Supraleitender Bandleiter mit flächiger Schutzschicht |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5828291A (en) * | 1994-09-29 | 1998-10-27 | Abb Research Ltd. | Multiple compound conductor current-limiting device |
| DE19825564A1 (de) * | 1997-06-12 | 1998-12-17 | Siemens Ag | Strombegrenzungseinrichtung, insbesondere Kurzschlußstrom-Begrenzer, mit Dünnschichtleiter aus Hoch-T¶c¶-Supraleitermaterial |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4994435A (en) * | 1987-10-16 | 1991-02-19 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Laminated layers of a substrate, noble metal, and interlayer underneath an oxide superconductor |
| US5132283A (en) * | 1987-12-28 | 1992-07-21 | Ford Motor Company | Thin film superconductor assembly and method of making the same |
| WO2000010176A1 (en) * | 1998-08-11 | 2000-02-24 | American Superconductor Corporation | Superconducting conductors and their method of manufacture |
-
1999
- 1999-03-03 DE DE19909266A patent/DE19909266A1/de not_active Withdrawn
-
2000
- 2000-02-24 WO PCT/CH2000/000103 patent/WO2000052767A1/de not_active Ceased
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5828291A (en) * | 1994-09-29 | 1998-10-27 | Abb Research Ltd. | Multiple compound conductor current-limiting device |
| DE19825564A1 (de) * | 1997-06-12 | 1998-12-17 | Siemens Ag | Strombegrenzungseinrichtung, insbesondere Kurzschlußstrom-Begrenzer, mit Dünnschichtleiter aus Hoch-T¶c¶-Supraleitermaterial |
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| 08161983 A * |
| JP Patents Abstracts of Japan: 5-251762 A.,E-1486,Jan. 7,1994,Vol.18,No. 8 * |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10230083B3 (de) * | 2002-06-27 | 2004-02-05 | Siemens Ag | Strombegrenzungseinrichtung mit verbesserter Wärmeableitung |
| WO2004004019A3 (de) * | 2002-06-27 | 2004-05-06 | Siemens Ag | Strombegrenzungseinrichtung mit verbesserter wärmeableitung |
| WO2006037740A1 (de) * | 2004-10-04 | 2006-04-13 | Siemens Aktiengesellschaft | VORRICHTUNG ZUR STROMBEGRENZUNG VOM RESISTIVEN TYP MIT BANDFÖRMIGEM HOCH-Tc-SUPRALEITER |
| DE102004048644B4 (de) * | 2004-10-04 | 2006-08-10 | Siemens Ag | Vorrichtung zur resistiven Strombegrenzung mit bandförmiger Hoch-Tc -Supraleiterbahn |
| DE102004048648B4 (de) * | 2004-10-04 | 2006-08-10 | Siemens Ag | Vorrichtung zur Strombegrenzung vom resistiven Typ mit bandfömigem Hoch-Tc-Supraleiter |
| US7772158B2 (en) | 2004-10-04 | 2010-08-10 | Siemens Aktiengesellschaft | Device for resistively limiting current, comprising a strip-shaped high-to-super conductor path |
| DE102017221129A1 (de) * | 2017-11-27 | 2019-05-29 | Siemens Aktiengesellschaft | Supraleitender Bandleiter mit flächiger Schutzschicht |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2000052767A1 (de) | 2000-09-08 |
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