DE19956735B4 - Dünnfilmsolarzelle mit einer Chalkopyritverbindung und einer Titan und Sauerstoff enthaltenden Verbindung - Google Patents
Dünnfilmsolarzelle mit einer Chalkopyritverbindung und einer Titan und Sauerstoff enthaltenden Verbindung Download PDFInfo
- Publication number
- DE19956735B4 DE19956735B4 DE19956735A DE19956735A DE19956735B4 DE 19956735 B4 DE19956735 B4 DE 19956735B4 DE 19956735 A DE19956735 A DE 19956735A DE 19956735 A DE19956735 A DE 19956735A DE 19956735 B4 DE19956735 B4 DE 19956735B4
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- solar cell
- film solar
- layer
- thin
- cell according
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 35
- 229910052951 chalcopyrite Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 27
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 title claims abstract description 16
- -1 chalcopyrite compound Chemical class 0.000 title claims abstract description 11
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 10
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 10
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 title claims abstract description 10
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 10
- 239000010936 titanium Substances 0.000 title claims abstract description 10
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 17
- DVRDHUBQLOKMHZ-UHFFFAOYSA-N chalcopyrite Chemical compound [S-2].[S-2].[Fe+2].[Cu+2] DVRDHUBQLOKMHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 claims description 11
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 9
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims description 4
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 claims description 4
- 240000002329 Inga feuillei Species 0.000 claims description 3
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 claims description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 abstract 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 abstract 1
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 26
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 17
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N selenium;zinc Chemical compound [Se]=[Zn] SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 5
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 5
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 4
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 4
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 4
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- KTSFMFGEAAANTF-UHFFFAOYSA-N [Cu].[Se].[Se].[In] Chemical compound [Cu].[Se].[Se].[In] KTSFMFGEAAANTF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001385 heavy metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 238000005297 material degradation process Methods 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000007725 thermal activation Methods 0.000 description 1
- 230000005641 tunneling Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F10/00—Individual photovoltaic cells, e.g. solar cells
- H10F10/10—Individual photovoltaic cells, e.g. solar cells having potential barriers
- H10F10/16—Photovoltaic cells having only PN heterojunction potential barriers
- H10F10/167—Photovoltaic cells having only PN heterojunction potential barriers comprising Group I-III-VI materials, e.g. CdS/CuInSe2 [CIS] heterojunction photovoltaic cells
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F77/00—Constructional details of devices covered by this subclass
- H10F77/10—Semiconductor bodies
- H10F77/12—Active materials
- H10F77/126—Active materials comprising only Group I-III-VI chalcopyrite materials, e.g. CuInSe2, CuGaSe2 or CuInGaSe2 [CIGS]
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/541—CuInSe2 material PV cells
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
Dünnfilmsolarzelle
mit einer Diodenstruktur, wobei die Diodenstruktur umfasst:
eine p-leitende Schicht (11) bestehend aus einer Chalkopyritverbindung und
eine an die p-leitende Schicht (11) angrenzende n-leitende Schicht (10) bestehend aus einer Titan und Sauerstoff enthaltenen Verbindung,
wobei die von der p-leitenden Schicht (11) abgewandte Seite der n-leitenden Schicht (10) an eine n-leitende Verstärkungsschicht (20) angrenzt, die einen größeren Bandabstand als die n-leitende Schicht (10) aufweist,
und wobei die Titan und Sauerstoff enthaltende Verbindung eine Verbindung aus der Gruppe TiOx mit 1,5 < x < 2 ist.
eine p-leitende Schicht (11) bestehend aus einer Chalkopyritverbindung und
eine an die p-leitende Schicht (11) angrenzende n-leitende Schicht (10) bestehend aus einer Titan und Sauerstoff enthaltenen Verbindung,
wobei die von der p-leitenden Schicht (11) abgewandte Seite der n-leitenden Schicht (10) an eine n-leitende Verstärkungsschicht (20) angrenzt, die einen größeren Bandabstand als die n-leitende Schicht (10) aufweist,
und wobei die Titan und Sauerstoff enthaltende Verbindung eine Verbindung aus der Gruppe TiOx mit 1,5 < x < 2 ist.
Description
- Die Erfindung betrifft eine Dünnfilmsolarzelle mit einer Diodenstruktur.
- Dünnfilmsolarzellen auf der Basis polykristalliner Halbleiter bieten gute Chancen, die Kosten zur Herstellung von stabilen und hocheffizienten Solarmodulen deutlich zu senken. Dünnschichtsolarzellen auf der Basis von Chalkopyrithalbleitern weisen unter allen Dünnschichtsolarzellen bisher die höchsten Wirkungsgrade auf und gelten als interessanter Kandidat für künftige Solarstrom- oder Photovoltaik-Anlagen mit geringeren Kosten. Unter Chalkopyritverbindungen fallen hierbei Verbindungen der Gruppe Cu(InGa)(SSe)2 und insbesondere Kupfer-Indium-Diselenid (CuInSe2).
- Einen typischen Schichtaufbau einer Chalkopyritzelle zeigt
3a , der beispielsweise aus bekannt ist. Auf dem p-leitenden Chalkopyrithalbleiter bildet eine CdS-Schicht einen Heteroübergang, dessen elektrisches Feld die Ladungsträgertrennung ermöglicht. Den Vorderseitenkontakt obenauf bildet eine ZnO-Schicht und den Rückseitenkontakt eine Molybdän-Schicht auf einem isolierenden Substrat wie z. B. Glas.WO 92/20103 A1 - In
3b ist das entsprechende Banddiagramm zu der Struktur in3a dargestellt. Hierbei ist zu erkennen, dass die ZnO-Fensterschicht einen wesentlich größeren Bandabstand aufweist. Damit wird verhindert, dass photogenerierte Ladungsträger direkt an der Solarzellenoberfläche absorbiert werden und – aufgrund der hohen Defektdichte – dort sofort wieder rekombinieren. Die Heterostruktur führt daher zu wesentlich größeren Eindringtiefen und höherer Photostromausbeute. Allerdings müssen der p-leitende Absorber und die n-leitende Fensterschicht eine gute strukturelle und elektronische Anpassung aufweisen. - Aus Jap. J. Appl. Physics, Bd. 24, 1985, S. L 536–L 538 ist lediglich eine Dünnschicht-Solarzelle auf der Basis von TiO2/Se bekannt.
- Die Druckschrift Jpn. J. Appl. Phys., Band 35, 1996, S. 3334–3342, beschreibt eine theoretische Untersuchung einer Solarzelle auf der Basis von n-TiO2/p-CuInSe2.
- Aus
EP 0 837 511 A2 ist eine Solarzelle bekannt mit einer p-leitenden Chalkopyrit-Halbleiter-Dünnschicht, insbesondere Cu(In, Ga)Se2, und einer n-leitenden Halbleiter-Dünnschicht, insbesondere CdS, zwischen welchen Schichten ein Material mit höherem spezifischem Widerstand als der p-leitende Halbleiter, z. B. TiO2, angeordnet ist. - Bekannte und in der Fertigung erprobte Fensterschichten basieren auf dotierten Metalloxiden wie z. B. ZnO, SnO2 oder InSnO2 (ITO), verallgemeinernd als Transparent Conductive Oxide (TCO) bezeichnet. Die bekannten TCO-Schichten besitzen allerdings keine gute Anpassung hinsichtlich Gitterkonstante oder Elektronenaffinität an die Chalkopyrithalbleiter. Deshalb führte die direkte Kombination dieser Fensterschichten mit Chalkopyritabsorbern bislang noch zu keinen hohen und reproduzierbaren Solarzellenwirkungsgraden.
- Zur verbesserten Anpassung von TCO und Absorber werden üblicherweise dünne, d. h. nur ca. 50 nm dicke Pufferschichten zwischen Absorber- und Fensterschicht eingefügt. Die beste elektronische Qualität und die höchsten Wirkungsgrade zeigt eine Diodenkonfiguration bestehend aus Chalkopyritabsorber, CdS-Pufferschicht und ZnO-Frontelektrode. Mit diesem Solarzellenaufbau können die mit Abstand höchsten Wirkungsgrade unter allen Dünnschichtsolarzellen (bis zu 18.8%) erreicht werden. Darüber hinaus weist dieser Solarzellenaufbau die größte Prozeßtoleranz hinsichtlich der Schichtdicke und damit die höchsten Ausbeuten in der Fertigung auf.
- Die bislang erfolgreichsten Chalkopyritsolarzellen enthalten allerdings – bedingt durch die CdS-Pufferschicht – Schwermetalle, die erhöhte Aufwendungen in Fertigung und Entsorgung hervorrufen.
- Aufgabe der Erfindung ist es daher, eine Dünnfilmsolarzelle zu schaffen, die einen möglichst einfachen Aufbau bei hohem Wirkungsgrad und Verwendung möglichst umweltfreundlicher Materialien ermöglicht.
- Diese Aufgabe wird durch die Merkmale der Patentansprüche 1–13 gelöst.
- Die erfindungsgemäße Dünnfilmsolarzelle weist eine p-leitende Schicht bestehend aus einer Chalkopyritverbindung und eine an die p-leitende Schicht angrenzende n-leitende Schicht bestehend aus einer Titan und Sauerstoff enthaltenden Verbindung auf. Es wurde herausgefunden, dass eine Titan und Sauerstoff enthaltende Verbindung als n-leitende Schicht eine gute Anpassung an eine p-leitende Schicht bestehend aus einer Chalkopyritverbindung ermöglicht. Insbesondere läßt sich auch eine gute Anpassung im Leitungsband erreichen, wodurch der Elektronenstromfluß verbessert wird.
- Nach einer bevorzugten Ausführungsform ist vorgesehen, dass die Chalkopyritverbindung ein I-III-VI-Halbleiter aus der Gruppe Cu(InGa)(SSe)2 ist. Als besonders vorteilhaft hat es sich herausgestellt, Kupfer-Indium-Diselenid (CuInSe2) zu verwenden.
- Die Titan und Sauerstoff enthaltende Verbindung besteht aus einer Verbindung aus der Gruppe TiOx mit 1,5 < x < 2. Ein Kriterium bei der Auswahl der Verbindung aus der Gruppe TiOx im Hinblick auf die verwendete Chalkopyritverbindung könnte darin bestehen, eine möglichst gute Anpassung im Leitungsband zu erreichen.
- Eine n-leitende Verstärkungsschicht grenzt dabei an die von der p-leitenden Schicht abgewandten Seite der n-leitenden Schicht an und weist einen größeren Bandabstand als die n-leitende Schicht auf. Vorzugsweise besteht die n-leitende Verstärkungsschicht aus einem transparenten und leitfähigen Oxid, wie z. B. einem dotierten Metalloxid. Besonders günstig haben sich ZnO, SnO2 oder InSnO2 herausgestellt.
- Aufgrund der n-leitenden Verstärkungsschicht entsteht eine kadmiumfreie Fensterschicht, wobei in diesem Fall die n-leitende TiOx-Schicht als Pufferschicht zur Passivierung der Oberfläche des pn-Übergangs dient.
- Demgegenüber sind bisher kadmiumfreie Puffer- oder Fensterschichten mit einer Chalkopyritverbindung als Absorberschicht bekannt, bei denen als Pufferschicht ZnSe oder ZnS verwendet werden. Die Nachteile dieser bekannten kadmiumfreien Pufferschichten zeigt das Banddiagramm gemäß
4 . Es ist zu erkennen, dass die ZnSe-Pufferschicht zu einer Barriere im Leitungsband führt, die den Elektronenfluß vom Absorber in die Fensterschicht zumindest bei zu großen Dicken der Pufferschicht behindert. Eine Erklärung ist in der verhältnismäßig geringen Elektronenaffinität der Fensterschicht ZnSe im Verhältnis zu dem Chalkopyritabsorber zu sehen. Als Lösung dieses Problems wurden bisher relativ kleine Pufferschichtdicken bestehend aus ZnSe gewählt, durch die der Ladungsträgertransport über Tunnelprozesse unterstützt wird. Allerdings sind diese geringen Pufferschichtdicken in einer Großflächentechnologie schwer zu beherrschen und führen zu Problemen mit der Reproduzierbarkeit der elektrischen Kenngrößen der Solarzellen. - Von daher liefert die Erfindung nicht nur eine besonders einfache Diodenstruktur, sondern ermöglicht in Verbindung mit einer geeigneten n-leitenden Verstärkungsschicht auch einen kadmiumfreien Dünnschichtaufbau mit Wirkungsgraden, die bisher nur mit einer CdS-Schicht als Heteroübergang erreicht werden konnten.
- Um eine Dünnfilmsolarzelle aufbauen zu können, ist es aufgrund der zu geringen Leitfähigkeit der p-leitenden Chalkopyritschicht erforderlich, dass die der n-leitenden Schicht abgewandte Seite der p-leitenden Chalkopyritschicht an einen Stromsammelkontakt angrenzt, der insbesondere als ganzflächige Rückelektrode ausgebildet sein kann.
- Ein Kriterium für die Auswahl der Schichtdicke der n-leitenden Schicht besteht darin, die Schichtdicke möglichst zu minimieren, um damit TiOx-Elektroden möglichst wirtschaftlich herstellen zu können. Hierbei ist insbesondere zu berücksichtigen, dass in Abhängigkeit der Beleuchtungsbedingungen sich unterschiedliche Anforderungen an den Flächenwiderstand der n-leitenden Schicht ergeben können. Beispielsweise ergeben sich im Innenraumbereich schwächere Beleuchtungsbedingungen als im Außenbereich, so dass hier mit geringeren Flächenwiderständen gearbeitet werden kann, die eine entsprechend reduzierte Schichtdicke der TiOx-Elektrode ermöglichen. Je nach Anwendungsfall haben sich Flächenwiderstände zwischen 1 Ω2 und 50 Ω2 als günstig herausgestellt, wobei der Flächenwiderstand durch das Verhältnis von spezifischem Widerstand und Schichtdicke definiert ist.
- Ausgehend von einer erfindungsgemäßen Dünnfilmsolarzelle ergeben sich zwei Möglichkeiten des Designs. Das Substrat-Design ist dadurch gekennzeichnet, dass die Rückelektrode an ein Substrat angrenzt, das der Lichteintrittsseite abgewandt ist. Demgegenüber ist das Superstrate-Design in diesem Fall dadurch gekennzeichnet, dass die n-leitende Verstärkungsschicht an ein Substrat angrenzt, das der Lichteintrittsseite zugewandt ist.
- In allen Fällen hat es sich bewährt, dass die Rückelektrode aus Molybdän besteht und dass das Substrat aus Glas besteht.
- Im folgenden wird die Erfindung anhand verschiedener Ausführungsbeispiele mit Bezug auf die beiliegenden Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
-
1 : Einen Schichtaufbau einer Dünnfilmsolarzelle mit einer Sperrschicht nach dem Substrat-Design (1a ) und dem Superstrate-Design (1b ), und die eine zusätzliche Verstärkungsschicht aufweist -
2 : ein Banddiagramm einer erfindungsgemäßen Dünnfilmsolarzelle, -
3 : Aufbau und Banddiagramm einer herkömmlichen CIS-Dünnfilmsolarzelle mit einer dünnen CdS-Pufferschicht und -
4 : ein Banddiagramm einer herkömmlichen kadmiumfreien CIS-Dünnfilmsolarzelle mit einer ZnSe-Pufferschicht. - Auf die
3 und4 wurde bereits in der Beschreibungseinleitung Bezug genommen. -
1 zeigt den Schichtaufbau einer Dünnfilmsolarzelle mit einer Sperrschicht, die eine p-leitende Schicht bestehend aus einer Chalkopyritverbindung und eine an die p-leitende Schicht angrenzende n-leitende Schicht bestehend aus einer Titan und Sauerstoff enthaltenden Verbindung aufweist. Grundsätzlich sind zwei wesentliche Kategorien des Schichtaufbaus zu unterscheiden, nämlich einmal Abscheidung der TiOx-Schicht auf einer bestehenden Chalkopyritschicht (Substrat-Design) und zum anderen Abscheidung der Chalkopyritschicht auf einer bestehenden TiOx-Oberfläche (Superstrate-Design). Zahlreiche Abscheidemethoden für TiOx-Dünnschichten sind aus der Literatur bekannt und im Prinzip alle für die erfindungsgemäße Anwendung einsetzbar. Einschränkungen bestehen allerdings bei der zulässigen Maximaltemperatur zur Abscheidung der TiOx-Schicht, die sich aus den Temperaturbegrenzungen der unterliegenden Schichten ergibt. Andernfalls kommt es zu unerwünschten Interdiffusionseffekten, Materialdegradation und/oder Substratverwerfungen. Bevorzugte Abscheidetemperaturen für das Substrat-Design liegen daher bei unter 400°C. -
1a zeigt ein Substrat13 , auf dem eine Rückelektrode12 bestehend aus beispielsweise Molybdän aufgebracht ist. Auf die Rückelektrode12 werden sodann nacheinander eine Chalkopyritschicht11 und eine Titanoxidschicht10 aufgebracht. Hierbei handelt es sich um ein Substrat-Design, so dass die Titanoxidschicht10 der Lichteintrittsseite zugewandt ist. - Die Frontelektrode ist durch eine n-leitende Verstärkungsschicht verstärkt, wie in
1 gezeigt. Als Verstärkungsschichten bieten sich TCO-Schichten (TCO für Transparent Conductive Oxide) an, wie z. B. ZnO, SnO2, InSnO2 (ITO) oder andere dotierte Metalloxide. Im Schichtaufbau gemäß1a ist auf die Titanoxidschicht10 eine zusätzliche TCO-Schicht20 aufgebracht. Da es sich hier um ein Substrat-Design handelt, erfolgt der Lichteinfall über die zusätzlich aufgebrachte TCO-Schicht. -
1b zeigt einen analogen Schichtaufbau wie1a gemäß dem Superstrate-Design. Demnach ist auf das Substrat13 zunächst die TCO-Schicht aufgebracht. Danach ist eine Titan-Oxidschicht aufgebracht, woraufhin die Chalkopyritschicht11 und die Rückelektrode12 folgen. Der Lichteinfall erfolgt dementsprechend von der Substratseite her. -
2 zeigt ein Banddiagramm einer erfindungsgemäßen Dünnfilmsolarzelle mit dem Schichtaufbau gemäß1 . An die Chalkopyritschicht schließt sich eine TiOx-Schicht an, die durch eine ZnO-Schicht verstärkt wird. Die ZnO-Schicht weist einen noch größeren Bandabstand als die TiOx-Schicht auf, wodurch sichergestellt ist, dass photogenerierte Ladungsträger nicht direkt an der Solarzellenoberfläche absorbiert werden. Die Titanoxidschicht hat in diesem Fall die Aufgabe einer Pufferschicht zwischen der ZnO-Schicht und der Chalkopyritschicht. Ein Vergleich mit der bereits beschriebenen4 zeigt den besonderen Vorteil des erfindungsgemäßen Sperrschichtaufbaus: Bedingt durch die höhere Elektronenaffinität von TiOx (ca. 4,3 eV) im Vergleich zu der bisher verwendeten Pufferschicht ZnSe gemäß4 wird die energetische Barriere im Leitungsband erheblich reduziert und der Elektronenstromfluß dadurch verbessert. Es ist keine thermische Aktivierung oder tunnelunterstützter Transport für den Elektronenstrom vom Absorber in Richtung Frontelektrode mehr erforderlich.
Claims (13)
- Dünnfilmsolarzelle mit einer Diodenstruktur, wobei die Diodenstruktur umfasst: eine p-leitende Schicht (
11 ) bestehend aus einer Chalkopyritverbindung und eine an die p-leitende Schicht (11 ) angrenzende n-leitende Schicht (10 ) bestehend aus einer Titan und Sauerstoff enthaltenen Verbindung, wobei die von der p-leitenden Schicht (11 ) abgewandte Seite der n-leitenden Schicht (10 ) an eine n-leitende Verstärkungsschicht (20 ) angrenzt, die einen größeren Bandabstand als die n-leitende Schicht (10 ) aufweist, und wobei die Titan und Sauerstoff enthaltende Verbindung eine Verbindung aus der Gruppe TiOx mit 1,5 < x < 2 ist. - Dünnfilmsolarzelle nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Chalkopyritverbindung ein I-III-VI2-Halbleiter aus der Gruppe Cu(InGa)(SSe)2 ist.
- Dünnfilmsolarzelle nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Chalkopyritverbindung aus CuInSe2 (CIS) besteht.
- Dünnfilmsolarzelle nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Titan und Sauerstoff enthaltende Verbindung eine Verbindung aus der Gruppe TiOx ist, die im Hinblick auf die verwendete Chalkopyritverbindung eine möglichst gute Anpassung im Leitungsband schafft.
- Dünnfilmsolarzelle nach einem der Ansprüche 1–4, dadurch gekennzeichnet, dass die n-leitende Verstärkungsschicht (
20 ) aus einem transparenten und leitfähigen Oxid besteht. - Dünnfilmsolarzelle nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass das transparente und leitfähige Oxid auf einem dotierten Metalloxid basiert.
- Dünnfilmsolarzelle nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass das transparente und leitfähige Oxid aus ZnO oder aus SnO2 oder aus InSnO2 besteht.
- Dünnfilmsolarzelle nach einem der Ansprüche 1–7, dadurch gekennzeichnet, dass die der n-leitenden Schicht (
10 ) abgewandte Seite der p-leitenden Schicht (11 ) an einen Stromsammelkontakt angrenzt. - Dünnfilmsolarzelle nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass der Stromsammelkontakt als ganzflächige Rückelektrode (
12 ) ausgebildet ist. - Dünnfilmsolarzelle nach einem der Ansprüche 8–9, dadurch gekennzeichnet, dass der Stromsammelkontakt an ein Substrat (
13 ) angrenzt, das der Lichteintrittsseite abgewandt ist. - Dünnfilmsolarzelle nach einem der Ansprüche 8–9, dadurch gekennzeichnet, dass die n-leitende Verstärkungsschicht (
20 ) an ein Substrat (13 ) angrenzt, das der Lichteintrittsseite zugewandt ist. - Dünnfilmsolarzelle nach einem der Ansprüche 8–11, dadurch gekennzeichnet, dass der Stromsammelkontakt aus Molybdän besteht.
- Dünnfilmsolarzelle nach einem der Ansprüche 10–12 dadurch gekennzeichnet, dass das Substrat (
13 ) aus Glas besteht.
Priority Applications (8)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19956735A DE19956735B4 (de) | 1999-11-25 | 1999-11-25 | Dünnfilmsolarzelle mit einer Chalkopyritverbindung und einer Titan und Sauerstoff enthaltenden Verbindung |
| PCT/EP2000/010265 WO2001039277A1 (de) | 1999-11-25 | 2000-10-18 | Diodenstruktur, insbesondere für dünnfilmsolarzellen |
| ES00972800T ES2312366T3 (es) | 1999-11-25 | 2000-10-18 | Estructura de diodos, particularmente para celdas solares de pelicula delgada. |
| JP2001540846A JP5048901B2 (ja) | 1999-11-25 | 2000-10-18 | 殊に薄膜太陽光電池のためのダイオード構造体 |
| DE50015341T DE50015341D1 (de) | 1999-11-25 | 2000-10-18 | Diodenstruktur, insbesondere für Dünnfilmsolarzellen |
| EP00972800A EP1153439B1 (de) | 1999-11-25 | 2000-10-18 | Diodenstruktur, insbesondere für Dünnfilmsolarzellen |
| AT00972800T ATE407455T1 (de) | 1999-11-25 | 2000-10-18 | Diodenstruktur, insbesondere für dünnfilmsolarzellen |
| US09/915,142 US6486391B2 (en) | 1999-11-25 | 2001-07-25 | Diode structure, especially for thin-film solar cells |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19956735A DE19956735B4 (de) | 1999-11-25 | 1999-11-25 | Dünnfilmsolarzelle mit einer Chalkopyritverbindung und einer Titan und Sauerstoff enthaltenden Verbindung |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE19956735A1 DE19956735A1 (de) | 2001-06-07 |
| DE19956735B4 true DE19956735B4 (de) | 2008-08-21 |
Family
ID=7930288
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19956735A Expired - Fee Related DE19956735B4 (de) | 1999-11-25 | 1999-11-25 | Dünnfilmsolarzelle mit einer Chalkopyritverbindung und einer Titan und Sauerstoff enthaltenden Verbindung |
| DE50015341T Expired - Lifetime DE50015341D1 (de) | 1999-11-25 | 2000-10-18 | Diodenstruktur, insbesondere für Dünnfilmsolarzellen |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE50015341T Expired - Lifetime DE50015341D1 (de) | 1999-11-25 | 2000-10-18 | Diodenstruktur, insbesondere für Dünnfilmsolarzellen |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6486391B2 (de) |
| EP (1) | EP1153439B1 (de) |
| JP (1) | JP5048901B2 (de) |
| AT (1) | ATE407455T1 (de) |
| DE (2) | DE19956735B4 (de) |
| ES (1) | ES2312366T3 (de) |
| WO (1) | WO2001039277A1 (de) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012119857A1 (de) | 2011-03-10 | 2012-09-13 | Saint-Gobain Glass France | Verfahren zur herstellung des pentanären verbindungshalbleiters cztsse, sowie dünnschichtsolarzelle |
| WO2013189968A1 (de) | 2012-06-20 | 2013-12-27 | Saint-Gobain Glass France | SCHICHTSYSTEM FÜR DÜNNSCHICHTSOLARZELLEN MIT NaxInlSyClz-PUFFERSCHICHT |
| WO2013189976A1 (de) | 2012-06-20 | 2013-12-27 | Saint-Gobain Glass France | Schichtsystem für dünnschichtsolarzellen |
| WO2013189971A1 (de) | 2012-06-20 | 2013-12-27 | Saint-Gobain Glass France | Schichtsystem für dünnschichtsolarzellen |
| WO2014207226A1 (de) | 2013-06-27 | 2014-12-31 | Saint-Gobain Glass France | Schichtsystem für dünnschichtsolarzellen mit natriumindiumsulfid-pufferschicht |
| EP2887405A1 (de) | 2013-12-23 | 2015-06-24 | Saint-Gobain Glass France | Schichtsystem für Dünnschichtsolarzellen |
| US9899561B2 (en) | 2012-12-20 | 2018-02-20 | Bengbu Design & Research Institute For Glass Industry | Method for producing a compound semiconductor, and thin-film solar cell |
| US11183605B2 (en) | 2017-04-19 | 2021-11-23 | (Cnbm) Bengbu Design Research Institute For Glass Industry Co. Ltd | Method for producing a layer structure for thin-film solar cells using etching or laser ablation to produce rear-electrode-layer-free region |
| US12557425B2 (en) | 2018-09-22 | 2026-02-17 | Cnbm Research Institute For Advanced Glass Materials Group Co., Ltd. | Method for post-treating an absorber layer |
Families Citing this family (44)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6881647B2 (en) * | 2001-09-20 | 2005-04-19 | Heliovolt Corporation | Synthesis of layers, coatings or films using templates |
| US6944791B2 (en) * | 2002-07-18 | 2005-09-13 | Lsi Logic Corporation | Method of handling unreadable blocks during write of a RAID device |
| TW568882B (en) * | 2002-12-20 | 2004-01-01 | Ind Tech Res Inst | Self-organized nano-interfacial structure applied to electric device |
| JP2004311845A (ja) * | 2003-04-09 | 2004-11-04 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 発電機能を有する可視光透過構造体 |
| US7179677B2 (en) * | 2003-09-03 | 2007-02-20 | Midwest Research Institute | ZnO/Cu(InGa)Se2 solar cells prepared by vapor phase Zn doping |
| US7736940B2 (en) | 2004-03-15 | 2010-06-15 | Solopower, Inc. | Technique and apparatus for depositing layers of semiconductors for solar cell and module fabrication |
| CN100573812C (zh) | 2004-03-15 | 2009-12-23 | 索罗能源公司 | 用于太阳能电池制造的沉积半导体薄层的技术和装置 |
| US7611573B2 (en) * | 2004-04-02 | 2009-11-03 | Alliance For Sustainable Energy, Llc | ZnS/Zn(O,OH)S-based buffer layer deposition for solar cells |
| EE05373B1 (et) * | 2004-06-07 | 2010-12-15 | Tallinna Tehnika�likool | CuInS2 absorberkihiga pikeseelemendi valmistamise meetod |
| EP1684362A3 (de) * | 2004-12-02 | 2006-08-02 | Technische Universiteit Delft | Verfahren zur Herstellung dünner Schichten, vorzugsweise für Solarzellen |
| US20060211272A1 (en) * | 2005-03-17 | 2006-09-21 | The Regents Of The University Of California | Architecture for high efficiency polymer photovoltaic cells using an optical spacer |
| US20070093006A1 (en) * | 2005-10-24 | 2007-04-26 | Basol Bulent M | Technique For Preparing Precursor Films And Compound Layers For Thin Film Solar Cell Fabrication And Apparatus Corresponding Thereto |
| US7713773B2 (en) | 2005-11-02 | 2010-05-11 | Solopower, Inc. | Contact layers for thin film solar cells employing group IBIIIAVIA compound absorbers |
| US8084685B2 (en) * | 2006-01-12 | 2011-12-27 | Heliovolt Corporation | Apparatus for making controlled segregated phase domain structures |
| US20070160763A1 (en) * | 2006-01-12 | 2007-07-12 | Stanbery Billy J | Methods of making controlled segregated phase domain structures |
| US7767904B2 (en) * | 2006-01-12 | 2010-08-03 | Heliovolt Corporation | Compositions including controlled segregated phase domain structures |
| US20090126779A1 (en) * | 2006-09-14 | 2009-05-21 | The Regents Of The University Of California | Photovoltaic devices in tandem architecture |
| US20080216885A1 (en) * | 2007-03-06 | 2008-09-11 | Sergey Frolov | Spectrally adaptive multijunction photovoltaic thin film device and method of producing same |
| US8034317B2 (en) * | 2007-06-18 | 2011-10-11 | Heliovolt Corporation | Assemblies of anisotropic nanoparticles |
| US20090215215A1 (en) * | 2008-02-21 | 2009-08-27 | Sunlight Photonics Inc. | Method and apparatus for manufacturing multi-layered electro-optic devices |
| US20090211622A1 (en) * | 2008-02-21 | 2009-08-27 | Sunlight Photonics Inc. | Multi-layered electro-optic devices |
| US7842534B2 (en) * | 2008-04-02 | 2010-11-30 | Sunlight Photonics Inc. | Method for forming a compound semi-conductor thin-film |
| US10211353B2 (en) * | 2008-04-14 | 2019-02-19 | Sunlight Photonics Inc. | Aligned bifacial solar modules |
| TWI373851B (en) * | 2008-11-25 | 2012-10-01 | Nexpower Technology Corp | Stacked-layered thin film solar cell and manufacturing method thereof |
| US8110428B2 (en) * | 2008-11-25 | 2012-02-07 | Sunlight Photonics Inc. | Thin-film photovoltaic devices |
| US8835748B2 (en) * | 2009-01-06 | 2014-09-16 | Sunlight Photonics Inc. | Multi-junction PV module |
| WO2010090740A1 (en) * | 2009-02-04 | 2010-08-12 | Heliovolt Corporation | Method of forming an indium-containing transparent conductive oxide film, metal targets used in the method and photovoltaic devices utilizing said films |
| JP5003698B2 (ja) * | 2009-02-18 | 2012-08-15 | Tdk株式会社 | 太陽電池、及び太陽電池の製造方法 |
| KR20110025638A (ko) * | 2009-06-05 | 2011-03-10 | 헬리오볼트 코오퍼레이션 | 비-접촉 압력 용기를 통해 얇은 필름 혹은 복합층을 합성하는 프로세스 |
| JPWO2011027745A1 (ja) * | 2009-09-01 | 2013-02-04 | ローム株式会社 | 光電変換装置および光電変換装置の製造方法 |
| US8256621B2 (en) * | 2009-09-11 | 2012-09-04 | Pro-Pak Industries, Inc. | Load tray and method for unitizing a palletized load |
| US7910396B2 (en) | 2009-10-21 | 2011-03-22 | Sunlight Photonics, Inc. | Three-stage formation of thin-films for photovoltaic devices |
| US8012788B1 (en) | 2009-10-21 | 2011-09-06 | Sunlight Photonics Inc. | Multi-stage formation of thin-films for photovoltaic devices |
| US8021641B2 (en) * | 2010-02-04 | 2011-09-20 | Alliance For Sustainable Energy, Llc | Methods of making copper selenium precursor compositions with a targeted copper selenide content and precursor compositions and thin films resulting therefrom |
| TWI520367B (zh) | 2010-02-09 | 2016-02-01 | 陶氏全球科技公司 | 具透明導電阻擋層之光伏打裝置 |
| WO2011146115A1 (en) | 2010-05-21 | 2011-11-24 | Heliovolt Corporation | Liquid precursor for deposition of copper selenide and method of preparing the same |
| WO2012023973A2 (en) | 2010-08-16 | 2012-02-23 | Heliovolt Corporation | Liquid precursor for deposition of indium selenide and method of preparing the same |
| US9083121B2 (en) | 2010-12-17 | 2015-07-14 | Sunpower Corporation | Diode-included connector, photovoltaic laminate and photovoltaic assembly using same |
| US20130074933A1 (en) * | 2011-09-23 | 2013-03-28 | Bang-Yen Chou | Photovoltaic device and method for making the same |
| WO2013106836A1 (en) * | 2012-01-13 | 2013-07-18 | The Regents Of The University Of California | Metal-chalcogenide photovoltaic device with metal-oxide nanoparticle window layer |
| US9105797B2 (en) | 2012-05-31 | 2015-08-11 | Alliance For Sustainable Energy, Llc | Liquid precursor inks for deposition of In—Se, Ga—Se and In—Ga—Se |
| KR101849267B1 (ko) * | 2012-07-06 | 2018-04-17 | 한국전자통신연구원 | 박막 태양전지 및 그의 제조 방법 |
| CA2914234A1 (en) * | 2013-06-05 | 2014-12-11 | Young-Kwon Jun | Solar cell and method for manufacturing same |
| US9799792B2 (en) * | 2015-01-14 | 2017-10-24 | International Business Machines Corporation | Substrate-free thin-film flexible photovoltaic device and fabrication method |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1992020103A1 (en) * | 1991-04-24 | 1992-11-12 | Im Institutet För Mikroelektronik | A method for manufacturing solar cells |
| EP0837511A2 (de) * | 1996-10-15 | 1998-04-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd | Sonnenzelle und Herstellungsverfahren |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4094751A (en) * | 1976-09-30 | 1978-06-13 | Allied Chemical Corporation | Photochemical diodes |
| US4703131A (en) * | 1985-11-18 | 1987-10-27 | The Boeing Company | CdS/CuInSe2 solar cells with titanium foil substrate |
| JP2815723B2 (ja) * | 1991-04-19 | 1998-10-27 | 株式会社富士電機総合研究所 | 薄膜太陽電池の製造方法 |
| JP3397213B2 (ja) * | 1993-07-22 | 2003-04-14 | 松下電器産業株式会社 | 太陽電池 |
| DE4333407C1 (de) * | 1993-09-30 | 1994-11-17 | Siemens Ag | Solarzelle mit einer Chalkopyritabsorberschicht |
| JP2922796B2 (ja) * | 1994-10-28 | 1999-07-26 | 松下電器産業株式会社 | 太陽電池及びその製造方法 |
| DE4442824C1 (de) * | 1994-12-01 | 1996-01-25 | Siemens Ag | Solarzelle mit Chalkopyrit-Absorberschicht |
| JPH08316507A (ja) * | 1995-05-12 | 1996-11-29 | Yazaki Corp | 薄膜太陽電池及びその製造方法 |
-
1999
- 1999-11-25 DE DE19956735A patent/DE19956735B4/de not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-10-18 ES ES00972800T patent/ES2312366T3/es not_active Expired - Lifetime
- 2000-10-18 WO PCT/EP2000/010265 patent/WO2001039277A1/de not_active Ceased
- 2000-10-18 JP JP2001540846A patent/JP5048901B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2000-10-18 AT AT00972800T patent/ATE407455T1/de not_active IP Right Cessation
- 2000-10-18 EP EP00972800A patent/EP1153439B1/de not_active Expired - Lifetime
- 2000-10-18 DE DE50015341T patent/DE50015341D1/de not_active Expired - Lifetime
-
2001
- 2001-07-25 US US09/915,142 patent/US6486391B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1992020103A1 (en) * | 1991-04-24 | 1992-11-12 | Im Institutet För Mikroelektronik | A method for manufacturing solar cells |
| EP0837511A2 (de) * | 1996-10-15 | 1998-04-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd | Sonnenzelle und Herstellungsverfahren |
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| Jap. J. Applied Physics, Bd. 24, 1985, S. L 536-L 538 * |
| Jap. J. Applied Physics, Bd.35, 1996, S.3334-3342 * |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012119857A1 (de) | 2011-03-10 | 2012-09-13 | Saint-Gobain Glass France | Verfahren zur herstellung des pentanären verbindungshalbleiters cztsse, sowie dünnschichtsolarzelle |
| WO2013189968A1 (de) | 2012-06-20 | 2013-12-27 | Saint-Gobain Glass France | SCHICHTSYSTEM FÜR DÜNNSCHICHTSOLARZELLEN MIT NaxInlSyClz-PUFFERSCHICHT |
| WO2013189976A1 (de) | 2012-06-20 | 2013-12-27 | Saint-Gobain Glass France | Schichtsystem für dünnschichtsolarzellen |
| WO2013189971A1 (de) | 2012-06-20 | 2013-12-27 | Saint-Gobain Glass France | Schichtsystem für dünnschichtsolarzellen |
| US9899561B2 (en) | 2012-12-20 | 2018-02-20 | Bengbu Design & Research Institute For Glass Industry | Method for producing a compound semiconductor, and thin-film solar cell |
| WO2014207226A1 (de) | 2013-06-27 | 2014-12-31 | Saint-Gobain Glass France | Schichtsystem für dünnschichtsolarzellen mit natriumindiumsulfid-pufferschicht |
| EP2887405A1 (de) | 2013-12-23 | 2015-06-24 | Saint-Gobain Glass France | Schichtsystem für Dünnschichtsolarzellen |
| US11183605B2 (en) | 2017-04-19 | 2021-11-23 | (Cnbm) Bengbu Design Research Institute For Glass Industry Co. Ltd | Method for producing a layer structure for thin-film solar cells using etching or laser ablation to produce rear-electrode-layer-free region |
| US12557425B2 (en) | 2018-09-22 | 2026-02-17 | Cnbm Research Institute For Advanced Glass Materials Group Co., Ltd. | Method for post-treating an absorber layer |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP1153439B1 (de) | 2008-09-03 |
| JP2003515934A (ja) | 2003-05-07 |
| EP1153439A1 (de) | 2001-11-14 |
| WO2001039277A1 (de) | 2001-05-31 |
| US20020043279A1 (en) | 2002-04-18 |
| ATE407455T1 (de) | 2008-09-15 |
| JP5048901B2 (ja) | 2012-10-17 |
| ES2312366T3 (es) | 2009-03-01 |
| DE50015341D1 (de) | 2008-10-16 |
| US6486391B2 (en) | 2002-11-26 |
| DE19956735A1 (de) | 2001-06-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE19956735B4 (de) | Dünnfilmsolarzelle mit einer Chalkopyritverbindung und einer Titan und Sauerstoff enthaltenden Verbindung | |
| DE10010177B4 (de) | Solarzelle mit einer p-Typ Lichtabsorptionsschicht und einer Cd-freien n-Typ Schicht, die einen größeren Bandabstand und eine größere Elektronenaffinität aufweist | |
| EP0219763B1 (de) | Solarzelle | |
| EP3378104B1 (de) | Solarzelle mit mehreren durch ladungsträger-selektive kontakte miteinander verbundenen absorbern | |
| DE112005000948B4 (de) | Solarzelle vom Chalcopyrit-Typ mit einem Glimmer enthaltenden isolierenden Substrat | |
| EP2758993B1 (de) | Dünnschichtsolarmodul mit serienverschaltung und verfahren zur serienverschaltung von dünnschichtsolarzellen | |
| EP0468094A1 (de) | Verfahren zur Herstellung einer Chalkopyrit-Solarzelle | |
| DE202011104896U1 (de) | Struktur für ein Hocheffizienz-CIS/CIGS-basiertes Tandemphotovoltaikmodul | |
| DE112009002238T5 (de) | Verfahren und Struktur für eine photovoltaische Dünnschicht-Tandemzelle | |
| DE102013104232A1 (de) | Solarzelle | |
| DE102011054795A1 (de) | Verfahren zum Abscheiden von Cadmiumsulfid-Schichten mittels zerstäuben zum Einsatz in photovoltaischen Dünnfilmvorrichtungen auf Cadmiumtellurid-Grundlage | |
| DE112009002039T5 (de) | Vierpoliges fotovoltaisches Dünnschichtbauelement mit mehreren Sperrschichten und Verfahren dafür | |
| DE112006002716T5 (de) | Solarzelle und Verfahren zu deren Herstellung | |
| DE102012216026B4 (de) | Verfahren zur Herstellung einer flexiblen Photovoltaik-Dünnschichtzelle mit einer Eisendiffusionsbarriereschicht und flexible Photovoltaik-Dünnschichtzelle mit einer Eisendiffusionsbarriereschicht | |
| DE112011101267T5 (de) | Mehrlagige Photovoltaikzelle mit P/N- und Schottky-Übergang und Verfahren zu deren Herstellung | |
| WO2013124134A1 (de) | Kupferoxid (cu2o,cu4o3 oder cuo) -heteroübergänge, insbesondere für solarzellen und tandemzellen | |
| DE102012203830A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung, die eine verspannte Azo-Schicht und ein Grenzflächen-Fermi-Niveau-Pinning bei doppelseitigen Dünnfilm-PV-Zellen verwenden | |
| DE102011008269A1 (de) | Dünnschicht-Solarzellen mit diffusionshemmender Schicht | |
| EP0798786B1 (de) | Solarzelle mit einer Chalkopyrit-Absorberschicht | |
| DE102013105462A1 (de) | Schichtenfolge zur photoelektrischen Umwandlung von Licht sowie Hot Carrier Solarzelle | |
| DE102014223485A1 (de) | Schichtaufbau für eine Dünnschichtsolarzelle und Herstellungsverfahren | |
| DE102011054794A1 (de) | Gemischte Sputtertargets und ihre Verwendung in Cadmiumsulfidschichten von Cadmiumtelluriddünnschichtphotovoltaikeinrichtungen | |
| DE102014224004A1 (de) | Elektronisches Bauteil mit Zwischenschicht zwischen n- und p-dotierter Halbleiterschicht | |
| DE102012204676B4 (de) | Chalkopyrit-Dünnschicht-Solarzelle mit Zn(S,O)-Pufferschicht und dazugehöriges Herstellungsverfahren | |
| DE102012201284A1 (de) | Photovoltaische Solarzelle und Verfahren zum Herstellen einer photovoltaischen Solarzelle |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
| 8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: SHELL SOLAR GMBH, 80807 MUENCHEN, DE |
|
| 8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: SHELL ERNEUERBARE ENERGIEN GMBH, 22335 HAMBURG, DE |
|
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| 8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: SAINT-GOBAIN GLASS FRANCE S.A., COURBEVOIE, FR |
|
| R082 | Change of representative |
Representative=s name: SPLANEMANN PATENTANWAELTE PARTNERSCHAFT, DE |
|
| R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |