DE4034842C2 - - Google Patents
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- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims description 46
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 41
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 25
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 24
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 22
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 11
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 10
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 238000001035 drying Methods 0.000 claims description 9
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 9
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 9
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052756 noble gas Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 238000005238 degreasing Methods 0.000 claims description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 3
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 2
- 150000002835 noble gases Chemical class 0.000 claims description 2
- 229910001315 Tool steel Inorganic materials 0.000 claims 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims 1
- 239000012071 phase Substances 0.000 claims 1
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 claims 1
- 210000002381 plasma Anatomy 0.000 description 39
- 230000008569 process Effects 0.000 description 25
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 14
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 13
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 229910001868 water Inorganic materials 0.000 description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 description 9
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 8
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 8
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 8
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 7
- 238000000623 plasma-assisted chemical vapour deposition Methods 0.000 description 7
- 239000000080 wetting agent Substances 0.000 description 6
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 5
- 238000011065 in-situ storage Methods 0.000 description 5
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 5
- 229920002545 silicone oil Polymers 0.000 description 5
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 5
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 4
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 4
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 4
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 4
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 3
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 3
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 description 3
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 3
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 3
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 3
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 241000894007 species Species 0.000 description 3
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 3
- 229910021642 ultra pure water Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000012498 ultrapure water Substances 0.000 description 3
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 description 3
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 2
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 2
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 2
- 238000010849 ion bombardment Methods 0.000 description 2
- 238000011068 loading method Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 238000007788 roughening Methods 0.000 description 2
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000997 High-speed steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 241000255908 Manduca sexta Species 0.000 description 1
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 1
- 239000002156 adsorbate Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007630 basic procedure Methods 0.000 description 1
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000005422 blasting Methods 0.000 description 1
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 1
- 238000001311 chemical methods and process Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 1
- KYKAJFCTULSVSH-UHFFFAOYSA-N chloro(fluoro)methane Chemical compound F[C]Cl KYKAJFCTULSVSH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003245 coal Substances 0.000 description 1
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000005068 cooling lubricant Substances 0.000 description 1
- 239000010431 corundum Substances 0.000 description 1
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004821 distillation Methods 0.000 description 1
- 238000003912 environmental pollution Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000004880 explosion Methods 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- -1 greases Substances 0.000 description 1
- 230000009931 harmful effect Effects 0.000 description 1
- 231100001261 hazardous Toxicity 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000007602 hot air drying Methods 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 239000003112 inhibitor Substances 0.000 description 1
- 210000004072 lung Anatomy 0.000 description 1
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 235000014593 oils and fats Nutrition 0.000 description 1
- 239000005416 organic matter Substances 0.000 description 1
- 238000013021 overheating Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000009420 retrofitting Methods 0.000 description 1
- 239000010731 rolling oil Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003313 weakening effect Effects 0.000 description 1
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23G—CLEANING OR DE-GREASING OF METALLIC MATERIAL BY CHEMICAL METHODS OTHER THAN ELECTROLYSIS
- C23G5/00—Cleaning or de-greasing metallic material by other methods; Apparatus for cleaning or de-greasing metallic material with organic solvents
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/02—Pretreatment of the material to be coated
- C23C14/021—Cleaning or etching treatments
- C23C14/022—Cleaning or etching treatments by means of bombardment with energetic particles or radiation
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/02—Pretreatment of the material to be coated
- C23C16/0227—Pretreatment of the material to be coated by cleaning or etching
- C23C16/0245—Pretreatment of the material to be coated by cleaning or etching by etching with a plasma
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur plasmachemischen
Reinigung von Metallsubstraten für eine anschließende PVD-
oder PECVD-Beschichtung mittels Mikrowellenplasmen.
Die Haftung von Schichten, die nach den PVD- (Physical Vapor
Deposition) oder PECVD- (Plasma Enhanced Chemical Vapor
Deposition)Verfahren abgeschieden werden, ist auf chemische
Bindungen zurückzuführen. Die Folge hieraus ist, daß
die zu beschichtenden Oberflächen in atomarem Maßstab frei
von Verunreinigungen sein müssen, um eine größtmögliche
Annäherung der Schichtatome an die Oberflächenatome des
Substrates zu gewährleisten.
Der Ausgangszustand einer zu beschichtenden Fläche ist in
der Regel in einem undefinierten Zustand. Von dem ungestörten
Grundgefüge des Substratmaterials ausgehend, können
folgende Schichten, häufig auch gleichzeitig, vorliegen:
- - durch die formgebende Verarbeitung verändertes Material,
- - feste Schicht aus Verunreinigungen, wie Reste von Walzölen, Kühlschmiermittel, Schleif- oder Polierhilfsmittel, Oxide, Ölkohle,
- - Adsorbatschicht, z. B. Korrosionsschutzmittel, Wasser,
- - lose Schicht aus festen Verunreinigungen, wie z. B. Staub.
Der genaue Aufbau der Schicht hängt im Detail von der gesamten
Vorgeschichte des Werkstücks ab. Dieser undefinierte
Aufbau der Oberfläche macht nach Stand der Technik in den
meisten Fällen eine mehrstufige komplizierte Vorbehandlung
der Werkstücke notwendig, um diese in einen definierten,
beschichtungsfähigen Zustand zu versetzen.
Das wohl zur Zeit am häufigsten angewandte Verfahren für die
Vorbereitung von Metalloberflächen zur Beschichtung besteht
aus folgenden Hauptschritten:
- - Grobentfettung in FCKW (Fluorchlorkohlenwasserstoff),
- - Feinwäsche mit wäßrigen Reinigern (alkalisch, neutral),
- - Spülen mit Wasser,
- - Trocknung in FCKW.
Aufgrund der umweltschädigenden Wirkung der FCKW werden erhebliche
Anstrengungen unternommen, die Grobentfettung und
Trockung mittels FCKW durch andere Mittel zu ersetzen. Die
Grobentfettung kann inzwischen mittels alkalischer Reiniger
vorgenommen werden. In der Trocknungsstufe wird versucht,
das FCKW durch Reinstwasser (Leitwert 0,05 µS) und anschließender
Heißlufttrocknung oder durch Alkohol zu ersetzen.
Diese Techniken besitzen u. a. folgende Nachteile:
- - die Verwendung von Reinstwasser führt zu erhöhter Korrosionsgefahr, insbesondere bei niedriglegierten Stählen;
- - die Verwendung von Alkohol erfordert zum einen umfangreiche Sicherheitsmaßnahmen (z. B. Ex-Schutz der Anlagen) und zum anderen, insbesondere bei größeren Mengen zu reinigender Teile, eine Destillationseinrichtung zur Abtrennung des Wassers.
Nach unserem Kenntnisstand werden bei einem sowjetischen
Verfahren chemisch inerte halogenierte, bei Raumtemperatur
feste organische Substanzen verwandt, die bei Kristallisation
auf kalten Oberflächen Verunreinigungen einschließen.
Nachfolgendes Spülen mit Lösungsmittel löst die Kristalle
mit den Verunreinigungen von der Werkstückoberfläche.
Problematisch ist bei diesem Verfahren
- - die Umweltverträglichkeit der fluorierten Salze,
- - die Spaltgängigkeit,
- - das Verfahren ist wegen der umfangreichen Aufbereitungsanlage zur Regenerierung der Salze sehr aufwendig.
Neben den hier beschriebenen Grundverfahren sind häufig
weitere Reinigungsschritte erforderlich:
- - Behandlung in inhibierten Säuren zur Entfernung von Oxiden,
- - mechanische Bearbeitung durch Strahlen mittels Korund oder Glasperlen.
Weiterhin treten eine Reihe von Verunreinigungen auf, die
sich nur bedingt beseitigen lassen. Hierzu zählen z. B.
Silikonöle, Kunststoffreste, Rückstände von Poliermitteln.
Grundsätzlich wird nach den zuvor beschriebenen Reinigungsprozessen
vor der Beschichtung eine Sputterbehandlung, d. h.
ein Beschuß der Substratoberflächen mit hochenergetischen
Ionen, durchgeführt, um noch verbliebene oder nach der Reinigung
neu aufgetretene Verunreinigungen zu entfernen. Hierbei
wird häufig mit Edelgasionen gearbeitet, die in einer
Gleichstrom-Glimmentladung erzeugt und auf die Substratoberfläche hin
beschleunigt werden. Eine Variante besteht darin, daß
statt der Edelgasionen Metallionen verwendet werden.
Neben der Gleichstrom-Glimmentladung kommt auch die Hochfrequenz-Glimmentladung
bei 13,6 MHz zum Einsatz. Die Vorteile einer Hochfrequenz-Entladung
gegenüber der Gleichstrom-Entladung liegen in folgenden Punkten:
- 1. Es wird ein höherer Ionisierungsgrad erzielt.
- 2. Oxide, die sich bei einer Gleichstrom-Entladung positiv aufladen und damit einen Ionenbeschuß verhindern, können bei einer Hochfrequenz-Entladung effektiv abgetragen werden, da wegen des Wechselfeldes die positive Aufladung während der nächsten Halbwelle durch Elektronenbeschuß aufgehoben wird.
- 3. Wegen der besonderen Eigenschaften eines Hochfrequenzplasmas läßt sich eine gleichmäßigere Behandlung komplizierter Teile oder Chargierungen durchführen.
Nachteilig erweist sich der Einsatz von Hochfrequenz-Plasmen bei einer
Frequenz von 13,6 MHz in folgenden Punkten:
- - es ist sehr problematisch, Beschichtungsanlagen mit einer Einrichtung zur Erzeugung von Hochfrequenzplasmen in diesem Frequenzbereich nachzurüsten und zu betreiben. Es ist schwierig, die Streustrahlung abzuschirmen;
- - das Sputterverfahren arbeitet nicht selektiv, d. h. nicht nur Verunreinigungen, sondern auch das Grundmaterial wird angegriffen;
- - das Sputterverfahren beinhaltet, daß Redepositionseffekte auftreten. Da durch den Prozeß kaum gasförmige und damit über die Vakuumpumpen aus der Anlage entfernbare Stoffe erzeugt werden, diffundieren die durch Impulsübertrag herausgeschlagenen Oberflächenatome durch die Kammer und kondensieren an den Wänden oder Substraten. Ein optimaler Reinigungseffekt kann daher nur erzielt werden, wenn die innere Oberfläche der Kammer einem Vielfachen der Substratoberfläche entspricht. Das Flächenverhältnis ist im Fall der Kammerbeladung mit vielen kleinen Werkstücken aber häufig umgekehrt.
Bei einem aus der EP 03 23 434 A1 bekannten Verfahren zur Her
stellung eines Verschlußteils wird mit PVD- bzw. Plasma CVD-
Verfahren eine Hartstoffschicht abgelagert. Dabei wird Sauerstoff
in Kombination mit fluoriertem Gas eingesetzt, um deren Polymeri
sation zu verhindern. Es handelt sich dabei um eine Sputter-Behand
lung, die zuvor schon angesprochen worden war.
Aus der JP 1-2 05 085 A war bekannt, Oberflächen mit einem Plasma reaktiv
zu behandeln und auch zu reinigen. Dabei werden Mikrowellen zur
Steigerung der Dichte der reaktiven Spezies eingesetzt. Das Mikro
wellenplasma dient dabei jedoch nicht zur Reinigung der zu beschich
tenden Oberfläche.
Ein optimales Reinigungsverfahren für eine anschließende
PVD- oder PECVD-Beschichtung von Metalloberflächen sollte
folgende Anforderungen erfüllen:
- 1. Möglichst universelle Reinigungswirkung für Öle, Fette, Kunststoffreste, eingebrannte, verharzte Öle, Oxide, Schleif- und Polierhilfsmittel,
- 2. Wirtschaftlichkeit,
- 3. Umweltverträglichkeit,
- 4. Einfache Handhabung insbesondere in einer Produktionslinie, möglichst automatisierbar,
- 5. die Reinigung sollte in situ in der Beschichtungskammer erfolgen, um eine Rekontamination nach der Reinigung zu vermeiden und um auf reaktiven Oberflächen zu beschichten,
- 6. das Verfahren muß kompatibel zur angewandten Beschichtungstechnik sein, bestehende Anlagen sollten nachrüstbar sein,
- 7. durch den Reinigungsprozeß darf keine negative Beeinflussung der Substratoberfläche und des Grundmaterials auftreten (z. B. Aufrauhungen, Korrosion),
- 8. das Verfahren muß eine hohe Spaltgängigkeit besitzen,
- 9. das metallische Substrat sollte auf atomarer Basis freigelegt werden.
Es ist Aufgabe der Erfindung, die Reinigung der Substrate
von einer Beschichtung zu vereinfachen und dabei den Einsatz
von FCKW zu vermeiden. Es ist weiterhin die Aufgabe, die Anforderungen
1 bis 9 zu erfüllen. Es ist zusätzlich die Aufgabe
der Erfindung, ein Verfahren zu schaffen, bei dem so
aktivierte Substratoberflächen (in situ) erzeugt werden, daß
anschließend auch Kaltarbeitsstähle bei ca. 180 bis 300°C
haftfest beschichtet werden können, ohne die Stähle zu überhitzen
und damit zu erweichen.
Insbesondere ist es die Aufgabe der Erfindung, Silikonöle
überhaupt entfernen zu können.
Die Aufgabe wird dadurch gelöst, daß die letzte Reinigungsstufe
in einer Vakuumkammer nach Art einer plasmatechnischen
Reinigung, aber mit Hilfe einer Mikrowellen- (z. B. 2,5 GHz)
Unterstützung durchgeführt wird und anschließend die PVD-
oder PECVD-Beschichtung vorgenommen wird. Dabei wird Sauerstoff
und Wasserstoff als Arbeitsgas im Wechsel verwendet. Mindestens ein Wechsel,
z. B. erst Sauerstoff dann Wasserstoff, muß erfolgen. Noch zweckmäßiger ist
ein zweimaliger Wechsel, z. B. in der Reihenfolge Wasserstoff, Sauerstoff,
Wasserstoff.
Es handelt sich um die Kombination zweier Verfahren: 1.
plasmachemische Reinigung mittels Plasmen, die durch ein
Mikrowellenfeld angeregt werden, 2. Beschichtung von Werkstücken
durch ein PVD- oder PECVD-Verfahren.
Es ist bekannt, daß in einem durch eine äußere Spannung angeregten
Plasma der Ionisationsgrad des Arbeitsgases und der
Anteil angeregter Atome oder Moleküle (Radikale) um so größer
ist, je höher die Frequenz der anregenden Spannung ist.
Dieses bedeutet, daß die Effektivität eines plasmachemischen
Prozesses mit zunehmender Frequenz ebenfalls zunimmt. Aus
diesem Grunde werden nach Stand der Technik, aber in anderen
Anwendungsgebieten, nämlich zur Reinigung und zur Modifizierung
von Kunststoffoberflächen, Mikrowellenplasmen eingesetzt.
Es wurde nun gefunden, daß sich Mikrowellenplasmen
auch zur Metallsubstratreinigung direkt vor dem Beschichtungsprozeß
mit Erfolg einsetzen lassen. Die Reinigung von
Metalloberflächen als Teil des erfindungsgemäßen Verfahrens
für eine anschließende PVD- oder PECVD-Beschichtung gliedert
sich in folgende Schritte auf:
- 1. Grobentfettung in einem alkalischen Reiniger. Hierbei werden auch feste Anteile, wie Späne und Staub im Ultraschallbad entfernt;
- 2. Spülen in deionisiertem Wasser in einer Spülkaskade;
- 3. Zur Vermeidung von Trockenflecken Spülen in Reinstwasser mit Korrosionsschutzzusatz oder Spülen in deionisiertem Wasser mit einem Netzmittelzusatz zur Vermeidung der Tropfenbildung;
- 4. Trocknen in Heißluft oder Abblasen mit Preßluft oder N₂ und Trocknung im Vakuum. Die bei der Trocknung im Vakuum üblicherweise auftretenden Probleme wie z. B. Vereisung des Wassers in Sacklöchern werden dadurch behoben, daß die Werkstücke im Plasma erwärmt werden.
- 5. Chargierung der Teile in der Beschichtungsanlage oder in einer gesonderten Reinigungskammer, wobei die Beschichtungskammer vorzuziehen ist, da in situ gereinigt und nach der Reinigung kein Transfer durch die Luft notwendig wird. Hierbei könnten sonst erneut Oxide, Staub- und Gasabsorption sowie Wasserabsorption auftreten. Die zur plasmachemischen Reinigung benutzte Kammer ist mit einer oder mehreren Mikrowellenplasmaquellen ausgerüstet, die entweder im Druckbereich zwischen 10-4 und 10-2 mbar im ECR-Modus (ECR: Elektron-Cyclotron-Resonanz) oder zwischen 10-2 und 10 mbar mit üblichen Hornstrahlern arbeiten. Es ist auch denkbar, die Kammer mit beiden Arten der Plasmaquellen gleichzeitig auszurüsten.
Es wurde weiterhin gefunden, daß zur Ausführung der Erfindung
eine besondere Vorrichtung nötig ist. Die Austrittsöffnung
der Quelle sollte während des Beschichtungsvorganges
mit einem Verschluß, genannt Shutter, abgedeckt werden, um
eine Schichtbildung auf dem Quarzdorn der Quelle und damit
eine verminderte Transmission zu vermeiden. Der Shutter kann
z. B. aus einem Plattenventil bestehen, das zwischen Kammer
und Quelle angebracht ist oder aus einer Platte oder einem
Blech, das vor die Austrittsöffnung der Quelle gedreht,
geschoben, gerollt oder geklappt wird. Als Arbeitsgase zur
Plasmareinigung kommen in der reduzierenden Betriebsphase
Wasserstoff, in der oxidierenden Phase
Sauerstoff
zum Einsatz. Die Beimischung
eines Edelgases ist in beiden Phasen ebenfalls möglich.
Die Substrate werden ggf. gegenüber der
Kammerwand auf ein negatives Potential gelegt, um eine
Temperaturerhöhung zur Beschleunigung der Reinigungsreaktion
und zur besseren Abfuhr der erzeugten flüchtigen Spezies zu
erzielen. Weiterhin kann der Reinigungseffekt durch einen
Ionenbeschuß bei Anwesenheit eines Edelgases erhöht werden.
Erfolgt die Trocknung in der Kammer, wird diese ebenfalls
durch die Temperaturerhöhung beschleunigt. Die reduzierende
Phase mittels Wasserstoffplasma verfolgt grundsätzlich folgende
Ziele:
- - Reduktion von Oxiden,
- - Zersetzung von Silikonölen.
Der Behandlung im Wasserstoffplasma folgt eine oxidative
Behandlung im Sauerstoffplasma (oder alternativ in einem
fluorierten Gas), um organische Stoffe zu zerlegen und zu
entfernen. Öle und Fette werden in flüchtige Spezies, wie
CO, CO₂, H₂O umgewandelt und über die Vakuumpumpen aus der
Anlage entfernt. Auch hier kann durch Zugabe eines Edelgases
der Ablauf durch einen zusätzlich eingeschalteten Sputterprozeß
unterstützt werden.
An die oxidierende Behandlung schließt sich eine abschließende
reduzierende Phase an, um die im Sauerstoffplasma entstandenen
Metalloxide zu reduzieren, so daß nach Abschluß
des Prozesses eine hochreaktive, aktivierte Metalloberfläche
vorliegt, die hervorragend für eine anschließende Hartstoffbeschichtung
präpariert ist.
Die Anregung des Plasmas mit Frequenzen im Mikrowellenbereich
(z. B. 2,5 GHz) besitzt drei besondere Vorteile gegenüber
der Anregung im Radiofrequenzbereich von z. B. 13,6 MHz:
- - höherer Anteil an Ionen und Radikalen,
- - problemlose Abschirmung, so daß eine Nachrüstung bestehender Anlagen ohne großen Aufwand möglich ist,
- - keine Abstimmungsprobleme.
Durch die Einführung der plasmachemischen Reinigung mittels
Mikrowellenplasmen ergeben sich folgende herausragende Vorteile:
- - keine Umweltbelastung, da ungefährliche Reaktionsprodukte entstehen, keine Entsorgungskosten,
- - Vermeidung von FCKW,
- - universelles Reinigungsverfahren,
- - in situ Reinigung,
- - die von der Oberfläche entfernten Spezies werden im Gegensatz zur Sputtertechnik aus der Anlage entfernt,
- - hohe Spaltgängigkeit,
- - keine Beeinflussung des Substratmaterials, keine Aufrauhung der Oberfläche,
- - einfache, automatisierbare Handhabung,
- - geringer apparativer Aufwand, weniger Kosten und Platzbedarf.
Außerdem läßt sich der erfindungsgemäße Prozeß außerordentlich
schnell durchführen. Es wurde weiterhin gefunden, daß
die Zykluszeit der PVD- oder PECVD-Anlage nur um 10 bis 20
Minuten verlängert wird, auch wenn man alle drei durch das
Mikrowellenplasma unterstützten Teilschritte reduzierend/
oxidierend/reduzierend ausführt.
Die weiteren speziellen, besonders vorteilhaften Ausführungsformen
der Erfindung werden nun anhand der Unteransprüche
erläutert.
Die Anwendung des Reinigungsverfahrens in der gleichen Kammer,
in der auch die Beschichtung vorgenommen wird, führt
- a) zu aktivierten Metalloberflächen, die keine Neubelegung durch Sauerstoff oder/und Luftfeuchtigkeit aufweisen,
- b) zur gleichzeitigen zumindest teilweisen Reinigung der Kammer-Einbauten, wie z. B. des Chargiergestelles.
Der Schließmechanismus (Shutter) schützt die Mikrowelleneinrichtung während des
Beschichtungsprozesses. Es wird vorzugsweise nach Art einer
Klappe ausgeführt, die rechnergesteuert betätigt werden
kann.
Während der reduzierenden und oxidierenden Reinigungsphase
regelt man vorzugsweise den Druck auf
10-4 bis 10-2 mbar. Er wird bei Verwendung einer oder mehrerer
ECR-Plasmaquellen eingestellt.
Durch Einsatz von Edelgasen im Gemisch mit H₂ oder O₂ wird
der zusätzliche "Sputtereffekt" erzeugt und die Lebensdauer
der im Plasma erzeugten Radikale erhöht.
Ein negatives Potential von bis zu 5000 V
gegenüber der Kammerwand erhöht die Reinigungswirkung des
erfindungsgemäßen Prozesses, in dem die Sputterwirkung
verstärkt wird.
Eine hohe Substrattemperatur bei Schnellarbeitsstählen bis
zu 500°C hat sich als besonders wirksam während der Reinigung
herausgestellt. Die Zyklen nach den Ansprüchen 10 bis
12 werden vorzugsweise so gefahren, daß das Substrat von
Raumtemperatur auf Beschichtungstemperatur mit dem Reinigungsprozeß
vorgeheizt wird. Damit wird durch die Reinigungszeit
nicht die gesamte Zyklenzeit verlängert.
Die Entfernung von anhaftenden Partikeln am Substrat mit
Hilfe von Ultraschall-unterstützten Bädern/Wäsche ist an und
für sich bekannt und auch hier nützlich.
Die Erfindung wird an Hand der Ausführungsbeispiele erläutert.
6 Probestäbe aus HSS (Werkstoff-Nr. 1.3207, Feinschliff)
wurden mittels Ultraschall gereinigt (Kaltreiniger,
Isopropanol, Äther) und definiert jeweils mit Silikonöl,
Korrosionsschutzöl, Netzmittel und einem Trockenfleck
belegt (s. Bild 1).
Anschließend wurden die Proben mittels Mikrowellenplasmen
gereinigt (Parameter: s. Versuchsprotokoll Tabelle 1). Es
wurde bewußt mit langen Behandlungszeiten gearbeitet, um
einen sicheren Effekt zu erzielen und den abschwächenden
Einfluß eines in der benutzten Kammer eingebauten Faradaykäfigs
auszugleichen.
Die Proben wurden in Aluminiumfolie und Plastiktüten (mit
Inertgas gespült) verpackt. Nach ca. 2 Wochen wurden die
Stäbe ohne Vorreinigung mit TiN mit Hilfe des PVD-Verfahrens
beschichtet.
Zur Kontrolle des Reinigungseffektes wird das Haftvermögen
der PVD-Schicht herangezogen.
Lediglich in den Bereichen, in denen konzentriertes Netzmittel
aufgetragen wurde, treten bei den Proben 1, 2, 3 und
6 punktartige Schichtfehler auf. Teilweise sind die Wasserflecken
noch schwach erkennbar, rufen allerdings keine Fehler
hervor. Ansonsten sind die Schichten fehlerfrei.
Die kritischen Lasten aus den Scratch-Versuchen sind in Tabelle
2 aufgetragen.
Aus der optischen Beurteilung der Scratch-Spur und den kritischen
Lasten ergibt sich folgende Beurteilung für das
Haftvermögen:
Probe 2 (O₂/CF₄-Behandlung) zeigt eine schlechte Schichthaftung
in allen Bereichen mit großflächigen Abplatzungen in
der Umgebung des Scratches. Dies ist im Vergleich zu den anderen
Proben ein unerwartetes Ergebnis, da mittels der
Fluorgase allgemein ein besserer Reinigungseffekt erzielt
wird. Möglicherweise liegt hier ein Verfahrensfehler bei der
Reinigung vor.
Die silikonbehafteten Partien weisen niedrige Werte für die
kritische Last auf. Dies ist darauf zurückzuführen, daß zunächst
oxidativ behandelt wurde, so daß SiO₂ entsteht. Bei
der Entfernung von Silikon muß jedoch zunächst reduktiv gearbeitet
werden, um über die Bildung von SiH₄ das Silizium
zu entfernen, wie ein weiterer Versuch gezeigt hat.
Im Bereich der Wasserflecken treten keine bemerkenswerten
Haftungsprobleme auf.
Über die Einsetzbarkeit von Netzmitteln kann hieraus noch
keine konkrete Aussage gemacht werden, da dieses unverdünnt
und damit dick aufgetragen wurde. Unter normalen Einsatzbedingungen
handelt es sich um monomolekulare Schichten. Weitere
Versuche zeigten, daß sich die dünnen Netzmittelschichten
entfernen ließen.
Aufgrund der Werte für die kritischen Lasten und die optische
Beurteilung der Scratch-Spuren ist die Haftung der
Schicht, insbesondere in den Bereichen Korrosionsschutzmittel
und Wasserfleck trotz der langen Zwischenlagerung, als
gut bis sehr gut zu bezeichnen. Mittels eines Mikrowellenplasmas
wird eine gute Reinigungswirkung erzielt. Diese wird
durch einen Prozeß, der "in situ" durchgeführt wird, noch
deutlich gesteigert, wie das zweite Ausführungsbeispiel
lehrt.
Acht Probestäbe aus HSS (Werkstoff-Nr. 1.3207, Feinschliff)
wurden in einem Kaltreiniger mit Ultraschallunterstützung
gereinigt, mit deionisiertem Wasser abgespült, in
ein mit einem Netzmittel versetztes Wasserbad getaucht und
mit Heißluft getrocknet (Probe 1 bis 6) bzw. mit Druckluft
abgeblasen (Probe 7 und 8).
Die gereinigten Stäbe wurden anschließend mit einem Gemisch
aus einem Korrosionsschutzmittel und einem Silikonöl
schwach eingerieben und in eine PVD-Arc-
Anlage chargiert.
Die PVD-Anlage ist mit einer Mikrowellen-Plasmaquelle ausgerüstet,
die mittels eines Elektromagneten im ECR-(Elektron-
Cyclotron-Resonanz) Modus betrieben werden kann.
Die Versuchsparameter zur plasmachemischen Behandlung der
Probestäbe im Mikrowellenplasma sind in Tabelle 3 aufgelistet.
Der Plasmareinigungsprozeß wurde jeweils in der Abpumpphase
bei Erreichen eines Druckes von 1×10-2 mbar gestartet.
Bei ähnlicher Kammerbeladung wird üblicherweise vom
Beginn des Evakuierens einschließlich des Aufheizens der
Werkstücke bis zum Beginn der Beschichtungsphase eine Prozeßzeit
von ca. 30 Minuten benötigt. Durch die Verwendung
der Mikrowellenplasmareinigung erhöht sich die Dauer dieser
Phase auf ca. 45-50 Minuten.
Nach abgeschlossener Plasmareinigung wurden die Probestäbe
direkt ohne eine Unterbrechung des Vakuums mit einer 3 µm
dicken TiN-Schicht zur Überprüfung des Reinigungseffekts
beschichtet. Die anschließend aus dem Scratch-Test gewonnenen
Werte für die kritische Last sind ebenfalls Tabelle 3
zu entnehmen.
Diese zeigen, daß durchgehend hohe Werte für die kritische
Last, d. h. ein guter Reinigungseffekt erreicht wurde.
Bei der optischen Beurteilung
sind auf keiner Probe Schichtfehler zu erkennen.
Alle Teile wurden vor der Plasmabehandlung mit Sauerstoff im Trockenschrank
auf 250°C aufgeheizt. Nach der Sauerstoffbehandlung wurde eine 60minütige
Reduktion im Wasserstoffplasma durchgeführt.
Kritische Lasten von 40-50 N werden bei der Beurteilung des
Haftvermögens als "gut" eingestuft.
Claims (8)
1. Verfahren zur Reinigung der Oberflächen metallischer Substrate
und anschließenden Beschichtung, dadurch gekennzeichnet, daß
die Oberflächen der Substrate durch ein mittels Mikrowellen
angeregtes Plasma mit mindestens einmaligem Wechsel mit
Sauerstoff und Wasserstoff als Arbeitsgas gereinigt werden
und anschließend die Beschichtung durch eine physikalische
Dampfphasenabscheidung (PVD) oder eine plasmaaktivierte
chemische Dampfphasenabscheidung (PECVD) ausgeführt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Behandlung
der Substrate mittels Mikrowellen innerhalb der Beschichtungskammer
der PVD- oder PECVD-Anlage durchgeführt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Austritts
öffnung der Mikrowellenplasmaquelle während der Beschichtungsphase
durch einen Schließmechanismus abgedeckt wird.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß in der Vakuum
kammer ein Arbeitsdruck von 10-4 bis 10-2 mbar eingestellt wird.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß dem Arbeits
gas ein oder mehrere Edelgase zugemischt werden.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Substrate
durch Anlegen einer äußeren Spannung bis 5000 V gegenüber der Kammer
wand auf einem negativen Potential erwärmt werden.
7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Substrate
aus Werkzeugstahl nicht höher als ca. 600°C, die Substrate aus
Hartmetall nicht höher als 750°C, beginnend
bei Raumtemperatur, während der Reinigung
erwärmt werden.
8. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorreini
gung der Substrate durch Entfetten, Spülen, Trocknen unter teilweiser
Nutzung von Ultraschallwellen durchgeführt wird.
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| DE4034842A1 (de) | 1992-05-07 |
| CA2054437A1 (en) | 1992-05-03 |
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