DE4117257A1 - Belag, bestehend aus einem optisch wirkenden schichtsystem, fuer substrate, wobei das schichtsystem insbesondere eine hohe antireflexwirkung aufweist - Google Patents
Belag, bestehend aus einem optisch wirkenden schichtsystem, fuer substrate, wobei das schichtsystem insbesondere eine hohe antireflexwirkung aufweistInfo
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Description
Die Erfindung betrifft einen Belag, bestehend aus einem
optisch wirkenden Schichtsystem, für Substrate, wobei
das Schichtsystem insbesondere eine hohe Antireflexwirkung
aufweist nach Hauptpatent ... (Patentanmeldung
P 39 42 990.3).
Es gibt eine breite Palette von Schichtsystemen für
Substrate, insbesondere für Glas, die bestimmte optische
Funktionen erfüllen. Die vorliegende Erfindung betrifft
die Gattung der Antireflexschichten, beziehungsweise
Antireflexschichtsysteme.
Durch die deutsche Offenlegungsschrift 36 29 996 ist ein
Vorsatzaggregat für die Katodenstrahlröhre von Monitoren,
Fernsehapparaten und dergleichen, bestehend aus einer
Glasscheibe, insbesondere einer Grauglasscheibe, einer
vorderseitigen Antireflexionsausrüstung und einer
rückseitigen Absorptionsbeschichtung, wobei die
Absorptionsbeschichtung Metallatome aufweist, bekannt
geworden.
In dieser deutschen Offenlegungsschrift wird
vorgeschlagen, daß die Absorptionsbeschichtung
einschichtig aus Chrom,
einer Chrom/Nickel-Legierung oder Siliciden aufgebaut
und antistatisch eingerichtet und geerdet, sowie mit
einer Dicke versehen ist, welche die Lichttransmission
gegenüber der unbeschichteten Glasscheibe um etwa ein
Drittel absenkt.
In der US-Patentschrift Nr. 38 54 796 wird weiterhin eine
Beschichtung vorgeschlagen, die zur Reduzierung der
Reflexion dienen soll. Die Beschichtung soll für ein
Substrat angewendet werden, das eine Mehrzahl von
Schichten aufweist. In der Reihenfolge beginnend beim
Substrat ist in der US-Patentschrift folgende Anordnung
beschrieben: drei Gruppen von wenigstens zwei
Lambda/4-Schichten, die aufeinanderfolgenden Schichten
der ersten Gruppe haben einen Brechungsindex, der
unterhalb des Brechungsindexes des Substrats liegt. Die
Schichten der zweiten Gruppe haben einen sich
vergrößernden Brechungsindex und die Schichten der dritten
Gruppe haben einen Brechungsindex unterhalb des
Brechungsindexes des Substrats. Weitere Einzelheiten
sind der genannten US-Schrift zu entnehmen.
Zum Stand der Technik gehört weiterhin die
US-Patentschrift 37 61 160. Dort werden eine
Breitbandantireflexionsbeschichtung und Substrate, die
damit beschichtet sind, vorgeschlagen. Sie weisen
wenigstens vier Schichten für Glas mit hohem Index und
wenigstens sechs Schichten für Glas mit niedrigem Index
auf. Weitere Einzelheiten sind der genannten US-Schrift
zu entnehmen.
Weiterhin wird in der US-Patentschrift 36 95 910 ein
Verfahren zur Anbringung einer Antireflexbeschichtung
auf einem Substrat beschrieben. Diese Beschichtung besteht
aus mehreren Einzelschichten. Das Verfahren für die
Aufbringung der Antireflexionsschichten erfolgt unter
Vakuum, und zwar unter Verwendung von Elektronenstrahlen.
Weitere Einzelheiten sind der genannten US-Patentschrift
zu entnehmen.
Weiterhin gehört zum Stand der Technik die
US-Patentschrift 38 29 197, die einen Antireflexionsbelag,
der als Mehrschichtsystem ausgebildet ist, beschreibt.
Dieser Belag soll auf einem stark brechenden Substrat
angebracht werden. Das Schichtsystem besteht aus fünf
einzelnen Schichten, die gegenseitig angepaßt sind,
und zwar in Hinsicht auf ihren Brechungsindex und in
Hinsicht auf ihre optische Dicke. Durch diese Anpassung
soll eine günstige Antireflexionskurve mit einem breiten,
flachen, mittleren Teil erreicht werden. Weitere
Einzelheiten dieses Vorschlags sind der genannten
US-Patentschrift zu entnehmen.
Zum Stand der Technik gehört weiterhin die schweizerische
Patentschrift 2 23 344. Diese Schrift befaßt sich mit
einem Überzug zur Verminderung der Oberflächenreflexion.
Der Überzug besteht aus mindestens drei Schichten mit
verschiedenen Brechungszahlen. Die Verminderung der
Oberflächenreflexion soll nach dieser Schrift durch eine
bestimmte Auswahl der Brechungszahlen der einzelnen
Schichten erzielt werden.
Der Erfindung liegen folgende Aufgaben zugrunde:
Es sollen Voraussetzungen für die wirtschaftliche Herstellung von Antireflexbeschichtungen für transparente Substrate geschaffen werden.
Es sollen Voraussetzungen für die wirtschaftliche Herstellung von Antireflexbeschichtungen für transparente Substrate geschaffen werden.
Transparente Substrate werden in einer Vielzahl moderner
Einrichtungen und Geräte benötigt. Die Hersteller dieser
Einrichtungen und Geräte stellen hohe Anforderungen in
Hinsicht auf die optischen und sonstigen Eigenschaften
dieser Substrate.
Die Erfindung soll diese hohen Anforderungen insbesondere
in Hinsicht auf die Entspiegelung, die Kontrasterhöhung
und die Erhöhung der Antistatikwirkung erfüllen.
Weiterhin sollen Voraussetzungen dafür geschaffen werden,
daß eine nur geringe Anzahl von Schichten benötigt wird.
Gleichzeitig sollen die Dicken der Einzelschichten klein
sein. Die Erfindung macht sich weiterhin zur Aufgabe,
Voraussetzungen für den Einsatz preisgünstigerer
Materialien zu schaffen.
Mit der Erfindung soll ein Konzept vorgeschlagen werden,
bei dem DC-reaktiv mit Magnetron vom Metalltarget
gesputtert werden kann.
Die geringe Zahl der Schichten des Schichtsystems, die
geringe Dicke der Einzelschichten des Schichtsystems,
die Auswahl preisgünstiger Einsatzmaterialien und die
Möglichkeit, DC-reaktiv mit Magnetron vom Metalltarget
zu sputtern,
führen zu einer äußerst wirtschaftlichen Herstellung
der erfindungsgemäßen Antireflexschichtsysteme.
An sich ist die Benutzung von Metallschichten für
Antireflexsysteme im Prinzip bekannt. Es hat sich jedoch
herausgestellt, daß die bekannten Metallschichten für
den Alltagsbetrieb zu weich sind.
Es gehört daher mit zu der Aufgabenstellung der
vorliegenden Erfindung, einen Ersatz für die bekannten
weichen Metallschichten (Ag, Ni, . . .) zu finden. Dieser
Ersatz soll hart und kratzfest sein. Er soll einerseits
eine keramische Härte aufweisen, andererseits jedoch
auch die Wirkung einer metallähnlichen Optik besitzen.
Die gestellten Aufgaben werden durch die im Hauptpatent
beschriebenen erfindungsgemäßen Maßnahmen gelöst.
Zusätzlich wird vorgeschlagen, daß das Substrat
insbesondere transparent ist und vorzugsweise einen
Brechungsindex von 1,5 bis 1,65 aufweist.
Weiterhin wird zusätzlich vorgeschlagen, daß für
mindestens eine TiNx-Schicht der im Hauptpatent
beschriebenen Schichtsysteme überstöchiometrisches TiNx
mit x im Bereich von 1 bis 1,16 eingesetzt wird.
In einem weiteren zusätzlichen Ausführungsbeispiel kann
vorgesehen werden, daß alle TiNx-Schichten der im
Hauptpatent beschriebenen Schichtsysteme TiNx mit x im
Bereich von 1 bis 1,16 aufweisen.
Weitere Einzelheiten der Erfindung, der Aufgabenstellung
und der erzielten Vorteile sind der folgenden Beschreibung
mehrerer Ausführungsbeispiele der Erfindung zu entnehmen.
Diese Ausführungsbeispiele werden anhand von fünf Figuren
erläutert.
Die Fig. 1, 2 und 5 zeigen je ein Schichtsystem.
Die Fig. 3 und 4 zeigen Transmissions- beziehungsweise
Reflexions-Kurven in Prozent über Wellenlängen in nm.
Nachfolgend werden zunächst fünf Ausführungsbeispiele
beschrieben:
Das Substrat 1 besteht aus Glas. Die Vorderseite 2 des Substrats ist die Seite des Substrats, die dem Betrachter zugewandt ist. Die Rückseite 9 des Substrats ist die Seite, die vom Betrachter abgewandt ist.
Das Substrat 1 besteht aus Glas. Die Vorderseite 2 des Substrats ist die Seite des Substrats, die dem Betrachter zugewandt ist. Die Rückseite 9 des Substrats ist die Seite, die vom Betrachter abgewandt ist.
Die an der Vorderseite des Substrats anliegende Schicht
wird als die "erste" Schicht 4 bezeichnet. Es folgen
in Richtung zum Betrachter die "zweite" Schicht 5 und
die "dritte" Schicht 6.
Das Schichtsystem des ersten Ausführungsbeispiels ist
wie folgt aufgebaut: (siehe Fig. 1)
- - auf der Rückseite des Substrats Glas ist eine optisch wirksame TiNx-Schicht 8 angebracht,
- - in Richtung auf den Betrachter folgt das Substrat Glas 1,
- - die erste optisch wirksame Schicht 4, die am Substrat anliegt, besteht aus SnO2,
- - die zweite optisch wirksame Schicht 5, die in Richtung auf den Betrachter der ersten optisch wirksamen Schicht folgt, besteht aus TiNx,
- - die dritte optisch wirksame Schicht 6, die in Richtung auf den Betrachter der zweiten optisch wirksamen Schicht folgt, besteht aus Al2O3.
Das Schichtsystem des zweiten Ausführungsbeispiels ist
wie folgt aufgebaut: (siehe Fig. 2)
- - auf der Rückseite des Substrats Glas ist eine optisch wirksame TiNx-Schicht 8 angebracht,
- - in Richtung auf den Betrachter folgt das Substrat: Glas,
- - die erste optisch wirksame Schicht 4, die am Substrat anliegt, besteht aus SnO2,
- - es folgt in Richtung auf den Betrachter eine Haftvermittlerschicht 7, bestehend aus NiCrOx,
- - die zweite optisch wirksame Schicht 5, die in Richtung auf den Betrachter folgt, besteht aus TiNx,
- - die dritte optisch wirksame Schicht 6, die in Richtung auf den Betrachter der zweiten optisch wirksamen Schicht folgt, besteht aus Al2O3.
Das Schichtsystem des dritten Ausführungsbeispiels ist
wie folgt aufgebaut: (siehe Fig. 2)
- - auf der Rückseite des Substrats Glas ist eine optisch wirksame TiNx-Schicht 8 angebracht,
- - in Richtung auf den Betrachter folgt das Substrat Glas 1,
- - die erste optisch wirksame Schicht 4, die am Substrat anliegt, besteht aus SnO2,
- - es folgt in Richtung auf den Betrachter eine Haftvermittlerschicht 7, bestehend aus NiCr-Suboxid,
- - die zweite optisch wirksame Schicht 5, die in Richtung auf den Betrachter folgt, besteht aus TiNx,
- - die dritte optisch wirksame Schicht 6, die in Richtung auf den Betrachter der zweiten optisch wirksamen Schicht folgt, besteht aus SiO2.
Das Schichtsystem des vierten Ausführungsbeispiels ist
wie folgt aufgebaut: (siehe Fig. 1)
- - auf der Rückseite des Substrats Glas ist eine optisch wirksame TiNx-Schicht 8 angebracht,
- - in Richtung auf den Betrachter folgt das Substrat Glas 1,
- - die erste optisch wirksame Schicht 4, die am Substrat anliegt, besteht aus NiCrOx; diese Schicht 4 wirkt gleichzeitig als Haftvermittlerschicht,
- - die zweite optisch wirksame Schicht 5, die in Richtung auf den Betrachter folgt, besteht aus TiNx,
- - die dritte optisch wirksame Schicht 6, die in Richtung auf den Betrachter der zweiten optisch wirksamen Schicht folgt, besteht aus SiO2.
Das Schichtsystem des fünften Ausführungsbeispiels ist
wie folgt aufgebaut: (siehe Fig. 1)
- - auf der Rückseite des Substrats Glas ist eine optisch wirksame TiNx-Schicht 8 angebracht,
- - in Richtung auf den Betrachter folgt das Substrat: Glas 1,
- - die erste optisch wirksame Schicht 4, die am Substrat anliegt, besteht aus NiCrOx; diese Schicht 4 wirkt gleichzeitig als Haftvermittlerschicht,
- - die zweite optisch wirksame Schicht 5, die in Richtung auf den Betrachter folgt, besteht aus TiNx,
- - die dritte optisch wirksame Schicht 6, die in Richtung auf den Betrachter der zweiten optisch wirksamen Schicht folgt, besteht aus Al2O3.
Als Substrat können außer Mineralglas, Floatglas auch
Plexiglas, durchsichtige Kunststoffschichten, Folien
usw. eingesetzt werden.
Neben der Vorderseitenentspiegelung durch die
beschriebenen, vor der Vorderseite angeordneten,
Schichtsystemen wird eine weitere überraschend niedrige
Gesamtreflexion durch die auf der Rückseite angeordnete
TiNx-Schicht erzielt. Der Grundgedanke der Erfindung
läßt eine Vielzahl von Ausführungsbeispielen, bzw.
Schichtsystemen, zu, die durch die nachfolgend genannten
Materialien und Schichtdicken charakterisiert sind.
"Erste" Schicht (Bezugsziffer 4), ein Dielektrikum:
Metalloxid (SnO2, ZrO2, ZnO, Ta2O5, NiCrOx, TiO2, Sb2O3,
In2O3),
Schichtdicke: 80 Angström +/-20%,
"Zweite" Schicht (Bezugsziffer 5) Nitrid (TiN, ZrN) Schichtdicke: 130 Angström +/-20%,
"Dritte" Schicht (Bezugsziffer 6) Dielektrikum: niederbrechende Materialien, n kleiner als 1,7, (SiO2, Al2O3, AlSi-Oxid, NiSi-Oxid, MgO, MgF2) Optische Dicke: 5550/4 Angström +/-10%,
"Haftvermittler-Schicht" (Bezugsziffer 7): Ni, Cr, NiCr (80 Gewichtsprozent Ni, 20 Gewichtsprozent Cr) Schichtdicke: 10 Angström +/-10%.
Schichtdicke: 80 Angström +/-20%,
"Zweite" Schicht (Bezugsziffer 5) Nitrid (TiN, ZrN) Schichtdicke: 130 Angström +/-20%,
"Dritte" Schicht (Bezugsziffer 6) Dielektrikum: niederbrechende Materialien, n kleiner als 1,7, (SiO2, Al2O3, AlSi-Oxid, NiSi-Oxid, MgO, MgF2) Optische Dicke: 5550/4 Angström +/-10%,
"Haftvermittler-Schicht" (Bezugsziffer 7): Ni, Cr, NiCr (80 Gewichtsprozent Ni, 20 Gewichtsprozent Cr) Schichtdicke: 10 Angström +/-10%.
Auf der Rückseite 9 des Substrats ist die "Rückseiten-
Schicht" (Bezugsziffer 8), bestehend aus TiNx, angeordnet,
Schichtdicke: 40-150 Angström.
Es ist selbstverständlich, daß solche Werte für die
jeweilige Schichtdicke innerhalb der genannten
Schichtdickentoleranzen gewählt werden, die die
Interdependenz der einzelnen Schichtdicken und der
verwendeten Materialien zueinander berücksichtigen.
Es folgt die Beschreibung zweier Beispiele von
Schichtsystemen, bei denen die Reflexion und die
Transmission im sichtbaren Wellenbereich des Lichts
gemessen wurden.
Die Messergebnisse sind grafisch anhand von Kurven in
den Fig. 3 und 4 dargestellt.
Bei der Beschreibung der Schichtsysteme werden die
Bezugsziffern der Beschreibung der Fig. 1 benutzt.
Das Schichtsystem des ersten Beispiels ist wie folgt
aufgebaut:
Substrat: Glas (1), Dicke 2 mm, Brechungskoeffizient n = 1,52,
Schicht (4) Material: SnO2, Dicke 90 Angström Brechungskoeffizient n = 2,05,
Schicht (5) Material: TiNx, Dicke 130 Angström,
Schicht (6) Material: Al2O3, Dicke 730 Angström Brechungskoeffizient n = 1,6,
Schicht (8) Material: TiNx, Dicke 70 Angström.
Substrat: Glas (1), Dicke 2 mm, Brechungskoeffizient n = 1,52,
Schicht (4) Material: SnO2, Dicke 90 Angström Brechungskoeffizient n = 2,05,
Schicht (5) Material: TiNx, Dicke 130 Angström,
Schicht (6) Material: Al2O3, Dicke 730 Angström Brechungskoeffizient n = 1,6,
Schicht (8) Material: TiNx, Dicke 70 Angström.
Der in Fig. 2 mit 7 bezeichnete Haftvermittler ist in
diesem Ausführungsbeispiel nicht vorhanden.
Für dieses Schichtsystem wurden die Reflexion in Prozent
und die Transmission in Prozent gemessen, und zwar für
einen Wellenlängenbereich von 400 nm bis 700 nm.
Nachfolgend werden die Messergebnisse für die Reflexion
und die Transmission in einer Tabelle bestimmten
Wellenlängen gegenübergestellt:
Die Meßergebnisse werden, wie dargelegt, als Kurven
in Fig. 3 grafisch dargestellt. Auf der Abzisse 10 des
Koordinatensystems in Fig. 3 sind die Wellenlängen in
nm eingetragen. Auf der linken Ordinate 11 des
Koordinatensystems sind die Prozentwerte für die Reflexion
eingetragen. Auf der rechten Ordinate 12 des
Koordinatensystems sind die Prozentwerte für die
Transmission eingetragen.
Aus den Kurven ist deutlich erkennbar, daß die
Reflexionskurve 14 im Kernwellenlängenbereich des
sichtbaren Lichts außerordentlich niedrig ist. Sie liegt
weit unter 1%. Damit ist die gewünschte hohe
Antireflexwirkung in überraschend deutlicher Weise erzielt
worden. Im gleichen Kernwellenlängenbereich hat die
Transmissionskurve 13 relativ hohe Werte. Das
Schichtsystem des zweiten Beispiels ist wie folgt
gekennzeichnet:
Substrat: Glas, Dicke 2 mm, Brechungskoeffizient n = 1,52,
Schicht (4) Material: NiCr-Oxid, Dicke 70 Angström Brechungskoeffizient n = 2,1,
Schicht (5) Material: TiNx, Dicke 130 Angström,
Schicht (6) Material: SiO2, Dicke 790 Angström Brechungskoeffizient n = 1,5
Schicht (8) Material: TiNx, Dicke 70 Angström.
Substrat: Glas, Dicke 2 mm, Brechungskoeffizient n = 1,52,
Schicht (4) Material: NiCr-Oxid, Dicke 70 Angström Brechungskoeffizient n = 2,1,
Schicht (5) Material: TiNx, Dicke 130 Angström,
Schicht (6) Material: SiO2, Dicke 790 Angström Brechungskoeffizient n = 1,5
Schicht (8) Material: TiNx, Dicke 70 Angström.
Ein gesonderter Haftvermittler, siehe Bezugsziffer 7,
ist bei diesem Ausführungsbeispiel nicht vorhanden.
Für dieses Schichtsystem wurden die Reflexion in Prozent
und die Transmission in Prozent gemessen, und zwar für
einen Wellenlängenbereich von 400 nm bis 700 nm.
Nachfolgend werden die Messergebnisse für die Reflexion
und die Transmission in einer Tabelle bestimmten
Wellenlängen gegenübergestellt:
Die Messergebnisse werden, wie dargelegt, als Kurven
in Fig. 4 grafisch dargestellt. Die Abzisse und die
Ordinaten tragen die im Zusammenhang mit Fig. 3
beschriebenen Maßeinheiten.
Aus der Reflexionskurve 16 ist deutlich erkennbar, daß
die Reflexion im Bereich von ca. 560 nm Wellenlänge einen
ausgesprochenen Tiefpunkt hat. Damit ist die gewünschte
hohe Antireflexwirkung auch durch dieses Beispiel in
überzeugender Weise erzielt worden. Die Transmissionskurve
15 hat im Kernbereich des sichtbaren Lichts ihr Maximum.
Zu der Transmissionskurve 13 (Fig. 3) und zu der
Transmissionskurve 15 (Fig. 4) ist grundsätzlich
folgendes zu sagen:
Geringe Transmissionswerte einer Vorsatzscheibe können auf einfache Weise durch Verstärkung der Lichtquelle, z. B. durch Aufdrehen des Potentiometers bei einem LCD, kompensiert werden.
Geringe Transmissionswerte einer Vorsatzscheibe können auf einfache Weise durch Verstärkung der Lichtquelle, z. B. durch Aufdrehen des Potentiometers bei einem LCD, kompensiert werden.
Die Schichtsysteme, mit denen die oben kommentierten
Transmissions- und Reflexionswerte erzielt wurden, sind
nach dem im folgenden beschriebenen Verfahren hergestellt
worden:
Es wurde mit Magnetron gesputtert und zwar in reaktiver Gasatmosphäre.
Es wurde mit Magnetron gesputtert und zwar in reaktiver Gasatmosphäre.
Nachfolgend wird in der linken Spalte das Sputtermaterial
und in der rechten Spalte das reaktive Sputtergemisch
angegeben:
| SnO₂ | |
| Ar+O₂ | |
| SiO₂ | Ar+O₂ |
| Al₂O₃ | Ar+O₂ |
| TiN | Ar+N₂ |
| NiCr | Ar+O₂ |
Druck während des Sputtervorgangs: ca. 5×10-3 mb.
Targetmaterial: Sn, Si, Ti, NiCr (80 Gewichtsprozent
Ni, 20 Gewichtsprozent Cr), Al.
Auf der Vorderseite der Schichtsysteme wurde ein
Flächenwiderstand von 150 Ohm pro Quadrat gemessen, auf
der Rückseite wurde ein Flächenwiderstand von 240 Ohm
pro Quadrat gemessen. Dies sind relativ geringe
Flächenwiderstände.
Durch Erdung der Flächen kann daher die statische
Aufladung reduziert oder sogar aufgehoben werden. Damit
wird der gewünschte Antistatikeffekt erreicht.
Fig. 5 zeigt ein Ausführungsbeispiel für das weiter
oben in der Beschreibungseinleitung besprochene System,
bestehend aus zwei Schichten, auf der Vorderseite 2 des
Substrats 1. Die "erste" am Substrat anliegende Schicht
trägt bei dem Zweischichtsystem nach Fig. 5 die
Bezugsziffer 17. Darauf folgt zum Betrachter hin die
"zweite" Schicht 18.
Für die "erste" Schicht 17 und die "zweite" Schicht 18
des Zweischichtsystems nach Fig. 5 werden diejenigen
Daten über die chemische Zusammensetzungen, die
Schichtdicken, die Brechungsindices und diejenigen
Kombinationen dieser Daten eingesetzt, die für die
Schichten 5 und 6 der Fig. 1 und 2 weiter oben und
in der Beschreibungseinleitung beschrieben wurden.
Die für die Schichten 5 und 6 in der
Beschreibungseinleitung und im Zusammenhang mit den
Fig. 1 und 2 beschriebenen alternativen
Ausführungsformen gelten auch für das Zweischichtsystem,
wie es beispielsweise in Fig. 5 mit der "ersten" Schicht
17 und der "zweiten" Schicht 18 dargestellt wird.
Dabei entspricht die "erste" Schicht 17 des
Zweischichtsystems der Fig. 5 der Schicht 5 der
Schichtsysteme der Fig. 1 und 2.
Die "zweite" Schicht 18 des Zweischichtsystems der Fig.
5 entspricht der Schicht 6 der Schichtsysteme der Fig.
1 und 2.
Die Flächenwiderstände des Zweischichtsystems entsprechen
denjenigen der Systeme nach Fig. 1 und 2.
Liste der Einzelteile
1 Substrat, Glas
2 Vorderseite
3 Pfeil, Blickrichtung
4 "erste" Schicht der Fig. 1 und 2
5 "zweite" Schicht der Fig. 1 und 2
6 "dritte" Schicht der Fig. 1 und 2
7 Haftvermittlerschicht
8 Rückseitenschicht
9 Rückseite
10 Abzisse
11 linke Ordinate
12 rechte Ordinate
13 Transmissionskurve
14 Reflexionskurve
15 Transmissionskurve
16 Reflexionskurve
17 "erste" Schicht der Fig. 5
18 "zweite" Schicht der Fig. 5
2 Vorderseite
3 Pfeil, Blickrichtung
4 "erste" Schicht der Fig. 1 und 2
5 "zweite" Schicht der Fig. 1 und 2
6 "dritte" Schicht der Fig. 1 und 2
7 Haftvermittlerschicht
8 Rückseitenschicht
9 Rückseite
10 Abzisse
11 linke Ordinate
12 rechte Ordinate
13 Transmissionskurve
14 Reflexionskurve
15 Transmissionskurve
16 Reflexionskurve
17 "erste" Schicht der Fig. 5
18 "zweite" Schicht der Fig. 5
Claims (3)
1. Belag, bestehend aus einem optisch wirkenden
Schichtsystem, für Substrate, wobei das Schichtsystem
insbesondere eine hohe Antireflexwirkung aufweist, nach
Hauptpatent . . . (Patentanmeldung P 39 42 990.3), dadurch
gekennzeichnet, daß das Substrat insbesondere transparent
ist und vorzugsweise einen Brechungsindex von 1,5 bis
1,65 aufweist.
2. Belag, insbesondere nach Anspruch 1, bestehend aus
einem optisch wirkenden Schichtsystem, für Substrate,
wobei das Schichtsystem insbesondere eine hohe
Antireflexwirkung aufweist, nach Hauptpatent . . .
(Patentanmeldung P 39 42 990.3), dadurch gekennzeichnet,
daß für mindestens eine TiNx-Schicht insbesondere
überstöchiometrisches TiNx mit x im Bereich von 1 bis
1,16 eingesetzt wird.
3. Belag nach Anspruch 1 und/oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß für alle TiNxSchichten
überstöchiometrisches TiNx mit x im Bereich von 1 bis
1,16 eingesetzt wird.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4117257A DE4117257B4 (de) | 1989-12-27 | 1991-05-27 | Optisch wirkendes Schichtsystem mit hoher Antireflexwirkung für transparente Substrate |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3942990A DE3942990A1 (de) | 1989-12-19 | 1989-12-27 | Belag, bestehend aus einem optisch wirkenden schichtsystem, fuer substrate, wobei das schichtsystem insbesondere eine hohe antireflexwirkung aufweist, und verfahren zur herstellung des belags |
| DE4117257A DE4117257B4 (de) | 1989-12-27 | 1991-05-27 | Optisch wirkendes Schichtsystem mit hoher Antireflexwirkung für transparente Substrate |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE4117257A1 true DE4117257A1 (de) | 1992-12-03 |
| DE4117257B4 DE4117257B4 (de) | 2006-03-30 |
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ID=25888533
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE4117257A Expired - Fee Related DE4117257B4 (de) | 1989-12-27 | 1991-05-27 | Optisch wirkendes Schichtsystem mit hoher Antireflexwirkung für transparente Substrate |
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| Country | Link |
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| DE (1) | DE4117257B4 (de) |
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