ES2262168T3 - Ensayos no destructivos: termografia de profundidad transitoria. - Google Patents
Ensayos no destructivos: termografia de profundidad transitoria.Info
- Publication number
- ES2262168T3 ES2262168T3 ES97118977T ES97118977T ES2262168T3 ES 2262168 T3 ES2262168 T3 ES 2262168T3 ES 97118977 T ES97118977 T ES 97118977T ES 97118977 T ES97118977 T ES 97118977T ES 2262168 T3 ES2262168 T3 ES 2262168T3
- Authority
- ES
- Spain
- Prior art keywords
- depth
- defect
- tau
- pixel
- contrast
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title description 11
- 238000001931 thermography Methods 0.000 title description 10
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 82
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 27
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 16
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 3
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 12
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 5
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 5
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 3
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 238000001454 recorded image Methods 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- WPYVAWXEWQSOGY-UHFFFAOYSA-N indium antimonide Chemical compound [Sb]#[In] WPYVAWXEWQSOGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012770 industrial material Substances 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000004513 sizing Methods 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 238000012800 visualization Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/72—Investigating presence of flaws
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
Procedimiento para detectar un defecto (1 a 14) en un objeto que presenta una superficie, estando dividida dicha superficie en una serie de elementos de resolución, que comprende las etapas siguientes: a. calentar la superficie del objeto; b. grabar una pluralidad de imágenes térmicas de los elementos de resolución sobre dicha superficie calentada a lo largo de un periodo de tiempo, en el que cada uno de dichos elementos de resolución corresponden a un píxel; c. determinar la intensidad de píxeles individual para cada una de dichas imágenes térmicas; d. determinar la intensidad media de píxeles para cada imagen térmica; e. obtener el contraste de píxeles para cada uno de dichos píxeles en cada una de dichas imágenes térmicas restando dicha intensidad media de píxeles de dicha intensidad de píxeles individual; y f. determinar la profundidad de un defecto en el objeto basándose en dicho contraste de píxeles.
Description
Ensayos no destructivos: termografía de
profundidad transitoria.
La presente invención se refiere a ensayos no
destructivos, y especialmente se refiere a ensayos no destructivos
de un objeto para determinar la profundidad y la posición lateral de
defectos subsuperficiales utilizando termografía de profundidad
transitoria y a una técnica de formación de imágenes para
representar dichos defectos.
La existencia de un defecto en un objeto puede
determinarse mediante varias técnicas, incluyendo la termografía de
profundidad transitoria que se basa en la transferencia de calor a
través de un objeto a lo largo de un periodo de tiempo. Un
procedimiento de termografía transitoria comprende la grabación del
aumento de temperatura de cada elemento de resolución capturando
una serie de series de imágenes utilizando una cámara infrarroja
mientras se calienta la superficie, y el análisis de este aumento de
temperatura para identificar si tiene lugar una transición a un
aumento de temperatura lineal frente a la raíz cuadrada del tiempo
de calentamiento. Este aumento de temperatura lineal indica la
existencia de un defecto en el objeto. Esta determinación es
difícil en sí y se vuelve más difícil con geometrías complejas o un
calentamiento irregular.
La termografía transitoria convencional
comprende el análisis de imágenes infrarrojas individuales,
"imágenes instantáneas", de una superficie previamente
calentada de un objeto como una función del tiempo. Los defectos
subsuperficiales se identifican por "puntos calientes" en la
imagen que emiten una radiación infrarroja de mayor intensidad
debido a la incapacidad del calor de dispersarse a través del
defecto. Un problema con este procedimiento convencional es que el
análisis termográfico transitorio se reduce a elegir una única
imagen instantánea en el tiempo. La elección de qué imagen
instantánea analizar es crítica, y la mejor elección se basa en
muchos factores que no pueden controlarse y son desconocidos, tales
como la profundidad y el tamaño del defecto. Si se elige la imagen
instantánea incorrecta, los defectos revelados en imágenes
instantáneas previas o posteriores pueden no detec-
tarse.
tarse.
Para evitar la utilización de una imagen
instantánea, un inspector observa una repetición en vídeo de las
imágenes grabadas e identifica visualmente puntos brillantes
indicadores de defectos. El problema con este enfoque es que no se
automatiza fácilmente, es muy dependiente del operario, y no se
aplica fácilmente a geometrías complejas o superficies calentadas
irregularmente, y aunque puede detectarse un defecto con este
enfoque, no pueden determinarse con precisión la profundidad y
posición lateral reales (denominadas en lo sucesivo localización) o
el tamaño del defecto.
An Experimental Investigation of Defect
Sizing by Transient Thermography, de A. R. Hamzah et al.,
Insight vol. 38, nº 3 (marzo de 1996), da a conocer un
procedimiento de termografía transitoria que utiliza una cámara
infrarroja y un detector InSb. (Idem, pág. 167) se digitalizan
imágenes de cámara. Se proporcionan gráficos que ilustran la
magnitud del contraste térmico y su dependencia del tiempo máximo
con respecto al tamaño del defecto. (ídem, pág. 169) Hamzah et
al., enseña que mientras que las imágenes térmicas
"proporcionan buenas indicaciones cuantitativas de la forma y la
localización de un defecto, no muestran el tamaño verdadero del
defecto o ninguna indicación de su profundidad bajo la
superficie." (ídem, pág. 168, figura 2)
Se da a conocer un termógrafo de vídeo en el
documento GB nº 2.275.773 de Home Subsea Ltd. Enseñan una cámara
sensible al calor que toma una imagen de la superficie de un objeto
que va a investigarse; pueden generarse la imagen analizada por un
ordenador para calcular la presencia de defectos subsuperficiales, y
una visualización tridimensional que representa la estructura
interna del objeto. (Resumen)
Se dan a conocer imágenes térmicas adicionales
en Thermographic Nondestructive Evaluation of Industrial
Materials and Structures, de P. Cielo et al., Materials
Evaluation vol. 45 (abril de 1987), págs. 452 a 460. Este artículo
trata la detección de defectos subsuperficiales sometiendo una pieza
de trabajo a una excitación térmica superficial y observando las
perturbaciones eventuales de la propagación de calor en el material.
ídem, pág. 452, figura 1 ilustra láminas de
grafito-epoxi de 8 pliegues dañadas por impacto.
La patente US nº 5.376.793 de Lesniak da a
conocer un procedimiento y un aparato de formación de imágenes
térmicas por difusión forzada. Lesniak determina la profundidad del
defecto basándose en la velocidad del haz de muestra (que cambia la
profundidad de la penetración del calor). (col. 8, línea 48 - col.
9, línea 4). El procedimiento y el aparato emplean frecuencias
variables de un patrón de iluminación para examinar el material en
profundidad variable. (col. 4, líneas 26-30)
De manera convencional, los defectos se
localizan mediante ensayos ultrasónicos del objeto.
Esencialmen-
te se ataca el objeto con ondas ultrasónicas que penetran la superficie y se reflejan por un(os) defecto(s) en el
objeto. En base al tiempo requerido para recibir una onda reflejada, puede determinarse la localización del defec-
to.
te se ataca el objeto con ondas ultrasónicas que penetran la superficie y se reflejan por un(os) defecto(s) en el
objeto. En base al tiempo requerido para recibir una onda reflejada, puede determinarse la localización del defec-
to.
Los ensayos ultrasónicos emplean exploración
mecánica con un transductor a lo largo de toda la superficie, con
un contacto sónico estrecho requerido. Con el fin de permitir un
contacto sónico estrecho, debe utilizarse una corriente de un medio
de acoplamiento líquido o una inmersión total del objeto; sin
embargo, con frecuencia esto es inaceptable por razones materiales.
Además de los problemas del procedimiento, esta técnica resulta
ineficaz para ensayar objetos grandes y/o complejos. La exploración
mecánica de unos pocos metros cuadrados normalmente lleva horas.
Adicionalmente, los sistemas de exploración para piezas
geométricamente complejas son complejos y
caros.
caros.
Lo que se necesita en la materia es una técnica
de formación de imágenes de profundidad, termográfica, transitoria,
objetiva y automatizada que puede emplearse con geometrías complejas
y superficies calentadas irregularmente para localizar y determinar
el tamaño de manera precisa de los defectos en un objeto.
La presente invención se refiere a una técnica y
a un aparato de ensayo no destructivos para localizar defectos en
un objeto según las reivindicaciones 1 y 7 respectivamente.
Particularmente, el aparato comprende un calentador para calentar
la superficie del objeto; una grabadora para grabar la intensidad de
cada píxel de dicha superficie calentada; unos medios para
determinar la intensidad media de píxeles; unos medios para
determinar el contraste de píxeles para cada uno de dichos píxeles
restando dicha intensidad media de píxeles de dicha intensidad de
píxeles individual; y unos medios para determinar la profundidad de
un defecto en un objeto basándose en el contraste de
píxeles.
píxeles.
Particularmente, el procedimiento comprende las
siguientes etapas: calentar la superficie del objeto, grabar
imágenes térmicas sucesivas incluyendo cada elemento de resolución
de la superficie a lo largo de un periodo de tiempo; determinar
cada contraste del elemento de resolución (píxel) para cada imagen
térmica sucesiva de la superficie determinando la intensidad media
de píxeles para esa imagen térmica y restando la intensidad media
de píxeles de la intensidad de píxeles individual; y determinar la
profundidad de un defecto en el objeto basándose en el contraste de
píxeles.
La presente solicitud contiene tres dibujos
realizados a color. Se proporcionarán copias de esta solicitud con
dibujos a color por parte de la Oficina de Patentes y Marcas tras
solicitar y pagar las tasas necesarias.
La figura 1 es un gráfico de la intensidad
(temperatura) frente al tiempo para un píxel (a) individual frente a
la intensidad media (b) de píxeles.
La figura 2 es un gráfico del contraste de
píxeles frente al tiempo para los píxeles de la figura 1 para
mostrar el pico de contraste.
La figura 3A es una vista en sección transversal
de un objeto que revela una exfoliación fina que es un ejemplo de un
"defecto de calor transversal" que permite el flujo de calor
transversal.
La figura 3B es una vista en sección transversal
de un objeto que revela una exfoliación gruesa que es un ejemplo de
un "defecto de calor lateral" que requiere principalmente un
flujo de calor lateral.
La figura 4 es un gráfico del contraste de
píxeles frente al tiempo para un píxel individual cuando no hay un
pico de contraste debido al tipo de defecto; un "defecto de calor
lateral".
La figura 5 es un gráfico del contraste de
píxeles derivado frente al tiempo para un píxel individual para
mostrar el pico de contraste derivado para el "defecto de calor
lateral" de la figura 4.
Las figuras 6, 6A, 6B, y 6C ilustran el
espécimen de prueba y sus dimensiones relativas para los defectos
revelados en las figuras 7, 8 y 9.
La figura 7 es una copia de la imagen de la
intensidad de píxeles utilizando la técnica termográfica de la
presente invención.
La figura 8 es una copia de la imagen de la
presente invención de la intensidad de píxeles utilizando una
técnica de formación de imágenes de la técnica anterior.
La figura 9 es una copia de la imagen de la
presente invención de la intensidad de píxeles que representa la
temperatura utilizando termografía transitoria de la técnica
anterior.
La presente invención es un procedimiento de
ensayo no destructivo automatizado que emplea una técnica de
análisis termográfico transitorio para determinar el tamaño y la
localización de defectos en un objeto. Este procedimiento que
preferentemente utiliza datos de tiempo-temperatura
para detectar objetivamente defectos en un objeto monitorizando la
variación de la temperatura superficial de un objeto calentado a lo
largo del tiempo comprende: calentar la superficie del objeto y
monitorizar las constantes de tiempo térmico para cada píxel de la
superficie del objeto. En el contexto de la presente invención, un
píxel es un elemento de imagen rectangular en una serie de
imágenes, mientras que el elemento de resolución es un área
rectangular de la superficie del objeto que corresponde a un
píxel
individual.
individual.
El dispositivo utilizado para calentar la
superficie del objeto debe ser capaz de calentar la superficie hasta
una temperatura suficiente para permitir la monitorización
termográfica. Normalmente, objetos finos, por ejemplo, de un
espesor de aproximadamente 3,175 mm (0,125 pulgadas) o inferior,
sólo requieren una calentamiento mínimo, de aproximadamente 5ºC o
inferior, siendo posible tan poco como de aproximadamente 1ºC.
Mientras tanto, los objetos gruesos pueden requerir un calentamiento
significativamente mayor, por ejemplo, de aproximadamente 20ºC para
un objeto grueso de 12,7 mm (0,5 pulgadas). Los factores de
superficie, incluyendo color y emisividad, son también importantes
para determinar el grado al que se debe calentar el objeto, mientras
que las propiedades físicas establecen el límite de calentamiento
superior a una temperatura que no dañe el objeto y/o la superficie
del
objeto.
objeto.
Con el fin de localizar de manera precisa y
determinar el tamaño del defecto, la superficie del objeto debe
calentarse hasta la temperatura deseada en un periodo de tiempo
suficientemente corto de modo que se inhiba el calentamiento del
resto del objeto. Normalmente el calentamiento tiene lugar en una
fracción de un segundo para materiales finos con hasta unos pocos
minutos para materiales más gruesos o más grandes; en un destello.
Si el calor penetra el objeto, la precisión de la detección del
defecto cerca de la superficie del objeto disminuye.
Por ejemplo, un material compuesto de polímero y
fibra de grafito con un espesor de 3,175 mm (0,125 pulgadas) puede
calentarse durante unos pocos milisegundos con un pulso de calor de
4 megavatios desde una lámpara de destello, mientras que un objeto
con un espesor de 12,7 mm (0,5 pulgadas) debe calentarse durante
varios segundos o incluso minutos con un pulso de calor de 2
kilovatios desde una lámpara de cuarzo. Otros procedimientos de
calentamiento posibles incluyen la utilización de microondas, rayos
láser, y otros medios de calentamiento convencionales que pueden
alcanzar temperaturas elevadas, calentamiento de alta velocidad.
Una vez que la superficie del objeto se
calienta, una cámara de vídeo infrarroja graba y guarda las imágenes
térmicas sucesivas de la superficie del objeto, grabando cada píxel
de las mismas. El número de imágenes grabadas depende de la
resolución deseada de la imagen térmica resultante, de la velocidad
de la cámara, y de la constante de tiempo para el objeto particular
(véase a continuación). Pueden utilizarse aproximadamente 10
imágenes para establecer una imagen térmica, mientras que
aproximadamente 25 imágenes proporcionan normalmente una resolución
adecuada, y aproximadamente 100 imágenes establecen una buena
resolución de la imagen térmica. Generalmente, hasta
aproximadamente 500 imágenes pueden obtenerse en el estado actual de
la tecnología del vídeo, prefiriéndose más de aproximadamente
25.
Cuando el dispositivo de calentamiento y la
cámara de vídeo se sitúan en el mismo lado del objeto, la constante
de tiempo, \tau_{c}, utilizada para establecer el periodo de
tiempo para tomar las imágenes térmicas, se obtiene de la ecuación
1, en la que la profundidad es el espesor del objeto.
(1)\tau_{c} =
\frac{4 \
l^{2}}{\pi^{2}\kappa}
\tau_{c} = constante de tiempo
"característica"
\kappa = difusividad térmica para el
objeto
l = profundidad
Cuando la cámara y el calentador se sitúan en
lados opuestos del objeto, el factor de 4 desaparece de la ecuación
1. Puesto que el equilibrio térmico se consigue en un objeto tras
aproximadamente 5 constantes de tiempo características, el periodo
de tiempo utilizado para tomar las imágenes térmicas es normalmente
equivalente a de aproximadamente 3 a aproximadamente 5 constantes de
tiempo, \tau_{c}, o más.
El dispositivo de vídeo es preferentemente una
cámara de matriz de plano focal de alta velocidad, o un dispositivo
similar, con una velocidad de cuadro de al menos aproximadamente 60
cuadros por segundo hasta aproximadamente 250 cuadros por segundo o
superior y una sensibilidad a la temperatura de la cámara de al
menos aproximadamente 0,01ºC a aproximadamente 0,02ºC. La resolución
mínima aceptable depende de la resolución deseada de la copia de la
imagen final, prefiriéndose normalmente una resolución de 128 x 128
píxeles o superior.
Las imágenes térmicas guardadas se utilizan para
determinar cada contraste de píxeles restando la intensidad media
de píxeles (b) para esa imagen (punto en el tiempo) de la intensidad
de píxeles individual (a) en ese punto en el tiempo. Entonces se
traza el contraste frente al tiempo para cada píxel (véase la figura
2). El contraste a lo largo del lugar del defecto alcanza un máximo
en un momento que corresponde a cuando se tomó la imagen mediante
la cámara de vídeo, el número de imagen. Si se indica el momento en
el que tiene lugar el pico, puede determinarse la profundidad del
defecto; una aproximación de la profundidad viene dada por la
ecuación 2:
(2)l =
\sqrt{\frac{\kappa\tau_{pico}}{3}}
l =
profundidad
\tau_{pico} = tiempo máximo
\kappa = la "difusividad térmica" del
medio medida en unidades cgs de cm^{2}/s.
La ecuación 2 es particularmente útil cuando el
espesor del defecto no obliga al calor a fluir alrededor del
defecto; un defecto "de calor transversal" (véase la figura 3A,
un defecto "de calor transversal" frente a la figura 3B, un
defecto "de calor lateral").
Sin embargo, cuando la velocidad de difusión del
calor es más rápida alrededor del defecto que a través del defecto
(figura 3B), el pico de contraste no es evidente a partir del
gráfico del contraste de píxeles (figura 4). En consecuencia, la
derivada con respecto al tiempo de la curva de contraste se toma con
el fin de determinar el pico de contraste derivado. La profundidad
del defecto "de calor lateral" puede determinarse a partir del
tiempo máximo utilizando la ecuación 3 siguiente:
(3)l = 0.524
\pi
\sqrt{\kappa\tau_{i}}
en la
que
(4)\tau_{c} =
1.10\tau_{i}
l =
profundidad
\tau_{c} = constante de tiempo
"característica"
\tau_{i} = el tiempo de inflexión máxima
derivada
\kappa = la "difusividad térmica" del
medio medida en unidades cgs de cm^{2}/s.
Se estableció la precisión de la presente
invención utilizando un objeto que presentaba una serie de defectos
planos colocados cuidadosamente. En referencia a las figuras 6, 6A,
6B, 6C, los defectos 1, 2, 3, 4 y 5 presentaban el
mismo diámetro, 22 milímetros (mm), con profundidades variables, 1,3
mm, 1,6 mm, 1,9 mm, 2,2 mm, y 2,5 mm, respectivamente. Los
defectos 6, 7, 8, 9, 10 y 11 presentaban la misma
profundidad, 1,3 mm, con diámetros variables de 22 mm, 16,5 mm, 11
mm, 8,25 mm, 5,5 mm, y 2,75 mm, respectivamente. Los
defectos 12, 13, y 14 presentaban el mismo diámetro,
33 mm, con profundidad variable, 1,3 mm, 1,9 mm, y 2,5 mm,
respectivamente.
Los parámetros de la prueba fueron tal como
sigue: (1) cada cuadro de imagen consistió en píxeles NXN (que
corresponde a un elemento de resolución en la superficie del objeto)
en los que N era 256; (2) el número de cuadros de imagen, Z, que
normalmente oscila desde 1 hasta 400 para N = 128, y desde 1 hasta
200 para N = 256, era de 100; (3) cada píxel ocupaba 2 bytes de
memoria y se representó mediante un número de 12 bits desde 0 hasta
4095, que representa la intensidad de radiación térmica.
Se calentó el objeto aproximadamente 5ºC con un
pulso de calor de 4 megavatios desde una lámpara de destello
durante 0,010 segundos. Una vez calentado, se grabó cada intensidad
del elemento de resolución utilizando una cámara de matriz de plano
focal de alta velocidad con una resolución de 256 x 256 píxeles que
funcionó durante aproximadamente 25 segundos, con cada píxel
representado por 12 bits. Se determinaron los parámetros de usuario
y se introdujeron al sistema, incluyendo: número de cuadros de
inicio que se utilizan para el análisis (se omiten los cuadros
tomados antes de calentar la superficie); constante de reglaje
silencioso (squelch constant); supresión de ruido (descarta las
localizaciones de píxeles cuyo valor absoluto del pico menos el
valor inicial o final de la curva de contraste es menor que esta
constante); campo de visión (distancia desde la cámara infrarroja
hasta el objeto; permite cambiar la escala y por tanto una
determinación de tamaño precisa). Se determinó el contraste de cada
píxel con respecto a la intensidad media de píxeles para la imagen
completa utilizando la diferencia entre los tiempos de píxel y los
tiempos medios de píxel que obtiene un contraste fijado. Se realizó
esta operación para cada píxel en cada cuadro de imagen, produciendo
un conjunto de curvas de contraste. Entonces se determinó la
derivada de cada curva de contraste utilizando un procedimiento
diferencial de 6 puntos. Se guardó la información de los picos de
contraste derivados guardando el número de cuadros de la imagen que
produjo el pico para cada curva de contraste derivada, o suprimiendo
esta información para localizaciones de píxel que exhibían un ruido
o contraste bajo. Entonces se utilizó la localización de cuadro de
imagen en la que tenía lugar el pico de contraste derivado para
determinar la profundidad de los defectos, que se mostró
visualmente utilizando un espectro de color de intensidad tal como
se muestra en la figura 7. Obsérvese, que la numeración de los
defectos mostrados en las figuras 7, 8 y 9 concuerda con el número
presentado en la figura 6 que revela los defectos detectados en las
figuras 7, 8 y 9.
Se produjo la copia de la imagen de los defectos
asignando los números de cuadros máximo guardados para cada píxel a
uno de los colores en la paleta de 16 colores mostrada en el lado
derecho de las figuras 7, 8 y 9. Esto se realizó tomando el número
total de colores (16) dividido entre el número total de cuadros
(100) y multiplicando entonces esto por el número de cuadros máximo
para el píxel indicado. Entonces se redondeó este número para dar
un índice entero en la paleta de colores que selecciona uno de los
16 colores posibles para representar este píxel. Entonces se repite
este procedimiento para todas las localizaciones de píxel en la
imagen. Se mejora además la imagen utilizando 4 niveles de
intensidad para cada color, que se muestran de izquierda a derecha
en la paleta de colores en las figuras 7, 8 y 9. El pico más grande
corresponde a la mayor intensidad (nivel 1) de un color indicado y
los picos más pequeños corresponden a la menor intensidad (nivel 4)
de un color indicado (véanse las figuras 7, 8 y 9).
Por el contrario, la figura 8 es una copia de la
imagen de la presente invención que representa una técnica de
formación de imágenes de la técnica anterior que se basa en una
imagen instantánea del perfil de intensidad. Tal como resulta
evidente a partir de esta figura 8, se tomó la "imagen
instantánea" en un buen momento de tiempo puesto que se
revelaron todos los defectos. Sin embargo, la mayoría de los
defectos parecen estar localizados a la misma profundidad. En
consecuencia, no puede determinarse la profundidad real de ninguno
de los defectos. Adicionalmente, el defecto (11) casi no es visible
y es difícil de identificar como un defecto.
La figura 9, que también es una copia de la
imagen utilizando una termografía transitoria de la técnica
anterior, proporciona de manera similar información confusa. En
esta figura los bordes de los defectos aparecen menos profundos que
el centro de los defectos. En consecuencia, aunque los defectos son
planos, aparecen como cóncavos. De nuevo, no puede determinarse con
precisión la profundidad de los defectos.
La presente invención proporciona numerosas
ventajas frente a los ensayos no destructivos de la técnica anterior
incluyendo: eliminar virtualmente el error humano, proporcionar la
capacidad para localizar un defecto, y simplificar la imagen. El
procedimiento convencional de la técnica anterior se basaba en un
operario viendo numerosas imágenes o se basaba en una única
"imagen instantánea" de la superficie, es decir el error
humano, detectaba simplemente la existencia de un defecto. La
presente invención permite la determinación precisa del tamaño y la
profundidad del defecto, mientras que la técnica anterior no podía
aclarar la profundidad con precisión.
Claims (13)
1. Procedimiento para detectar un defecto (1
a 14) en un objeto que presenta una superficie, estando dividida
dicha superficie en una serie de elementos de resolución, que
comprende las etapas siguientes:
- a.
- calentar la superficie del objeto;
- b.
- grabar una pluralidad de imágenes térmicas de los elementos de resolución sobre dicha superficie calentada a lo largo de un periodo de tiempo, en el que cada uno de dichos elementos de resolución corresponden a un píxel;
- c.
- determinar la intensidad de píxeles individual para cada una de dichas imágenes térmicas;
- d.
- determinar la intensidad media de píxeles para cada imagen térmica;
- e.
- obtener el contraste de píxeles para cada uno de dichos píxeles en cada una de dichas imágenes térmicas restando dicha intensidad media de píxeles de dicha intensidad de píxeles individual; y
- f.
- determinar la profundidad de un defecto en el objeto basándose en dicho contraste de píxeles.
2. Procedimiento según la reivindicación 1,
en el que se determina la profundidad del defecto utilizando un
contraste de píxeles, obteniendo un pico de contraste, y
determinando de ese modo la profundidad del defecto utilizando la
fórmula siguiente:
l =
\sqrt{\frac{\kappa\tau_{pico}}{3}}
en la que \tau_{pico} es el
tiempo máximo, l es la profundidad del defecto, y \kappa es la
difusividad térmica del
objeto.
3. Procedimiento según la reivindicación 1,
en el que se determina la profundidad del defecto calculando la
derivada con respecto al tiempo de un contraste de píxeles y
obteniendo un pico de contraste derivado.
4. Procedimiento según la reivindicación 3,
en el que, cuando dicho calentamiento y grabación tienen lugar en un
mismo lado del objeto, se determina la profundidad del defecto
utilizando la fórmula siguiente:
l =
\frac{\pi}{2}
\sqrt{\kappa\tau_{c}}
en la que \tau_{c} es una
constante de tiempo característica, para los datos de
tiempo-temperatura del elemento de resolución
respectivo, l es la profundidad del defecto, y \kappa es la
difusividad térmica del
objeto.
5. Procedimiento según la reivindicación 3,
en el que, cuando dicho calentamiento y grabación tienen lugar en
lados opuestos del objeto, se determina la profundidad del defecto
utilizando la fórmula siguiente:
l = \pi
\sqrt{\kappa\tau_{c}}
en la que \tau_{c} es una
constante de tiempo característica, para los datos de
tiempo-temperatura del elemento de resolución
respectivo, l es la profundidad del defecto, y \kappa es la
difusividad térmica del
objeto.
6. Procedimiento según cualquiera de las
reivindicaciones 1 a 5, que comprende asimismo la producción de una
copia de la imagen del objeto que utiliza un espectro de color para
presentar la profundidad y la posición lateral del defecto.
7. Aparato para detectar un defecto (1 a 14)
en un objeto que presenta una superficie que puede visualizarse como
una serie de píxeles, que comprende:
- a.
- un calentador para calentar la superficie del objeto;
- b.
- una grabadora para grabar la intensidad de píxeles individual para cada uno de dichos píxeles;
- c.
- unos medios para determinar la intensidad media de píxeles;
- d.
- unos medios para determinar el contraste de píxeles para cada uno de dichos píxeles restando dicha intensidad media de píxeles de dicha intensidad de píxeles individual; y
\newpage
- e.
- unos medios para determinar la profundidad de un defecto en el objeto basándose en dicho contraste de píxeles.
8. Aparato según la reivindicación 7, en el
que dicho calentador es una lámpara de destello, lámpara de cuarzo,
dispositivo de microondas, o láser.
9. Aparato según la reivindicación 7 u 8, en
el que los medios para determinar la profundidad del defecto se
adaptan para utilizar el contraste de píxeles, obteniendo un pico de
contraste y determinando la profundidad utilizando la fórmula
siguiente:
l =
\sqrt{\frac{\kappa\tau_{pico}}{3}}
en la que \tau_{pico} es el
tiempo máximo, l es la profundidad del defecto, y \kappa es la
difusividad térmica del
objeto.
10. Aparato según la reivindicación 7 u 8, en
el que los medios para determinar la profundidad del defecto se
adaptan para calcular la derivada con respecto al tiempo del
contraste de píxeles y obteniendo un pico de contraste derivado.
11. Aparato según la reivindicación 10, en el
que el calentador y la grabadora se sitúan en el mismo lado del
objeto y en el que los medios para determinar la profundidad del
defecto utilizan la fórmula siguiente:
l =
\frac{\pi}{2}\sqrt{\kappa\tau_{c}}
en la que \tau_{c} es una
constante de tiempo característica, para los datos de
tiempo-temperatura del elemento de resolución
respectivo, l es la profundidad del defecto, y \kappa es la
difusividad térmica del
objeto.
12. Aparato según la reivindicación 10, en el
que el calentador y la grabadora se sitúan en lados opuestos del
objeto y en el que los medios para determinar la profundidad del
defecto utilizan la fórmula siguiente:
l =
\pi\sqrt{\kappa\tau_{c}}
en la que \tau_{c} es una
constante de tiempo característica para los datos de
tiempo-temperatura del elemento de resolución
respectivo, l es la profundidad del defecto, y \kappa es la
difusividad térmica del
objeto.
13. Aparato según cualquiera de las
reivindicaciones 7 a 12, que comprende además unos medios para
formar una copia de la imagen que se adaptan para presentar la
profundidad y la posición lateral de los defectos utilizando un
espectro de color.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US08/739,572 US5711603A (en) | 1996-10-30 | 1996-10-30 | Nondestructive testing: transient depth thermography |
| US739572 | 1996-10-30 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| ES2262168T3 true ES2262168T3 (es) | 2006-11-16 |
Family
ID=24972919
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| ES97118977T Expired - Lifetime ES2262168T3 (es) | 1996-10-30 | 1997-10-30 | Ensayos no destructivos: termografia de profundidad transitoria. |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5711603A (es) |
| EP (1) | EP0840110B1 (es) |
| JP (1) | JPH10142179A (es) |
| KR (1) | KR100464737B1 (es) |
| DE (1) | DE69735744T2 (es) |
| ES (1) | ES2262168T3 (es) |
| TW (1) | TW407200B (es) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| ES2336166A1 (es) * | 2007-04-11 | 2010-04-08 | Fundacion Centro De Tecnologias Aeronauticas | Metodo de inspeccion de defectos producidos en material compuesto de fibra de carbono por pinchazo en bolsa durante el proceso de fabricacion. |
Families Citing this family (78)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2760529B1 (fr) * | 1997-03-05 | 1999-05-28 | Framatome Sa | Procede d'examen photothermique d'une piece |
| FR2760528B1 (fr) * | 1997-03-05 | 1999-05-21 | Framatome Sa | Procede et dispositif d'examen photothermique d'un materiau |
| US6033107A (en) * | 1997-07-15 | 2000-03-07 | Temptronic Corporation | Temperature mapping system |
| US6013915A (en) * | 1998-02-10 | 2000-01-11 | Philip Morris Incorporated | Process control by transient thermography |
| US6422743B1 (en) * | 1999-03-26 | 2002-07-23 | Allison Advanced Development Company | Method for determining heat transfer performance of an internally cooled structure |
| US6394646B1 (en) * | 1999-04-16 | 2002-05-28 | General Electric Company | Method and apparatus for quantitative nondestructive evaluation of metal airfoils using high resolution transient thermography |
| US6367969B1 (en) | 1999-07-21 | 2002-04-09 | General Electric Company | Synthetic reference thermal imaging method |
| US6367968B1 (en) | 1999-07-21 | 2002-04-09 | General Electric Company | Thermal resonance imaging method |
| US6859285B1 (en) | 1999-08-31 | 2005-02-22 | Og Technologies, Inc. | Optical observation device and method for observing articles at elevated temperatures |
| GB9924425D0 (en) | 1999-10-16 | 1999-12-15 | British Aerospace | Material analysis |
| US6751342B2 (en) | 1999-12-02 | 2004-06-15 | Thermal Wave Imaging, Inc. | System for generating thermographic images using thermographic signal reconstruction |
| EP1258136B8 (en) * | 1999-12-02 | 2009-04-22 | Thermal Wave Imaging, Inc. | Method and system for reference-free thermographic detection of subsurface defects using compressed image data |
| US6575620B1 (en) * | 2000-02-15 | 2003-06-10 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Method and device for visually measuring structural fatigue using a temperature sensitive coating |
| AU2002214889A1 (en) * | 2000-12-11 | 2002-06-24 | Art Advanced Research Technologies, Inc / Art Recherches Et Technologies Avancees, Inc. | Method and apparatus for detection of defects using localized heat injection of short laser pulses |
| US6517238B2 (en) | 2001-01-18 | 2003-02-11 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Thermal imaging measurement of lateral diffusivity and non-invasive material defect detection |
| US6542849B2 (en) | 2001-01-19 | 2003-04-01 | The University Of Chicago | Method for determining defect depth using thermal imaging |
| US6517236B2 (en) | 2001-02-15 | 2003-02-11 | The University Of Chicago | Method and apparatus for automated thermal imaging of combustor liners and other products |
| WO2002089042A1 (en) * | 2001-04-13 | 2002-11-07 | Thermal Wave Imaging, Inc. | System for generating thermographic images using thermographic signal reconstruction |
| JP2004529359A (ja) * | 2001-05-21 | 2004-09-24 | プレスコ テクノロジー インコーポレーテッド | 自動化されたプロセス制御物品検査アプリケーションの中でスナップショット動作熱赤外線イメージングを提供するための装置および方法 |
| EP1326059A1 (de) * | 2002-01-08 | 2003-07-09 | Christian Florin | Verfahren und Messgerät zur Kontrolle von Eigenschaften eines Mehrlagenschichtaufbaus |
| DE10202326A1 (de) * | 2002-01-23 | 2003-11-13 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren zur Prüfung der Haftung von Beschichtungen auf einem Substrat |
| US6712502B2 (en) * | 2002-04-10 | 2004-03-30 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Synchronized electronic shutter system and method for thermal nondestructive evaluation |
| US7060991B2 (en) * | 2002-04-11 | 2006-06-13 | Reilly Thomas L | Method and apparatus for the portable identification of material thickness and defects along uneven surfaces using spatially controlled heat application |
| US6730912B2 (en) * | 2002-08-30 | 2004-05-04 | The University Of Chicago | Method and apparatus for detecting normal cracks using infrared thermal imaging |
| US7060971B2 (en) * | 2002-09-13 | 2006-06-13 | Siemens Westinghouser Power Corporation | Reference standard systems for thermosonic flaw detection |
| US20040120383A1 (en) * | 2002-12-19 | 2004-06-24 | The Boeing Company | Non-destructive testing system and method using current flow thermography |
| US7425093B2 (en) * | 2003-07-16 | 2008-09-16 | Cabot Corporation | Thermography test method and apparatus for bonding evaluation in sputtering targets |
| US20050018748A1 (en) * | 2003-07-24 | 2005-01-27 | Ringermacher Harry Israel | Actively quenched lamp, infrared thermography imaging system, and method for actively controlling flash duration |
| US7129492B2 (en) * | 2003-07-29 | 2006-10-31 | Toyota Motor Manufacturing North America, Inc. | Systems and methods for inspecting coatings |
| US20060114965A1 (en) * | 2003-10-10 | 2006-06-01 | Murphy John C | Thermal-based methods for nondestructive evaluation |
| DE102004037575A1 (de) * | 2004-08-03 | 2006-03-16 | Daimlerchrysler Ag | Prüfvorrichtung und Prüfverfahren zur fertigungsintegrierbaren, zerstörungsfreien Prüfung insbesondere von Membran-Elektroden-Anordnungen zur Verwendung in Brennsoffzellen |
| US7196509B2 (en) * | 2004-09-23 | 2007-03-27 | Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Thermopile temperature sensing with color contouring |
| EP1828754B1 (en) * | 2004-11-12 | 2013-07-17 | Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. | Systems and methods for inspecting coatings, surfaces and interfaces |
| WO2006074690A1 (de) * | 2005-01-12 | 2006-07-20 | Technische Universität Carolo-Wilhelmina Zu Braunschweig | Thermographie- verfahren und - vorrichtung zur bestimmung des schädigungszustandes eines bauteiles |
| US8362431B2 (en) * | 2005-03-15 | 2013-01-29 | Mount Holyoke College | Methods of thermoreflectance thermography |
| US7591583B2 (en) * | 2005-05-18 | 2009-09-22 | Federal-Mogul World Wide, Inc. | Transient defect detection algorithm |
| US7409313B2 (en) * | 2005-12-16 | 2008-08-05 | General Electric Company | Method and apparatus for nondestructive evaluation of insulative coating |
| FR2895688B1 (fr) * | 2005-12-30 | 2010-08-27 | Pellenc Selective Technologies | Procede et machine automatiques d'inspection et de tri d'objets non metalliques |
| US20070230536A1 (en) * | 2006-03-28 | 2007-10-04 | Mtu Aero Engines Gmbh | Method and apparatus for detection of flaws in a metal component |
| US7549339B2 (en) * | 2006-09-05 | 2009-06-23 | United Technologies Corporation | Inverse thermal acoustic imaging part inspection |
| US7365330B1 (en) * | 2006-09-18 | 2008-04-29 | Uchicago Argonne, Llc | Method for thermal tomography of thermal effusivity from pulsed thermal imaging |
| US7516663B2 (en) * | 2006-11-03 | 2009-04-14 | General Electric Company | Systems and method for locating failure events in samples under load |
| US8055054B2 (en) * | 2006-12-15 | 2011-11-08 | General Electric Company | Method and apparatus for thermographic nondestructive evaluation of an object |
| US7549789B2 (en) * | 2007-06-20 | 2009-06-23 | General Electric Company | Method and apparatus for thermographic nondestructive evaluation of an object |
| US8393784B2 (en) * | 2008-03-31 | 2013-03-12 | General Electric Company | Characterization of flaws in composites identified by thermography |
| DE102008022699A1 (de) * | 2008-05-07 | 2009-11-12 | Hans-Peter Zimmer | Verfahren und Vorrichtung zum Heizen von Rotorblättern |
| KR101260146B1 (ko) * | 2008-09-17 | 2013-05-02 | 신닛테츠스미킨 카부시키카이샤 | 재료의 표면 상의 그리고 표면 층 내의 결함의 양쪽 모두를 검출하는 방법 그리고 이러한 방법을 위한 시스템 |
| ES2350665B1 (es) * | 2008-12-02 | 2011-11-18 | Gestamp Vigo, S.A | Procedimiento y dispositivo para detección de defectos de embutición. |
| WO2010106639A1 (ja) * | 2009-03-17 | 2010-09-23 | 西日本高速道路エンジニアリング四国株式会社 | 構造物の損傷深さ判定方法とその装置及び構造物の損傷処置判定方法とその装置 |
| US8204294B2 (en) * | 2009-11-25 | 2012-06-19 | Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. | Systems and methods for detecting defects in coatings utilizing color-based thermal mismatch |
| US8692887B2 (en) * | 2010-08-27 | 2014-04-08 | General Electric Company | Thermal imaging method and apparatus for evaluating coatings |
| US9007466B2 (en) | 2011-04-27 | 2015-04-14 | General Electric Company | System and method for thermographic inspection |
| CN102221339B (zh) | 2011-06-09 | 2012-09-05 | 首都师范大学 | 脉冲红外热波技术测厚方法 |
| US9689820B2 (en) * | 2011-10-25 | 2017-06-27 | Purdue Research Foundation | Thermography for battery component quality assurance |
| US10191109B2 (en) * | 2011-11-08 | 2019-01-29 | Pragma Design, Inc. | Embedded transient scanning systems, transient scanning data visualization systems, and/or related methods |
| US9746381B2 (en) | 2012-06-22 | 2017-08-29 | United Technologies Corporation | Laser instrumentation bracket |
| JP6122026B2 (ja) * | 2012-10-18 | 2017-05-10 | 吉野石膏株式会社 | 石膏系建築用ボード中の空隙の検出方法及び石膏系建築用ボードの製造方法 |
| WO2014073944A1 (es) * | 2012-11-09 | 2014-05-15 | Universidad Nacional Autónoma de México | Sistema y proceso de inspección dinámica del interior de materia suave |
| CN103148799B (zh) * | 2013-01-30 | 2014-11-26 | 首都师范大学 | 基于对数一阶微分峰值法的缺陷深度测量方法 |
| US9500611B2 (en) | 2013-09-26 | 2016-11-22 | General Electric Company | Lamp assembly for a thermographic nondestructive evaluation system |
| WO2015123242A2 (en) * | 2014-02-13 | 2015-08-20 | Brown Manufacturing Group, Inc. | Ink curing apparatus and method |
| SG10201501913VA (en) | 2014-03-12 | 2015-10-29 | Agency Science Tech & Res | Method of Detecting Defects In An Object Based On Active Thermography And A System Thereof |
| US9709443B2 (en) * | 2015-12-07 | 2017-07-18 | The Boeing Company | Detecting inclusions and disbonds in green material repairs with thermography |
| US9519844B1 (en) * | 2016-01-22 | 2016-12-13 | The Boeing Company | Infrared thermographic methods for wrinkle characterization in composite structures |
| CN105784761B (zh) * | 2016-03-31 | 2019-03-22 | 中国地质大学（武汉） | 一种非饱和土热物性参数测试系统 |
| CN105784764A (zh) * | 2016-05-10 | 2016-07-20 | 中国地质大学（武汉） | 一种野外便携式岩石热物性参数测试装置及方法 |
| US10242439B1 (en) | 2016-08-17 | 2019-03-26 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Contrast based imaging and analysis computer-implemented method to analyze pulse thermography data for nondestructive evaluation |
| US10343211B2 (en) | 2016-08-25 | 2019-07-09 | Honda Motor Co., Ltd. | Thermal camera system for die-cast machine |
| US10473603B2 (en) * | 2017-04-18 | 2019-11-12 | Saudi Arabian Oil Company | Apparatus, system and method for inspecting composite structures using quantitative infra-red thermography |
| US10564108B2 (en) * | 2017-07-03 | 2020-02-18 | Saudi Arabian Oil Company | Apparatus and method for nondestructively inspecting fiberglass and nonmetallic pipes |
| WO2019028465A1 (en) | 2017-08-04 | 2019-02-07 | University Of South Florida | CONTACTLESS SYSTEM AND METHOD FOR DETECTING DEFECTS IN THE ADDITIVE MANUFACTURING PROCESS |
| DE202017105967U1 (de) * | 2017-09-29 | 2018-01-31 | Airbus Operations Gmbh | Farbbasiertes Heizsystem |
| JP7209270B2 (ja) * | 2019-02-06 | 2023-01-20 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 厚み計測方法及び厚み計測装置、並びに欠陥検出方法及び欠陥検出装置 |
| CN112288676A (zh) * | 2019-07-12 | 2021-01-29 | 富士通株式会社 | 检测产品缺陷的方法和装置 |
| FR3102849B1 (fr) | 2019-11-04 | 2022-02-11 | Office National Detudes Rech Aerospatiales | Analyse photothermique d’une piece de materiau solide |
| CN113406145A (zh) * | 2020-03-17 | 2021-09-17 | 觉芯电子(无锡)有限公司 | 一种基于红外热成像的缺陷检测方法、装置及系统 |
| WO2023014327A2 (en) * | 2021-08-03 | 2023-02-09 | Borcelik Celik San. Tic. A.S. | A detection mechanism for determining deformation on a work piece |
| CN114354689B (zh) * | 2021-12-30 | 2023-09-26 | 首都师范大学 | 方波激励红外热波成像测量样品缺陷深度的方法 |
Family Cites Families (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2275773A (en) * | 1939-03-30 | 1942-03-10 | Detroit Harvester Co | Fastening device |
| US4854724A (en) * | 1984-07-09 | 1989-08-08 | Lockheed Corporation | Method of and apparatus for thermographic evaluation of spot welds |
| GB8431928D0 (en) * | 1984-12-18 | 1985-01-30 | Stevenson G M | Non-destructively testing heat shrinkable sleeves |
| JPS62172249A (ja) * | 1986-01-25 | 1987-07-29 | Kajima Corp | 煙突の劣化診断方法及び装置 |
| US4996426A (en) * | 1989-09-11 | 1991-02-26 | National Research Council Of Canada | Device for subsurface flaw detection in reflective materials by thermal transfer imaging |
| US5032727A (en) * | 1990-09-14 | 1991-07-16 | Digital Equipment Corporation | Product defect detection using thermal ratio analysis |
| US5250809A (en) * | 1992-01-24 | 1993-10-05 | Shuji Nakata | Method and device for checking joint of electronic component |
| DE4204934A1 (de) * | 1992-02-19 | 1993-08-26 | Otto Dr Rer Nat Kroggel | Verfahren zur riss- und fehlstellenerkennung bei bauteilen aus nichtmetallischen werkstoffen insbesondere natursteinplatten und steinen |
| US5246291A (en) * | 1992-06-01 | 1993-09-21 | Motorola, Inc. | Bond inspection technique for a semiconductor chip |
| US5240329A (en) * | 1992-08-14 | 1993-08-31 | Ford Motor Company | Non-destructive method for detecting defects in a workpiece |
| US5292195A (en) * | 1992-09-09 | 1994-03-08 | Martin Marietta Corporation | Thermographic evaluation technique |
| GB9303219D0 (en) * | 1993-02-18 | 1993-04-07 | Horne Subsea Ltd | Sub-surface defect detection and measurement |
| US5376793A (en) * | 1993-09-15 | 1994-12-27 | Stress Photonics, Inc. | Forced-diffusion thermal imaging apparatus and method |
| US5539656A (en) * | 1994-10-11 | 1996-07-23 | United Technologies Corporation | Crack monitoring apparatus |
-
1996
- 1996-10-30 US US08/739,572 patent/US5711603A/en not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-10-02 TW TW086114374A patent/TW407200B/zh not_active IP Right Cessation
- 1997-10-30 JP JP9298025A patent/JPH10142179A/ja active Pending
- 1997-10-30 ES ES97118977T patent/ES2262168T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1997-10-30 EP EP97118977A patent/EP0840110B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-10-30 KR KR1019970056327A patent/KR100464737B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 1997-10-30 DE DE69735744T patent/DE69735744T2/de not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| ES2336166A1 (es) * | 2007-04-11 | 2010-04-08 | Fundacion Centro De Tecnologias Aeronauticas | Metodo de inspeccion de defectos producidos en material compuesto de fibra de carbono por pinchazo en bolsa durante el proceso de fabricacion. |
| ES2336166B1 (es) * | 2007-04-11 | 2011-02-10 | Fundacion Centro De Tecnologias Aeronauticas | Metodo de inspeccion de defectos producidos en material compuesto de fibra de carbono por pinchazo en bolsa durante el proceso de fabricacion. |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR19980033317A (ko) | 1998-07-25 |
| KR100464737B1 (ko) | 2005-05-24 |
| EP0840110A3 (en) | 2000-03-22 |
| DE69735744D1 (de) | 2006-06-01 |
| DE69735744T2 (de) | 2007-04-12 |
| TW407200B (en) | 2000-10-01 |
| US5711603A (en) | 1998-01-27 |
| EP0840110B1 (en) | 2006-04-26 |
| EP0840110A2 (en) | 1998-05-06 |
| JPH10142179A (ja) | 1998-05-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| ES2262168T3 (es) | Ensayos no destructivos: termografia de profundidad transitoria. | |
| KR100720214B1 (ko) | 열 촬영 데이터 프레임 분석 방법, ｉｒ 과도 서모그래피 방법, 피검체 두께 결정 방법 및 적외선 과도 서모그래피 방법 | |
| JP5178001B2 (ja) | 絶縁塗膜の非破壊評価の装置 | |
| Lau et al. | A quantitative analysis of pulsed video thermography | |
| Tashan et al. | Detection of cracks in concrete strengthened with CFRP systems using infra-red thermography | |
| KR100697477B1 (ko) | 피검체 두께 결정 방법 및 장치와 ｉｒ 과도 서모그래피 방법 | |
| US20050117145A1 (en) | Detection of imperfections in precious stones | |
| J. Golrokh et al. | Real-time thermal imaging-based system for asphalt pavement surface distress inspection and 3D crack profiling | |
| Crisóstomo et al. | The Importance of Emissivity on Monitoring and Conservation of | |
| Lu et al. | Concrete pavement service condition assessment using infrared thermography | |
| Cannas et al. | Modeling of active infrared thermography for defect detection in concrete structures | |
| US7060991B2 (en) | Method and apparatus for the portable identification of material thickness and defects along uneven surfaces using spatially controlled heat application | |
| Tomić et al. | Application of pulsed flash thermography method for specific defect estimation in aluminum | |
| Plotnikov et al. | Advanced image processing for defect visualization in infrared thermography | |
| Ding et al. | Fourier phase analysis combined with a fusion scheme in long pulse thermography | |
| Dudzik | A simple method for defect area detection using active thermography | |
| RU2224245C2 (ru) | Способ определения теплофизических характеристик материалов | |
| Dikić et al. | Characterization of periodic cylindrical subsurface defects by pulsed flash thermography | |
| DELOUARD et al. | Infrared thermography development for composite material evaluation | |
| Grinzato | IR thermography applied to historical buildings | |
| Contreras et al. | The Search for'Defects' by Non-invasive Techniques: Development and Application of Pulsed-Transmissive and Reflective Thermography in Fiberglass Material | |
| Schlichting et al. | Imaging cracks by laser excited thermography | |
| Ostrowski et al. | Association of infra-red thermography and thermal impedance applied to the detection of empty spaces under concrete slabs | |
| Lu et al. | Research Article Concrete Pavement Service Condition Assessment Using Infrared Thermography | |
| Khadem et al. | Preliminary Experimental test of Thermal Exploration Using a Termocamera for Specific Applications in Cultural Heritage |