JP2000252078A - El表示素子およびその製造方法 - Google Patents

El表示素子およびその製造方法

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JP2000252078A
JP2000252078A JP11253019A JP25301999A JP2000252078A JP 2000252078 A JP2000252078 A JP 2000252078A JP 11253019 A JP11253019 A JP 11253019A JP 25301999 A JP25301999 A JP 25301999A JP 2000252078 A JP2000252078 A JP 2000252078A
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insulating film
line
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JP11253019A
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English (en)
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Hironari Matsubara
宏成 松原
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Toyota Motor Corp
Original Assignee
Toyota Motor Corp
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/17Passive-matrix OLED displays
    • H10K59/173Passive-matrix OLED displays comprising banks or shadow masks

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  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 EL表示素子において、リーク不具合を防止
すること。 【解決手段】 本発明のEL表示素子では、第一電極ラ
イン2およびその間を絶縁する絶縁膜3の表面2a,3
aが、同一平面を形成している。それゆえ、この表面2
a,3aの上に積層されるEL発光膜4および第二電極
ライン5の成膜精度が向上するので、EL発光膜4の縁
部にも不完全な部分がなくなる。その結果、第一電極ラ
イン2と第二電極ライン5とが短絡するリーク不具合は
ほぼ完全に防止され、歩留まり率、信頼性および耐久性
が改善される。また、同様の理由で輝度ムラも低減され
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、EL表示素子(エ
レクトロルミネセンス・ディスプレイ・パネル)および
その製造方法の技術分野に属する。EL表示素子には、
有機EL表示素子と無機EL表示素子とがあり、本発明
はいずれも対象技術分野とする。ただし、本発明の技術
手段の中には、有機EL表示素子において特に効果が顕
著なものが含まれている。
【0002】
【従来の技術】(通常技術)周知である通常技術の一例
として、次のような有機EL表示素子とその製造方法に
ついて説明する。
【0003】有機EL表示素子は、図10に示すよう
に、透明基板100と、透明基板100の一方の面に接
合し互いに所定間隔を隔てて配設された多数の透明な導
電体からなる第一電極ラインとしての陽極ライン200
と、互いに隣り合う陽極ライン200を絶縁する堤防状
の絶縁膜300とを有する。そして、透明基板100上
に形成された陽極ライン200の上から、エレクトロル
ミネセンス発光機能をもつEL発光膜(図略)と、多数
の第二電極ラインとしての陰極ライン(図略)とが順に
積層されて、有機EL表示素子が構成されている。
【0004】このような有機EL表示素子を製造するに
は、通常、以下のような製造方法が取られる。
【0005】すなわち、先ず、基板100の一方の面に
接合して、多数の陽極ライン200が、所定の間隔を隔
てて平行にストライプ状に形成される。この際、陽極ラ
イン200は、ITO等の導電性透明膜からなり、通常
はスパッタリングによって形成されている。ただし、そ
のままでは陽極ライン200の表面粗度が粗く、陽極ラ
イン200と陰極ラインとの間でリークを招きやすいの
で、陽極ライン200の表面を研磨して少しでもリーク
を減らすことにより、歩留まりの向上に努めている。
【0006】次に、互いに隣設する陽極ライン200の
間にポリイミドなどからなる絶縁膜300を堤防状に突
出して形成し、絶縁膜300によって互いに隣り合う陽
極ライン200の電気的絶縁を図っている。しかる後、
蒸着などの成膜手段でEL発光膜を積層し、更にEL発
光膜の上に複数本の陰極ラインを陽極ライン200と交
差する方向にストライプ状に積層している。
【0007】しかしながら、このような製造方法では、
有機系のEL発光膜の成膜にあたり、同じく図10に示
すように、EL発光膜を構成する膜形成粒子の入射方向
Sが基板100の法線Pに対して傾いているときがあ
る。このような場合には、隣設する陽極ライン200同
士の電気的絶縁を図る絶縁膜300の高さHcが高いた
め、充分な成膜精度が得られないおそれがある。すなわ
ち、高い堤防状の絶縁膜300で膜形成粒子の入射が遮
られ、EL発光膜が成膜されない未着部分Mが陽極ライ
ン200の表面に生じることがある。
【0008】また、開口401をもつマスク400を用
いてパターンニングするときにおいても、マスク400
と陽極ライン200との距離LAが大きくなる傾向があ
る。その結果、前述と同様に、EL発光膜が成膜されな
い未着部分Mが、陽極ライン200の表面に生じること
がある。
【0009】このように未着部分Mが形成された場合に
は、次工程で陰極ラインを積層すると、未着部分に陰極
ラインが直接に積層されるため、陰極ラインと陽極ライ
ン200とが直接導通するリークの不具合が生じるおそ
れがある。
【0010】このようなリーク不具合は、マスク400
を通してEL発光膜を形成する工程で、基板100ごと
マスク400を自転させることによっておおむね解消す
ることができる。しかし、陽極ライン200の表面から
堤防状に高く突出した絶縁膜300によって形成される
凹凸によって、EL発光膜の厚さが一定でなくなり、極
めて薄い部分やEL発光膜が形成されていない部分が形
成される可能性が残ってしまう。このような可能性は、
膜厚が薄くなるEL発光膜の縁の部分で、特に高くな
る。すると、EL発光膜がない部分や極端に薄い部分を
介して、やはり陰極ラインと陽極ライン200とが直接
導通するリークの不具合が生じるおそれがある。
【0011】(従来技術1)ここで、従来技術1とし
て、特開平8−315981号公報に、陽極ライン20
0および絶縁膜300の上にオーバーハングをもつ隔壁
を形成し、EL発光膜を十分に広く形成してリーク不具
合を防ぐ技術が開示されている。しかしながら従来技術
1によっても、陽極ライン200の表面から堤防状に高
く突出した絶縁膜300によって形成される凹凸に起因
するリーク不具合については、確実に防止できるとは考
えられない。
【0012】(従来技術2)一方、第一電極ラインとし
ての陽極ライン200がITO等の透明導電体から形成
されているが、通常、透明導電体の透明度は光学ガラス
よりもずっと低い。それゆえ、陽極ライン200をあま
り厚く形成すると、EL発光膜によって発光した光のう
ち陽極ライン200に吸収されてしまう分が増え、輝度
の向上という要求に応えられない。
【0013】したがって、陽極ライン200をなるべく
薄くしたいのであるが、その反面、透明導電体は多くの
金属よりも比抵抗が大きいので、陽極ライン200を薄
く形成すると、輝度ムラが大きくなるという不都合が生
じる。そして、輝度を保とうとすると印加電圧をせざる
を得ず、リーク不具合の可能性が高まるとともに、消費
電力が増えるという不都合を生じる。逆に、印加電圧を
一定にしていると抵抗が増える分だけ電流が減ってしま
うので、輝度を向上させたいという要求にやはり応える
ことができない。
【0014】このような二律背反の不都合は、無機EL
表示素子よりも大きい電流で運用される有機EL表示素
子において、特に顕著である。その結果、陽極ライン2
00を薄いままにしながら、陽極ライン200の電気抵
抗を実質的に低下させたいという要求が生じる。
【0015】そこで、従来技術2として、特開平5−3
07997号公報には、このような要求に応えるため
に、陽極ライン200に沿って陽極ライン200と接触
した金属製の補助電極ラインを形成する技術が開示され
ている。同公報には、様々な形式で補助電極ラインを陽
極ライン200に接して形成する例が開示されている
が、どの例にも一長一短があり、決定的に好適な実施例
は開示されていない。
【0016】すなわち、金属製の補助電極ラインは光を
通さないので、各陽極ライン200の上に補助電極ライ
ンを形成してしまうと、補助電極ラインによって光が遮
られる割合が大きくなり、その分だけ輝度が低下してし
まう。このような不都合は、各陽極ライン200の下に
補助電極ラインを形成した場合にも同様に起こる。かと
いって、各陽極ライン200の上下に重ねて二枚の補助
電極ラインを形成すると、工数が増えてコストアップに
つながる。
【0017】一方、陽極ライン200の上からはみ出し
て補助電極ラインを形成する製造方法では、陽極ライン
200と透明基板100との間で段差ができている部分
に成膜することになる。すると、補助電極ラインの横幅
の寸法管理が難しくなり、やはりコストアップにつなが
る。かといって寸法管理が不十分であると、補助電極ラ
インの縁が隣接する陽極ライン200に近接または接触
して、短絡を生じかねない。
【0018】このように、従来技術2によっても、補助
電極ラインの形成に伴うコストアップと発光面積の低減
との両方の不都合を、バランス良く解決することは難し
い。
【0019】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記した実
情に鑑みなされたものであり、次の二つの解決すべき課
題をもつ。第一の課題は、EL表示素子において、第一
電極ラインと第二電極ラインとが短絡するリーク不具合
をほぼ完全に防止することである。第二の課題は、有機
EL表示素子において、あまりコストアップを生じるこ
となく、輝度の向上と輝度ムラの低減と消費電力の低減
とを実現することである。本発明は、前述の第一の課題
と第二の課題とのうち一方を解決していれば良いものと
する。
【0020】
【課題を解決するための手段】[本発明のEL表示素
子] (第1手段)本発明の第1手段は、光透過性をもつ透明
基板と、該透明基板の一方の面に接合し互いに所定間隔
を隔てて配設された多数の透明な導電体からなる第一電
極ラインと、該透明基板の該一方の面に接合し互いに隣
り合う該第一電極ラインの間を絶縁する絶縁膜と、該第
一電極ラインおよび該絶縁膜のうち少なくとも前者の表
面を覆って形成されたエレクトロルミネセンス発光機能
をもつEL発光膜と、該第一電極ラインと所定の角度を
もって該EL発光膜の表面を覆って形成され互いに所定
間隔を隔てて配設された多数の導電体からなる第二電極
ラインとを有するEL表示素子において、前記第一電極
ラインおよび前記絶縁膜は、前記透明基板と背向する側
に実質的に同一面で互いに連続した表面をもつことを特
徴とするEL表示素子である。
【0021】前述のように、第一電極ラインおよび絶縁
膜は透明基板に接合されているが、必ずしも直接接合さ
れていることを要しない。すなわち、透明基板の表面に
薄膜やフィルムが形成されており、その表面に第一電極
ラインおよび絶縁膜が接合されていても、そのEL表示
素子は本手段に含まれるものとする。
【0022】本手段では、第一電極ラインおよび絶縁膜
が、透明基板の表面に交番に形成されているだけではな
く、実質的に同一面で互いに連続した表面を形成してい
る。それゆえ、第一電極ラインおよび絶縁膜が形成する
表面は平滑であって、両者の表面には凹凸がほとんどな
いばかりか、両者が互いに接合する縁部にも実質的に段
差がない。すると、EL発光膜を形成する際に、第一電
極ラインおよび絶縁膜の表面に形成された段差や凹凸に
起因する成膜不良がなくなるので、EL発光膜はほぼ均
一に第一電極ラインを覆って生成される。
【0023】その結果、EL発光膜の上に積層して形成
される第二電極ラインは、EL発光膜の不良部分を介し
て第一電極ラインと近接ないし接触することがなくな
り、リーク不具合を生じることはほぼ完全に防止され
る。そして、リーク不具合が効果的に防止されているの
で、製造時の歩留まりが向上するばかりではなく、信頼
性および耐久性も同様に向上する。また、EL発光膜の
厚さがより均一になるので、輝度ムラが低減され、輝度
の均一性が向上する。
【0024】そればかりではなく、第一電極ラインおよ
び絶縁膜の表面が実質的に同一面であり、その上に形成
されるEL発光膜および第二電極ラインの成膜精度が向
上する。その結果、隙間が形成されることが防止される
ので、湿気等の浸入がより有効に防止され、よりいっそ
う信頼性、耐久性および耐候性が向上する。
【0025】しかも、前述のように、第一電極ラインを
研磨する工程は通常のEL表示素子の製造方法でも行わ
れていることであるから、ほとんどコストアップを生じ
ることなしに、本手段のEL表示素子は製造されうる。
【0026】したがって、本手段のEL表示素子によれ
ば、ほとんどコストアップなしに、第一電極ラインと第
二電極ラインとが短絡するリーク不具合をほぼ完全に防
止することができるという効果がある。そればかりでは
なく、湿気の浸入も防止されているので、EL表示素子
の歩留まり、信頼性、耐久性および耐候性が向上すると
いう効果がある。さらに、成膜精度が向上しEL発光膜
および第二電極ラインの厚さも均一になるので、EL表
示素子の輝度ムラも低減され、輝度の均一性が向上する
という効果がある。
【0027】(第2手段)本発明の第2手段は、前述の
第1手段において、前記EL表示素子は、有機EL表示
素子であって、前記第一電極ラインに沿い該第一電極ラ
インの表面の一部と該第一電極ラインに隣接する絶縁膜
の一部とを覆って形成された補助電極ラインを該第一電
極ライン毎に有することを特徴とする。
【0028】すなわち、本手段は、無機EL表示素子よ
りもずっと大きな電流を流すことを要する有機EL表示
素子である。そして、この有機EL表示素子では、第一
電極ラインに沿って第一電極ラインに接続している補助
電極ラインが、第一電極ラインの表面の一部から絶縁膜
の一部にかけて形成されている。ここで、補助電極ライ
ンのごく一部が第一電極ラインを覆い、他の大部分は絶
縁膜を覆うように、補助電極ラインを形成することもで
きる。
【0029】すると、有機EL発光膜の発光部分のうち
補助電極ラインによって光が遮られる部分は、補助電極
ラインの幅のうち第一電極ラインを覆っている部分だけ
に限定される。その結果、補助電極ラインによる輝度の
低下は抑制されていながら、補助電極ラインによって導
電作用が向上し実質的に第一電極ラインの電気抵抗が低
減されるので、輝度が向上し消費電力が減少する。
【0030】そればかりではなく、第一電極ラインの電
気抵抗に起因して起こる輝度ムラも低減され、輝度の均
一性がさらに向上する。
【0031】しかも、前述のように第一電極ラインおよ
び絶縁膜の表面は実質的に同一面であり、同表面には段
差や凹凸がほとんどないので、補助電極ラインは寸法精
度良く形成されうる。その結果、比較的安価な補助電極
ラインの形成工程によっても、補助電極ラインを寸法精
度良く形成することができるので、補助電極ラインと隣
の第一電極ラインとの間で短絡が起きることを防止する
ことができる。
【0032】したがって、本手段の有機EL表示素子に
よれば、あまりコストアップを生じることなく、輝度の
向上と輝度ムラの低減と消費電力の低減とを実現するこ
とができるという効果がある。
【0033】[本発明の製造方法] (第3手段)本発明の第3手段は、透明基板の一方の面
に交互に接合した多数の第一電極ラインおよび絶縁膜を
形成する成膜工程と、該第一電極ラインおよび該絶縁膜
の表面を研磨して該第一電極ラインの表面と該絶縁膜の
表面とを実質的に同一面にし第一電極ラインと該絶縁膜
とを交互に隣接させる研磨工程と、該同一面の上に少な
くとも一層のEL発光膜および第二電極ラインを積層す
る積層工程とを有することを特徴とするEL表示素子の
製造方法である。
【0034】本手段では、研磨工程により、第一電極ラ
インおよび絶縁膜が、透明基板の表面に交番に形成され
ているだけではなく、実質的に同一面で互いに連続した
表面を形成するに至る。それゆえ、第一電極ラインおよ
び絶縁膜が形成する表面は平滑であって、両者の表面に
は凹凸がほとんどないばかりか、両者が互いに接合する
縁部にも実質的に段差がない。すると、積層工程におい
てEL発光膜を形成する際に、第一電極ラインおよび絶
縁膜の表面に形成された段差や凹凸に起因する成膜不良
がなくなるので、EL発光膜はほぼ均一に第一電極ライ
ンを覆って生成される。
【0035】その結果、EL発光膜の上に積層して形成
される第二電極ラインは、EL発光膜の不良部分を介し
て第一電極ラインと近接ないし接触することがなくな
り、製品であるEL表示素子において、リーク不具合を
生じることはほぼ完全に防止される。そして、リーク不
具合が効果的に防止されているので、製造時の歩留まり
が向上するばかりではなく、EL表示素子の信頼性およ
び耐久性も同様に向上する。また、EL発光膜の厚さが
より均一になるので、EL表示素子の輝度ムラが低減さ
れ、輝度の均一性が向上する。
【0036】そればかりではなく、第一電極ラインおよ
び絶縁膜の表面が実質的に同一面であるので、その上に
形成されるEL発光膜および第二電極ラインの成膜精度
が向上する。その結果、隙間が形成されることが防止さ
れるので、湿気等の浸入がより有効に防止され、EL表
示素子の信頼性、耐久性および耐候性がよりいっそう向
上する。
【0037】しかも、前述のように、第一電極ラインを
研磨する工程は通常のEL表示素子でも行われているこ
とであるから、研磨工程によるコストアップはない。そ
れゆえ、本手段のEL表示素子の製造方法によっては、
前述の通常技術に比べて、ほとんどコストアップを生じ
ることがない。
【0038】したがって、本手段のEL表示素子の製造
方法によれば、ほとんどコストアップなしに、第一電極
ラインと第二電極ラインとが短絡するリーク不具合がほ
ぼ完全に防止されたEL表示素子を製造することができ
るようになるという効果がある。それゆえ、歩留まりが
向上する上に、EL表示素子の信頼性、耐久性および耐
候性も向上するという効果が生じる。そればかりではな
く、成膜精度が向上しEL発光膜および第二電極ライン
の厚さも均一になるので、EL表示素子の輝度ムラも低
減され、輝度の均一性が向上するという効果がある。
【0039】(第4手段)本発明の第4手段は、前述の
第3手段において、前記成膜工程は、前記第一電極ライ
ンを所定の幅で所定の間隔を空けて形成した後、該第一
電極ラインの間を埋め該第一電極ラインを覆う前記絶縁
膜をスピンコーティングにより形成する工程であること
を特徴とする。
【0040】本手段では、互いに隣り合う第一電極ライ
ンの間に絶縁膜がスピンコーティングによって形成され
るので、第一電極ラインだけを形成する場合に比べて成
膜工程で生じるコストアップはほんのわずかである。す
なわち、本手段のEL表示素子の製造方法では、通常の
EL表示素子の製造方法に比べてほとんどコストアップ
が生じない。
【0041】したがって本手段によれば、前述の第3手
段の効果に加えて、さらにコストアップを抑制すること
ができるという効果がある。
【0042】(第5手段)本発明の第5手段は、前述の
第3手段において、前記EL表示素子は有機EL表示素
子であって、前記研磨工程と前記積層工程との間に、前
記第一電極ラインに沿って該第一電極ラインの表面の一
部と前記絶縁膜の表面の一部とを覆う補助電極ラインを
形成する補助工程を有することを特徴とする。
【0043】すなわち、本手段は、無機EL表示素子よ
りもずっと大きな電流を流すことを要する有機EL表示
素子を製造する方法である。そして、本手段では、補助
工程において、第一電極ラインに沿って第一電極ライン
に接続している補助電極ラインが、第一電極ラインの表
面の一部から絶縁膜の表面の一部にかけて形成される。
ここで、補助電極ラインのごく一部が第一電極ラインを
覆い、他の大部分は絶縁膜を覆うように、補助電極ライ
ンを形成することもできる。
【0044】すると、EL発光膜の発光部分のうち補助
電極ラインによって光が遮られる部分は、補助電極ライ
ンの幅のうち第一電極ラインを覆っている部分だけに限
定される。その結果、補助電極ラインによる輝度の低下
は低減されていながら、補助電極ラインによって導電作
用が向上し実質的に第一電極ラインの電気抵抗が低減さ
れているので、EL表示素子の輝度が向上し、EL表示
素子の消費電力が減少する。また、第一電極ラインの電
気抵抗による電圧降下が低減されるので、輝度ムラが低
減され、輝度の均一性がさらに向上する。
【0045】しかも、前述のように第一電極ラインおよ
び絶縁膜の表面は実質的に同一面であり、同表面には凹
凸がほとんどないので、補助工程では、補助電極ライン
は寸法精度良く形成されうる。その結果、比較的安価な
補助電極ラインの形成工程によっても補助電極ラインを
寸法精度良く形成することができるので、補助電極ライ
ンと隣の第一電極ラインとの間で短絡が起きることを防
止することができる。
【0046】したがって、本手段によれば、あまりコス
トアップを生じることなく、輝度が向上し輝度ムラおよ
び消費電力が低減された有機EL表示素子を製造するこ
とができるという効果がある。
【0047】(第6手段)本発明の第6手段は、前述の
第5手段において、前記補助工程は、前記同一面に一様
に金属膜を形成した後、ウェットエッチングおよびドラ
イエッチングのうち一方によってエッチングを施し、前
記補助電極ラインを形成する工程であることを特徴とす
る。
【0048】本手段では、レーザーエッチングとは異な
り、量産性が非常に良い上に、成膜工程および研磨工程
で形成された第一電極ラインおよび絶縁膜の平滑な表面
を荒らすことがない。そして、ウェットエッチングおよ
びドライエッチングのうちいずれを選ぶかによって、そ
れぞれに固有の効果が得られる。すなわち、補助工程に
おいてウェットエッチングを行った場合、エッチング加
工に要する製造設備が安価である上に、量産性が極めて
良いという効果がある。一方、補助工程においてドライ
エッチングを行った場合、寸法精度が非常高いので、隣
の第一電極ラインとの短絡がより確実に防止され、第一
電極ラインのピッチをさらに詰めることができるように
なるという効果がある。
【0049】したがって本手段によれば、前述の第5手
段の効果に加えて、ウェットエッチングが採用されれば
製造コストを抑制する効果が得られ、ドライエッチング
が採用されれば補助電極ラインの寸法精度が向上すると
いう効果が得られる。
【0050】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態としては、有
機EL表示素子でも無機EL表示素子でもかまわない。
しかし、近年は有機EL表示素子が主流になってきてい
るので、以下では有機EL表示素子に本発明を適用した
場合の望ましい実施の形態について説明する。有機EL
表示素子では、第一電極ラインは陽極ラインであり、第
二電極ラインは陰極ラインである。
【0051】先ず、陽極ラインとしては、従来と同様に
インジウムスズ酸化物(ITO)、AZO(Al添加Z
nO)、SnO2 などの光透過性をもつ薄膜(透明導電
膜)を採用することができる。陽極ラインの厚さは適宜
選択でき、一般には10〜300nmの範囲とするのが
好ましいが、特に制限されるものではない。また、互い
に隣り合う陽極ラインの間は、絶縁膜で電気的に絶縁さ
れている。
【0052】一方、絶縁膜としては、各種の絶縁性物質
を採用することができるが、酸化物系絶縁物質を採用す
ることが好ましい。
【0053】また、補助電極ラインを形成する材料とし
ては、金、銅、アルミニウム、クロムなどの導電性に優
れた金属が望ましいが、これらに限定されるものではな
い。将来的には、超伝導材料で補助電極ラインを形成す
ることができるうようになれば、極めて優れた輝度特性
を持つ有機EL表示素子を製造することができるように
なるであろう。
【0054】次に、発光層は、従来の有機系EL表示素
子と同様に、正孔輸送層と、正孔輸送層上に形成された
発光体層と、発光体層上に形成された電子輸送層とから
構成されうる。正孔輸送層としては、従来と同様にトリ
フェニルジアミン誘導体などの第3級アミン誘導体、
(ジ)スチリルベンゼン(ピラジン)誘導体、ジオレフ
ィン誘導体、オキサジアゾール誘導体などのジ(トリ)
アゾール誘導体、キノサリン誘導体、フラン系化合物、
ヒドラゾン系化合物、ナフタセン誘導体、クマリン系化
合物、キナクリドン誘導体、インドール系化合物、ピレ
ン系化合物、アントラセン系化合物などが例示される。
また、発光体層としては、蛍光染料として知られる種々
の物質を採用することができ、トリスキノリノアルミニ
ウム錯体、ジスチリルビフェニル誘導体、オキサジアゾ
ール誘導体などが例示される。さらに、電子輸送層とし
ては、ポリシラン、オキサジアゾール誘導体、トリスキ
ノリノアルミニウム錯体などが例示される。
【0055】ここで、正孔輸送層の厚さは、従来と同様
に10〜100nmとするのが望ましい。また、発光体
層の厚さは、従来と同様に10〜100nmとするのが
望ましい。同様に、電子輸送層の厚さは、従来と同様に
10〜100nmとするのが望ましい。
【0056】この発光層を構成する各層は、それぞれ真
空蒸着法、ラングミュアブロジェット蒸着法、ディップ
コーティング法、スピンコーティング法、真空気体蒸着
法、有機分子線エピタキシ法などを用いて形成すること
ができる。
【0057】最後に、陰極ラインはTi,Al,Mg,
Zn,Snなどの導電性金属から、蒸着法などにより形
成することができる。
【0058】本発明の製造方法における研磨工程では、
陽極ラインおよび絶縁膜に対して研磨による厚さ低減操
作を行い、陽極ラインの表面と絶縁膜の表面とを実質的
に同一面とする。研磨工程での厚さ低減操作としては、
陽極ラインおよび絶縁膜の表面を研磨ないし研磨する。
研磨処理としては、湿式研磨処理および乾式研磨処理の
うちいずれでも採用できるが、湿式研磨処理を取ること
が望ましい。
【0059】
【実施例】[実施例1] (実施例1のEL表示素子)本発明の実施例1としての
EL表示素子は、有機EL表示素子であって、図1
(A)〜(C)に示すように、透明基板1と、第一電極
ラインとしての陽極ライン2と、絶縁膜3と、有機EL
発光膜4と、第二電極ラインとしての陰極ライン5とを
有する。
【0060】すなわち、透明基板1は、光透過性に優れ
た平面ガラスからなる基板であって、両側に平らで平滑
な表面1r(一方だけを図示)をもつ。そして、陽極ラ
イン2は、透明な導電性ガラス(ITO)からなる電極
であり、透明基板の一方の表面に接合し互いに所定間隔
を隔ててストライプ状に多数本が配設されている。ま
た、絶縁膜3は、二酸化珪素(Si02 )からなる絶縁
材であって、透明基板1の同じ側の表面に接合してお
り、互いに隣り合う陽極ライン2の間を絶縁してストラ
イプ状に多数本が配設されている。
【0061】ここで、陽極ライン2および絶縁膜3は、
図(A)〜(C)に示すように、透明基板1と背向する
側に実質的に同一平面で互いに連続した表面2a,3a
をもつ。すなわち、陽極ライン2および絶縁膜3は、互
いに同一平面内にある平滑な表面2a,3aを形成して
おり、表面2a,3aの上に有機EL発光膜4および陰
極ライン5が積層されている。
【0062】有機EL発光膜4は、陽極ライン2および
絶縁膜3の表面2a,3aを覆って形成されたエレクト
ロルミネセンス発光機能をもつ有機膜であり、陽極ライ
ン2および絶縁膜3を直交して横切る方向にストライプ
状に延在している。そして、陰極ライン5は、有機EL
発光膜4の表面を覆って形成されており、互いに所定間
隔を隔ててストライプ状に配設された多数の金属導電体
からなる。
【0063】なお、有機EL発光膜4および陰極ライン
5が所定の間隔を開けてストライプ状に形成されるよう
に、各有機EL発光膜4および各陰極ライン5を隔てる
隔壁6が、陽極ライン2および絶縁膜3の表面2a,3
a上に等間隔に形成されている。各隔壁6は、ポリイミ
ド樹脂製の絶縁材料からなり、おおむね逆台形の断面形
状をもっている。そして、陰極ライン5が有機EL発光
膜4の縁からはみ出して陽極ライン2と接触することを
防ぐ目的で、有機EL発光膜4の幅は、陰極ライン5の
幅よりも広く形成されている。
【0064】以下、本実施例の有機EL表示素子の構成
について、より具体的に詳しく説明する。
【0065】図1(A)は、画素Xを構成するドットマ
トリックスを備えた有機EL表示素子を概念的に示す平
面図である。そして、図1(B)は、図1(A)中のB
−B線に沿った本実施例の有機EL表示素子の断面形状
を示す断面図である。また、図1(C)は、図1(A)
のC−C線に沿った本実施例の有機EL表示素子の断面
形状を示す断面図である。
【0066】本実施例の有機EL表示素子は、透明性を
もつガラス製の平坦な透明基板1と、透明基板1の表面
1rに積層された複数本の陽極ライン2と、隣設する陽
極ライン2同士の間に設けられた電気絶縁性をもつ絶縁
膜3と、エレクトロルミネッセンス発光性を奏する有機
EL発光膜4と、有機EL発光膜4の上に積層された陰
極ライン5とを備えている。
【0067】陽極ライン2は、所定の間隔Lを隔ててス
トライプ状に形成されており、一方向にのびている。有
機EL発光膜4は、図1(B)に示すように、正孔輸送
層4aと、正孔輸送層4a上に積層された発光体層4b
と、発光体層4b上に積層された電子輸送層4cとをも
つ。
【0068】同じく図1(B)に示すように、陽極ライ
ン2の表面2aと絶縁膜3の表面3aとは、実質的に同
一平面を形成している。そして、陽極ライン2の表面2
aおよび絶縁膜3の表面3aに沿って、有機EL発光膜
4が平坦に積層されており、さらにその上に陰極ライン
5が平坦に積層されている。
【0069】同じく図1(B)に示すように、陽極ライ
ン2の表面2aおよび絶縁膜3の表面3aに、厚さT4
をもつポリイミド樹脂製の隔壁6が積層されている。そ
して、図1(C)に示すように、隔壁6は、互いに隣り
合う陰極ライン5を電気的に絶縁するように、多数本が
所定の間隔を隔ててストライプ状に互いに平行に形成さ
れている。
【0070】(実施例1の製造方法)本発明の実施例1
としての有機EL表示素子の製造方法は、以下のような
成膜工程、研磨工程および積層工程を順に有する。
【0071】第一に、成膜工程は、透明基板1の一方の
面に接合して、多数の第一電極ラインとしての陽極ライ
ン2と多数の絶縁膜3とを交互に形成する工程である。
第二に、研磨工程は、陽極ライン2および絶縁膜3の表
面2a,3aを研磨して、陽極ライン2の表面2aと絶
縁膜3の表面3aとを実質的に同一平面にし、陽極ライ
ン2と絶縁膜3とを交互に隣接させる工程である。第三
に、積層工程は、同一平面2a,3aの上に一層の有機
EL発光膜4と第二電極ラインとしての陰極ライン5と
を積層する工程である。
【0072】以下、本実施例の製造方法について、図2
(A)〜(D)を主に参照しつつ、具体的に詳しく説明
する。
【0073】第一に、積層工程が行われる。
【0074】成膜工程では、先ず図2(A)に示すよう
に、電気絶縁性をもつ二酸化珪素(SiO2 )からなる
酸化物膜3pが、約350nmの厚さで透明基板1の表
面1rに積層される。この場合には、ゾルゲル法を利用
してスピンコート処理で成膜した後に焼成することによ
り、酸化物膜3pは平坦に形成されうる。あるいは、ス
パッタリング等の物理的成膜手段によって、酸化物膜3
pが形成されていても良い。
【0075】次に図2(B)に示すように、酸化物膜3
pの不必要部分がエッチングによって部分的に除去され
る。ストライプ状のエッチングマスクを用いてエッチン
グすることにより、多数本の絶縁膜3がストライプ状に
形成される。酸化物膜3pをエッチングするにあたって
は、フォトレジストマスクが用られ、ドライエッチング
法により、酸化物膜3pの余分な部分が除去される。ド
ライエッチング法としては、リアクティブイオンエッチ
ング法、スパッタエッチング法、プラズマエッチング
法、イオンビームエッチング法等を採用でる。本実施例
では、リアクティブイオンエッチング法が採用されてい
る。
【0076】その後、図2(C)に示すように、絶縁膜
3を覆って、スパッタリングによりITO膜2pが、約
500nmの厚さで透明基板1の表面1rに接して形成
される。この際、ITO膜2pの厚さT2が絶縁膜3の
高さT1を越えるように、ITO膜2pは透明基板1の
表面1rに積層される。つまり、ITOのスパッタリン
グが終わった時点では、ITO膜2pの厚さT2は絶縁
膜3の厚さT1よりも厚くなっている。
【0077】第二に、研磨工程が行われる。
【0078】研磨工程では、後に陽極ライン2を形成す
るITO膜2pと絶縁膜3とに対して、厚さを低減する
操作を行なう。厚さを低減する操作としては、ITO膜
2pの表面2poおよび絶縁膜3を共に研磨する研磨処
理を採用できる。この研磨処理により、ITO膜2pお
よび絶縁膜3の厚さは約300nmとなる。よって、図
2(D)に示すように陽極ライン2の表面2aおよび絶
縁膜3の表面3aを実質的に同一平面とする。
【0079】この研磨処理は、乾式研磨または湿式研磨
によって行われうる。乾式研磨によって研磨処理が行わ
れる場合には、ポリエステルなどの樹脂がベースとさ
れ、極微細な研磨粒子がバインダにより均一に分散塗布
されたフィルム状研磨シートが用いられる。一方、湿式
研磨によって研磨処理が行われる場合には、スエード等
の研磨シートが用いられ、研磨液が介在した状態で研磨
処理が行われる。この際使用される研磨液としては、酸
化セリウム、アルミナ、ダイヤモンドペーストを純水で
懸濁液にしたものが採用されている。
【0080】本実施例では、ITOからなる陽極ライン
2と二酸化珪素からなる絶縁膜3とは、共に酸化物であ
る。それゆえ、研磨工程では、両酸化物の表面とその接
合部とが研磨処理されるので、酸化物と樹脂とのように
研磨性が異なる部分を一緒に研磨する場合に比較して、
研磨を良好になし得る。その結果、両表面2a,3aの
平滑度が高くなるだけではなく、両表面2a,3aの間
で段差がほとんど生じることはない。
【0081】第三に、積層工程が行われる。
【0082】積層工程では、先ず、再び図1(C)に示
すように、隔壁6がポリイミド樹脂から形成される。そ
して次に、再び図1(B)に示すように、実質的に同一
平面を形成している陽極ライン2および絶縁膜3の表面
2a,3aに、エレクトロルミネセンス発光機能をもつ
有機EL発光膜4が積層される。その後、蒸着等の成膜
手段により有機EL発光膜4の表面に陰極ライン5が積
層される。最後に、湿気進入などを防止するために、保
護膜(図示せず)が、有機EL発光膜4、陰極ライン5
および隔壁6の全面を覆って塗布される。
【0083】(実施例1の作用効果)本実施例では、製
造方法に前述のような成膜工程および研磨工程を採用し
たことにより、陽極ライン2および絶縁膜3が、透明基
板1の表面1rに交番に形成されている。それだけでは
なく、陽極ライン2および絶縁膜3の表面2a,3a
は、実質的に同一平面にあり互いに連続した滑らかな表
面を形成するに至っている。それゆえ、陽極ライン2お
よび絶縁膜3が形成する表面2a,3aは平滑であっ
て、両者2,3の表面2a,3aには凹凸がほとんどな
いばかりか、両者2,3が互いに接合する縁部にも実質
的に段差がない。
【0084】すると、積層工程において有機EL発光膜
4を形成する際に、陽極ライン2および絶縁膜3の表面
2a,3aに形成された凹凸や両表面2a,3aに起因
する成膜不良がなくなる。それゆえ、有機EL発光膜4
は、ほぼ均一に陽極ライン2および絶縁膜3の表面2
a,3aを覆って生成され、有機EL発光膜4の成膜不
良が防止される。
【0085】その結果、有機EL発光膜4の上に積層し
て形成される陰極ライン5は、有機EL発光膜4の不良
部分を介して第一電極ラインと近接ないし接触すること
がなくなる。そして、製品である有機EL表示素子にお
いて、リーク不具合を生じることはほぼ完全に防止され
る。そして、リーク不具合が効果的に防止されているの
で、製造時の歩留まりが向上するうえに、有機EL表示
素子の信頼性および耐久性も同様に向上する。また、有
機EL発光膜4の厚さがより均一になるので、EL表示
素子の輝度ムラが低減され、輝度の均一性が向上する。
【0086】そればかりではなく、陽極ライン2および
絶縁膜3の表面2a,3aが実質的に同一平面にあるの
で、両表面2a,3aの上に形成される有機EL発光膜
4および陰極ライン5の成膜精度が向上する。その結
果、保護膜に隙間が形成されることが防止されるので、
湿気等の浸入がより有効に防止され、有機EL表示素子
の信頼性、耐久性および耐候性がよりいっそう向上す
る。
【0087】しかも、従来の技術の項で述べたように、
陽極ライン2を研磨する工程は通常の有機EL表示素子
でも行われていることであるから、工数が増えるわけで
はなく、研磨工程によるコストアップはない。それゆ
え、本実施例の有機EL表示素子の製造方法によって
は、前述の通常技術に比べて、製品たる有機EL表示素
子にほとんどコストアップを生じることがない。
【0088】したがって、本実施例の有機EL表示素子
およびその製造方法によれば、ほとんどコストアップな
しに、陽極ライン2と陰極ライン5とが短絡するリーク
不具合がほぼ完全に防止されたEL表示素子を製造する
ことができるようになるという効果がある。それゆえ、
製造方法での歩留まりが向上するうえに、有機EL表示
素子の信頼性、耐久性および耐候性も向上するという効
果が生じる。そればかりではなく、成膜精度が向上し有
機EL発光膜4および陰極ライン5の厚さも均一になる
ので、有機EL表示素子の輝度ムラも低減され、輝度の
均一性が向上するという効果がある。
【0089】(実施例1の変形態様1)本実施例の変形
態様1として、実施例1とは逆の順で、陽極ライン2お
よび絶縁膜3を形成する積層工程をもった有機EL表示
素子の製造方法を実施することができる。
【0090】以下、本変形態様の製造方法について、図
3(A)〜(D)を参照して説明する。
【0091】先ず、成膜工程が行われる。すなわち、図
3(A)に示すように、スパッタリングによりITO膜
2pが、350nmの厚さで、透明基板1の表面1rに
形成される。そして、図3(B)に示すように、ITO
膜2pの不必要部分がエッチングにより部分的に除去さ
れる。こうして、多数本の陽極ライン2がストライプ状
に形成される。その後、図3(C)に示すように、陽極
ライン2を覆って、電気絶縁性をもつ二酸化珪素(Si
2 )の酸化物膜3pが、スパッタリングにより約50
0nmの厚さで透明基板1の表面1rに積層される。こ
のとき酸化物膜3pの高さが陽極ライン2の高さを越え
るように、酸化物膜3pは透明基板1の表面1rに積層
される。つまり陽極ライン2の厚さT5よりも酸化物膜
3pの厚さT6が厚くなるように、酸化物膜3pは形成
される。
【0092】次に、研磨工程が行われる。研磨工程で
は、透明基板1上の陽極ライン2および酸化物膜3p
(研磨により絶縁膜3を形成)に対して、厚さを低減す
る操作が行なわれる。厚さを低減する操作として、陽極
ライン2および酸化物膜3pが表面3poから研磨され
る。研磨工程により、陽極ライン2および酸化物膜3p
の厚さは約300nmに低減されて、酸化物膜3pから
絶縁膜3が削り出される。その結果、図3(D)に示す
ように、陽極ライン2の表面2aおよび絶縁膜3の表面
3aは、実質的に同一平面を形成するに至る。
【0093】研磨工程では、実施例1で述べたように、
スエード等の研磨シートを用い研磨液を介在させた湿式
研磨が行われる。この際使用される研磨液としては、酸
化セリウム、アルミナ、ダイヤモンドペーストを純水で
懸濁液にしたものが採用されている。
【0094】最後に、積層工程が行われる。積層工程で
は、図1(B)から理解できるように、実質的に同一平
面内にある陽極ライン2および絶縁膜3の表面2a,3
aに、発光機能をもつ有機EL発光膜4が積層される。
その後、蒸着等の成膜手段により、有機EL発光膜4の
表面に陰極ライン5が積層される。さらにその後、湿気
進入などを防止するために、有機EL発光膜4等を覆う
保護膜(図示せず)が塗布される。
【0095】本変形態様の製造方法によっても、実施例
1の製造方法とおおむね同様の作用効果が得られる。
【0096】(実施例1の変形態様2)本実施例の変形
態様2として、前述の変形態様1と同様に多数の陽極ラ
イン2が形成された後、透明基板1の表面1rと陽極ラ
イン2とを覆う絶縁膜3を、スピンコーティングによっ
て形成する成膜工程を有する製造方法の実施が可能であ
る。
【0097】すなわち、本変形態様において、成膜工程
は、陽極ライン2を所定の幅で所定の間隔を空けて形成
した後、陽極ライン2の間を埋め陽極ライン2を覆う絶
縁膜3をスピンコーティングにより形成する工程であ
る。ここで絶縁膜3と呼んだものは、より正確には、研
磨工程によって絶縁膜3を形成するに至る酸化物膜3p
のことである。本変形態様の成膜工程および研磨工程
は、再び図3(A)〜(C)に示すように、前述の変形
態様2と同じ図を参照して説明されうる。
【0098】本変形態様では、前述の変形態様1と異な
って、互いに隣り合う陽極ライン2の間に絶縁膜3がス
ピンコーティングによって形成されるので、陽極ライン
2を形成する場合に比べても成膜工程で生じるコストア
ップはほんのわずかである。すなわち、本変形態様のE
L表示素子の製造方法では、通常のEL表示素子の製造
方法に比べてほとんどコストアップが生じない。
【0099】したがって、本変形態様の製造方法によれ
ば、前述の変形態様1よりもコストダウンすることがで
きるという効果がある。
【0100】[実施例2] (実施例2のEL表示素子)本発明の実施例2としての
有機EL表示素子は、図9に示すように、陽極ライン2
に沿い、陽極ライン2の表面2aの一部と陽極ライン2
に隣接する絶縁膜3の表面3aの一部とを覆って形成さ
れた補助電極ライン7を、陽極ライン2毎に有する。
【0101】すなわち、図4に示すように、幅0.47
mmの陽極ライン2の表面2aと、幅0.03mmの絶
縁膜3の表面3aとは、同一平面を形成している。そし
て、再び図9に示すように、両表面2a,3aにまたが
って、幅0.04mmのクロム製の補助電極ライン7が
形成されている。補助電極ライン7は、それぞれ0.0
2mmずつ陽極ライン2および絶縁膜3に乗っており、
陽極ライン2の有効な幅は、0.47mmから0.45
mmに4%ほど減っている。なお、本実施例で開示され
る各寸法には、適正な公差が設定されている。
【0102】ちなみに、再び図4に示すように、陽極ラ
イン2および絶縁膜3の厚さは160nmであり、一
方、図5に示すように、補助電極ライン7の厚さは30
0nmである。そして、陽極ライン2を形成しているI
TOの比抵抗は150〜180μΩ・cmであり、一
方、補助電極ライン7を形成しているクロムの比抵抗は
30〜40μΩ・cmである。それゆえ、補助電極ライ
ン7が接合された陽極ライン2の電気抵抗は、陽極ライ
ン2だけの電気抵抗に比べて、おおむね半減している。
【0103】その他の点においては、本実施例の有機E
L表示素子は、前述の実施例1の有機EL表示素子と同
様の構成に構成されている。
【0104】(実施例2の製造方法)本発明の実施例2
としての有機EL表示素子の製造方法は、実施例1と同
様の成膜工程および研磨工程と、実施例1とほぼ同様の
積層工程とを有する。本実施例の製造方法は、これらの
工程に加えて、研磨工程と積層工程との間に、補助電極
ライン7を形成する補助工程を有する。
【0105】すなわち、補助工程は、研磨工程と積層工
程との間に実施される工程であり、補助工程では、陽極
ライン2に沿って、陽極ライン2の表面2aの一部と絶
縁膜3の表面3aの一部とを覆う補助電極ライン7を形
成する工程である。すなわち、補助工程では、同一平面
にある両表面2a,3aに一様にクロムからなる金属膜
7pが形成された後、この金属膜7pにウェットエッチ
ングが施されて、補助電極ライン7が形成される。
【0106】以下、補助工程について、図4ないし図9
を参照しながら、より詳しく説明する。
【0107】補助工程における初期状態では、図4に示
すように、研磨工程が完了して、透明基板1の表面に接
合された陽極ライン2および絶縁膜3の表面2a,3a
は、実質的に同一平面内に形成されている。
【0108】先ず、図5に示すように、陽極ライン2お
よび絶縁膜3の表面2a,3aに、スパッタリングによ
り厚さ300nmのクロム膜7pが形成される。
【0109】次に、図6ないし図9に示すように、クロ
ム膜7pにウェットエッチングが施されて補助電極ライ
ン7が形成される。すなわち、図6に示すように厚さ1
〜2μmのフォトレジスト8がクロム膜7pの表面に塗
布され、マスク露光処理およびレジスト現像処理を経
て、図7に示すように補助電極ライン7を形成すべき位
置にフォトレジスト8が残される。この状態でウェット
エッチング処理が行われると、図8に示すように、フォ
トレジスト8に覆われていなかった部分のクロム膜7p
が除去され、補助電極ライン7が残る。しかる後、残っ
ていたフォトレジスト8を除去すれば、図9に示すよう
に、陽極ライン2および絶縁膜3の表面2a,3aに接
合した補助電極ライン7が形成され、補助工程は完了す
る。
【0110】そこで最後に、陽極ライン2および絶縁膜
3と補助電極ライン7とのうえに、隔壁6、有機EL発
光膜4および陰極ライン5(図1参照)が積層される積
層工程が行われる。そして、これらが保護膜で封止され
て、本実施例の有機EL表示素子が完成する。
【0111】(実施例2の作用効果)以上詳述したよう
に、本実施例の製造方法は、無機EL表示素子よりもず
っと大きな電流を流すことを要する有機EL表示素子を
製造する方法である。そして本実施例では、前述のよう
に、補助工程において、陽極ライン2に沿って陽極ライ
ン2に接続している補助電極ライン7が、陽極ライン2
の表面2aの一部から絶縁膜3の一部3aにかけて形成
される。ここで、補助電極ライン7の半分が陽極ライン
2を覆い、他の半分は絶縁膜3を覆うように、補助電極
ライン7は形成されている。
【0112】すると、有機EL発光膜4の発光部分のう
ち補助電極ライン7によって光が遮られる部分は、補助
電極ライン7のうち陽極ライン2を覆っている幅0.0
2mmの部分だけに限定されている。その結果、補助電
極ライン7によって遮られておこる発光面積の低下は、
4%程度でしかない。逆に、補助電極ライン7によって
導電作用が向上し、実質的に陽極ライン2の電気抵抗は
前述のように半減している。
【0113】それゆえ、実施例1の有機EL表示素子と
同じ印加電圧がかけられていれば、電流が倍増して本実
施例の有機EL表示素子の輝度は、前述の実施例1より
も向上する。一方、電流が実施例1と同じであるとする
と、電気抵抗が半減しているので印加電圧も低減され、
本実施例の有機EL表示素子においては、消費電力も実
施例1に比べて低減される。
【0114】また、陽極ライン2の電気抵抗による電圧
降下が低減されるので、輝度ムラが低減され、輝度の均
一性がさらに向上する。
【0115】しかも、前述のように陽極ライン2および
絶縁膜3の表面2a,3aは実質的に同一平面にあり、
同表面には凹凸がほとんどないので、補助工程では、補
助電極ライン7は寸法精度良く形成されうる。それゆ
え、ウェットエッチングによる安価な補助電極ラインの
形成工程によっても、補助電極ライン7を寸法精度良く
形成することができる。また、本実施例の補助工程で
は、ウェットエッチングに要する製造設備が安価である
うえに、量産性が極めて良い。それゆえ、補助工程にあ
まりコストがかからないでいながら、補助電極ライン7
と隣の陽極ライン2との間で短絡が起きることを防止す
ることができる。
【0116】したがって、本実施例の製造方法によれ
ば、あまりコストアップを生じることなく、輝度が向上
し輝度ムラおよび消費電力が低減された有機EL表示素
子を製造することができるという効果がある。また、本
実施例の有機EL表示素子によれば、比較的安価であり
ながら、輝度が向上し輝度ムラおよび消費電力が低減さ
れるという効果がある。
【0117】(実施例2の変形態様1)本実施例の変形
態様1として、補助電極ライン7の断面の角と隅とをな
くして曲面を形成し、陽極ライン2および絶縁膜3の表
面2a,3aと滑らかにつながるようにした有機EL表
示素子を製造することが可能である。
【0118】本変形態様の有機EL表示素子では、補助
電極ライン7の縁部の表面が曲面で形成されており、陽
極ライン2および絶縁膜3の表面2a,3aとなだらか
につながっているので、積層工程での成膜精度が向上す
る。その結果、リーク不具合が防止され、歩留まりが向
上するとともに、信頼性、耐久性および耐候性も向上す
る。
【0119】本変形態様の有機EL表示素子は、補助工
程の後、補助電極ライン7に等方性エッチングを施すこ
とによって製造されうる。
【0120】(実施例2の変形態様2)本実施例の変形
態様2として、超伝導材料からなる補助電極ライン7お
よび陰極ライン5をもつ有機EL表示素子を製造するこ
とも、将来的には可能になるであろう。
【0121】本変形態様では、陽極ライン2に接した補
助電極ライン7の電気抵抗と陰極ライン5の電気抵抗と
がゼロになり、印加電圧が低くても大きな電流が有機E
L発光膜4に流れるので、高い輝度が得られる。さら
に、補助電極ライン7および陰極ライン5に沿った電圧
降下がなくなるので、電圧降下に起因する輝度ムラもな
くなり、輝度の均一性がよりいっそう向上する。
【0122】(実施例2の変形態様3)本実施例の変形
態様3として、実施例1の変形態様1および変形態様2
の成膜工程を有する有機EL表示素子の製造方法を実施
することができる。本変形態様によっても、実施例1の
変形態様1および変形態様2の作用効果と同様の作用効
果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 実施例1としての有機EL表示素子の構成を
示す組図 (A)平面図 (B)B−B断面図 (C)C−C
断面図
【図2】 実施例1としての有機EL表示素子の製造方
法を示す組図 (A)成膜工程の最初に形成される酸化物膜を示す断面
図 (B)成膜工程の途中で形成される絶縁膜を示す断面図 (C)成膜工程後のITO膜および絶縁膜を示す断面図 (D)研磨工程後の陽極ラインおよび絶縁膜を示す断面
【図3】 実施例1の変形態様1としての製造方法を示
す組図 (A)成膜工程の最初に形成されるITO膜を示す断面
図 (B)成膜工程の途中で形成される陽極ラインを示す断
面図 (C)成膜工程後の陽極ラインおよび酸化物膜を示す断
面図 (D)研磨工程後の陽極ラインおよび絶縁膜を示す断面
【図4】 実施例2としての製造方法で成膜工程後の表
面を示す断面図
【図5】 実施例2で補助工程の初期でのクロム成膜状
態を示す断面図
【図6】 実施例2で補助工程の途中でのレジスト塗布
状態を示す断面図
【図7】 実施例2で補助工程の途中でのレジスト現像
状態を示す断面図
【図8】 実施例2で補助工程のクロム膜エッチング状
態を示す断面図
【図9】 実施例2で補助工程後の補助電極ラインの形
成状態を示す断面図
【図10】従来の通常技術の製造方法での積層工程を示
す断面図
【符号の説明】
1:透明基板(ガラス製) 1r:表面(一方の面と
して) 2:陽極ライン(ITO膜製、第一電極ラインとして)
2a:表面 2p:ITO膜 2po:表面 3:絶縁膜(二酸化珪素製) 3a:表面 3p:酸化物膜(二酸化珪素製) 3po:表面 4:有機EL発光膜 4a:正孔輸送層 4b:発光体層 4c:電子輸
送層 5:陰極ライン(第二電極ラインとして) 6:隔壁(ポリイミド樹脂製) 7:補助電極ライン(クロム製) 7p:クロム膜
(金属膜として) 8:フォトレジスト X:画素

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光透過性をもつ透明基板と、 該透明基板の一方の面に接合し互いに所定間隔を隔てて
    配設された多数の透明な導電体からなる第一電極ライン
    と、 該透明基板の該一方の面に接合し互いに隣り合う該第一
    電極ラインの間を絶縁する絶縁膜と、 該第一電極ラインおよび該絶縁膜のうち少なくとも前者
    の表面を覆って形成されたエレクトロルミネセンス発光
    機能をもつEL発光膜と、 該第一電極ラインと所定の角度をもって該EL発光膜の
    表面を覆って形成され互いに所定間隔を隔てて配設され
    た多数の導電体からなる第二電極ラインと、を有するE
    L表示素子において、 前記第一電極ラインおよび前記絶縁膜は、前記透明基板
    と背向する側に実質的に同一面で互いに連続した表面を
    もつことを特徴とするEL表示素子。
  2. 【請求項2】 前記EL表示素子は、有機EL表示素子
    であって、 前記第一電極ラインに沿い、該第一電極ラインの表面の
    一部と該第一電極ラインに隣接する絶縁膜の一部とを覆
    って形成された補助電極ラインを、該第一電極ライン毎
    に有する、 請求項1記載のEL表示素子。
  3. 【請求項3】透明基板の一方の面に交互に接合した多数
    の第一電極ラインおよび絶縁膜を形成する成膜工程と、 該第一電極ラインおよび該絶縁膜の表面を研磨して該第
    一電極ラインの表面と該絶縁膜の表面とを実質的に同一
    面にし、第一電極ラインと該絶縁膜とを交互に隣接させ
    る研磨工程と、 該同一面の上に少なくとも一層のEL発光膜および第二
    電極ラインを積層する積層工程と、 を有することを特徴とするEL表示素子の製造方法。
  4. 【請求項4】 前記成膜工程は、前記第一電極ラインを
    所定の幅で所定の間隔を空けて形成した後、該第一電極
    ラインの間を埋め該第一電極ラインを覆う前記絶縁膜を
    スピンコーティングにより形成する工程である、 請求項3記載のEL表示素子の製造方法。
  5. 【請求項5】 前記EL表示素子は有機EL表示素子
    であって、 前記研磨工程と前記積層工程との間に、前記第一電極ラ
    インに沿って、該第一電極ラインの表面の一部と前記絶
    縁膜の表面の一部とを覆う補助電極ラインを形成する補
    助工程を有する、 請求項3記載のEL表示素子の製造方法。
  6. 【請求項6】 前記補助工程は、前記同一面に一様に金
    属膜を形成した後、ウェットエッチングおよびドライエ
    ッチングのうち一方によってエッチングを施し、前記補
    助電極ラインを形成する工程である、 請求項5記載のEL表示素子の製造方法。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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