JP2003194598A - センサの異常検出方法及びセンサの異常検出装置 - Google Patents

センサの異常検出方法及びセンサの異常検出装置

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JP2003194598A
JP2003194598A JP2001392479A JP2001392479A JP2003194598A JP 2003194598 A JP2003194598 A JP 2003194598A JP 2001392479 A JP2001392479 A JP 2001392479A JP 2001392479 A JP2001392479 A JP 2001392479A JP 2003194598 A JP2003194598 A JP 2003194598A
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sensor
abnormality
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Tomoya Eguchi
智也 江口
Taiji Nishibe
泰司 西部
Koichi Ichiko
公一 市古
Toru Araya
徹 新家
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Aisin AW Co Ltd
Tokai Rika Co Ltd
Original Assignee
Aisin AW Co Ltd
Tokai Rika Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 センサの出力特性の異常を検出できるセンサ
の異常検出方法及びセンサの異常検出装置を提供する。 【解決手段】 磁束の向きの変化に応じた出力値が互い
に反対の出力特性を有するとともに、同出力値を加算し
た際に一定の合計出力値が得られる一対の第1,第2セ
ンサ12,13を異常検出装置11に備える。第1,第
2センサ12,13にて磁束の向きを検出し、その検出
した両出力値を加算回路14にて加算し、その加算結果
である電圧V3を中央演算処理装置15に出力する。中
央演算処理装置15は電圧V3が所定(一定)の電圧で
ある場合、第1,第2センサ12,13を正常と判定
し、所定の電圧でなければ第1,第2センサ12,13
のいずれか一方を異常と判定する。このようにして、異
常検出装置11は第1,第2センサ12,13の出力特
性の異常を検出できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、センサ自体が正常
な出力をしているか否かを判定するセンサの異常検出方
法及びセンサの異常検出装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、センサは、詳細な情報を得るた
めに入力に対して比例するリニア出力が求められてい
る。このようなリニア出力を有するセンサでは、その出
力範囲を全て使用する場合、その出力値は全て有効なも
のとして扱うことになる。このため、このセンサのみの
出力信号に基づいて同センサの出力値が異常か否かを判
定することはできない。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】例えば、入力をxとし
出力をyとすると、センサの出力特性は下記の式 y=ax+b (aは比例係数、bは定数) で表すことができる。
【0004】この場合、図14に示すようにセンサが正
常なときx1の入力があるとy1の出力が得られる。し
かし、センサが異常となり定数bが変わってしまってい
るときは、入力x1に対して出力はy2となる。この出
力y2はセンサが正常の場合には、x2のときの値であ
るため結局誤検出していることになる。
【0005】なお、センサ異常で傾きaが変わってしま
った場合も同様のことが生ずる。なお、このような問題
は、非リニアの出力特性を有するセンサにおいても、セ
ンサの出力値が異常であるか否かをその出力値のみで判
定することは困難であり同様な問題がある。
【0006】本発明は、前述した事情に鑑みてなされた
ものであって、その目的はセンサの出力特性の異常を検
出できるセンサの異常検出方法及びセンサの異常検出装
置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1に記載の発明は、物理量の変化に応じた出
力値が互いに反対の出力特性を有するとともに、同出力
値を加算した際に一定の合計出力値が得られる一対のセ
ンサの異常検出方法であって、前記両センサの合計出力
値が一定値でないとき、いずれか一方のセンサが異常と
判定することを要旨とする。
【0008】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
のセンサの異常検出方法において、前記各センサは、4
つの磁気抵抗素子によりブリッジ回路を構成する磁気検
出手段と、前記磁気検出手段に接続され、前記ブリッジ
回路の一対の中点の差電圧を増幅する増幅手段とを含む
ことを要旨とする。
【0009】請求項3に記載の発明は、請求項2に記載
のセンサの異常検出方法において、前記磁気検出手段
は、配置向きが互いに異なることによって、互いに反対
の出力特性を有するものであることを要旨とする。
【0010】請求項4に記載の発明は、請求項2に記載
のセンサの異常検出方法において、前記増幅手段には反
転入力端子及び非反転入力端子を含み、前記一対のセン
サは、各ブリッジ回路を構成する磁気検出手段の配置向
きが同じであるときには、同じ出力特性を有するととも
に、前記ブリッジ回路における一対の中点の増幅手段に
対する反転入力端子と非反転入力端子との接続が互いに
反対であることを要旨とする。
【0011】請求項5に記載の発明は、請求項1乃至請
求項4のうちいずれか1項に記載のセンサの異常検出方
法において、前記一対のセンサは、リニア出力特性を有
することを要旨とする。
【0012】請求項6に記載の発明は、物理量の変化に
応じた出力値が互いに反対の出力特性を有するととも
に、同出力値を加算した際に一定の合計出力値が得られ
る一対のセンサと、前記一対のセンサの出力を加算する
加算手段と、前記加算手段が加算した前記両センサの合
計出力値が一定値でないとき、いずれか一方のセンサが
異常と判定する判定手段を備えたことを要旨とする。
【0013】請求項7に記載の発明は、請求項6に記載
のセンサの異常検出装置において、前記各センサは、4
つの磁気抵抗素子によりブリッジ回路を構成する磁気検
出手段と、前記磁気検出手段に接続され、前記ブリッジ
回路の一対の中点の差電圧を増幅する増幅手段とを含む
ことを要旨とする。
【0014】請求項8に記載の発明は、請求項7に記載
のセンサの異常検出装置において、前記磁気検出手段
は、配置向きが互いに異なることによって、互いに反対
の出力特性を有するものであることを要旨とする。
【0015】請求項9に記載の発明は、請求項7に記載
のセンサの異常検出装置において、前記増幅手段には反
転入力端子及び非反転入力端子を含み、前記一対のセン
サは、各ブリッジ回路を構成する磁気検出手段の配置向
きが同じであるときには、同じ出力特性を有するととも
に、前記ブリッジ回路における一対の中点の増幅手段に
対する反転入力端子と非反転入力端子との接続が互いに
反対であることを要旨とする。
【0016】請求項10に記載の発明は、請求項6乃至
請求項9のうちいずれか1項に記載のセンサの異常検出
装置において、前記一対のセンサは、リニア出力特性を
有することを要旨とする。
【0017】(作用)従って、請求項1に記載の発明に
おいては、各センサに同じ入力信号をそれぞれ入力する
と、各センサは互いに反対の出力特性の出力値を出力す
る。そして、その各出力値を合計すると、入力信号の大
きさにかかわらず常に一定値になるように設定されてい
る。そのため、両センサのうち少なくとも一方が異常を
きたし、入力された入力信号の大きさに対応した出力値
がでなくなると、前記両出力値の合計が一定とならな
い。即ち、前記両出力値の合計が一定でない場合には、
両センサのうち少なくとも一方が異常をきたしたという
ことが判定できる。
【0018】請求項2に記載の発明においては、請求項
1に記載の発明の作用に加えて、各センサの各磁気検出
手段は、外部からの磁束の方向を検出し、検出した磁束
の方向に応じて各出力値を出力する。そして、その各出
力値を各増幅手段にて増幅し、増幅した各出力値を合計
した値が一定か否かを判定することでセンサが異常か否
かを判定する。
【0019】請求項3に記載の発明においては、請求項
2に記載の発明の作用に加えて、各センサの各磁気検出
手段を互いに向きが異なるように配置することで、各セ
ンサは互いに反対の出力特性となる。
【0020】請求項4に記載の発明においては、請求項
2に記載の発明の作用に加えて、各磁気検出手段はそれ
ぞれ同じ出力特性のため、外部からの磁束の方向を検出
すると、その磁束の方向に応じた出力値も同じとなる。
その各出力値を各増幅手段にて増幅すると、その増幅し
た各出力値は互いに反対の出力特性の値となる。そし
て、その増幅した各出力値を合計した値が一定か否かを
判定することでセンサが異常か否かを判定する。
【0021】請求項5に記載の発明においては、請求項
1乃至請求項4のうちいずれか1項に記載の発明の作用
に加えて、各センサはリニアな出力値を出力し、その各
出力値を用いてセンサが異常か否かを判定する。
【0022】請求項6に記載の発明においては、各セン
サに同じ入力信号をそれぞれ入力すると、各センサは互
いに反対の出力特性の出力値を出力する。そして、その
各出力値を加算手段にて加算する。両センサの合計出力
値は、入力信号の大きさにかかわらず常に一定値になる
ように設定されている。そのため、両センサのうち少な
くとも一方が異常をきたし、入力された入力信号の大き
さに対応した出力値がでなくなると、前記両出力値の合
計が一定とならない。即ち、前記両出力値の合計が一定
でない場合には、両センサのうち少なくとも一方が異常
をきたしたということが判定手段により判定できる。
【0023】請求項7に記載の発明においては、請求項
6に記載の発明の作用に加えて、各センサの各磁気検出
手段は、外部からの磁束の方向を検出し、検出した磁束
の方向に応じて各出力値を出力する。そして、その各出
力値を各増幅手段にて増幅し、増幅した各出力値を合計
した値が一定か否かを判定することでセンサが異常か否
かを判定手段により判定する。
【0024】請求項8に記載の発明においては、請求項
7に記載の発明の作用に加えて、各センサの各磁気検出
手段を互いに向きが異なるように配置することで、各セ
ンサは互いに反対の出力特性となる。
【0025】請求項9に記載の発明においては、請求項
7に記載の発明の作用に加えて、各磁気検出手段はそれ
ぞれ同じ出力特性のため、外部からの磁束の方向を検出
すると、その磁束の方向に応じた出力値も同じとなる。
その各出力値を各増幅手段にて増幅すると、その増幅し
た各出力値は互いに反対の出力特性の値となる。そし
て、その増幅した各出力値を合計した値が一定か否かを
判定手段により判定することでセンサが異常か否かを判
定する。
【0026】請求項10に記載の発明においては、請求
項6乃至請求項9のうちいずれか1項に記載の作用に加
えて、各センサはリニアな出力値を出力し、その各出力
値を用いてセンサが異常か否かを判定手段により判定す
る。
【0027】
【発明の実施の形態】(第1実施形態)以下、本発明を
具体化した第1実施形態を図1〜図4に従って説明す
る。
【0028】図1に示すように、本実施形態のセンサの
異常検出装置11は、異常検出装置11を通過する磁束
の向きの変化を検出するものである。異常検出装置11
は、センサとしての第1,第2センサ12,13と、加
算手段としての加算回路14と、判定手段としての中央
演算処理装置(以下、CPUという)15を備えてい
る。前記第1,第2センサ12,13及び加算回路14
は、それぞれ公知技術のものである。前記第1,第2セ
ンサ12,13は磁気検出手段としての検出回路20,
21及び増幅手段としてのオペアンプ22,23をそれ
ぞれ備えている。
【0029】図2に示すように、検出回路20,21は
互いに近接して配置されると共に、検出した磁束の向き
によって検出電圧が変化するものである。図3に示すよ
うに、同検出回路20,21は、調整用抵抗体R0,R
0’と検出した磁束の向きによって抵抗値が変化する磁
気抵抗素子としての抵抗体R1〜R4とによりそれぞれ
構成されている。前記各抵抗体R1〜R4は、ブリッジ
回路としての4端子ブリッジ回路Bを構成するように接
続されている。また、抵抗体R3側には調整用抵抗体R
0が接続され、抵抗体R1側には調整用抵抗体R0’が
接続されている。
【0030】前記抵抗体R1と抵抗体R2との接続点
(中点)aは、基板に設けられたオペアンプ22,23
の非反転入力端子T1にそれぞれ接続されている。抵抗
体R3と抵抗体R4との接続点(中点)bは、同オペア
ンプ22,23の反転入力端子T2に接続されている。
また、調整用抵抗体R0,R0’は抵抗体R1〜R4よ
りも小さい抵抗値を有し、抵抗体R1〜R4とは異な
り、温度抵抗変化の少ない材質で基板に形成されてい
る。
【0031】また、図2に示すように前記各抵抗体R1
〜R4は素子面f上に配置されており、その素子面fに
対して平行する向きの磁束を検出するように構成されて
いる。各抵抗体R1〜R4はNiCo薄膜を基板に対し
て折れ線状に成膜されたものであり、同温度雰囲気下に
おいて抵抗値が同一となるように設定されている。な
お、抵抗体R1〜R4は雰囲気温度が上昇すると、感度
が変化する感度温度特性を備えている。この感度温度特
性は、感度温度変化率と抵抗温度変化率とが一致してい
るのが好ましい。
【0032】次に、検出回路20における抵抗体R1〜
R4の配置方向について説明する。図2に示すように、
抵抗体R1,R4は同じ方向に向かって配置され、抵抗
体R2,R3は前記抵抗体R1,R4の向く方向に対し
て直交する方向に向かって配置されている。同図中の中
心線m1,n1は、抵抗体R1,R4及び抵抗体R2,
R3が向かう方向を示したものである。基準線s1は、
中心線m1,n1が交わる点を基点としてその基点を通
ると共に中心線m1,n1のなす角の二等分線である。
また、本実施形態では、基準線s1に沿う磁束の方向を
0度、中心線m1に沿う磁束の方向を+45度、中心線
n1に沿う磁束の方向を−45度とする。
【0033】前記検出回路20は、−45度から+45
度までの磁束の方向を検出可能に構成されている。検出
した磁束が−45度の向きの際には、抵抗体R1,R4
の抵抗値が最大となり、抵抗体R2,R3の抵抗値が最
小となる。この結果、接続点aはLレベルの電圧とな
り、接続点bはHレベルの電圧となる。この両接続点
a,bの差電圧がオペアンプ22により増幅され、オペ
アンプ22から出力される電圧V1は最小電圧となる
(図4参照)。
【0034】一方、検出した磁束が+45度の向きの際
には、抵抗体R1,R4の抵抗値が最小となり、抵抗体
R2,R3の抵抗値が最大となる。この結果、接続点a
はHレベルの電圧となり、接続点bはLレベルの電圧と
なる。この両接続点a,bの差電圧がオペアンプ22に
より増幅され、オペアンプ22から出力される電圧V1
は最大電圧となる(図4参照)。
【0035】そして、検出した磁束の方向が−45度か
ら+45度へ向かうにつれて、電圧V1が正の所定の傾
きを有するリニアな電圧を出力するように第1センサ1
2は構成されている。
【0036】そして、第1センサ12は、検出した磁束
の方向が−45度の際にその出力が自身の最大出力の5
%となり、検出した磁束の方向が0度の際にその出力が
自身の最大出力の50%となるように構成されている。
また、第1センサ12は、検出した磁束の方向が+45
度の際にその出力が自身の最大出力の95%となるよう
に構成されている。
【0037】即ち、以下の関係式が成り立つ。 第1センサ12の出力(%) = 50(%) + f
(θ) なお、f(θ)は、θの関数であり、(−45(%)
≦ f(θ) ≦ +45(%))とし、θは磁束の方
向を示している。又、θが0のとき、f(θ)=0
(%)である。
【0038】次に、検出回路21における抵抗体R1〜
R4の配置方向について説明する。図2に示すように、
前記検出回路21の抵抗体R1〜R4の配置方向は、検
出回路20の抵抗体R1〜R4を反時計回りに90度回
転させたものに相当する。
【0039】従って、検出回路21の抵抗体R1,R4
が向かう方向を示す中心線m2は前記中心線n1と同方
向であり、検出回路21の抵抗体R2,R3が向かう方
向を示す中心線n2は前記中心線m1と同方向である。
また、検出回路21の基準線s2は、前記基準線s1に
対して直交する方向とされている。
【0040】前記検出回路21は、−45度から+45
度までの磁束の方向を検出可能に構成されている。検出
回路21における抵抗体R1〜R4は、検出回路20の
抵抗体R1〜R4と同じ配列パターンで、配置方向だけ
90度変わっている。そのため、検出した磁束が−45
度の向きの際には、抵抗体R1,R4の抵抗値が最小と
なり、抵抗体R2,R3の抵抗値が最大となる。この結
果、接続点aはHレベルの電圧となり、接続点bはLレ
ベルの電圧となる。この両接続点a,bの差電圧がオペ
アンプ23により増幅され、オペアンプ23から出力さ
れる電圧V2は最大電圧となる(図4参照)。
【0041】一方、検出回路21は検出した磁束が+4
5度の向きの際には、抵抗体R1,R4の抵抗値が最大
となり、抵抗体R2,R3の抵抗値が最小となる。この
結果、接続点aはLレベルの電圧となり、接続点bはH
レベルの電圧となる。この両接続点a,bの差電圧がオ
ペアンプ23により増幅され、オペアンプ23から出力
される電圧V2は最小電圧となる(図4参照)。
【0042】そして、検出した磁束の方向が−45度か
ら+45度へ向かうにつれて、電圧V2が負の所定の傾
きを有するリニアな電圧を出力するように第2センサ1
3は構成されている。
【0043】そして、第2センサ13は、検出した磁束
の方向が−45度の際にその出力が自身の最大出力の9
5%となり、検出した磁束の方向が0度の際にその出力
が自身の最大出力の50%となるように構成されてい
る。また、第2センサ13は、検出した磁束の方向が+
45度の際にその出力が自身の最大出力の5%となるよ
うに構成されている。
【0044】即ち、以下の関係式が成り立つ。 第2センサ13の出力(%) = 50(%) − f
(θ) なお、f(θ)は、θの関数であり、(−45(%)
≦ f(θ) ≦ +45(%))とする。又、θが0
のとき、f(θ)=0(%)である。
【0045】なお、本実施形態において、「互いに反対
の出力特性を有する」関係とは前記両電圧V1,V2の
両特性線の交点を通過するX軸に平行な線(以下、対称
線Tという)を基準としてその両特性線が線対称となる
関係をいう(図4参照)。
【0046】図1に示すように、前記オペアンプ22は
加算回路14及び中央演算処理装置15に接続されてお
り、電圧V1が加算回路14及び中央演算処理装置15
に入力されるように構成されている。また、前記オペア
ンプ23は加算回路14に接続されており、電圧V2が
加算回路14に入力されるように構成されている。前記
加算回路14は中央演算処理装置15に接続されてお
り、入力した前記両電圧V1,V2を加算し、その加算
結果である電圧V3を中央演算処理装置15に出力する
ように構成されている。
【0047】中央演算処理装置15は入力した電圧V3
が所定(一定)の電圧であるか否かをあらかじめ図示し
ないROM(読み出し専用記憶メモリ)に格納したデー
タと比較判定する。ここでいう、所定とは第1センサ1
2の出力、又は第2センサ13の出力の100%に相当
する。中央演算処理装置15は電圧V3が所定の電圧で
あると判定すると、第1センサ12は正常であるとす
る。すなわち、オペアンプ22から入力した電圧V1を
中央演算処理装置15が制御している図示しない外部装
置のための制御プログラムに使用する。
【0048】これは、電圧V1と電圧V2とが互いに反
対の出力特性のため、両電圧V1,V2が正常な検出電
圧であれば対称線Tに対して互いに対称な出力電圧とな
る。この結果、その両電圧V1,V2の加算値である電
圧V3は常に所定値(一定値)となるからである。この
ため、第1センサ12は正しく作動していると判定でき
るのである。
【0049】一方、中央演算処理装置15は電圧V3が
所定の電圧でないと判定すると、中央演算処理装置15
は図示しない異常警告装置へ異常信号を出力し、その異
常警告装置で適宜異常処理を行う。これは、電圧V1と
電圧V2とが対称線Tに対して互いに対称とならない場
合には、その両電圧V1,V2の加算値は所定値(一定
値)にならないからである。
【0050】従って、上記第1実施形態の異常検出装置
11によれば、以下のような効果を得ることができる。 (1)本実施形態では、素子面fを通過する磁束の向き
の変化を検出する第1,第2センサ12,13を異常検
出装置11に備えた。第1,第2センサ12,13は出
力値(電圧V1,V2)が互いに反対の出力特性を有す
るように構成した。前記第1,第2センサ12,13の
両出力値を加算回路14にて加算し、その加算結果であ
る電圧V3を中央演算処理装置15に出力するようにし
た。そして、中央演算処理装置15は電圧V3が所定
(一定)の電圧である場合、第1,第2センサ12,1
3を正常と判定し、所定の電圧でなければ第1,第2セ
ンサ12,13のいずれか一方を異常と判定した。従っ
て、異常検出装置11は第1,第2センサ12,13の
出力特性の異常を検出できる。
【0051】(2)本実施形態では、第1,第2センサ
12,13の検出回路20,21を抵抗体R1〜R4及
び調整用抵抗体R0,R0’にてそれぞれ構成した。前
記抵抗体R1〜R4により4端子ブリッジ回路Bを構成
するようにした。そして、両抵抗体R1,R2の接続点
(中点)aにおける電圧と、両抵抗体R3,R4の接続
点(中点)bにおける電圧との差電圧で磁束の方向を検
出するようにした。従って、抵抗体R1〜R4からなる
4端子ブリッジ回路Bを使って素子面fを通過する磁束
の向きの変化を検出できる。
【0052】(3)本実施形態では、第1,第2センサ
12,13及び加算回路14は、それぞれ公知技術のも
ので構成した。従って、異常検出装置11を制作する際
に、新たに自ら制作する部品がほとんどなく、制作コス
トを抑えることができる。
【0053】(第2実施形態)以下、本発明を具体化し
た第2実施形態を図5及び図6に従って説明する。な
お、第2実施形態及び第3実施形態は、前記第1実施形
態を変更したものであり、前記第1実施形態と同様の構
成については、同一符号を付して、その詳細な説明を省
略し、異なるところのみを説明する。
【0054】本実施形態の異常検出装置31は、前記第
1実施形態と比較して第2センサの構成のみが変更され
ている。具体的には、前記第1実施形態では検出回路2
1の配置方向を検出回路20に対して90度ずらしてい
たが、本実施形態の第2センサ32における検出回路2
1の配置方向は検出回路20に対して同方向としている
(図6参照)。前記第2センサ32はセンサに相当す
る。
【0055】そして、検出回路21の接続点aがオペア
ンプ23の反転入力端子T2に接続され、接続点bがオ
ペアンプ23の非反転入力端子T1に接続されている。
この結果、両第1,第2センサ12,32の電圧V1,
V2の出力値が互いに反対の出力特性となるように構成
した。
【0056】従って、第2実施形態の異常検出装置31
においても、前記第1実施形態の(1)〜(3)の効果
と同様の効果を得ることができる。 (第3実施形態)以下、本発明を具体化した第3実施形
態を図7に従って説明する。
【0057】本実施形態の異常検出装置41は、前記第
1実施形態の異常検出装置11と比して加算回路14が
省略されている。その代わりに判定手段としての中央演
算処理装置(以下、CPUという)42が両電圧V1,
V2の大きさを検出し、検出結果の値をソフト的に加算
演算するところが異なっている。従って、本実施形態に
おいては、中央演算処理装置15は加算手段にも相当す
る。
【0058】従って、第3実施形態の異常検出装置41
においては、両電圧V1,V2の加算演算をCPU42
が行うこと以外は、異常検出装置11と同じ作用を奏す
るため前記第1実施形態の(1)、(2)の効果と同様
の効果を得ることができる。それとともに、以下の効果
を得ることができる。
【0059】(1)本実施形態の異常検出装置41は、
第1実施形態の異常検出装置11と比して加算回路14
が省略されている。従って、異常検出装置11と比して
加算回路14を省略した分だけ異常検出装置41は部品
点数を減らすことができる。
【0060】(2)本実施形態では、第1,第2センサ
12,13は、それぞれ公知技術のもので構成した。従
って、異常検出装置41を制作する際に、新たに自ら制
作する部品がほとんどなく、制作コストを抑えることが
できる。
【0061】(第4実施形態)以下、本発明を具体化し
た第4実施形態を図8に従って説明する。なお、第4実
施形態は、前記第2実施形態を変更したものであり、前
記第2実施形態と同様の構成については、同一符号を付
して、その詳細な説明を省略し、異なるところのみを説
明する。
【0062】本実施形態の異常検出装置51は、前記第
2実施形態の異常検出装置31と比して加算回路14が
省略されている。その代わりに判定手段としての中央演
算処理装置(以下、CPUという)52が両電圧V1,
V2の大きさを検出し、検出結果の値をソフト的に加算
演算するところが異なっている。従って、本実施形態に
おいては、中央演算処理装置15は加算手段にも相当す
る。
【0063】従って、第4実施形態の異常検出装置51
においては、両電圧V1,V2の加算処理をCPU52
が行うこと以外は、異常検出装置31と同じ作用を奏す
るため前記第1実施形態の(1)、(2)の効果と同様
の効果を得ることができる。それとともに、以下の効果
を得ることができる。
【0064】(1)本実施形態の異常検出装置51は、
第2実施形態の異常検出装置31と比して加算回路14
が省略されている。従って、異常検出装置31と比して
加算回路14を省略した分だけ異常検出装置51は部品
点数を減らすことができる。
【0065】(2)本実施形態では、第1,第2センサ
12,13は、それぞれ公知技術のもので構成した。従
って、異常検出装置51を制作する際に、新たに自ら制
作する部品がほとんどなく、制作コストを抑えることが
できる。
【0066】(他の実施形態)なお、上記各実施形態は
以下のような他の実施形態に変更して具体化してもよ
い。
【0067】・前記第1,第2実施形態では、オペアン
プ22をCPU15に接続することで電圧V1をCPU
15に入力するようにした。そして、CPU15は、電
圧V3が所定値(一定値)と判定した際に、第1センサ
12は正常であるとする。すなわち、オペアンプ22か
ら入力した電圧V1を中央演算処理装置15が制御して
いる図示しない外部装置のための制御プログラムに使用
していた。
【0068】これに限らず、オペアンプ22の代わりに
オペアンプ23をCPU15に接続することで電圧V2
をCPU15に入力する。そして、CPU15は電圧V
3が所定値(一定値)と判定した際に、電圧V2を中央
演算処理装置15が制御している図示しない外部装置の
ための制御プログラムに使用してもよい。
【0069】・前記第3,第4実施形態では、CPU4
2,52は、電圧V3が所定値(一定値)と判定した際
に、電圧V1を検出電圧利用装置へ出力していた。これ
に限らず、CPU42,52は電圧V3が所定値(一定
値)と判定した際に、電圧V2を中央演算処理装置15
が制御している図示しない外部装置のための制御プログ
ラムに使用してもよい。
【0070】・前記各実施形態のオペアンプ22,23
を例えば図9に示す公知技術の増幅手段としての差動増
幅回路61に置き換えてもよい。この差動増幅回路61
は、入力端子Va,Vb、抵抗体R11〜R17、アン
プ62〜64、基準電圧端子VREF、及び出力端子Vc
を備えている。そして、第1実施形態の検出回路20,
21、第2実施形態の検出回路20、第3実施形態の検
出回路20,21、第4実施形態の検出回路20におけ
る、接続点aを入力端子Va、接続点bを入力端子Vb
に接続する。また、第2,第4実施形態の検出回路21
における、接続点aを入力端子Vb、接続点bを入力端
子Vaに接続する。なお、抵抗値においては、R11=
R14、R12=R15、R16=R17となるように
構成されている。この図に示すように各部材を電気的に
接続すると、以下の関係式が成り立つ。
【0071】Vc=(R16/R12)×(1+(2×
R11 / R13))×(Va−Vb)+VREF なお、VREFは基準電圧端子VREFの電圧である。
【0072】以下、この実施形態を第1別例という。 ・前記各実施形態のオペアンプ22,23を例えば図1
0に示す公知技術の増幅手段としての差動増幅回路71
に置き換えてもよい。この差動増幅回路71は、入力端
子Vd,Ve、抵抗体R21〜R24、アンプ72,7
3、基準電圧端子VREF、及び出力端子Vfを備えてい
る。そして、第1及び第3実施形態の検出回路20,2
1、第2及び第4実施形態の検出回路20における、接
続点aを入力端子Vd、接続点bを入力端子Veに接続
する。また、第2及び第4実施形態の検出回路21にお
ける、接続点aを入力端子Ve、接続点bを入力端子V
dに接続する。なお、抵抗値においては、R23=R2
2、R21=R24となるように構成されている。この
図に示すように各部材を電気的に接続すると、以下の関
係式が成り立つ。
【0073】Vf=(1+(R24/R23))×(V
d−Ve)+VREF なお、Vfは出力端子の端子電圧、Vd,Veは入力端
子の端子電圧、R23,R24は抵抗R23,24の抵
抗値である。VREFは基準電圧端子VREFの電圧である。
【0074】以下、この実施形態を第2別例という。 ・前記第1,第2実施形態の加算回路14を図11に示
す公知技術の加算手段としての加算増幅回路81に置き
換えてもよい。この加算増幅回路81は、入力端子V
g,Vh、抵抗体R31〜R34、アンプ82、基準電
圧端子VREF、及び出力端子Viを備えている。そし
て、第1,第2実施形態のオペアンプ22,23の出力
端子をそれぞれ入力端子Vg,Vhに接続する。なお、
抵抗値においては、R31=R32となるように構成さ
れている。この図に示すように各部材を電気的に接続す
ると、以下の関係式が成り立つ。
【0075】Vi=−(R33/R31)×(Vg+V
h) + VREF×(1+(2×R33 / R3
1)) なお、Viは出力端子の端子電圧、Vg,Vhは入力端
子の端子電圧、R31,R33は抵抗R31,33の抵
抗値である。VREFは基準電圧端子VREFの電圧である。
【0076】・前記第1別例では、第2センサ13は、
検出した磁束の方向が0度の際にその出力が自身の最大
出力の50%となるように構成していた。これに限ら
ず、図9に示す基準電圧端子VREFの電圧を調節するこ
とで、検出した磁束の方向が0度の際にその出力が例え
ば自身の最大出力の(50+α)%となるように第2セ
ンサ13を構成してもよい。このようにすると、以下に
示す効果を得ることができる。なお、α>0である。
【0077】前記第1別例では、検出回路側で異常が生
じた際、50%出力で固定しまう場合がある。そのた
め、両センサ12,13の両センサ12,13共に異常
となり50%出力で固定してしまうと、故障しているに
もかかわらず故障と判定できないことがある。それを防
ぐために、基準電圧端子VREFの電圧を例えばαだけ上
乗せしておき、正常な状態での和を「100+α」に設
定する。このようにすると、両センサ12,13の検出
回路が共に50%出力固定で故障しても、両センサ1
2,13共に50%出力で落ち着いてしまうことがな
い。加えて、このような変更を前記第2別例で具体化し
てもよい。
【0078】また、このように基準電圧端子VREFを調
節する代わりに第2センサ13における検出回路21を
数度ずらして配置するようにしてもよい。このようにし
ても第2センサ13は、検出した磁束の方向が0度の際
にその出力が例えば自身の最大出力の(50+α)%と
なる。
【0079】・前記第1実施形態では、両センサ12,
13は、所定の傾きを有するリニアな電圧V1,V2を
出力する特性となっていた。これに限らず、図13に示
すような曲線を描く非リニアの出力特性を備えた両セン
サを用いてもよい。要は、両電圧V1,V2の特性線が
対称線Tを基準として線対称になるようなものなら何で
もよい。また、このような変更を前記第2〜第4実施形
態で具体化してもよい。
【0080】・前記第1実施形態の異常検出装置11で
は、検出した磁束の方向に応じた出力値が互いに反対の
出力特性を有するとともに、出力値を加算した際に一定
の合計出力値が得られる一対のセンサ12,13を備え
るようにしていた。このような磁束の方向を検出するセ
ンサ12,13の代わりに、電流の大きさを出力するセ
ンサや、受光した光の量に応じて電圧を出力する一対の
センサを備えるように異常検出装置11を構成してもよ
い。この場合でもその一対のセンサは、物理量の変化に
応じた出力値が互いに反対の出力特性を有するととも
に、同出力値を加算した際に一定の合計出力値が得られ
るものを採用する。このように構成すると、電流の大き
さを検出するセンサの異常検出装置や、光量を検出する
センサの異常検出装置などを具体化できる。
【0081】
【発明の効果】以上詳述したように、請求項1〜10に
記載の発明によれば、センサの出力特性の異常を検出で
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 第1実施形態における異常検出装置の電気的
構成を示す電気回路図。
【図2】 第1実施形態における各抵抗体の配置状態を
示す説明図。
【図3】 第1実施形態における抵抗体の等価回路。
【図4】 第1実施形態における磁束の向きと各センサ
の出力特性との関係を示す特性図。
【図5】 第2実施形態における異常検出装置の電気的
構成を示す電気回路図。
【図6】 第2実施形態における各抵抗体の配置状態を
示す説明図。
【図7】 第3実施形態における異常検出装置の電気的
構成を示す電気回路図。
【図8】 第4実施形態における異常検出装置の電気的
構成を示す電気回路図。
【図9】 他の実施形態における差動増幅回路の電気的
構成を示す電気回路図。
【図10】 他の実施形態における差動増幅回路の電気
的構成を示す電気回路図。
【図11】 他の実施形態における加算増幅回路の電気
的構成を示す電気回路図。
【図12】 他の実施形態における磁束の向きと各セン
サの出力特性との関係を示す特性図。
【図13】 他の実施形態における磁束の向きと各セン
サの出力特性との関係を示す特性図。
【図14】 従来技術における入力と出力との関係を示
す特性図。
【符号の説明】
11,31,41,51…センサの異常検出装置、12
…センサとしての第1センサ、13,32…センサとし
ての第2センサ、14…加算手段としての加算回路、1
5…判定手段としての中央演算処理装置(CPU)、2
0,21…磁気検出手段としての検出回路、22,23
…増幅手段としてのオペアンプ、B…ブリッジ回路とし
ての4端子ブリッジ回路、R1〜R4…磁気抵抗素子と
しての抵抗体、T1…非反転入力端子、T2…反転入力
端子。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 西部 泰司 愛知県丹羽郡大口町豊田三丁目260番地 株式会社東海理化電機製作所内 (72)発明者 市古 公一 愛知県安城市藤井町高根10番地 アイシ ン・エィ・ダブリュ 株式会社内 (72)発明者 新家 徹 愛知県安城市藤井町高根10番地 アイシ ン・エィ・ダブリュ 株式会社内 Fターム(参考) 2F076 AA06 AA18 2G017 AA06 AD55 BA09 BA11

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 物理量の変化に応じた出力値が互いに反
    対の出力特性を有するとともに、同出力値を加算した際
    に一定の合計出力値が得られる一対のセンサの異常検出
    方法であって、 前記両センサの合計出力値が一定値でないとき、いずれ
    か一方のセンサが異常と判定することを特徴とするセン
    サの異常検出方法。
  2. 【請求項2】 前記各センサは、 4つの磁気抵抗素子によりブリッジ回路を構成する磁気
    検出手段と、 前記磁気検出手段に接続され、前記ブリッジ回路の一対
    の中点の差電圧を増幅する増幅手段とを含むことを特徴
    とする請求項1に記載のセンサの異常検出方法。
  3. 【請求項3】 前記磁気検出手段は、 配置向きが互いに異なることによって、互いに反対の出
    力特性を有するものであることを特徴とする請求項2に
    記載のセンサの異常検出方法。
  4. 【請求項4】 前記増幅手段には反転入力端子及び非反
    転入力端子を含み、 前記一対のセンサは、 各ブリッジ回路を構成する磁気検出手段の配置向きが同
    じであるときには、同じ出力特性を有するとともに、前
    記ブリッジ回路における一対の中点の増幅手段に対する
    反転入力端子と非反転入力端子との接続が互いに反対で
    あることを特徴とする請求項2に記載のセンサの異常検
    出方法。
  5. 【請求項5】 前記一対のセンサは、リニア出力特性を
    有することを特徴とする請求項1乃至請求項4のうちい
    ずれか1項に記載のセンサの異常検出方法。
  6. 【請求項6】 物理量の変化に応じた出力値が互いに反
    対の出力特性を有するとともに、同出力値を加算した際
    に一定の合計出力値が得られる一対のセンサと、 前記一対のセンサの出力を加算する加算手段と、 前記加算手段が加算した前記両センサの合計出力値が一
    定値でないとき、いずれか一方のセンサが異常と判定す
    る判定手段を備えたことを特徴とするセンサの異常検出
    装置。
  7. 【請求項7】 前記各センサは、 4つの磁気抵抗素子によりブリッジ回路を構成する磁気
    検出手段と、 前記磁気検出手段に接続され、前記ブリッジ回路の一対
    の中点の差電圧を増幅する増幅手段とを含むことを特徴
    とする請求項6に記載のセンサの異常検出装置。
  8. 【請求項8】 前記磁気検出手段は、 配置向きが互いに異なることによって、互いに反対の出
    力特性を有するものであることを特徴とする請求項7に
    記載のセンサの異常検出装置。
  9. 【請求項9】 前記増幅手段には反転入力端子及び非反
    転入力端子を含み、 前記一対のセンサは、 各ブリッジ回路を構成する磁気検出手段の配置向きが同
    じであるときには、同じ出力特性を有するとともに、前
    記ブリッジ回路における一対の中点の増幅手段に対する
    反転入力端子と非反転入力端子との接続が互いに反対で
    あることを特徴とする請求項7に記載のセンサの異常検
    出装置。
  10. 【請求項10】 前記一対のセンサは、リニア出力特性
    を有することを特徴とする請求項6乃至請求項9のうち
    いずれか1項に記載のセンサの異常検出装置。
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