JP2009209246A - 樹脂組成物、接着剤層、及びそれらを用いて作製した半導体装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】導電性粒子(A)、熱硬化性樹脂(B)、スルフィド結合を有する化合物がスルフィド結合とアルコキシシリル基を有する化合物(C1)、及びスルフィド結合と水酸基を有する化合物(C2)を含むことを特徴とする樹脂組成物、接着剤層、並びに該樹脂組成物を使用して作製したことを特徴とする半導体装置である。
【選択図】 なし
Description
これらの場合に半導体素子を接着する材料は熱伝導率だけでなく各界面において良好な塗布作業性が求められ、ボイド、剥離など熱拡散を悪化させる要因は排除される必要がある。
前記化合物(C2)は、芳香族環を含まない化合物であることができる。
前記化合物(C2)は、2,2'−ジチオジエタノール、3−チアペンタンジオール、3,6−ジチアオクタン−1,8−ジオール、及び3,6,9−トリチアウンデカン−1,11−ジオールからなる群より選ばれる少なくとも1つ以上の化合物であることができる。
前記化合物(C1)と前記化合物(C2)の配合比は (C1)/(C2)=1/9〜9/1であることができる。
本発明の接着剤層は、前述の樹脂組成物を加熱することにより得られることを特徴とする。
本発明の半導体装置は、前述の樹脂組成物を半導体用ダイアタッチペーストまたは放熱部材接着用材料として用いて作製したことを特徴とする。
本発明の接着剤層は、該樹脂組成物を加熱することにより得られるものであって、高温リフロー処理後でも剥離が生じない高信頼性のものである。
本発明の半導体装置は、該樹脂組成物を半導体用ダイアタッチペーストまたは放熱部材接着用材料として用いて作製したものであって、高温リフロー処理後でも剥離の生じない高信頼性のものである。
以下、本発明について詳細に説明する。
熱伝導性の向上の観点から特に好ましい導電性粒子(A)は銀粉である。ここで銀粉とは純銀又は銀合金の粉末であり、銀合金としては銀を50重量%以上、好ましくは70重量%以上含有する銀−銅合金、銀−パラジウム合金、銀−錫合金、銀−亜鉛合金、銀−マグネシウム合金、銀−ニッケル合金などである。銀粉が好ましいのは良好な導電性、熱伝導性を有する上に酸化されにくく加工性にも優れるからである。
ジヒドラジド化合物としては、アジピン酸ジヒドラジド、ドデカン酸ジヒドラジド、イソフタル酸ジヒドラジド、p−オキシ安息香酸ジヒドラジドなどのカルボン酸ジヒドラジドなどが挙げられ、酸無水物としてはフタル酸無水物、テトラヒドロ無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、エンドメチレンテトラヒドロフタル酸無水物、ドデセニルコハク酸無水物、無水マレイン酸とポリブタジエンの反応物、無水マレイン酸とスチレンの共重合体などが挙げられる。
特に好ましいアクリル樹脂は分子量が500〜10000のポリエーテル、ポリエステル、ポリカーボネート、ポリ(メタ)アクリレート、ポリブタジエン、ブタジエンアクリロニトリル共重合体で(メタ)アクリル基を有する化合物である。
ポリエーテルとしては、炭素数が3〜6の有機基がエーテル結合を介して繰り返したものが好ましく、芳香族環を含まないものが好ましい。ポリエーテルポリオールと(メタ)アクリル酸またはその誘導体との反応により得ることが可能である。
ポリエステルとしては、炭素数が3〜6の有機基がエステル結合を介して繰り返したものが好ましく、芳香族環を含まないものが好ましい。ポリエステルポリオールと(メタ)アクリル酸またはその誘導体との反応により得ることが可能である。ポリカーボネートとしては、炭素数が3〜6の有機基がカーボネート結合を介して繰り返したものが好ましく、芳香族環を含まないものが好ましい。ポリカーボネートポリオールと(メタ)アクリル酸またはその誘導体との反応により得ることが可能である。
ポリブタジエンとしては、カルボキシ基を有するポリブタジエンと水酸基を有する(メタ)アクリレートとの反応、水酸基を有するポリブタジエンと(メタ)アクリル酸またはその誘導体との反応により得ることが可能であり、また無水マレイン酸を付加したポリブタジエンと水酸基を有する(メタ)アクリレートとの反応により得ることも可能である。
ブタジエンアクリロニトリル共重合体としては、カルボキシ基を有するブタジエンアクリロニトリル共重合体と水酸基を有する(メタ)アクリレートとの反応により得ることが可能である。
例えば化合物(C1)は金属表面との密着力向上効果があることは公知であり、被着体が銀メッキ表面の場合、Ni−Pdメッキ表面の場合には良好な接着力を示すようになるが、被着体表面が銅の場合には接着力は向上するものの、その効果は十分ではなく、さらに銅表面への接着力を向上させるとトレードオフとして銀メッキ表面との接着力が低下するなど、銅表面への接着力と銀メッキ表面への接着力の両立は困難であった。
ここで化合物(C1)と化合物(C2)を併用することで化合物(C1)の特徴である銀メッキ表面への高接着特性を維持しつつ、銅表面への接着力を大幅に向上させることが可能となり、被着体が銅表面の場合でも、銀メッキ表面の場合と同様に信頼性の高い接着剤層を得ることが可能となった。
化合物(C1)は少なくとも1つのアルコキシシリル基を有するが、より好ましいのはアルコキシシリル基が2つの場合である。このような化合物としてはビス(トリメトキシシリルプロピル)テトラスルフィド、ビス(トリエトキシシリルプロピル)テトラスルフィド、ビス(トリブトキシシリルプロピル)テトラスルフィド、ビス(ジメトキシメチルシリルプロピル)テトラスルフィド、ビス(ジエトキシメチルシリルプロピル)テトラスルフィド、ビス(ジブトキシメチルシリルプロピル)テトラスルフィド、ビス(トリメトキシシリルプロピル)ジスルフィド、ビス(トリエトキシシリルプロピル)ジスルフィド、ビス(トリブトキシシリルプロピル)ジスルフィド、ビス(ジメトキシメチルシリルプロピル)ジスルフィド、ビス(ジエトキシメチルシリルプロピル)ジスルフィド、ビス(ジブトキシメチルシリルプロピル)ジスルフィドなどが挙げられる。これら化合物はスルフィド結合の繰り返し数に分布があり、例えばビス(トリメトキシシリルプロピル)テトラスルフィドとは高速液体クロマトグラムなどにて測定して得られた平均スルフィド結合数が約4の化合物である。
また、この芳香族環を含まない化合物のなかでも特に好ましいものはスルフィド結合と水酸基を2個有する化合物であり、具体的には2,2’−ジチオジエタノール、3−チアペンタンジオール、3,6−ジチアオクタン−1,8−ジオール、及び3,6,9−トリチアウンデカン−1,11−ジオールからなる群より選ばれる少なくとも1つ以上の化合物である。これらの化合物を採用することでさらに銅表面への接着特性が良好になる。
このとき接着剤層の厚みについてはとくに制限を受けるものではないが、塗布作業性、及び銀メッキ表面に対する接着特性と銅表面に対する接着特性とのバランスを考慮すると、5μm以上、100μm以下、好ましくは10μm以上、50μm以下であるのが望ましい。特に好ましいのは10μm以上、30μm以下である。下限値未満では接着特性が悪化する場合があり、上限値を超えるとでは接着剤層の厚み制御が困難になり銀メッキ表面に対する接着特性と銅表面に対する接着特性とのバランスが安定しない場合があるからである。
[実施例1]
導電性粒子(A)として平均粒径8μm、最大粒径30μmのフレーク状銀粉(以下銀粉)を、熱硬化性樹脂(B)としてポリテトラメチレングリコールとイソホロンジイソシアネートと2−ヒドロキシメチルメタクリレートとの反応により得られたウレタンジメタクリレート化合物(分子量約1600、以下化合物B1)、1,4−シクロヘキサンジメタノールモノアクリレート(日本化成(株)製、CHDMMA、以下化合物B6)、2−メタクリロイルオキシエチルコハク酸(共栄社化学(株)製、ライトエステルHO−MS、以下化合物B7)、1,6−ヘキサンジオールジメタクリレート(共栄社化学(株)製、ライトエステル1,6HX、以下化合物B8)、ジクミルパーオキサイド(日本油脂(株)製、パークミルD、急速加熱試験における分解温度:126℃、以下重合開始剤)を、スルフィド結合とアルコキシシリル基を有する化合物(C1)としてビス(トリエトキシシリルプロピル)テトラスルフィド(ダイソー(株)製、カブラス4、以下化合物C11)を、スルフィド結合と水酸基を有する化合物(C2)として3,6−ジチアオクタン−1,8−ジオール(試薬、以下化合物C21)を、3−グリシジルプロピルトリメトキシシラン(信越化学工業(株)製、KBM−403E、以下化合物Z1)を表1のように配合し、3本ロールを用いて混練し、脱泡することで樹脂組成物を得た。配合割合は重量部である。得られた樹脂組成物を以下の方法により評価した。評価結果を表1に示す。
以下の化合物を使用した。
ポリテトラメチレングリコールとマレイミド化酢酸の反応により得られたビスマレイミド化合物(分子量580、以下化合物B2)、シクロヘキサンジカルボン酸のジアリルエステルとポリプロピレングリコールとの反応により得られたジアリルエステル化合物(分子量1000、ただし原料として用いたシクロヘキサンジカルボン酸のジアリルエステルを約15%含む、以下化合物B3)、1,4−シクロヘキサンジメタノール/1,6−ヘキサンジオール(=3/1(重量比))と炭酸ジメチルの反応により得られたポリカーボネートジオールとメチルメタクリレートの反応により得られたポリカーボネートジメタクリレート化合物(分子量1000、以下化合物B4)、酸価108mgKOH/gで分子量4600のアクリルオリゴマーと2−ヒドロキシメタクリレート/ブチルアルコール(=1/2(モル比))との反応により得られたメタクリル化アクリルオリゴマー(分子量5000、以下化合物B5)、ビスフェノールAとエピクロルヒドリンとの反応により得られるジグリシジルビスフェノールA(エポキシ当量180、常温で液体、以下化合物B9)、クレジルグリシジルエーテル(エポキシ当量185、以下化合物B10)、ビスフェノールF(大日本インキ工業(株)製、DIC−BPF、水酸基当量100、以下化合物B11)、ジシアンジアミド(以下化合物B12)、2−メチルイミダゾールと2,4−ジアミノ−6−ビニルトリアジンとの付加物(四国化成工業(株)製、キュアゾール2MZ−A、以下化合物B13)、化合物(C1)としてビス(トリエトキシシリルプロピル)ジスルフィド(ダイソー(株)製、カブラス2A、以下化合物C12)、化合物(C2)として3,6,9−トリチアウンデカン−1,11−ジオール(試薬、以下化合物C22)。
これらの中から選択した化合物を表1のように配合し、実施例1と同様に3本ロールを用いて混練し、脱泡することで樹脂組成物を得た。配合割合は重量部である。得られた樹脂組成物を以下の方法により評価した。評価結果を表1に示す。
表1に示す割合で配合し実施例1と同様に樹脂組成物を得た。
得られた樹脂組成物を以下の方法により評価した。評価結果を表1に示す。
・塗布作業性:表1に示す樹脂組成物を用いて、15×15×0.5mmのシリコンチップを銅ヒートスプレッダー(25×25×2mm、被着面は銅表面)にマウントし、175℃オーブンにて30分硬化した。硬化後の濡れ広がり性の様子を超音波探傷装置(反射型)にて測定し塗布作業性の指標とした。濡れ面積が90%以上のものを合格とした。
・耐リフロー性(1):表1に示す樹脂組成物を用いて下記のリードフレームにシリコンチップをマウントしオーブン中175℃30分間硬化し接着した。マウントはダイボンダー(ASM社製)を用い、樹脂組成物塗布直後に塗布厚みが約25μmになるように調整して行った。樹脂組成物硬化後のリードフレームを封止材料(スミコンEME−G700H、住友ベークライト(株)製)を用い封止し、半導体装置を作製した。この半導体装置を85℃、相対湿度60%、168時間吸湿処理した後、IRリフロー処理(260℃、10秒、3回リフロー)を行った。処理後の半導体装置を超音波探傷装置(透過型)により剥離の程度を測定した。剥離面積の単位は%である。ダイアタッチ部の剥離面積が10%未満の場合を合格とした。
半導体装置:QFP(14×20×2.0mm)
リードフレーム:銀メッキした銅フレーム(被着部分が銀メッキ)
チップサイズ:6×6mm
・耐リフロー性(2):使用するリードフレームとして銀リングメッキした銅フレーム(被着部分が銅表面)を使用した以外は耐リフロー性(1)と同様にして半導体装置を作製し剥離の測定を行った。ダイアタッチ部の剥離面積が10%未満の場合を合格とした。
これに対し本発明を逸脱する比較例1に示す樹脂組成物は、塗布作業性は良好であるが、化合物(C1)及び化合物(C2)を含まないため接着特性に劣り、耐温度サイクル試験及び耐リフロー試験において顕著な剥離の進展が見られた。比較例2に示す樹脂組成物は、塗布作業性は良好であるが、化合物(C1)を含まないため接着特性に劣り、耐リフロー試験において顕著な剥離の進展が見られた。比較例3に示す樹脂組成物は、塗布作業性は良好であるが、化合物(C2)を含まないため銅表面に対する接着特性に劣り、耐温度サイクル試験及び銀リングメッキ銅フレーム(被着部分が銅表面)を用いた耐リフロー試験において顕著な剥離の進展が見られた。
Claims (6)
- 導電性粒子(A)、熱硬化性樹脂(B)、スルフィド結合とアルコキシシリル基を有する化合物(C1)、及びスルフィド結合と水酸基を有する化合物(C2)を含むことを特徴とする樹脂組成物。
- 前記化合物(C2)が、芳香族環を含まない化合物である請求項1に記載の樹脂組成物。
- 前記化合物(C2)が、2,2'−ジチオジエタノール、3−チアペンタンジオール、3,6−ジチアオクタン−1,8−ジオール、及び3,6,9−トリチアウンデカン−1,11−ジオールからなる群より選ばれる少なくとも1つ以上の化合物である請求項1または請求項2に記載の樹脂組成物。
- 前記化合物(C1)と前記化合物(C2)の配合比が (C1)/(C2)=1/9〜9/1である請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の樹脂組成物。
- 請求項1〜請求項4のいずれか1項に記載の樹脂組成物を加熱することにより得られることを特徴とする接着剤層。
- 請求項1〜請求項4のいずれか1項に記載の樹脂組成物を半導体用ダイアタッチペーストまたは放熱部材接着用材料として用いて作製したことを特徴とする半導体装置。
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