JP2010054906A - 液晶装置およびプロジェクタ - Google Patents

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Abstract

【課題】反射型液晶装置においては、反射電極が画素電極として用いられている。隣り合う画素電極の間には間隙が設けられている。しかし、この間隙により光利用効率が低下し、かつ滑らかな画質が得られない。そこで、間隙に入射した光を表示に利用するために、平面視にてこの間隙と重なる反射層を設ける技術が公知であるが、光の反射方向が制御されていないため、反射電極に対してほぼ垂直に入射した光のみしか有効利用できず、明るく滑らかな映像を表示できない。
【解決手段】凹形状の断面を有する反射層8を、平面視にて画素電極9の間に位置する間隙2と重なるように配置した。凹形状を有していることから、斜め方向から間隙2に入射された光も反射層8によって反射されて間隙2から射出される。そのため、明るく、かつ滑らかな映像を表示できる液晶装置120を得ることが可能となる。
【選択図】図3

Description

本発明は、液晶装置およびプロジェクタに関する。
小型でテレビ映像等を大画面に表示するものとして、液晶装置を用いたプロジェクタが重用されている。その典型的な例として、RGB(赤、緑、青)の光3原色毎に画像を分解し、各色毎に像を形成した後、再び合成して画像を形成するものが用いられている。
このようなプロジェクタを実現するための液晶装置として、反射型液晶装置が知られている。反射型液晶装置は、透過型液晶装置に比べ画素間の間隙が狭く、滑らかな映像を得ることができるという利点がある。この場合においても、反射型液晶装置の電極を兼ねている各反射層間を電気的に分離することが必要であり、電極間に間隙を設けることが必要となる。
この間隙を光学的に埋めるべく、たとえば特許文献1に示されるように、拡散反射性を有する反射材をこの間隙に設ける技術が知られている。また、特許文献2に示されるように、この間隙と平面視にて重なる反射層を設け、入射光を反射させることで間隙から入射した光を反射させる技術が知られている。また、特許文献3に示すように、平面視にて間隙にあたる領域の少なくとも一部にカラーフィルターを含む反射層を設ける技術が知られている。
特開平7−294896号公報 特開平10−177169号公報 特開2007−133423号公報
しかしながら、上記したいずれの先行技術においても、間隙に入射した光の反射方向が制御されていないため、入射光の光軸が液晶層の法線に対して傾いている場合、その反射光は表示に利用できないため、間隙領域は暗くなる。この現象は、液晶層の法線に対して10°程度以上傾いた向きにある場合に顕著となる。この場合、間隙領域が暗くなることで、映像の滑らかさが得られないという課題がある。また、光の有効利用率が低下するため、液晶装置の輝度が低下するという課題がある。
本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり以下の形態又は適用例として実現することが可能である。なお、以下の記載において、「焦点」とは光が最も狭い範囲に収束される位置と定義する。
[適用例1]本適用例にかかる液晶装置は第1基板と、光学的に透明な第2基板と、前記第1基板と前記第2基板との間に設けられた液晶層と、前記第1基板と前記液晶層との間に設けられた光反射性の複数の画素電極と、前記画素電極を備えた画素と、前記第2基板と前記液晶層との間に設けられた透光性を有する電極と、前記画素電極よりも前記第1基板側間に、複数の前記画素電極のうち第1の画素電極と該第1の画素電極と隣り合う第2の画素電極との間の間隙の少なくとも一部に平面視したとき重なるように設けられた、該第1の画素電極と該第2の画素電極とが隣り合う方向の断面が前記液晶層と反対側に窪んだ凹面を有する反射層と、を含むことを特徴とする。
これによれば、第1の画素電極と該第1の画素電極と隣り合う第2の画素電極との間の間隙を第2基板側からいろいろな角度で通過した光を反射層によって第2基板側に反射させて表示に利用することが可能となる。ここで、第1電極周辺に設けられた間隙に位置する液晶層は、第1電極からのフリンジ効果により、配向が制御される。また、本発明による液晶装置は、液晶層に電圧が印加されていないときは暗状態が表示され、液晶層に電圧が印加されたときは明状態が表示されるため、間隙を通過して反射層によって反射された光は、電圧が印加されていないときには遮断され、電圧が印加されたときには遮断されないため、間隙も画素と同様に有効な表示領域として機能する。第1の画素電極と第2の画素電極とが隣り合う方向の断面が、前記液晶層と反対側に窪んだ凹面を有するような反射層を用いることで、間隙に斜めに入射してきた光の反射光の光軸を第1基板の法線方向に近づけることが可能となり、平らな反射層を用いる場合と比較して光の利用効率が高くなるため、明るい液晶装置を提供することが可能となる。
[適用例2]上記適用例にかかる液晶装置であって、前記間隙における前記液晶層には、前記第1の画素電極の端縁からのフリンジ効果による電界と前記第2の画素電極の端縁からのフリンジ効果による電界が印加され、当該電界により前記間隙が表示に利用されることを特徴とする。
上記した適用例によれば、第1の画素電極と第2の画素電極との間は、フリンジ効果を用いることで配向させられている。そのため、間隙も表示に寄与させることが可能となり、より明るい液晶装置を提供することが可能となる。
[適用例3]上記適用例にかかる液晶装置であって、前記第1の画素電極を備えた第1の画素と前記第2の画素電極を備えた第2の画素の表示状態がともに明状態のときには、前記間隙も明状態であり、前記第1の画素と前記第2の画素の表示状態がともに暗状態のときには、前記間隙も暗状態であることを特徴とする。
上記した適用例によれば、第1の画素電極と第2の画素電極とにより液晶の表示状態を確認することができ、第1の画素電極と第2の画素電極との間隙に位置する領域が両画素により制御を正常に受けていることを視覚的に確認することが可能となる。
[適用例4]上記適用例にかかる液晶装置であって、前記反射層の断面形状が放物線形状を有することを特徴とする。
上記した適用例によれば、第2基板側から間隙を通過した光は反射層により反射され、さらに収束されて間隙内を通過する。そのため、平らな反射層を用いる場合と比べ、間隙に斜めに入射してきた光の利用効率が高くなりより明るい液晶装置を提供することが可能となる。
[適用例5]上記適用例にかかる液晶装置であって、前記反射層は、平面視したとき、前記画素電極の端縁の少なくとも一部と重なることを特徴とする。
上記した適用例によれば、反射層は少なくとも一部の領域で画素電極と重なる。そのため、画素電極と平面視したとき、重なる領域が形成される。その分光利用率が高くなるため、より明るい液晶表示装置を提供することが可能となる。
[適用例6]上記適用例にかかる液晶装置であって、前記第2基板側から前記間隙を通過した光は前記反射層によって反射され、さらに前記間隙内に収束されることを特徴とする。
上記した適用例によれば、間隙を通過して入ってきた光は、間隙内に収束されるよう反射し、射出される。そのため、斜め方向から入ってきた光も表示に寄与させることが可能となり、より明るい液晶表示装置を提供することが可能となる。
[適用例7]上記適用例にかかる液晶装置であって、前記反射層は、前記第1基板の一部を遮光する遮光層と同じ層を用いていることを特徴とする。
上記した適用例によれば、製造工程を短縮することができる。遮光層と反射層を同一の層を用いて形成することで反射層を別に設ける必要がなくなるため、液晶装置を短い製造期間で提供することが可能となる。
[適用例8]本適用例にかかるプロジェクタは、上記記載の液晶装置を用いたことを特徴とする。
これによれば、明るい液晶装置を用いてプロジェクタが構成されるため、輝度の高いプロジェクタを提供することが可能となる。
以下、本発明を具体化した各実施形態を図面に基づいて説明する。
(第1の実施形態:液晶装置)
まず、第1の実施形態として、液晶装置について説明する。図1は、第1の実施形態にかかる液晶装置の等価回路図、図2は、液晶装置の平面図、図3は図2におけるA−A’線断面図である。
図1に示すように、TFTアレイ基板100には、画像表示領域を構成するマトリクス状に配置された複数の画素を有している。そして、各画素毎に画素電極9とスイッチング素子であるTFT(薄膜トランジスタ)90がそれぞれ形成されており、画像信号が供給されるデータ線6aが当該TFT90のドレイン領域18(図3参照)に電気的に接続されている。画像信号S1,S2,…,Snは、この順に線順次にデータ線6aに供給されるか、あるいは相隣接する複数のデータ線6aに対してグループ毎に供給される。
また、走査線3aはTFT90のゲート電極24a(図3参照)に電気的に接続されており、複数の走査線3aに対して走査信号G1,G2,…,Gmが所定のタイミングでパルス的に線順次で印加される。また、画素電極9はTFT90のドレイン領域18に電気的に接続されており、スイッチング素子であるTFT90を一定期間だけオンすることにより、データ線6aから供給される画像信号S1,S2,…,Snを所定のタイミングで書き込む。
画素電極9を介して液晶層102(図3参照)に印加された所定レベルの画像信号S1,S2,…,Snは、共通電極108(図3参照)との間で一定期間保持される。液晶層102は、印加される電圧レベルにより液晶分子の配向が変化することにより、光を変調し、階調表示を可能にする。ここで、保持された画像信号がリークすることを防止するために、画素電極9と共通電極108との間に形成される液晶層102が有する容量と並列に蓄積容量98が付加されている。
図3に示すように、本実施形態の液晶装置120は、液晶層102を挟持して対向配置され、TFT90や画素電極9a,9bが形成されたTFTアレイ基板100と、共通電極108が形成された対向基板104とを具備して構成されている。
以下、図2に基づいて、TFTアレイ基板100の平面構造について説明する。TFTアレイ基板100には、矩形状の画素電極9a,9bが複数、マトリクス状に設けられており、図2に示すように、各画素電極9a,9bの縦横の境界に沿って、データ線6a、走査線3a及び容量線3bが設けられている。本実施形態において、各画素電極9a,9b及び各画素電極9a,9bを囲むように配設されたデータ線6a、走査線3a等が形成された領域が1画素となっている。
データ線6aは、TFT90を構成する多結晶半導体層14a(図3参照)のうちドレイン領域18に、コンタクトホール92を介して電気的に接続されており、画素電極9a,9bは、多結晶半導体層14aのうちソース領域19に、コンタクトホール96、ソース線6b、コンタクトホール94を介して電気的に接続されている。また、走査線3aの一部が、多結晶半導体層14aのうちチャネル領域20に対向するように拡幅されており、走査線3aの拡幅された部分が、ゲート電極24aとして機能する。また、TFT90を構成する多結晶半導体層14aは、容量線3bと対向する部分にまで延設されており、この延設部分1fを下電極、容量線3bを上電極とする蓄積容量98が形成されている。
次に、図3に基づいて、本実施形態の液晶装置の断面構造について説明する。TFTアレイ基板100は、ガラスやシリコンを用いた基板10とその液晶層102側に形成された画素電極9a,9b、TFT90、配向層11を主体として構成されており、対向基板104はガラス等の透光性材料からなる基板104Aとその液晶層102側表面に形成された、インジウム・錫・酸化物(ITO)等を用いた光透過性の共通電極108と配向層110とを主体として構成されている。
詳細には、TFTアレイ基板100において、基板10の直上に、シリコン酸化層等からなる下地保護層12が形成されている。また、基板10の液晶層102側にはアルミニウム等を用いた画素電極9a,9bが設けられ、各画素電極9a,9bに対応してTFT90が設けられている。
下地保護層12上には、多結晶シリコンからなる多結晶半導体層14aが所定のパターンで形成されており、この多結晶半導体層14a上に、シリコン酸化層等からなるゲート絶縁層22が形成され、このゲート絶縁層22上に、ゲート電極24aが形成されている。また、多結晶半導体層14aのうち、ゲート絶縁層22を介してゲート電極24aと対向する領域が、ゲート電極24aからの電界によりチャネルが形成されるチャネル領域20となっている。また、多結晶半導体層14aにおいて、チャネル領域20の一方側(図示左側)には、ドレイン領域18が形成され、他方側(図示右側)にはソース領域19が形成されている。そして、ゲート電極24a、ゲート絶縁層22、データ線6a、ソース線6b、多結晶半導体層14aのドレイン領域18、チャネル領域20、ソース領域19等により、TFT90が構成されている。
本実施形態において、TFT90は、LDD構造を有するものとなっており、不純物濃度が相対的に高いドレイン領域18及びソース領域19と、相対的に低い低濃度領域としてドレイン側低濃度領域26、ソース側低濃度領域27が形成されている。
また、基板10上には、シリコン酸化層等を用いた第1層間絶縁層4が形成されており、この第1層間絶縁層4上に、データ線6a及びソース線6bが形成されている。データ線6aは、図示せぬコンタクトホールを介して、多結晶半導体層14aのドレイン領域18に電気的に接続されており、ソース線6bは、第1層間絶縁層4に形成されたコンタクトホール94を介して、多結晶半導体層14aのソース領域19に電気的に接続されている。
また、データ線6a、ソース線6bが形成された第1層間絶縁層4上には、シリコン窒化物等を用いた第2層間絶縁層5が形成されており、第2層間絶縁層5上には、たとえばアルミニウム等の金属を用いた遮光層8aが形成されている。遮光層8aは、TFT90等、迷光により動作が不安定となる領域を遮光する機能を有している。遮光層8aは、第2層間絶縁層5に形成されたコンタクトホール96を介して、ソース線6bと電気的に接続されている。第2層間絶縁層5上には、酸窒化シリコン等を用いて設けられた第3層間絶縁層7が備えられている。そして、第3層間絶縁層7に形成されたコンタクトホール97を介して、画素電極9aは遮光層8aと電気的に接続されている。また、TFTアレイ基板100の液晶層102側最表面には、液晶層102内の液晶分子の配列を制御するための配向層11が形成されている。
他方、対向基板104においては、基板104Aの液晶層102側に、そのほぼ全面に渡って、ITO等を用いた共通電極108が形成されている。そして、共通電極108と液晶層102との間には、配向層110が形成されている。
また、TFTアレイ基板100に設けられた互いに隣り合う画素電極9aと画素電極9bの間の間隙2の基板10側には、凹形状を有する反射層8が設けられている。反射層8は間隙2と平面視で重なるように設けられており、対向基板104側から入射してきた光を対向基板104側に反射する。反射層8の形状は、間隙2よりも広く、平面視にて画素電極9aの端縁と画素電極9bの端縁と重なることが好ましい。画素電極9aと画素電極9bとが隣り合う方向の断面形状は、たとえば放物線形状を有することが好ましく、かつ放物線の頂点が間隙2の中央を通る形状が好ましく、さらに、反射層8によって反射された光が間隙2内に収束されることが好ましい。この場合、間隙2を通して入射してきた光は反射層8により反射・収束されて間隙2内を再び通過する。
ここで、画素電極9a,9bの端部から離れた位置においても画素電極9a,9bからのフリンジ効果により液晶層102に電界が印加される。そして、間隙2の幅はフリンジ効果が間隙2内に届くよう、充分狭くしている。さらに、本発明による液晶装置は、液晶層102に電圧が印加されていないときは暗状態が表示され、液晶層102に電圧が印加されたときは明状態が表示される。したがって、画素電極9a,9bに電圧が印加されていないときにはその周囲の間隙2の液晶層102にも電圧が印加されないため、間隙を通過して反射層8によって反射された光は遮断される。そのため、間隙2には遮光層が設けられているとみなすことができる。一方、画素電極9a,9bに電圧が印加されているときには、そのフリンジ効果によって間隙2の液晶層にも電圧が印加されるために、反射光は遮断されない。従って、間隙2も画素と同様に有効な表示領域として機能する。たとえば、画素電極9aを備えた第1の画素と画素電極9bを備えた第2の画素の表示状態がいずれも暗状態ならば、隙間2も暗状態となる。そして、第1の画素と第2の画素の表示状態がいずれも明状態ならば、隙間2も明状態となる。
このように、暗状態を表示するときには、間隙2に反射層8が設けられているにもかかわらず、間隙に遮光膜が設けられている場合と同等な暗状態が得られる。一方、明状態を表示するときには、間隙2も画素電極9a,9bが備えられた領域と同様に、有効な表示領域として機能するため光の利用効率が高くなり、明るくなる。従って、コントラスト比が非常に高い表示が得られる。
間隙2の幅は、フリンジ効果が及ぶ距離のほぼ2倍以下が好ましい。2倍を越えると、画素電極9aからのフリンジ効果も画素電極9bからのフリンジ効果も及ばず、表示に利用できない領域が生じるため、好ましくない。そして、間隙2の最小幅は、加工上の制限で定まり、現状では0.3μm程度の値が下限である。これは、加工技術の進歩とともに変動する値となり、プロセス上安定に形成できるのは、後述する0.5μm程度の値となる。
画素電極9aからのフリンジ効果と、画素電極9bからのフリンジ効果が重なる領域では、両フリンジ効果の影響を受けて中間調の表示が行われる。この領域を表示に寄与させることで滑らかな画像を得ることが可能となる。
間隙2の幅がフリンジ効果が及ぶ距離のほぼ2倍の場合は、画素電極9aからのフリンジ効果と画素電極9bからのフリンジ効果のうち一方のみの効果の影響しか受けない領域が存在するが、その場合でも、フリンジ効果の影響を受けている領域を表示に寄与させることで滑らかな画像を得ることが可能となる。
典型的な値としては、画素電極9a,9bの寸法は5μm程度であり、間隙2の幅は0.5μm程度である。対向基板104側から間隙2を通過した光を対向基板104側に反射することで、10%程度明るさを向上させることが可能となる。また、前述したように画素電極9a,9bの端部から離れた位置においても画素電極9a,9bからのフリンジ効果により液晶層に電界が印加されるため、間隙2を実効的に表示に関与する部分として扱える。そのため、滑らかな映像を表示できる液晶装置120を得ることが可能となる。
また、ここで遮光層8aと反射層8とを同じ層で形成することも好適である。たとえば150nm程度のアルミニウム層を用いることで、遮光層8aと反射層8とを同じ層を用いて形成することが可能となり、製造工程を短縮することが可能となる。また、反射層8の電位を画素電極9a,9bの電位に固定する場合には、遮光層8aと反射層8とを一体に形成すれば製造工程をさらに短縮することが可能となる。
(第1の実施形態の変形例)
以上、液晶装置120について説明したが、以下に示す変形例を用いることも好適である。上記した構造において、画素スイッチング用のTFT90は、LDD構造を有するものを用いているが、これはLDD構造を有する必要は無く、ドレイン側低濃度領域26、ソース側低濃度領域27の両方、あるいは片方を省略しても良い。この場合、TFT90の製造工程を短縮することが可能となる。
また、ドレイン側低濃度領域26、ソース側低濃度領域27の少なくともどちらかを省略することで、TFT90の面積を小さくすることが可能となる。また、TFT90として、PMOSのトランジスタ、またはNMOSのトランジスタのいずれか片側のLDD領域を省略することも可能である。特に、PMOSのトランジスタはホットキャリアの影響を受けにくいため、PMOSのトランジスタのみLDD構造を省略することも好適である。この場合、PMOSのトランジスタの相互コンダクタンスを大きくすることが可能となり、NMOSのトランジスタとの性能差(相互コンダクタンスの値の差)を小さくすることが可能となる。
また、TFT90としてゲートオーバーラップ構造のトランジスタ構造を用いることも好適であり、ホットキャリアによる特性劣化の小さい液晶装置120を提供することができる。なお、この場合でも、PMOSのトランジスタ、NMOSのトランジスタの片側のみにゲートオーバーラップ構造を採用することが可能である。
また、下地保護層12は必須なものではなく、省略可能である。また、多結晶半導体層14aに代えて結晶半導体層やアモルファス半導体層を用いても良い。また、遮光層8aは必須な構成要素ではなく、省略可能である。特に、上記した実施形態では反射層8により画素電極9a,9bとの間に存在する間隙2から入射された光は液晶装置120の外側に返される。従って、液晶装置120内への迷光の侵入が抑えられ、遮光層8aの省略が可能となる。そのため、高い自由度を持ったTFTアレイ基板100のレイアウト設計を行うことが可能となる。
なお、遮光層8aを省略する場合には、直接ソース線6bと、画素電極9a,9bとを接続することで画素電極を駆動することが可能となる。また、遮光層8aがある場合でも、少なくとも一部の領域において、直接ソース線6bと、画素電極9a,9bとを接続しても良い。この場合においても、レイアウト設計の自由度を向上させることが可能となる。
また、反射層8の幅は、必ずしも間隙2よりも広い必要は無く、間隙2よりも狭い範囲で設けても良い。この場合においても、反射層8の存在により液晶装置120の明るさを増加させることが可能である。また、反射層8の電位を固定することは必須用件ではなく、浮動状態に保っても良い。この場合、反射層8の電位を固定する配線を省略することができる。また、反射層8を用いてTFT90と画素電極9a,9bを電気的に接続させても良い。また、一部の領域に対して反射層8を省略することも可能であり、レイアウト設計の自由度を向上させることが可能となる。
また、反射層8の断面形状は、放物線形状に限定されるものではなく、対向基板104側から間隙2を通過した光を反射して、間隙2内に収束させ、少なくとも一部を対向基板104側に射出させる構造を有しておれば良く、2つの平面鏡をV字型に配置した形状や、多段の折れ線形状、楕円の一部等の形状を用いても良い。
また、反射層8によって反射した光が間隙2内に収束されることが好ましいが、それは必須の要件ではなく、液晶層102の斜め方向から入射して反射層8によって反射した光の少なくとも一部が間隙2を再び通過するような凹形状を有する構造等も用いることができる。
また、反射層8と遮光層8aは同じ層を用いて形成することが好ましく、この場合製造工程を短縮することが可能となる。また、反射層8と遮光層8aを別の層を用いて構成しても良く、この場合、レイアウト設計の自由度を向上させることが可能となる。
(第2の実施形態:液晶装置の製造方法)
以下、図1〜図3で説明した液晶装置120の製造方法における一例を図面を用いて説明する。ここで、TFT90の製造方法等は公知であることから、詳細な説明は省略し、上記した実施形態の特徴を示す部分について詳細に説明する。なお、この構造を形成する手段としてはここで示した手段に限定されるものではなく、上記した構造を形成するための実施要件として説明を行うことを主たる目的としている。図4(a)〜(c)、図5(a),(b)は、本実施形態にかかる液晶装置120の製造工程を示す工程断面図である。
まず、工程1として、公知の製造方法を用い、TFT90等を含むTFTアレイ基板100(後述する)の第2層間絶縁層5までを形成する。この工程を終了した時点での構造を図4(a)に示す。
次に、工程2として、公知のフォトリソグラフ・エッチング工程を用いてコンタクトホール96を形成する。この工程を終了した時点での構造を図4(b)に示す。
次に、工程3として、反射層8が位置する場所にある第2層間絶縁層5を凹形状となるようエッチングを行う。このエッチング方法としては、反射層8が位置する場所にある第2層間絶縁層5を開口したテーパー状のレジストパターン200を形成し、レジストパターン200のドライエッチングと第2層間絶縁層5のドライエッチングを同時に行い、凹形状のパターンを形成することで実現可能である。この工程の途中図を図4(c)に示す。ここで、レジストパターンを通常の形状とし、ウェットエッチングとドライエッチングを組み合わせて凹形状のパターンを形成する方法を用いても良い。
次に、スパッタ法等を用いてアルミニウム等を用いた層を堆積し、公知のフォトリソグラフ・エッチング工程を用いて反射層8と遮光層8aとを形成する。ここで、反射層8と遮光層8aとを別の層を用いて形成しても良い。続けて、酸窒化シリコン等を用いて設けられた第3層間絶縁層7を形成し、公知のフォトリソグラフ・エッチング工程を用いてコンタクトホール97を形成する。そして、スパッタ法等を用いてアルミニウム等を用いた層を堆積し、公知のフォトリソグラフ・エッチング工程を用いて、画素電極9a,9bを形成する。続けて、配向層11を形成する。配向層11の製造方法としては、ラビング法、斜め蒸着法、斜め露光法等を用いることができる。ここまでの工程により、この工程を終了した時点での構造を図5(a)に示す。ここまでの工程によりTFTアレイ基板100が形成される。
次に、基板104Aに層厚120nm程度の値を有するITO等を用いた光透過性の共通電極108をイオンプレーティング法等を用いて形成し、前述した配向層11と同様にして配向層110を形成することで対向基板104を形成する。この工程を終了した時点での構造を図5(b)に示す。
次に、TFTアレイ基板100と対向基板104との間に液晶層102を封入することで液晶装置120を形成することができ、図3に示す液晶装置120が形成される。これらの工程を経ることで、図1、図2に示すTFTアレイ基板100や、図3に示す液晶装置120を形成することが可能となる。
(第3の実施形態:プロジェクタ)
次に、上記実施形態の液晶装置を光変調手段として備えたプロジェクタ(投射型表示装置)の構成について、図6を参照して説明する。図6は本実施形態の反射型のプロジェクタの構成を示す図である。
本実施形態に示す反射型のプロジェクタ300は、図6に示すように、光源ランプ211から出射された光(概ね白色光)は、クロスダイクロイックミラーを含む色分解ミラー201により青色光Bと赤色光R・緑色光Gに分光される。また、各光はミラー202を介して偏光ビームスプリッタ(PBS)203に入射され、PBS203によりS偏光光が色光変調用の反射型の液晶装置120B,120R,120Gに入射される。入射された色光は、各々液晶装置120B,120R,120Gに入射し、入射光を変調させた後、出射される。
具体的には、液晶装置120に入射された光は、各画素電極9a,9b(図2参照)と共通電極108(図3参照)間に印加されていた実効電圧に応じて、入射されたS偏光光の偏光軸がP偏光軸とS偏光軸との間で各画素毎に回転制御される。PBS203では反射型の液晶装置120B,120R,120Gから戻ってきたS偏光成分は反射しP偏光成分を透過する。従って、各PBS203からは、液晶装置120B,120R,120Gから出射された光の偏光軸の回転程度に応じた光量の色光が透過してくる。
この光量が、各色光に割り当てられた階調レベルに応じた光量(透過率)に相当する。各PBS203を透過した色光は、色合成プリズム204内にX字状に形成された青色光反射・赤色光反射の波長選択反射層により、青色光Bと赤色光Rが反射され、緑色光Gが透過されて、カラー光が合成されて射出される。このカラー光を投射レンズ205によりスクリーン206に投射する。
本実施形態によれば、開口率が高く明るい液晶装置を搭載したので、高い輝度を持って表示が可能なプロジェクタ300を得ることができる。なお、ここでは光の三原色(RGB)に対応したプロジェクタ300について説明したが、たとえば黄色や、白色を加えた4色、5色に対応した光学系を用いても良い。
第1の実施形態にかかる液晶装置の等価回路図。 液晶装置の平面図。 図2におけるA−A’線断面図。 (a)〜(c)は、液晶装置の製造工程を示す工程断面図。 (a),(b)は、液晶装置の製造工程を示す工程断面図。 反射型のプロジェクタの構成を示す図。
符号の説明
1f…延設部分、2…間隙、3a…走査線、3b…容量線、4…第1層間絶縁層、5…第2層間絶縁層、6a…データ線、6b…ソース線、7…第3層間絶縁層、8…反射層、8a…遮光層、9a…画素電極、9b…画素電極、10…基板、11…配向層、12…下地保護層、14a…多結晶半導体層、18…ドレイン領域、19…ソース領域、20…チャネル領域、22…ゲート絶縁層、24a…ゲート電極、26…ドレイン側低濃度領域、27…ソース側低濃度領域、90…TFT、92…コンタクトホール、94…コンタクトホール、96…コンタクトホール、97…コンタクトホール、98…蓄積容量、100…TFTアレイ基板、102…液晶層、104…対向基板、104A…基板、108…共通電極、110…配向層、120…液晶装置、120B…液晶装置、120R…液晶装置、120G…液晶装置、200…レジストパターン、201…色分解ミラー、202…ミラー、203…PBS、204…色合成プリズム、205…投射レンズ、206…スクリーン、211…光源ランプ、300…プロジェクタ。

Claims (8)

  1. 第1基板と、
    光学的に透明な第2基板と、
    前記第1基板と前記第2基板との間に設けられた液晶層と、
    前記第1基板と前記液晶層との間に設けられた光反射性の複数の画素電極と、
    前記画素電極を備えた画素と、
    前記第2基板と前記液晶層との間に設けられた透光性を有する電極と、
    前記画素電極よりも前記第1基板側間に、複数の前記画素電極のうち第1の画素電極と該第1の画素電極と隣り合う第2の画素電極との間の間隙の少なくとも一部に平面視したとき重なるように設けられた、該第1の画素電極と該第2の画素電極とが隣り合う方向の断面が前記液晶層と反対側に窪んだ凹面を有する反射層と、
    を含むことを特徴とする液晶装置。
  2. 請求項1に記載の液晶装置であって、前記間隙における前記液晶層には、前記第1の画素電極の端縁からのフリンジ効果による電界と前記第2の画素電極の端縁からのフリンジ効果による電界が印加され、
    当該電界により前記間隙が表示に利用されることを特徴とする液晶装置。
  3. 請求項1に記載の液晶装置であって、前記第1の画素電極を備えた第1の画素と前記第2の画素電極を備えた第2の画素の表示状態がともに明状態のときには、前記間隙も明状態であり、
    前記第1の画素と前記第2の画素の表示状態がともに暗状態のときには、前記間隙も暗状態であることを特徴とする液晶装置。
  4. 請求項1乃至3のいずれか一項に記載の液晶装置であって、前記反射層の断面形状が放物線形状を有することを特徴とする液晶装置。
  5. 請求項1乃至4のいずれか一項に記載の液晶装置であって、前記反射層は、平面視したとき、前記画素電極の端縁の少なくとも一部と重なることを特徴とする液晶装置。
  6. 請求項1乃至5のいずれか一項に記載の液晶装置であって、前記第2基板側から前記間隙を通過した光は前記反射層によって反射され、さらに前記間隙内に収束されることを特徴とする液晶装置。
  7. 請求項1乃至6のいずれか一項に記載の液晶装置であって、前記反射層は、前記第1基板の一部を遮光する遮光層と同じ層を用いていることを特徴とする液晶装置。
  8. 請求項1乃至7のいずれか一項に記載の液晶装置を用いたことを特徴とするプロジェク
    タ。
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