JP3373148B2 - コネクタ - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 【０００１】 【発明の属する技術分野】本発明は、開閉器本体制御部
の一部として使用されるコネクタの構造に関するもので
ある。 【０００２】 【従来の技術】従来より、開閉器には配電線路に地絡事
故が発生した場合、配電線上に設けられた零相変流器
（ＺＣＴ）を介して零相電流を検出する地絡継電器が接
続されている。前記地絡継電器は地絡検出信号に基づい
て開閉器内部に設けられているトリップコイルを動作さ
せ、開閉器を自動開放して地絡事故区間を健全線路から
速やかに切り離す。前記継電器は月次点検及び年次点検
として別途用意した地絡特性試験器を用い、地絡事故時
において開閉器を所定時間内に開放できるかどうか等の
特性試験が義務づけられている。前記地絡特性試験は、
地絡特性試験器の試験用プラグコネクタを開閉器本体の
制御部の一部として使用し、開閉器と地絡継電器との間
に接続されている地絡特性チェック用のコネクタ（以
下、「ＧＲチェックコネクタ」という。）に接続して行
われる。 【０００３】前記ＧＲチェックコネクタには複数の雌型
コンタクトピンが配設されており、常状態（非地絡特性
試験時）においては、前記雌型コンタクトピンに対応し
た複数の雄型コンタクトピンを備えたプラグコネクタが
接続される。そして、地絡特性試験時には前記プラグコ
ネクタがＧＲチェックコネクタから外され、同ＧＲチェ
ックコネクタには試験用プラグコネクタが接続される。 【０００４】前記ＧＲチェックコネクタ及びプラグコネ
クタにはそれぞれ金属製の内部フード及び樹脂製の外部
フードが設けられている。そして、前記ＧＲチェックコ
ネクタとプラグコネクタとは、ＧＲチェックコネクタに
プラグコネクタを挿入し、プラグコネクタ外周に設けら
れている金属製の接続ナットをＧＲチェックコネクタ外
周に形成されている雌ネジ部に螺合することによって接
続固定される。前記ＧＲチェックコネクタに配設されて
いる雌型コンタクトピンの基端部にはリード線が圧着や
半田付け等によって接続されており、ＧＲチェックコネ
クタの口出部からコネクタ外部に引き出され、制御装置
内部の端子台や開閉器に接続される。 【０００５】前記ＧＲチェックコネクタに配設されてい
る雌型コンタクトピン間の商用周波耐電圧値は１０００
Ｖ, １分間の性能を有している。また、開閉器本体の制
御部商用周波耐電圧値は２０００Ｖ, １分間の性能を有
している。ＧＲチェックコネクタは開閉器本体の制御部
の一部として使用されるため、同ＧＲチェックコネクタ
の電圧印加箇所においては開閉器本体の制御部の商用周
波耐電圧値と同等の特性を必要とする。即ち、ＧＲチェ
ックコネクタの商用周波耐電圧値を向上させる必要があ
る。そして、前記ＧＲチェックコネクタの商用周波耐電
圧値向上対策として、商用周波耐電圧値の向上を必要と
する特定のコンタクトピンと他のコンタクトピンとの間
隔を大きくしたり、商用周波耐電圧値の高い別のコネク
タを使用したりしていた。 【０００６】 【発明が解決しようとする課題】ところが、前述のよう
に、前記従来の商用周波耐電圧値向上対策はＧＲチェッ
クコネクタに配設されているコンタクトピンの相互間隔
を変更したり、別のコネクタを使用したりするものであ
った。即ち、従来より市場に流通しているＧＲチェック
コネクタとはコンタクトピンナンバー及びコンタクトピ
ンの配置が異なっているＧＲチェックコネクタを使用す
ることとなる。このため、前記商用周波耐電圧値向上対
策を施したＧＲチェックコネクタと、従来より使用され
ている試験用コネクタとの間の互換性が無くなってしま
うという問題があった。 【０００７】また、前記ＧＲチェックコネクタに防水機
能を付加する場合には、コンタクトピン部及びリード線
挿入部に気密構造を設ける必要がある。このため、同レ
ベルの商用周波耐電圧値を有する一般コネクタに比べる
と外径が大きくなり、コスト的にも割高になるという問
題があった。 【０００８】さらに、前記ＧＲチェックコネクタは制御
装置内の僅かなスペースに収納される。前記制御装置内
には端子台が備えられており、同端子台は電源部、動作
出力部等が露出した状態で取り付けられている。このた
め、ＧＲチェックコネクタ及びプラグコネクタの金属製
の内部フード又はプラグコネクタの金属製の接続ナット
と制御装置内の端子台との接触による短絡故障が導かれ
る可能性があった。 【０００９】本発明は上記問題点を解決するためになさ
れたものであって、その第一の目的は、商用周波耐電圧
特性を向上させることができるコネクタを提供すること
にある。 【００１０】第二の目的は、コンタクトピンの位置を変
更することなく、従来より市場に流通している試験用コ
ネクタとの互換性を保ちながら、商用周波耐電圧値を向
上させることができるコネクタを提供することにある。 【００１１】 【００１２】 【００１３】 【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明
は、開閉器と、それとは別の場所に設けられた制御装置
とは制御線を介して接続され、当該開閉器と制御装置と
の間に設けられ、前記開閉器とは制御線及びリード線を
介して接続され、前記制御装置とはリード線を介して接
続される複数の端子を備え、地絡特性試験時には試験用
プラグコネクタが接続される特性チェック用のコネクタ
において、前記複数の端子は絶縁体にて分離絶縁固定さ
れ、複数の端子にはアース端子を含み、少なくともアー
ス端子の周囲には商用周波耐電圧値向上手段を設けると
共に、アース端子には前記リード線を接続し、同リード
線は開閉器のケースに接続され、さらに、前記複数の端
子のうち一対の電源端子は、前記制御装置に設けた端子
のうち制御電源が接続された電源用端子とそれぞれリー
ド線によって接続され、前記商用周波耐電圧値向上手段
としての壁面は、絶縁体にアース端子の長手方向に突出
形成され、アース端子とアース端子以外の端子との間の
絶縁距離を延長する絶縁距離延長構造であることをその
要旨とする。 【００１４】 【００１５】 【００１６】 【００１７】 【００１８】 【発明の実施の形態】（第一実施形態）以下、本発明を
開閉器の地絡継電器に具体化した一実施形態を図１〜図
９に従って説明する。 【００１９】図９に示すように、電柱１０の上部には腕
金１１が設けられており、同腕金１１には開閉器１２が
固定されている。前記電柱１０の下部には収容ケース１
３が設けられており、同収容ケース１３内には開閉器１
２の制御装置としての地絡継電器１４が収容固定されて
いる。前記地絡継電器１４は制御線１５を介して開閉器
１２に接続されており、地絡特性試験時において、前記
地絡継電器１４には地絡特性試験器１６が接続ケーブル
１７を介して接続されるようになっている。 【００２０】図８に示すように、前記開閉器１２は方向
性過電流ロック形高圧気中開閉器であり、同開閉器１２
内のＵ相、Ｖ相及びＷ相からなる各相の配電線１８には
外部操作ハンドル（図示略）によって開閉動作される開
閉部１９が設けられている。尚、図８において、前記配
電線１８は左側が電源側、右側が負荷側に接続されてい
る。前記開閉部１９には同開閉部１９を自動でトリップ
動作させるためのトリップコイル２０がマイクロスイッ
チ２１の一端を介して接続されている。前記トリップ動
作とは、地絡事故が発生した場合、配電線１８に流れる
地絡電流を検出し、整定値以上であれば自動的に開閉部
１９を瞬時に離間（開放）させる動作のことである。 【００２１】前記配電線１８に整定値以上の地絡電流が
流れた場合、トリップコイル２０が励磁され、開閉器１
２は自動的に開放するようになっている。また、配電線
１８に地絡と過電流との併合事故が発生した場合には、
過電流事故を優先させて地絡トリップ回路を開路し、変
電所の遮断器（図示略）が動作して、配電線１８が無充
電の状態に移行した後開放するようになっている。 【００２２】前記マイクロスイッチ２１の他端は過電流
リレー（ＯＣＲ）２２に接続されており、同過電流リレ
ー２２は一対のトリップリレー２３, ２４から構成され
ている。前記一方のトリップリレー２３の共通端子２３
Ｃと他方のトリップリレー２４の常閉接点２４Ａとは接
続されており、負荷側のＵ相又はＷ相にロック電流値以
上の過電流が発生した場合には、トリップリレー２３,
２４のアクチュエータ２３Ｄ, ２４Ｄは常開接点２３
Ｂ, ２４Ｂに接続するように切り替わる。前記マイクロ
スイッチ２１のアクチュエータ２１Ａは開閉部１９の開
閉動作に連動して開閉するようになっている。 【００２３】前記配電線１８上の電源側には、Ｕ相、Ｖ
相及びＷ相の零相電流を検出するための零相変流器（Ｚ
ＣＴ）２５が設けられており、同零相変流器２５の鉄心
（図示略）の周囲には地絡継電器１４の動作が正常かど
うかを確認する地絡特性試験時おいて地絡試験電流を流
すための試験線２６が巻回されている。また、前記配電
線１８上の開閉部１９と過電流リレー２２との間には、
負荷側の地絡故障と電源側の地絡故障との選択保護を行
うための零相電圧検出用コンデンサ（ＺＰＤ）２７が設
けられている。 【００２４】一方、前記地絡継電器１４には端子台２８
が備えられており、同端子台２８には端子Ａ〜Ｍが設け
られている。前記端子Ｅ, Ｆは電源用端子であり、同端
子Ｅ, Ｆには制御電源（ＡＣ１００Ｖ）Ｐが接続されて
いる。前記端子Ｅは電源側、端子Ｆは接地側となってい
る。また、端子Ｌと端子Ｍとの間には、地絡継電器１４
が零相変流器２５の地絡事故の検出に伴いトリップコイ
ル２０にトリップ信号を出力してトリップ動作を行った
とき、同トリップ動作に追従してＯＮ動作するａ接点２
９が接続されている。 【００２５】そして、前記零相変流器２５の一端は制御
線４０を介して端子Ａに接続されており、他端は制御線
４１を介して端子Ｂに接続されている。前記零相電圧検
出用コンデンサ２７の一端は制御線４２を介して端子Ｃ
に接続され、他端は制御線４３を介して端子Ｄに接続さ
れている。前記トリップリレー２３, ２４の常開接点２
３Ｂ, ２４Ｂは制御線４４を介して端子Ｈに接続されて
いる。前記試験線２６の一端は制御線４５を介して端子
Ｊに接続されており、他端は制御線４６を介して端子Ｋ
に接続されている。 【００２６】また、地絡特性試験時において、地絡特性
試験器の試験用プラグコネクタ（図示略）が接続される
地絡特性チェック用のコネクタ（以下、「ＧＲチェック
コネクタ」という。）５１には雌型端子（雌型のコンタ
クトピン）ａ〜ｊが設けられている。配電線路の地絡事
故を監視する常状態（非地絡特性試験時）において、前
記ＧＲチェックコネクタ５１に接続される常用プラグコ
ネクタ５２には雌型端子ａ〜ｊにそれぞれ対応して接続
されるプラグ端子（雄型のコンタクトピン）ｋ〜ｔが設
けられている。 【００２７】前記雌型端子ａと端子Ｄ、雌型端子ｃと端
子Ｊ, 雌型端子ｄと端子Ｋ、雌型端子ｇと端子Ｇ、雌型
端子ｈと端子Ｉ、雌型端子ｉと端子Ｅ及び雌型端子ｊと
端子Ｆとはそれぞれリード線５５, ５７〜６２によって
互いに接続されている。雌型端子ｂにはリード線５６が
接続されており、同リード線５６が開閉器１２のケース
に接続されることによって雌型端子ｂは第一種接地がな
されている。雌型端子ｅ, ｆにはリード線６３, ６４の
一端が接続されている。 【００２８】また、前記トリップコイル２０には制御線
４７が接続されており、同制御線４７はスリーブ６５に
よって前記リード線６３に連結接続されている。即ち、
前記トリップコイル２０は制御線４７及びリード線６３
を介して雌型端子ｅに接続されている。前記トリップリ
レー２４の共通端子２４Ｃには制御線４８が接続されて
おり、同制御線４８はスリーブ６６によって前記リード
線６４に連結接続されている。即ち、前記共通端子２４
ｃは制御線４８及びリード線６４を介して雌型端子ｆに
接続されている。 【００２９】地絡特性試験時には前記常用プラグコネク
タ５２がＧＲチェックコネクタ５１より外され、ＧＲチ
ェックコネクタ５１には地絡特性試験器の試験用プラグ
コネクタ（図示略）が接続される。そして、前記地絡試
験器によって発生する地絡試験電流は、リード線５７を
介して端子Ｊに流れ、端子Ｊから制御線４５を介して零
相変流器２５に出力される。すると、前記零相変流器２
５の試験線２６を流れて通過した試験電流は端子Ｋに入
力され、その後、リード線５８、雌型端子ｄ及び試験用
プラグコネクタを介して地絡特性試験器に出力される。 【００３０】次に、ＧＲチェックコネクタ５１の構造に
ついて詳しく説明する。図１に示すように、前記ＧＲチ
ェックコネクタ５１は、電気的接続をする通電部として
の複数の雌型端子ａ〜ｊ、前記各雌型端子ａ〜ｊを分離
絶縁固定する絶縁体としての上部インサート７１及び下
部インサート７２、前記各インサート７１, ７２を保
持、保護する樹脂製の内部フード７３及び樹脂製の外部
フード７４、前記各インサート７１, ７２を内部フード
７３内に保持固定する固定リング７５、前記各雌型端子
ａ〜ｊ（図１中では一部図示略）に接続されるリード線
５５〜６４（図１中では一部図示略）から構成されてい
る。 【００３１】前記各インサート７１, ７２には雌型端子
ａ〜ｊの数に対応した挿通孔７１Ａ, ７２Ａがそれぞれ
形成されており、同挿通孔７１Ａの先端部には挿通孔７
１Ａよりも径を小さくすることによって当接面７１Ｂが
形成されている。また、前記上部インサート７１にはフ
ランジ７１Ｃが形成されており、下部インサート７２に
はフランジ７２Ｃが形成されている。 【００３２】前記内部フード７３の先端外周には雌ネジ
７３Ａ、基端外周にはフランジ７３Ｂが形成されてお
り、同内部フード７３の内周には円環状の係止部７３Ｃ
が形成されている。また、前記ＧＲチェックコネクタ５
１には外部からの荷重が加わることが少ないため、それ
ほど強度が要求されず、コネクタ同士の接続部分となる
内部フード７３を樹脂製の内部フード７３とすることが
できる。 【００３３】前記外部フード７４は軸線方向に沿う面に
おいて、二分割可能となっており、それぞれの内周上端
には内部フード７３のフランジ７３Ｂの形状に対応した
円環状の溝７４Ａが形成され、同外部フード７４の外周
左右上端には貫通孔７４Ｂが形成されている。また、前
記外部フード７４の基端には、リード線５５〜６４を外
部に引き出すための口出部Ｋが形成されている。 【００３４】前記ＧＲチェックコネクタ５１は、始めに
リード線５５〜６４に雌型端子ａ〜ｊをそれぞれ半田付
けによって接続する。そして、上部インサート７１のフ
ランジ７１Ｃと下部インサート７２のフランジ７２Ｃと
を互いに背中合わせにする。そして、専用の工具を使っ
て雌型端子ａ〜ｊの先端が上部インサート７１の当接面
７１Ｂに当接する位置まで各インサート７１, ７２に下
部インサート７２側から圧入する。即ち、前記雌型端子
ａ〜ｊ、リード線５５〜６４、上部インサート７１及び
下部インサート７２は一体的に組み付けられる。 【００３５】次に、前記一体となったインサート７１,
７２を上部インサート７１のフランジ７１Ｃが内部フー
ド７３の係止部７３Ｃに当接する位置まで挿入し、固定
リング７５を内部フード７３の下部から装着する。前記
下部インサート７２のフランジ７２Ｃは固定リング７５
に係止される、即ち、前記インサート７１, ７２は固定
リング７５によって内部フード７３からの抜け止め防止
がなされている。尚、前記内部フード７３の内周面と上
部インサート７１の外周面との間には空間Ｓが形成され
ている。 【００３６】その後、内部フード７３をフランジ７３Ｂ
と溝７４Ａとが対応するように一対の外部フード７４で
挟み合わせ、同外部フード７４の貫通孔７４Ｂにボルト
（図示略）を挿通しナットに螺合させることで一対の外
部フード７４同士が固定される。前記内部フード７３
は、フランジ７３Ｂが溝７４Ａに係止されることによっ
て外部フード７４に対する上下方向への移動が規制され
ている。このため、前記内部フード７３は外部フード７
４から抜けることはない。 【００３７】一方、前述のようにリード線５６は開閉器
１２のケース１２Ａに接続されるアース線であり、リー
ド線５６に接続されている雌型端子ｂはアース端子とな
っている。そして、前記下部インサート７２のリード線
５６及びリード線５６が接続されている雌型端子ｂの周
囲には、商用周波耐電圧値向上手段としての壁面７６が
下部インサート７２の上下方向に突出形成されている。
即ち、電源端子（リード線５７等）−アース端子（リー
ド線５６等）間の絶縁距離（沿面距離）が壁面７６が形
成されない場合に比べて長くなっている。尚、前記上部
インサート７１の下部には前記壁面７６に対応した凹部
７７が形成されているため、上部インサート７１と下部
インサート７２とは密着している。 【００３８】次に、常用プラグコネクタ５２の構造につ
いて説明する。前記常用プラグコネクタ５２はＧＲチェ
ックコネクタ５１と似た構造であるため、その詳細な説
明を省略し、ＧＲチェックコネクタ５１と主に異なる部
分についてのみ説明する。 【００３９】図１に示すように、前記常用プラグコネク
タ５２は、電気的接続をする通電部としての複数のプラ
グ端子ｋ〜ｔ（図１中一部図示略）、前記各プラグ端子
ｋ〜ｔを分離絶縁固定する絶縁体としての上部インサー
ト７９及び下部インサート８０、前記各インサート７
９, ８０を保持、保護する樹脂製の内部フード８１及び
樹脂製の外部フード８２、前記各インサート７９, ８０
を内部フード８１内に保持固定する固定リング８３、常
用プラグコネクタ５２の接続固定用である樹脂製の接続
ナット８４から構成されている。 【００４０】前記常用プラグコネクタ５２の内部フード
８１の外周には鍔状の段差部８１Ａが形成されており、
同段差部８１Ａには樹脂製の接続ナット８４の内側が係
止されている。即ち、前記段差部８１Ａは接続ナット８
４の内部に位置している。そして、前記内部フード８１
の外径はＧＲチェックコネクタ５１の内部フード７３の
内径よりも若干小さく形成されている。 【００４１】また、前記常用プラグコネクタ５２は非地
絡特性試験時におけるＧＲチェックコネクタ５１のジャ
ンパーとしての機能を有するものであり、同常用プラグ
コネクタ５２の外部フード８２の基端に形成されている
口出部８２Ａからリード線が引き出されることはない。
このため、前記口出部８２Ａは絶縁性のゴム材８５が充
填されることによって密封されている。尚、ＧＲチェッ
クコネクタ５１の雌型端子ｂに接続されるプラグ端子ｌ
の周囲にも商用周波耐電圧値を向上させるために壁面７
６が突出形成されている。 【００４２】前記ＧＲチェックコネクタ５１と常用プラ
グコネクタ５２との接続は、まず常用プラグコネクタ５
２の内部フード８１をＧＲチェックコネクタ５１の空間
Ｓに挿入すると共に、雌型端子ａ〜ｊにプラグ端子ｋ〜
ｔを差し込む。そして、常用プラグコネクタ５２の接続
ナット８４をＧＲチェックコネクタ５１の雌ネジ７３Ａ
に螺合させる。尚、地絡特性試験時において、前記常用
プラグコネクタ５２の代わりにＧＲチェックコネクタ５
１に接続される試験用プラグコネクタも常用プラグコネ
クタ５２と同様にして接続することができる。 【００４３】従って、本実施形態によれば、以下の効果
を得ることができる。 ・下部インサート７２において、アース端子である雌型
端子ｂの周囲に壁面７６を突出形成した。このため、各
雌型端子ａ〜ｊにおける電源端子−アース端子間の絶縁
距離（沿面距離）が延長されることとなり、各雌型端子
ａ〜ｊ間の商用周波耐電圧値を向上させることができ
る。 【００４４】・また、商用周波耐電圧値向上のために各
雌型端子ａ〜ｊの配置間隔を大きくしたり、商用周波耐
電圧値の高い別のコネクタを使用したりすることがな
い、即ち、コネクタ形状の大幅な変更がないため、従来
より市場に流通している試験用プラグコネクタとの互換
性を保持することができる。従って、試験用プラグコネ
クタとの互換性を保ちながらＧＲチェックコネクタ５１
の性能を向上させることができ、これによってＧＲチェ
ックコネクタ５１の取り扱い及び保守点検を容易行うこ
とができる。 【００４５】・前記ＧＲチェックコネクタ５１の内部フ
ード７３及び外部フード７４、常用プラグコネクタ５２
の内部フード８１、外部フード８２及び接続ナット８４
は絶縁性の樹脂で形成されている、即ち、コネクタ外面
は絶縁体で形成されている。このため、制御装置内部の
僅かなスペースに収納された場合、端子台等に接触して
も地絡故障を導く可能性が少ない。 （第二実施形態）次に、本発明を具体化した第二実施形
態を図２に従って説明する。 【００４６】図２に示すように、本実施形態は、前記下
部インサート７２上部の壁面７６が断面略三角形状の突
起部８６に置き換わっていると共に、上部インサート７
１下面の凹部８７が前記突起部８６に対応形成されてい
る点についてのみ前記第一実施形態と異なる。従って、
本実施形態において前記第一実施形態と同一の部材構成
については同一符号を付すことにして重複した説明を省
略する。 【００４７】前記下部インサート７２のリード線５６が
接続されている雌型端子ｂの周囲には、商用周波耐電圧
値向上手段としての突起部８６が下部インサート７２上
面に突出形成されており、同下部インサート７２の下面
には商用周波耐電圧値向上手段としての壁面７６がイン
サート７２の下面に突出形成されている。即ち、前記突
起部８６とリード線５６が接続されている雌型端子ｂと
の間には凹部８７が形成されることとなり、同凹部８７
によって電源端子−アース端子間の絶縁距離（沿面距
離）が突起部８６が形成されていない場合に比べて長く
なっている。また、前記上部インサート７１の下面には
前記突起部８６に対応した凹部８７が形成されているた
め、上部インサート７１と下部インサート７２とは密着
している。 【００４８】従って、本実施形態によれば、前記第一実
施形態と同様の効果を得ることができる。 （第三実施形態）次に、本発明を具体化した第三実施形
態を図３に従って説明する。 【００４９】図３に示すように、本実施形態は前記下部
インサート７２上面の突起部８６が雌型端子ｂの周囲に
形成されたバリヤ８９に置き換わっていると共に、上部
インサート７１下面の凹部９０が前記バリヤ８９に対応
形成されている点についてのみ前記第二実施形態と異な
る。従って、本実施形態において前記第二実施形態と同
一の部材構成については同一符号を付すことにして重複
した説明を省略する。 【００５０】前記下部インサート７２のリード線５６が
接続されている雌型端子ｂの周囲には、商用周波耐電圧
値向上手段としてのバリヤ８９が下部インサート７２の
上方向に突出形成されており、同下部インサート７２の
下面には商用周波耐電圧値向上手段としての壁面７６が
突出形成されている。即ち、前記バリヤ８９によって電
源端子−アース端子間の絶縁距離（沿面距離）がバリヤ
８９が形成されていない場合に比べて長くなっている。
また、前記上部インサート７１の下面には前記壁面７６
に対応した凹部９０が形成されているため、上部インサ
ート７１と下部インサート７２とは密着している。 【００５１】従って、本実施形態によれば、前記第一実
施形態と同様の効果を得ることができる。 （第四実施形態）次に、本発明を具体化した第四実施形
態を図４に従って説明する。 【００５２】図４に示すように、本実施形態は前記バリ
ヤ８９が削除され、リード線５６が接続されている雌型
端子ｂの下部に絶縁ゴム製の収縮チューブ９１が装着さ
れ、上部インサート７１の挿通孔７１Ａ及び下部インサ
ート７２の挿通孔７２Ａが収縮チューブ９１の厚み及び
長さに対応して拡径形成されている点についてのみ前記
第三実施形態と異なる。従って、本実施形態において前
記第三実施形態と同一の部材構成については同一符号を
付すことにして重複した説明を省略する。 【００５３】前記下部インサート７２のリード線５６が
接続されている雌型端子ｂの下部には、商用周波耐電圧
値向上手段としての絶縁ゴム製の収縮チューブ９１が装
着されている。即ち、前記上部インサート７１と下部イ
ンサート７２との接触面における雌型端子ｂの上下一定
区間を絶縁体で覆うことにより、漏洩電流が遮断される
こととなる。また、電源端子−アース端子間の絶縁距離
（沿面距離）が延長されているともいえる。 【００５４】従って、本実施形態によれば、前記第一実
施形態の二番目及び三番目と同様の効果に加えて、以下
の効果を得ることができる。 ・雌型端子ｂ（アース端子）に収縮チューブ（絶縁体）
９１を装着したことによって漏洩電流を確実に遮断する
と共に、電源端子−アース端子間の絶縁距離が延長さ
れ、端子間の商用周波耐電圧値を向上させることができ
る。 （第五実施形態）次に、本発明を具体化した第五実施形
態を図５に従って説明する。 【００５５】図５に示すように、本実施形態は主に各雌
型端子ａ〜ｊ（図５中一部図示略）の下部外径が挿通孔
７１Ａ, ７２Ａの内径よりも小さい点において前記第四
実施形態と異なる。従って、本実施形態において前記第
四実施形態と同一の部材構成については同一符号を付す
ことにして重複した説明を省略する。 【００５６】前記各雌型端子ａ〜ｊの下部外径は挿通孔
７１Ａ, ７２Ａの内径よりも小さく形成されている。こ
のため、上部インサート７１と下部インサート７２との
接触面における閃絡部分において、各雌型端子ａ〜ｊと
挿通孔７１Ａ, ７２Ａとの間には一定の距離を有した隙
間９２が形成される。即ち、前記隙間９２によって電源
端子−アース端子間の絶縁距離（空間距離）が延長され
ることとなる。また、下部インサート７２下端のリード
線５６周囲には壁面７６が形成されている。 【００５７】従って、本実施形態によれば、前記第一実
施形態と同様の効果を得ることができる。 （第六実施形態）次に、本発明を具体化した第六実施形
態を図６に従って説明する。 【００５８】図６に示すように、本実施形態は上部イン
サート７１と下部インサート７２との接触面における閃
絡部分において、雌型端子ｂの周囲の一定区間に一定幅
の空気層９３が形成されている点についてのみ前記第五
実施形態と異なる。従って、本実施形態において前記第
五実施形態と同一の部材構成については同一符号を付す
ことにして重複した説明を省略する。 【００５９】前記上部インサート７１と下部インサート
７２との接触面（アース部の閃絡箇所）において、リー
ド線５６が接続されている雌型端子ｂの周囲の上下一定
区間には一定幅を有した空気層９３が形成されている。
即ち、前記空気層９３によって電源端子−アース端子間
の絶縁距離（空間距離）が延長されている。また、下部
インサート７２下端のリード線５６周囲には壁面７６が
形成されている。 【００６０】従って、本実施形態によれば前記第一実施
形態と同様の効果を得ることができる。 （第七実施形態） 次に、本発明を具体化した第七実施形態を図７に従って
説明する。図７に示すように、本実施形態は主にＧＲチ
ェックコネクタ５１の外部フード７４及び常用プラグコ
ネクタ５２の外部フード８２が絶縁性のゴム又は樹脂で
モールド成型された外部フード９４, ９６に置き換わっ
ている点において前記第一〜第六実施形態と異なる。従
って、本実施形態において前記第一〜第六実施形態と同
一の部材構成については同一符号を付すことにして重複
した説明を省略する。 【００６１】前述のように、ＧＲチェックコネクタ５１
の外部フード９４はゴム又は樹脂でモールド成型されて
いる。前記ＧＲチェックコネクタ５１の外部フード９４
は各雌型端子ａ〜ｊ（図７中一部図示略）にリード線５
５〜６４（図７中一部図示略）を接続した後にリード線
５５〜６４を保護する被覆９５の一定区間を含んで成型
されている。 【００６２】また、常状態（非地絡特性試験時）におい
て前記ＧＲチェックコネクタ５１に接続されるプラグコ
ネクタ５２の外部フード９６もゴム又は樹脂でモールド
成型されている。そして、前記接続ナット８４の開口部
側からは密閉手段としてのパッキン９７が挿入され、内
部フード８１外周に形成されている段差部８１Ａに当接
する位置において装着されている。前記ＧＲチェックコ
ネクタ５１とプラグコネクタ５２とを接続する際、パッ
キン９７はＧＲチェックコネクタ５１の内部フード７３
線端の当接面７３Ｄに当接し、プラグコネクタ５２の接
続ナット８４の締め付けに伴って当接面７３Ｄに押し付
けられ密着するようになっている。 【００６３】従って、本実施形態によれば、前記第一実
施形態と同様の効果に加えて以下の効果を得ることがで
きる。 ・ＧＲチェックコネクタ５１において、外部フード９４
を被覆９５の一定区間を含んで絶縁性のゴム又は樹脂で
モールド成型した。このため、内部フード７３と外部フ
ード９４との接合箇所等を介してＧＲチェックコネクタ
５１の内部に水が進入することがない。このため、ＧＲ
チェックコネクタ５１内部の防水が図ることができる。 【００６４】・また、内部フード８１の段差部８１Ａに
はパッキン９７が装着されており、同パッキン９７はＧ
Ｒチェックコネクタ５１と常用プラグコネクタ５２との
接続時、接続ナット８４の締め付けに伴ってＧＲチェッ
クコネクタ５１の当接面７３Ｄに押し付けられ密着す
る。このため、内部フード８１と外部フード９６との接
続箇所からＧＲチェックコネクタ５１及び常用プラグコ
ネクタ５２の内部に水が進入することを防止することが
できる。 【００６５】尚、上記各実施形態は以下のように変更し
て実施してもよい。 ・前記第七実施形態と同様に、第一実施形態〜第六実施
形態におけるＧＲチェックコネクタ５１の外部フード７
４及び常用プラグコネクタ５２の外部フード８２を絶縁
性のゴム又は樹脂でモールド成型すると共に、常用プラ
グコネクタ５２にパッキン９７を装着してもよい。この
ようにすれば、商用周波耐電圧を向上させることができ
ると共に、ＧＲチェックコネクタ５１及び常用プラグコ
ネクタ５２に防水機能を与えることができる。 【００６６】・前記第一実施形態〜第七実施形態におい
ては、雌型端子ａ〜ｊ及びプラグ端子ｋ〜ｔをそれぞれ
分離絶縁固定するために上部インサート７１, ７９及び
下部インサート７２, ８０の二つの部材を設けて使用し
たが、上部インサート７１,７９及び下部インサート７
２, ８０を一体形成して一つの部材としてもよい。この
ようにすれば、上部インサート７１, ７９と下部インサ
ート７２, ８０との接触面、即ち、漏洩電流の流れ得る
通路が無くなり、その結果、漏電が減少し商用周波耐電
圧を向上させることができる。 【００６７】・前記第一実施形態〜第六実施形態におい
ては、内部フード７３, ８１及び外部フード７４, ８２
を設けたが、同内部フード７３, ８１と外部フード７
４, ８２とを一体的に形成してもよい。このようにすれ
ば、部品点数及び組立工数を低減することができる。 【００６８】・前記第一実施形態〜第七実施形態におい
ては、雌型端子ａ〜ｊをそれぞれ半田付けでリード線５
５〜６４に接続したが、圧着端子等を使用し圧着によっ
て接続してもよい。このようにすれば、雌型端子ａ〜ｊ
のリード線５５〜６４への接続作業を簡単にすることが
できる。 【００６９】・前記第四実施形態においては、収縮チュ
ーブ９１を雌型端子ｂ周囲の上部インサート７１と下部
インサート７２との接触面における閃絡部分の上下一定
区間にのみ装着したが、雌型端子ｂの全長に亘るように
装着してもよい。このようにしても、前記閃絡部分から
の漏洩電流を遮断することができ、雌型端子ａ〜ｊ間の
商用周波耐電圧値を向上させることができる。 【００７０】・前記第一実施形態〜第四実施形態及び第
六実施形態においては、それぞれアース部である雌型端
子ｂの周囲にのみ商用周波耐電圧値向上手段を設けた
が、雌型端子ａ〜ｊ全ての周囲に商用周波耐電圧値向上
手段を設けてもよい。このようにしても、雌型端子ａ〜
ｊ間の商用周波耐電圧値を向上させることができる。 【００７１】 【００７２】 【発明の効果】請求項１に記載の発明によれば、商用周
波耐電圧特性を向上させることができる。 【００７３】また、コンタクトピンの位置を変更するこ
となく、従来より流通している試験用コネクタとの互換
性を保ちながら、商用周波耐電圧値を向上させることが
できる。 【００７４】 【００７５】

【図面の簡単な説明】 【図１】第一実施形態におけるコネクタの断面図。 【図２】第二実施形態におけるコネクタの断面図。 【図３】第三実施形態におけるコネクタの断面図。 【図４】第四実施形態におけるコネクタの断面図。 【図５】第五実施形態におけるコネクタの断面図。 【図６】第六実施形態におけるコネクタの断面図。 【図７】第七実施形態におけるコネクタの断面図。 【図８】開閉器及び継電器に対するコネクタの接続を示
す接続図。 【図９】電柱に対する開閉器、継電器及び試験器の取付
状態を示す説明図。 【符号の説明】 １２…開閉器、１４…制御装置としての地絡継電器、１
６…地絡特性試験器、４０〜４８…制御線、５１…ＧＲ
チェックコネクタ、５５〜６４…リード線、７１…絶縁
体としての上部インサート、７２…絶縁体としての下部
インサート、７３…内部フード、７４…外部フード、７
６…壁面、８６…突起部、８７…溝（凹部）、８９…バ
リヤ、９０…凹部、９１…絶縁物としての収縮チュー
ブ、９２…隙間、９３…空間、絶縁層としての空気層、
９７…パッキン、ａ〜ｊ…雌型端子（コンタクトピ
ン）、Ａ〜Ｍ…端子。

フロントページの続き (56)参考文献 特開 平７−220826（ＪＰ，Ａ) 特開 平８−64297（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−245327（ＪＰ，Ａ) 特開 昭55−68070（ＪＰ，Ａ) 実開 昭63−182037（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭54−96889（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭59−129181（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭52−25289（ＪＰ，Ｕ) 実開 平５−144494（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭55−139524（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) H01R 13/46 301

Claims (1)

1. (57)【特許請求の範囲】 【請求項１】 開閉器（１２）と、それとは別の場所に
   設けられた制御装置（１４）とは制御線（４０〜４６）
   を介して接続され、当該開閉器（１２）と制御装置（１
   ４）との間に設けられ、前記開閉器（１２）とは制御線
   （４７，４８）及びリード線（６３，６４）を介して接
   続され、前記制御装置（１４）とはリード線（５５〜６
   ２）を介して接続される複数の端子（ａ〜ｊ）を備え、
   地絡特性試験時には試験用プラグコネクタが接続される
   特性チェック用のコネクタ（５１）において、 前記複数の端子（ａ〜ｊ）は絶縁体（７１，７２）にて
   分離絶縁固定され、複数の端子（ａ〜ｊ）にはアース端
   子（ｂ）を含み、少なくともアース端子（ｂ）の周囲に
   は商用周波耐電圧値向上手段（７６）を設けると共に、
   アース端子（ｂ）にはリード線（５６）を接続し、同リ
   ード線（５６）は開閉器（１２）のケース（１２Ａ）に
   接続され、さらに、前記複数の端子（ａ〜ｊ）のうち一
   対の電源端子（ｉ，ｊ）は、前記制御装置（１４）に設
   けた端子（Ａ〜Ｍ）のうち制御電源が接続された電源用
   端子（Ｅ，Ｆ）とそれぞれリード線（６１，６２）によ
   って接続され、前記商用周波耐電圧値向上手段（７６）
   としての壁面（７６）は、絶縁体（７２）にアース端子
   （ｂ）の長手方向に突出形成され、アース端子（ｂ）と
   アース端子以外の端子（ａ，ｃ〜ｊ）との間の絶縁距離
   を延長する絶縁距離延長構造であることを特徴とするコ
   ネクタ。