JP3444805B2 - 変調精度測定回路 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、通信端末試験用の
変調精度測定回路に関し、特に、位相雑音に起因する符
号誤り率の劣化量が大きい場合であっても、送信機の符
号誤り率の許容劣化量に対する適切な変調精度の規定値
を決定するための変調誤差を測定することのできる変調
精度測定回路に係る。

【０００２】

【従来の技術】送信機を構成する各デバイスには、送信
信号の品質を劣化させる劣化要因が存在する。これらの
劣化要因により、送信信号は理想の信号点からの位相方
向のずれである位相誤差および振幅方向のずれである振
幅誤差を生じる。つまり、変調誤差を生じる。一方、上
記の劣化要因により送信信号の品質が劣化した結果、符
号誤り率の劣化が生じる。

【０００３】しかし、実際には受信機にも劣化要因が存
在するため送信機の劣化要因に起因する符号誤り率の劣
化量だけを測定することはできない。そこで送信機の劣
化要因に起因する符号誤り率の劣化量を許容値以下に抑
えるため変調精度の規定が必要となる。

【０００４】様々なシステムで変調精度の規定がなされ
ているが、送信信号の理想の信号点からの誤差量を表す
変調誤差の測定値を用いて変調精度を規定する方法が多
く用いられている。実際には、変調精度測定回路を用い
て送信機から出力される変調信号の変調誤差を測定す
る。

【０００５】図１０は、位相誤差の補正を行う従来の変
調精度測定回路の構成例を示す。同図において、受信回
路１で受信された受信信号Ａ（ｔ）は、信号抽出回路２
および位相回転回路３に入力される。信号抽出回路２
は、復調信号Ａ（ｔ）から位相誤差量推定に用いるＮ
（Ｎ≧１，Ｎ：整数）個の信号からなる位相誤差量推定
用信号Ｐ（ｔ）を抽出する。

【０００６】信号抽出回路２から出力される位相誤差量
推定用信号Ｐ（ｔ）は、位相誤差量推定に適した数の位
相誤差量推定用信号を集めるために信号保持回路４に入
力される。信号保持回路４では、位相誤差推定用信号Ｐ
（ｔ）を一定期間に抽出される位相誤差量推定に適した
組数Ｍ（Ｍ≧１，Ｍ：整数）だけ保持する。

【０００７】位相誤差検出回路５では、信号保持回路４
に保持されるＭ組の位相誤差推定用信号Ｐ（ｔ）から構
成される位相誤差推定用信号群Ｑ（ｔ）を用いて位相誤
差量が検出される。位相回転回路３において、位相誤差
検出回路５で検出された位相誤差量だけ受信信号Ａ
（ｔ）の位相を逆回転させることにより高い精度で位相
誤差の補正ができる。位相回転回路３から出力される信
号Ｂ（ｔ）は、信号精度測定回路６に入力され変調誤差
の測定が行われる。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】変調誤差を用いて変調
精度を規定するためには、送信機の劣化要因に起因する
符号誤り率の劣化量と変調誤差との関係が１対１となる
必要がある。そこで、劣化要因が単独で存在する場合に
ついて、従来の変調精度測定回路により測定される変調
誤差と送信機の劣化要因に起因する符号誤り率の劣化量
との関係を様々な劣化要因で比べてみる。

【０００９】すると、符号誤り率の劣化が大きい領域に
おいて、位相雑音のように位相誤差のみを生じる劣化要
因は、位相誤差と振輻誤差の両方を生じる他の劣化要因
に比べ、同一の符号誤り率の劣化量に対して小さい変調
誤差をとる。このことから、符号誤り率の劣化量が等し
いシステムであっても劣化要因の組み合わせが異なると
変調誤差の値が大きく変化することが判る。

【００１０】そのため、位相雑音に起因する符号誤り率
の劣化量が大きい場合には、送信機の符号誤り率の許容
劣化量に対する適切な変調精度の規定値を決定できない
という問題があつた。本発明は、位相雑音に起因する符
号誤り率の劣化量が大きい場合であっても、変調精度の
規定を可能とするための、変調誤差を測定する変調精度
測定回路を提供するを目的としている。。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明によれば、上述の
課題は、前記特許請求の範囲に記載した手段によって解
決される。すなわち、請求項１の発明は、時間の経過と
ともに位相誤差量が変化する信号を受信する第一の受信
手段と、該受信手段の出力信号から位相誤差量の推定の
ためのＮ（Ｎ≧１，Ｎ：整数）個の信号を抽出する第一
の信号抽出手段と、

【００１２】該第一の信号抽出手段により抽出された一
組Ｎ個の位相誤差量推定用信号を一定期間に含まれる位
相誤差量推定に適した組数Ｍ（Ｍ≧１，Ｍ：整数）だけ
保持する第一の信号保持手段と、該第一の信号保持手段
に保持されたＭ組の位相誤差量推定用信号をさらにＬ
（Ｌ≧１，Ｌ：整数）組記憶するタップ数Ｌのシフトレ
ジスタ型の動作を行う第一の記憶手段と、

【００１３】該第一の記憶手段に記憶されているＭ×Ｌ
組の位相誤差量推定用信号から算出される平滑化された
位相誤差量を検出する第一の位相誤差量検出手段と、該
第一の位相誤差量検出手段により検出される位相誤差量
だけ前記受信信号の位相を逆回転させる第一の位相回転
手段と、 該第一の位相回転手段の出力信号の変調誤差
を測定する第一の信号精度測定手段とを備えた変調精度
測定回路である。

【００１４】請求項２の発明は、上記請求項１に記載の
変調精度測定回路において、第一の信号精度測定手段
を、入力信号の位相平面上における正規位置からの誤差
の実効値であるベクトルエラーを測定するように構成し
たものである。

【００１５】請求項３の発明は、時間の経過とともに位
相誤差量が変化するマルチキャリア信号を受信する複数
の第二の受信手段と、該第二の受信手段の出力信号から
位相誤差量の推定のためのＮ（Ｎ≧ｌ，Ｎ：整数）個の
信号を抽出する第二の信号抽出手段と、

【００１６】該第二の信号抽出手段により抽出された一
組Ｎ個の位相誤差量推定用信号を、一定期間に含まれる
位相誤差量推定に適した組数Ｍ（Ｍ≧ｌ，Ｍ：整数）だ
け保持する第二の信号保持手段と、該第二の信号保持手
段に保持されたＭ組の位相誤差量推定用信号をさらにＬ
（Ｌ≧１，Ｌ：整数）組記憶するタップ数Ｌのシフトレ
ジスタ型の動作を行う第二の記億手段と、

【００１７】前記第二の記憶手段に記憶されているＭ×
Ｌ組の位相誤差量推定用信号から算出される平滑化され
た位相誤差量を検出する第二の位相誤差量検出手段と、
該第二の位相誤差量検出手段により検出される位相誤差
量だけ前記受信信号の位相を逆回転させる第二の位相回
転手段と、該第二の位相回転手段の出力信号の変調誤差
を測定する信号精度測定手段とを備えた変調精度測定回
路である。

【００１８】請求項４の発明は、上記請求項３に記載の
変調精度測定回路において、第二の信号精度測定手段
を、入力信号の位相平面上における正規位置からの誤差
の実効値であるベクトルエラーを測定するように構成し
たものである。

【００１９】請求項５の発明は、時間の経過とともに位
相誤差量が変化するマルチキャリア信号を受信する第三
の受信手段と、該第三の受信手段から出力されるマルチ
キャリア信号を分波しサブキャリア信号を出力する分波
手段と、該分波手段の出力から有効なサブキャリア信号
を抜き出す第一の信号選択手段と、該第一の信号選択手
段の出力信号から位相誤差量の推定のためのＮ（Ｎ≧
１，Ｎ：整数）個の信号を抽出する第二の信号抽出手段
と、

【００２０】該第二の信号抽出手段により抽出された一
組Ｎ個の位相誤差量推定用信号を一定期間に含まれる位
相誤差量推定に適した組数Ｍ（Ｍ≧１，Ｍ：整数）だけ
保持する第二の信号保持手段と、該第二の信号保持手段
に保持されたＭ組の位相誤差量推定用信号をさらにＬ
（Ｌ≧１，Ｌ：整数）組記憶するタップ数Ｌのシフトレ
ジスタ型の動作を行う第二の記憶手段と、

【００２１】該第二の記憶手段に記憶されているＭ×Ｌ
組の位相誤差量推定用信号から算出される平滑化された
位相誤差量を検出する第二の位相誤差量検出手段と、該
第二の位相誤差量検出手段により検出される位相誤差量
だけ前記受信信号の位相を逆回転させる第二の位相回転
手段と、該第二の位相回転手段の出力信号の変調誤差を
測定する第二の信号精度測定手段とを備えた変調精度測
定回路である。

【００２２】請求項６の発明は、上記請求項５に記載の
変調精度測定回路において、第二の信号精度測定手段
を、入力信号の位相平面上における正規位置からの誤差
の実効値であるベクトルエラーを測定するように構成し
たものである。

【００２３】請求項７の発明は、時間の経過とともに位
相誤差量が変化するＯＦＤＭ信号を受信する第四の受信
手段と、該第四の受信手段の出力信号の多重化を解除す
るフ−リエ変換演算手段と、該フ−リエ変換演算手段の
出力から有効な非多重化信号を抜き出す第二の信号選択
手段と、該第二の信号選択手段の出力信号から位相誤差
量の推定のためのＮ（Ｎ≧１，Ｎ：整数）個の信号を抽
出する第二の信号抽出手段と、

【００２４】該第二の信号抽出手段により抽出された一
組Ｎ個の位相誤差量推定用信号を一定期間に含まれる位
相誤差量推定に適した組数Ｍ（Ｍ≧１，Ｍ：整数）だけ
保持する第二の信号保持手段と、該第二の信号保持手段
に保持されたＭ組の位相誤差量推定用信号を、さらにＬ
（Ｌ≧１，Ｌ：整数）組記憶するタップ数Ｌのシフトレ
ジスタ型の動作を行う第二の記憶手段と、

【００２５】該第二の記憶手段に記憶されているＭ×Ｌ
組の位相誤差量推定用信号から算出される平滑化された
位相誤差量を検出する第二の位相誤差量検出手段と、該
第二の位相誤差量検出手段により検出される位相誤差量
だけ前記受信信号の位相を逆回転させる第二の位相回転
手段と、該第二の位相回転手段の出力信号の変調誤差を
測定する第二の信号精度測定手段とを備えた変調精度測
定回路である。

【００２６】請求項８の発明は、上記請求項７に記載の
変調精度測定回路において、第二の信号精度測定手段
を、入力信号の位相平面上における正規位置からの誤差
の実効値であるベクトルエラーを測定するように構成し
たものである。

【００２７】位相雑音が単独で存在する場合のベクトル
エラーは、他の劣化要因に起因する符号誤り率の劣化量
が等しい場合のベクトルエラーに比べ小さい。この点に
注目し、本発明の変調精度測定回路は、位相誤差推定用
信号Ｐ（ｔ）を位相誤差推定に適した組数Ｍだけ含む位
相誤差推定用信号群Ｑ（ｔ）を複数組にわたり平滑化し
た信号から算出される位相誤差の補正を行う。

【００２８】これにより、位相雑音が単独で存在する場
合の符号誤り率の劣化量と変調誤差の関係を示す曲線が
他の劣化要因のそれと同じになる。従って、送信機の劣
化要因に起因する符号誤り率の劣化量と変調誤差の関係
が１対１となる。そのため、本発明の変調精度測定回路
により測定される変調誤差を用いて変調精度の規定が可
能となる。

【００２９】

【発明の実施の形態】図１は、本発明の変調精度測定回
路の第１の実施形態を示す。この実施形態は、請求項１
の発明に対応している。同図において、受信回路１、信
号抽出回路２、位相回転回路３、信号保持回路４、信号
精度測定回路６は、図１０に示す従来構成のものと同様
の機能を有するので説明を省略する。

【００３０】本実施形態の特徴は、複数組の位相誤差推
定用信号群Ｑ（ｔ）にわたって平滑化された位相誤差量
の検出を行う手段として記憶回路７および位相誤差検出
回路８を備えたところにある。すなわち、位相誤差量推
定用信号群Ｑ（ｔ）を用いて位相誤差を推定していた従
来回路とは異なり、記憶回路８に記憶されるＬ組の位相
誤差推定用信号群Ｑ（ｔ）を用いて位相検出を行うた
め、位相誤差が平滑化され、位相雑音に起因する変調誤
差量を大きくしている。

【００３１】受信回路１から出力された受信信号Ａ
（ｔ）は、信号抽出回路２および位相回転回路３に入力
される。信号抽出回路２では受信信号Ａ（ｔ）から位相
誤差推定のためのＮ個の信号を抽出する。信号抽出回路
２により抽出される１組Ｎ個の位相誤差量推定用信号Ｐ
（ｔ）は信号保持回路４に入力される。

【００３２】該信号保持回路４では、位相誤差量推定用
信号Ｐ（ｔ）を位相誤差量推定に適した組数Ｍだけ保持
する。このＭ組の位相誤差量推定用信号を位相誤差量推
定用信号群Ｑ（ｔ）とし、従来回路では位相誤差推定用
信号群Ｑ（ｔ）を位相誤差量の推定に適した信号の集合
であるとして、位相誤差量の推定に用いていた。

【００３３】しかし、本発明の回路では、さらに記憶回
路７を用いて信号保持回路４から出力される位相誤差推
定用信号群Ｑ（ｔ）をＬ組だけ記憶する。位相誤差検出
回路８は、記憶回路７に記憶されるＬ組の位相誤差補正
用信号群Ｑ（ｔ）にわたって平滑化された位相誤差量の
検出を行う。

【００３４】位相回転回路３は、位相誤差検出回路８で
検出された位相誤差量だけ受信信号Ａ（ｔ）の位相を逆
回転させる。信号精度測定回路６ではＬ組の位相推定用
信号群Ｑ（ｔ）にわたって平滑化された位相誤差量の補
正が行われた信号Ｃ（ｔ）の変調誤差が測定される。

【００３５】図２は本発明の変調精度測定回路の第２の
実施形態を示す。この実施形態は、請求項２の発明に対
応している。同図において、受信回路１、信号抽出回路
２、位相回転回路３、信号保持回路４、記憶回路７、位
相誤差検出回路８は、先に説明した図１の第１の実施形
態の場合と同様の機能を有するので説明を省略する。

【００３６】この例では、位相回転回路３において、Ｌ
組の位相誤差用信号群Ｑ（ｔ）にわたって平滑化された
位相誤差量の補正を受けた信号Ｃ（ｔ）は、ベクトルエ
ラー測定回路９に入力され、ベクトルエラーの測定が行
われる。

【００３７】図３は本発明の変調精度測定回路の第３の
実施形態を示す。この実施形態は、請求項３の発明に対
応している。ここで変調信号は、マルチキャリア信号で
あるとする。同図において、信号抽出回路１１、位相回
転回路１２、信号精度測定回路１６はマルチキャリアに
対応し、並列に信号が入力する構成となっている。

【００３８】また、位相回転回路は入力数と同じ並列な
出力を行う構成となっている。本実施形態の特徴は、複
数組の位相誤差推定用信号群Ｓ（ｔ）にわたって平滑化
された位相誤差量の検出を行う手段として、記憶回路１
４および位相誤差検出回路１５を備えたところにある。

【００３９】すなわち、位相誤差量推定用信号群Ｓ
（ｔ）を用いて位相誤差を推定していた従来回路とは異
なり、記憶回路１４に記憶されるＬ組の位相誤差推定用
信号群Ｓ（ｔ）を用いて位相検出を行うため、位相誤差
が平滑化され、位相雑音に起因する変調誤差量を大きく
している。

【００４０】複数の受信回路１０−１〜１０−Ｋ（Ｋ＞
１，Ｋ：整数）から出力された受信信号Ｄ（ｔ）は、信
号抽出回路１１および位相回転回路１２に入力される。
信号抽出回路１１では受信信号Ｄ（ｔ）から位相誤差推
定のためのＮ個の信号を抽出する。

【００４１】信号抽出回路により抽出される１組Ｎ個の
位相誤差推定用信号Ｒ（ｔ）は信号保持回路１３に入力
される。信号保持回路１３では、位相誤差量推定用信号
Ｒ（ｔ）を位相誤差量推定に適した組数Ｍだけ保持す
る。このＭ組の位相誤差量推定用信号を位相誤差量推定
用信号群Ｓ（ｔ）とし、従来の回路では位相誤差推定用
信号群Ｓ（ｔ）を位相誤差量の推定に適した信号の集合
であるとして、位相誤差量の推定に用いていた。

【００４２】しかし、本発明回路では、さらに記憶回路
１４を用いて信号保持回路１３から出力される位相誤差
推定用信号群Ｓ（ｔ）をＬ組だけ記憶する。位相誤差検
出回路１５は、記憶回路１４に記憶されるＬ組の位相誤
差補正用信号群Ｓ（ｔ）にわたって平滑化された位相誤
差量の検出を行う。

【００４３】位相回転回路１２は、位相誤差量検出回路
１５で検出された位相誤差量だけ受信信号Ｄ（ｔ）の位
相を逆回転させる。信号精度測定回路１６ではＬ組の位
相誤差推定用信号群Ｓ（ｔ）にわたり平滑化された位相
誤差量の補正が行われた信号Ｅ（ｔ）の変調誤差が測定
される。

【００４４】図４は本発明の変調精度測定回路の第４の
実施形態を示す図である。この実施形態は、請求項４の
発明に対応している。同図において、受信回路１０−１
〜１０−Ｋ、信号抽出回路１１、位相回転回路１２、信
号保持回路１３、記憶回路１４、位相誤差検出回路１５
は、先に説明した図３に示す第３の実施形態の場合と同
様の機能を有するので説明を省略する。

【００４５】位相回転回路１２において、Ｌ組の位相誤
差用信号群Ｓ（ｔ）にわたって平滑化された位相誤差量
の補正を受けた信号Ｅ（ｔ）はベクトルエラー測定回路
１７に入力され、ベクトルエラーの測定が行われる。

【００４６】図５は本発明の変調精度測定回路の第５の
実施形態を示す図である。この実施形態は、請求項５の
発明に対応している。ここで、変調信号はマルチキャリ
ア信号であるとする。同図において、信号抽出回路１
１、位相回転回路１２、信号精度測定回路１６はマルチ
キャリアに対応し、並列に信号が入力する構成となって
いる。

【００４７】また、位相回転回路は入力数と同じ並列な
出力を行う構成となっている。本実施形態の特徴は、複
数組の位相誤差推定用信号群Ｕ（ｔ）にわたって平滑化
された位相誤差量の検出を行う手段として、記憶回路１
４および位相誤差検出回路１５を備えたところにある。

【００４８】すなわち、位相誤差量推定用信号群Ｕ
（ｔ）を用いて位相誤差を推定していた従来回路とは異
なり、記憶回路１４に記憶されるＬ組の位相誤差推定用
信号群Ｕ（ｔ）を用いて位相検出を行うため、位相誤差
が平滑化され、位相雑音に起因する変調誤差量を大きく
している。

【００４９】受信回路１８から出力された受信信号は、
分波回路１９により多重化が解除される。信号選択回路
２０では、分波回路１９の出力である多重化が解除され
た信号から有効な信号が選択される。信号選択回路２０
から出力される信号Ｆ（ｔ）は信号抽出回路１１および
位相回転回路１２に入力される。

【００５０】信号抽出回路１１では受信信号Ｆ（ｔ）か
ら位相誤差推定のためのＮ個の信号を抽出する。信号抽
出回路１１により抽出される１組Ｎ個の位相誤差量推定
用信号Ｔ（ｔ）は信号保持回路１３に入力される。信号
保持回路１３では、位相誤差量推定用信号Ｔ（ｔ）を位
相誤差量推定に適した組数Ｍだけ保持する。

【００５１】このＭ組の位相誤差量推定用信号を位相誤
差量推定用信号群Ｕ（ｔ）とし、従来回路では位相誤差
推定用信号群Ｕ（ｔ）を位相誤差量の推定に適した信号
の集合であるとして、位相誤差量の推定に用いていた。
しかし、本発明回路では、さらに記憶回路１４を用いて
信号保持回路１３から出力される位相誤差推定用信号群
Ｕ（ｔ）をＬ組だけ記憶する。

【００５２】位相誤差検出回路１５は、記憶回路１４に
記憶されるＬ組の位相誤差補正用信号群Ｕ（ｔ）にわた
って平滑化された位相誤差量の検出を行う。位相回転回
路１２は、位相誤差量検出回路１５で検出された位相誤
差量だけ受信信号Ｆ（ｔ）の位相を逆回転させる。信号
精度測定回路１６ではＬ組の位相誤差推定用信号群Ｕ
（ｔ）にわたって平滑化された位相誤差量の補正が行わ
れた信号Ｇ（ｔ）の変調誤差が測定される。

【００５３】図６は本発明の変調精度測定回路の第６の
実施形態を示す図である。この実施形態は、請求項６の
発明に対応している。信号抽出回路１１、位相回転回路
１２、信号保持回路１３、記憶回路１４、位相誤差検出
回路１５、受信回路１８、分波回路１９、信号選択回路
２０は、先に説明した図５に示す第５の実施形態と同様
の機能を有するので説明を省略する。位相回転回路１２
において、Ｌ組の位相誤差推定用信号群Ｕ（ｔ）にわた
って平滑化された位相誤差量の補正を受けた信号Ｇ
（ｔ）はベクトルエラー測定回路１７に入力され、ベク
トルエラーの測定が行われる。

【００５４】図７は本発明の変調精度測定回路の第７の
実施形態を示す図である。この実施形態は、請求項７の
発明に対応している。ここで変調信号はＯＦＤＭ信号で
あるとする。同図において、信号抽出回路１１、位相回
転回路１２、信号精度測定回路１６は、並列に信号が入
力する構成となっている。

【００５５】また、位相回転回路は入力数と同じ並列な
信号出力を行う構成となっている。本実施形態の特徴
は、複数組の位相誤差推定用信号群Ｑ（ｔ）にわたって
平滑化された位相位相誤差量の検出を行う手段として、
記憶回路１４および位相誤差検出回路１５を備えたとこ
ろにある。

【００５６】すなわち、位相誤差量推定用信号群Ｗ
（ｔ）を用いて位相誤差を推定していた従来回路とは異
なり、記憶回路１４に記憶されるＬ組の位相誤差推定用
信号群Ｗ（ｔ）を用いて位相検出を行うため、位相誤差
が平滑化され、位相雑音に起因する変調誤差量を大きく
している。

【００５７】受信回路２１から出力された受信信号は、
フ−リエ変換演算回路２２により多重化が解除される。
信号選択手段２０では、フ−リエ変換演算回路２２の出
力である多重化が解除された信号から有効な信号が選択
される。信号選択回路２０から出力される信号Ｈ（ｔ）
は信号抽出回路１１および位相回転回路１２に入力され
る。

【００５８】信号抽出回路１１では受信信号Ｈ（ｔ）か
ら位相誤差推定のためのＮ個の信号を抽出する。信号抽
出回路１１により抽出された１組Ｎ個の位相誤差量推定
用信号Ｖ（ｔ）は信号保持回路１３に入力される。信号
保持回路１３では、位相誤差量推定用信号Ｖ（ｔ）を位
相誤差量推定に適した組数Ｍだけ保持する。

【００５９】このＭ組の位相誤差量推定用信号を位相誤
差量推定用信号群Ｗ（ｔ）とし、従来回路では位相誤差
推定用信号群Ｗ（ｔ）を位相誤差量の推定に適した信号
の集合であるとして、位相誤差量の推定に用いていた。
しかし、本発明回路では、さらに記憶回路１４を用いて
信号保持回路１３から出力される位相誤差推定用信号群
Ｗ（ｔ）をＬ組だけ記憶する。

【００６０】位相誤差検出回路１５は、記憶回路１４に
記憶されるＬ組の位相誤差補正用信号群Ｗ（ｔ）にわた
って平滑化された位相誤差量の検出を行う。位相回転回
路１２は、位相誤差量検出回路１５で検出された位相誤
差量だけ受信信号Ｈ（ｔ）の位相を逆回転させる。信号
精度測定回路１６ではＬ組の位相誤差用推定信号群Ｗ
（ｔ）にわたって平滑化された位相誤差量の補正が行わ
れた信号Ｉ（ｔ）の変調誤差が測定される。

【００６１】図８は本発明の変調精度測定回路の第８の
実施形態を示す図である。この実施形態は、請求項８の
発明に対応している。同図において、信号抽出回路１
１、位相回転回路１２、信号保持回路１３、記憶回路１
４、位相誤差検出回路１５、信号選択回路２０、受信回
路２１、フ−リエ変換回路２２は、先に説明した図７に
示す第７の実施形態と同様の機能を有するので説明を省
略する。

【００６２】位相回転回路１２において、Ｌ組の位相誤
差推定用信号群Ｗ（ｔ）にわたって平滑化された位相誤
差量の補正を受けた信号Ｉ（ｔ）はベクトルエラー測定
回路１７に入力され、ベクトルエラーの測定が行われ
る。

【００６３】図９は計算機シミュレーシヨンによる変調
精度測定回路により測定された変調誤差と符号誤り率の
劣化量の関係を示す図である。変調誤差および符号誤り
率の劣化量を表すものとして、それぞれベクトルエラー
とパケット誤り率１０％での等価ＣＮＲ劣化量を用い
た。

【００６４】同図において、縦軸はパケット誤り率１０
％での等価ＣＮＲ劣化量、横軸はベクトルエラーの実効
値である。図中の白抜きの四角印は本発明の回路（位相
誤差推定に用いるＯＦＤＭシンボル数：５）の場合を、
また、黒丸印は従来の回路（位相誤差推定に用いるＯＦ
ＤＭシンボル数：１）の場合を示している。

【００６５】なお、本シミュレーシヨンは、第８の実施
形態においてＡＷＧＮ環境下で計算したものである。計
算条件は、伝送速度は２４Ｍｂｉｔ／ｓ、変復調方式は
１６ＱＡＭ−ＱＦＤＭ・同期検波、サブキャリア数は４
８、ＩＦＦＴポイン卜数は６４、ガードインターバルは
８００ｎｓ、パケット長は１０００ｂｙｔｅ、誤り訂正
は拘束長７の畳み込み符号・３ビット軟判定ビタビ復号
とした。

【００６６】考慮した劣化要因は位相雑音、高出力増幅
器の非線形歪み、直交変調器で生じる直交位相誤差およ
び直交振幅比誤差、ＩＦＦＴ内部演算量子化誤差、ＤＡ
Ｃ量子化誤差である。以上の各劣化要因については容易
に実現可能なパラメータの範囲内でシミュレーシヨンを
行った。

【００６７】位相誤差推定用信号は４８サブキャリアの
うち低い周波数のサブキャリアから数えて３番目２６番
目４６番目に挿入されているとする。位相誤差は、抽出
した信号のベクトル加算を行い、算出された信号の位相
から位相誤差がない場合の位相を引くことにより算出さ
れる。

【００６８】受信機では、熱雑音の影響を減らすため２
０ＦＤＭシンボルから抽出した６つの位相誤差量推定用
信号を用いて位相誤差の補正を行った後、復調した信号
から符号誤り率を求める。また、変調精度測定回路で
は、送信信号を電力の減衰の無い状態で受信できるため
熱雑音は無視できる。

【００６９】そのため、１ＯＦＤＭシンボルから抽出し
た３つの位相誤差量推定用信号を用いて位相誤差推定を
行う構成の回路を従来回路とした。一方、５０ＦＤＭシ
ンボルから抽出した１５の位相誤差量推定用信号を用い
て位相誤差を推定を行う構成の回路を本発明回路とし
た。従来の回路構成においてベクトルエラーと等価ＣＮ
Ｒ劣化量の関係が１対１となっていないことが判る。

【００７０】例えば、ベクトルエラーが１０％の値をと
るときの等価ＣＮＲ劣化量のばらつきは０．５ｄＢ以上
である。ー方、本発明の変調精度測定回路において５０
ＦＤＭシンボルに含まれる１５個の位相誤差推定用信号
を用いて受信信号の位相誤差の補正が行われた後に測定
されたベクトルエラーは、等価ＣＮＲ劣化量との関係が
ほぼ１対１となることが確認された。

【００７１】これにより位相雑音に起因する等価ＣＮＲ
劣化量が大きいシステムにおいても本発明回路により測
定されるベクトルエラーを用いて変調精度の規定が可能
であることが明らかとなった。

【００７２】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の変調精度
測定回路により測定される変調誤差は、従来の変調精度
測定回路により測定される変調誤差では規定が困難であ
った位相雑音に起因する符号誤り率の劣化量が大きいシ
ステムにおいても変調精度の規定が可能となる。また、
本発明の変調精度測定回路を用いて変調誤差を測定する
ことにより、送信機の設計・改良を行う際に正確な劣化
量を簡易に知ることができる利点もある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の変調精度測定回路の第１の実施形態を
示すブロック図である。

【図２】本発明の変調精度測定回路の第２の実施形態を
示すブロック図である。

【図３】本発明の変調精度測定回路の第３の実施形態を
示すブロック図である。

【図４】本発明の変調精度測定回路の第４の実施形態を
示すブロック図である。

【図５】本発明の変調精度測定回路の第５の実施形態を
示すブロック図である。

【図６】本発明の変調精度測定回路の第６の実施形態を
示すブロック図である。

【図７】本発明の変調精度測定回路の第７の実施形態を
示すブロック図である。

【図８】本発明の変調精度測定回路の第８の実施形態を
示すブロック図である。

【図９】計算機シミュレーシヨンによる等価ＣＮＲ劣化
量とベクトルエラーの関係を示す図である。

【図１０】従来の変調精度測定回路の構成例を示すブロ
ック図である。

【符号の説明】

１，１０，１８，２１ 受信回路 ２，１１ 信号抽出回路 ３，１２ 位相回転回路 ４，１３ 信号保持回路 ５，８，１５ 位相誤差検出回路 ６，１６ 信号精度測定回路 ７，１４ 記憶回路 ９，１７ ベクトルエラー測定回路 １９ 分波回路 ２０ 信号選択回路 ２２ フ−リエ変換演算回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 守倉 正博 東京都新宿区西新宿三丁目19番２号 日 本電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 平11−331299（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−297859（ＪＰ，Ａ) 特開 平10−23086（ＪＰ，Ａ) 堀哲，熊谷智明，阪田徹，守蔵正博, ＯＦＤＭシステムにおける変調精度の規 定に関する検討，電子情報通信学会技術 研究報告，1999年 １月21日，ＳＡＴ98 −68，Ｖｏｌ．98，Ｎｏ．535，Ｐ．15 −20 (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) H04L 27/22 H04J 1/00 H04J 11/00

Claims (8)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 時間の経過とともに位相誤差量が変化す
   る信号を受信する第一の受信手段と、 該受信手段の出力信号から位相誤差量の推定のためのＮ
   （Ｎ≧１，Ｎ：整数）個の信号を抽出する第一の信号抽
   出手段と、 該第一の信号抽出手段により抽出された一組Ｎ個の位相
   誤差量推定用信号を一定期間に含まれる位相誤差量推定
   に適した組数Ｍ（Ｍ≧１，Ｍ：整数）だけ保持する第一
   の信号保持手段と、 該第一の信号保持手段に保持されたＭ組の位相誤差量推
   定用信号をさらにＬ（Ｌ≧１，Ｌ：整数）組記憶するタ
   ップ数Ｌのシフトレジスタ型の動作を行う第一の記憶手
   段と、 該第一の記憶手段に記憶されているＭ×Ｌ組の位相誤差
   量推定用信号から算出される平滑化された位相誤差量を
   検出する第一の位相誤差量検出手段と、 該第一の位相誤差量検出手段により検出される位相誤差
   量だけ前記受信信号の位相を逆回転させる第一の位相回
   転手段と、 該第一の位相回転手段の出力信号の変調誤差を測定する
   第一の信号精度測定手段とを備えたことを特徴とする変
   調精度測定回路。
2. 【請求項２】 第一の信号精度測定手段は、入力信号の
   位相平面上における正規位置からの誤差の実効値である
   ベクトルエラーを測定する構成である請求項１に記載の
   変調精度測定回路。
3. 【請求項３】 時間の経過とともに位相誤差量が変化す
   るマルチキャリア信号を受信する複数の第二の受信手段
   と、 該第二の受信手段の出力信号から位相誤差量の推定のた
   めのＮ（Ｎ≧ｌ，Ｎ：整数）個の信号を抽出する第二の
   信号抽出手段と、 該第二の信号抽出手段により抽出された一組Ｎ個の位相
   誤差量推定用信号を、一定期間に含まれる位相誤差量推
   定に適した組数Ｍ（Ｍ≧ｌ，Ｍ：整数）だけ保持する第
   二の信号保持手段と、 該第二の信号保持手段に保持されたＭ組の位相誤差量推
   定用信号をさらにＬ（Ｌ≧１，Ｌ：整数）組記憶するタ
   ップ数Ｌのシフトレジスタ型の動作を行う第二の記億手
   段と、 前記第二の記憶手段に記憶されているＭ×Ｌ組の位相誤
   差量推定用信号から算出される平滑化された位相誤差量
   を検出する第二の位相誤差量検出手段と、 該第二の位相誤差量検出手段により検出される位相誤差
   量だけ前記受信信号の位相を逆回転させる第二の位相回
   転手段と、 該第二の位相回転手段の出力信号の変調誤差を測定する
   第二の信号精度測定手段とを備えたことを特徴とする変
   調精度測定回路。
4. 【請求項４】 第二の信号精度測定手段は、入力信号の
   位相平面上における正規位置からの誤差の実効値である
   ベクトルエラーを測定する構成である請求項３に記載の
   変調精度測定回路。
5. 【請求項５】 時間の経過とともに位相誤差量が変化す
   るマルチキャリア信号を受信する第三の受信手段と、 該第三の受信手段の出力信号の分波を行う分波手段と、 該分波手段の出力から有効な信号を抜き出す第一の信号
   選択手段と、 該第一の信号選択手段の出力信号から位相誤差量の推定
   のためのＮ（Ｎ≧１，Ｎ：整数）個の信号を抽出する第
   二の信号抽出手段と、 該第二の信号抽出手段により抽出された一組Ｎ個の位相
   誤差量推定用信号を一定期間に含まれる位相誤差量推定
   に適した組数Ｍ（Ｍ≧１，Ｍ：整数）だけ保持する第二
   の信号保持手段と、 該第二の信号保持手段に保持されたＭ組の位相誤差量推
   定用信号をさらにＬ（Ｌ≧１，Ｌ：整数）組記憶するタ
   ップ数Ｌのシフトレジスタ型の動作を行う第二の記憶手
   段と、 該第二の記憶手段に記憶されているＭ×Ｌ組の位相誤差
   量推定用信号から算出される平滑化された位相誤差量を
   検出する第二の位相誤差量検出手段と、 該第二の位相誤差量検出手段により検出される位相誤差
   量だけ前記受信信号の位相を逆回転させる第二の位相回
   転手段と、 該第二の位相回転手段の出力信号の変調誤差を測定する
   第二の信号精度測定手段とを備えたことを特徴とする変
   調精度測定回路。
6. 【請求項６】 第二の信号精度測定手段は、入力信号の
   位相平面上における正規位置からの誤差の実効値である
   ベクトルエラーを測定する構成である請求項５に記載の
   変調精度測定回路。
7. 【請求項７】 時間の経過とともに位相誤差量が変化す
   るＯＦＤＭ信号を受信する第四の受信手段と、 該第四の受信手段の出力信号の多重化を解除するフ−リ
   エ変換演算手段と、 該フ−リエ変換演算手段の出力から有効な非多重化信号
   を抜き出す第二の信号選択手段と、 該第二の信号選択手段の出力信号から位相誤差量の推定
   のためのＮ（Ｎ≧１，Ｎ：整数）個の信号を抽出する第
   二の信号抽出手段と、 該第二の信号抽出手段により抽出された一組Ｎ個の位相
   誤差量推定用信号を一定期間に含まれる位相誤差量推定
   に適した組数Ｍ（Ｍ≧１，Ｍ：整数）だけ保持する第二
   の信号保持手段と、 該第二の信号保持手段に保持されたＭ組の位相誤差量推
   定用信号を、さらにＬ（Ｌ≧１，Ｌ：整数）組記憶する
   タップ数Ｌのシフトレジスタ型の動作を行う第二の記憶
   手段と、 該第二の記憶手段に記憶されているＭ×Ｌ組の位相誤差
   量推定用信号から算出される平滑化された位相誤差量を
   検出する第二の位相誤差量検出手段と、 該第二の位相誤差量検出手段により検出される位相誤差
   量だけ前記受信信号の位相を逆回転させる第二の位相回
   転手段と、 該第二の位相回転手段の出力信号の変調誤差を測定する
   第二の信号精度測定手段とを備えたことを特徴とする変
   調精度測定回路。
8. 【請求項８】 第二の信号精度測定手段は、入力信号の
   位相平面上における正規位置からの誤差の実効値である
   ベクトルエラーを測定する構成である請求項７に記載の
   変調精度測定回路。