JP7314859B2 - 分析支援装置、分析支援方法および分析支援プログラム - Google Patents

Description

本発明は、分析支援装置、分析支援方法および分析支援プログラムに関する。

試料の成分を分析する分析装置がある。分析装置に設定される分析条件によって、試料の分析結果に変化が生じるため、最適な分析条件を探索するメソッドスカウティングが行われる。

下記特許文献１には、クロマトグラフ用データ処理装置が開示されている。特許文献１のデータ処理装置は、未検討の分析条件をユーザに提示することで、メソッドスカウティングの作業を支援することが可能である。

また、分析条件と測定品質指標との間の回帰分析を行うことにより、測定品質指標の分布を推定することが可能である。そして、測定品質指標の分布の中で閾値を超える範囲をデザインスペースとしてユーザに提示することで、メソッドスカウティングの作業を支援することが可能である。

特開２０１５－１６６７２６号公報

特許文献１に開示されたデータ処理装置によれば、ユーザは、未検討の分析条件を把握することができる。また、ユーザは、デザインスペースを参照することで、分析条件と測定品質指標との関係を把握することができる。さらに、分析条件の最適化を図るための様々な情報を提供することができれば、分析装置を使用するユーザにとって有益である。

本発明の目的は、分析装置において分析条件の最適化のために有用な情報をユーザに提供することである。

本発明の一局面に従う分析支援装置は、分析装置に与えられる複数の分析条件データと、複数の分析条件データに基づいて分析装置で得られた複数の測定データを用いて、測定品質指標データの分布を推定する推定部と、測定品質指標データが所定の閾値以上となる領域をデザインスペースとして表示する測定品質指標表示部とを備え、測定品質指標表示部は、測定品質指標データの分布領域において、デザインスペース以外の領域の少なくとも一部を切り取ることにより、デザインスペースの領域を拡大表示する。

本発明によれば、分析装置において分析条件の最適化のために有用な情報をユーザに提供することができる。

本実施の形態に係る分析システムの全体図である。 本実施の形態に係るコンピュータの構成図である。 本実施の形態に係るコンピュータの機能ブロック図である。 液体クロマトグラフにおいて得られたクロマトグラムを示す図である。 クロマトグラムにおけるピークを示す図である。 分離度の分布を示す応答曲面を示す図である。 分離度の分布に対するデザインスペースを示す図である。 本実施の形態に係る分析支援方法を示すフローチャートである。 ディスプレイに表示された分析支援画面を示す図である。 ディスプレイに表示された分析支援画面を示す図である。

次に、添付の図面を参照しながら本発明の実施の形態に係る分析支援装置、方法およびプログラムの構成について説明する。

（１）分析システムの全体構成
図１は、本実施の形態に係る分析システム５の全体図である。分析システム５は、コンピュータ１および液体クロマトグラフ３を備える。コンピュータ１および液体クロマトグラフ３は、ネットワーク４を介して接続される。ネットワーク４は、例えばＬＡＮ（Ｌｏｃａｌ Ａｒｅａ Ｎｅｔｗｏｒｋ）である。

コンピュータ１は、液体クロマトグラフ３に分析条件を設定する機能、液体クロマトグラフ３における測定結果を取得し、測定結果を分析する機能などを備える。コンピュータ１には、液体クロマトグラフ３を制御するためのプログラムがインストールされる。

液体クロマトグラフ３は、ポンプユニット、オートサンプラユニット、カラムオーブンユニットおよび検出器ユニットなどを備える。液体クロマトグラフ３は、また、システムコントローラを備える。システムコントローラは、コンピュータ１からネットワーク４経由で受信した制御指示に従って、液体クロマトグラフ３を制御する。システムコントローラは、液体クロマトグラフ３の測定結果のデータを、ネットワーク４経由でコンピュータ１に送信する。

（２）コンピュータ（分析支援装置）の構成
図２は、コンピュータ１の構成図である。コンピュータ１は、本実施の形態においてはパーソナルコンピュータが利用される。コンピュータ１は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）１０１、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）１０２、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）１０３、ディスプレイ１０４、操作部１０５、記憶装置１０６、通信インタフェース１０７、および、デバイスインタフェース１０８を備える。

ＣＰＵ１０１は、コンピュータ１の制御を行う。ＲＡＭ１０２は、ＣＰＵ１０１がプログラムを実行するときにワークエリアとして使用される。ＲＯＭ１０３には、制御プログラムなどが記憶される。ディスプレイ１０４は、例えば液晶ディスプレイである。操作部１０５は、ユーザの操作を受け付けるデバイスであり、キーボード、マウスなどを含む。ディスプレイ１０４がタッチパネルディスプレイで構成され、ディスプレイ１０４が操作部１０５としての機能を備えていても良い。記憶装置１０６は、各種プログラムおよびデータを記憶する装置である。記憶装置１０６は、例えばハードディスクである。通信インタフェース１０７は、他のコンピュータおよびデバイスと通信を行うインタフェースである。通信インタフェース１０７は、ネットワーク４に接続される。デバイスインタフェース１０８は、各種の外部デバイスにアクセスするインタフェースである。ＣＰＵ１０１は、デバイスインタフェース１０８に接続された外部デバイス装置を介して記憶媒体１０９にアクセスすることができる。

記憶装置１０６には、分析支援プログラムＰ１、分析条件データＡＰ、測定データＭＤ、測定品質指標データＭＱおよび分布データＤＤが記憶される。分析支援プログラムＰ１は、液体クロマトグラフ３を制御するためのプログラムである。分析支援プログラムＰ１は、液体クロマトグラフ３に対して分析条件を設定する機能、液体クロマトグラフ３から測定結果を取得し、測定結果を分析する機能などを備える。分析条件データＡＰは、液体クロマトグラフ３に設定する分析条件を記述したデータであり、複数の分析パラメータを含む。測定データＭＤは、液体クロマトグラフ３から取得した測定結果のデータである。測定品質指標データＭＱは、液体クロマトグラフ３から取得した測定結果の品質を評価するためのデータである。測定品質指標データＭＱは、保持時間データＲＴＤおよび分離度データＲＤを含む。分布データＤＤは、実際に液体クロマトグラフ３に設定された分析条件データＡＰおよび実際に液体クロマトグラフ３において測定された測定データＭＤに基づいて推定された測定品質指標データＭＱの分布を示すデータである。分布データＤＤは、測定品質指標データＭＱの応答曲面を示す。測定品質指標データＭＱの分布および応答曲面については、後で詳しく説明する。

図３は、コンピュータ１の機能ブロック図である。制御部２００は、ＣＰＵ１０１が、ＲＡＭ１０２をワークエリアとして使用し、分析支援プログラムＰ１を実行することにより実現される機能部である。制御部２００は、分析管理部２０１、算出部２０２、推定部２０３および分析支援情報表示部２０４を備える。

分析管理部２０１は、液体クロマトグラフ３の制御を行う。分析管理部２０１は、ユーザによる分析条件データＡＰの設定および分析処理の開始指示を受けて、液体クロマトグラフ３に対する分析処理の指示を行う。分析管理部２０１は、また、液体クロマトグラフ３から測定データＭＤを取得する。

算出部２０２は、液体クロマトグラフ３における測定結果を示す測定データＭＤに基づいて、測定品質指標データＭＱを算出する。算出部２０２は、測定品質指標データＭＱとして、保持時間データＲＴＤおよび分離度データＲＤを算出する。

推定部２０３は、実際の測定に用いられた分析条件データＡＰ、および、その分析条件データＡＰに基づいて実際に算出された測定品質指標データＭＱに基づいて、測定品質指標データＭＱの分布を示す分布データＤＤを推定する。つまり、分布データＤＤにおいては、実際に測定に用いられていない分析条件データＡＰに対する測定品質指標データＭＱの推定値が含まれている。推定部２０３は、分布データＤＤを推定するために回帰分析を行う。

分析支援情報表示部２０４は、分析条件データＡＰ、推定部２０３において推定された測定品質指標データＭＱ、および、分布データＤＤなどを用いて、ディスプレイ１０４に分析支援のための情報表示を行う。分析支援情報表示部２０４は、測定品質指標表示部２０５を備える。

（３）測定品質指標およびデザインスペース
次に、図４～図６を参照しながら、測定品質指標およびデザインスペースについて説明する。図４は、液体クロマトグラフ３において得られたクロマトグラム３０を示す図である。液体クロマトグラフ３が備える分離カラムにおいて、試料に含まれる成分が分離される。分離された成分は、液体クロマトグラフ３が備える検出器において検出される。検出器は、分離カラムにおいて分離された各成分の吸光スペクトル、屈折率、または、光の散乱などを検出する。図４で示すクロマトグラム３０は、液体クロマトグラフ３の検出器において検出された各成分の吸光スペクトルなどの信号強度が示されている。

図５は、クロマトグラム３０における２つのピークＰＫ１，ＰＫ２を示す図である。ピークＰＫ１，ＰＫ２の保持時間は、それぞれｒｔ１，ｒｔ２である。また、ピークＰＫ１，ＰＫ２のピーク幅は、それぞれＷ１，Ｗ２である。また、ピークＰＫ１，ＰＫ２の半値幅（半値全幅）は、Ｗｈ１，Ｗｈ２である。このとき、ピークＰＫ１，ＰＫ２の分離度Ｒは、例えば、以下の（１）または（２）式で表される。
（１）Ｒ＝２×（ｒｔ２－ｒｔ１）／（Ｗ１＋Ｗ２）
（２）Ｒ＝１．１８｛（ｒｔ２－ｒｔ１）／（Ｗｈ１＋Ｗｈ２）｝

分離度Ｒは、値が大きいほど、隣り合うピークが分離されていることを意味する。例えば、分離度Ｒが１．５以上、または、２．０以上などの場合に、隣り合うピークは、完全分離されていると判断される。

分離度Ｒが、所定の閾値（例えば、２．０）を超えることにより、液体クロマトグラフ３における測定結果は有効であると考えられる。つまり、分離度Ｒは、液体クロマトグラフ３における測定品質指標の一つとなる。クロマトグラム３０においては、複数の成分に対応した複数のピークが出現する。これら複数のピークから算出される複数の分離度Ｒの中で最小の分離度Ｒを測定品質指標とすることができる。あるいは、保持時間ｒｔ１，ｒｔ２も、液体クロマトグラフ３における測定品質指標の１つとなる。

液体クロマトグラフ３に実際に複数の分析条件データＡＰを与えることにより、複数の測定データＭＤを得ることができる。この実際に測定された測定データＭＤから、各分析条件データＡＰに対応する分離度データＲＤを算出することができる。そして、複数の分析条件データＡＰ、および、複数の分析条件データＡＰから得られた複数の分離度データＲＤから、回帰分析により分離度データＲＤの分布を得ることができる。つまり、複数の分析条件データＡＰおよび複数の分離度データＲＤから、測定品質指標データＭＱの分布を得ることができる。

具体的には、実際に用いられる複数の分析条件データＡＰ、および、実際に測定された測定データＭＤから算出された複数の分離度データＲＤとの間の回帰式を取得する。そして、実際に用いられていない他の分析条件データＡＰに対して、回帰式を適用させることにより、それら他の分析条件データＡＰに対する分離度データＲＤを推定する。これにより、測定品質指標としての分離度データＲＤの分布が得られる。つまり、回帰式は、測定品質指標としての分離度データＲＤの分布を示す。あるいは、回帰分析により、保持時間データＲＴＤの分布を推定し、推定された保持時間データＲＴＤから分離度データＲＤを算出してもよい。回帰分析においては、ベイズ推定を用いることができる。

図６は、分離度データＲＤの分布である応答曲面３３の一例を示す図である。つまり、測定品質指標としての分離度データＲＤの分布を示す図である。図６は、分析条件として２種類の分析パラメータ３１Ａ，３１Ｂに対する分離度Ｒの変化を示す応答曲面３３が描かれている。つまり、分析条件である分析パラメータ３１Ａ，３１Ｂの組み合わせが決まると、それに対応する分離度Ｒが応答曲面３３から求められる。

図７は、分離度Ｒの分布に対するデザインスペースを示す図である。図６に示す応答曲面３３において、測定品質指標である分離度Ｒの閾値を設定することによって、分離度Ｒの許容範囲であるデザインスペース３５が取得される。図７は、図６で示す応答曲面３３において、分離度Ｒが閾値（例えば２．０）以上となる領域をデザインスペース３５として描画した図である。図７において、斜線の領域がデザインスペース３５である。デザインスペース３５の領域内においては、分析パラメータ３１Ａ，３１Ｂを変化させた場合であっても、測定品質指標として分離度Ｒが許容範囲に収まることを示している。

（４）分析支援方法
次に、本実施の形態に係るコンピュータ１（分析支援装置）において実行される分析支援方法について説明する。図８は、本実施の形態に係る分析支援方法を示すフローチャートである。図８に示す処理を開始する前に、予め、ユーザが操作部１０５を操作し、複数の分析条件の設定を行う。具体的には、ユーザは、溶媒濃度、溶媒混合比、グラジエント初期値、グラジエント勾配、カラム温度などの分析パラメータの設定値の組み合わせを、分析条件として設定する。ユーザは、これら分析パラメータの組み合わせを複数セット設定する。例えば、溶媒濃度を少しずつ変化させた分析パラメータの組み合わせや、カラム温度を少しずつ変化させた分析パラメータの組み合わせなどを分析条件として設定する。このようなユーザの設定操作を受けて、分析管理部２０１は、記憶装置１０６に複数の分析条件データＡＰを保存する。

次に、図８に示すステップＳ１０１において、分析管理部２０１が、複数の分析条件データＡＰを液体クロマトグラフ３に設定する。具体的には、分析管理部２０１は、液体クロマトグラフ３のシステムコントローラに対して、複数の分析条件データＡＰを設定する。これに応じて、液体クロマトグラフ３において、設定された複数の分析条件データＡＰに基づいて、同一の試料に対して複数回の分析処理が実行される。液体クロマトグラフ３において、複数の分析条件データＡＰに対応して複数の測定データＭＤが取得される。つまり、液体クロマトグラフ３において、複数の分析条件データＡＰに対応した複数のクロマトグラムが取得される。

次に、ステップＳ１０２において、分析管理部２０１は、液体クロマトグラフ３から複数の測定データＭＤを取得する。分析管理部２０１は、記憶装置１０６に、取得した複数の測定データＭＤを保存する。

次に、ステップＳ１０３において、算出部２０２が、ステップＳ１０２において記憶装置１０６に保存された複数の測定データＭＤを取得し、取得した複数の測定データＭＤから複数の保持時間データＲＴＤおよび複数の半値幅データＷｈＤを取得する。測定データＭＤは、クロマトグラムであるので、それぞれの測定データＭＤには、複数のピークが含まれる。したがって、それぞれの測定データＭＤからは複数のピークに対応する複数の保持時間データＲＴＤおよび複数の半値幅データＷｈＤが取得される。

次に、ステップＳ１０４において、算出部２０２が、ステップＳ１０３において取得した複数の保持時間データＲＴＤおよび複数の半値幅データＷｈＤを用いて、複数の分離度データＲＤを算出する。算出部２０２は、上述した数式（２）を利用することにより、保持時間データＲＴＤおよび半値幅データＷｈＤに基づいて、分離度データＲＤを算出する。なお、本実施の形態においては、半値幅データＷｈＤを取得し、数式（２）を利用して分離度データＲＤを算出したが、ピーク幅を取得し、数式（１）を利用して分離度データＲＤを算出するようにしてもよい。

次に、ステップＳ１０５において、推定部２０３は、複数の分析条件データＡＰおよび複数の分離度データＲＤに基づいて回帰分析を行う。これにより、推定部２０３は、分析条件と分離度との間の回帰式を算出する。続いて、推定部２０３は、ステップＳ１０６において、回帰式に基づいて分離度データＲＤの分布を推定する。本実施の形態においては、回帰分析を行うときに、ベイズ推定を用いている。他に、回帰分析として最小二乗法を用いることも可能である。

分析支援プログラムＰ１による以上のステップＳ１０１～Ｓ１０６がコンピュータ１において実行されることにより、実際に実行された分析条件以外の分析条件についても、分離度データＲＤが推定される。これにより、推定部２０３は、分離度データＲＤを測定品質指標とする分布データＤＤを作成する。推定部２０３は、分布データＤＤを記憶装置１０６に保存する。

次に、ステップＳ１０７において、測定品質指標表示部２０５が、ディスプレイ１０４にデザインスペースを表示する。図９は、分析支援情報表示部２０４がディスプレイ１０４に表示する分析支援画面２１０を示す図である。分析支援画面２１０は、メソッド一覧表示エリア２２０、クロマトグラム表示エリア２３０、および、測定品質指標表示エリア２４０を備える。測定品質指標表示エリア２４０は、デザインスペースが表示されるエリアであり、測定品質指標表示部２０５により表示される。

メソッド一覧表示エリア２２０には、複数の分析条件データＡＰが一覧表示されている。一行の分析条件データＡＰは、複数の分析パラメータＸ，Ｙ・・・から構成されている。

クロマトグラム表示エリア２３０には、測定データＭＤに基づいてクロマトグラムが表示されている。クロマトグラム表示エリア２３０に表示されているクロマトグラムは、メソッド一覧表示エリア２２０に表示されている複数の分析条件データＡＰのうち、いずれか１つの分析条件データＡＰに対応するクロマトグラムである。図９で示す例では、メソッド一覧表示エリア２２０において、Ｎｏ．２の分析条件データＡＰが強調表示されており、クロマトグラム表示エリア２３０には、Ｎｏ．２の分析条件データＡＰに対応するクロマトグラムが表示されている。

測定品質指標表示エリア２４０は、上述したように、測定品質指標表示部２０５により表示される。測定品質指標表示エリア２４０には、測定品質指標として分離度データＲＤの分布が表示されている。分布の横軸は分析パラメータＸであり、縦軸は分析パラメータＹである。分離度データＲＤの分布は、２つの分析パラメータＸ，Ｙと分離度データＲＤとの関係が示されている。

また、図の実線２４１は、５０％パーセンタイルにおいて、分離度データＲＤが閾値２．０以上となる有効領域を示す。図の破線２４２は、８０％パーセンタイルにおいて、分離度データＲＤが閾値２．０以上となる有効領域を示す。図の破線２４３は、９０％パーセンタイルにおいて、分離度データＲＤが閾値２．０以上となる有効領域を示す。本実施の形態においては、測定品質指標表示エリア２４０に表示されている分離度データＲＤは、ベイズ推定により算出されているため、確率分布を持つ。したがって、各パーセンタイルに応じて分離度データＲＤが閾値２．０以上となるデザインスペースが描画されている。

また、測定品質指標表示エリア２４０において、分析条件ポインタ２４５が示されている。これは、現在、選択されている分析条件データＡＰのポイントを示している。そして、分析条件ポインタ２４５で指定されている分析条件データＡＰに対応するクロマトグラムが、クロマトグラム表示エリア２３０に表示されている。つまり、メソッド一覧表示エリア２２０において強調表示されている分析条件データＡＰと、測定品質指標表示エリア２４０において分析条件ポインタ２４５で指定されている分析条件データＡＰとは一致している。メソッド一覧表示エリア２２０における選択位置と、分析条件ポインタ２４５による指定位置とは連動しており、いずれかの操作を行うことで、両者の状態が変更される。

測定品質指標表示エリア２４０には、表示切替ボタン２４６が設けられている。表示切替ボタン２４６は、測定品質指標表示エリア２４０に表示されているデザインスペースの有効領域の拡大表示を行うためのボタンである。ユーザにより、表示切替ボタン２４６が選択操作されると、測定品質指標表示部２０５がデザインスペースの有効領域の拡大表示を行う。図１０は、デザインスペースの有効領域の拡大表示が行われた分析支援画面２１０を示す図である。

図９に示す測定品質指標表示エリア２４０においては、パラメータＸが０～１０の範囲であり、パラメータＹが０～１００の範囲である領域において、分離度データＲＤに関する分布が表示されている。また、図９に示す測定品質指標表示エリア２４０において、デザインスペースが表示されているのは、パラメータＸが５～９の範囲付近であり、パラメータＹが１０～８０の範囲付近である。そして、図１０に示す測定品質指標表示エリア２４０においては、パラメータＸが５～９の範囲であり、パラメータＹが１０～８０の範囲において、分離度データＲＤに関する分布が表示されている。つまり、図１０に示す測定品質指標表示エリア２４０においては、パラメータＸが１～４および９～１０の範囲が切り取られ、パラメータＹが０～１０および８０～１００の範囲が切り取られることによりデザインスペースが存在する有効領域が、図１０においては拡大表示されている。

このように、本実施の形態の分析支援方法において、測定品質指標表示部２０５は、測定品質指標表示エリア２４０において、デザインスペースの有効領域を拡大表示する。図１０に示す例では、パラメータＸおよびパラメータＹの軸方向に関して、デザインスペースが存在する領域以外の領域を全て切り取っているが、これは一例である。測定品質指標表示部２０５は、パラメータＸおよびパラメータＹの軸方向に関して、デザインスペースが存在する領域以外の領域の少なくとも一部を切り取ることにより、デザインスペースを有効領域として拡大表示することができる。つまり、測定品質指標表示部２０５は、測定品質指標データＭＱの分布領域において、デザインスペース以外の領域の少なくとも一部を切り取ることにより、デザインスペースの有効領域を拡大表示する。これにより、液体クロマトグラフ３において分析条件の最適化のために有用な情報をユーザに提供することができる。ユーザは、測定品質指標表示エリア２４０において、分析条件の検討に有効な領域を詳しく観察することができる。

また、図１０に示す測定品質指標表示エリア２４０においては、測定品質指標データＭＱの変化率の高い領域が、変化率の低い領域に比べて拡大表示されている。図９に示す測定品質指標表示エリア２４０においては、パラメータＸについては、０～１０の範囲でパラメータが等間隔で表示されている。また、パラメータＹについては、０～１００の範囲でパラメータが等間隔で表示されている。これに対して、図１０に示す測定品質指標表示エリア２４０においては、パラメータＸについては、パラメータが５～６および８～９の範囲で間隔が広く、パラメータが７～８の範囲で間隔が狭く表示されている。また、パラメータＹについては、パラメータが７０～８０の範囲で間隔が最も広く、５０～７０の範囲で最も狭く表示されている。つまり、図９において、５０％、８０％、９０％パーセンタイルのデザインスペースの領域を示す境界線２４２，２４３，２４４の間隔の狭い領域ほど、パラメータの間隔が拡大表示されている。つまり、分析パラメータＸ，Ｙの変化に対して、測定品質指標データＭＱである分離度データＲＤの変化の大きい領域を、より詳細に表示するようにしている。これにより、ユーザは、分析パラメータの変化に対して分離度データＲＤの変化が大きい領域については、より詳細に分析条件の分析を行うことが可能である。

（５）請求項の各構成要素と実施の形態の各要素との対応
以下、請求項の各構成要素と実施の形態の各要素との対応の例について説明するが、本発明は下記の例に限定されない。上記の実施の形態では、液体クロマトグラフ３が分析装置またはクロマトグラフの例である。また、上記の実施の形態では、コンピュータ１が分析支援装置の例である。

請求項の各構成要素として、請求項に記載されている構成または機能を有する種々の要素を用いることもできる。

（６）他の実施の形態
上記実施の形態においては、本発明の分析装置として、液体クロマトグラフ３を例に説明した。本発明は、他にも、ガスクロマトグラフにも適用可能である。また、上記の実施の形態において、本実施の形態の分析支援装置であるコンピュータ１は、ネットワーク４を介して分析装置である液体クロマトグラフ３に接続される場合を例に説明した。他の実施の形態として、コンピュータ１が、分析装置に内蔵される構成であってもよい。

上記実施の形態においては、分析支援プログラムＰ１は、記憶装置１０６に保存されている場合を例に説明した。他の実施の形態として、分析支援プログラムＰ１は、記憶媒体１０９に保存されて提供されてもよい。ＣＰＵ１０１は、デバイスインタフェース１０８を介して記憶媒体１０９にアクセスし、記憶媒体１０９に保存された分析支援プログラムＰ１を、記憶装置１０６またはＲＯＭ１０３に保存するようにしてもよい。あるいは、ＣＰＵ１０１は、デバイスインタフェース１０８を介して記憶媒体１０９にアクセスし、記憶媒体１０９に保存された分析支援プログラムＰ１を実行するようにしてもよい。

なお、本発明の具体的な構成は、前述の実施形態に限られるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更および修正が可能である。

（７）態様
上述した複数の例示的な実施の形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。

（第１項）
一態様に係る分析支援装置は、
分析装置に与えられる複数の分析条件データと、前記複数の分析条件データに基づいて前記分析装置で得られた複数の測定データを用いて、測定品質指標データの分布を推定する推定部と、
前記測定品質指標データが所定の閾値以上となる領域をデザインスペースとして表示する測定品質指標表示部と、
を備え、
前記測定品質指標表示部は、
前記測定品質指標データの分布領域において、前記デザインスペース以外の領域の少なくとも一部を切り取ることにより、前記デザインスペースの領域を拡大表示する。

分析装置における分析条件の最適化のために有用な情報をユーザに提供することができる。ユーザは、測定品質指標表示部により表示されたデザインスペースを参照することで、分析条件の検討に有効な領域を詳しく観察することができる。

（第２項）
第１項に記載の分析支援装置において、
前記測定品質指標表示部は、前記デザインスペースの表示領域において、前記測定品質指標データの変化率の高い領域を、変化率の低い領域に比べて拡大表示してもよい。

ユーザは、分析条件データの変化に対して測定品質指標データの変化が大きい領域については、より詳細に分析条件の分析を行うことが可能である。

（第３項）
第１項または第２項に記載の分析支援装置において、
前記分析装置は、クロマトグラフを含み、
前記測定品質指標データは、前記クロマトグラフにおいて分析された各成分の分離度データを含んでもよい。

クロマトグラフにおける分析条件の最適化のために有用な情報を提供可能である。

（第４項）
他の態様に係る分析支援方法は、
分析装置に与えられる複数の分析条件データと、前記複数の分析条件データに基づいて前記分析装置で得られた複数の測定データを用いて、測定品質指標データの分布を推定する推定工程と、
前記測定品質指標データが所定の閾値以上となる領域をデザインスペースとして表示する測定品質指標表示工程と、
を含み、
前記測定品質指標表示工程は、
前記測定品質指標データの分布領域において、前記デザインスペース以外の領域の少なくとも一部を切り取ることにより、前記デザインスペースの領域を拡大表示する。

（第５項）
他の態様に係る分析支援プログラムは、
分析装置に与えられる複数の分析条件データと、前記複数の分析条件データに基づいて前記分析装置で得られた複数の測定データを用いて、測定品質指標データの分布を推定する処理と、
前記測定品質指標データが所定の閾値以上となる領域をデザインスペースとして表示し、前記測定品質指標データの分布領域において、前記デザインスペース以外の領域の少なくとも一部を切り取ることにより、前記デザインスペースの領域を拡大表示する処理と、
をコンピュータに実行させる。

１…コンピュータ、３…液体クロマトグラフ、１０４…ディスプレイ、１０６…記憶装置、２００…制御部、２０１…分析管理部、２０２…算出部、２０３…推定部、２０４…分析支援情報表示部、２０５…測定品質指標表示部、２２０…メソッド一覧表示エリア、２３０…クロマトグラム表示エリア、２４０…測定品質指標表示エリア、ＡＰ…分析条件データ、ＭＤ…測定データ、ＭＱ…測定品質指標データ、ＲＴＤ…保持時間データ、ＲＤ…分離度データ、ＤＤ…分布データ

Claims (5)

1. 分析装置に与えられる複数の分析条件データと、前記複数の分析条件データに基づいて前記分析装置で得られた複数の測定データを用いて、測定品質指標データの分布を推定する推定部と、
   前記測定品質指標データが所定の閾値以上となる領域をデザインスペースとして表示する測定品質指標表示部と、
   を備え、
   前記測定品質指標表示部は、
   前記測定品質指標データの分布領域において、前記デザインスペース以外の領域の少なくとも一部を切り取ることにより、前記デザインスペースの領域を拡大表示する、分析支援装置。
2. 前記測定品質指標表示部は、前記デザインスペースの表示領域において、前記測定品質指標データの変化率の高い領域を、変化率の低い領域に比べて拡大表示する、請求項１に記載の分析支援装置。
3. 前記分析装置は、クロマトグラフを含み、
   前記測定品質指標データは、前記クロマトグラフにおいて分析された各成分の分離度データを含む、請求項１または請求項２に記載の分析支援装置。
4. 分析装置に与えられる複数の分析条件データと、前記複数の分析条件データに基づいて前記分析装置で得られた複数の測定データを用いて、測定品質指標データの分布を推定する推定工程と、
   前記測定品質指標データが所定の閾値以上となる領域をデザインスペースとして表示する測定品質指標表示工程と、
   を含み、
   前記測定品質指標表示工程は、
   前記測定品質指標データの分布領域において、前記デザインスペース以外の領域の少なくとも一部を切り取ることにより、前記デザインスペースの領域を拡大表示する、
   分析支援方法。
5. 分析装置に与えられる複数の分析条件データと、前記複数の分析条件データに基づいて前記分析装置で得られた複数の測定データを用いて、測定品質指標データの分布を推定する処理と、
   前記測定品質指標データが所定の閾値以上となる領域をデザインスペースとして表示し、前記測定品質指標データの分布領域において、前記デザインスペース以外の領域の少なくとも一部を切り取ることにより、前記デザインスペースの領域を拡大表示する処理と、
   をコンピュータに実行させる分析支援プログラム。

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