JPH01141377A - 厚膜混成集積回路の検査装置 - Google Patents

厚膜混成集積回路の検査装置

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JPH01141377A
JPH01141377A JP62299202A JP29920287A JPH01141377A JP H01141377 A JPH01141377 A JP H01141377A JP 62299202 A JP62299202 A JP 62299202A JP 29920287 A JP29920287 A JP 29920287A JP H01141377 A JPH01141377 A JP H01141377A
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JP
Japan
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integrated circuit
thick film
defective
hybrid integrated
socket
Prior art date
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Pending
Application number
JP62299202A
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English (en)
Inventor
Shuichi Marumichi
圓道 修一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、厚膜混成集積回路の検査装置の改良に関する
(従来の技術) 従来、厚膜混成集積回路の電気特性を検査する検査装置
としては、例えば第2図に示すものが知られている。
図中の1は、コンピュータを使用した自動計測システム
である。この自動計測システムには、厚膜混成集積回路
2に検査信号を供給する等、いわゆるこの集積回路2を
を活性化する為の周辺回路からなる検査治具(OUT)
3が電気的に接続されている。このOUT3上には、該
DUT3に電気的に接続されたソケット4が搭載されて
いる。
このソケット4には、前記厚膜混成集積回路2が装着さ
れる。このように自動計測ソステム1は通常1組で1個
の厚膜混成集積回路2を受持つ。
しかしながら1.従来技術によれば、以下に述べる問題
点を有する。即ち、通常厚膜混成集積回路は、デイツプ
作業時(リードを基板に半田付けする場合)フラックス
がリードに付着し易いとともに、防水用のワックスも付
き易い。従って、試験を繰返すにつれてワックスが前記
ソケット4のリード装着用穴にワックスが付き、ソケッ
ト4と厚膜混成集積回路2のリード間に導通不良が生じ
る。
その結果、良品である製品も不良として扱われる恐れが
あり、歩留りが低下する。
(発明が解決しようとする問題点) 本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、厚I!!混
成集積回路を装着すべきソケットを複数個設けることに
より、良品が不良品扱いされることを低減し、もって歩
留りを向上し得る厚膜混成集積回路の検査装置を提供す
ることを目的とする。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 本発明は、厚膜混成集積回路の電気的特性を検査する検
査装置において、自動計測システムと、このシステムに
接続され厚膜混成集積回路を活性化する為の周辺回路か
らなる検査治具と、この検査治具に接続され前記集積回
路がセットされる複数のソケットとを具備することを要
旨とする。
(作用) 本発明において、例えば2個のソケットを想定した場合
、一方のソケットに厚Il!混成集積回路を装着して不
良と判定された場合は、再度前記集積回路を他方のソケ
ットに装着して検査を行い、ここで良品と判定されれば
そのまま良品と扱う。
また、逆に前記集積回路を一方のソケットに装着して検
査を行って良品と判定されれば、再度他方のソケットで
検査を行わずにその判定通り良品と扱う。従って、従来
の如く一度の良否の判定に左右されることなく、両方の
ソケットで検査できる。
それ故、例えばワックスなどがソケットのリード装着用
穴に付着していても、正確な判定ができ、従来と比べ製
品の歩留りを向上できる。
(実施例) 以下、本発明の一実施例を第1図を参照して説明する。
図中の11は、コンピュータを使用した自動計測システ
ムである。この自動計測システム11には、厚膜混成集
積回路12を活性化する為の周辺回路からなる検査治具
(OUT)13が電気的に接続されている。このDUT
13上には、該DUT13に電気的に接続されたソケッ
ト14.15が例えば2個搭載されている。これらのソ
ケット14.15には、前記厚膜混成集積回路12が装
着される。こうした構造の検査装置においては、例えば
ソケット14に厚膜混成集積回路12を装着して不良と
判定された場合は、再度前記集積回路12をソケット1
5に装着して検査を行い、ここで良品と判定されればそ
のまま良品と扱う。
また、逆に前記集積回路12をソケット14に装着して
検査を行って良品と判定されれば、再度別なソケット1
5で検査を行わずにその判定通り良品と扱う。
しかして、上記実施例に係る検査装置によれば、DUT
13上に2個のソケットを搭載した構造となっているた
め、従来の如く一度の良否の判定に左右されることなく
、両方のソケット14.15で検査できる。従って、例
えばワックスなどがソケット14.15のリード装着用
穴に付着していても、正確な判定ができ、従来と比べ製
品の歩留りを向上できる。
なお、上記実施例では、ソケットが211!1の場合に
ついて述べたが、これに限定されることなく、3個以上
とすれば、上記実施例以上に優れた効果が期待できる。
[発明の効果] 以上詳述した如く本発明によれば、厚膜混成集積回路を
装着すべきソケットを複数個設けることにより、良品が
不良品扱いされることを低減し、もって歩留りを向上し
得る厚膜混成集積回路の検査装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係る厚膜混成集積回路の検
査装置の説明図、第2図は従来の厚Ill混成集積回路
の検査装置の説明図である。 11・・・自動計測システム、12・・・厚膜混成集積
回路、13・・・検査治具(DtJT)、14.15・
・・ソケット。 出願人代理人  弁理士 鈴江武彦

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 厚膜混成集積回路の電気的特性を検査する検査装置にお
    いて、自動計測システムと、このシステムに接続され厚
    膜混成集積回路を活性化する為の周辺回路からなる検査
    治具と、この検査治具に接続され前記集積回路がセット
    される複数のソケットとを具備することを特徴とする厚
    膜混成集積回路の検査装置。
JP62299202A 1987-11-27 1987-11-27 厚膜混成集積回路の検査装置 Pending JPH01141377A (ja)

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JPH01141377A true JPH01141377A (ja) 1989-06-02

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