JPH01174920A - 光測定装置 - Google Patents
光測定装置Info
- Publication number
- JPH01174920A JPH01174920A JP62335937A JP33593787A JPH01174920A JP H01174920 A JPH01174920 A JP H01174920A JP 62335937 A JP62335937 A JP 62335937A JP 33593787 A JP33593787 A JP 33593787A JP H01174920 A JPH01174920 A JP H01174920A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- card
- original
- section
- optical measuring
- original card
- Prior art date
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- Pending
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
本発明は、紫外可視公党元度計、赤外分元分析計などの
光測定装置に関する。
光測定装置に関する。
（ロ）従来技術
例えば、従来の紫外可視公党元度計は、第２図に示す構
成をしていた。これは、光源より出射した白色光を分光
器で公党し次単色′ｙｃを試料溶液（元の吸収上水さな
い溶液には発色試薬を加えて化学反応を起させ、発色さ
せた溶液）に当てて通過しｆｃ光束の党電測元を行い、
試料溶液中の目的成分全分析するものである。
成をしていた。これは、光源より出射した白色光を分光
器で公党し次単色′ｙｃを試料溶液（元の吸収上水さな
い溶液には発色試薬を加えて化学反応を起させ、発色さ
せた溶液）に当てて通過しｆｃ光束の党電測元を行い、
試料溶液中の目的成分全分析するものである。
入射光の強さＩｏの単色光束が濃度Ｃ９長さｌの液層？
通過すると、元が吸収されてその強さが減少する。通過
した直後の光束の強度ｉ ＩｔとすればＩｔとＩｏの間
につぎの関係が成り立ち、ランバート・べ−μの法則と
よばれている。
通過すると、元が吸収されてその強さが減少する。通過
した直後の光束の強度ｉ ＩｔとすればＩｔとＩｏの間
につぎの関係が成り立ち、ランバート・べ−μの法則と
よばれている。
Ｉｔ ＝ Ｉｏ・１０４Ｃを・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・（１）ここで８は分子化
合物の種類、波長により定まる常数で吸光係数と呼ばｎ
試料濃度ｃ＝ＩＭ。
・・・・・・・・・・・・・・（１）ここで８は分子化
合物の種類、波長により定まる常数で吸光係数と呼ばｎ
試料濃度ｃ＝ＩＭ。
／＝：ｌＣｍのときのｅの値をモ〃吸光係数と呼ぶ。
ＩｔとＩｏの関係でＩｔＡｏ ＝ ｔを透過度、透過度
を百分率で表わしたｔＸ１００＝Ｔ２透過パーセント透
過率の逆数の常用対数Ａ！Ｏｇｔｏ（１） ２吸光度と
呼π ぶ。吸光度を用いてランバート・ベール法の法則で表わ
すと、 ｋ＝９−Ｃ−１・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・（２）となり吸光度は
試料溶液の濃度に比例する。
を百分率で表わしたｔＸ１００＝Ｔ２透過パーセント透
過率の逆数の常用対数Ａ！Ｏｇｔｏ（１） ２吸光度と
呼π ぶ。吸光度を用いてランバート・ベール法の法則で表わ
すと、 ｋ＝９−Ｃ−１・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・（２）となり吸光度は
試料溶液の濃度に比例する。
（ハ）発明が解決しようとする問題点
■従来は、測光部（光源へ吸収上ｙ）と検出部（検出器
から指示計）が一体となっていたので装置全体が大がか
りなものとなった。
から指示計）が一体となっていたので装置全体が大がか
りなものとなった。
■従来装置では、測定データを保存しようとすれば検出
器よりの出力をプリントアウトしこれｔ保存する以外に
方法がなか−）友。
器よりの出力をプリントアウトしこれｔ保存する以外に
方法がなか−）友。
■検出器には高価なフォトダイオードアレイを使用して
いたので装置の値段が高かった。
いたので装置の値段が高かった。
■測光部だけ、あるいは検出部だけが故障したとき装置
が一体となってい友ので修理が困難であった。
が一体となってい友ので修理が困難であった。
に）問題点を解決するための手段
本発明は、検出素子に元カードを用い分析情報を有する
元カードで検出する事を特徴とする。
元カードで検出する事を特徴とする。
ここで用いる元カードは、例えばガラス、プラスチック
等透明な基板にテｌＬ／ｌｖ、テ／Ｌ’／Ｌ’化合物、
ビスマスその他感光性材料よｐなる記録媒体を設けて構
成される。
等透明な基板にテｌＬ／ｌｖ、テ／Ｌ’／Ｌ’化合物、
ビスマスその他感光性材料よｐなる記録媒体を設けて構
成される。
基板への記録媒体の形成は、蒸着等の手段より行う。
元カードへの情報の記録は、一般に元を記録媒体に照射
して記録媒体に変化を生じさせて行われており、本発明
ではその元が測定上μからの透過光に該当する。すなわ
ち本発明はまず試料が収容された測定上μにｙｔｔ−照
射し、セルからの透過光で元カードに情報を記録する。
して記録媒体に変化を生じさせて行われており、本発明
ではその元が測定上μからの透過光に該当する。すなわ
ち本発明はまず試料が収容された測定上μにｙｔｔ−照
射し、セルからの透過光で元カードに情報を記録する。
元カードの記録媒体は、光照射の強度に応じて変化の割
合が変わる。故に測定セルからの透過光強度、すなわち
試料成分の濃度値により記録媒体の変化の度合が変わる
ことになる。
合が変わる。故に測定セルからの透過光強度、すなわち
試料成分の濃度値により記録媒体の変化の度合が変わる
ことになる。
従りて、元カードの情報を読出すことにより試料成分の
濃度値に換算できる。
濃度値に換算できる。
具体的には元カードからの情報の読出しは、記録媒体に
元を照射し記録部の反射率や透過率変化を読んで電気信
号に変換することにより行われるが、本発明では市販の
読出し装置が利用できる。
元を照射し記録部の反射率や透過率変化を読んで電気信
号に変換することにより行われるが、本発明では市販の
読出し装置が利用できる。
（ホ）作用
元カードは、分析情報をもつ九九を検出し記録するので
、測光部と検出部をこの元カードによって時間的にも機
能的にも分断することができる。
、測光部と検出部をこの元カードによって時間的にも機
能的にも分断することができる。
（へ）実施例
本発明の実施例を第１図に示す。ｌが光源部で重水素ラ
ンプやタングステンラングが収容されている。２．３．
４ Ｆｉ平面および球面鏡であり５がグレーティング、
６が測定上μである。
ンプやタングステンラングが収容されている。２．３．
４ Ｆｉ平面および球面鏡であり５がグレーティング、
６が測定上μである。
光源部１からの元は２．４で反射されてグレーティング
５に達し単色光となって測定セ／Ｌ／６に入射さｎる。
５に達し単色光となって測定セ／Ｌ／６に入射さｎる。
測定セ／Ｌ／６からの透過光は元カード部７に入る。
元カード部７の構成は第３図に示す。
７ａが透明な部材からなるカードホルダーで、該ホμダ
ーは可動枠７ｂで保持され上下、左右に移動する。移動
により透過光の入射点が異なり違う地点で情報の記録が
できる。
ーは可動枠７ｂで保持され上下、左右に移動する。移動
により透過光の入射点が異なり違う地点で情報の記録が
できる。
移動は、パルスモータ（図示せず）とビニオン７Ｃの連
結により行う。なお、７ｄは固定枠、７ｅはホμグー引
き出し部である。
結により行う。なお、７ｄは固定枠、７ｅはホμグー引
き出し部である。
元カード８＠：ホμダー７ａＫ挿入するときは、図示の
ようにホμダー引き出し部７ｅヲ把持して手前に引けば
良い。
ようにホμダー引き出し部７ｅヲ把持して手前に引けば
良い。
元カード部７に達し迄透過光は、透過光強度（すなわち
試料成分の濃度）に応じ°て光カード８の記録面に変化
をもたらす。このようにして元カード８は元を検出し記
録するのである。
試料成分の濃度）に応じ°て光カード８の記録面に変化
をもたらす。このようにして元カード８は元を検出し記
録するのである。
変化を受けた元カード８は、市販の元カード読出し装置
により変化の割合？読み取り濃度値に換算する。
により変化の割合？読み取り濃度値に換算する。
１回の測定終了後、カードホルダーを可動させて透過光
の入射点’ｋＷえれば１枚のカードで多数の測定値（同
一試料でも異なる試料でも良い）を得られる。
の入射点’ｋＷえれば１枚のカードで多数の測定値（同
一試料でも異なる試料でも良い）を得られる。
（ト）効果
本発明は、検出素子に元カードを用いているので、該カ
ードを永久に保存しておけば測定データを永久に保存し
たことになる。
ードを永久に保存しておけば測定データを永久に保存し
たことになる。
また、分析部と検出部を切り離しでき、分析部を生体と
する装置の小型化が可耗となる。
する装置の小型化が可耗となる。
７ｇ１図は、本発明に係る光測定装置の全体図第２図は
従来装置の構成概略図、第３図は元カード部の詳細図で
ある。
従来装置の構成概略図、第３図は元カード部の詳細図で
ある。
Claims (1)
- １、検出素子が光カードである光測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62335937A JPH01174920A (ja) | 1987-12-29 | 1987-12-29 | 光測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62335937A JPH01174920A (ja) | 1987-12-29 | 1987-12-29 | 光測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01174920A true JPH01174920A (ja) | 1989-07-11 |
Family
ID=18294013
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62335937A Pending JPH01174920A (ja) | 1987-12-29 | 1987-12-29 | 光測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01174920A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6264748B1 (en) | 1997-08-15 | 2001-07-24 | Tokyo Electron Limited | Substrate processing apparatus |
| US6951186B2 (en) * | 2000-02-08 | 2005-10-04 | Canon Kabushiki Kaisha | Non-invasive environment history indicator for reusable device |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54101386A (en) * | 1978-01-26 | 1979-08-09 | Naado Kenkiyuushiyo Kk | Method of detecting rays that are near to infrared rays |
| JPS5810634A (ja) * | 1981-07-11 | 1983-01-21 | ハンス・ギユンタ−・ネラ− | 比濁分析測定のための閃光光度計 |
| JPS612904U (ja) * | 1984-06-11 | 1986-01-09 | 国東農機株式会社 | 藺草染土用集塵機 |
| JPS61213653A (ja) * | 1985-03-19 | 1986-09-22 | Mitsui Mining & Smelting Co Ltd | 透過画像同時観察光散乱画像情報解析装置 |
-
1987
- 1987-12-29 JP JP62335937A patent/JPH01174920A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54101386A (en) * | 1978-01-26 | 1979-08-09 | Naado Kenkiyuushiyo Kk | Method of detecting rays that are near to infrared rays |
| JPS5810634A (ja) * | 1981-07-11 | 1983-01-21 | ハンス・ギユンタ−・ネラ− | 比濁分析測定のための閃光光度計 |
| JPS612904U (ja) * | 1984-06-11 | 1986-01-09 | 国東農機株式会社 | 藺草染土用集塵機 |
| JPS61213653A (ja) * | 1985-03-19 | 1986-09-22 | Mitsui Mining & Smelting Co Ltd | 透過画像同時観察光散乱画像情報解析装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6264748B1 (en) | 1997-08-15 | 2001-07-24 | Tokyo Electron Limited | Substrate processing apparatus |
| US6951186B2 (en) * | 2000-02-08 | 2005-10-04 | Canon Kabushiki Kaisha | Non-invasive environment history indicator for reusable device |
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