JPH01266787A - 混成集積回路の製造方法 - Google Patents

混成集積回路の製造方法

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JPH01266787A
JPH01266787A JP9525388A JP9525388A JPH01266787A JP H01266787 A JPH01266787 A JP H01266787A JP 9525388 A JP9525388 A JP 9525388A JP 9525388 A JP9525388 A JP 9525388A JP H01266787 A JPH01266787 A JP H01266787A
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Yuusuke Igarashi
優助 五十嵐
Jun Sakano
純 坂野
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 本発明は同一基板上に大電流及び小電流用の導体が形成
された混成集積回路の導体構造及びその導体製造方法に
関する。
(ロ)従来の技術 通常混成集積回路は基板上に所定の導体が形成され、そ
の導体上に複数の半導体素子が固着されてなっている。
また金属基板からなる混成集積回路において、同一基板
上に銅箔を用いて電流容量の大きい導体パターンと電流
容量の小きい導体パターンとを形成する場合は通常第5
図に示す如く、導体(11)の幅の太で電流容量の大小
が区別されている(このときの銅箔の膜厚は一定である
)。
(ハ)発明が解決しようとする課題 同一基板上に電流容量の大きい導体と電流容量の小さい
導体ブロックが必要の場合、電流容量大の導体を形成す
る時は、第5図に示す如く、銅箔幅を広くする方法しか
なく、基板の実装面積が小さくなると共に混成集積回路
の小型化という点で問題がある。
また、電流容量の大きい導体を銅箔厚さを犬にしてパタ
ーン面積を小さくしようとすると銅箔厚さが一定である
ので、電流容量の小きい導体ブロックでファインパター
ンを形成することが困難となり、やはり基板の実装面積
が小さくなるという点で問題がある。
(ニ)課題を解決するための手段 本発明は上述した問題点に鑑みて為されたものであり、
混成集積回路基板と、前記基板上に接着された第1の金
属箔層と、前記第1の金属箔層上の所望領域に固着され
た第2の金属箔層とを有し、前記第1の金属箔層より形
成された導体を小電流用、第2の金属箔層より形成され
た導体を大電流用に用いて解決する。
(ホ)作用 この様に本発明に依れば、大電流、小電流用に導体の膜
厚を夫々異ならせ、即ち、大電流用の膜厚を厚く、小1
流用の膜厚を薄く形成することにより、大小電流用の導
体幅の差がなくなると共に大小電流用の導体幅の差を著
しく小さくし高密度導体パターンを形成することができ
、従来と同様に大電流用の導体に大電流を流すことがで
きる。
(へ)実施例 以下に図面に示した実施例に基づいて本発明の詳細な説
明する。
第1図りは本発明の混成集積回路の導体構造を示す要部
拡大斜視図であり、(1)は基板、(6)(5)は大小
電流用の導体、(2)は基板(1)と第1の金属箔層り
3)とを接着する絶縁樹脂層である。
次に本発明の混成集積回路の導体の製造方法を説明する
先ず第1図Aに示す如く、混成集積回路基板り1)を準
備する。混成集積回路基板(1)としては金属、セラミ
ックス、ガラエボ等の基板があるが銅箔の発熱を容易に
放熱することができる金属のアルミニウム基板を用いる
ものとする。そのアルミニウム基板(1)の表面は周知
技術である陽極酸化によって絶縁処理をする。その混成
集積回路基板り1)の−主面に所望厚の第1の金属箔層
(3)を貼着する。第1の金属箔層(3)は絶縁樹脂層
(2)との接着性を向上させるために銅箔を用いエポキ
シ樹脂等の絶縁樹脂層(2)を介して基板(1)に貼着
される。このとき第1の金属箔層(3)の膜厚は小電流
用の導体の膜厚となる様に設定しておく。
次に第1図Bに示す如く、第1の金属箔層(3)上の所
定領域に第2の金属箔層を形成する。第2の金属箔層(
4)は大電流用の導体が形成きれる領域である。即ち、
大電流用導体が形成される以外の領域にメッキ用のレジ
ストを塗布しく斜線部分)、第1の金属箔層(3)の露
出部分に銅あるいはニッケル等のメッキを行い大電流用
導体の膜厚(1)となるまで第1の金属箔層(3)上に
膜厚分だけ積層させる。ここでメッキは電解あるいは無
電解メッキのどちらでもよい。第1の金属箔層(3)上
の所定領域に第2の金属箔層(4)を形成した後、第1
の金属箔層(3)上に残されたメッキ用のレジストを除
去する。
次に第1図Cに示す如く、第1及び第2の金属箔層(3
)(4)上にエツチング用の感光性レジストをスプレ一
方式、デイツプ及びロールコータ方式等を用いて塗布す
る。ホトレジストを塗布した後、小電流用導体が形成さ
れる第1の金属箔層(3)上に小電流用導体パターン(
5°)及び大電流用導体が形成される第2の金属箔層(
4)上に大電流用導体パターン(6′)となる様にホト
レジストを露光・現像しく斜線部分)、露出した第1及
び第2の金属箔層(3)(4)をエツチング除去して第
1図りに示す如く、小電流用の導体(5)と大電流用の
導体(6)を形成する。
他の実施例として第2図Aに示す如く、第1の金属箔層
(3)をあらかじめ小電流用導体(5)と大電流用のブ
ロック(7)とにエツチング形成した後、大電流ブロッ
ク(7)以外の領域にレジストを塗布した後(斜線部分
)、第2図Bに示す如く、大電流用ブロック(7)上に
上述したメッキによって所定の膜厚分だけメッキした後
、ブロック(7)上に大電流用の導体パターンクロ′)
を形成して(点線斜線部分)、ブロック(7)をエツチ
ングすれば第1図りに示す様な大小電流用の導体(5)
(6)を形成することができる。
上述した製造方法は夫々の導体(6)(7)の膜厚差が
あまりない場合において有効であるが、大小1流用導々
の導体(6)(7)の膜厚差が著しく異なる場合にはあ
まり適応しない。
以下に膜厚差が著しく異なる場合の製造方法を説明する
。基板上に銅箔を貼着するまでは上述と同様であり説明
は省略する。
第3図Aに示す如く、基板(1)上には絶縁樹脂層(2
)を介して所望の膜厚の第1の金属箔層(3)を貼着す
る。この第1の金属箔層(3)は上述の如く、銅箔であ
り、膜厚は小電流用導体の膜厚に設定しておく、感光性
レジストを第1の金属箔層(3)全面に塗布し、大電流
用導体パタニン(6′)形状に露光・現像して大電流用
導体領域となる以外の領域にレジストを残す(斜線部分
)。
次に第3図Bに示す如く、大電流用導体領域に銅あるい
はニッケルの電解(非電解)メッキを施し、大電流用の
導体膜厚になるまで積層し、導体パターン形状の第2の
金属箔層(4)を形成する。
第2の金属箔M(4)形成後、レジストを剥離する。次
に第3図Cに示す如く、再度第1及び第2の金属箔層(
3)(4)上にエツチング用のホトレジストを塗布し、
第1の金属箔層(3)上に小電流用導体のパターン(5
′)及び第2の金属箔層(4)のパターン形状に露光・
現像し、小電流導体と大電流導体となる領域上のみにレ
ジストを残したのも(斜線部分)、第1の金属箔層(3
)をエツチング除去すれば第3図りに示す如く、電流容
量の差が著しく異なる場合においても大小電流用の導体
(6)(5)を形成することができる。
他の実施例として第4図A及び第4図Bに示す如く、基
板(1)上に第1の金属箔層(3)を貼着し、大小1流
用導体パターン(6’ >(5’ )を形成して第1の
金属箔層(3)で夫々の導体(5)(6)をあらかじめ
形成しておき、第4図Cに示す如く、大電流用導体(6
)以外の領域にレジストを塗布して(斜線部分)、メッ
キすれば導体(6)上に金属が積層すれ、第3図りに示
す如く、膜厚差の異なる大小電流用の導体(6)(5)
を形成することができる。
断る本発明に依れば、同一基板上に選択して電流容量の
異なる導体を形成することができるので、基板の大きさ
を変更せずにより大きさの異なった電流容量の導体を形
成することができる。
(ト)発明の効果 以上に詳述した如く、本発明に依れば、同一基板上に膜
厚の異なる導体即ち、電流容量の異なる導体を形成する
ことができるため、従来と同一基板で電流容量の大きい
導体形成することができ、混成集積回路の小型化を容易
にすることができる。
また本発明では従来の製造工程をそのまま用いて製造す
ることができる利点を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図A乃至第1図りは本発明の混成集積回路の導体製
造方法を示す斜視図、第2図A及び第2図B、第3図A
乃至第3図D、第4図A乃至第4図Cは他の製造方法を
示す斜視図、第5図は従来例を示す斜視図である。 (1)・・・基板、 り2)・・・絶縁樹脂層、 (3
)・・・第1の金属箔層、 (4)・・・第2の金属箔
層、 (5)(6ン・・・導体。

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)混成集積回路基板と、前記基板上に接着された第
    1の金属箔層と、前記第1の金属箔層上の所望領域に固
    着された第2の金属箔層とを有し、前記第1の金属箔層
    より形成された導体を小電流用、第2の金属箔層より形
    成された導体を大電流用に用いたことを特徴とする混成
    集積回路の導体構造。
  2. (2)前記第2の金属箔層はメッキによって積層された
    ことを特徴とする請求項1記載の混成集積回路の導体構
    造。
  3. (3)前記大電流用及び小電流用夫々の導体を前記基板
    の所望領域で区画させることを特徴とする請求項1記載
    の混成集積回路の導体構造。
  4. (4)混成集積回路基板上に所望膜厚の第1の金属箔層
    を接着し、前記第1の金属箔層上の所定領域に所望の膜
    厚を有した第2の金属箔層を積層させた後、前記第1及
    び第2の金属箔層を蝕刻して膜厚の異なる導体を形成す
    ることを特徴とする混成集積回路の導体製造方法。
  5. (5)混成集積回路基板上に所望膜厚の第1の金属箔層
    を接着し、前記第1の金属箔層上に導体パターン形状の
    第2の金属箔層を積層し、前記第1の金属箔層のみを蝕
    刻して膜厚の異なる導体を形成することを特徴とする混
    成集積回路の導体製造方法。
  6. (6)前記導体パターン形状を有した第2の金属箔層の
    膜厚を異ならせて形成したことを特徴とする請求項5記
    載の混成集積回路の導体製造方法。
  7. (7)前記第1の金属箔層に銅箔を用い、前記基板上に
    接着性を有する絶縁樹脂層を介して貼着することを特徴
    とする請求項1,4及び5記載の混成集積回路の導体構
    造及びその導体製造方法。
  8. (8)前記第2の金属箔層は銅メッキあるいはニッケル
    メッキによって行うことを特徴とする請求項4及び5記
    載の混成集積回路の導体製造方法。
  9. (9)前記基板は絶縁処理された金属基板を用いること
    を特徴とする請求項1,4及び5記載の混成集積回路の
    導体構造及びその導体製造方法。
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013229603A (ja) * 2012-04-25 2013-11-07 Semikron Elektronik Gmbh & Co Kg 基板と、少なくとも1つのパワー半導体コンポーネント用の基板を製造するための方法

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