JPH02200886A - 厚さのプロフィール制御装置 - Google Patents
厚さのプロフィール制御装置Info
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- JPH02200886A JPH02200886A JP2161989A JP2161989A JPH02200886A JP H02200886 A JPH02200886 A JP H02200886A JP 2161989 A JP2161989 A JP 2161989A JP 2161989 A JP2161989 A JP 2161989A JP H02200886 A JPH02200886 A JP H02200886A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
この発明は、厚さのプロフィールを制御する装置に関し
、特に紙の厚さのプロフィールを制御するのに用いて好
適な厚さのプロフィール制御装置に間するものである。
、特に紙の厚さのプロフィールを制御するのに用いて好
適な厚さのプロフィール制御装置に間するものである。
〈従来技術〉
抄紙機においては、製品である紙の絶乾坪量の幅方向の
プロフィールをＢ／Ｍ計などを用いて測定し、この測定
値と目ａ値との偏差から操作量を演算して、パルプの吐
出口であるスライスリップの開度のプロフィールを制御
している。すなわち、絶乾坪量のベクトルをＶ、スライ
スリップの開度の操作量ベクトルをｕｌ、干渉行列をＡ
とすると、ｙ＝Ａ−ｕｌ ・・・・・・―・・（１）
が成立する。ここにおいて、スライスリップのある部分
の開度を変化させると、その周辺の絶乾坪量の値まで変
化する干渉性がある。従って、干渉行列Ａは通常下記に
示すようなバンド対汚行列にこの関係から、スライスリ
ップの開度の操作量の変動分をΔＩｌｌ、絶乾坪量の目
標値と測定値の偏差をΔｙとすると、 Δｕ＋＝Ｇｃ （ｓ） ・Ｍ・Δｙ ＝−−−−（２
）Ｇ ｃ （ｓ ） ： Ｐ Ｉコントローラの伝達
関数Ｍ二非干渉化の為の分配係数行列 が求められ、この式から操作量を演算する０Ｍは通常干
渉行列Ａの逆行列を用いる。
プロフィールをＢ／Ｍ計などを用いて測定し、この測定
値と目ａ値との偏差から操作量を演算して、パルプの吐
出口であるスライスリップの開度のプロフィールを制御
している。すなわち、絶乾坪量のベクトルをＶ、スライ
スリップの開度の操作量ベクトルをｕｌ、干渉行列をＡ
とすると、ｙ＝Ａ−ｕｌ ・・・・・・―・・（１）
が成立する。ここにおいて、スライスリップのある部分
の開度を変化させると、その周辺の絶乾坪量の値まで変
化する干渉性がある。従って、干渉行列Ａは通常下記に
示すようなバンド対汚行列にこの関係から、スライスリ
ップの開度の操作量の変動分をΔＩｌｌ、絶乾坪量の目
標値と測定値の偏差をΔｙとすると、 Δｕ＋＝Ｇｃ （ｓ） ・Ｍ・Δｙ ＝−−−−（２
）Ｇ ｃ （ｓ ） ： Ｐ Ｉコントローラの伝達
関数Ｍ二非干渉化の為の分配係数行列 が求められ、この式から操作量を演算する０Ｍは通常干
渉行列Ａの逆行列を用いる。
第５図に、この様な絶乾坪量のプロフィール制御に用い
る制御装置の構成を示す、第５図において、偏差演算ブ
ロック２はプロセス１の出力、すなわち絶乾坪量の測定
値の入力を受は各操作点に対応する測定点付近の坪量を
平均し、全測定点の坪量の平均値との差を演算して、こ
の値を偏差としてＰ■コントローラ３に出力する。Ｐ・
■コントローラ３はこの偏差から操作量を演算し、非干
渉化ブロック４に出力する。非干渉化ブロック４は前記
（２）式の分配係数行列Ｍの演算を行い、最終的な操作
量をプロセスｌに出力する。
る制御装置の構成を示す、第５図において、偏差演算ブ
ロック２はプロセス１の出力、すなわち絶乾坪量の測定
値の入力を受は各操作点に対応する測定点付近の坪量を
平均し、全測定点の坪量の平均値との差を演算して、こ
の値を偏差としてＰ■コントローラ３に出力する。Ｐ・
■コントローラ３はこの偏差から操作量を演算し、非干
渉化ブロック４に出力する。非干渉化ブロック４は前記
（２）式の分配係数行列Ｍの演算を行い、最終的な操作
量をプロセスｌに出力する。
〈発明が解決すべき課題〉
しかしながら、この様な厚さのプロフィール制御方法で
は、前述した干渉行列Ａで表した干渉性があるが、この
干渉性の幅が変動すると、制御系が不安定になるという
課題があった。
は、前述した干渉行列Ａで表した干渉性があるが、この
干渉性の幅が変動すると、制御系が不安定になるという
課題があった。
〈発明の目的〉
この発明の目的は、干渉幅に適合させた複数のコントロ
ーラ及びプロセスモデルを用いることにより、干渉幅が
変化しても安定な制御を実現出来る厚さのプロフィール
制御装置を提供することにある。
ーラ及びプロセスモデルを用いることにより、干渉幅が
変化しても安定な制御を実現出来る厚さのプロフィール
制御装置を提供することにある。
く課題を解決する為の手段〉
前記課題を解決する為に本発明では、干渉幅の広狭に適
合しなａ数のコントローラにより各スライスリップの操
作量を演算する。また、干渉幅の広狭に対応した複数の
プロセスモデルを用い、プロセスに入力する操作量を入
力して、プロセス量を演算する。そして、これらのモデ
ルのプロセス量と実際のプロセス量との偏差に基づいて
、前記複数のコントローラの出力を荷重平均して、プロ
セスに出力するようにしたものである。
合しなａ数のコントローラにより各スライスリップの操
作量を演算する。また、干渉幅の広狭に対応した複数の
プロセスモデルを用い、プロセスに入力する操作量を入
力して、プロセス量を演算する。そして、これらのモデ
ルのプロセス量と実際のプロセス量との偏差に基づいて
、前記複数のコントローラの出力を荷重平均して、プロ
セスに出力するようにしたものである。
〈実施例〉
第２図に本発明に係る厚さのプロフィール制御装置の一
実施例の構成を示す、なお、第５図と同じ要素には同一
符号を付し、説明を省略する。第２図において、１０は
相互干渉変動検出・適応ブロックであり、偏差演算ブロ
ック２の出力が入力され、プロセス１に各スライスリッ
プの操作量を出力する。相互干渉変動検出・適応ブロッ
クエ０は、相互干夛の変動を検出し、その時の相互干渉
の度合いにより、最適の操作量を演算して出力する。
実施例の構成を示す、なお、第５図と同じ要素には同一
符号を付し、説明を省略する。第２図において、１０は
相互干渉変動検出・適応ブロックであり、偏差演算ブロ
ック２の出力が入力され、プロセス１に各スライスリッ
プの操作量を出力する。相互干渉変動検出・適応ブロッ
クエ０は、相互干夛の変動を検出し、その時の相互干渉
の度合いにより、最適の操作量を演算して出力する。
第１図に相互干渉変動検出・適応ブロック１゜の構成を
示す、なお、第２図と同じ要素には同一符号を付し、説
明を省略する。第１図において、２０〜２２はそれぞれ
狭干渉幅コントロ・−ラ、中干渉幅コントローラ、広干
渉幅コントローラであり、偏差演算ブロック２の出力ｅ
が入力される。
示す、なお、第２図と同じ要素には同一符号を付し、説
明を省略する。第１図において、２０〜２２はそれぞれ
狭干渉幅コントロ・−ラ、中干渉幅コントローラ、広干
渉幅コントローラであり、偏差演算ブロック２の出力ｅ
が入力される。
狭干渉幅コントローラ２０は干渉幅が狭いときに最適な
操作量を演算するように開塾されているコントローラで
ある。同様に、中干渉幅コンローラ２１、広干渉幅コン
トローラ２２はそれぞれ干渉幅が中程度及び広いときに
最適な操作量を演算するように調整されているコントロ
ーラである。２３は荷重平均部であり、狭干渉幅コント
ローラ２０の出力Ｕ 、中干渉幅コントローラ２１
のａｒｒｏｗ 出力Ｕ。ｄｉｕｉ、広干渉幅コントローラｕｗｉｄｅの
出力が入力される。荷重平均部２３の出力Ｕはプロセス
１に入力される。２４〜２６はそれぞれ狭干渉幅プロセ
スモデル、中干渉幅プロセスモデル、広干渉幅プロセス
モデルであり、荷重平均部２３の出力Ｕが入力される。
操作量を演算するように開塾されているコントローラで
ある。同様に、中干渉幅コンローラ２１、広干渉幅コン
トローラ２２はそれぞれ干渉幅が中程度及び広いときに
最適な操作量を演算するように調整されているコントロ
ーラである。２３は荷重平均部であり、狭干渉幅コント
ローラ２０の出力Ｕ 、中干渉幅コントローラ２１
のａｒｒｏｗ 出力Ｕ。ｄｉｕｉ、広干渉幅コントローラｕｗｉｄｅの
出力が入力される。荷重平均部２３の出力Ｕはプロセス
１に入力される。２４〜２６はそれぞれ狭干渉幅プロセ
スモデル、中干渉幅プロセスモデル、広干渉幅プロセス
モデルであり、荷重平均部２３の出力Ｕが入力される。
狭干渉幅プロセスモデル２４は干渉幅が狭いときのプロ
セス１のモデルであり、プロセス１と同様のプロセス量
ｙ をａｒｒｏｗ 出力する。同様に、中干渉幅プロセスモデル２５、広干
渉幅プロセスモデル２６はそれぞれ干渉幅が中程度、広
いときのプロセス１のモデルであり、プロセス量ｙｎｅ
ｅｄ ｉｕｌ、ｙｗｉｄｅを出力する。２７〜２９は偏
差演算部であり、それぞれ挟子抄幅プロセスモデル２４
の出力とプロセス１の出力ｙの誤差ｅ 、中干渉幅
プロセスモデル２５の出力ａｒｒｏｗ とプロセス１の出力ｙとの誤差ｅ 、広干渉１１ａ
ｄ １ｕＩ１ 幅プロセスモデル２６とプロセス１の出力ｙとの誤差”
ｗｉｄｅを演算して、荷重平均部２３に出力する。荷
重平均部２３は人力されたｅ。ａｒｒＯＷ ｌｅｄ
ｉｕｉ−ｅｗｉｄｅ’こ基づ魁ゝてｕｎａｒｒｏｗ−ｍ
ｅｄｉｕｎ−’ｗｉｄ。を荷重平均して、プロセス１に
操作量りとして出力する。
セス１のモデルであり、プロセス１と同様のプロセス量
ｙ をａｒｒｏｗ 出力する。同様に、中干渉幅プロセスモデル２５、広干
渉幅プロセスモデル２６はそれぞれ干渉幅が中程度、広
いときのプロセス１のモデルであり、プロセス量ｙｎｅ
ｅｄ ｉｕｌ、ｙｗｉｄｅを出力する。２７〜２９は偏
差演算部であり、それぞれ挟子抄幅プロセスモデル２４
の出力とプロセス１の出力ｙの誤差ｅ 、中干渉幅
プロセスモデル２５の出力ａｒｒｏｗ とプロセス１の出力ｙとの誤差ｅ 、広干渉１１ａ
ｄ １ｕＩ１ 幅プロセスモデル２６とプロセス１の出力ｙとの誤差”
ｗｉｄｅを演算して、荷重平均部２３に出力する。荷
重平均部２３は人力されたｅ。ａｒｒＯＷ ｌｅｄ
ｉｕｉ−ｅｗｉｄｅ’こ基づ魁ゝてｕｎａｒｒｏｗ−ｍ
ｅｄｉｕｎ−’ｗｉｄ。を荷重平均して、プロセス１に
操作量りとして出力する。
次に、この実施例の動作の概要を第３図に基づいて説明
する。測定点Ｉにおけるプロセス量すなわち坪量をｙ、
とじ、その測定点に対応するスライスボルトの操作点を
Ｊ、１作量をｕｊとする。
する。測定点Ｉにおけるプロセス量すなわち坪量をｙ、
とじ、その測定点に対応するスライスボルトの操作点を
Ｊ、１作量をｕｊとする。
まず、プロセス量ｙ、から偏差演算ブロック２で■
偏差ｅ、を演算する０次に、この偏差ｅｉを挟子抄幅コ
ントローラ２０、中干渉幅コントローラ２１、広干渉幅
コントローラ２２に入力口、ｕｎａｒｒｏｗ、ｕｍｅｄ
ｉｕｍ、ｕｗｉｄａ”出する。また、操作量Ｕ、を挟子
抄幅プロセスモデル２４、中干渉幅プロセスモデル２５
、広干渉幅プロセスモデル２６に入力し、ｙｆ’１ａｒ
ｒＯＷ” ｌＩｆ、ｄｉＵＩＩ” ｗｉｄｅを算出し・
これらの出力とプロセス１の出力ｙ・との差ｅ。。
ントローラ２０、中干渉幅コントローラ２１、広干渉幅
コントローラ２２に入力口、ｕｎａｒｒｏｗ、ｕｍｅｄ
ｉｕｍ、ｕｗｉｄａ”出する。また、操作量Ｕ、を挟子
抄幅プロセスモデル２４、中干渉幅プロセスモデル２５
、広干渉幅プロセスモデル２６に入力し、ｙｆ’１ａｒ
ｒＯＷ” ｌＩｆ、ｄｉＵＩＩ” ｗｉｄｅを算出し・
これらの出力とプロセス１の出力ｙ・との差ｅ。。
ｒｒｏｒ ｅｍｅｄｉｕｍ、ｅｗｉｄｅを算出する・次
いで・これらの出力を加重平均部２３に入力して加重平
均を求め、ｆｋ終的な操作量ｕｊを求めるようにする。
いで・これらの出力を加重平均部２３に入力して加重平
均を求め、ｆｋ終的な操作量ｕｊを求めるようにする。
次に、具体的な処理を説明する。偏差演算部２は測定点
の周辺のプロセス量を平均した平均値ａＶｅを下式（１
）により演算し、この平均値ａｖｅとプロセス量との偏
差ｅｌを下式（２）によって演算して出力する。
の周辺のプロセス量を平均した平均値ａＶｅを下式（１
）により演算し、この平均値ａｖｅとプロセス量との偏
差ｅｌを下式（２）によって演算して出力する。
ａｗｅ ＝Σｙ＝ ／ｎ ・・・・・・・・・・・・
（１）シ・ｌｌ ｅ−”ａＶｅ −３Ｆ・ ・・・・・・・・・・・・（
２）Ｉ なお、Ｉは測定点を表わす、また、偏差演算部２７〜２
９は下式（３）〜（５）に基づいて各プロセスモデル２
４〜２６の出力と実際のプロセス１の出力ｙ、との誤差
ｅｈａ−ｒｒｏｗ ・ｅｍｅＪｉｚ＠ ｋｚｉＪ
６、 ｅ を演算する。
（１）シ・ｌｌ ｅ−”ａＶｅ −３Ｆ・ ・・・・・・・・・・・・（
２）Ｉ なお、Ｉは測定点を表わす、また、偏差演算部２７〜２
９は下式（３）〜（５）に基づいて各プロセスモデル２
４〜２６の出力と実際のプロセス１の出力ｙ、との誤差
ｅｈａ−ｒｒｏｗ ・ｅｍｅＪｉｚ＠ ｋｚｉＪ
６、 ｅ を演算する。
ｅｏａｒｒＯｗ＝（Σ（ｙ−−ｙ ） ） ／ｎ
−（３）＋ ｎａｒｒｏｗ ｅＩｌｅｄｉｕｌ” ’Σ（ｙ−−ｙ ） ）
／ｎ−＝ （４）＋ ｎｅｄｉｕｉ ｅｗｉｄｅ”’Σ（ｙ−−ｙ ＞Ｉ／ｎ・−・−−
−（５）＋ ｗｉｄｅ 荷重平均部２３は、次に示すファジィルールによって最
終的な操作量Ｕを決定してプロセス１に出力する。
−（３）＋ ｎａｒｒｏｗ ｅＩｌｅｄｉｕｌ” ’Σ（ｙ−−ｙ ） ）
／ｎ−＝ （４）＋ ｎｅｄｉｕｉ ｅｗｉｄｅ”’Σ（ｙ−−ｙ ＞Ｉ／ｎ・−・−−
−（５）＋ ｗｉｄｅ 荷重平均部２３は、次に示すファジィルールによって最
終的な操作量Ｕを決定してプロセス１に出力する。
ｉｆ ｅ ｉｓ ７０ ｔｈｅｎ ｕ
−（６）ｎａｒｒｏｗ
ｎａｒｒｏｗｆ ｅ、、ｄ、、、
ｉｓ ｌｏ ｔｈｅｎ ｕ、、ｄ、ＩＪｌｌ・
−（７）ｉｆ Ｃｗｉｄｅ ｉｓ １０ ｔｈ
ｅｎ ｕ、、ｄ８−−−−−−−−−＜８）このファ
ジィルールは第３図のメンバーシップ関数ＺＯにより記
述される。前記（６）〜（８）のファジィルールは、第
４図に示したメンバーシップ関数により・ｅｎａｒｒｏ
ｒ １ｅｄｉｕ＋ｒ ｅｗｉｄｅに対する真理値ａｎ
ａｒｒｏｗ、ａｍｅｄｉｕｍ、ａｗｉｄｅを求め、次式
（９）により操作量Ｕを求める事を意味する。
−（６）ｎａｒｒｏｗ
ｎａｒｒｏｗｆ ｅ、、ｄ、、、
ｉｓ ｌｏ ｔｈｅｎ ｕ、、ｄ、ＩＪｌｌ・
−（７）ｉｆ Ｃｗｉｄｅ ｉｓ １０ ｔｈ
ｅｎ ｕ、、ｄ８−−−−−−−−−＜８）このファ
ジィルールは第３図のメンバーシップ関数ＺＯにより記
述される。前記（６）〜（８）のファジィルールは、第
４図に示したメンバーシップ関数により・ｅｎａｒｒｏ
ｒ １ｅｄｉｕ＋ｒ ｅｗｉｄｅに対する真理値ａｎ
ａｒｒｏｗ、ａｍｅｄｉｕｍ、ａｗｉｄｅを求め、次式
（９）により操作量Ｕを求める事を意味する。
’ ＝ （ｕｎａｒｒｏｗ ｎａｒｒｏｗ士ｕｍｅ
ｄｉｕｍ ｌｅｄｉｕｍ＋ｕｗｉｄｅ’ ａｗｉｄ
ｅ） ／（ａｎａｒｒｏｗ ＩＩｅｄｉｕｍ十ａｗｉｄｅ
”・・（９）十ａ すなわち、実際のプロセスに近い干渉幅のものはその誤
差が小さくなるので、そのコント・ローラのに対する荷
重を大きくして、最終的な操作量Ｕを求めるようにする
。
ｄｉｕｍ ｌｅｄｉｕｍ＋ｕｗｉｄｅ’ ａｗｉｄ
ｅ） ／（ａｎａｒｒｏｗ ＩＩｅｄｉｕｍ十ａｗｉｄｅ
”・・（９）十ａ すなわち、実際のプロセスに近い干渉幅のものはその誤
差が小さくなるので、そのコント・ローラのに対する荷
重を大きくして、最終的な操作量Ｕを求めるようにする
。
なお、メンバーシップ関数は第４図に示したものに限ら
ず、適宜適当なものを用いる事が出来る。
ず、適宜適当なものを用いる事が出来る。
また、荷重平均の方法は前記（９）式に限られることは
ない、要は、プロセスモデルと実際のプロセス量との誤
差に基づいて、複数のコントローラの出力を平均化する
操作を行うようにするものであればよい。
ない、要は、プロセスモデルと実際のプロセス量との誤
差に基づいて、複数のコントローラの出力を平均化する
操作を行うようにするものであればよい。
また、この実施例では、コントローラ、プロセスモデル
を干渉幅によって３つに分けたが、必ずしも３つ出なく
てもよい。
を干渉幅によって３つに分けたが、必ずしも３つ出なく
てもよい。
さらに、この実施例では抄紙行程に於ける坪量のプロフ
ィールの制御について説明したが、鉄板、プラスティッ
クフィルムの厚さ制御に応用する事も出来る。
ィールの制御について説明したが、鉄板、プラスティッ
クフィルムの厚さ制御に応用する事も出来る。
〈発明の効果〉
以上、実施例に基づいて具体的に説明したように、この
発明では干渉幅の広狭に対応した複数のプロセスモデル
の出力と実際のプロセス景の誤差に基づいて、干渉幅の
広狭に適合した複数のコントローラの出力を？＃重平均
するようにした。その為、干渉幅が時間と共に変化する
ようなプロセスでも、長時間に渡って安定な制御を行う
ことが出来るという効果がある。
発明では干渉幅の広狭に対応した複数のプロセスモデル
の出力と実際のプロセス景の誤差に基づいて、干渉幅の
広狭に適合した複数のコントローラの出力を？＃重平均
するようにした。その為、干渉幅が時間と共に変化する
ようなプロセスでも、長時間に渡って安定な制御を行う
ことが出来るという効果がある。
第１図は本発明に係る厚さのプロフィール制御装置の相
互干渉変動検出・適応ブロックの構成図、第２図は全体
の構成図、第３図は動作を説明するための図、第４図は
メンバーシップ関数を表す図、第５図は従来の厚さのプ
ロフィール制御装置の構成図である。 １・・・プロセス、２偏差演算ブロツク、１０・・・相
互干渉変動検出・適応ブロック、２０・・・挟子抄幅コ
ントローラ、２１・・・中子抄幅コントローラ、２２・
・・店子抄幅コントローラ、２３・・・荷重平均部、２
４・・・挟子抄幅プロセスモデル、２５・・・中子抄幅
プロセスモデル、２６・・・店子抄幅プロセスモデル。
互干渉変動検出・適応ブロックの構成図、第２図は全体
の構成図、第３図は動作を説明するための図、第４図は
メンバーシップ関数を表す図、第５図は従来の厚さのプ
ロフィール制御装置の構成図である。 １・・・プロセス、２偏差演算ブロツク、１０・・・相
互干渉変動検出・適応ブロック、２０・・・挟子抄幅コ
ントローラ、２１・・・中子抄幅コントローラ、２２・
・・店子抄幅コントローラ、２３・・・荷重平均部、２
４・・・挟子抄幅プロセスモデル、２５・・・中子抄幅
プロセスモデル、２６・・・店子抄幅プロセスモデル。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 シートの幅方向の厚さのプロフィールを測定し、この測
定したプロフィールに基づいてスライスリップの開度の
プロフィールを制御する厚さのプロフィール制御装置に
おいて、 厚さのプロフィールに関連する値に基づいて操作量を出
力する、干渉幅の広狭に適合した複数のコントローラと
、 プロセスに出力する操作量が入力され、プロセス量を出
力する、干渉幅の広狭に対応した複数のプロセスモデル
と、 この複数のプロセスモデルの出力と実際のプロセス量の
偏差及び前記複数のコントローラの出力が入力され、こ
れらの値から実際の操作量を演算して出力する荷重平均
部とからなり、 この荷重平均部は前記複数のコントローラの出力を前記
偏差で荷重平均して出力するようにしたことを特徴とす
る厚さのプロフィール制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2161989A JPH02200886A (ja) | 1989-01-31 | 1989-01-31 | 厚さのプロフィール制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2161989A JPH02200886A (ja) | 1989-01-31 | 1989-01-31 | 厚さのプロフィール制御装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02200886A true JPH02200886A (ja) | 1990-08-09 |
Family
ID=12060069
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2161989A Pending JPH02200886A (ja) | 1989-01-31 | 1989-01-31 | 厚さのプロフィール制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02200886A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1724810B (zh) | 2004-07-22 | 2012-07-11 | 横河电机株式会社 | 宽度方向位置对应关系判定方法及利用其的制造装置 |
-
1989
- 1989-01-31 JP JP2161989A patent/JPH02200886A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1724810B (zh) | 2004-07-22 | 2012-07-11 | 横河电机株式会社 | 宽度方向位置对应关系判定方法及利用其的制造装置 |
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