JPH02262286A - Ｉｃソケット - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明はＩＣソケットに関し、特にＩＣの前段回路から
の入力信号に無関係に回路検査を可能とするＩＣソケッ
トに関する。

〈従来の技術） 従来、ＩＣソケットを用いて製作したプリント基板ある
いは、実験・試作モジュ・−ルの電気性能検査、不具合
検査、故障解析の際にはＩＣソケットが使用されている
。

製作したモジュールの電気検査を行うとき、特に、前段
回路が接続されている様な回路の中間部分の検査を行う
ときなど、前段からの入力信号によっては、それ以降の
回路がチエツクできない場合が多い。例えば、前段出力
を該当ＩＣのコントロール信号、ゲート信号あるいは、
ＥＮ／Ｄ　Ｉ　Ｓ信号として使用した場合などはかかる
チエツクは不可能である。その様なとき、従来は、所望
条件を設定するために入力信号の組み合わせを工夫した
り、ラッピング時にはラッピング線をはずすとか、パタ
ーンを起こしている場合は、パターンをカットして、前
段回路を分離し、該当ＩＣのピンに所望のレベルを外部
から設定して、回路の検査を行っていた。

（発明が解決しようとする課題） 上述の如く、従来、前段出力の影響を受けて、所定の検
査ができない場合には、前段のＩＣをはずしていたが、
この方法では０ＭＯ３ＩＣの場合、他の回路がオープン
になったり、検査しようとする回路のゲート類まではず
すことになる場合が多く現実的でない。また、他の方法
として、前段出力と分離するために、ラッピング配線を
はずしたり、パターンカットなどを行ったりする方法か
採用されていた。しかしながら、これらの方法は、非常
に効率が悪いばかりでなく、信顆性という点からも欠点
があった。

（課題を解決するための手段） 本発明によるＩＣソケットは、ＩＣソケットのピンとＩ
Ｃ挿入端子間に任意のピンと前記ＩＣ挿入端子間を分離
、前記ＩＣ挿入端子に供給されるレベルを設定するスイ
ッチ手段を設ける。

（実施例） 次に本発明について図面を参照して説明する。

第１図は本発明の一実施例を示す概観図で、１６ピンデ
イプＩＣソケツトの例である。

スイッチ１は、各ＩＣソケットのピンと、ＩＣ挿入端子
４の間に各々１６個３けられ、ＩＣソケットピンとＩＣ
挿入端子間の分離（挿入端子をオープンに設定）、挿入
端子のＨｉレベルへの設定、挿入端子のＬｏレベルへの
設定、ＩＣソケットピンと挿入端子間の接続等の機能を
有し、所望のモードに設定する。

スイッチ２は、挿入端子レベルをＨｉレベルに設定する
とき、供給する電源のピンＮＯを指定するものである。

これは、１６ピンＣＭＯ３ＩＣは、品種によって、電源
ピンが１番ピンあるいは１６番ピンのものがあるため、
電源用ピンをスイッチ２で切り換え、両者のＩＣにも対
応できる構造になっている。

第２図には、ＩＣソケット内のスイッチ等の構成回路図
が示されている。図中、５は第１図におけるスイッチ１
に相当する４端子スイツチであり、すべてのピンに設け
られている。また、６は、第１図におけるスイッチ２に
相当し、ＰＵＬＬＵＰ用電源を１ピンあるいは１６ピン
のいずれから取るかを切り換えるための２端子スイツチ
であり、共通端子からは、各々のＰｔＪＬＬ　　ＵＰ抵
抗７を介し、スイッチ２のＰＵＬＬ　　ＵＰモード端子
に接続される。

次に本発明によるＩＣソケットの使用例を第３図を参照
して説明する。

所望の入力設定を必要とするＩＣＩ　１を実装済みＩＣ
９ソケツトより外し、本考案によるＩＣソケット１０を
、実装用ＩＣソケット９の上に、更にその上に外したＩ
ＣＩＩを実装する。

第４図に示すような回路構成をもつ試験回路の検査をし
たいとき、図中ＩＣ１２のゲートに入力されるゲートＥ
Ｎ／Ｄ　Ｉ　Ｓ信号１３をＨｉにしない限り、試験回路
の検査ができない。このようなときに、ＩＣＩ　１のゲ
ートを外し、本発明になるＩＣソケット、更にその上に
ＩＣを実装する。ここで、ゲート１４のカウントＥＮ／
Ｄ　Ｉ　Ｓ信号１２が接続されるＩＣソケットのピンに
つながるスイッチをＨｉレベルに設定することにより、
外部信号の入力設定にかかわらず、試験回路の検査を行
うことができる。

また、上記入力信号の入力をスイッチで０ＰＥＮにし、
ＩＣクリップ等を利用し、外部から信号を入れることに
より、任意にＣＬＯＣＫをコントロールでき、幅広い試
験が行える。

更に、ＩＣＩ　２の出力１４が中間レベルになっていた
場合、ＩＣ１２の出力が故障しているか、出力回路が、
ショートしているかの２点が考えられるが、この様なと
きＩＣ１２の出力ピンを０ＰＥＮにして、出力側回路を
モニターすることにより、容易に両者の区別がつく。

以上の実施例では、１６ＰＩＮ　　ＩＣソケットの例を
示したが、↓６ビンＩＣのように電源ピンがＩＣの品種
によって異なっていてもスイッチ設定を変更することに
よりすべてに対応できることは明らかである。

（発明の効果） 以上説明したように本発明は、前段回路の入出力の影響
を受けることなく、ＩＣの入力を任意に設定でき、それ
以降の検査がスムーズに行えるだけでなく、ＩＣの出力
ピンを０ＰＥＮにすることにより、負荷側の影響を除去
でき、ＩＣ自身の不具合か、それ以降の回路（パターン
等を含む）の不具合の判断が容易に行える。すなわち、
本発明によれば、所望の検査モードの設定（パターン、
ラッピング線等の切断、ＩＣピンのＨｉレベルの設定等
）が容易に、かつ、効率的に行えるばかりでなく、モジ
ュールを傷つけることなく検査を行うことができる。ま
た、回路の条件によっては、モニタ不能な部分が存在し
たが、本ＩＣソゲットを利用することにより、これが解
消し、信顆性、品質面でも向上効果がある。

・・・各ピンのモード設定スイッチ、９・・・モジュー
ル実装済みＩＣソケット、１０・・・本発明のＩＣソケ
ット、１１・・・入出力を設定しようとするＩＣ１１２
・・・カウンタ、フリップフロップ等から構成される試
験回路をコントロールするためのゲートＩＣ２１３・・
・試験回路をコントロールするためのＥＮ／Ｄ　Ｉ　Ｓ
　（ゲート）信号、１４・・・コントロール信号でゲー
トをかけた試験回路入力信号。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるＩＣソケットの実施例を示す概観
図、第２図は本発明のＩＣソケット内のスイッチ構成図
、第３図は本発明の詳細な説明図、第４図は本実施例で
用いた試験回路の例を示す図である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. ＩＣソケットのピンとＩＣ挿入端子間に任意のピンと前
   記ＩＣ挿入端子間を分離、前記ＩＣ挿入端子に供給され
   るレベルを設定するスイッチ手段を設けて成ることを特
   徴とするＩＣソケット。