JPH02264579A - 固体撮像素子の駆動方法 - Google Patents

固体撮像素子の駆動方法

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JPH02264579A
JPH02264579A JP1086025A JP8602589A JPH02264579A JP H02264579 A JPH02264579 A JP H02264579A JP 1086025 A JP1086025 A JP 1086025A JP 8602589 A JP8602589 A JP 8602589A JP H02264579 A JPH02264579 A JP H02264579A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
period
clock signal
level
area
ccd area
Prior art date
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Pending
Application number
JP1086025A
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English (en)
Inventor
Masafumi Ueno
雅史 上野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、フレームトランスファ(以下「FT」と略
す)方式の固体撮像素子の駆動方法に関し、特に、スメ
ア(像のにじみ)を抑制する駆動方法に関するものであ
る。
[従来の技術] 第2A図はFT方式固体撮像素子の断面構造の一例を示
す模式図である。この図において、たとえばp型半導体
基板1上に薄い誘電体膜2が形成されている。誘電体膜
2上には、受光面内で垂直方向に並んだCCD (電荷
結合デバイス)を構成するための複数のゲート電極3と
水平方向に並んだCCDを構成するための複数のゲート
電極11とが形成されている。ゲート電極11は図の紙
面に直交する方向に並んでいるので、ただ1つのゲート
電極11が図示されている。
図中の矢印Aで示された範囲は撮像CCD領域を示し、
矢印Bの範囲は蓄積CCD領域であり、矢印Cの範囲は
紙面に直交する方向へ電荷を転送するための水平CCD
領域を示している。蓄積CCD領域Bと水平CCD領域
C上には、光が入らないようにするための遮光膜4が形
成されている。
すなわち、この固体撮像素子はゲート電極3側から入射
光を受けるものであり、ゲート電極3は光透過性のある
導電性物質、たとえばポリシリコンなどで形成されてい
る。
撮像CCD領域Aのゲート電極3には端子5゜6.7を
介してそれぞれクロック信号φP++  φP2+  
φP、が与えられ、蓄積CCD領域Bのゲート電極3に
は端子8. 9. 10を介してそれぞれクロック信号
φ84.φ、2.φ8.が与えられる。すなわち、この
固体撮像素子は3相駆動型であり、垂直画素数が2段の
場合を示している。
水平CCD領域Cのゲート電極11には、端子12を介
してクロック信号φHが与えられる。
第3図は従来のクロック信号φP、〜φP3+φ6.〜
φ3.を示すタイミングチャートである。
第2B図は第3図中の時刻t1における半導体基板1内
のポテンシャル分布を第2A図に対応して示している。
第3図中の矢印T、τで示された範囲は電荷蓄積期間を
表わし、矢印TFTの期間はフレームトランスファ(F
T)期間を表わしている。
電荷蓄積期間TST中は、撮像CCD領域Aにおいてク
ロック信号φP、がH(高)レベルにされ、クロック信
号φP2+  φP、がL(低)レベルにされている。
したがって、第2B図に見られるように、クロック信号
φPlが印加されているゲート11極3下の半導体基板
1中の位置W1.W2において空乏層が広がり、ポテン
シャルウェルが形成されている。入射光によって発生さ
せられた電子は、これらのポテンシャルウェルに蓄えら
れて信号電荷となる。この信号電荷ff1Qs+c+は
、光強度I、蓄積時間T、 T 、および空乏層の広さ
Wに比例し、次式(1)で表わされる。
Qs+  G−klT5vW         =(1
)ここで、kはゲート電極3の光透過率などによって決
まる比例定数である。
蓄積期間TSTが終了してFT期間TFTになれば、撮
像CCD領域Aおよび蓄積CCD領域Bに印加されるク
ロック信号は転送波形となり、撮像CCD領域Aに蓄え
られた信号電荷は遮光された蓄積CCD領域B中を高速
で転送される。このFT期間TFTにおいては第2A図
と第2B図の右方向にポテンシャルウェルが移動するの
で、たとえば第2B図の位置W2にのみ光が入射してい
ても、位置W1にあったポテンシャルウェルが位置W2
を通過するときに光照射を受ける。したがって、正しく
は信号電荷が存在しないはずのポテンシャルウェル内に
偽信号電荷Qsnが発生する。
この現象がスメアと呼ばれるものであり、再生画面上で
見れば光照射部の上下に白い筋が発生しているように見
え、画質を著しく劣化させるものである。この偽信号電
荷QSMは式(1)と同様に次式(2)で表わされる。
Qs M −k I TF t W    ・・・(2
)信号電荷Qs r aに対する偽信号電荷Qsr+の
割合はスメア比R8Mと呼ばれ、次式(3)で表わされ
る。
Rg門″Qs閂/Qs+G mk ITF t W/k I T57 W”=Tpv
/Tg7        ・・・(3)蓄積CCD領域
Bに移された信号電荷は、撮像CCD領域Aが次の蓄積
期間T、Tに入っている間に垂直画素として1段ずつ水
平CCD領域Cに移される。1段分の信号電荷を受取っ
た水平CCD領域Cは、次段の信号電荷が転送されてく
るまでに第2A図の紙面と直交する方向に延びた端に設
けられた出力部(図示せず)へそれらの電荷を転送すす
る。水平CCD領域Cに与えられるクロック信号φ8は
周知であって本発明の特徴に直接関係しないので、その
説明は省略する。
[発明が解決しようとする課題] FT方式固体撮像素子の従来の駆動方法においては、式
(3)に示されるスメア比R5Mを小さくするためにF
T期間TFTを蓄積期間TsTに比べて短くすることが
知られている。そのためには、このFT期間TFTにお
いて垂直CCD領域A、Bを高速で駆動しなければなら
ない。しかし、一般に垂直CCD領域A、  Bのゲー
ト電極容量は数千pF以上あり、クロック信号波形の鈍
りによる転送効率や電荷転送容量の低下などの問題から
、FT期間TPTにおけるタロツク信号の周波数(FT
周波数)を高めるには限度があった。
このような先行技術における課題に鑑み、この発明の目
的は、従来と同じFT周波数を用(1てもスメア比R5
Mを改善することができるFT方式固体撮像素子の駆動
方法を提供することである。
[課題を解決するための手段] 本発明による固体撮像素子の駆動方法は、所定期間の光
入射によって発生する信号電荷を蓄積するための撮像C
CD領域と、それに隣接して設けられかつ遮光されてい
る蓄積CCD領域とを含むいわゆるフレームトランスフ
ァ方式の固体撮像素子において、撮像CCD領域が信号
電荷を蓄積している期間に印加されるクロ・ツク信号レ
ベルの絶対値の最も大きいものが、撮像CCD領域から
蓄積CCD領域へ電荷を転送するいわゆるフレームトラ
ンスファ期間に印加されるクロ・ツク信号レベルの絶対
値の最も大きなものより大きく設定されることを特徴と
している。
[作用コ 本発明による固体撮像素子の駆動方法にお(島では、電
荷蓄積期間中のクロック信号レベルの絶対値の最も大き
なものがFT期間中のそれより大きいので、電荷蓄積期
間中の空乏層の広さwsTがFT期間中の空乏層の広さ
WF□より大きくなる。
すなわち、式(3)で表わされたスメア比R。
。は次式(4)のようになり、WFT/WsTで示され
る比率だけ小さくなる。
RsrI−kITFTWF 7 /k ITS 7WB
 y= TF T WF v / T s t Ws 
T  ・・・(4)[実施例] 第1図は、本発明の一実施例による固体撮像素子の駆動
方法に用いられるクロック信号を示すタイミングチャー
トである。第1図は第3図と類似しているが、電荷蓄積
期間T、T中に端子5に印加されるクロック信号φP、
のレベルが従来のHレベルより大きなHHレベルにされ
ている。
半導体基板1中に広がる空乏層の幅は、階段接合近似の
もとでは印加電圧の1/2乗に比例する。
したがって、たとえばHレベルが5vでHHレベルが1
5Vの場合、式(4)に従ってスメア比RSMを計算す
れば、次式(5)のようになる。
Rs M −TF T J 5/Ts T J 15−
〇、  58TF T /Ts T    ・・・(5
)すなわち、本実施例のスメア比R8゜は、同じFT周
波数を用いる従来方法におけるスメア比R8、のわずか
58%に減少する。
ところで、FT期間TFT中のクロック信号φP、〜φ
P、のレベルや、スメア比RsMに関係しない蓄積CC
D領域Bのクロック信号φs1〜φ5.のレベルは従来
と全く同じであるので、転送効率の劣化などの問題を生
じることはない。
なお、以上の実施例では電子が信号電荷となる場合を説
明したが、本発明は正孔を信号電荷として利用する場合
にも適用し得ることが理解されよう。この場合、ゲート
電極に印加される電圧の極性を反転させればよい。
また、CCDの駆動方法として3相駆動を例にとって説
明したが、2相駆動や4相駆動を用いることもできるこ
とが明らかであろう。
さらに、FT方式固体撮像素子として表面から光が入射
する型を用いて説明したが、本発明は基板背面から受光
する型固体撮像素子にも適用し得ることが明らかであろ
う。
[発明の効果] 以上のように、本発明によれば、撮像CCD領域のクロ
ック信号の振幅がFT切期間おけるよりも電荷蓄積期間
における方が大きくなっているので、従来と同じFT周
波数を用いてもスメア比を小さくすることができる。す
なわち、スメアによる画質劣化の少ない固体撮像素子の
駆動方法を提供し得るのである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例による固体撮像素子の駆動
方法に用いられるクロック信号を示すタイミングチャー
トである。 第2A図は、FT方式固体撮像素子の断面構造を示す模
式図である。 第2B図は、第2A図に対応したポテンシャルの分布を
示す図である。 第3図は従来の固体撮像素子の駆動方法に用いられるク
ロック信号を示すタイミングチャートである。 図において、φ−7〜φP、は撮像CCD領域Aに印加
されるクロック信号、φ3.〜φ、3は蓄積CCD領域
Bに印加されるクロック信号、T、工は蓄積期間、そし
てTFTはフレームトランスファ期間を示す。 なお、各図において同一符号は同一内容または相当部分
を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 所定期間の光入射によって発生する信号電荷を蓄積する
    ための撮像CCD領域と、前記撮像CCD領域に隣接し
    て設けられかつ遮光されている蓄積CCD領域とを含む
    いわゆるフレームトランスファ方式の固体撮像素子にお
    いて、 前記撮像CCD領域が信号電荷を蓄積している期間に印
    加されるクロック信号レベルの絶対値の最も大きいもの
    は、前記撮像CCD領域から前記蓄積CCD領域へ電荷
    を転送するいわゆるフレームトランスファ期間に印加さ
    れるクロック信号レベルの絶対値の最も大きなものより
    大きく設定されることを特徴とする固体撮像素子の駆動
    方法。
JP1086025A 1989-04-04 1989-04-04 固体撮像素子の駆動方法 Pending JPH02264579A (ja)

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