JPH02287929A - 光学式ディスク再生装置のトラッキングエラー検出回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） この発明は３ビーム方式の光学式ピックアップを用いた
光学式ディスク再生装置のトラッキングエラー検出回路
に関する。

（従来の技術） 従来の光学式ディスク再生装置にあっては、３ビーム方
式光学式ピックアップを用いる場合、第５図に示すよう
なサーボ回路を備えている。第５図において、１１はメ
インビーム反射光を受光して電気信号に変換する４分割
式のメインディテクタ、１２．１３はそれぞれメインビ
ームの前後に位置する一対のサブビームの反射光を受光
して電気信号に変換する一対のサブディテクタである。

メインディテクタ１１のＡ、Ｄ領域の変換出力、Ｂ、Ｃ
領域の変換出力はそれぞれ加算された後、フォーカスエ
ラー検出回路を構成する電流−電圧変換器１４で電圧信
号に変換された後、減算器１５で差をとられ、フォーカ
スエラー信号ＦＥとなる。

また、電流−電圧変換器１４の２出力は加算器１６で加
算されてＲＦ再生信号となり、図示しない再生系に送ら
れる。フォーカスエラー信号ＦＥはフォカスサーボイコ
ライザ１７でフォーカス制御信号に、ドライバ１８でフ
ォーカスコイル駆動信号に変換されてフォーカスコイル
２０に送られる。これによってビーム対物レンズ（図示
せず）は領域Ａ＋Ｄの出力と領域Ｂ＋Ｃの出力との差が
なくなる合焦点位置に駆動制御される。

一方、一対のサブディテクタ（領域Ｅ、　　Ｆ）　１２
゜１３の変換出力はそれぞれトラッキングエラー検出回
路を構成する電流−電圧変換器２１で電圧信号に変換さ
れ、さらに減算器２２で差をとられてトラッキングエラ
ー信号ＴＥとなる。このトラッキングエラー信号ＴＥは
トラッキングサーボイコライザ２３でトラッキング制御
信号に、ドライバ２４でトラッキングコイル駆動信号に
変換されてトラッキングコイル２５に送られる。これに
よってビーム対物レンズ（図示せず）は領域Ｅの出力と
領域Ｆの出力との差がなくなる位置に駆動制御される。

さらに上記トラッキングエラー検出回路の具体的な構成
を第６図に示して説明すると、サブディテクタＥ、Ｆか
ら出力される電流信号はそれぞれオペアンプによる電流
−電圧変換器３０．３１で電圧信号に変換される。これ
らの電圧信号は抵抗３２゜３３、３４．３Ｂ、コンデン
サ３５．３７及びオペアンプ３８で構成される差動アン
プ（減算器）で減算処理され、これによってトラッキン
グエラー信号ＴＥが検出される。コンデンサ３５．３７
はトラッキングエラー信号ＴＥの不要な高域成分（例え
ばビットノイズ）を除去するためのものである。

ところで、サブディテクタＥ、Ｆで受光する一対のサブ
ビームはディスク面上である一定の距離（約５０−前後
）だけ離間して配置されている。

ディスクの反射面または蒸着面に第７図に示すようなサ
ブビームの間隔以下（５〇−以下）の細かい傷（一般に
ピンホールと呼ばれているような傷）があると、サブデ
ィテクタＥ、Ｆの電流出力ＩＥ＋ＩＦが傷によって第８
図（ａ）、（ｂ）に示すように変化し、これによってト
ラッキングエラー信号ＴＥは第８図（ｃ）に示すように
短時間に大きな変化を生じる。

また、光学式ディスク再生装置において、性能が評価さ
れるディスクの傷に蒸着面の傷があるが、この傷は前述
したようなピンホール状の傷と同様な、２つのサブビー
ムのわずかな間隔以下の細かい傷が連続的に生じたもの
であり、第９図に示すような変化をＲＦ再生信号とトラ
ッキングエラー信号ＴＥに与える。このような傷に対し
てトラックジャンプを起こさないようにすることが再生
装置として要求される重要な項目である。

（発明が解決しようとする課題） 以上述べたように従来の３ビーム方式のピックアップを
用いた光学式ディスク再生装置のトラッキングエラー検
出回路は、蒸着面の傷等、サブビーム間隔より細かい傷
がディスクに生じていると、メインビームが正常にビッ
ト列をトレースしていでもトラッキングエラー信号が短
時間に大きく変化するため、トラックジャンプを起こす
ことがある。

この発明は上記の課題を解決するためになされたもので
、簡単な回路構成で、ディスクに生じているサブビーム
間隔以下の細かい傷に影響されずに安定したトラッキン
グサーボを行ない得る光学式ディスク再生装置のトラッ
キングエラー検出回路を提供することを目的とする。

［発明の構成］ （課題を解決するための手段） 上記目的を達成するためにこの発明では、光学式ディス
クにビット列となって記録されたデータを３ビーム方式
の光学式ピックアップを介して読取る光学式ディスク再
生装置に用いられ、前記３ビームのうちメインビームの
前後に位置する一対のサブビームを受光する一対のサブ
ディテクタの出力差から前記ビット列に対するメインビ
ームのトラッキングエラーを検出するトラッキングエラ
ー検出回路において、前記一対のサブディテク夕の各出
力を不要な高域成分のみ結合する高域結合手段と、この
手段で高域成分が打消された一対の出力信号の差を求め
てトラッキングエラーを検出する検出手段とを具備した
ことを特徴とする特に前記高域結合手段は、前記一対の
サブディテクタの出力端間にコンデンサを介在させて構
成することを特徴とする。

（作用） 上記構成では、各サブディテクタの出力について互いに
高域成分を結合することで、一対のサブビームの間隔よ
りも小さい傷による高い周波数のトラッキングエラーノ
イズを軽減する。このような高域成分の結合は一対のサ
ブディテクタの出力端間にコンデンサを介在させること
で実現する。

（実施例） 以下、第１図乃至第３図を参照してこの発明の一実施例
を説明する。

第１図はこの発明に係るトラッキングエラー検出回路の
構成を示すものである。尚、サーボ系については第５図
と同様なのでその説明は省略する。

このトラッキングエラー検出回路では、サブディテクタ
Ｅ、Ｆから出力される電流信号ＩＥ。

１、を抵抗４１．４３及びコンデンサ４０で構成される
高域結合回路を介してそれぞれオペアンプによる電流−
電圧変換器４２．４３に送り、ここで電圧信号に変換し
た後、抵抗４５．４Ｂ、　４７．４８及びオペアンプ４
９で構成される差動アンプ（減算器）に入力して両者の
差を求め、トラッキングエラー信号ＴＥとして出力する
ようにしている。

上記のように構成したトラッキングエラー検出回路にお
いて、第７図に示したピンホール状の傷部分を再生した
際の各部出力信号波形を第２図に示す。まず、サブディ
テクタＥ、Ｆからの電流信号ＩＥ、ＩＩ７は、対応する
サブビームがピンホール状の傷の部分を再生すると、第
２図（ａ）。

（ｂ）に示すようにわずかな時間ずれをもって急激な変
化を生じる。これらの電流信号’［ＥＩ　　ＩＰは、高
域結合回路に入力されると、コンデンサ４０でカップリ
ングされて互いに影響し合うため、その出力信号ＩＥ　
　＋　　ＩＦ　　はそれぞれ同図（ｃ）（ｄ）に示すよ
うになる。これらの信号Ｉ６Ｉ　Ｆ　　を差動アンプに
入力して減算処理すれば、トラッキングエラー信号ＴＥ
は同図（ｅ）に示すように小さな変化でおさまる。尚、
第２図（ｅ）中点線で示す波形は従来回路の場合である
。

また、以上のことから、蒸着面に傷のあるディスクを再
生したときのトラッキングエラー信号ＴＥは、個々のピ
ンホール状の傷部分での変化が小さくなるため、従来回
路の場合と比較して第３図に示すように高域のノイズが
低減される。

したがって、上記構成によるトラッキングエラー検出回
路は、ディスクにピンホール状の傷があってもこれに影
響されることなく良好なトラッキングエラー信号が生成
されるので、傷によるトラックジャンプを確実に防止す
ることができる。しかもコンデンサ及び抵抗による高域
結合回路を設けるだけでよいのでその構成は極めて簡単
で、入力段で高域成分を抑圧してしまうので、従来のよ
うに差動アンプにコンデンサを設けて高域成分をカット
する必要はない。特に必要な場合は第１図中点線で示す
ようにコンデンサ５０．５１を接続すればよい。

尚、上記実施例ではサブディテクタＥ、Ｆの出力信号を
電圧信号に変換する前に高域結合するようにしたが、第
４図に示すように電流−電圧変換器４２．４４の後に抵
抗５２．５３、コンデンサ５４及びバッファアンプ５５
．５０による高域結合回路を設け、該回路の２出力を差
動アンプに入力するようにしても同様な効果が得られる
。トラッキングエラー信号ＴＥからさらに高域成分を除
去したい場合には、第４図中点線で示すようにコンデン
サ５ｏ５１を設ければよいことは勿論である。

［発明の効果］ 以上のようにこの発明によれば、簡単な回路構成で、デ
ィスクに生じているサブビーム間隔以下の細かい傷に影
響されずに安定したトラッキングサーボを行ない得る光
学式ディスク再生装置のトラッキングエラー検出回路を
提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明に係る光学式ディスク再生装置のトラ
ッキングエラー検出回路の一実施例の構成を示す回路図
、第２図は同実施例の傷再生部分における動作を説明す
るための各部出力波形図、第３図は同実施例でディスク
の蒸着面に傷があった場合のトラッキングエラー信号の
出力波形を示す波形図、第４図はこの発明に係る他の実
施例を示す回路図、第５図はこの発明が適用される光学
式ディスク再生装置のサーボ系の構成を示すブロック回
路図、第６図は従来のトラッキングエラー検出回路の構
成を示す回路図、第７図乃至第９図はそれぞれ従来のト
ラッキングエラー検出回路の問題点を説明するための図
である。 １１・・・メインディテクタ、１２．１３・・・サブデ
ィテクタ、１４．２１．３０．３１．４２．４４・・・
電流−電圧変換器、１５、２２・・・減算器、Ｉ６・・
・加算器、Ｉ７・・・フォーカスサーボイコライザ、１
８．２４・・・ドライバ、２０・・・フォーカスコイ、
ル、２３・・・トラッキングサーボイコライザ、２５・
・・トラッキングコイル、３２〜３４．３６．４１．４
３゜４５〜４８・・・抵抗、３５．４０．５０．５１・
・・コンデンサ、３８゜４９・・・オペアンプ、ＦＥ・
・・フォーカスエラー信号、ＴＥ・・・トラッキングエ
ラー信号。 出願人代理人　弁理士　鈴江武彦 第１図 （峯完嚇 第３図 第４図 第２図 第 図

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）光学式ディスクにピット列となって記録されたデ
   ータを３ビーム方式の光学式ピックアップを介して読取
   る光学式ディスク再生装置に用いられ、前記３ビームの
   うちメインビームの前後に位置する一対のサブビームを
   受光する一対のサブディテクタの出力差から前記ピット
   列に対するメインビームのトラッキングエラーを検出す
   るトラッキングエラー検出回路において、前記一対のサ
   ブディテクタの各出力を不要な高域成分のみ結合する高
   域結合手段と、この手段で高域成分が打消された一対の
   出力信号の差を求めてトラッキングエラーを検出する検
   出手段とを具備したことを特徴とする光学式ディスク再
   生装置のトラッキングエラー検出回路。
2. （２）前記高域結合手段は、前記一対のサブディテクタ
   の出力端間にコンデンサを介在させて構成することを特
   徴とする請求項（１）記載の光学式ディスク再生装置の
   トラッキングエラー検出回路。