JPH03102311A - 光ビーム走査装置 - Google Patents
光ビーム走査装置Info
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- JPH03102311A JPH03102311A JP1240143A JP24014389A JPH03102311A JP H03102311 A JPH03102311 A JP H03102311A JP 1240143 A JP1240143 A JP 1240143A JP 24014389 A JP24014389 A JP 24014389A JP H03102311 A JPH03102311 A JP H03102311A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
レーザダイオードおよびホログラム素子を用いた光ビー
ム走査装置に関し、 レーザダイオードを短時間で安定した設定温度に立ち上
げると共に、レーザダイオードを設定温度に立ち上げる
のに要する消費電力を低減することを目的とし、 レーザダイオードおよびホログラム素子を用いた光ビー
ム走査装置であって、前記レーザダイオードの温度を検
出する温度検出手段と、前記レーザダイオードにおける
複数の波長安定領域に対応する複数の温度を予め設定し
、前記検出されたレーザダイオードの温度に最も近い設
定温度を選択する設定温度選択手段と、前記検出された
レーザダイオードの温度と前記選択された設定温度とを
比較演算して、所定の制御信号を出力する演算制御手段
と、該演算制御手段の出力信号を受けて前記レーザダイ
オードを加熱または冷却して該レーザダイオードの温度
を前記選択された設定温度に一致させる温度可変手段と
を具備するように構或する。
ム走査装置に関し、 レーザダイオードを短時間で安定した設定温度に立ち上
げると共に、レーザダイオードを設定温度に立ち上げる
のに要する消費電力を低減することを目的とし、 レーザダイオードおよびホログラム素子を用いた光ビー
ム走査装置であって、前記レーザダイオードの温度を検
出する温度検出手段と、前記レーザダイオードにおける
複数の波長安定領域に対応する複数の温度を予め設定し
、前記検出されたレーザダイオードの温度に最も近い設
定温度を選択する設定温度選択手段と、前記検出された
レーザダイオードの温度と前記選択された設定温度とを
比較演算して、所定の制御信号を出力する演算制御手段
と、該演算制御手段の出力信号を受けて前記レーザダイ
オードを加熱または冷却して該レーザダイオードの温度
を前記選択された設定温度に一致させる温度可変手段と
を具備するように構或する。
本発明は、光ビーム走査装置に関し、特に、レーザダイ
オードおよびホログラム素子を用いた光ビーム走査装置
に関する。
オードおよびホログラム素子を用いた光ビーム走査装置
に関する。
近年、レーザプリンタ装置等の光ビーム走査装置として
、レーザダイオードおよびホログラム素子を使用したも
のが実用化されている。このようなレーザダイオードお
よびホログラム素子を使用した光ビーム走査装置におい
て、レーザダイオードから出射されるレーザ光は、安定
した波長を有していなければならず、そのため、レーザ
ダイオードの温度を一定に制御するようになされている
.そして、レーザダイオードの温度制御を短時間で且つ
少ない消費電力で行うことのできる光ビーム走査装置が
要望されている。
、レーザダイオードおよびホログラム素子を使用したも
のが実用化されている。このようなレーザダイオードお
よびホログラム素子を使用した光ビーム走査装置におい
て、レーザダイオードから出射されるレーザ光は、安定
した波長を有していなければならず、そのため、レーザ
ダイオードの温度を一定に制御するようになされている
.そして、レーザダイオードの温度制御を短時間で且つ
少ない消費電力で行うことのできる光ビーム走査装置が
要望されている。
第5図は従来の光ビーム走査装置の一例を示す図であり
、f・θ光学系を使用したものである。
、f・θ光学系を使用したものである。
この従来の光ビーム走査装!(例えば、特開昭59−1
46069号公報参照)は、広<一般に使用されている
ものであり、光源にレーザダイオード101を用い、コ
リメート光学系100でコリメートされたビームを回転
多面鏡(ポリゴンミラー)102とf・θレンズ103
の組合せで感光体(フォトコンドラム)105等にライ
ン走査するようになされている。
46069号公報参照)は、広<一般に使用されている
ものであり、光源にレーザダイオード101を用い、コ
リメート光学系100でコリメートされたビームを回転
多面鏡(ポリゴンミラー)102とf・θレンズ103
の組合せで感光体(フォトコンドラム)105等にライ
ン走査するようになされている。
この第5図に示す光ビーム走査装置に対して、より少な
い部品数で安定した光ビーム走査を行えるものとして第
6図の光ビーム走査装置(例えば、特開昭62−287
08号公報参照)が提案されている。
い部品数で安定した光ビーム走査を行えるものとして第
6図の光ビーム走査装置(例えば、特開昭62−287
08号公報参照)が提案されている。
この光ビーム走査装置は、回転多面鏡102およびf・
θ光学系103の代わりにホログラム素子を使用するも
のである。すなわち、第6図に示す従来の光ビーム走査
装置は、レーザダイオード101から出射されたレーザ
光をホログラムレンズ105およびホログラムスキャナ
(ホログラムディスク)106の2つの光学部品だけを
使用して感光体104にライン走査するようになされて
いる。
θ光学系103の代わりにホログラム素子を使用するも
のである。すなわち、第6図に示す従来の光ビーム走査
装置は、レーザダイオード101から出射されたレーザ
光をホログラムレンズ105およびホログラムスキャナ
(ホログラムディスク)106の2つの光学部品だけを
使用して感光体104にライン走査するようになされて
いる。
上述したように、従来、レーザダイオードおよびホログ
ラム素子等の僅かな部品数で安定した光ビーム走査を行
える第6図に示されるような光ビーム走査装置が提案さ
れている。ところで、第6図の光ビーム走査装置のよう
に、レーザダイオード101から出射されたレーザ光の
集光およびライン走査する光学系に、ホログラム素子(
ホログラムレンズ105およびホログラムスキャナ10
6)を用いた場合、次の点に留意しなければならない。
ラム素子等の僅かな部品数で安定した光ビーム走査を行
える第6図に示されるような光ビーム走査装置が提案さ
れている。ところで、第6図の光ビーム走査装置のよう
に、レーザダイオード101から出射されたレーザ光の
集光およびライン走査する光学系に、ホログラム素子(
ホログラムレンズ105およびホログラムスキャナ10
6)を用いた場合、次の点に留意しなければならない。
まず、レーザダイオード101は、周囲の温度変化に応
じて発振波長の変動があり、光学系の特性を変化させる
要因となるため、レーザダイオード101の温度を安定
させて発振波長に一定に保持する必要がある。
じて発振波長の変動があり、光学系の特性を変化させる
要因となるため、レーザダイオード101の温度を安定
させて発振波長に一定に保持する必要がある。
第7図は第6図の光ビーム走査装置の動作を説明するた
めの図である。同図に示されるように、従来の光ビーム
走査装置においては、レーザダイオード101を安定動
作させるための設定温度は、例えば、常温(20〜25
℃)内の一定の温度とされているため、周囲温度が如何
なる場合でも該■っの設定温度になるように、レーザダ
イオードの温度を調節する必要があった。
めの図である。同図に示されるように、従来の光ビーム
走査装置においては、レーザダイオード101を安定動
作させるための設定温度は、例えば、常温(20〜25
℃)内の一定の温度とされているため、周囲温度が如何
なる場合でも該■っの設定温度になるように、レーザダ
イオードの温度を調節する必要があった。
ところで、レーザダイオード101の温度調節には、例
えば、ベルチェ素子等の電子冷却素子を用いて、周囲温
度およびレーザダイオード101自体の発熱による温度
上昇量を制御し、レーザダイオード101を一定温度に
維持して安定した波長のレーザ光を出射させるようにな
されている。しかし、光ビーム走査装置を使用する周囲
温度(5℃〜35℃)等の環境条件が変化し、レーザダ
イオード101を予め定められた1つの設定温度に立ち
上げるには或る程度の時間を要し、ウォーミングアップ
時間の超過など装置の基本仕様を満足できないという課
題がある。さらに、レーザダイオード101の温度を安
定化するためには、どのような周囲温度でも予め定めら
れた1つの設定温度に立ち上げなければならず、ペルチ
ェ素子等に流す電流により消費電力が極めて大きくなる
こεがある。
えば、ベルチェ素子等の電子冷却素子を用いて、周囲温
度およびレーザダイオード101自体の発熱による温度
上昇量を制御し、レーザダイオード101を一定温度に
維持して安定した波長のレーザ光を出射させるようにな
されている。しかし、光ビーム走査装置を使用する周囲
温度(5℃〜35℃)等の環境条件が変化し、レーザダ
イオード101を予め定められた1つの設定温度に立ち
上げるには或る程度の時間を要し、ウォーミングアップ
時間の超過など装置の基本仕様を満足できないという課
題がある。さらに、レーザダイオード101の温度を安
定化するためには、どのような周囲温度でも予め定めら
れた1つの設定温度に立ち上げなければならず、ペルチ
ェ素子等に流す電流により消費電力が極めて大きくなる
こεがある。
本発明は、上述した従来の光ビーム走査装置が有する課
題に鑑み、レーザダイオードを短時間で安定した設定温
度に立ち上げると共に、レーザダイオードを設定温度に
立ち上げるのに要する消費電力を低減することを目的と
する. 〔課題を解決するための手段) 第F図は本発明に係る光ビーム走査装置の原理を示すブ
ロック図である。
題に鑑み、レーザダイオードを短時間で安定した設定温
度に立ち上げると共に、レーザダイオードを設定温度に
立ち上げるのに要する消費電力を低減することを目的と
する. 〔課題を解決するための手段) 第F図は本発明に係る光ビーム走査装置の原理を示すブ
ロック図である。
本発明によれば、レーザダイオード1およびホログラム
素子を用いた光ビーム走査装置であって、前記レーザダ
イオード1の温度を検出する温度検出手段2と、前記レ
ーザダイオードlにおける複数の波長安定領域に対応す
る複数の温度を予め設定し、前記検出されたレーザダイ
オード1の温度に最も近い設定温度を選択する設定温度
選択手段3と、前記検出されたレーザダイオード1の温
度と前記選択された設定温度とを比較演算して、所定の
制御信号を出力する演算制御千段4と、該演’g制御手
段4の出力信号を受けて前記レーザダイオードlを加熱
または冷却して該レーザダイオード1の温度を前記選択
された設定温度に一致させる温度可変千段5とを具備す
る光ビーム走査装置が提供される。
素子を用いた光ビーム走査装置であって、前記レーザダ
イオード1の温度を検出する温度検出手段2と、前記レ
ーザダイオードlにおける複数の波長安定領域に対応す
る複数の温度を予め設定し、前記検出されたレーザダイ
オード1の温度に最も近い設定温度を選択する設定温度
選択手段3と、前記検出されたレーザダイオード1の温
度と前記選択された設定温度とを比較演算して、所定の
制御信号を出力する演算制御千段4と、該演’g制御手
段4の出力信号を受けて前記レーザダイオードlを加熱
または冷却して該レーザダイオード1の温度を前記選択
された設定温度に一致させる温度可変千段5とを具備す
る光ビーム走査装置が提供される。
本発明の光ビーム走査装置によれば、温度検出千段2に
よりレーザダイオードIの温度が検出され、設定温度選
択千段3により検出されたレーザダイオードlの温度に
最も近い設定温度が選択される。ここで、設定温度選択
千段3には、レーザダイオードlにおける複数の波長安
定領域に対応する複数の温度を予め設定されていて、こ
れら複数の設定温度からレーザダイオード1の温度に最
も近い設定温度が選択されることになる.さらに、演算
制御手段4により検出されたレーザダイオードIの温度
と選択された設定温度とが比較演算され、所定の制御信
号が出力される。そして、演算制御手段4の出力信号が
供給された温度可変手段5によりレーザダイオード1が
加熱または冷却され、該レーザダイオードlの温度が上
記選択された設定温度に一致するように調節される。
よりレーザダイオードIの温度が検出され、設定温度選
択千段3により検出されたレーザダイオードlの温度に
最も近い設定温度が選択される。ここで、設定温度選択
千段3には、レーザダイオードlにおける複数の波長安
定領域に対応する複数の温度を予め設定されていて、こ
れら複数の設定温度からレーザダイオード1の温度に最
も近い設定温度が選択されることになる.さらに、演算
制御手段4により検出されたレーザダイオードIの温度
と選択された設定温度とが比較演算され、所定の制御信
号が出力される。そして、演算制御手段4の出力信号が
供給された温度可変手段5によりレーザダイオード1が
加熱または冷却され、該レーザダイオードlの温度が上
記選択された設定温度に一致するように調節される。
これによって、レーザダイオード1を短時間で安定した
設定温度(複数の設定温度の内の何れかlつ)に立ち上
げると共に、レーザダイオード1を設定温度に立ち上げ
るのに要する消費電力を低減することができる。
設定温度(複数の設定温度の内の何れかlつ)に立ち上
げると共に、レーザダイオード1を設定温度に立ち上げ
るのに要する消費電力を低減することができる。
〔実施例〕
以下、図面を参照して本発明に係る光ビーム走査装置の
一実施例を説明する。
一実施例を説明する。
まず、本発明の特徴を説明する前に、本発明が適用され
る光ビーム走査装置の一例を述べる。
る光ビーム走査装置の一例を述べる。
本発明が適用されるのは、上述した第6図に示すレーザ
ダイオードおよびホログラム素子を有する光ビーム走査
装置と同様な装置である。すなわち、第6図において、
レーザダイオード101から出射されたレーザ光は、ホ
ログラムを表面に形或したホログラムレンズ105に入
射し、さらに、ホログラムレンズ105からのレーザ光
は、ホログラムが形威され回転しているディスク(ホロ
グラムスキャナ)106に入射する。さらに、ホログラ
ムスキャナ106を通ったレーザ光は、例えば、感光体
(フォトコンドラム)104上にライン走査される。
ダイオードおよびホログラム素子を有する光ビーム走査
装置と同様な装置である。すなわち、第6図において、
レーザダイオード101から出射されたレーザ光は、ホ
ログラムを表面に形或したホログラムレンズ105に入
射し、さらに、ホログラムレンズ105からのレーザ光
は、ホログラムが形威され回転しているディスク(ホロ
グラムスキャナ)106に入射する。さらに、ホログラ
ムスキャナ106を通ったレーザ光は、例えば、感光体
(フォトコンドラム)104上にライン走査される。
ここで、ホログラムレンズ105を通ったレーザ光は、
ホログラムスキャナ106を通った後の走査ビームの収
差を補正する波面とされている。
ホログラムスキャナ106を通った後の走査ビームの収
差を補正する波面とされている。
以下、本発明に係る光ビーム走査装置の−実施例を詳述
する。
する。
第2図は本発明の光ビーム走査装置の一実施例を示すブ
ロック図であり、同図におけるレーザダイオード1は、
第6図のレーザダイオード101に対応し、第2図中の
レーザダイオード1から出射したレーザ光は、第2図に
は示されていないホロダラム素子(第6図中のホログラ
ムレンズ105およびホログラムスキャナ106)へ送
達されることになる。
ロック図であり、同図におけるレーザダイオード1は、
第6図のレーザダイオード101に対応し、第2図中の
レーザダイオード1から出射したレーザ光は、第2図に
は示されていないホロダラム素子(第6図中のホログラ
ムレンズ105およびホログラムスキャナ106)へ送
達されることになる。
第2図に示されるように、本実施例の光ビーム走査装置
は、温度検出素子(サーごスタ)2と、設定温度選択部
3と、演算制御部4と、電子冷却素子(ペルチェ素子)
5とを備えている。
は、温度検出素子(サーごスタ)2と、設定温度選択部
3と、演算制御部4と、電子冷却素子(ペルチェ素子)
5とを備えている。
温度検出素子2は、レーザダイオード1の温度を検出す
るためのものであり、例えば、レーザダイオード1が設
けられているハウジング(図示しない)に取り付けられ
、該ハウジングの温度を検出するようになされている。
るためのものであり、例えば、レーザダイオード1が設
けられているハウジング(図示しない)に取り付けられ
、該ハウジングの温度を検出するようになされている。
設定温度選択部3には、第3図を参照して後述するレー
ザダイオードlにおける複数の波長安定領域に対応する
複数の温度を予め設定され、これら複数の設定温度から
レーザダイオード1の検出温度に最も近い設定温度が選
択されるようになされている。
ザダイオードlにおける複数の波長安定領域に対応する
複数の温度を予め設定され、これら複数の設定温度から
レーザダイオード1の検出温度に最も近い設定温度が選
択されるようになされている。
演算制御部4の構成は、従来のものと同様であり、減算
部41.42.47.増幅部43.45および電流切換
増幅部44.46を備えている。この演算制御部4にお
いて、温度検出素子5で検出されたレーザダイオードl
の温度と、設定温度選択部3で選択された設定温度とが
比較演算され、所定の制御電流が電子冷却素子5に供給
されて、レーザダイオード1が加熱または冷却される。
部41.42.47.増幅部43.45および電流切換
増幅部44.46を備えている。この演算制御部4にお
いて、温度検出素子5で検出されたレーザダイオードl
の温度と、設定温度選択部3で選択された設定温度とが
比較演算され、所定の制御電流が電子冷却素子5に供給
されて、レーザダイオード1が加熱または冷却される。
これにより、レーザダイオード1の温度は、設定温度選
択部3で選択された設定温度に一致するように調節され
ることになる。
択部3で選択された設定温度に一致するように調節され
ることになる。
第3図はレーザダイオードの温度特性を示す図である。
同図に示されるように、レーザダイオード1は、該レー
ザダイオードの温度(レーザダイオードlを含むハウジ
ングの温度)が上昇するにつれて、その発振波長が長波
長側に移動し、また、或る温度において発振波長に急激
な変化(モードホップ)がみられる。ここで、設定温度
選択部3において予め設定する温度は、波長の変動が小
さい領域(波長安定領域)の略中央の温度とするのが好
ましい。このように、レーザダイオードは、温度変化に
対して、複数の波長安定領域を有している。具体的に、
通常、光ビーム走査装置が使用され得る周囲の環境温度
(例えば、5〜35℃)において、例えば、レーザダイ
オードlは3つの波長安定領域を有している。ここで、
これら3つの波長安定領域におけるレーザダイオードの
波長はそれぞれ異なっているが、各波長安定領域では、
中心温度(第3図中の参照符号^,B,C)に対してプ
ラスマイナス数度の範囲で波長が略一定となる。
ザダイオードの温度(レーザダイオードlを含むハウジ
ングの温度)が上昇するにつれて、その発振波長が長波
長側に移動し、また、或る温度において発振波長に急激
な変化(モードホップ)がみられる。ここで、設定温度
選択部3において予め設定する温度は、波長の変動が小
さい領域(波長安定領域)の略中央の温度とするのが好
ましい。このように、レーザダイオードは、温度変化に
対して、複数の波長安定領域を有している。具体的に、
通常、光ビーム走査装置が使用され得る周囲の環境温度
(例えば、5〜35℃)において、例えば、レーザダイ
オードlは3つの波長安定領域を有している。ここで、
これら3つの波長安定領域におけるレーザダイオードの
波長はそれぞれ異なっているが、各波長安定領域では、
中心温度(第3図中の参照符号^,B,C)に対してプ
ラスマイナス数度の範囲で波長が略一定となる。
そして、前述したように、設定温度選択部3に予め設定
される複数の波長安定領域に対応する複数の温度は、第
3図中の参照符号A. B, Cに相当する温度である
。
される複数の波長安定領域に対応する複数の温度は、第
3図中の参照符号A. B, Cに相当する温度である
。
第4図は第2図の光ビーム走査装置の動作を説明するた
めの図である。同図に示されるように、本実施例の光ビ
ーム走査装置は、設定温度選択部3において、例えば、
3つの波長安定領域に対応する3つの温度A,B,Cが
予め設定されており、サSスタ等の温度検出素子2で検
出したレーザダイオード1 (または、レーザダイオー
ドを含むハウジング)の温度に最も近い設定温度が選択
される。具体的に、検出されたレーザダイオード1の温
度が高温ならば設定温度Cが選択され、レーザダイオー
ドエの温度が常温ならば設定温度Bが選択され、そして
、レーザダイオード1の温度が低温ならば設定温度Aが
選択されるようになされている。
めの図である。同図に示されるように、本実施例の光ビ
ーム走査装置は、設定温度選択部3において、例えば、
3つの波長安定領域に対応する3つの温度A,B,Cが
予め設定されており、サSスタ等の温度検出素子2で検
出したレーザダイオード1 (または、レーザダイオー
ドを含むハウジング)の温度に最も近い設定温度が選択
される。具体的に、検出されたレーザダイオード1の温
度が高温ならば設定温度Cが選択され、レーザダイオー
ドエの温度が常温ならば設定温度Bが選択され、そして
、レーザダイオード1の温度が低温ならば設定温度Aが
選択されるようになされている。
そして、演算制御部4で制御されるベルチェ素子等の温
度可変素子(電子冷却素了〉5によって、レーザダイオ
ード1 (または、レーザダイオードを含むハウジング
)の温度が設定温度選択部3により選択された設定温度
に一致するように温度調節されるようになされている。
度可変素子(電子冷却素了〉5によって、レーザダイオ
ード1 (または、レーザダイオードを含むハウジング
)の温度が設定温度選択部3により選択された設定温度
に一致するように温度調節されるようになされている。
これによって、レーザダイオード1を短時間で安定した
設定温度(具体的に、設定温度A,B,Cの内レーザダ
イオード1の温度に最も近い温度)に立ち上げて安定し
た波長のレーザ光を出射させることができる。さらに、
レーザダイオード1は、該レーザダイオードの温度に最
も近い設定温度に立ち上げられることになるので、その
温度調節のために電子冷却素子5が消費する電力を最小
限に抑えることができる。
設定温度(具体的に、設定温度A,B,Cの内レーザダ
イオード1の温度に最も近い温度)に立ち上げて安定し
た波長のレーザ光を出射させることができる。さらに、
レーザダイオード1は、該レーザダイオードの温度に最
も近い設定温度に立ち上げられることになるので、その
温度調節のために電子冷却素子5が消費する電力を最小
限に抑えることができる。
以上、詳述したように、本発明の光ビーム走査装置は、
レーザダイオードの複数の波長安定領域に対応させた複
数の温度を予め設定し、検出されたレーザダイオードの
温度に最も近い設定温度を選択して該レーザダイオード
の温度をその選択された設定温度に一致させるように調
節することによって、レーザダイオードを短時間で安定
した設定温度に立ち上げると共に、レーザダイオードを
設定温度に立ち上げるのに要する消費電力を低減するこ
とができる。
レーザダイオードの複数の波長安定領域に対応させた複
数の温度を予め設定し、検出されたレーザダイオードの
温度に最も近い設定温度を選択して該レーザダイオード
の温度をその選択された設定温度に一致させるように調
節することによって、レーザダイオードを短時間で安定
した設定温度に立ち上げると共に、レーザダイオードを
設定温度に立ち上げるのに要する消費電力を低減するこ
とができる。
第1図は本発明に係る光ビーム走査装置の原理を示すブ
ロソク図、 第2図は本発明の光ビーム走査装置の一実施例を示すブ
ロフク図、 第3図はレーザダイオードの温度特性を示す図、第4図
は第2図の光ビーム走査装置の動作を説明するための図
、 第5図は従来の光ビーム走査装置の一例を示す図、 第6図は従来の光ビーム走査装置の他の例を示す図、 第7図は第6図の光ビーム走査装置の動作を説明するた
めの図である。 (符号の説明) l・・・レーザダイオード、 2・・・温度検出手段、 3・・・設定温度選択手段、 4・・・演算制御手段、 5・・・温度可変手段。 レーザダイオードの温度特性を示す図 第2図の光ビーム走査装置の動作を説明するだめの図シ
よ l, 賢介
ロソク図、 第2図は本発明の光ビーム走査装置の一実施例を示すブ
ロフク図、 第3図はレーザダイオードの温度特性を示す図、第4図
は第2図の光ビーム走査装置の動作を説明するための図
、 第5図は従来の光ビーム走査装置の一例を示す図、 第6図は従来の光ビーム走査装置の他の例を示す図、 第7図は第6図の光ビーム走査装置の動作を説明するた
めの図である。 (符号の説明) l・・・レーザダイオード、 2・・・温度検出手段、 3・・・設定温度選択手段、 4・・・演算制御手段、 5・・・温度可変手段。 レーザダイオードの温度特性を示す図 第2図の光ビーム走査装置の動作を説明するだめの図シ
よ l, 賢介
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、レーザダイオード(1)およびホログラム素子を用
いた光ビーム走査装置であって、前記レーザダイオード
の温度を検出する温度検出手段(2)と、 前記レーザダイオードにおける複数の波長安定領域に対
応する複数の温度を予め設定し、前記検出されたレーザ
ダイオードの温度に最も近い設定温度を選択する設定温
度選択手段(3)と、前記検出されたレーザダイオード
の温度と前記選択された設定温度とを比較演算して、所
定の制御信号を出力する演算制御手段(4)と、 該演算制御手段の出力信号を受けて前記レーザダイオー
ドを加熱または冷却して該レーザダイオードの温度を前
記選択された設定温度に一致させる温度可変手段(5)
とを具備する光ビーム走査装置。 2、前記温度検出手段はサーミスタを備え、前記レーザ
ダイオードを含むハウジングの温度を検出し、前記温度
可変手段はペルチエ素子を備え、該ハウジングの温度を
調節するようになっている請求項第1項に記載の光ビー
ム走査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1240143A JPH03102311A (ja) | 1989-09-18 | 1989-09-18 | 光ビーム走査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1240143A JPH03102311A (ja) | 1989-09-18 | 1989-09-18 | 光ビーム走査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03102311A true JPH03102311A (ja) | 1991-04-26 |
Family
ID=17055137
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1240143A Pending JPH03102311A (ja) | 1989-09-18 | 1989-09-18 | 光ビーム走査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03102311A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0668640A1 (en) * | 1994-02-22 | 1995-08-23 | CSELT Centro Studi e Laboratori Telecomunicazioni S.p.A. | Method for the generation of Ultra-short optical pulses |
-
1989
- 1989-09-18 JP JP1240143A patent/JPH03102311A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0668640A1 (en) * | 1994-02-22 | 1995-08-23 | CSELT Centro Studi e Laboratori Telecomunicazioni S.p.A. | Method for the generation of Ultra-short optical pulses |
| US5548603A (en) * | 1994-02-22 | 1996-08-20 | Cselt-Centro Studi E Laboratori Telecomunicazioni S.P.A. | Method for the generation of ultra-short optical pulses |
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