JPH03153102A - マイクロ波モノリシック集積回路 - Google Patents
マイクロ波モノリシック集積回路Info
- Publication number
- JPH03153102A JPH03153102A JP1292750A JP29275089A JPH03153102A JP H03153102 A JPH03153102 A JP H03153102A JP 1292750 A JP1292750 A JP 1292750A JP 29275089 A JP29275089 A JP 29275089A JP H03153102 A JPH03153102 A JP H03153102A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- high frequency
- semiconductor substrate
- electrode
- ground electrode
- integrated circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 19
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 19
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 5
- 239000000523 sample Substances 0.000 abstract description 10
- 230000005684 electric field Effects 0.000 abstract description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000005422 blasting Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000004570 mortar (masonry) Substances 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Waveguides (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野]
本発明はマイクロ波モノリシック集積回路に関し、特に
マイクロストリップ型分布定数線路を用いたマイクロ波
モノリシック集積回路の高周波信号用電極に関する。
マイクロストリップ型分布定数線路を用いたマイクロ波
モノリシック集積回路の高周波信号用電極に関する。
従来、マイクロストリップ型分布定数線路を用いたマイ
クロ波モノリシック集積回路は、半導体基板裏面に形成
された導体面を1つの共通接地電極とし、もう1つの電
極として信号の入力又は出力用電極を半導体基板表面に
形成していた。
クロ波モノリシック集積回路は、半導体基板裏面に形成
された導体面を1つの共通接地電極とし、もう1つの電
極として信号の入力又は出力用電極を半導体基板表面に
形成していた。
従来のモノリシック集積回路は、扱う信号周波数が比較
的低いため安価なパッケージに組立封入後に高周波特性
を測定して良品の選別を行なっており、万一不良品が発
生しこれを廃棄しても、付加価値としてはそれほど高く
なく十分採算がとれていた。
的低いため安価なパッケージに組立封入後に高周波特性
を測定して良品の選別を行なっており、万一不良品が発
生しこれを廃棄しても、付加価値としてはそれほど高く
なく十分採算がとれていた。
しかしながら、扱う信号周波数がマイクロ波周波数の様
に高くなるにつれ、パッケージによる特性劣化を防ぐ為
に精密で高価なパッケージが必要とされる様になり、パ
ッケージ封入後の不良品発生は良品の原価に大きく影響
する。この為、組立用人前に高周波特性を3めて1゛7
エハ状態のまま良品jズ別を行なう必要が生じて来f、
。
に高くなるにつれ、パッケージによる特性劣化を防ぐ為
に精密で高価なパッケージが必要とされる様になり、パ
ッケージ封入後の不良品発生は良品の原価に大きく影響
する。この為、組立用人前に高周波特性を3めて1゛7
エハ状態のまま良品jズ別を行なう必要が生じて来f、
。
1述び)従来の精密高価なパッケージを用いるマイクi
ll波上ノリシック集積回路では、接地導体が半導体基
板裏+ni L−1入出力イ響号用電極が半導体基板人
+f1iにある。1−の/)、つJ゛ハ状態の高周波特
r1評価に際1−2では、通常、Jj口r器から同軸ウ
ーフルにて供給される同軸モードの高周波12号をマイ
タ℃7ス)ヘリツブモードに変換1〜で供給する・ビ・
要がある。
ll波上ノリシック集積回路では、接地導体が半導体基
板裏+ni L−1入出力イ響号用電極が半導体基板人
+f1iにある。1−の/)、つJ゛ハ状態の高周波特
r1評価に際1−2では、通常、Jj口r器から同軸ウ
ーフルにて供給される同軸モードの高周波12号をマイ
タ℃7ス)ヘリツブモードに変換1〜で供給する・ビ・
要がある。
1〜かじ、高周波プローブ部分て、高周波の波長に村し
て無視出来ない長さに渡−)で41マイクロストす・ツ
ブモードとなり、正常な測定が出−末なくなる。t;t
−)で 市販の高周波プローブ装置は、1訊号伝達路を
一平面で構成出来、被測定集積回路の近イ57土て均一
・モー1−て151吋伝達か行なえる=7ブし−す線路
又はス冒・l、 l−線路横)ろになっている。
て無視出来ない長さに渡−)で41マイクロストす・ツ
ブモードとなり、正常な測定が出−末なくなる。t;t
−)で 市販の高周波プローブ装置は、1訊号伝達路を
一平面で構成出来、被測定集積回路の近イ57土て均一
・モー1−て151吋伝達か行なえる=7ブし−す線路
又はス冒・l、 l−線路横)ろになっている。
しかしながら、マイク〔7ス1へり・ノブモート分布定
数よ♀路を用いた集積回路では、電気力線は半導体周板
裏面の接地面と半導体基板表面との間にノドじているの
て゛、このままでは高周波ア17−ブと集積回路との間
ての伝播モートの不整合が4−じる/S、使用出来ない
とい5X点がある、し課題を解決するための手段1 本発明のマイク[7波王1.ノリン・・/りq、積回路
は、1す、げ入力文(引信号出力用電極と、これと対を
成ず年積回路士導体基板裏面に形成され?、1共連接地
電極としての接地用導体面と導電性バイアポールで接続
さi−+か接地用電極を集積回路半導体基板表面に有し
ている。
数よ♀路を用いた集積回路では、電気力線は半導体周板
裏面の接地面と半導体基板表面との間にノドじているの
て゛、このままでは高周波ア17−ブと集積回路との間
ての伝播モートの不整合が4−じる/S、使用出来ない
とい5X点がある、し課題を解決するための手段1 本発明のマイク[7波王1.ノリン・・/りq、積回路
は、1す、げ入力文(引信号出力用電極と、これと対を
成ず年積回路士導体基板裏面に形成され?、1共連接地
電極としての接地用導体面と導電性バイアポールで接続
さi−+か接地用電極を集積回路半導体基板表面に有し
ている。
[実施例〕
次に本発明について図面を参1■((i−2で説[IJ
]−d−る、第1図は本発明の第1の実施例の説明図て
あり、第1図(a、 )は電極配置と導電性バイアポー
ルの関係を示す平面図、第1図1)、(C)はf!!I
I 1rii図である。第1図(l−) ) 、 (
(1: )には、11解を容騎にするノ)に高周波プロ
ーブもずく1加しである。
]−d−る、第1図は本発明の第1の実施例の説明図て
あり、第1図(a、 )は電極配置と導電性バイアポー
ルの関係を示す平面図、第1図1)、(C)はf!!I
I 1rii図である。第1図(l−) ) 、 (
(1: )には、11解を容騎にするノ)に高周波プロ
ーブもずく1加しである。
第1し1にお(、ビζ、1はマイクロ波モノリシック集
積回路を構成する半導体基板、2は高周波信号人力(又
は出力)電極、3は接地用電極、4は接地用電極3と半
導体基板1の裏面に形成されA:共通接地電極5を結ぶ
導電性バイアポール、0は高周波プローブ装置のへ・・
ノド部を構成する誘電体基板、7,8は高周波ブ冒−ブ
用接触宇)である。
積回路を構成する半導体基板、2は高周波信号人力(又
は出力)電極、3は接地用電極、4は接地用電極3と半
導体基板1の裏面に形成されA:共通接地電極5を結ぶ
導電性バイアポール、0は高周波プローブ装置のへ・・
ノド部を構成する誘電体基板、7,8は高周波ブ冒−ブ
用接触宇)である。
ここて、電極2を信号入力電極と仮定して、動作を詳細
に説明する。
に説明する。
[マ1示されない高周波信号発生器で発生された高周波
信号は、へ・ソド部6の表面に形成されたスロットライ
ン若しくはコブ1)−ナラインにより、接触針7.8へ
導かれる1、この時、高周波電流はへ・ソ)・部0の誘
電体内部及び近傍の空間に電界を形[戊12、第1し1
(c)のAの様な電界を形成しなかt、1云措し、接触
&L7.8の間に高周波電圧を生ずる、 −ji、電極2に接続されている分布定数線路はり二連
接地電極5との間に高周波電流Bが流れる、二゛二Gこ
よりマイクIVス1へり・ツブモードの分41定数線路
として正常に機能1〜、接触針8の電流を導電性バイア
ホール4を庁して半導体基板1の裏面の共通接地電極5
へ流11、これを実現する。
信号は、へ・ソド部6の表面に形成されたスロットライ
ン若しくはコブ1)−ナラインにより、接触針7.8へ
導かれる1、この時、高周波電流はへ・ソ)・部0の誘
電体内部及び近傍の空間に電界を形[戊12、第1し1
(c)のAの様な電界を形成しなかt、1云措し、接触
&L7.8の間に高周波電圧を生ずる、 −ji、電極2に接続されている分布定数線路はり二連
接地電極5との間に高周波電流Bが流れる、二゛二Gこ
よりマイクIVス1へり・ツブモードの分41定数線路
として正常に機能1〜、接触針8の電流を導電性バイア
ホール4を庁して半導体基板1の裏面の共通接地電極5
へ流11、これを実現する。
−の様に、高周波プローブヘッド部のスロワ1−ライン
モー1〜又はコプレーナモードを入力電極部でマイクロ
スl−リ・ツブモードに変換してやる串により、パック
・−ジに組立てずとも高周波鴇゛性を測定i+J能とす
る。
モー1〜又はコプレーナモードを入力電極部でマイクロ
スl−リ・ツブモードに変換してやる串により、パック
・−ジに組立てずとも高周波鴇゛性を測定i+J能とす
る。
第1図(a)は簡便の為に1つの集積回路チップの図と
して説明したが、同一チップの集合体であるウェハ状態
でも全く同じ事が出来、ウェハ+の全てのチップの特性
を全て測定することにより、チップの良品選別が出来る
。信号出力部に関1〜ても同様の構造をとることにより
、集積回路からの信号は測定器へ導かれる。
して説明したが、同一チップの集合体であるウェハ状態
でも全く同じ事が出来、ウェハ+の全てのチップの特性
を全て測定することにより、チップの良品選別が出来る
。信号出力部に関1〜ても同様の構造をとることにより
、集積回路からの信号は測定器へ導かれる。
第2図は本発明の第2の実施例の平面図であり、入力電
極(又は出力電極)が複数ある場合を示す。この場合は
、高周波プローブもこれに合せて作成する必要があるが
、接地用電極3は共通に用い、導電性バイアポール/1
で半導体基板1の裏面の共通接地電極5へ接続される。
極(又は出力電極)が複数ある場合を示す。この場合は
、高周波プローブもこれに合せて作成する必要があるが
、接地用電極3は共通に用い、導電性バイアポール/1
で半導体基板1の裏面の共通接地電極5へ接続される。
[−発明の効果〕
以上説明したように本発明は、マイクロス1〜リツプ型
分布定数線路を用いたマ、イクロ波モノリシック集積回
路において、信号入力電極若しくは信号出力電極と対に
なる接地電極を半導体基板表面上に設け、これを導電性
バイアホールにて半導体半導体屑板裏面の共通接地電極
と接続することにより、市販のスロットモード又はコプ
レーナモー1〜の高周波プローブを用いて、ウェハ状態
で高周波特性を測定出来、良品選別かり能となるl)、
パッケージ組立後に不良品を廃棄する事がなくなり原価
低減に効果かある。
分布定数線路を用いたマ、イクロ波モノリシック集積回
路において、信号入力電極若しくは信号出力電極と対に
なる接地電極を半導体基板表面上に設け、これを導電性
バイアホールにて半導体半導体屑板裏面の共通接地電極
と接続することにより、市販のスロットモード又はコプ
レーナモー1〜の高周波プローブを用いて、ウェハ状態
で高周波特性を測定出来、良品選別かり能となるl)、
パッケージ組立後に不良品を廃棄する事がなくなり原価
低減に効果かある。
ド部の誘電体基板、7
触針。
Claims (1)
- マイクロストリップ型分布定数線路を用いて構成する
マイクロ波モノリシック集積回路において、前記マイク
ロ波モノリシック集積回路が形成される半導体基板の表
面に高周波信号用入力電極又は出力電極と対をなす接地
電極を設け、前記接地電極と前記半導体基板の裏面に形
成された接地用導体面とを前記半導体基板を貫通して開
けた導電性バイアホールにより接続したことを特徴とす
るマイクロ波モノリシック集積回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1292750A JPH03153102A (ja) | 1989-11-09 | 1989-11-09 | マイクロ波モノリシック集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1292750A JPH03153102A (ja) | 1989-11-09 | 1989-11-09 | マイクロ波モノリシック集積回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03153102A true JPH03153102A (ja) | 1991-07-01 |
Family
ID=17785851
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1292750A Pending JPH03153102A (ja) | 1989-11-09 | 1989-11-09 | マイクロ波モノリシック集積回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03153102A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0227746A (ja) * | 1988-07-15 | 1990-01-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | マイクロ波集積回路およびその製造方法 |
-
1989
- 1989-11-09 JP JP1292750A patent/JPH03153102A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0227746A (ja) * | 1988-07-15 | 1990-01-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | マイクロ波集積回路およびその製造方法 |
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