JPH03263706A - 誘電体磁器組成物 - Google Patents
誘電体磁器組成物Info
- Publication number
- JPH03263706A JPH03263706A JP2061461A JP6146190A JPH03263706A JP H03263706 A JPH03263706 A JP H03263706A JP 2061461 A JP2061461 A JP 2061461A JP 6146190 A JP6146190 A JP 6146190A JP H03263706 A JPH03263706 A JP H03263706A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature coefficient
- dielectric
- dielectric constant
- porcelain composition
- static capacity
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
- Inorganic Insulating Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は誘電率、絶縁抵抗、絶縁破壊電圧が高く、良好
度Qにすぐれ、静電容量温度係数が小さい誘電体磁器組
成物に関するものである。
度Qにすぐれ、静電容量温度係数が小さい誘電体磁器組
成物に関するものである。
従来の技術
従来から、誘電率、絶縁抵抗が高く、良好度Qにすぐれ
、静電容量温度係数が小さい誘電体磁器組成物として下
記のような系が知られている。
、静電容量温度係数が小さい誘電体磁器組成物として下
記のような系が知られている。
・BaOTi0z Nd’tOs系・[laOTi
0g Saw’s系発明が解決しようとする課題 しかし、これらの組成は、例えば0.09BaOO,5
6TiOz 0.35NdOzzxの組成比からな
る誘電体材料を使用し、円板形磁器コンデンサを作製す
ると、誘電率二67、良好度Q : 3000、静電容
量温度係数: N40ppm /”c、絶縁抵抗: 8
.0XlO”Ωであり、また結晶粒径が1〜5μmと大
きいため、素体中の気孔率が大きくなるとともに結晶粒
子1個当たりにかかる電界強度が大きくなり、絶縁破壊
強度:30kv/mであり、満足のできる値ではない。
0g Saw’s系発明が解決しようとする課題 しかし、これらの組成は、例えば0.09BaOO,5
6TiOz 0.35NdOzzxの組成比からな
る誘電体材料を使用し、円板形磁器コンデンサを作製す
ると、誘電率二67、良好度Q : 3000、静電容
量温度係数: N40ppm /”c、絶縁抵抗: 8
.0XlO”Ωであり、また結晶粒径が1〜5μmと大
きいため、素体中の気孔率が大きくなるとともに結晶粒
子1個当たりにかかる電界強度が大きくなり、絶縁破壊
強度:30kv/mであり、満足のできる値ではない。
課題を解決するための手段
これらの課題を解決するために本発明は、一般式
%式%
(ZrOz)a l zRe037gと表した時(
ただし、X+y + z−1−rn呉0.30、O,0
01$n≦0.200 、ReはLa、 Pr、 Nd
、 Swaから選ばれる−・種以上の希土類元素。
ただし、X+y + z−1−rn呉0.30、O,0
01$n≦0.200 、ReはLa、 Pr、 Nd
、 Swaから選ばれる−・種以上の希土類元素。
)、x、y−zが以1゛に表1′□各点a、b、c、d
、e、ffで囲まれるモル比の範囲からなることを特徴
とする誘電体磁器組成物を提案するものである。
、e、ffで囲まれるモル比の範囲からなることを特徴
とする誘電体磁器組成物を提案するものである。
作用
第1図は本発明にかかる組成物の4゛戒分の組成範囲を
示す二元図であり、主成分の組成範囲41Il定した理
lJpを第1図を参照しながら説明する。ずな才つち、
穴領域では焼結が署しく困難である。j、た、■3領域
では良好度Qが低下し実用的でなくなる。さらに、C,
D領域では静電界を温度係数がマイナス側に大きくなり
すぎて実用的でなくなる。
示す二元図であり、主成分の組成範囲41Il定した理
lJpを第1図を参照しながら説明する。ずな才つち、
穴領域では焼結が署しく困難である。j、た、■3領域
では良好度Qが低下し実用的でなくなる。さらに、C,
D領域では静電界を温度係数がマイナス側に大きくなり
すぎて実用的でなくなる。
そしく、R領域では静電界量温度係数がプラス力向に移
行するが、誘電率が小さく実用的でなくなる。また、R
eZLa、 Pr、 Ni1. Smから選ぶことによ
り、La、 Pr、 Nd、 S−の類C誘電率を大き
く下げることなく、静電容量温度係数をブラスブJ向に
移行することが勾能であり、41、a、 Pr、 Nd
、軸の1種あるいはそれらの組合せにより静電界量温度
係数の調節が61能である。
行するが、誘電率が小さく実用的でなくなる。また、R
eZLa、 Pr、 Ni1. Smから選ぶことによ
り、La、 Pr、 Nd、 S−の類C誘電率を大き
く下げることなく、静電容量温度係数をブラスブJ向に
移行することが勾能であり、41、a、 Pr、 Nd
、軸の1種あるいはそれらの組合せにより静電界量温度
係数の調節が61能である。
また、BaOをCaOで置ttA5“ることにより、誘
電率、静1を容JHX度係数、絶縁破壊強度の41豹を
大Δく変えることなく、良好度Ωを1iil 、、hさ
旺、絶縁抵IAを高くする効果をイイしているが、その
許換串n1が0.01未満では置換効果はなく、一方0
.30を超えると良好度Ω、絶縁抵抗が低下し、4静電
界M温度係数もマイナス側に大きくなりすぎ実用的でな
(なる。
電率、静1を容JHX度係数、絶縁破壊強度の41豹を
大Δく変えることなく、良好度Ωを1iil 、、hさ
旺、絶縁抵IAを高くする効果をイイしているが、その
許換串n1が0.01未満では置換効果はなく、一方0
.30を超えると良好度Ω、絶縁抵抗が低下し、4静電
界M温度係数もマイナス側に大きくなりすぎ実用的でな
(なる。
さらに、Tie、をZrOzで置換することにより、誘
電率、良好度Q、静電容置温度係数、絶縁抵tJ′14
の値を大券く変えることなく、結晶粒往を小さくし、絶
縁破壊強度を大きくする効果を有して(1)るが、モ
置換車 7 未満 ′II換効果はなく2−・方
0.200を超えると誘電率、長杆度Ω、絶縁抵抗が低
下する。
電率、良好度Q、静電容置温度係数、絶縁抵tJ′14
の値を大券く変えることなく、結晶粒往を小さくし、絶
縁破壊強度を大きくする効果を有して(1)るが、モ
置換車 7 未満 ′II換効果はなく2−・方
0.200を超えると誘電率、長杆度Ω、絶縁抵抗が低
下する。
実施例
以下に、本発明を具体的実施例により説明゛づる。
(実施例1)
まず、出発原糾番こは化学的に高純度のBJI COs
rCaCOs+丁Log、 ZrO*+ La=03
. PF*0+t+ Ndz03およびS、m1O1粉
末を一ト記の第1表に示す11威比しなるように押目し
、めのうボールを備えたゴム内張りのポール泉ルに純水
εεもに入れ、湿式混合後、脱水乾燥した。この乾燥粉
末を高アルミJ・質のルツボC,″入れ、す気巾で目0
0℃に゛(2時間仮焼した。
rCaCOs+丁Log、 ZrO*+ La=03
. PF*0+t+ Ndz03およびS、m1O1粉
末を一ト記の第1表に示す11威比しなるように押目し
、めのうボールを備えたゴム内張りのポール泉ルに純水
εεもに入れ、湿式混合後、脱水乾燥した。この乾燥粉
末を高アルミJ・質のルツボC,″入れ、す気巾で目0
0℃に゛(2時間仮焼した。
ごの仮焼粉、$:、i:、めのうポールを鑞えたゴム内
張りのボルル逅ルに純水とともに入れ、湿式粉砕後、脱
水乾燥した。こ0)粉砕粉果に、有機バインダーを加え
、χJWとした後1,32メンシ10)ふるいを通しで
Vt1(、、金製と油性ブレスを用いて酸形圧力l t
on / eJ−ご直径15mm、 PI:み0.4m
mに成形し、た。次いで、成形円板をシルク:−7粉宋
を敷いたアルミナ質のサヤに入れ、空気中に゛ζ下記σ
〕第1表に示す温度で2時間焼成j2、第1表に示ずl
l戒比の誘電体磁器を得た。
張りのボルル逅ルに純水とともに入れ、湿式粉砕後、脱
水乾燥した。こ0)粉砕粉果に、有機バインダーを加え
、χJWとした後1,32メンシ10)ふるいを通しで
Vt1(、、金製と油性ブレスを用いて酸形圧力l t
on / eJ−ご直径15mm、 PI:み0.4m
mに成形し、た。次いで、成形円板をシルク:−7粉宋
を敷いたアルミナ質のサヤに入れ、空気中に゛ζ下記σ
〕第1表に示す温度で2時間焼成j2、第1表に示ずl
l戒比の誘電体磁器を得た。
二〇)ようにして得られた講電体研器円板は、j9みと
直径を測定し、誘電率、良好度Q、Ill電容植温度係
数測定用試料は、誘電体磁!iiP]板の両開全体に銀
電極を焼き伺け、絶縁抵抗、絶U破壊強度測定用試料は
、誘電体磁器円板の外周より内側に1mの暢で!!電極
のなむ)部分を設の、銀電極を焼き(4げた。そして、
誘電率、良好度Ω、静電界量温度係数心よ、横側・ヒx
L/ツト・バンカー1′卸製デジタルi、、 c r、
’メータのモデル4275八杏使用り、。
直径を測定し、誘電率、良好度Q、Ill電容植温度係
数測定用試料は、誘電体磁!iiP]板の両開全体に銀
電極を焼き伺け、絶縁抵抗、絶U破壊強度測定用試料は
、誘電体磁器円板の外周より内側に1mの暢で!!電極
のなむ)部分を設の、銀電極を焼き(4げた。そして、
誘電率、良好度Ω、静電界量温度係数心よ、横側・ヒx
L/ツト・バンカー1′卸製デジタルi、、 c r、
’メータのモデル4275八杏使用り、。
測定温度20″C5測定電圧1 、OVrms、測定周
波数IMHzでの測定より求めた。なお、静電容量温度
係数は、20゛Cと85°Cの静電容量を測定し、次式
により求めた。
波数IMHzでの測定より求めた。なお、静電容量温度
係数は、20゛Cと85°Cの静電容量を測定し、次式
により求めた。
TC= (C−Co)/CoX1/65X10″TC:
静電容量温度係数(ρpm/”C)Co:2Q°Cでの
静電容量(pF) C:85°Cでの静電容量(pF) また、誘電率は次式より求めた。
静電容量温度係数(ρpm/”C)Co:2Q°Cでの
静電容量(pF) C:85°Cでの静電容量(pF) また、誘電率は次式より求めた。
K= 143.8XCoXt/D”
K :誘電率
Co:20℃での静電容量(pP)
D :誘電体磁器の直径(III)
t :誘電体磁器の厚み(閣)
さらに、絶縁抵抗は、横側・ヒユーレット・パラカード
■製HRメータのモデル4329 Aを使用し、測定電
圧50V、D、C,、測定時間1分間による測定より求
めた。
■製HRメータのモデル4329 Aを使用し、測定電
圧50V、D、C,、測定時間1分間による測定より求
めた。
そして、絶縁破壊強度は、菊水電子工業株製高電圧電源
PH535に一3形を使用し、試料をシリコンオイル中
に入れ、昇圧速度50V/seeにより求めた絶縁破壊
電圧を誘電体厚みで除算し、l陽当りの絶縁破壊強度と
した。
PH535に一3形を使用し、試料をシリコンオイル中
に入れ、昇圧速度50V/seeにより求めた絶縁破壊
電圧を誘電体厚みで除算し、l陽当りの絶縁破壊強度と
した。
また、結晶粒径は、倍率400での光学顕微鏡観察より
求めた。
求めた。
試験条件を第1表に併せて示し、試験結果を下記の第2
表に示す。
表に示す。
(以下余白)
く第1表〉
〈第2表〉
なお、実施例における誘電体磁器の作製方法では、Ba
COx、 CaC0!+ Ti1t、 Zr01. L
at、1Pr*O+++Ndオ0.および5mg02を
使用したが、この方法に限定されるものではなく、所望
のm酸比になるように、BaTi0)などの化合物、あ
るいは炭酸塩、水酸化物など空気中での加熱により、B
ad、 Cab、 Ti01ZrOz+ LazOz+
Pr1O+++ Nd*OsおよびSs@02となる
化合物を使用しても実施例と同程度の特性を得ることが
できる。
COx、 CaC0!+ Ti1t、 Zr01. L
at、1Pr*O+++Ndオ0.および5mg02を
使用したが、この方法に限定されるものではなく、所望
のm酸比になるように、BaTi0)などの化合物、あ
るいは炭酸塩、水酸化物など空気中での加熱により、B
ad、 Cab、 Ti01ZrOz+ LazOz+
Pr1O+++ Nd*OsおよびSs@02となる
化合物を使用しても実施例と同程度の特性を得ることが
できる。
また、上述の基本組成のほかに、SiO□MnO□Pe
gOz、 ZnOなど一般にフラックスと考えられてい
る塩類、酸化物などを、特性を損なわない範囲で加える
こともできる。
gOz、 ZnOなど一般にフラックスと考えられてい
る塩類、酸化物などを、特性を損なわない範囲で加える
こともできる。
発明の効果
以上のように本発明によれば、誘電率、絶縁抵抗、絶縁
破壊電圧が高く、良好度Qにすぐれ、静電容量温度係数
が小さいため、製品の小型化、大容量化、特性向上が可
能である。
破壊電圧が高く、良好度Qにすぐれ、静電容量温度係数
が小さいため、製品の小型化、大容量化、特性向上が可
能である。
第1図は本発明にかかる組成物の主成分の組威範囲を説
明する 元図である。
明する 元図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 一般式 x[(BaO)_(_1_−_m_)(CaO)_m]
−y[(TiO_2)_(_1_−_n_)(ZrO_
2)_n]−zReO_3_/_2と表した時(ただし
、x+y+z=1.00、0.01≦m≦0.30、0
.001≦n≦0.200、ReはLa,Pr,Nd,
Smから選ばれる一種以上の希土類元素。)、x,y,
zが以下に表す各点a,b,c,d,e,fで囲まれる
モル比の範囲からなることを特徴とする誘電体磁器組成
物。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2061461A JPH03263706A (ja) | 1990-03-13 | 1990-03-13 | 誘電体磁器組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2061461A JPH03263706A (ja) | 1990-03-13 | 1990-03-13 | 誘電体磁器組成物 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03263706A true JPH03263706A (ja) | 1991-11-25 |
Family
ID=13171698
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2061461A Pending JPH03263706A (ja) | 1990-03-13 | 1990-03-13 | 誘電体磁器組成物 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03263706A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007261893A (ja) * | 2006-03-29 | 2007-10-11 | Ntn Corp | 誘電体セラミックスおよびその製造方法 |
-
1990
- 1990-03-13 JP JP2061461A patent/JPH03263706A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007261893A (ja) * | 2006-03-29 | 2007-10-11 | Ntn Corp | 誘電体セラミックスおよびその製造方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4101952A (en) | Monolithic base-metal glass-ceramic capacitor | |
| JPH03263706A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPH04188506A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
| JPH0467514A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPH042007A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JP2936661B2 (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPH03219502A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPH04174907A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPH03214507A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JP2568565B2 (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPH02242522A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPH02242523A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPH0323261A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
| JPH0451408A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JP4782539B2 (ja) | 誘電体磁器 | |
| JPH0482102A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPH04174908A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPH02267166A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
| JP2917454B2 (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JP2900687B2 (ja) | 半導体磁器組成物及びその製造方法 | |
| JPH04174906A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPH02242517A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPH02242516A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPH0323258A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPH02267164A (ja) | 誘電体磁器組成物 |