JPH0328510Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0328510Y2
JPH0328510Y2 JP1987151522U JP15152287U JPH0328510Y2 JP H0328510 Y2 JPH0328510 Y2 JP H0328510Y2 JP 1987151522 U JP1987151522 U JP 1987151522U JP 15152287 U JP15152287 U JP 15152287U JP H0328510 Y2 JPH0328510 Y2 JP H0328510Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
heat sink
insulator
resin body
external leads
external
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP1987151522U
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS6371548U (en
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP1987151522U priority Critical patent/JPH0328510Y2/ja
Publication of JPS6371548U publication Critical patent/JPS6371548U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0328510Y2 publication Critical patent/JPH0328510Y2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W90/00Package configurations
    • H10W90/701Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
    • H10W90/751Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
    • H10W90/756Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink

Landscapes

  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 「技術分野」 本考案は、高耐圧半導体装置に適した形状およ
び構造を有する絶縁物封止半導体装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Technical Field] The present invention relates to an insulator-sealed semiconductor device having a shape and structure suitable for a high-voltage semiconductor device.

「従来技術」 第1図〜第5図は従来の樹脂モールド形パワー
トランジスタの1例を示すもので、第1図と第2
図はモールドされた樹脂体のない状態、第3図〜
第5図はモールドされた樹脂体のある状態であ
る。第1図と第3図は平面図、第2図と第4図は
それぞれ第1図と第3図のA−A線断面図、第5
図は第3図に対応する正面図である。第1図と第
2図にはモールドされた樹脂体の外形を破線で示
している。
"Prior Art" Figures 1 to 5 show an example of a conventional resin-molded power transistor.
The figure shows the state without the molded resin body, Figure 3~
FIG. 5 shows a molded resin body. Figures 1 and 3 are plan views, Figures 2 and 4 are cross-sectional views taken along line A-A in Figures 1 and 3, and Figure 5 is a plan view.
The figure is a front view corresponding to FIG. 3. In FIGS. 1 and 2, the outer shape of the molded resin body is shown by broken lines.

裏面をコレクタ電極とするトランジスタチツプ
1が放熱板2の上に固着されており、放熱板2か
らコレクタリードとなる外部リード3が延びてい
る。外部リード3と並列配置された外部リード
4,5は、それぞれベースリードとエミツタリー
ドであり、トランジスタチツプ1の表面のベース
電極あるいはエミツタ電極との間はそれぞれ内部
リード線6,7で接続されている。トランジスタ
チツプ1は樹脂体8でモールド(封止)されてお
り、外部リード3,4,5は樹脂体8から1平面
上に並列して導出されている。
A transistor chip 1 whose back surface serves as a collector electrode is fixed on a heat sink 2, and an external lead 3 serving as a collector lead extends from the heat sink 2. External leads 4 and 5 arranged in parallel with the external lead 3 are a base lead and an emitter lead, respectively, and are connected to the base electrode or emitter electrode on the surface of the transistor chip 1 by internal lead wires 6 and 7, respectively. . The transistor chip 1 is molded (sealed) with a resin body 8, and external leads 3, 4, and 5 are led out from the resin body 8 in parallel on one plane.

外部リード3,4,5は樹脂体8からの導出側
が幅広部3a,4a,5aとなつており、そこか
ら先端側が幅狭部3b,4b,5bとなつてい
る。幅広部3a,4a,5aは、外部リードに外
力が加わつてもあるいは加えても樹脂体8からの
導出部近傍で外部リードが変形し難いように補強
するためのものである。幅広部3a,4a,5a
は、それぞれの幅狭部3b,4b,5bを樹脂体
8まで延長した部分の両側に張出した形状であ
る。幅狭部3b,4b,5bは、実質的に外部へ
の接続端子として使われる部分であり、かなり幅
を狭くしてリード線として必要な柔軟性を持たせ
ている。外部リード4,5の放熱板2に隣接する
部分は、内部リード線6,7を接続するための端
子部4c,5cとなつている。
The external leads 3, 4, and 5 have wide portions 3a, 4a, and 5a on the side leading out from the resin body 8, and narrow portions 3b, 4b, and 5b on the tip side thereof. The wide portions 3a, 4a, and 5a are for reinforcing the external lead so that it is not easily deformed in the vicinity of the lead-out portion from the resin body 8 even if an external force is applied to the external lead. Wide parts 3a, 4a, 5a
is a shape in which the narrow portions 3b, 4b, 5b extend to both sides of the resin body 8. The narrow portions 3b, 4b, and 5b are portions that are essentially used as connection terminals to the outside, and are made considerably narrower to provide flexibility necessary for lead wires. Portions of the external leads 4 and 5 adjacent to the heat sink 2 serve as terminal portions 4c and 5c for connecting the internal lead wires 6 and 7.

放熱板2には孔9が形成されており、孔9を貫
通するように樹脂体8の一部で取付け孔10が形
成されている。パワートランジスタを外部放熱体
等にネジ止め等するために必要な取付け孔10
は、1例として直径3.1mmの大きさが必要である。
そのためには、孔9の周囲に形成される樹脂体8
aがネジ止めによるしめつけに耐える強度を持つ
厚さとなるように、孔9は直径4.1mm以上の大き
さに形成しておかなければならない。この場合、
孔9を通常行われるように機械的に打抜いて形成
するためには、孔9を形成すべき部分において放
熱板2にかなりの強度が要求される。すなわち、
放熱板2の厚さが0.4〜1.0mmの場合、孔9の中心
から放熱板2の上端までの長さ(第1図のH)が
4mm以上必要である。また、放熱板2の端には、
製造過程で多数の放熱板2を並列・一体化してお
くために必要であつた放熱板連結部の残存部1
1,12が放熱板2の一部として形成されてお
り、樹脂体8から突出している。
A hole 9 is formed in the heat sink 2, and a mounting hole 10 is formed in a part of the resin body 8 so as to pass through the hole 9. Mounting holes 10 necessary for screwing the power transistor to an external heat sink, etc.
For example, a diameter of 3.1 mm is required.
For this purpose, a resin body 8 formed around the hole 9 is required.
The hole 9 must be formed to have a diameter of 4.1 mm or more so that a has a thickness strong enough to withstand tightening with screws. in this case,
In order to form the holes 9 by mechanical punching as is normally done, the heat sink 2 is required to have considerable strength in the portion where the holes 9 are to be formed. That is,
When the thickness of the heat sink 2 is 0.4 to 1.0 mm, the length from the center of the hole 9 to the upper end of the heat sink 2 (H in FIG. 1) must be 4 mm or more. Also, at the end of the heat sink 2,
Remaining part 1 of the heat sink connection part that was necessary to keep a large number of heat sinks 2 in parallel and integrated during the manufacturing process
1 and 12 are formed as part of the heat sink 2 and protrude from the resin body 8.

ところで、トランジスタチツプ1に高耐圧のも
のを使用したとき、高電圧の印加される2点を樹
脂体8の表面に沿つて結ぶ最短距離、いわゆる沿
面距離が問題となる。すなわち、沿面距離が短い
と、悪条件下の使用では樹脂体8の表面を電流通
路とする絶縁耐圧不良が発生してしまう。したが
つて、耐圧400V以上の製品では、沿面距離を2
mm以上取るのが望ましい。
By the way, when a high-voltage transistor chip 1 is used, the shortest distance connecting two points to which high voltage is applied along the surface of the resin body 8, the so-called creepage distance, becomes a problem. That is, if the creepage distance is short, when the resin body 8 is used under adverse conditions, a breakdown voltage failure occurs due to the surface of the resin body 8 serving as a current path. Therefore, for products with a withstand voltage of 400V or more, the creepage distance should be set to 2.
It is desirable to take at least mm.

しかし、上記従来構造では、パワートランジス
タを放熱板2の底面に絶縁シートを介して外部放
熱体にネジ止めした場合でも、孔9の周囲に樹脂
体8aの表面において、取付け孔10に差込まれ
たネジと放熱板2の間、すなわち外部放熱体とパ
ワートランジスタのコレクタの間で絶縁耐圧不良
を発生しやすい。樹脂体8aを厚くしてこの部分
の沿面距離を大きく取ればこの問題は解決する
が、そのためには孔9の径を大きくしなければな
らず、その分第1図のHが大きくなつて、樹脂体
8の平面サイズが大きくなつてしまう。
However, in the conventional structure described above, even when the power transistor is screwed to the external heat sink through an insulating sheet on the bottom of the heat sink 2, the power transistor is inserted into the mounting hole 10 on the surface of the resin body 8a around the hole 9. A dielectric strength failure is likely to occur between the external heat sink and the heat sink 2, that is, between the external heat sink and the collector of the power transistor. This problem can be solved by making the resin body 8a thicker and increasing the creepage distance of this part, but this requires increasing the diameter of the hole 9, which increases H in Fig. 1 accordingly. The planar size of the resin body 8 becomes large.

「考案の目的および特徴」 本考案は、上記従来の欠点を解消して、外部放
熱体との間の沿面距離を大きく取れる絶縁物封止
半導体装置を提供することを目的とする。
"Objective and Features of the Invention" An object of the present invention is to eliminate the above-mentioned conventional drawbacks and provide an insulator-sealed semiconductor device that can provide a large creepage distance with an external heat sink.

本考案は、以下で実施例について説明するよう
に、放熱板の形状とモールドされた絶縁物の形状
に特徴を有する絶縁物封止半導体装置である。
The present invention is an insulator-sealed semiconductor device characterized by the shape of a heat sink and the shape of a molded insulator, as will be described below with reference to embodiments.

「実施例」 第6図〜第10図は、本考案の1実施例に係る
樹脂モールド形パワートランジスタを示すもの
で、第1図〜第5図の従来構造にそれぞれ対応し
ている。したがつて、同一箇所には同一符号を付
し、その説明を省略する。なお、従来例を含むす
べての断面は実質的に同一箇所であるので、これ
らに共通する形でA−A線断面と表示した。
Embodiment FIGS. 6 to 10 show a resin-molded power transistor according to an embodiment of the present invention, and correspond to the conventional structures shown in FIGS. 1 to 5, respectively. Therefore, the same parts are given the same reference numerals and their explanations will be omitted. In addition, since all the cross sections including the conventional example have substantially the same location, they are expressed as a cross section along the line A-A in a common manner.

放熱板2は、肉厚部2aと肉薄部2bに2分さ
れている。肉厚部2aにはトランジスタチツプ1
が固着されている。肉薄部2bにはU字形状の凹
部13が形成されている。肉薄部2bには凹部1
3の底部と頂部の途中に折曲げ部を有し、この折
曲げ部から放熱板連結部の残存部11,12まで
は放熱板の肉厚部2aのトランジスタチツプ1側
の上方に偏位させられている。放熱板の肉薄部と
同様の薄板状部材で形成されたリード線3,4,
5についても、同様に偏位させられている。放熱
板の肉厚部2aの底面側には樹脂体8が厚さ1mm
以下(例えば0.5mm)の薄板状に形成されており、
このパワートランジスタを外部放熱体に取りつけ
るときに、この部分に絶縁シートを置く必要がな
い構造としている。この結果、外部リード線3,
4,5と放熱板連結部の残存部11,12が樹脂
体8から突出している以外には、このパワートラ
ンジスタの外表面はすべて樹脂体8で覆われてい
る。
The heat sink 2 is divided into two parts, a thick part 2a and a thin part 2b. A transistor chip 1 is installed in the thick portion 2a.
is fixed. A U-shaped recess 13 is formed in the thin portion 2b. There is a recess 1 in the thin part 2b.
3 has a bent part midway between the bottom and top of the heat sink, and the portion from this bent part to the remaining parts 11 and 12 of the heat sink connecting part is offset upward on the transistor chip 1 side of the thick part 2a of the heat sink. It is being Lead wires 3, 4, formed of a thin plate-like member similar to the thin part of the heat sink.
5 is similarly deviated. A resin body 8 with a thickness of 1 mm is placed on the bottom side of the thick part 2a of the heat sink.
It is formed into a thin plate shape with a diameter of 0.5mm or less (for example, 0.5mm),
This structure eliminates the need to place an insulating sheet on this part when attaching this power transistor to an external heat sink. As a result, the external lead wire 3,
The outer surface of this power transistor is entirely covered with the resin body 8 except for the remaining portions 11 and 12 of the heat sink connecting portions 4 and 5 protruding from the resin body 8.

放熱板の凹部13の位置には、樹脂体8の一部
によつて凹部13を貫通するように取付け孔10
が形成されている。取付け孔10は外付けの絶縁
ブツシユをはめ込んだ上でネジ止め等をする必要
のない構造である。また、取付け孔10の部分を
補強するために、第6図と第8図の平面状態で見
たとき取付け孔10が凹部13に完全に収容され
るようになつている。
A mounting hole 10 is formed at the position of the recess 13 of the heat sink so that the recess 13 is penetrated by a part of the resin body 8.
is formed. The mounting hole 10 has a structure in which it is not necessary to fit an external insulating bushing and then tighten it with a screw. Further, in order to reinforce the mounting hole 10, the mounting hole 10 is completely accommodated in the recess 13 when viewed in plan view in FIGS. 6 and 8.

中央に位置する外部リード3については、幅広
部3aが幅狭部3bを樹脂体8まで延長した部分
の両側に張出している。上側に位置する外部リー
ド4については、幅広部4aは幅狭部4bを樹脂
体8まで延長した部分の上側(外部リード3に対
面する側とは反対側)にのみ張出しており、外部
リード4の下側面は樹脂体8から先端まで直線的
に延びている。このため、外部リード4は直線状
の外部リードと見なせる範囲のものである。下側
に位置する外部リード5については、上下の違い
があるだけで、外部リード4と同じである。
Regarding the external lead 3 located at the center, the wide portion 3a extends to both sides of the portion where the narrow portion 3b extends to the resin body 8. Regarding the external lead 4 located on the upper side, the wide part 4a protrudes only above the part extending the narrow part 4b to the resin body 8 (the side opposite to the side facing the external lead 3), and the external lead 4 The lower surface extends linearly from the resin body 8 to the tip. Therefore, the external lead 4 can be regarded as a linear external lead. The external lead 5 located on the lower side is the same as the external lead 4, except for the difference in top and bottom.

なお、外部リードの幅広部3a,4a,5aに
は、第8図に対応する第11図の平面図で示すよ
うに、製造段階で外部リード同志を連結していた
部分を切断した結果として残るリード連結部の残
存部14が見られる場合が多い。しかし、外部リ
ード4の下側面と外部リード5の上側面は、それ
ぞれ樹脂体8から先端まで直線的であることにつ
いては変りがなく、外部リード4,5が直線状の
外部リードと見なせるものであることにも変りが
ない。
Note that, as shown in the plan view of FIG. 11 corresponding to FIG. 8, the wide parts 3a, 4a, and 5a of the external leads remain as a result of cutting the parts that connected the external leads together during the manufacturing stage. Residual portions 14 of lead connections are often seen. However, the lower surface of the external lead 4 and the upper surface of the external lead 5 remain linear from the resin body 8 to the tip, and the external leads 4 and 5 can be regarded as linear external leads. There is no difference.

外部リード3と4の間および外部リード3と5
の間には、樹脂体8の形状変更による段差部1
5,16を設けている。段差部15,16は、樹
脂体8に凹部17を設けることにより形成されて
おり、外部リード3を凹部17の底面から導出し
ている。外部リード4,5は、凹部17の底面に
対して相対的に凸部となる凹部17の両側からそ
れぞれ導出している。段差部15,16の設け方
としては、凹部17を逆に凸部とするなどの種々
の方法が考えられるが、樹脂体8の外形寸法や強
度に影響を与えることのない凹部17とする方法
が最も実用的である。
Between external leads 3 and 4 and external leads 3 and 5
In between, there is a stepped portion 1 due to a change in the shape of the resin body 8.
5 and 16 are provided. The stepped portions 15 and 16 are formed by providing a recess 17 in the resin body 8, and the external lead 3 is led out from the bottom of the recess 17. The external leads 4 and 5 are led out from both sides of the recess 17, which are relatively convex with respect to the bottom surface of the recess 17. Various methods can be considered for providing the stepped portions 15 and 16, such as turning the recessed portion 17 into a convex portion, but there is a method in which the recessed portion 17 is formed without affecting the external dimensions and strength of the resin body 8. is the most practical.

以上、この実施例によれば次のような効果が得
られる。
As described above, according to this embodiment, the following effects can be obtained.

(i) 取付け孔10の内周およびその近辺に放熱板
2が露出していないので、取付け孔10に差込
まれるネジと放熱板2の間の沿面距離不足によ
る絶縁耐圧不良はまつたく発生しない。
(i) Since the heat sink 2 is not exposed on the inner periphery of the mounting hole 10 or in the vicinity thereof, a breakdown voltage failure due to insufficient creepage distance between the screw inserted into the mounting hole 10 and the heat sink 2 will not occur. .

この場合、放熱板連結部の残存部11,12
と樹脂体8の底面までの沿面距離(第10図の
m)および外部リード3,4,5と樹脂体8の
底面までの沿面距離(第10図のn)がパワー
トランジスタと外部放熱体との間の絶縁耐圧を
決定することになる。沿面距離mについては、
放熱板連結部の残存部11,12を放熱板の肉
薄部2bに形成するとともに、放熱板連結部の
残存部11,12を放熱板の肉厚部2aに対し
てトランジスタチツプ1側の上方に偏位させる
ことによつて十分な長さを取つている。沿面距
離nについても、肉薄の外部リード3,4,5
を放熱板連結部の残存部11,12と同じく偏
位させることによつて十分な長さを取つてい
る。例えば、mとnを2.5mmとしている。
In this case, the remaining parts 11 and 12 of the heat sink connecting part
The creepage distance between the power transistor and the bottom of the resin body 8 (m in Figure 10) and the creepage distance between the external leads 3, 4, 5 and the bottom of the resin body 8 (n in Figure 10) are the same as those between the power transistor and the external heat sink. This will determine the dielectric strength between. Regarding the creepage distance m,
The remaining parts 11 and 12 of the heat sink connecting part are formed on the thin part 2b of the heat sink, and the remaining parts 11 and 12 of the heat sink connecting part are formed above the transistor chip 1 side with respect to the thick part 2a of the heat sink. Sufficient length is obtained by offsetting it. Regarding creepage distance n, thin external leads 3, 4, 5
A sufficient length is obtained by deviating the remaining portions 11 and 12 of the heat sink connecting portions in the same way as the remaining portions 11 and 12 of the heat sink connecting portion. For example, m and n are set to 2.5 mm.

したがつて、放熱板2の底面側に樹脂体8を
薄く形成したタイプの従来品と比べても、外部
放熱体との絶縁耐圧の面で優れている。
Therefore, even compared to conventional products in which the resin body 8 is thinly formed on the bottom side of the heat sink 2, it is superior in terms of dielectric strength with respect to an external heat sink.

(ii) 取付け孔10の形成箇所を放熱板の孔9から
凹部13に変更したことにより、従来は加工上
の制約から第1図のHが例えば4mm以上必要で
あつたものが、この制約がなくなつた。そこ
で、Hに相当する第6図のhを例えば2.3mmに
短縮したが、何ら問題は生じなかつた。したが
つて、第8図における樹脂体8の平面サイズを
小さくすることができ、小形軽量化が達成され
ている。放熱板2の材料削減によつてコストダ
ウンもはかられている。また、放熱板2を肉厚
部2aと肉薄部2bに2分して肉薄部2bに凹
部13を形成していることにより、放熱板2の
材料削減に伴う軽量化およびコストダウンの効
果が一層大きくなつている。
(ii) By changing the formation location of the mounting hole 10 from the hole 9 of the heat sink plate to the recess 13, H in Fig. 1 was previously required to be 4 mm or more due to processing constraints, but this constraint has been removed. It's gone. Therefore, h in FIG. 6, which corresponds to H, was shortened to, for example, 2.3 mm, but no problem occurred. Therefore, the planar size of the resin body 8 in FIG. 8 can be reduced, and a reduction in size and weight is achieved. Cost reduction is also achieved by reducing the material used for the heat sink 2. In addition, by dividing the heat sink 2 into a thick wall portion 2a and a thin wall portion 2b and forming a recess 13 in the thin wall portion 2b, the effect of weight reduction and cost reduction due to material reduction of the heat sink 2 is further enhanced. It's getting bigger.

なお、第1図のHに対応する部分の放熱板2
は、構造上、あまり放熱効果を発揮していな
い。したがつて、この実施例のように、第6図
のhに対応する部分の放熱板2を肉薄部2bと
するとともにできるだけ小面積とし、放熱能力
は肉厚部2aの厚みと面積によつて調整するの
が合理的である。このため、肉薄部2bはもは
や放熱板とは言えない面もあるが、ここでは便
宜上、放熱板2の一部と見なしている。
Note that the portion of the heat sink 2 corresponding to H in FIG.
Due to its structure, it does not have much heat dissipation effect. Therefore, as in this embodiment, the heat dissipation plate 2 in the portion corresponding to h in FIG. It is reasonable to make adjustments. For this reason, although the thin portion 2b can no longer be called a heat sink, it is considered to be a part of the heat sink 2 for the sake of convenience.

(iii) 外部リード間の沿面距離も、外部リード間の
樹脂体8の表面での絶縁耐圧を確保するために
重要である。しかし、外部リードの幅広部3
a,4a,5aの幅は、補強部としての効果を
持たせるために小さくするにも限度がある。ま
た、外部リード3,4,5の間隔は、半導体装
置の小形化の要求に応えるために樹脂体8の幅
をできるだけ小さく設計する必要のあることか
ら、大きくするにも限度がある。しかも、外部
リードの間隔は、業界としての標準的な値があ
つて設計の自由度がない場合も多い。このた
め、特に小形の樹脂モールド形パワートランジ
スタでは、その耐圧からすると外部リード間の
沿面距離が不足している場合がある。
(iii) The creepage distance between the external leads is also important in order to ensure dielectric strength on the surface of the resin body 8 between the external leads. However, the wide part 3 of the external lead
There is a limit to how small the widths of a, 4a, and 5a can be in order to have the effect of reinforcing parts. Furthermore, there is a limit to the distance between the external leads 3, 4, and 5 because it is necessary to design the width of the resin body 8 to be as small as possible in order to meet the demand for miniaturization of semiconductor devices. Moreover, the spacing between external leads often has a standard value as an industry, and there is often no freedom in design. For this reason, especially in small resin-molded power transistors, the creepage distance between the external leads may be insufficient considering the withstand voltage.

そこで、外部リードの幅広部4a,5aの張
出し形状を直線状の外部リードと見なせる範囲
で変更して、直線状の外部リードのもつ取扱い
の容易さを損なうことなく外部リード間の沿面
距離を大きく取つている。また、樹脂体8に凹
部17を形成したことによる段差部15,16
によつても外部リード間の沿面距離を大きく取
つている。1例として、外部リードの間隔を
2.54mm、外部リードの幅広部の幅を1.4mm、外
部リードの幅狭部の幅を0.7mm、段差部15,
16の長さ(凹部17の深さ)を0.6mmとする
と、外部リード間の沿面距離は2.09mmとなる。
同じ条件で従来構造であれば、外部リード間の
沿面距離は1.14mmである。
Therefore, by changing the overhanging shape of the wide parts 4a and 5a of the external leads to the extent that they can be considered as linear external leads, the creepage distance between the external leads can be increased without compromising the ease of handling that linear external leads have. I'm taking it. Furthermore, the stepped portions 15 and 16 due to the formation of the recessed portion 17 in the resin body 8
Also, the creepage distance between the external leads is large. As an example, the spacing of external leads
2.54mm, the width of the wide part of the external lead is 1.4mm, the width of the narrow part of the external lead is 0.7mm, the stepped part 15,
16 (depth of recess 17) is 0.6 mm, the creepage distance between the external leads is 2.09 mm.
Under the same conditions and with the conventional structure, the creepage distance between external leads is 1.14mm.

(iv) 樹脂体8の外部リードが導出された側と反対
の側面と放熱板2の折曲げ部との間隔が、折曲
げ部と放熱板2の肉厚部2aとの間隔よりも大
きくなつている。結果として、放熱板2の折曲
げ部を樹脂体8の側面から離れさせることがで
き、放熱板連結部の破断時に折曲げ部近傍の樹
脂体8に亀裂や割れが生じることが防止され
る。このため、長期間にわたつて使用しても特
性低下等が生じない信頼性の高い樹脂モールド
型パワートランジスタを提供できる。
(iv) The distance between the side surface of the resin body 8 opposite to the side from which the external leads are led out and the bent portion of the heat sink 2 is larger than the distance between the bent portion and the thick wall portion 2a of the heat sink 2. ing. As a result, the bent portion of the heat radiating plate 2 can be separated from the side surface of the resin body 8, and cracks and cracks are prevented from occurring in the resin body 8 near the bent portion when the heat radiating plate connection portion is broken. Therefore, it is possible to provide a highly reliable resin-molded power transistor that does not suffer from characteristic deterioration even after long-term use.

「考案の効果」 以上実施例について説明したように、本考案に
よれば、放熱板連結部の残存部の露出部および外
部リードの導出部以外は放熱板および外部リード
の露出部分が実質的になく、かつ放熱板連結部の
残存部の露出部分および外部リードの導出部と樹
脂体の底面との沿面距離が増大した絶縁物封止半
導体装置が得られる。したがつて、絶縁物封止半
導体装置と外部放熱体との絶縁耐圧が増大し、高
耐圧の半導体素子を組込むのに好適な絶縁物封止
半導体装置を提供することができる。また、放熱
板の折曲げ部が絶縁物の側面から離間しているの
で、放熱板連結部の破断時に折曲げ部近傍の絶縁
物に亀裂や割れが生じ難い構造の絶縁物封止半導
体装置を提供できる。
"Effects of the Invention" As described above in the embodiments, according to the present invention, the exposed parts of the heat sink and external leads are substantially Thus, an insulator-sealed semiconductor device can be obtained in which the creepage distance between the exposed portion of the remaining portion of the heat sink connecting portion and the lead-out portion of the external lead and the bottom surface of the resin body is increased. Therefore, the dielectric strength between the insulator-sealed semiconductor device and the external heat sink is increased, and it is possible to provide an insulator-sealed semiconductor device suitable for incorporating a high-voltage semiconductor element. In addition, since the bent portion of the heat sink is spaced apart from the side surface of the insulator, it is possible to create an insulator-sealed semiconductor device with a structure in which cracks or cracks do not easily occur in the insulator near the bent portion when the heat sink connecting portion breaks. Can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図〜第5図は従来の絶縁物封止半導体装置
を示す。第6図〜第11図は本考案に係る絶縁物
封止半導体装置を示す。なお、第1図、第2図、
第6図および第7図の破線は、絶縁物の外形を示
している。 1はパワートランジスタチツプ(半導体素子)、
2は放熱板、2aは放熱板の肉厚部、2bは放熱
板の肉薄部、3,4,5は外部リード、3a,4
a,5aは外部リードの幅広部、3b,4b,5
bは外部リードの幅狭部、4c,5cは外部リー
ドの内部リード線用端子部、6,7は内部リード
線、8は樹脂体(絶縁物)、9は放熱板の孔9、
8aは孔9の周囲に形成された樹脂体、10は取
付け孔、11,12は放熱板連結部の残存部、1
3は放熱板の凹部、14はリード連結部の残存
部、15,16は樹脂体の段差部、17は樹脂体
の凹部。
1 to 5 show conventional insulator-sealed semiconductor devices. 6 to 11 show an insulator-sealed semiconductor device according to the present invention. In addition, Fig. 1, Fig. 2,
The broken lines in FIGS. 6 and 7 indicate the outer shape of the insulator. 1 is a power transistor chip (semiconductor element),
2 is a heat sink, 2a is a thick part of the heat sink, 2b is a thin part of the heat sink, 3, 4, 5 are external leads, 3a, 4
a, 5a are wide parts of external leads, 3b, 4b, 5
b is the narrow part of the external lead, 4c and 5c are the terminal parts for the internal lead wire of the external lead, 6 and 7 are the internal lead wires, 8 is the resin body (insulator), 9 is the hole 9 in the heat sink,
8a is a resin body formed around the hole 9, 10 is a mounting hole, 11 and 12 are remaining parts of the heat sink connecting part, 1
3 is a concave portion of the heat sink, 14 is a remaining portion of the lead connection portion, 15 and 16 are stepped portions of the resin body, and 17 is a concave portion of the resin body.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 一方の主面に半導体素子が固着された肉厚部と
先端部分に放熱板連結部の残存部を有する肉薄部
とを備えた放熱板と、前記放熱板の肉厚部よりも
薄い板状部材から形成された複数の外部リードと
を具備し、前記放熱板の肉薄部は折曲げ部を有し
て前記放熱板連結部の残存部を含む先端側が前記
放熱板の肉厚部の前記一方の主面よりも上方に偏
位しており、前記半導体素子は絶縁物に封止さ
れ、前記放熱板連結部の残存部は前記放熱板の肉
厚部の前記一方の主面よりも上方に偏位した位置
において前記絶縁物から露出した露出部を有し、
前記複数の外部リードは前記放熱板の肉厚部の前
記一方の主面から上方に偏位した位置において前
記絶縁物から導出した導出部を有し、前記放熱板
連結部の残存部の露出部及び前記複数の外部リー
ドの導出部以外では前記放熱板及び前記複数の外
部リードが前記絶縁物から露出しておらず、前記
放熱板の肉厚部の前記一方の主面とは反対側の主
面に形成された前記絶縁物の厚さが1mm以下とな
つており、前記絶縁物の前記複数の外部リードが
導出された側面とは反対の側面と前記放熱板の肉
薄部の前記折曲げ部との間隔が前記放熱板の肉薄
部の前記折曲げ部と前記放熱板の肉厚部との間隔
よりも大きくなつていることを特徴とする絶縁物
封止半導体装置。
A heat sink having a thick wall portion on one main surface of which a semiconductor element is fixed, and a thin wall portion having a remaining portion of the heat sink connecting portion at its tip, and a plate-like member that is thinner than the thick wall portion of the heat sink. and a plurality of external leads formed from the heat sink, the thin portion of the heat sink having a bent portion such that the tip side including the remaining portion of the heat sink connecting portion is connected to the one of the thick portions of the heat sink. The semiconductor element is sealed with an insulator, and the remaining portion of the heat sink connecting portion is offset above the one main surface of the thick portion of the heat sink. an exposed portion exposed from the insulator at a position where the
The plurality of external leads have a lead-out portion led out from the insulator at a position deviated upward from the one main surface of the thick portion of the heat sink, and the exposed portion of the remaining portion of the heat sink connecting portion and the heat sink and the plurality of external leads are not exposed from the insulator except for the lead-out portions of the plurality of external leads, and the main surface of the thick portion of the heat sink is opposite to the one main surface. The thickness of the insulator formed on the surface is 1 mm or less, and the bent portion of the thin portion of the heat sink and the side surface opposite to the side surface from which the plurality of external leads of the insulator are led out. An insulator-sealed semiconductor device characterized in that a distance between the bent portion of the thin portion of the heat sink and a thick portion of the heat sink is larger than a distance between the bent portion of the thin portion of the heat sink and the thick portion of the heat sink.
JP1987151522U 1987-10-02 1987-10-02 Expired JPH0328510Y2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1987151522U JPH0328510Y2 (en) 1987-10-02 1987-10-02

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1987151522U JPH0328510Y2 (en) 1987-10-02 1987-10-02

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6371548U JPS6371548U (en) 1988-05-13
JPH0328510Y2 true JPH0328510Y2 (en) 1991-06-19

Family

ID=31068673

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1987151522U Expired JPH0328510Y2 (en) 1987-10-02 1987-10-02

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0328510Y2 (en)

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS51131174U (en) * 1975-04-15 1976-10-22
JPS57147260A (en) * 1981-03-05 1982-09-11 Matsushita Electronics Corp Manufacture of resin-sealed semiconductor device and lead frame used therefor
JPS6225905Y2 (en) * 1981-04-30 1987-07-02

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6371548U (en) 1988-05-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4937656A (en) Semiconductor device
JP3646023B2 (en) High current capacity semiconductor device package and lead frame with large area connection post and improved outer shape
US6967396B1 (en) Semiconductor device
US8294208B2 (en) Semiconductor device having a gate contact on one surface electrically connected to a gate bus on an opposing surface
US20150325505A1 (en) Semiconductor device and method of manufacturing semiconductor device
US20150171000A1 (en) Semiconductor device for restraining creep-age phenomenon and fabricating method thereof
US11742251B2 (en) Power semiconductor device including press-fit connection terminal
US5063434A (en) Plastic molded type power semiconductor device
US20220148949A1 (en) Semiconductor device
US20240203808A1 (en) Semiconductor device
CN1358330A (en) Semiconductor devices with improved lead frame structures
JPS6322677Y2 (en)
JPH0328510Y2 (en)
JPS6320121Y2 (en)
JPH0527261B2 (en)
JPH0349399Y2 (en)
JPS6322678Y2 (en)
JPS6336689Y2 (en)
JPH0414939Y2 (en)
JPS615529A (en) Insulated semiconductor device
JPH0328511Y2 (en)
US20240030111A1 (en) Semiconductor package and method for fabricating a semiconductor package for upright mounting
JPS61219143A (en) Manufacture of resin sealed type semiconductor device
US20250323138A1 (en) Application board and a semiconductor package mounted thereon for reducing creepage currents
US20250105108A1 (en) Semiconductor device comprising a semiconductor die sandwiched between two leadframes and a method for fabricating the same