JPH03502726A - 集積光学干渉法 - Google Patents
集積光学干渉法Info
- Publication number
- JPH03502726A JPH03502726A JP88501812A JP50181288A JPH03502726A JP H03502726 A JPH03502726 A JP H03502726A JP 88501812 A JP88501812 A JP 88501812A JP 50181288 A JP50181288 A JP 50181288A JP H03502726 A JPH03502726 A JP H03502726A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- waveguide
- phase difference
- polarization
- sample
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/75—Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated
- G01N21/77—Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated by observing the effect on a chemical indicator
- G01N21/7703—Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated by observing the effect on a chemical indicator using reagent-clad optical fibres or optical waveguides
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N21/45—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J9/00—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
- G01J9/02—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by interferometric methods
- G01J2009/0226—Fibres
- G01J2009/023—Fibres of the integrated optical type
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J9/00—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
- G01J9/04—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by beating two waves of a same source but of different frequency and measuring the phase shift of the lower frequency obtained
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/75—Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated
- G01N21/77—Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated by observing the effect on a chemical indicator
- G01N2021/7769—Measurement method of reaction-produced change in sensor
- G01N2021/7779—Measurement method of reaction-produced change in sensor interferometric
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
集f 千を法
本発明は請求の範囲の請求項1の前提頂部分に記載の集積光学干渉法に係るもの
である。
光学的なフィルムウェーブガイドは低い屈折係数の基板の上に付着した高い屈折
係数の薄いウェーブガイドフィルムから成る。ストリップウェーブガイドは低い
屈折係数の基板の上に付着した高い屈折係数のストリップから成るか、もしくは
その基板の表面に埋め込んだストリップから成る。又、フィルムもしくはストリ
ップウェーブガイドを覆つている上層の屈折係数はフィルムもしくはストリップ
ウェーブガイドの屈折係数よりも低くなければならない、幾何光学に従って光波
はフィルム内で全内部反射によってフィルムウェーブガイド内を導かれる。スト
リップウェーブガイド内では光波は更に横方向にも導かれる。フィルムウェーブ
ガイドの重要な特別の場合は基板が平らであるプランナーウェーブガイドである
。
ウェーブオプティカルもしくはエレクトロダイナミカル理論によればウェーブガ
イド内の光波の伝播モードの形は、周波数ν、もしくは真空的波長λ−C/ν、
偏光、横フィールド分布そして位相速度V p = C/ Nによって決まって
くる。ここでCは真空内の光速度であり、モしてNはそのモードの実効屈折係数
である。プラナ−ウェーブガイドではそれらの偏光に従ってモードをTEm (
横電気)モードとTM、(横磁気)モードと称する、モード数ms++o、!、
2.・・・は異なる横フィールド分布を持つモードを示している。又ストリップ
ウェーブガイドでは異なる偏光と横フィールド分布を持つモードが伝播する。実
効屈折率Nは周波数ν、偏光、モード数そしてウェーブガイドの特性例えば基板
、上層、ウェーブガイドのフィルムやストリップの屈折係数によって、そしてフ
ィルムやストリップでは厚みと幅によって変わる。同じ周波数νの光はウェーブ
ガイド内を、異なる偏光のモードの形で、例えばプラナ−ウェーブガイド内では
同じモード数mmo、1.2.・・・のTE、モードとTM、モードとして同時
に伝播する。実効屈折係数N(TE、)とN (TM、)とは相互に異なる。
マイケルソン干渉計やマツハ・ゼンダ干渉計のような、先行技術の集積光学の2
ビーム干渉計では導かれる波もしくはモードはビームスプリッタで2つの部分波
1と2に分けられ、これらは異なる路に沿って伝播し、そしてビーム再結合器に
よって重ね合わされる。ビームスプリッタと再結合器とはプラナ−ウェーブガイ
ドでは例えば格子によって実現され、そしてストリップウェーブガイドでは3デ
シベルカツプラーによりて実現される0部分波1と2とは位層差φ、−φ、!(
2π/λ)(i +Nd5− i 1Nds)で干渉する。ここで、増分路要素
dsを有する積分SJ Ndsは、部分波j−1,2の路の上の実効屈折係数N
の路積分であり、そして括弧内は光路差である。干渉計の出力口での強度は、j
冨I H+ 12 +2 (1,la) ”’Co5(φ1−φ2)この強度は
光電的に測定できる。干渉縞すなわち強度■の最大と最小とを数えることにより
位相差φ1−φ2の値を2πとπの整数倍としてそれぞれ決ぬれる。
従来の集積光学干渉計で実効屈折係数Nの変化は、もし干渉計の二本の脚の幾何
学的長さを異なる長さにするか、または一方の脚のNを変え、他方の脚のNを一
定としておけば、測定できる。従来の集積光学干渉計の欠点は高価であること、
その製作は微細構造を非常に精確に作らなければならないので、複雑であること
である。
本発明の目的は、液体もしくは気体のサンプル内の物質を選択的に検出するため
の、及び又は液体もしくは気体のサンプルの屈折係数の変化を測定するための、
及び又はイオン濃度の変化を測定するための集積光学的干渉法であって、高感度
で広範囲に測定できるにもかかわらず簡単にそして廉価で実現でき、ビームスプ
リッタ、格子、3デシベルカツプラといったような構造対を持つウェーブガイド
を必要とせず、単一のプラナ−ウェーブガイドや単一のストリップウェーブガイ
ドを必要とするだけの集積光学的干渉法を提供することであり、そして分析しよ
うとするサンプル内に直接挿入できる装置を提供することである。
本発明は、請求の範囲1項の方法によりて、そして請求の範囲15項の装置によ
ってその問題を解決している。
プラナ−ウェーブガイド内で2つの直交偏光モードはTE、モードとTM、’
モードであり、ここでモード数mとmoとは同じでも、違っていてもよい、2つ
のモードはTEoモードとTM、モードであるのが好ましい。
レーザ光はウェーブガイド中へはその正面から最も簡単に結合できる。ウェーブ
ガイドの外へも後面または正面を通して最も簡単に結合できる0入射レーザ光は
ウェーブガイドの垂直面に対して角ψで線形に偏光されているか(ここで、ψは
0度でなく、90度でなく、そして好ましくは45度である)、もしくはそれは
楕円、好ましくは円偏光されていなければならない、外結合レーザ光は2つの直
交偏光成分Sとpとを有し、クエープガイドに垂直の方向に線形に偏光されてい
るp成分は7Mモードであり、そしてフィルムの面に平行に偏光されているS成
分はTEモードで発生している。
サンプルはウェーブガイドの表面に、少なくとも測定セクションと呼ばれるウェ
ーブガイドの部分に塗布され、そしてもし表面が以下で化学応答性と称される化
学的に選択的に鋭敏な層で被覆されているならば、サンプルはこの化学応答性の
層に塗布されるか、又は測定セクションを持つウェーブガイドの一部をサンプル
に挿入する。
外結合の光の2つの直交偏光成分Sとpの光は相互に干渉性であり、もし時間の
関数の変化がサンプルに生じたり、又はサンプルが測定セクシ日ンに加えられる
と、これらの成分Sとpの光の間に時間tの関数である位相差ΔΦ(1)が存在
することとなる0位相差ΔΦ(1)は時間tの関数として測定され、そして測定
しようとする量の変化をその位相差ΔΦ(1)から推測したり、量的に決定でき
る0位相差ΔΦ(1)を測定する幾つかの適当な方法を以下に説明する。
本発明の方法にとフて以下の点が重要である。
非複屈折媒体、例えば空気やレンズのような光学素子を光が伝播するとき光学路
、すなわち局所屈折係数x路増分の路積分は2つの直交偏光成分に対して同じで
ある。2つの偏光成分の間の位相差はそれらの伝播中変化しない1本発明の方法
では、この結果はウェーブガイドの前とウェーブガイドの後の、すなわちレーザ
とウェーブガイドとの間の路とウェーブガイドとホトディテクタとの間の路の光
伝播にあってそれぞれ成立している。従って、2つの偏光成分の間の位相差ΔΦ
(1)は外結合光ではどこでも同じである。それ故、干渉計は光路長を変える振
動や温度変化に対して不惑である。この特性は非常に有利である。干渉計の機械
的構成は、3次元光学要素である他の干渉計が必要とする大きい安定性を有しな
くてもよいからである。
偏光光学要素、例えばλ/4プレート及び又はビームスプリッタといったような
位相遅延プレートを使って偏光成分間の追加的な位相差Φ0をつくることもでき
る。
この位相差Φ。は、位相差ΔΦ(1)を測定するために導入するのであるが、こ
れについて以下で更に考えてみる。
非常に驚くことであるが、ウェーブガイド内を光が伝播している間2つの相互に
直交する偏光モード間の位相差ΔΦ(1)はサンプルとの相互作用によって生じ
るのである。この位相差ΔΦ(1)は、もしサンプルに一時的な変化が生じたり
、又はもしサンプルが測定セクシ■ンへ適用されると、時間で変化する0位相差
ΔΦ(1)の存在は次のように理解できる。それらのモードの光がウェーブガイ
ドのフィルムやストリップ内の全内部反射によって案内される。しかしながら、
フィールド分布は、消え易い、つかの間の波の形で、上層内に、すなわち化学応
答性の層及び又はサンプル内へ入っていく、2つの直交偏光モードの消え易いフ
ィールドの浸透深さは異なり、従ってサンプルとの相互作用の強さも異なる。
定量的には、この振る舞いは2つの直交偏光モードの実効屈折係数で説明される
ことができ、プラナ−ウェーブガイドのT E oモードとTMOモードについ
てもっと詳しく説明されることで、説明できる。2つのモードの実効屈折係数N
(TEo)とN(TMo)とは異なる。
又、モードとサンプルとの相互作用のため発生する実効屈折係数の変化ΔN(T
Eo)とΔN (TM、)とは異なる。11<べきことが判フたのであるが、Δ
N−ΔN(TEo)−ΔN (TMO)はむしろ大きい値であり、ΔN(TEo
)それ自体の値の、例えば30−50%となることがある。
長さしの測定セクションの伝播中そ一部の位相の変化は次の式により与えられる
。
ΔΦ(L)−ΔΦ(0)=2π(L/λ)N・・・(2)測定セクションの端で
2つのモードの位相差ΔΦ(L)は(2)式から求められる。
ΔΦ (L)−2π (L/λ) (N (TEo) −N (TM・)
)+ΔΦ (0) −・・ (3)ここでΔΦ(
0)は測定セクシ鑓ンの始端での位相差である。もし実効屈折係数が時間tの関
数として変化すると、すなわち、N (TEo)がΔN(t;TEo)だけ、モ
してN (TMo)がΔN(t;TMo)だけ変化すると、位相差ΔΦ(L)は
時間につれて次の式だけ変化する。
ΔΦ(1)層2π(L/λ)ΔN (t) ・・・(4)ここで
ΔΦ (1) 冒ΔN (t :TEo )−N (t :TMO)
・・・ (5)
サンプルが一時的に変化するとき、もしくは測定セクシeンに加えられるとき実
効屈折係数が、従って位相差ΔΦ(1)が時間につれて変化する理由を以下に説
明する。
プラナ−ウェーブガイドの場合、ウェーブガイドの外で結合したTEoモードは
偏光要素Sを発生し、そしてTMoそ−ドは偏光要素Pを発生する。これら2つ
の偏光成分s、pの間の位相差はΔΦ(1)+ΔΦである。ここでΔΦは定数で
ある0位相差ΔΦ(1)は幾つかの方法で測定できる。これらの方法に共通のこ
とは、外結合光における2つの相互に直交の偏光成分は偏光プリズムもしくは別
の偏光光学要素によって重ねられて、それらは相互に干渉し合い、そしてその結
果の強度IJ (t)は一つもしくは幾つかの測定チャンネルJ−1,・・・
1M(M−1,2,3もしくは4)で測定される。もし単一の測定チャンネルを
使用するのであれば、外結合光は偏光プリズムを通りてホトディテクタに入る。
偏光プリズムの透過方向は線形偏光成分s、pの偏光方向の二等分線と一致して
向いている。ホトディテクタによって測定された強度は次のようになる。
トIm+1.+2(1,1,)””cos (ΔΦ+ΔΦ(t))・・・(6
)
ここで11と1.とは偏光成分S、pが別々につくるであろう強度、ΔΦ(1)
は測定しようとする量の一時変化から生じる時間関数の位相差である。もしI
(t)の最大と最小とが計数されると、δ(ΔΦ)■πの細かさでΔΦ(1)が
測定できる。干渉縞のコントラストを最大とするには1.−1.が好ましい。
本発明の方法の感度は測定セクシ日ンの長さしに比例する6例えば、数ミリメー
トルから数センチメートルという広い範囲で長さしを選択できるという利点があ
る。
ヘリウムネオンレーザの波長λ閣633ナノメータ(モしてレーザダイオードの
波長λ諺750ナノメータ)で測定長が例えばLw15ミリメートルであると、
僅かAN−4−10−’(そしてAN−5−10−’) だi+実効屈折係数が
変化すると、位相変化はΔΦ−2πとなる。
位相差を測定する方法によって、位相差ΔΦ(1)はδ(ΔΦ)=πから6(Δ
Φ)−2π/100まで、更にδ(ΔΦ)−2π/1000まで変化することが
できる。したがって、説明した例では、δ(ΔN)−2・104からδ(ΔN)
冒4・1O−7、さらにはδ(ΔN)■4・10′″8までの細かさで実効屈折
係数ΔNの変化を分解して見せる。
ウェーブガイドを覆っている媒体の屈折係数により、そしてウェーブガイド・フ
ィルムもしくはストリップの表面に吸収されたアトレイヤー(adlayer)
の厚みによって実効係数Nは変わる。ΔN (t)の変化、従って位相差ΔΦ(
1)の変化が生じるのは次の場合である。すなわち、A)ウェーブガイド・フィ
ルムもしくはストリップの測定セクションを覆っている媒体の屈折係数が変化す
るとき、もしくはB)物質、すなわち分子、原子もしくはイオンがa)不特定な
吸着、化学吸着もしくは結合によってウェーブガイドフィルムもしくはストリッ
プの測定セクションに沈着したとき、すなわち吸着アトレイヤーが形成されたと
き、もしくはb)ウェーブガイドフィルムもしくはストリップに微小孔があり、
これらの微小孔に吸着もしくは沈着がるときである。
それ故、本発明の方法に従って次の3つの測定が実施できる。
1、)サンプル、特に液体サンプルの屈折係数の変化を測定できる0本発明の方
法は差動屈折計として使用するのに遺している。
2、)気体もしくは液体サンプルから物質の吸着を測定できる0本発明の方法は
感度がよいので、吸着分子の単分子層近くまで検出できる。
これの例としては、5102−T10tのウェーブガイドフィルムでは、相対湿
度の変化、例えば空気の相対湿度の変化は、水が表面に吸着し、モして5IOi
−TIOiのフィルムの微小孔に吸着するので、測定できる0本発明の方法は湿
度センサとして適している。
3、)サンプル内の特定の物質を選択的に検出できる。その目的のため測定セク
シ叢ンの表面に化学反応層を形成することが必要である。この化学反応層は、検
出しようとする物質を選択的に吸収し、化学吸着し、もしくは結合して屈折係数
や厚みを変えるか、もしくは化学反応層の上にアトレイヤーを沈着させるような
化学反応層である。化学反応層は、多孔性のウェーブガイドの微小孔にもつくれ
る。化学反応層の前面に準透過膜を設けて、この膜を通り拡散するサンプル内の
物質だけが化学反応層と相互作用するようにする。
化学反応層の例を以下に示す。
a)化学反応層は、ウェーブガイドフィルムもしくはストリップへ結合している
、好ましくは共有結合している例えば抗体の分子の単分子層から成る。もしその
抗体に対応する抗原もしくはハブテンがサンプルに存在すると、その抗原もしく
はハブテンの分子が抗体分子へ結合し、そしてアトレイヤーを形成する。このア
トレイヤーの形成は本発明の方法によって検出される。抗原もしくはハブテンと
それに対応する抗体との間の免疫反応は、特にモノクロナルな(monoclo
nal)抗体を使用すると、非常に特徴的であり、そして選択的である。似てい
ることとして、もし測定セクションを抗体もしくは抗抗体分子で被覆すると、そ
れらの不動の分子へサンプル内のその対応抗体分子は結合する。
文献からモノクロナルな抗体(MAR)の製造技術は知られており、多くの抗体
、例えばバクテリア、菌類、ビールスもしくはそれらのフラグメント、そしてハ
ブテン例えばホルモンや毒性物質に対するMABがつくられた。それ故、本発明
の方法は、医学的診断における体液内の抗体や抗原の検出に、農業診断における
植物の病気の検出に、食産業における細菌汚染検出に、そして有毒物質の検出に
利用できる6表面、例えばガラスや5102の表面へ抗体を共有固定する方法は
文献に記載されている。
b)文献[A、 Kindlund and 1. Lundstrom、5e
nsorsand Actuators 3.83−77(1982/83
):M、S、Nieuwenhuizenand ^J、 Barends
、5ensors and Actuators 11.45−62(1
987);Liedberg、Nylander、and Lundstro
m、5zensors andActuators 4.229−304(1
983)] (エイ・キノドランドとアイ・ルノドストローム、センサーとア
クチュエータ3.63−77 (1982/83)、エム、ニス、ニューペンフ
イゼンと工仁ダブリエ、パレンズ、センサーとアクチュエータ11.45−62
(198));リードベルブ、ナイランダーとランドストローム、センサーとア
クチュエータ4.229−304 (1983))からある気体と選択的に結合
し、もしくは吸収して、それにより屈折係数を変える化合物は判る。この例とし
てはハロゲン化した炭化水素を吸収するのはシリコンオイルである。もしこれら
の物質を化学反応層として使用すると本発明の方法によれば、気体例えば有毒も
しくは危険なガスを非常に感度よく検出できる。
水素の検出にはパラジウムをウェーブガイドフィルムの表面もしくは孔に沈着す
る。
C)炭化水素を吸着もしくは結合する親油性の化学反応層では、油もしくはジー
ゼル燃料のような汚染を水中で検出できる0文献[F、に、にawakara
and R,^、Fiutes。
^nalytica Chemica Acta 151,315(1983)
] (エフ。
ケ仁カワカラとアール、工仁フェーテム、アナリチカ ケミ力 アクタ151.
315 (1983))からシランがこの親油性を有することが知られている。
d)イオン濃度の測定、例えばH0イオン(pH値)もしくはに−イオンの濃度
測定は適当な化学反応層を使用して実施できる。pH値の測定に適している化学
反応層はポリマーに化学吸着もしくは結合させた、又は埋め込んだ指示染料から
成る。指示染料はpH値で色を変えるので、それらは低い光吸収を呈する波長範
囲で屈折係数を変える。このことは分散関数から出てくるよく知られた事実であ
る。に″イオンの濃度測定に適している化学反応層はポリマーに埋め込まれたパ
リノマイシン分子から成り、これは非常に選択的にに9イオンと結合する。
使用するウェーブガイドの特性に本発明の方法の感度が依存していることを、プ
ラナ−ウェーブガイドとTE。モードと7M0モードを使用する場合について以
下に考慮してみる。サンプルによって生ぜしめられる、2つのモードの実効屈折
係数の差ΔN (t) IImAN (t ;T E o ) −N (t ;
T M o )の時間的変化に感度は比例する。2つのモードそれ自体の実効
屈折係数の変化ΔN(t;TEo)とN(t;TMo)とは、これらのモードが
サンプルとそしてサンプルによって変化させられる化学反応層とそれぞれ強く相
互作用するならば、大きい、これは、もしそれらのフィールドが空間的に強く凝
縮している。すなわちもし実効フィルム厚みd offができるだけ小さければ
、そうなるのである、実効フィルム厚みd offは、ウェーブガイドフィルム
の幾何学的厚みdと、一方では基体に消えていくフィールドの浸透深さと、他方
ではサンプル及び又は化学反応層とサンプルに消えていくフィールドの浸透深さ
との和として定義される。もしdが小さく、そしてもしウェーブガイドフィルム
の屈折係数(n、)と物買の屈折係数(n2)の差n、−n2ができるだけ大き
い、好ましくはn、−n3〉0.25であると、厚みd offは小さい、TE
OとT M oの両モードがウェーブガイド内を伝播するためには、フィルム厚
みdはT M oモードの遮断厚みdc (TMO)より大きく選ばなければな
らない0本発明の方法の感度が高くなる厚みdの範囲は、その与えられた場合に
おける一連の実験もしくは簡単な計算によって当業者によって簡単に決定できる
。この範囲は、ウェーブガイドフィルムの屈折係数いh)と物質の屈折係数(n
2)、そしてサンプルの屈折係数(n4)、そして吸着アトレイヤーの化学反応
層の屈折係数と厚みとによって変わる。厚みdを、少なくとも測定セクションの
厚みTE、モードの遮断厚みd c (T E s )より小さく選んで、案
内波がT E oモードとT M oモードとしてだけ伝播できるようにし、モ
してm>1より高いオーダのモードは伝播できず、そして潜在的に撹乱を生じな
いようにするのが有利である。n2が1.47のパイレックス・ガラスの上のn
、が1.フ5のstowとT i O2のウェーブガイドのフィルムについて高
感度である範囲は、サンプルの屈折係数の変化とウェーブガイドの表面上の蛋白
貢の測定の場合、a)気体サンプル(n4III11)では220nm<d<4
20nmであり、そしてb)液体サンプル(n、ml、33)では150nm<
d<390nmである。dの下方の境界の所与の値は7M0モードの遮断厚みd
、(TMo)の約5/3に一致する。
ウェーブガイドフィルムもしくはストリップは高い屈折係数n、の材料、例えば
stowとTie、の混合物(rz ml、75)もしくは5isN4とT i
O*の混合物(nt12.0)からつくるのが好ましく、この材料を道かに小
さい屈折係数n2の材料、好ましくはガラス(n、<t、s)、例えばパイレッ
クスガラスの基体の上に付ける。もし光を吸収しない、好ましくは5i02から
成る緩衝層で被覆して案内波を減量させないようにしたらば、基体としてシリコ
ンウニ八も使用できる。ガラスもしくはポリマー、好ましくはポリメチルメタク
リレート(PMMA)もしくはポリカーボネートの基体の上にポリイミド(n、
!1.8)を付着してウェーブガイドフィルムもしくはストリップをつくれる。
SiO3とTiO2の混合物のフィルムはゾル・ゲルプロセスにより有機金属溶
液でディップ・コーティングすることによりつくることができ、Si3N、のフ
ィルムはCvDプロセスによってつくれる。
以下、本発明の実施例を添付図を参照して以下に説明する。
第1図は、測定セクションとサンプルとを持つプラナ−ウェーブガイドの縦断面
図である。
第2図は、測定セクションと反射器とを持つプラナ−ウェーブガイドの縦断面図
である。
第3図は、プラナ−基体上のストリップウェーブガイドの横断面図である。
第4図は、円筒基体上のストリップウェーブガイドの横断面図である。
第5図は、ウェーブガイドを縦断面で表わした、本発明の装置の略図である。
第6図は、案内波がサンプルと2回干渉するウェーブガイドを縦断面で表わした
本発明の装置の略図である。
第7図は、測定セクションの外側よりも測定セクションの厚みが小さくなってい
るプラナ−ウェーブガイドの縦断面図である。
第8図は、測定セクションの外側は保護層で被覆され、測定セクションは化学反
応層で被覆され、そしてウェーブガイドと基体との間に加熱層があり、そして測
定セクションの上にセルを設けたウェーブガイドの縦断面図である。
第9図は、単一測定チャンネル内で位相差ΔΦ(1)を測定する本発明の装置の
部分の斜視図である。
第10図は、外結合光を2つの測定チャンネルに分けるウオールストンプリズム
を有する、位相差ΔΦ(1)を測定する本発明の部分の斜視図である。
第11図は、外結合光を2つの測定チャンネルに分ける2つのウオールストンプ
リズムとビームスプリッタとを有する、位相差ΔΦ(1)を測定する本発明の部
分の斜視図である。
′tS1図は基体2の上のウェーブガイドフィルム1から成るプラナ−ウェーブ
ガイドを示す、可干渉励起され、相互に直交偏光した2つのモード、TEモード
と7Mモード、好ましくはTEOモードとT M oモードから案内波3は成る
。ウェーブガイド1.2内に波3を結合させる手段は示していない、この案内波
3は、以下で測定セクションと称するウェーブガイド1の長さしの部分1゛のサ
ンプル4と相互作用する。
第2図は反射器5を有するプラナ−ウェーブガイド1.2を示す、内結合案内波
3は測定セクション1°でサンプル4と相互作用し、その後反射器5で反射され
る。この反射波3rもサンプル4と相互作用する。第2図では、案内波3の内結
合も、反射波3rの内結合も示されていない、ウェーブガイドの鋭く切った、破
壊した、もしくは磨いた端面は、金属もしくは誘電体のコーティングで被覆され
ているのが好ましいが、反射器5として働く0図示していないが、もしブラッグ
条件を満足していれば、ウェーブガイド1.2の上の格子、例えば表面レリーフ
格子は反射器として働く。
第3図は平らな基体2の上のウェーブガイドストリップ1aを示している。典型
的にはストリップの幅は数マイクロメータから数ミリメータである。この横断面
ではサンプル4は示されていないが、長さLの測定セクション1′に付着してい
る0図示されてはいないが、同一基体2上に互いに平行な複数のストリップウェ
ーブガイドを設けることができる。基体の典型的な厚みは0.1から1ミリメー
トルである。基体の寸法は広い範囲で変化できる。典型的には基体は数ミリメー
トルから75ミリメートルの長さであり、数ミリメートルから25ミリメートル
の幅である。
第4図は、円筒基体2上のウェーブガイドストリップ1aの横断面図である。基
体2の直径は典型的には0゜1ミリメートルから10ミリメートルであり、それ
の長さは数ミリメートルから100ミリメートルである。flに反射器5を有す
るこのウェーブガイド!8.2はサンプル(図示せず)内に漬けたり、もしくは
挿入するのに特に適している。ウェーブガイドストリップ1aの幅は典型的には
約10ミクロンメートルから数ミリメートルの間である。しかし、それの幅を基
体2の周囲に等しくして、基体2の全面をウェーブガイドフィルムで被覆しても
よい。
第5図に略図として示した本発明の方法では、レーザ6、好ましくはヘリウム・
ネオンレーザもしくは半導体レーザからの偏光の焦点を、球形もしくは円筒レン
ズフで、例えば顕微鏡の対物レンズによりプラナ−ウェーブガイド1.2の前面
8に結ばせて偏光を内結合させ、その内結合の案内波3は2つの相互に可干渉で
且つ直交した偏光モード、好ましくはTEOモードとTMOモードから成り、測
定セクション1°でサンプル4と相互作用し、そして端面8°を通ってウェーブ
ガイド1.2の外へ結合させられている。外結合光3aの2つの直交偏光成分S
とpの間の位相差ΔΦ(1)をデバイス10で計る0球形レンズ7に比較して円
筒レンズの利点は、第5図で投光面だけに、すなわち投光面に垂直な面にではな
くて、ウェーブガイドフィルム1の前面だけに光は焦点を結ぶということである
0球体レンズ7もウェーブガイドフィルム1の面に光の焦点を結ばせるが、内部
結合の案内波3を発散させてしまい、これは不都合である。もしレーザ放射の、
偏光していない光を使用するのであれば、偏光プリズムをレーザとレンズ7との
間に挿入する。ウェーブガイド1.2の入射光は投光面に対して角’P−45”
で先ず偏光されるのが好ましく、それによりTEモードと7Mモードとは同じ強
度で励起される。外結合光3aは2つの直交成分Sとpとを含み、これらの成分
は投光面に対して垂直に線形偏光され(p)、そして投光面に対して平行に線形
偏光され(S)ており、そして外結合のTEモードと7Mモードにそれぞれ対応
している。好ましくは角!を調整し直して、外結合光3aの偏光成分Sとpの強
度を等しくし、そして干渉縞の変調を最大とする。偏光光学要素、ホトディテク
タそしてデータ記録、処理そして記憶のための電子要素を備えるデバイス10内
で、偏光成分Sとpは重畳され、それらは相互に干渉する。その結果の強度IJ
(t)は単一のもしくは幾つかの測定チャンネルJ−1,2,・・・M(こ
こでM−1,2,3,もしくは4)で計る0位相差ΔΦ(1)に余弦的に依存し
て変化する強度IJ (t)から位相差ΔΦ(1)は時間の関数として決定され
る。これを以下に第9〜11図を参照して説明する。
第6図に略図的に示す本発明の方法において、′s5図の方法におけるように案
内波3をつくる。測定セクション1°でのサンプル4との相互作用後、案内波3
は反射器5で反射され、その反射波3rは測定セクション1゜でサンプル4と相
互作用し、それからウェーブガイド1.2内に光を結合させたのと同じ前面8を
通つて外で結合される。ビームスプリッタ9で外結合光3aを入射光3eがら空
間的に分離し、それからデバイス10へ導いて位相差ΔΦ(1)を測定する。こ
の方法の利点はウェーブガイド1.2を直接サンプルに挿入できるということで
あり、そしてサンプル4と二度相互作用するので感度が2倍になるということで
ある。第5.6図に縦断面図で略図的に示したウェーブガイド1.2はストリッ
プウェーブガイド1a、2とすることもできる。この場合本発明の方法は類似の
仕方で作用する。
図には示さないが、入射光3eと外結合光3aとをファイバーウェーブガイドで
、特に偏光保存モノモードファイバーウェーブガイドでレーザ6からプラナウェ
ーブガイド1.2へもしくはストリップウェーブガイドIa、2へ、及び又はこ
れらのウェーブガイドからデバイス10へ案内することもできる。ファイバーは
例えば、プラナ−ウェーブガイド1.2もしくはストリップウェーブガイド1a
、2の前面8と端面8′へ直接取りつけれる。
やはり図に示してはいないが、プリズム、格子もしくはテーバカップラーにより
、ウェーブガイド1.2もしくは18.2内に及び又はそれらのウェーブガイド
の外へ光を結合することもできる。
第7図のプラナ−ウェーブガイド】は測定セクション1゛で、その測定セクショ
ン1°の外、すなわち前面8と端面8′の区域におけるよりもフィルム厚みdは
小さい0本発明のこの装置の利点は、1)前面8を通ってウェーブガイド1.2
に入りてレーザ光3eを内結合させるためにはフィルムの厚みは厚いほうが有利
である。レンズの調整が容易となり、また内結合効率が高くなるから有利である
という点にある。また、2)本発明の方法の感度は、フィルム厚みdが測定セク
ション1°で薄いと、上に述べたように、高くなるという点にある。このことは
ウェーブガイドストリップ18.2でも同じである。
第8図は保護層12を示し、この層で測定セクション1°を除いて何処もウェー
ブガイドフィルム1を被覆して案内波が周囲と望ましくない相互作用をしないよ
うにしている。ウェーブガイドフィルム1もしくはストリップ1aの屈折係数よ
りも小さい、そしてまた、案内波3の2つのモードの実効屈折係数Nよりも小さ
い屈折係数n12を保護層12は持たなければならない、保護層12内の案内波
3のフィールドの消えていく波の浸透深さくλ/ 2 rt ) (N 2
++ tl 、、2 )−172よりも保護層12の厚みは大きくなければなら
ない、保護層12の適当な材料としてはSin、、ガラス樹脂ポリマーもしくは
PMM^もしくはポリカーボネートのようなポリマーが好ましく、これを例えば
スピン・コーティングもしくは浸漬コーティングによって塗布する。測定セクシ
ョン1゛ではウェーブガイドフィルム1を化学反応層11で被覆してもよい、基
体2とウェーブガイドフィルム1との間に加熱層、例えばインジェーム・錫酸化
物(I To)の層を少なくとも測定セクション1°の区域に設けてもよい、電
流により加熱層13を加熱する。その結果の温度上昇により特に気体サンプルで
は吸着分子の脱着を生じ、測定セクション1°から吸着物を除去できる。サンプ
ル4は測定セクション1′へ適用される。測定セクション1゛もセル14で被覆
する。このセルにサンプルが充填されている。セル14の壁を保護層12へ取り
つけるのが好ましい。
第9〜11図は、外結合の光3aの偏光成分Sとpとの間の位相差ΔΦ(1)を
測定するのに使用する本発明の部分10の例を示す、′s9図は単一の測定チャ
ンネルを有する実施例を示す、伝達方向が偏光成分Sとpの偏光方向の2等分線
と一致している偏光プリズム15を外結合の光3aが通ってホトディテクタ1フ
に入り、強度1 (t)を測定し、電子装置20でこれを記録し、処理し、そし
て評価する0位相差ΔΦ(1)の時間的変化を1 (t)から、例えばI (t
)の最大と最小とを求めることにより決定できることが(6)式から判る。
第10図と11図とは、幾つかの測定チャンネルを持つ位相差ΔΦ(1)の測定
装置の実施例を示す、外結合光をビームスプリッタ及び又はウォラストンプリズ
ムでM個の測定チャンネルに分ける。偏光成分Sとpとの間の測定チャンネルj
−1,2,・・・M内の付加的な位相差(Φ。)jは偏光光学的要素、例えばウ
ォラストンプリズム、位相遅延プレート、例えばλ/4プレートによってつくら
れる。そしてウォラストンプリズムで又は偏光プリズムで2つの偏光成分Sとp
とは重畳されて、それらは相互に干渉する。その結果の強度
1−1.+1.+2 (1,1,) ”2cos (ΔΦ+ΔΦ(1) +
(Φ。)J)・・・())
はホトディテクタにより測定される。ここで、!、と1、は偏光成分Sとpとが
別個につくる強度であり、ΔΦは一定の位相差であり、モしてΔΦ(1)は時間
の関数の位相差である。
第10図と11図に示す縦断面図は、345図と6図に示す縦断面図を外結合光
の光学軸の周りに45°だけ回転した断面図である。第10図は2つの測定チャ
ンネル(M−2)を持つデバイス10を示す、外結合光3aはウォラストンプリ
ズム18により2つの直交成分3alと3a2とに分けられ、これらはホトディ
テクタ17aと17bに入る。2つの測定チャンネルjs11とj−2において
偏光成分Sとpは重畳され、そして干渉し、それぞれ位相差は(Φ。)、=0と
(Φ。)2!πとなる0強度の差夏I(t) −1z (t)はcos (Δ
Φ+ΔΦ(t))に比例することは式(7)から判り、この差信号を形成し、処
理しそして電子装置21により、例えば零交差を数えることにより評価する。
+11図は4つの測定チャンネル(M−4)を持つデバイス10を示す、外結合
光3aはビームスプリッタ19によって2つのビームに分けられる。各ビームは
ウォラストンプリズム18a、18bにより2つの直交偏光ビームに分けられ、
その結果4つのビーム3al〜3a4がつくられる。ウォラストンプリズム18
bの前に、λ/4プレート20を挿入する。これが偏光成分Sとpの間の位相差
π/2をつくる。4つの測定チャンネル1〜4内で偏光成分Sとpは干渉して次
の値の位相差ΦGをつくる。(Φo)+=O1(Φ。)、冨π、(Φ。)S麿π
/2、(Φ。)4−3π/20式(7)%式%())
に比例することが判る。電子装置22においてこれらの差と比(I a(t)−
1s(t)) / (1+(t)−12(t)) = tan(ΔΦ+ΔΦ(t
))をつくる。これから位相差ΔΦ(1)を決定する6位相差ΔΦ(1)はδ(
ΔΦ)諧2π/100の細かさで決定できる。
図には示していないけれども、外結合光3aを3つの測定チャンネル(M−3)
に分け、偏光成分Sとpを重畳させ、それらが測定チャンネル内で干渉し、付加
的位相差(Φ。)J、すなわち(Φ。)+−0,(Φ。)。
=2π/3、そして(Φa ) s s=4π/3、又は(Φo)+−0、(Φ
。)、露π/2、そして(Φo)3冨πをつくり、そしてホトディテクタで強度
I r (t) 、 I 1(t)、モしてl5(t)を測定し、そしてこれ
らの強度を電子的に記録し、そして処理し、そして位相差ΔΦ+ΔΦ(1)をそ
れらから決定する。
単一の測定チャンネルで位相差ΔΦ(1)を決定する次の方法は図面には示して
いない、デバイスは第9図と本貫的に同じであるが、追加の要素もある。
a)「疑似ヘテロダイン法」において、偏光成分Sとpとの間に付加的な時間関
数の位相差Φ。(1)が、例えばエレクトロ・オプティカルもしくはエラスト・
オプティカルモジュレータを用いて、又はパービナットコンベンセータを移動さ
せることにより(これらの要素は第9図にはない)、つくられる、Φ。(1)は
1周期T中にM=3もしくはM−4のステップで変えられる0例としてM=3で
は、(Φo)+−0、(Φo)a−2π/3、そして(Φo)s■4π/3が、
周期Tの1/3.2/3そして3/3で選ばれる。3つの時間間隔で測定された
強度値1 r (t) 、I z(t)、モして13(t)の3つから位相差Δ
Φ(1)を次のようにして決定する。
ΔΦ+ΔΦ(t)−tan−’ (J 3 (l5(t)−12(t) )
/(211(t)12(t)−13(t)) )これは式(7)から導かれる0
M−4を例とすると、(Φo ) l −0、(Φ。)2 Bπ、(Φ。)、#
π/2、そして(Φ。)4=3π/2の値を周期Tの1/4.2/4.3/4そ
して4/4で選択する。4つの時間間隔で測定されたlr (t) 、r z(
t)、l5(t)、モしてr4(t)の4つから位相差ΔΦ(1)を次式から決
定する(この式は式(〕)から導かれる)。
ΔΦ+ΔΦ(t) −tan−’ ((L(t>−1s(t) )/ (It
(t)−1i(t) ) )b)位相差Φ。(1)は、(a)で説明したモジュ
レータを使用して、周期Tで周期的に−πと+πとの間で線形に変えられる。測
定された強度1 (t)がそれの最小値をとるΦ。のΦ。′のどちらかの値で位
相差ΔΦ(1)は決定される0式7に従って位相差は次式から決定される。
ΔΦ+ΔΦ(t)=π−Φ。′
方法a)とb)との精度はδ(ΔΦ)≦2π/100である。
C)位相差ΔΦ(1)はヘテロダイン干渉計を使用して測定することもできる。
それによりて周波数差Δνが、ウェーブガイド1,2.1a、2に入るレーザ光
3eの偏光成分間に生じ、そして案内波3の直交偏光の2つのモード間に生じる
。この周波数差Δνは、例えばゼーマンスプリッティングによりヘリウム・ネオ
ンレーザ内で、音響光学モジュレータを使用し、もしくは一定角速度で回転する
位相遅延λ/2プレートと固定λ/4プレートを使用して、つくることがで診る
。ホトディテクタ1フが測定する強度1 (t)は周波数Δνで振動する、この
強度I (t)と同じ周波数Δνで振動する基準強度(これは′M2のホトディ
テクタで測定する)との相対的位相差を測定する。基準強度は、ウェーブガイド
1゜2.1a、2に入るレーザ光3eからビームスプリッタで取り出される。こ
うして位相差ΔΦ(1)はδ(ΔΦ)≦2π/1000の精度で測定できる。
Fig、 3 Fig、 4Fig、
S
rlg、 6
Fig、 9
補正書の写しく翻訳文)提出書(特許法第184条の8)平成2年 8月13日
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.液体、気体もしくは固体サンブル内の物質を選択検出する、及び又は液体と 気体サンブルの屈折係数の変化を測定する、及び又はイオン濃度の変化を測定す る方法において、偏光レーザ光(3e)を光学的なブラナーウエーブガイド(1 ,2)もしくはストリッブウェーブガイド(1a,2)に結合して、2つの相互 に可干渉で且つ直交している偏光モードを励起し、案内波(3)として同じ路に 一緒にウェーブガイド(1,2、1a,2)内を伝播させ、それにより少なくと も一方をウェーブガイド(1,2、1a,2)の測定セクション(1′)の表面 に付着したサンブル(4)と少なくとも一度相互作用させること、上記の案内波 (3)をウェーブガイド(1,2、1a,2)の外へ結合させること、そして2 つの直交偏光モードがつくる外結合光(3a)の相互に直交した偏光成分sとp との間の位相差ΔΦ(t)を時間の関数として測定することを特徴とする方法。 2.測定セクション(1′)の表面に化学反応層(11)を設け、この反応層は 分析しようとするサンブル(4)からの分子、原子もしくはイオンと選択的に化 学結合、吸収、化学吸着吸収する請求項1に記載の方法。 3.入射偏光レーザ光(3e)をウェーブガイド(1,2、1a,2)の前面( 8)を通してウェーブガイド(1,2、1a,2)に直接結合し、そして入射偏 光レーザー光(3e)を前面(8)、もしくは端面(8′)のどちらかを通して 、外結合するのが好ましい請求項1に記載の方法。 4.ウエーブガイド(1,2、1a,2)の垂直に対して角度ψ≠0度とψ≠9 0度と、好ましくはψ≠45度で線形に、もしくは楕円に好ましくは円形に入射 偏光レーザ光(3e)を偏光させ、そして一個もしくは数個の球状もしくは円筒 レンズ(7)によってウェーブガイド(1,2、1a,2)の前面(8)に焦点 を結ばせる請求項1に記載の方法。 5.サンブル4との相互作用後ウエーブガイド(1,2、1a,2)内の内結合 波(3)を反射器(5)により反射させ、そしてサンブル(4)との第2の相互 作用後、結合させたのと同じウエーブガイド(1,2、1a,2)の側で外帯合 させ、そしてその外結合した光(3a)を入射レーザ光(3e)からビームスブ リッタ(9)により空間的に分離する請求項1に記載の方法。 6.偏光レーザ光(3e)をブラナーウェーブガイド(1,2)に結合させ、そ の内結合した案内波(3)は相互に可干渉励起されたTEモードとTMモード、 好ましくはTEoモードとTMoモードから成り、そして測定セクション(1′ )のウェーブガイド・フィルム(1)のフィルム厚みはTMoモードの遮断厚み dc(TMo)の約5/3より大きく、そしてTE1モードの遮断厚みdc(T E1)より小さい請求項1に記載の方法。 7.ファイバーウエーブガイドで、好ましくは偏光保存モノモードファイバーウ ェーブガイドで、偏光レーザ光(3e)をブラナーウェーブガイドもしくはスト リッブウェーブガイド(1,2、1a,2)内に結合し、そしてファイバーウェ ーブガイドで、好ましくは偏光保存モノモードファイバーウェーブガイドで、外 結合光(3a)を位相差ΔΦ(t)を測定するデバイスへ案内する請求項1に記 載の方法。 8.外結合光(3a)の偏光成分sとpの偏向方向の間の2等分線と伝達方向( 16)が一致している偏向プリズム(15)で偏光成分sとpの重畳と干渉とを 行うことにより、時間tの関数としてホトディテクタ(17)でその結果の強度 1(t)を測定することにより、そしてI(t)の変化を電子的に記録すること により、好ましくはI(t)の最大と最小とを計数することにより位相差ΔΦ( t)を時間の関数として決定する請求項1乃至7のいずれかに記載の方法。 9.ウェーブガイド(1,2、1a,2)の外へ結合した外結合光(3a)の偏 光成分sとpの重畳と干渉とをウオラストンプリズムで行い、それにより外結合 光(3a)を2つのビーム(3a1と3a2)に分割して、それらの強度I1( t)とI2(t)を測定することにより、I1(t)とI2(t)を電子的に記 録することにより、そして差信号I1(t)−I2(t)を処理し、評価するこ とにより、好ましくはI1(t)−I2(t)の最大、最小を、そして零交差を 計数することにより、位相差ΔΦ(t)を時間の関数として決定する請求項1乃 至7のいずれかに記載の方法。 10.ウェーブガイド(1,2、1a,2)の外へ結合した外結合光(3a)を ビームスブリッタ(19)と2つのウオラストンプリズム(18a,18b)で 4つのビームj=1、2、3、4(3a1〜3a4)に、好ましくはほぼ同じ強 度のビームに分け、それにより上記のウオラストンプリズム(18a,18b) が、4つのビームj=1〜4の偏向成分の重畳と干渉を行って位相差(Φo)j 、すなわちウオラストンプリズム(18a,18b)とλ/2ブレートによって つくられる、(Φo)1=01(Φo)2=π、(Φo)3=π/2、そして( Φo)4を=3π/2の位相差をつくり、4つの測定チャンネルでホトディテク タ(17a〜17c)を使ってその結果の強度I1(t)、I2(t)、I3( t)、I4(t)を測定することにより、そして強度差I1(t)−I2(t) 、強度差I4(t)−I3(t)および比〔I4(t)−I3(t)〕/〔I1 (t)−I2(t)〕であってこれらは更にアルゴリズムで処理され評価される もの、を電子的に引き出すことにより位相差ΔΦ(t)を時間の関数として決定 する請求項1乃至7のいずれかに記載の方法。 11.ウエーブガイド(1,2、1a,2)の外へ結合した光(38)の偏向成 分sとpとの間に、各周期Tの3分の1、3分の2そして3分の3の時間に順次 に、j=1、2または3である付加的位相差(Φ。)j、好ましくは(Φo)1 =0、(Φo)2=π/2そして(Φo)3=3π/2、あるいは(Φo)1= 0、(Φo)2=2π/3および(Φo)3=4π/3を、例えば、電気光学も しくは弾性光学モジュレータで、もしくはバビネット・コンベンセータの移動に よりつくって導入することによって、伝達方向(16)が前記の偏向成分sとp の偏向方向の2等分線と一致している偏向プリズム(15)で偏向成分sとpの 重畳と干渉を行い、その結果の強度I(t)をホトディテクタ(17)で測定す ることにより、そしてT/3の期間で測定したI1(t)、I2(t)そしてI 3(t)を更に処理することにより位相差ΔΦ(t)を等しい時間間隔Tで連続 的に測定する請求項1乃至7のいずれかに記載の方法。 12.ウェーブガイド(1,2、1a,2)の外へ結合した光(3a)の偏向成 分sとpとの間に、付加的な時間関数の位格差Φo(t)を導入し、それにより Φo(t)を−πとπとの間で、好ましくは時間的に線形に期間Tで周期的に変 えることにより、伝達方向(16)が前記の偏向成分sとpの偏向方向の2等分 線と一致している偏向プリズム(15)で偏向成分sとpの重畳と干渉を行い、 その結果の強度I(t)をホトディテクタ17で測定することにより、そしてI (t)の一次的振る舞いを、特に期間下中のI(t)の最大と最小とについて電 子的に記録することにより、そして更に信号処理と評価とをすることにより、こ の手続きを期間Tで周期的に反復して、位相差ΔΦ(t)を等しい時間間隔Tで 連続的に時間tの関数として決定する請求項1乃至7のいずれかに記載の方法。 13.位相差ΔΦ(t)をヘテロダイン法で測定する請求項1乃至7のいずれか に記載の方法。 14.分析しようとするサンブル4を測定セクション(1′)に付着させるか、 測定セクション(1′)を被覆しているセル(14)に詰めるかし、又は測定セ クション(1′)を持つウェーブガイドの部分を気体、液体もしくは固体サンブ ル4に挿入する請求項1乃至13のいずれかに記載の方法。 15.A)基体(2)は好ましくは平坦であるか、もしくは円筒であって、少な きとも2つの直交偏光モードが伝播できるブラナーウェーブガイド(1,2)も しくはストリッブウエーブガイド(1a,2)と、B)入射レーザ光(3e)の 案内のため及び又は外結合光(3a)の案内のために、入射レーザ光(3e)の 路に配置した好ましくは一個もしくは数個の球形もしくは円筒形のレンズ(7) 、及び又はファイバ・ウエーブガイド、好ましくは偏光保持ファイバーウェーブ ガイドと、 C)偏光光学要素、例えば偏光子(15)、ウオラストン・プリズム(18,1 8a,18b)、位相遅延ブレート(20)、更にビームスブリッタ(19)、 そして偏光成分sとpの間の位相差ΔΦ(t)の測定のため外結合光(3a)の 路に配置したホトディテクタ(17,17a〜17d)と を備えることを特徴とする請求項1〜14のいずれかに記載の方法を実施する装 置。 16.案内波(3)の反射のための反射器(5)をウエーブガイド(1,2、1 a,2)に設け、反射器(5)は、好ましくは金属もしくは誘電物のミラーコー ティングを施した、例えば鋭く切断した、もしくは研磨したウエーブガイド(1 ,2、1a,2)の端面(8′)から成ることを特徴とする請求項15に記載の 装置。 17.ウェーブガイド(1,2、1a,2)の前面(8)とレンズ(7)との間 に液、例えば水もしくは油を入れることを特徴とする請求項15に記載の装置。 18.ウェーブガイドフィルム(1,1a)は、少なくとも測定セクション(1 ′)において化学反応層(11)で被覆され、及び又はそれの孔に化学反応層( 11)を含んでおり、化学反応層(11)はサンブル(4)内の検出しようとす る物質と選択的、化学的に結合し、及び又は優先的にその物質を吸着しもしくは 化学吸着で吸収し、そしてサンブル(4)のイオン濃度につれてもしくはサンブ ル(4)内の検出しようとする物質の化学的効果によって化学反応層の屈折係数 を変えることを特徴とする請求項15乃至17いずれかに記載の装置。 19.A)サンブル(4)内の対応抗体を検出するため抗原、もしくは好ましく はモノクロナル抗抗体、又はB)サンブル(4)内の対応抗体もしくはハブテン を検出するための好ましくはモノクロナル抗抗体の何れかの分子層が化学反応層 (11)であって、この分子層はウェーブガイドフィルム(1)もしくはストリ ッブ(1a)へ結合、好ましくは共有結合させられていることを特徴とする請求 項18に記載の装置。 20.測定セクション(1′)の外側でウエーブガイドフィルム(1,1a)は 、好ましくは二酸化珪素、グラス樹脂もしくはポリマから成る保護層(12)で 被覆されており、案内波(3)が周囲から望ましくない動揺をうけないようにし たことを特徴とする請求項15乃至19のいずれかに記載の装置。 21.ウェーブガイドフィルム(1,1a)と基体(2)との間に、少なくとも 測定セクション(1′)と基体(2)との間に加熱層(13)を設けたことを特 徴とする請求項15乃至20のいずれかに記載の装置。 22.A)好ましくは二酸化珪素の非吸収性の緩衝層を有するガラス、好ましく はバイレックスガラス、もしくはシリコンウエハーから成る基体(2)の上の二 酸化珪素と二酸化チタンとの混合物もしくは窒化珪素から成るか、又は、B)ガ ラスもしくはポリマー、例えばポリメチルメタクリレート(PMMA)もしくは ポリカーボネートの基体(2)の上のポリマー例えはポリイミド樹脂からウェー ブガイドフィルム(1)もしくはストリッブ(1a)は成ることを特徴とする請 求項15乃至20のいずれかに記載の装置。 23.内結合の効率を高めるため、そして入射レーザービーム(3e)の調整を 簡単にするためブラナーウェーブガイドフィルム(1)もしくはストリッブ(1 a)は、測定セクション(1′)の外で測定セクション(1′)それ自体におけ るより大きいフィルム厚みを有することを特徴とする請求項15乃至22のいず れかに記載の装置。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PCT/EP1988/000108 WO1989007756A1 (fr) | 1988-02-14 | 1988-02-14 | Procede optique integre d'interference |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03502726A true JPH03502726A (ja) | 1991-06-20 |
Family
ID=8165237
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP88501812A Pending JPH03502726A (ja) | 1988-02-14 | 1988-02-14 | 集積光学干渉法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5120131A (ja) |
| EP (1) | EP0403468A1 (ja) |
| JP (1) | JPH03502726A (ja) |
| BR (1) | BR8807884A (ja) |
| WO (1) | WO1989007756A1 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01313736A (ja) * | 1988-05-02 | 1989-12-19 | Iot Entwickl G Fur Integrierte Opt Technol Mbh | 物質の屈折率を測定する装置及び方法 |
| JP2002241104A (ja) * | 2001-02-08 | 2002-08-28 | Nissan Motor Co Ltd | 燃料改質システム |
| JP2007518998A (ja) * | 2004-01-22 | 2007-07-12 | セントレ ナショナル デ ラ レチャーチェ シャーティフィック | マイケルソン干渉計におけるフリンジのコントラストを測定するための装置及び方法並びに同装置を有する検眼システム |
| JPWO2021065996A1 (ja) * | 2019-10-03 | 2021-04-08 | ||
| JP2024520152A (ja) * | 2021-10-27 | 2024-05-21 | 賽麗科技(蘇州)有限公司 | 光学センサチップ及び光学センシングシステム |
Families Citing this family (82)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB8916764D0 (en) * | 1989-07-21 | 1989-09-06 | Sambles John R | Surface plasmon optical sensor |
| DE3926604A1 (de) * | 1989-08-11 | 1991-02-14 | Hoechst Ag | Polyimidwellenleiter als optische sensoren |
| WO1991003728A1 (en) * | 1989-09-01 | 1991-03-21 | Sira Limited | Guided optical wave chemical sensor systems |
| WO1991004489A1 (en) * | 1989-09-20 | 1991-04-04 | The Royal Institution For The Advancement Of Learning (Mcgill University) | A homogeneous interferometric immunoassay system |
| US5578499A (en) * | 1989-09-20 | 1996-11-26 | The Royal Institution For The Advancement Of Learning | Homogeneous immunoassay system employing fourier transform infrared spectroscopy |
| DE69017471D1 (de) * | 1990-02-22 | 1995-04-06 | Univ Mcgill | Feststoff-phase-interferometrisches immunotestsystem. |
| US5218419A (en) * | 1990-03-19 | 1993-06-08 | Eli Lilly And Company | Fiberoptic interferometric sensor |
| EP0455067B1 (de) * | 1990-05-03 | 2003-02-26 | F. Hoffmann-La Roche Ag | Mikrooptischer Sensor |
| GB9019123D0 (en) * | 1990-09-01 | 1990-10-17 | Fisons Plc | Analytical device |
| US5377008A (en) * | 1990-09-20 | 1994-12-27 | Battelle Memorial Institute | Integrated optical compensating refractometer apparatus |
| DE59207589D1 (de) * | 1991-04-26 | 1997-01-09 | Scherrer Inst Paul | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung einer messgrösse mittels eines integriert-optischen sensormoduls |
| US5347377A (en) * | 1992-06-17 | 1994-09-13 | Eastman Kodak Company | Planar waveguide liquid crystal variable retarder |
| US5387972A (en) * | 1993-03-15 | 1995-02-07 | National Research Council Of Canada | Coherent phase and frequency detection using sum-frequency mixing in non-linear waveguides |
| DE59410197D1 (de) * | 1993-03-26 | 2002-11-21 | Hoffmann La Roche | Optisches Verfahren und Vorrichtung zur Analyse von Substanzen an Sensoroberflächen |
| DE4312403A1 (de) * | 1993-04-16 | 1994-10-20 | Jenoptik Jena Gmbh | Verfahren und Anordnung zur Bestimmung einer zumindest annähernd kreisförmigen Berührungsfläche |
| JP3157952B2 (ja) * | 1993-06-02 | 2001-04-23 | アヴェンティス・リサーチ・ウント・テクノロジーズ・ゲーエムベーハー・ウント・コー・カーゲー | 化学物質検出用光学センサー |
| US5413939A (en) * | 1993-06-29 | 1995-05-09 | First Medical, Inc. | Solid-phase binding assay system for interferometrically measuring analytes bound to an active receptor |
| US5410917A (en) * | 1993-07-01 | 1995-05-02 | Digital Equipment Corporation | Optical force sensor for high density planar electrical interconnects |
| DE4345225A1 (de) * | 1993-11-15 | 1995-05-18 | Hoffmann La Roche | Anordnung zur Analyse von Substanzen an der Oberfläche eines optischen Sensors |
| EP0679250B1 (de) * | 1993-11-15 | 2000-03-15 | CARL ZEISS JENA GmbH | Anordnung zur analyse von substanzen an der oberfläche eines optischen sensors |
| CN1149335A (zh) * | 1994-05-27 | 1997-05-07 | 希巴-盖吉股份公司 | 探测短暂受激发光的方法 |
| US5577137A (en) * | 1995-02-22 | 1996-11-19 | American Research Corporation Of Virginia | Optical chemical sensor and method using same employing a multiplicity of fluorophores contained in the free volume of a polymeric optical waveguide or in pores of a ceramic waveguide |
| US5814565A (en) * | 1995-02-23 | 1998-09-29 | University Of Utah Research Foundation | Integrated optic waveguide immunosensor |
| US5623561A (en) * | 1995-09-29 | 1997-04-22 | Georgia Tech Research Corporation | Integrated optic interferometric sensor |
| WO1997015819A1 (en) * | 1995-10-25 | 1997-05-01 | University Of Washington | Surface plasmon resonance light pipe sensor |
| US5679579A (en) * | 1996-01-29 | 1997-10-21 | First Medical, Inc. | Immunofluorescence measurement of analytes bound to a substrate and apparatus therefor |
| DE19608428C2 (de) * | 1996-03-05 | 2000-10-19 | Forschungszentrum Juelich Gmbh | Chemischer Sensor |
| US5671303A (en) * | 1996-04-17 | 1997-09-23 | Motorola, Inc. | Molecular detection apparatus and method using optical waveguide detection |
| AU4207897A (en) * | 1996-08-29 | 1998-03-19 | Novartis Ag | Optical chemical / biochemical sensor |
| WO1999001737A2 (en) * | 1997-06-10 | 1999-01-14 | Calspan Corporation | Detection of chemical agent materials using a sorbent polymer and fluorescent probe |
| DE19732619C2 (de) * | 1997-07-29 | 1999-08-19 | Fraunhofer Ges Forschung | Optische Detektoreinrichtung |
| EP2112501A1 (de) * | 1998-02-05 | 2009-10-28 | Novartis Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Lumineszenzmessung |
| GB9803704D0 (en) * | 1998-02-24 | 1998-04-15 | Univ Manchester | Waveguide structure |
| US6300638B1 (en) | 1998-11-12 | 2001-10-09 | Calspan Srl Corporation | Modular probe for total internal reflection fluorescence spectroscopy |
| US7173706B2 (en) * | 1999-07-02 | 2007-02-06 | Otago Innovation Limited | Apparatus and method for gas sensing |
| US6381025B1 (en) * | 1999-08-19 | 2002-04-30 | Texas Tech University | Interferometric detection system and method |
| US7167615B1 (en) | 1999-11-05 | 2007-01-23 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Resonant waveguide-grating filters and sensors and methods for making and using same |
| US6330064B1 (en) | 2000-03-13 | 2001-12-11 | Satcon Technology Corporation | Doubly-differential interferometer and method for evanescent wave surface detection |
| EP1266189A1 (en) * | 2000-03-13 | 2002-12-18 | Satcon Technology Corporation | High speed, highly sensitive platform for evanescent wave surface detection applications |
| US7175811B2 (en) | 2000-04-28 | 2007-02-13 | Edgelight Biosciences | Micro-array evanescent wave fluorescence detection device |
| US7158224B2 (en) * | 2000-06-25 | 2007-01-02 | Affymetrix, Inc. | Optically active substrates |
| US20080220440A1 (en) * | 2000-07-25 | 2008-09-11 | M Selim Unlu | Waveguide sensors optimized for discrimination against non-specific binding |
| JP2004506893A (ja) * | 2000-08-14 | 2004-03-04 | ファーフィールド・センサーズ・リミテッド | センサ装置 |
| WO2002059579A1 (en) | 2001-01-25 | 2002-08-01 | Texas Tech University | Universal detector for biological and chemical separations or assays using plastic microfluidic devices |
| WO2002095365A2 (en) * | 2001-05-18 | 2002-11-28 | Farfield Sensors Limited | Method for determining a mass changing event |
| JP2005520153A (ja) * | 2002-03-14 | 2005-07-07 | ファーフィールド・センサーズ・リミテッド | 干渉構成要素の定性的特性の決定方法 |
| GB0206011D0 (en) * | 2002-03-14 | 2002-04-24 | Farfield Sensors Ltd | Polarimetery |
| US20030232427A1 (en) * | 2002-06-18 | 2003-12-18 | Montagu Jean I. | Optically active substrates for examination of biological materials |
| US20040224508A1 (en) * | 2003-05-06 | 2004-11-11 | Applied Materials Israel Ltd | Apparatus and method for cleaning a substrate using a homogenized and non-polarized radiation beam |
| WO2006008112A1 (de) * | 2004-07-21 | 2006-01-26 | Oc Oerlikon Balzers Ag | Ellipsometrievorrichtung mit einer resonanzplattform |
| US8134707B2 (en) * | 2004-10-22 | 2012-03-13 | Vanderbilt University | On-chip polarimetry for high-throughput screening of nanoliter and smaller sample volumes |
| US9423397B2 (en) | 2006-03-10 | 2016-08-23 | Indx Lifecare, Inc. | Waveguide-based detection system with scanning light source |
| US8288157B2 (en) * | 2007-09-12 | 2012-10-16 | Plc Diagnostics, Inc. | Waveguide-based optical scanning systems |
| US9976192B2 (en) | 2006-03-10 | 2018-05-22 | Ldip, Llc | Waveguide-based detection system with scanning light source |
| US9528939B2 (en) | 2006-03-10 | 2016-12-27 | Indx Lifecare, Inc. | Waveguide-based optical scanning systems |
| IL177384A0 (en) * | 2006-08-09 | 2006-12-10 | Doron Goldberg | Referencing system for polarimetry |
| JP4840773B2 (ja) * | 2006-11-22 | 2011-12-21 | 株式会社アツミテック | 水素センサおよび水素ガス検知装置 |
| EP1970697A1 (en) * | 2007-03-16 | 2008-09-17 | Janesko Oy | Method and arrangement of measuring acidity or other chemical or physical property of a gas |
| WO2008144496A1 (en) * | 2007-05-18 | 2008-11-27 | Vanderbilt University | Improved interferometric detection system and method |
| US8445217B2 (en) | 2007-09-20 | 2013-05-21 | Vanderbilt University | Free solution measurement of molecular interactions by backscattering interferometry |
| GB2461026B (en) * | 2008-06-16 | 2011-03-09 | Plc Diagnostics Inc | System and method for nucleic acids sequencing by phased synthesis |
| BRPI1008861A2 (pt) * | 2009-02-04 | 2016-03-15 | Ostendum Holding B V | sistema para análise de um fluido |
| US8300993B2 (en) * | 2009-03-02 | 2012-10-30 | Mbio Diagnostics, Inc. | Waveguide with integrated lens |
| US8331751B2 (en) * | 2009-03-02 | 2012-12-11 | mBio Diagnositcs, Inc. | Planar optical waveguide with core of low-index-of-refraction interrogation medium |
| US9658222B2 (en) | 2009-03-02 | 2017-05-23 | Mbio Diagnostics, Inc. | Planar waveguide based cartridges and associated methods for detecting target analyte |
| US9212995B2 (en) | 2009-03-02 | 2015-12-15 | Mbio Diagnostics, Inc. | System and method for detecting multiple molecules in one assay |
| AU2010241641B2 (en) * | 2009-04-29 | 2015-05-14 | Ldip, Llc | Waveguide-based detection system with scanning light source |
| US9638632B2 (en) | 2010-06-11 | 2017-05-02 | Vanderbilt University | Multiplexed interferometric detection system and method |
| WO2012012437A2 (en) * | 2010-07-20 | 2012-01-26 | The Regents Of The University Of California | Temperature response sensing and classification of analytes with porous optical films |
| US9562853B2 (en) | 2011-02-22 | 2017-02-07 | Vanderbilt University | Nonaqueous backscattering interferometric methods |
| WO2012140958A1 (ja) * | 2011-04-13 | 2012-10-18 | 株式会社フジクラ | 光モジュールの製造方法 |
| JP5862123B2 (ja) * | 2011-08-31 | 2016-02-16 | 住友電気工業株式会社 | 光デバイスの位置決め方法 |
| US9273949B2 (en) | 2012-05-11 | 2016-03-01 | Vanderbilt University | Backscattering interferometric methods |
| WO2014062672A1 (en) * | 2012-10-15 | 2014-04-24 | Gangbing Song | Fiber bragg grating systems and methods for moisture detection |
| US20150077756A1 (en) * | 2013-06-13 | 2015-03-19 | Lumense, Inc. | System and method for continuous real-time monitoring of water at contaminated sites |
| US10018566B2 (en) | 2014-02-28 | 2018-07-10 | Ldip, Llc | Partially encapsulated waveguide based sensing chips, systems and methods of use |
| WO2016118812A1 (en) | 2015-01-23 | 2016-07-28 | Vanderbilt University | A robust interferometer and methods of using same |
| WO2016138427A1 (en) | 2015-02-27 | 2016-09-01 | Indx Lifecare, Inc. | Waveguide-based detection system with scanning light source |
| US9851290B2 (en) * | 2015-06-22 | 2017-12-26 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Particle detector for particulate matter accumulated on a surface |
| US10078048B2 (en) | 2016-01-27 | 2018-09-18 | Corning Incorporated | Refractometer assemblies, methods of calibrating the same, and methods of determining unknown refractive indices using the same |
| US10627396B2 (en) | 2016-01-29 | 2020-04-21 | Vanderbilt University | Free-solution response function interferometry |
| CN116841126A (zh) * | 2022-03-25 | 2023-10-03 | 台湾积体电路制造股份有限公司 | 光罩护膜检测方法及其系统 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2156970B (en) * | 1984-01-06 | 1987-09-16 | Plessey Co Plc | Optical detection of specific molecules |
| DE3723159A1 (de) * | 1986-07-17 | 1988-01-21 | Prosumus Ag | Chemosensor sowie mit diesem durchfuehrbare verfahren |
| DE3814844A1 (de) * | 1988-05-02 | 1989-11-16 | Iot Entwicklungsgesellschaft F | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der brechzahl n einer substanz |
| US4940328A (en) * | 1988-11-04 | 1990-07-10 | Georgia Tech Research Corporation | Optical sensing apparatus and method |
| US4932783A (en) * | 1989-07-21 | 1990-06-12 | United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Apparatus and method for minimizing polarization-induced signal fading in an interferometric fiber-optic sensor using input-polarization modulation |
-
1988
- 1988-02-14 EP EP88901823A patent/EP0403468A1/de not_active Withdrawn
- 1988-02-14 WO PCT/EP1988/000108 patent/WO1989007756A1/de not_active Ceased
- 1988-02-14 US US07/573,190 patent/US5120131A/en not_active Expired - Fee Related
- 1988-02-14 JP JP88501812A patent/JPH03502726A/ja active Pending
- 1988-02-14 BR BR888807884A patent/BR8807884A/pt not_active Application Discontinuation
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01313736A (ja) * | 1988-05-02 | 1989-12-19 | Iot Entwickl G Fur Integrierte Opt Technol Mbh | 物質の屈折率を測定する装置及び方法 |
| JP2002241104A (ja) * | 2001-02-08 | 2002-08-28 | Nissan Motor Co Ltd | 燃料改質システム |
| JP2007518998A (ja) * | 2004-01-22 | 2007-07-12 | セントレ ナショナル デ ラ レチャーチェ シャーティフィック | マイケルソン干渉計におけるフリンジのコントラストを測定するための装置及び方法並びに同装置を有する検眼システム |
| JPWO2021065996A1 (ja) * | 2019-10-03 | 2021-04-08 | ||
| WO2021065996A1 (ja) * | 2019-10-03 | 2021-04-08 | Nsマテリアルズ株式会社 | 分析装置 |
| JP2024520152A (ja) * | 2021-10-27 | 2024-05-21 | 賽麗科技(蘇州)有限公司 | 光学センサチップ及び光学センシングシステム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO1989007756A1 (fr) | 1989-08-24 |
| US5120131A (en) | 1992-06-09 |
| BR8807884A (pt) | 1990-11-13 |
| EP0403468A1 (de) | 1990-12-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH03502726A (ja) | 集積光学干渉法 | |
| JP3071859B2 (ja) | 化学物質のマイクロオプティカル検出方法およびマイクロオプティカルセンサー | |
| Steglich et al. | Silicon photonic micro-ring resonators for chemical and biological sensing: A tutorial | |
| Lukosz | Integrated optical chemical and direct biochemical sensors | |
| US4815843A (en) | Optical sensor for selective detection of substances and/or for the detection of refractive index changes in gaseous, liquid, solid and porous samples | |
| US6330064B1 (en) | Doubly-differential interferometer and method for evanescent wave surface detection | |
| US5229833A (en) | Optical sensor | |
| Lukosz et al. | Difference interferometer with new phase-measurement method as integrated-optical refractometer, humidity sensor and biosensor | |
| US8325347B2 (en) | Integrated optical sensor | |
| CN110036276A (zh) | 使用干涉仪的生物分子光学传感器 | |
| Kooyman et al. | Immunosensors based on total internal reflectance | |
| US7239395B2 (en) | Optical interrogation systems with reduced parasitic reflections and a method for filtering parasitic reflections | |
| Campbell et al. | Interferometric biosensors | |
| US20240280495A1 (en) | Interferometric analyte detection system including a mach-zehnder interferometer array | |
| CN102243174B (zh) | 基于相位检测的表面等离子体共振传感装置 | |
| Fattinger et al. | Bidiffractive grating coupler: universal transducer for optical interface analytics | |
| Duval et al. | Interferometric waveguide biosensors based on Si-technology for point-of-care diagnostic | |
| KR101235274B1 (ko) | 장시간 안정도를 갖는 헤테로다인 간섭계 및 이를 이용한 유체 채널 리드아웃 센서 | |
| EP4530609A1 (fr) | Capteur photonique interférométrique | |
| CN111208060A (zh) | 传感芯片及其制备方法、检测系统和检测方法 | |
| Lechuga et al. | Interferometric Biosensors for environmental pollution detection | |
| Fattinger et al. | The difference interferometer: a highly sensitive optical probe for molecular surface-coverage detection | |
| US9696208B2 (en) | Interferometric device and corresponding spectrometer | |
| KR102166527B1 (ko) | 실시간 위상감지 gmr 바이오센서 장치 및 센싱 방법 | |
| Wikerstâl | Multi-channel solutions for optical labelfree detection schemes based on the interferometric and grating coupler principle |