JPH0421049Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0421049Y2 JPH0421049Y2 JP3073887U JP3073887U JPH0421049Y2 JP H0421049 Y2 JPH0421049 Y2 JP H0421049Y2 JP 3073887 U JP3073887 U JP 3073887U JP 3073887 U JP3073887 U JP 3073887U JP H0421049 Y2 JPH0421049 Y2 JP H0421049Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- probe shaft
- probe
- shaft
- position regulating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 116
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims description 38
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 17
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 22
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 9
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 2
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 2
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 2
- 229920001342 Bakelite® Polymers 0.000 description 1
- 239000004637 bakelite Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案はタツチ信号プローブに係り、詳しく
は、三次元測定機、その他測定機等に用いられ、
被測定物等との接触を電気的に検出するタツチ信
号プローブに関するものである。[Detailed description of the invention] [Industrial application field] The present invention relates to a touch signal probe, which is used in three-dimensional measuring machines, other measuring machines, etc.
This invention relates to a touch signal probe that electrically detects contact with an object to be measured.
従来より、合成樹脂等変形しやすい被測定物の
寸法、形状を高精度に、しかも、被測定物に傷を
つけずに測定するタツチ信号プローブが要望され
ていた。この要望を満たすためには、測定圧が低
く、瞬時動作性に優れ、さらに、オーバラン許容
範囲が広くなければならない。そのため、プロー
ブ軸が位置出し部材側に強力なばねで付勢されて
所定の中立位置に保持されるよう構成された従来
のタツチ信号プローブに改良を加える必要があつ
た。
Conventionally, there has been a demand for a touch signal probe that can measure the size and shape of easily deformed objects such as synthetic resins with high precision and without damaging the objects. To meet this demand, the measurement pressure must be low, the instantaneous operation must be excellent, and the overrun tolerance must be wide. Therefore, it was necessary to improve the conventional touch signal probe in which the probe shaft is biased toward the positioning member by a strong spring and held at a predetermined neutral position.
この技術的課題を解決するため、本出願人は、
実開昭58−180408において、一端に接触子を有す
るプローブ軸をプローブ軸支持体に回動自在に軸
支させるとともに、プローブ軸支持体に。前記プ
ローブ軸と当接してプローブ軸の自由回動を阻止
する位置規制手段をプローブ軸と接離可能に設
け、さらに、プローブ軸と位置規制手段との当接
箇所をタツチ信号検出用の電気接点とし、通常は
極めて微小な力によりプローブ軸と位置規制手段
とが当接してプローブ軸が所定の姿勢に支持さ
れ、接触子が被測定物に接触すると同時にプロー
ブ軸と位置規制手段とが離隔してタツチ信号を発
生するようにした考案を提案した。 In order to solve this technical problem, the applicant
In Utility Model Application No. 58-180408, a probe shaft having a contact at one end is rotatably supported on a probe shaft support, and is also used as a probe shaft support. A position regulating means that comes into contact with the probe shaft to prevent free rotation of the probe shaft is provided so as to be able to come into contact with and separate from the probe shaft, and an electric contact for detecting a touch signal is provided at the contact point between the probe shaft and the position regulating means. Normally, the probe shaft and position regulating means are brought into contact with each other by an extremely small force, and the probe shaft is supported in a predetermined posture, and the probe shaft and position regulating means are separated at the same time as the contact contacts the object to be measured. proposed a device that generates a touch signal.
ところが、このように構成されたプローブは、
一箇所の接点の電気的導通、遮断を検出するもの
であるため、被測定物に対するプローブの接触方
向が必然的に一方向に限定されてしまい、溝幅
や、穴内径等の測定は、互いに対向する2方向か
らプローブを接触させる必要があるので、事実上
不可能であるという問題点がある。 However, the probe configured in this way
Since the device detects electrical continuity or disconnection of a single point of contact, the contact direction of the probe with respect to the object to be measured is inevitably limited to one direction, and measurements of groove width, hole inner diameter, etc. Since it is necessary to bring the probes into contact from two opposing directions, there is a problem in that it is virtually impossible.
本考案の目的は、互いに対向する2方向からプ
ローブを接触させて測定する場合であつても、極
めて小さな測定力で、瞬時動作性に優れ、大きな
オーバラン許容範囲を得ることができるタツチ信
号プローブを提供することにある。
The purpose of this invention is to develop a touch signal probe that can achieve instantaneous operation with extremely low measuring force and a large overrun tolerance even when measuring by touching the probes from two opposing directions. It is about providing.
本考案は、一端に接触子を有するプローブ軸を
プローブ軸支持体に回動自在に軸支し、このプロ
ーブ軸と当接してプローブ軸の一方向の回動を阻
止する第1の位置規制手段をプローブ軸と接離可
能に支持体に取付け、前記プローブ軸と当接して
プローブ軸の前記一方向と逆方向の回動を阻止す
る第2の位置規制手段をプローブ軸と接離可能に
支持体に取付け、このプローブ軸他端側に軸方向
移動可能に取付けられた重量片等からなりプロー
ブ軸の前記軸支部を挟んだ接触子側と反接触子側
との重量モーメントの大小を反転してプローブ軸
の第1および第2の位置規制手段の間での回動方
向を変更する重量モーメント反転手段を設け、第
1および第2の位置規制手段とプローブ軸との当
接箇所に第1および第2のタツチ信号検出用の電
気接点を形成したものである。
In the present invention, a probe shaft having a contact at one end is rotatably supported on a probe shaft support, and a first position regulating means abuts against the probe shaft to prevent rotation of the probe shaft in one direction. is attached to a support body such that it can come into contact with and separate from the probe shaft, and a second position regulating means that comes into contact with the probe shaft to prevent rotation of the probe shaft in a direction opposite to the one direction is supported so that it can come into contact with and separate from the probe shaft. It is made of a weight piece, etc. attached to the body and movable in the axial direction on the other end of the probe shaft, and reverses the magnitude of the weight moment between the contact side and the non-contact side across the shaft support of the probe shaft. A weight moment reversing means for changing the direction of rotation of the probe shaft between the first and second position regulating means is provided, and a first and an electrical contact for detecting a second touch signal.
これにより、互いに対向する2方向から被測定
物にプローブを接触させて測定を行うには、重量
モーメント反転手段を操作してプローブ軸を一方
向に回動させて第1の位置規制手段に微小な力で
当接させ、この状態でプローブを一方向に移動さ
せ、プローブ軸の接触子に被測定物を接触させて
タツチ信号を発生させ、一方、によつてプローブ
軸を、その回動方向を変更させるとともに、第2
の位置規制手段に微小な力で当接させ、この状態
でプローブを前記一方向と反対方向に移動させ、
プローブ軸の接触子に被測定物を接触させてタツ
チ信号を発生させることにより前記目的を達成し
ようとするものである。 Accordingly, in order to perform measurement by bringing the probe into contact with the object to be measured from two directions facing each other, the weight moment reversing means is operated to rotate the probe shaft in one direction, and the first position regulating means In this state, the probe is moved in one direction, and the contact of the probe shaft is brought into contact with the object to be measured to generate a touch signal. In addition to changing the
The probe is brought into contact with the position regulating means with a minute force, and in this state, the probe is moved in the opposite direction to the one direction,
This object is achieved by bringing the object to be measured into contact with the contact of the probe shaft and generating a touch signal.
以下、本考案の一実施例を第1〜第3図に基づ
いて説明する。
Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described based on FIGS. 1 to 3.
第1、第2図には本考案によるタツチ信号プロ
ーブの一実施例の全体構成が示されており、これ
らの図において、導電性のプローブ軸支持体1の
上端側には支持体取付軸3が備えられ、この取付
軸3が三次元測定機、その他の測定機における測
定機本体の可動部(図示せず)に取付けられるよ
うになつている。また、プローブ軸支持体1に
は、下端側に互いに平行に配された厚肉平板状の
一対の側壁4が備えられ、これらの側壁4間に
は、導電性のプローブ軸2がプローブ軸2の径方
向に沿つて配置された軸支部としての支軸5およ
びピポツト軸受6,7を介して回動自在に設けら
れている。 1 and 2 show the overall structure of an embodiment of the touch signal probe according to the present invention. In these figures, a support mounting shaft 3 is attached to the upper end side of a conductive probe shaft support 1 The mounting shaft 3 is adapted to be attached to a movable part (not shown) of a measuring machine body in a coordinate measuring machine or other measuring machine. Further, the probe shaft support 1 is provided with a pair of thick plate-like side walls 4 arranged parallel to each other on the lower end side, and between these side walls 4, a conductive probe shaft 2 is connected to the probe shaft 2. It is rotatably provided via a support shaft 5 and pivot bearings 6 and 7, which are arranged along the radial direction of the shaft.
前記プローブ軸2の一端には小球体状の接触子
13が備えられ、他端には重量モーメント反転手
段としての重量片14が設けられている。重量片
14は、略リング状に形成され、プローブ軸2の
前記他端部の外周面に所定範囲に亘つて刻設され
たねじ部15に螺合され、前記所定範囲において
プローブ軸2の軸方向に沿つて移動可能とされて
いる。この際、重量片14は、支軸側に配置され
ると、支軸部5を挟んで接触子側の重量モーメン
トが反接触子側の重量モーメントより大きくなつ
て接触子側が下方、即ち第1図中時計方向に回動
され、一方、反支軸側に配置されると、支軸5を
挟んで接触子側の重量モーメントが反接触子側の
重量モーメントより小さくなつて接触子側が上
方、即ち第1図中反時計方向に回動されるように
されている。特に、重量片14がその移動範囲内
において、最も支軸側または最も反支軸側に位置
されたとき、これらの位置における接触子側モー
メントと反接触子側モーメントとの差の絶対値は
等しいものとされている。これにより、プローブ
軸2の姿勢変更にかかわらず容易に一定の測定圧
を得ることができるようになつている。 A small spherical contactor 13 is provided at one end of the probe shaft 2, and a weight piece 14 as a weight moment reversing means is provided at the other end. The weight piece 14 is formed into a substantially ring shape, and is screwed into a threaded portion 15 carved in a predetermined range on the outer circumferential surface of the other end of the probe shaft 2. It is possible to move along the direction. At this time, when the weight piece 14 is placed on the support shaft side, the weight moment on the contact side becomes larger than the weight moment on the opposite contact side with the support shaft 5 in between, so that the contact side is downward, that is, the first When rotated clockwise in the figure and placed on the opposite side of the support shaft, the weight moment on the contact side becomes smaller than the weight moment on the opposite side with the support shaft 5 in between, and the contact side moves upward. That is, it is rotated counterclockwise in FIG. In particular, when the weight piece 14 is located closest to the support shaft or closest to the opposite side of the support shaft within its movement range, the absolute values of the differences between the contact side moment and the opposite contact side moment at these positions are equal. It is considered a thing. This makes it possible to easily obtain a constant measurement pressure regardless of changes in the attitude of the probe shaft 2.
前記側壁4の間には、第1図中支軸5より左上
方側に第1の位置規制手段16Aが設けられてい
る。第1の位置規制手段16Aは、導電性の丸棒
体からなり、かつ、前記支軸5と平行に配された
状態で両端側がベークライト等の絶縁性ブツシユ
17を介して側壁4にそれぞれ取付けられてい
る。また、第1の位置規制手段16Aと、プロー
ブ軸2の支軸5と重量片14との中間位置とは、
プローブ軸2の第1図中上方側で当接可能とされ
ている。ここで、プローブ軸2と第1の位置規制
手段16Aとの当接箇所により第1のタツチ信号
検出用の電気接点20Aが形成されている。 Between the side walls 4, a first position regulating means 16A is provided on the upper left side of the support shaft 5 in FIG. The first position regulating means 16A is made of a conductive round rod, and is arranged parallel to the spindle 5, and both ends thereof are attached to the side wall 4 via insulating bushes 17 made of Bakelite or the like. ing. Further, the intermediate position between the first position regulating means 16A, the support shaft 5 of the probe shaft 2, and the weight piece 14 is as follows.
It is possible to make contact with the upper side of the probe shaft 2 in FIG. Here, an electrical contact point 20A for detecting a first touch signal is formed by a contact point between the probe shaft 2 and the first position regulating means 16A.
前記側壁4の間の第1の位置規制手段16Aの
下方には、第1の位置規制手段16Aと同様構成
の第2の位置規制手段16Bが設けられている。
ここで、支軸5は、第1、第2の位置規制手段1
6A,16Bの中間位置と同じ高さになるように
位置される。第2の位置規制手段16Bと、プロ
ーブ軸2の支軸5と重量片14との中間位置と
は、プローブ軸2の第1図中下方側で当接可能と
され、この当接箇所により第2のタツチ信号検出
用の電気接点20Bが形成されている。 A second position regulating means 16B having the same structure as the first position regulating means 16A is provided below the first position regulating means 16A between the side walls 4.
Here, the support shaft 5 is connected to the first and second position regulating means 1.
It is located at the same height as the intermediate position between 6A and 16B. The second position regulating means 16B, the intermediate position between the support shaft 5 of the probe shaft 2 and the weight piece 14 can be brought into contact with each other on the lower side of the probe shaft 2 in FIG. Two electrical contacts 20B for touch signal detection are formed.
前記支持体1には、第2図中、右側にコネクタ
21が、左側に発光ダイオード22および切換手
段としてのスイツチ23がそれぞれ設けられ、こ
れらと、前記取付軸3、第1、第2の位置規制手
段20A,20Bおよび支持体1に取付けられた
導電性のボルト25とが支持体1内で配線されて
いる。この配線の詳細は、第3図に示されてい
る。即ち、3端子を有するとともに端子1と端子
2との接続および端子2と端子3との接続を切り
換えうるスイツチ23の端子1には、第1の位置
規制手段16Aを介して前記第1の電気接点20
Aが、端子3には、第2の位置規制手段16Bを
介して前記第2の電気接点20Bがそれぞれ接続
されている。一方、スイツチ23の端子2は、プ
ローブ軸2と接続されたコネクタ21の1つの端
子(端子5)と接続され、かつ、第1、第2の電
気接点20A,20B間を移動するプローブ軸2
の支軸5はコネクタ21の他の1つの端子(端子
4)に接続されている。このコネクタ21は、発
光ダイオード22の両端子およびアース用として
前記取付軸3にそれぞれ接続され(端子1,3お
よび2)、かつ、コントローラ30と接続されて
いる。 The support body 1 is provided with a connector 21 on the right side in FIG. 2, and a light emitting diode 22 and a switch 23 as a switching means on the left side. The restricting means 20A, 20B and conductive bolts 25 attached to the support 1 are wired within the support 1. Details of this wiring are shown in FIG. That is, the switch 23 has three terminals and can switch the connection between the terminals 1 and 2 and the connection between the terminals 2 and 3. Contact point 20
The second electrical contact 20B is connected to the terminal 3 via the second position regulating means 16B. On the other hand, the terminal 2 of the switch 23 is connected to one terminal (terminal 5) of the connector 21 connected to the probe shaft 2, and the probe shaft 2 moves between the first and second electrical contacts 20A and 20B.
The support shaft 5 of is connected to the other terminal (terminal 4) of the connector 21. The connector 21 is connected to both terminals of the light emitting diode 22 and to the mounting shaft 3 for grounding (terminals 1, 3 and 2), and is also connected to the controller 30.
次に、第4図のブロツク図を用いてこれらの構
成をより詳細に説明する。この図において各ブロ
ツクの添え字は、それぞれコネクタ21および切
換手段としてのスイツチ23の端子を示す。前述
のように、第1、第2の電気接点20A,20B
がスイツチ23を介してコネクタ21に接続さ
れ、このコネクタ21には支軸5および発光ダイ
オード(LED)22が接続されている。これに
より、スイツチ23が切り換えられ、第1の電気
接点20Aとコネクタ21とが、あるいは、第2
の電気接点20Bとコネクタ21とが接続された
状態で、プローブ軸2が第1または第2の位置規
制手段16A,16Bから離れることによつて各
接点20A,20Bが開放されると、コネクタ2
1を介してコントローラ30に接点開放信号が送
られるようになつている。一方、前記スイツチ2
3の端子1〜3には、スイツチ検知手段31が接
続され、このスイツチ検知手段31は、スイツチ
23の切り換え状態を検知する信号をコントロー
ラ30に送るようにされている。このコントロー
ラ30は、タツチ信号検知手段41と、演算手段
42と、LED駆動手段43と、補正手段44と、
記憶手段45とから構成されている。タツチ信号
検知手段41は、コネクタ21から送られる接点
開放信号を検知して演算手段42に信号を送るよ
うになつている。補正手段44は、スイツチ検知
手段31からの信号を受けて前記第1の電気接点
20Aが開放されたのか、あるいは、第2の電気
接点20Bが開放されたのかを判別し、第2の電
気接点20Bが開放されたときのみ記憶手段45
からプローブ軸2の姿勢を変更して測定する際に
生じる接触子13の先端間の寸法差すなわち測定
基準寸法差D(第1図参照)を補正する信号を演
算手段42に送るようになつている。演算手段4
2には変位検出器61からの変移量信号が入力さ
れるようになつており、この変位検出器61は、
たとえば三次元測定機に本考案のタツチ信号プロ
ーブを取付けた場合には、このタツチ信号プロー
ブと三次元測定機本体との相対移動量、すなわち
変位量を検出する直線方向変位エンコーダ等から
構成されている。また、演算手段42は、タツチ
信号検知手段41からの信号を受けて変位検出器
61からの変位量を演算して演算値の信号を表示
手段62に送るようにされている。この際、補正
手段44から信号を受けた時には、補正値の信号
により演算値を補正して表示手段62に送るよう
になつている。LED駆動手段43は、演算手段
42からの信号を受けコネクタ21を介して発光
ダイオード(LED)22を点燈させるようにな
つている。 Next, these structures will be explained in more detail using the block diagram of FIG. In this figure, the subscripts of each block indicate the terminals of the connector 21 and the switch 23 as switching means, respectively. As mentioned above, the first and second electrical contacts 20A, 20B
is connected to a connector 21 via a switch 23, and a support shaft 5 and a light emitting diode (LED) 22 are connected to this connector 21. As a result, the switch 23 is switched, and the first electrical contact 20A and the connector 21 are connected to each other.
When each contact 20A, 20B is opened by moving the probe shaft 2 away from the first or second position regulating means 16A, 16B while the electrical contact 20B and the connector 21 are connected, the connector 2
A contact opening signal is sent to the controller 30 via 1. On the other hand, the switch 2
A switch detection means 31 is connected to the terminals 1 to 3 of the switch 3, and the switch detection means 31 is configured to send a signal for detecting the switching state of the switch 23 to the controller 30. This controller 30 includes a touch signal detection means 41, a calculation means 42, an LED driving means 43, a correction means 44,
It is composed of a storage means 45. The touch signal detection means 41 detects a contact open signal sent from the connector 21 and sends the signal to the calculation means 42. The correcting means 44 receives the signal from the switch detecting means 31 and determines whether the first electrical contact 20A or the second electrical contact 20B is opened, and changes the second electrical contact. Storage means 45 only when 20B is released
A signal for correcting the dimensional difference between the tips of the contactors 13, that is, the measurement reference dimensional difference D (see FIG. 1), which occurs when measuring by changing the attitude of the probe shaft 2, is sent to the calculation means 42. There is. Arithmetic means 4
A displacement signal from a displacement detector 61 is input to the displacement detector 2.
For example, when the touch signal probe of the present invention is attached to a coordinate measuring machine, it is composed of a linear displacement encoder, etc. that detects the amount of relative movement between the touch signal probe and the main body of the coordinate measuring machine, that is, the amount of displacement. There is. Further, the calculating means 42 receives the signal from the touch signal detecting means 41, calculates the amount of displacement from the displacement detector 61, and sends a signal of the calculated value to the display means 62. At this time, when a signal is received from the correction means 44, the calculated value is corrected using the correction value signal and sent to the display means 62. The LED driving means 43 receives a signal from the calculating means 42 and turns on the light emitting diode (LED) 22 via the connector 21.
次に本実施例の作用について説明する。 Next, the operation of this embodiment will be explained.
まず、接触子13を被測定物(図示せず)の上
方側から当接させて被測定物との当接位置の測定
を行うには、重量片14をプローブ軸2の支軸側
に配置させて第1図実線図示の状態とさせ、プロ
ーブ軸2が極めて微小な力で第1の位置規制手段
16Aに下方側から当接するようにし、さらに、
スイツチ23の端子1と2とを接続する。この状
態でプローブ軸2を下降させ被測定物の上方から
接触子13を当接させる。接触子13は、被測定
物に当接されると瞬時に上昇してプローブ軸2が
第1図中反時計方向に回動して第1の位置規制手
段16Aから離反される。これにより、第1のタ
ツチ信号検出用の電気接点20Aが開放され、コ
ネクタ21を介してタツチ信号検知手段41に検
出信号が送られてプローブ軸2と被測定物との接
触が電気的に検出され、プローブ軸2の当接位置
が演算手段42を介して表示手段62に表示され
るとともに、LED駆動手段43により発光ダイ
オード22が点燈されてこの接触の検出が表示さ
れる。この際、第1の電気接点20Aの開放であ
ることはスイツチ検知手段31により検知されて
いるから、補正手段44および記憶手段45によ
つてプローブ軸2の姿勢差に伴う測定基準寸法差
Dの測定値への補正はなされない。 First, in order to measure the contact position with the object to be measured by bringing the contact 13 into contact with the object to be measured (not shown) from above, the weight piece 14 is placed on the support shaft side of the probe shaft 2. The probe shaft 2 is brought into contact with the first position regulating means 16A from below with an extremely small force, and further,
Connect terminals 1 and 2 of switch 23. In this state, the probe shaft 2 is lowered to bring the contact 13 into contact with the object to be measured from above. When the contactor 13 comes into contact with the object to be measured, it instantly rises, and the probe shaft 2 rotates counterclockwise in FIG. 1 to separate from the first position regulating means 16A. As a result, the first touch signal detection electrical contact 20A is opened, a detection signal is sent to the touch signal detection means 41 via the connector 21, and the contact between the probe shaft 2 and the object to be measured is electrically detected. The contact position of the probe shaft 2 is displayed on the display means 62 via the calculation means 42, and the light emitting diode 22 is turned on by the LED driving means 43 to display the detection of this contact. At this time, since the switch detection means 31 detects that the first electrical contact 20A is open, the correction means 44 and the storage means 45 calculate the measurement standard dimensional difference D due to the attitude difference of the probe shaft 2. No corrections are made to the measured values.
一方、接触子13を被測定物の下方から当接さ
せて測定を行うには、重量片14をプローブ軸2
の反支軸側に配置させ、プローブ軸2の姿勢を変
更して第1図鎖線図示の状態とするとともに、プ
ローブ軸2が極めて微小な力で第2の位置規制手
段16Bに上方側から当接するようにし、さら
に、スイツチ23を切り換えて端子2と3とを接
続する。この状態でプローブ軸2を上昇させ被測
定物の下方から接触子13を当接させて前述と同
様に測定を行う。この際、スイツチ検知手段3
1、補正手段44および記憶手段45によつて、
前記第2の電気接点20Bが開放されたことが検
知されるとともに、プローブ軸2の姿勢が変更さ
れたことによつて生じる接触子13の測定基準寸
法差Dが測定値に対し補正され、この補正値が演
算手段42を介して表示手段62に表示される。 On the other hand, in order to perform measurement by bringing the contactor 13 into contact with the object to be measured from below, the weight piece 14 is attached to the probe shaft 2.
The probe shaft 2 is placed on the side opposite to the supporting shaft, and the attitude of the probe shaft 2 is changed to the state shown by the chain line in FIG. Then, by switching the switch 23, the terminals 2 and 3 are connected. In this state, the probe shaft 2 is raised to bring the contact 13 into contact with the object to be measured from below, and measurement is performed in the same manner as described above. At this time, the switch detection means 3
1. By the correction means 44 and the storage means 45,
It is detected that the second electrical contact 20B is opened, and the measurement reference dimension difference D of the contactor 13 caused by the change in the attitude of the probe shaft 2 is corrected for the measured value. The correction value is displayed on the display means 62 via the calculation means 42.
このような本実施例によれば、第1、第2の位
置規制手段16A,16Bにプローブ軸2を極め
て微小な力で当接させておくことによりプローブ
軸2を所定の姿勢に保持できるため、測定圧を極
めて小さくすることができる。従つて、合成樹脂
等の変形しやすい被測定物についても高精度な測
定をすることができる。その上、プローブ軸2を
強力なばねの付勢力に抗して作動させるものでな
いので、瞬時動作性が優れ、この点からね測定精
度の向上が図れ、しかも、プローブ軸2の許容傾
き、延いてはオーバラン許容範囲が広くなり、測
定作業上便利である。その上、重量片14により
プローブ軸2の姿勢を変更できるので、互いに対
向する方向からの測定が行える。従つて、溝幅
や、穴内径等の測定を行うことができる。また、
本実施例によれば、重量モーメント反転手段をプ
ローブ軸2に螺合された重量片14としたので、
タツチ信号プローブを簡易な構造とすることがで
き、かつ、位置調整、延いては測定圧調整を正確
にできる。さらに、スイツチ23およびスイツチ
検知手段31等により、プローブ軸2の姿勢を変
更して測定する際に生じる接触子13の測定基準
寸法差Dを補正でき、測定の迅速性、正確性を確
保できる。 According to this embodiment, the probe shaft 2 can be held in a predetermined posture by bringing the probe shaft 2 into contact with the first and second position regulating means 16A, 16B with extremely small force. , the measurement pressure can be made extremely small. Therefore, even objects to be measured that are easily deformed, such as synthetic resins, can be measured with high precision. Furthermore, since the probe shaft 2 is not operated against the biasing force of a strong spring, it has excellent instantaneous operation, which improves the accuracy of spring measurement. The overrun tolerance range is widened, which is convenient for measurement work. Moreover, since the attitude of the probe shaft 2 can be changed by the weight piece 14, measurements can be made from directions facing each other. Therefore, the groove width, hole inner diameter, etc. can be measured. Also,
According to this embodiment, since the weight moment reversing means is the weight piece 14 screwed onto the probe shaft 2,
The touch signal probe can have a simple structure, and the position and measurement pressure can be adjusted accurately. Further, the switch 23, the switch detection means 31, etc. can correct the measurement reference dimension difference D of the contactor 13 that occurs when measuring by changing the attitude of the probe shaft 2, thereby ensuring speed and accuracy of measurement.
なお、前記実施例では、重量モーメント反転手
段を重量片14としたが、本考案では、これに限
られるものでなく、たとえば、プローブ軸2を第
1または第2の位置規制手段16A,16Bに微
小な力で当接されるように支持体1に配置し、プ
ローブ軸2の姿勢を変更する際に、第1または第
2の位置規制手段16A,16Bからプローブ軸
2が離反する方向に付勢する弱い力のばね等の付
勢手段をプローブ軸2と支持体1とに介装し、プ
ローブ軸2と第2または第1の位置規制手段16
B,16Aとを極めて微小な力で当接させるもの
であつてもよい。このような場合にあつても、前
述と同様に、測定圧を極めて小さなものとするこ
とができ、また、瞬時動作性も優れたものにでき
る。また、重量モーメント反転手段に重量片14
を用いたとしても、前記実施例のように、プロー
ブ軸2の軸方向に沿つて移動自在とすることを必
ずしも要しない。たとえば、重量片14が取付け
られていない状態で、プローブ軸2がその支軸5
を挟んで接触子側が非接触子側より重量モーメン
トが大きくなるように前記支持体1に軸支させ、
常時は第1の位置規制手段16Aに当接されるよ
うにし、一方、プローブ軸2の姿勢を変更するに
は重量片14をプローブ軸2の他端側に取付けて
前記重量モーメントの大小を反転させるものでも
よい。さらに、重量片14をプローブ軸2の軸方
向に往復移動移動可能にするには、必ずしもプロ
ーブ軸2にねじ部15を形成することを要しな
い。たとえば、プローブ軸2の他端側に重量片1
4を軸方向摺動可能に設けると共に、任意位置で
止めねじ等で固定できるようにしたり、あるい
は、重量片14とプローブ軸2との間に軸方向に
所定間隔離れた位置で停止できる節度機構を設け
てワンタツチで位置変更させるものでもよい。た
だし、前記実施例のように、ねじ部15を形成す
ると、重量片14の微小量の移動を容易に行つて
第1、第2の位置規制手段16A,16Bへのプ
ローブ軸2の当接力を容易に調整できる。また、
スイツチ23およびスイツチ検知手段31は、必
ずしも設けることを要せず、たとえば、第5図に
示されるように、プローブ軸2および前記第1、
第2の電気接点20A,20Bをそれぞれコネク
タ210の異なる端子と接続し、これらの電気接
点20A,20Bのいずれかが解放された時にも
検出信号をコントローラ(第5図中図示せず)に
送るとともに、発光ダイオード22を点燈させる
ものでもよい。この際、いずれの電気接点20
A,20Bが解放されたかは接触子13が被測定
物に当接される前の状態で通電状態にある電気接
点20A,20Bが解放されることで判別でき、
この判別に応じて測定基準寸法差の補正が行なわ
れる。すなわち、コネクタ210の端子4から導
電信号があれば第1の電気接点20Aが閉塞され
た状態でプローブ軸2は第1図中実線状態にあ
り、補正は不要で、一方、コネクタ210の端子
6から導電信号があれば第2の電気接点20Bが
解放された状態でプローブ軸2は第1図中鎖線状
態にあり、補正を要する。また、前記実施例で
は、プローブ軸2が第1の電気接点20Aに接触
した状態で測定を行う場合を基準とし、プローブ
軸2が第2の電気接点20Bに接触した状態で測
定を行う場合、記憶手段45に測定基準寸法差D
を記憶させて測定値の補正を行つたが、本考案で
は、プローブ軸2が中立にあるときに測定基準位
置とし、この基準位置からプローブ軸2が第1ま
たは第2の電気接点20A,20Bに当接したと
きの接触子13の移動寸法(D/2)、(−D/
2)を記憶手段45に記憶させて測定値の補正を
するものでもよい。さらにまた、第1、第2の位
置規制手段16A,16Bは、前記支持体1に対
し、第1図中、右側上下に取付けられるもの、上
側または下側左右に取付けられるものでもよく、
その位置は問わない。 In the above embodiment, the weight moment reversing means is the weight piece 14, but the present invention is not limited to this. For example, the probe shaft 2 may be set to the first or second position regulating means 16A, 16B. The probe shaft 2 is placed on the support 1 so as to be brought into contact with a minute force, and when changing the attitude of the probe shaft 2, the probe shaft 2 is attached in the direction away from the first or second position regulating means 16A, 16B. A biasing means such as a spring with a weak force is interposed between the probe shaft 2 and the support body 1, and the probe shaft 2 and the second or first position regulating means 16 are
B and 16A may be brought into contact with each other with extremely small force. Even in such a case, the measurement pressure can be made extremely small and the instantaneous operability can be made excellent, as described above. In addition, the weight piece 14 is used as the weight moment reversal means.
Even if the probe shaft 2 is used, it is not necessarily required to be movable along the axial direction of the probe shaft 2 as in the above embodiment. For example, when the weight piece 14 is not attached, the probe shaft 2 is
The support body 1 is pivotally supported so that the contact side has a larger weight moment than the non-contact side across the contact side,
At all times, the probe shaft 2 is brought into contact with the first position regulating means 16A, but in order to change the attitude of the probe shaft 2, the weight piece 14 is attached to the other end of the probe shaft 2 to reverse the magnitude of the weight moment. It may also be something that allows you to do so. Further, in order to enable the weight piece 14 to reciprocate in the axial direction of the probe shaft 2, it is not necessarily necessary to form the threaded portion 15 on the probe shaft 2. For example, if there is a weight piece on the other end of the probe shaft 2,
4 is provided to be slidable in the axial direction, and can be fixed at any position with a set screw, or a moderation mechanism that can be stopped at a position separated by a predetermined distance in the axial direction between the weight piece 14 and the probe shaft 2. It is also possible to provide a device that allows the position to be changed with a single touch. However, if the threaded portion 15 is formed as in the embodiment described above, the weight piece 14 can be easily moved by a minute amount and the contact force of the probe shaft 2 against the first and second position regulating means 16A, 16B can be reduced. Easy to adjust. Also,
The switch 23 and the switch detection means 31 do not necessarily need to be provided; for example, as shown in FIG.
The second electrical contacts 20A, 20B are respectively connected to different terminals of the connector 210, and a detection signal is also sent to the controller (not shown in FIG. 5) when either of these electrical contacts 20A, 20B is released. In addition, the light emitting diode 22 may be turned on. At this time, any electrical contact 20
Whether A and 20B are released can be determined by the release of electrical contacts 20A and 20B that are energized before the contactor 13 comes into contact with the object to be measured.
The measurement standard dimensional difference is corrected in accordance with this determination. That is, if there is a conductive signal from the terminal 4 of the connector 210, the first electrical contact 20A is closed and the probe shaft 2 is in the solid line state in FIG. 1, and no correction is necessary. If there is a conductive signal from , the second electrical contact 20B is released and the probe shaft 2 is in the state indicated by the chain line in FIG. 1, and correction is required. In addition, in the above embodiment, the case where the measurement is performed with the probe shaft 2 in contact with the first electrical contact 20A is used as a reference, and when the measurement is performed with the probe shaft 2 in contact with the second electrical contact 20B, The measurement standard dimensional difference D is stored in the storage means 45.
However, in the present invention, the measurement reference position is set when the probe shaft 2 is in the neutral position, and the probe shaft 2 moves from this reference position to the first or second electrical contact 20A, 20B. The movement dimension of the contactor 13 when it comes into contact with (D/2), (-D/
2) may be stored in the storage means 45 to correct the measured value. Furthermore, the first and second position regulating means 16A, 16B may be attached to the support body 1 at the upper and lower right sides in FIG. 1, or may be attached at the upper or lower left and right sides,
The location doesn't matter.
前述のような本考案によれば、互いに対向する
2方向からプローブを接触させて測定する場合で
あつても、極めて小さな測定力で、瞬時動作性に
優れ、大きなオーバラン許容範囲を得ることがで
きる。
According to the present invention as described above, even when measuring by bringing the probes into contact from two opposing directions, it is possible to obtain excellent instantaneous operation and a large overrun tolerance with extremely small measuring force. .
第1図は本考案に係る一実施例の概略構成図、
第2図は第1図中−線に沿う矢視断面図、第
3図は前記実施例の配線図、第4図は前記実施例
のブロツク図、第5図は本考案に係る変形例の配
線図である。
1……プローブ軸支持体、2……プローブ軸、
5……軸支部としての支軸、13……接触子、1
4……重量モーメント反転手段としての重量片、
16A……第1の位置規制手段、16B……第2
の位置規制手段、20A……第1のタツチ信号検
出用の電気接点、20B……第2のタツチ信号検
出用の電気接点、23……切換手段としてのスイ
ツチ。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an embodiment according to the present invention,
2 is a sectional view taken along the line - in FIG. 1, FIG. 3 is a wiring diagram of the embodiment, FIG. 4 is a block diagram of the embodiment, and FIG. 5 is a modification of the present invention. This is a wiring diagram. 1...Probe shaft support, 2...Probe shaft,
5... Support shaft as a shaft support, 13... Contact, 1
4... Weight piece as weight moment reversal means,
16A...first position regulating means, 16B...second
position regulating means, 20A... electrical contact for first touch signal detection, 20B... electrical contact for second touch signal detection, 23... switch as switching means.
Claims (1)
端に接触子を有するプローブ軸と、 このプローブ軸と接離可能に前記支持体に取
付けられ、プローブ軸と当接してプローブ軸の
一方向の回動を阻止する第1の位置規制手段
と、 前記プローブ軸と接離可能に支持体に取付け
られ、プローブ軸と当接してプローブ軸の前記
一方向と逆方向の回動を阻止する第2の位置規
制手段と、 プローブ軸の前記軸支部を挟んだ接触子側と
反接触子側との重量モーメントの大小を反転し
て第1および第2の位置規制手段の間でプロー
ブ軸の回動方向を変更する重量モーメント反転
手段と、 第1および第2の位置規制手段とプローブ軸
との当接箇所に形成された第1および第2のタ
ツチ信号検出用の電気接点とを備えたことを特
徴とするタツチ信号プローブ。 (2) 実用新案登録請求の範囲第1項において、前
記重量モーメント反転手段は、プローブ軸の軸
支部より反接触子側にプローブ軸の軸方向に移
動可能に設けられ、この移動により軸支部を挟
んだ接触子側と反接触子側との重量モーメント
の大小を反転する重量片であることを特徴とす
るタツチ信号プローブ。 (3) 実用新案登録請求の範囲第1項または第2項
において、前記第1の位置規制手段と第2の位
置規制手段とを電気的に切り換える切換手段を
備えることを特徴とするタツチ信号プローブ。[Claims for Utility Model Registration] (1) A probe shaft rotatably supported on a probe shaft support and having a contact at one end; a first position regulating means that comes into contact with the shaft and prevents the probe shaft from rotating in one direction; a first position regulating means that is attached to a support so as to be able to come into contact with and separate from the probe shaft, and that comes into contact with the probe shaft and prevents the probe shaft from rotating in the one direction; a second position regulating means for preventing rotation in a direction opposite to that of the probe shaft; Weight moment reversal means for changing the rotational direction of the probe shaft between the position regulating means, and first and second touch signals formed at the contact points between the first and second position regulating means and the probe shaft. A touch signal probe characterized by being equipped with an electric contact for detection. (2) Utility Model Registration In claim 1, the weight moment reversing means is provided so as to be movable in the axial direction of the probe shaft on the side opposite to the contactor from the shaft support of the probe shaft, and this movement causes the shaft support to move. A touch signal probe characterized in that it is a weight piece that reverses the magnitude of the weight moment between the sandwiched contact side and the opposite contact side. (3) The touch signal probe according to claim 1 or 2 of the utility model registration claim, characterized in that it is provided with a switching means for electrically switching between the first position regulating means and the second position regulating means. .
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3073887U JPH0421049Y2 (en) | 1987-03-02 | 1987-03-02 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3073887U JPH0421049Y2 (en) | 1987-03-02 | 1987-03-02 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63137811U JPS63137811U (en) | 1988-09-12 |
| JPH0421049Y2 true JPH0421049Y2 (en) | 1992-05-14 |
Family
ID=30835825
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3073887U Expired JPH0421049Y2 (en) | 1987-03-02 | 1987-03-02 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0421049Y2 (en) |
-
1987
- 1987-03-02 JP JP3073887U patent/JPH0421049Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63137811U (en) | 1988-09-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS5920642Y2 (en) | touch signal probe | |
| US3660906A (en) | Three-axis inspection probe | |
| US12196544B2 (en) | Test indicator | |
| JPS58169001A (en) | Two-way touch sensor | |
| US5743020A (en) | Three-axis continuous probe | |
| US4127841A (en) | Multi-direction controlling mechanism | |
| US5836082A (en) | Three-axis probe | |
| JPH0421049Y2 (en) | ||
| JP7637329B2 (en) | Shape measuring device | |
| US7415775B2 (en) | Orientable probe | |
| US4005528A (en) | Measuring device for gauging mechanical pieces in particular pieces including rotation surfaces | |
| JP2987607B2 (en) | 3D coordinate measuring machine | |
| CN217033063U (en) | Reciprocating rolling pendulum testing device | |
| JPS6350751Y2 (en) | ||
| JPS60119402A (en) | Tactile sense device | |
| JPS6222002A (en) | Displacement detection head | |
| JPH0137915Y2 (en) | ||
| JPS5815844Y2 (en) | probe | |
| JP3019987B2 (en) | Automatic dimension measuring device | |
| JPH041850B2 (en) | ||
| JPS59125011A (en) | Contact distance sensor for moving body | |
| JPH0424642B2 (en) | ||
| JPH06147807A (en) | Method and apparatus for measuring profile | |
| JPS6119895Y2 (en) | ||
| SU1728625A1 (en) | Measuring head |