JPH0499361A - リードフレーム - Google Patents

リードフレーム

Info

Publication number
JPH0499361A
JPH0499361A JP2217513A JP21751390A JPH0499361A JP H0499361 A JPH0499361 A JP H0499361A JP 2217513 A JP2217513 A JP 2217513A JP 21751390 A JP21751390 A JP 21751390A JP H0499361 A JPH0499361 A JP H0499361A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
cull
cavity
lead frame
cavities
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2217513A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2828749B2 (ja
Inventor
Hitoshi Kobayashi
均 小林
Yuichi Asano
祐一 浅野
Fumihito Takahashi
高橋 文仁
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Miyagi Electronics Ltd
Original Assignee
Fujitsu Miyagi Electronics Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Miyagi Electronics Ltd filed Critical Fujitsu Miyagi Electronics Ltd
Priority to JP2217513A priority Critical patent/JP2828749B2/ja
Publication of JPH0499361A publication Critical patent/JPH0499361A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2828749B2 publication Critical patent/JP2828749B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [概 要] リードフレームに関し、 それぞれのキャビティに樹脂が充てんされる時間差に起
因してパッケージに、樹脂の充てん不足や空洞が生ずる
のを防ぐことを目的とし、樹脂封止される際、カルから
連なるランナに列設されたゲートを介して配設された複
数対のキャビティに連架されるリードフレームであって
、前記リードフレームは、複数個の樹脂溜まりを有し、
かつ樹脂溜まりのそれぞれの容積が、キャビティのそれ
ぞれに流入する樹脂の充てん時間を、カルからの距離に
係わらずは−等しくするように決められているものであ
るように構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、リードフレームに係わり、特にリードフレー
ムに樹脂溜まりを設けて、それぞれの金型のキャビティ
に流入する樹脂の充てん時間をはX゛等しくし、カルに
近いキャビティで樹脂の充てん量不足や空洞が生じない
ようにしてなるリードフレームに関する。
近年、半導体集積回路(IC)によるIC化が目ざまし
く、ICの生産数量も飛躍的に拡大しており、それに伴
って、ICの製造技術、つまりウェーハの段階から半導
体装置として製品に仕上げるまでの一連の製造プロセス
の製造技術の重要性がますます増大している。
その中で組立工程は、ウェーハをチップに切断してから
マウントしてボンディングし、封止してマーキングする
までの工程であり、素子の微細化・高密度化・大容量化
に伴って、ICの製造コストに最も響く重要な工程にな
っている。
特に封止工程は、素子を保護したり導出端子を取り出し
たりするためのパッケージを行うもので、種々のパッケ
ージ形態と封止方法が採られているが、製造効率がよく
コストも安いことから、モールド技術を応用した樹脂封
止によるプラスチックパッケージが多用されている。
しかし、パンケージから引き出されるリードの数が増え
るのに伴ってパッケージが大型化する傾向にあり、樹脂
封止技術がますます重要になっている。
〔従来の技術〕
半導体装置の樹脂封止は、例えば、ステージと呼ばれる
載置部にチップが固着され、インナーリードと呼ばれる
端子部に金線などでワイヤボンディングされたリードフ
レームを、封止金型にセットして封止樹脂を流し込んで
行われる。
第3図は樹脂封止用金型装置の一例の斜視図である。
図中、1はリードフレーム、11はクレードル部、12
はステージ、13はサポートバー、14はダムバー15
はリード、3はカル、4はランナ、5はゲート、6はキ
ャビティ、10は下型、20は上型、30は金型装置で
ある。
半導体装置の樹脂封止は、他の電子部品などと同様、精
密でしかも低い成形圧力で成形する必要があるため、例
えばエポキシ樹脂のような熱硬化性の樹脂を用いたトラ
ンスファ成形法の一種である低圧封入成形法によって行
われるのが一般的である。
従って、第3図に示した金型装置30は、トランスファ
成形用の金型の一例であり、衝合し合う上型20と下型
10とから構成されている。
そして、例えば半導体装置であればチップがマウントさ
れたリードフレーム1が、図示してないローディングフ
レームと呼ばれる保持具によって運ばれ、2つの型10
.20に挟持されて樹脂封止が行われる。
上型20には、樹脂を投入して加熱して溶融軟化させ可
塑化させて金型に押し込むためのポット2a(材料室)
が設けられている。
半導体装置などの樹脂封止の場合には、1回の成形によ
って複数個の成形品が得られるいわゆる多数個取りが一
般である。その場合には、ポット2aに連なってスプル
ー2bと呼ばれる注入孔を経由してカル3が設けられて
いる。
このカル3から先に穿設される凹部(広義のキャビティ
)とか凸部(コア)などは、成形品の形状に応じて下型
10と上型20とに適宜設けられており、2つの型10
.20を衝合させたとき、所望の成形品が得られるよう
に構成されている。
そして、このカル3からは四方双方に放射状に広がった
複数個のランナ4(湯道)が設けられている。
ポット2aで加熱溶融されて軟化し可塑化された樹脂は
、まず、スプルー2bを介してカル3に押し出される。
次いで、樹脂はそのカル3からランナ4を通り、最後に
分岐したゲート5からそれぞれのキャビティ6に充てん
される。
ところで、熱硬化性樹脂の成形過程は、可塑化、賦形、
硬化の3つの段階を経て行われる。
すなわち、トランスファ成形法においては、まず、ボッ
)2aの中で加熱され可塑化されて粘度が低下し流動し
易くなった第一段階の樹脂は、ランナ4を通ってキャビ
ティ6の中に充てんされるまで可塑化の第一段階にある
。そして、第二段階において、樹脂はキャビティ6のす
みずみまで十分に充てんされて所定の成形圧力に達し、
所望の形状が賦与される。この後、熱硬化性の樹脂の場
合には、例えば縮合重合とか付加重合とかいった化学反
応によって、第三段階の硬化が行われる。
トランスファ成形においては、複数個の全部のキャビテ
ィ6の隅々まで樹脂が行き渡り、成形圧力が全部のキャ
ビティ6に一様に掛かって第二段階が終了してから、第
三段階の硬化が始まることが望ましい。
ところが、ICの大量生産用として1回の成形によって
得られる成形品の数が増大したり、パッケージが大きく
なったりするにつれて、金型装置30の規模も大きくな
っており、ランナ4も長くなり、キャビティ6も数が増
えたり容積が大きくなったりしている。
そのため、カル3に近い中央部に寄ったキャビティ6と
、カル3から隔たって周辺部のキャビティ6とでは、樹
脂が隅々まで充てんされるまでに時間差が生じる。
そして、時間的に早く充てんされたカル3に近いキャビ
ティ6の中の樹脂は、所定の成形圧力が十分に掛からな
い状態で流れが停止する。そうすると、熱硬化性樹脂の
性質として、早々に硬化が始まる。
そのため、キャビティ6の中で樹脂の充てん不足が生じ
たり、成形品の中に空洞(ボイド)が生じることが間々
起きる。
これに対しては、従来、例えばキャビティ6の数に見合
ってボット2aの数を増やしたマルチポット金型装置な
どがある。しかし、1回の成形によって得られる成形品
の数に制約があり、効率的な解決策になっていなかった
〔発明が解決しようとする課題〕
このように、金型の規模が大きくなり、それによってキ
ャビティの数が増えたり容積が大きくなると、カルに近
いキャビティとカルから隔たったキャビティとの間で樹
脂の充てんに要する時間が異なってくる。
それで、カルから隔たって周辺部のキャビティでは、樹
脂が充てん中なのでまだ十分に成形圧力が掛からないに
もかかわらず、カルに近い中央部のキャビティでは、す
でに樹脂の流れが停止し、硬化が始まるといった状態が
生じる。
そのため、カルに近い中央部のキャビティにおいては、
成形圧力が不十分な状態で硬化が進行してしまい、樹脂
の充てん不足が生じたり、樹脂が硬化してしまうために
空気の逃げ場が無くなって成形品の中に空洞が生じる問
題があった。
そこで、本発明においては、それぞれのキャビティに対
する樹脂の充てん時間かはX等しくなるように、それぞ
れのキャビティにセットされるリードフレームに容量勾
配をもった樹脂溜まりを設けてなるリードフレームを提
供することを目的としている。
[課題を解決するための手段] 上で述べた課題は、 樹脂封止される際、カルから連なるランナに列設された
ゲートを介して配設された複数対のキャビティに連架さ
れるリードフレームであって、前記リードフレームは、
複数個の樹脂溜まりを有し、かつ樹脂溜まりのそれぞれ
の容積が、ゲートを介してキャビティのそれぞれに流入
する樹脂の充てん時間を、カルからの距離に係わらずは
\゛等しくするように決められているものであるように
構成されたリードフレームによって解決される。
[作 用] キャビティに充てんされる樹脂は、カルから連なるラン
ナに列設されたゲートを介して順次流入するので、樹脂
の充てん時間がカルに近いキャビティはど短(、遠ざか
るキャビティはど長くなる時間差を生じるのに対して、
本発明においては、それぞれのキャビティの樹脂の充て
ん時間かはヌ等しくなるようにしている。
すなわち、リードフレームに複数個の樹脂溜まりを設け
、その樹脂溜まりにキャビティに流入した樹脂が溜まる
ようにしている。
この樹脂溜まりの容積は、カルに近いキャビティでは樹
脂が流入し易くて充てん短時間で充てんが終わるので、
充てん時間を引き延ばすために大きな容量になるように
している。そして、キャビティがカルから遠ざかるに従
って次第に樹脂が流入し難くくなって充てんに長い時間
を要するようになるので、樹脂溜まりの容積が順次小さ
くなるようにしている。
こうして、樹脂溜まりに容積勾配を設け、それぞれのキ
ャビティに樹脂が充てんされる時間かは一゛等しくなる
ようにしてやれば、特にカルに近いキャビティで成形さ
れたパッケージで起こりがちな樹脂の充てん不足や空洞
を防くことができる。
[実施例〕 第1図は本発明の実施例の斜視図、第2図は第を図の要
部の拡大斜視図である。
図中、1はリードフレーム、11はクレードル部、12
はステージ、13はサポートバー、14はダムバー15
はリード、2は樹脂溜まり、3はカル、4はランナ、5
はゲート、6はキャビティ、10は下型である。
リードフレーム1は、Fe系やCu系の合金製で、例え
ば0.2mm程度の帯条を抜き打ち加工したりエツチン
グしたりして作られる。
リードフレーム1の構成は、クレードル部11に囲まれ
て、中央部に半導体素子のチップがマウントされるステ
ージ12がサポートパー13に支持されて一段低く設け
られている。
また、樹脂封止の際に樹脂の流出を防ぐダムバー14を
横切って、複数本のり一部15がステージ12に向かっ
て配設されている。
そして、樹脂溜まり2がサポートバー13の近傍からク
レードル部11に向かって穿設されている。
一方、下型10には、カル3から放射状に連なったラン
ナ4に複数個のゲート5が設けられており、そのゲート
5のそれぞれを介して複数個のキャビティ6が設けられ
ている。
リードフレーム1は、下型10と上型20とによって、
ダムバー14の内側の近傍をキャビティ6の境界内壁が
挾むようにして支持される。そのため、衝合された下型
10と上型20との間には、リードフレームlの厚み分
だけ隙間が空いている。
従って、樹脂溜まり2には、サポートパー13の近傍か
らリードフレーム1の厚み分の隙間を通って樹脂が流入
される。
ところで、それぞれのキャビティ6に対する樹脂の充て
ん時間は、カル3に最も近いキャビティ6から次第に隔
たっていくにつれては一直線的に長くなっていく。
それで、それぞれの樹脂溜まり2の容積を決めるには、
まず、カル3に最も近いキャビティ6が充てん完了にな
った時点で、カル3から最も隔たったキャビティ6で起
こる樹脂の充てん不足分の容積を調べる。そして、この
容積を、カル3に最も近いキャビティ6に横架されるリ
ードフレーム1の樹脂溜まり2の容積とする。キャビテ
ィ6の個数に対応して順次樹脂溜まり2の容積を段階的
に小さくしていく。カル3から最も隔たったキャビティ
6に横架されるリードフレーム1には樹脂溜まり2を設
けなくてよい。
こうして、それぞれのキャビティ6に樹脂が充てんされ
る時間をほり等しくすることができる。
ニーでは、リードフレーム1のクレードル部11に樹脂
溜まり2を設けたが、他に設ける領域があれば、クレー
ドル部工1に限定されることはない。
また、リードフレーム1に対する樹脂溜まり2の加工は
、帯条を抜き打ちする場合ならば、その際に同時加工す
ることもできるし、シート単位の長さで後加工してもよ
い。
また、エツチングによる場合には、例えばシート単位で
同時加工する方が効率的である。
〔発明の効果〕
本発明によれば、従来から用いられている金型に何らて
を加えずに、リードフレームに樹脂溜まりを設けること
によって、それぞれのキャビティに流入する樹脂の充て
ん時間をは\゛等しくなるように調整することができる
その結果、特にカルに近い中央部のキャビティにおいて
起こりがちな樹脂の充てん不足や空洞の発生を防ぐこと
ができる。
従って、本発明は樹脂封止半導体装置などの封止工程に
おける歩留り向上に寄与するところが大である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例の斜視図、 第2図は第1図の要部の拡大斜視図、 第3図は樹脂封止用金型装置の一例の斜視図、である。 図において、 lはリードフレーム、 2は樹脂溜まり、 4はランチ、 6はキャビティ、 である。 11はクレードル部、 3はカル、 5はゲート、 1 リード几私 第1図の要部の梳人到↑貝図 第2図 本年明/)覚殊r+の斜坦図 第1層 樹月社寸JIJ金型1ビVの−f1の会仔用コ梧 3図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 樹脂封止される際、カル(3)から連なるランナ(4)
    に列設されたゲート(5)を介して配設された複数対の
    キャビティ(6)に連架されるリードフレーム(1)で
    あって、 前記リードフレーム(1)は、複数個の樹脂溜まり(2
    )を有し、かつ該樹脂溜まり(2)のそれぞれの容積が
    、前記キャビティ(6)のそれぞれに流入する樹脂の充
    てん時間を、前記カル(3)からの距離に係わらずほゞ
    等しくするように決められているものである ことを特徴とするリードフレーム。
JP2217513A 1990-08-17 1990-08-17 リードフレーム Expired - Lifetime JP2828749B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2217513A JP2828749B2 (ja) 1990-08-17 1990-08-17 リードフレーム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2217513A JP2828749B2 (ja) 1990-08-17 1990-08-17 リードフレーム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0499361A true JPH0499361A (ja) 1992-03-31
JP2828749B2 JP2828749B2 (ja) 1998-11-25

Family

ID=16705410

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2217513A Expired - Lifetime JP2828749B2 (ja) 1990-08-17 1990-08-17 リードフレーム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2828749B2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JP2828749B2 (ja) 1998-11-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3956335B2 (ja) 樹脂注型用金型を用いた半導体装置の製造方法
CN106920757A (zh) 集成电路封装模具组合件
KR20010001885U (ko) 반도체 패키지 제조용 리드프레임
JP3512441B2 (ja) スロット付き導線フレーム及び集積回路パッケージを成形する方法
JP5065747B2 (ja) 半導体パッケージの製造方法及び製造装置
KR102407742B1 (ko) 수지 성형된 리드 프레임의 제조 방법, 수지 성형품의 제조 방법 및 리드 프레임
US5672550A (en) Method of encapsulating semiconductor devices using a lead frame with resin tablets arranged on lead frame
JP2000003923A (ja) 半導体装置の樹脂封止方法及びその樹脂封止装置
JPH06285898A (ja) 平衡型のランナを有するトランスファモールドとその製造方法
CN103021902A (zh) 半导体封装铸模装置及方法
JP2828749B2 (ja) リードフレーム
JP2598988B2 (ja) 電子部品の樹脂封止成形方法
CN101361175A (zh) 电子器件的树脂封固成形方法及其使用的模具组件和引线框
JP2834257B2 (ja) 半導体装置の製造方法およびモールド装置
JP3317346B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JPH03290217A (ja) 樹脂封止用金型装置
JPH06177189A (ja) 傾斜するゲートを有する半導体モールド装置
JPH03264322A (ja) 樹脂封止用金型装置
JPH04293243A (ja) 樹脂封止用金型装置とゲートの切断方法
KR100983304B1 (ko) 리이드 프레임 및, 그것을 적용하여 제조된 반도체 팩키지및, 반도체 팩키지의 제조 방법
JPH09181105A (ja) 半導体樹脂封止用金型
TWM328665U (en) Package mold for avoiding void or envelope
KR19990012316A (ko) 반도체 패키지의 몰딩 금형 장치
JPH0752188A (ja) モールド金型と半導体装置の製造方法
JPH02246349A (ja) 半導体装置の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080918

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080918

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090918

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090918

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100918

Year of fee payment: 12

EXPY Cancellation because of completion of term