JPH05164522A - ３次元情報取り込み方式 - Google Patents
３次元情報取り込み方式Info
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- JPH05164522A JPH05164522A JP3328670A JP32867091A JPH05164522A JP H05164522 A JPH05164522 A JP H05164522A JP 3328670 A JP3328670 A JP 3328670A JP 32867091 A JP32867091 A JP 32867091A JP H05164522 A JPH05164522 A JP H05164522A
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- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims abstract description 34
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 23
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 20
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 claims description 15
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Image Analysis (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Image Input (AREA)
- Image Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 サーボ機構によらずスリット状の光を走査す
ると共に、対象物についての高精度の３次元情報を取り
込む。 【構成】 投光器１０に透過型回折格子１４と液晶シャ
ッタアレイ１５が設けられ、透過型回折格子１４はスリ
ット状の光を多重化し、液晶シャッタアレイ１５は、そ
の多重化されたスリット状の光のうち１本を透過し、そ
の他の光を遮断する。投光器１０はその一本のスリット
状の光を対象物４０に照射し、ＣＣＤカメラ２０はその
対象物４０を撮像する。画像処理装置３０は、液晶シャ
ッタアレイ１５のオンオフ制御を行うことにより、スリ
ット状の光を対象物上に走査させると共に、その各走査
光によって照射された対象物４０の各画像データをＣＣ
Ｄカメラ２０から受け取り、対象物４０の３次元情報と
して取り込む。
ると共に、対象物についての高精度の３次元情報を取り
込む。 【構成】 投光器１０に透過型回折格子１４と液晶シャ
ッタアレイ１５が設けられ、透過型回折格子１４はスリ
ット状の光を多重化し、液晶シャッタアレイ１５は、そ
の多重化されたスリット状の光のうち１本を透過し、そ
の他の光を遮断する。投光器１０はその一本のスリット
状の光を対象物４０に照射し、ＣＣＤカメラ２０はその
対象物４０を撮像する。画像処理装置３０は、液晶シャ
ッタアレイ１５のオンオフ制御を行うことにより、スリ
ット状の光を対象物上に走査させると共に、その各走査
光によって照射された対象物４０の各画像データをＣＣ
Ｄカメラ２０から受け取り、対象物４０の３次元情報と
して取り込む。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は視覚センサを用いて対象
物の３次元情報を取り込む３次元情報取り込み方式に関
し、特にロボットの作業対象物の３次元位置及び姿勢を
計測するための３次元情報取り込み方式に関する。
物の３次元情報を取り込む３次元情報取り込み方式に関
し、特にロボットの作業対象物の３次元位置及び姿勢を
計測するための３次元情報取り込み方式に関する。
【０００２】
【従来の技術】ロボットに作業を行わせる際、作業対象
物の位置及び姿勢が一定の状態で供給されないときは、
一般的に視覚センサを用いてその作業対象物の位置及び
姿勢を計測し、ロボットに認識させるという方法が採ら
れている。さらに、その作業対象物が３次元的に不定な
場合、あるいは３次元的に処理せざるを得ない場合に
は、３次元視覚センサを用いて作業対象物の３次元情報
を取得し、処理する必要がある。
物の位置及び姿勢が一定の状態で供給されないときは、
一般的に視覚センサを用いてその作業対象物の位置及び
姿勢を計測し、ロボットに認識させるという方法が採ら
れている。さらに、その作業対象物が３次元的に不定な
場合、あるいは３次元的に処理せざるを得ない場合に
は、３次元視覚センサを用いて作業対象物の３次元情報
を取得し、処理する必要がある。
【０００３】この３次元視覚センサを用いて３次元情報
を取得する方式には、一般に、ステレオビジョン方式と
ストラクチャードライトビジョン方式とがある。ステレ
オビジョン方式は、左右２台のカメラにより得られた画
像間の対応点を用い、三角測量の原理によって奥行き方
向の距離を得る方式である。この方式では、画像が複雑
になったり、一方の画像では見えていて他方の画像では
見えないという部分が多くなると、左右の画像間での対
応探索が難しくなる。また、画像の明るさは、周囲の光
に依存しているので、照明状態の善し悪しに大きな影響
を受けてしまう。
を取得する方式には、一般に、ステレオビジョン方式と
ストラクチャードライトビジョン方式とがある。ステレ
オビジョン方式は、左右２台のカメラにより得られた画
像間の対応点を用い、三角測量の原理によって奥行き方
向の距離を得る方式である。この方式では、画像が複雑
になったり、一方の画像では見えていて他方の画像では
見えないという部分が多くなると、左右の画像間での対
応探索が難しくなる。また、画像の明るさは、周囲の光
に依存しているので、照明状態の善し悪しに大きな影響
を受けてしまう。
【０００４】そこで、このような欠点を解消するため
に、ストラクチャードライトビジョン方式では、２台の
カメラの一方を投光器に置き換えて意味のあるパターン
光を発生させ、そのパターン光を対象物に投影すること
で３次元情報を取得するようにしている。例えば、スリ
ット状の光を対象物上に順次走査して画像を撮り、三角
測量の原理によって３次元情報を取得する。なお、その
スリット状の光は、レーザ光がシリンドリカルレンズを
通ることで得られる。
に、ストラクチャードライトビジョン方式では、２台の
カメラの一方を投光器に置き換えて意味のあるパターン
光を発生させ、そのパターン光を対象物に投影すること
で３次元情報を取得するようにしている。例えば、スリ
ット状の光を対象物上に順次走査して画像を撮り、三角
測量の原理によって３次元情報を取得する。なお、その
スリット状の光は、レーザ光がシリンドリカルレンズを
通ることで得られる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】このストラクチャード
ライトビジョン方式では、スリット状の光の走査は、光
学スキャナを用いて行われる。この光学スキャナはサー
ボ機構によって駆動し、光学スキャナのミラーはそのサ
ーボ機構によって指令信号に応じた任意の回転角度に制
御される。ところで、その回転角度制御を行うために、
光学スキャナ内部に回転角度検出用のセンサが設けられ
ているが、このセンサは温度依存性を有している。この
ため、スリット状の光の走査を高精度に制御しようとす
ると、そのセンサの温度依存性が問題となってくる。特
に、ストラクチャードライトビジョン方式を産業用ロボ
ットシステムに適用する場合のように、環境条件が悪い
場所で使用する際に問題となる。
ライトビジョン方式では、スリット状の光の走査は、光
学スキャナを用いて行われる。この光学スキャナはサー
ボ機構によって駆動し、光学スキャナのミラーはそのサ
ーボ機構によって指令信号に応じた任意の回転角度に制
御される。ところで、その回転角度制御を行うために、
光学スキャナ内部に回転角度検出用のセンサが設けられ
ているが、このセンサは温度依存性を有している。この
ため、スリット状の光の走査を高精度に制御しようとす
ると、そのセンサの温度依存性が問題となってくる。特
に、ストラクチャードライトビジョン方式を産業用ロボ
ットシステムに適用する場合のように、環境条件が悪い
場所で使用する際に問題となる。
【０００６】本発明はこのような点に鑑みてなされたも
のであり、回転角度検出用のセンサが不要で、サーボ機
構によらずスリット状の光を走査すると共に、対象物に
ついての高精度の３次元情報を取り込むことができる３
次元情報取り込み方式を提供することを目的とする。
のであり、回転角度検出用のセンサが不要で、サーボ機
構によらずスリット状の光を走査すると共に、対象物に
ついての高精度の３次元情報を取り込むことができる３
次元情報取り込み方式を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明では上記課題を解
決するために、視覚センサを用いて対象物の３次元情報
を取り込む３次元情報取り込み方式において、スリット
状の光を透過型回折格子を用いて多重化し、前記多重化
されたスリット状の光のうち液晶シャッタアレイを透過
したスリット状の光を前記対象物に照射する投光器と、
前記投光器からのスリット状の光によって照射された前
記対象物を撮像する視覚センサと、前記液晶シャッタア
レイのオンオフ制御を行い前記液晶シャッタアレイを透
過したスリット状の光を前記対象物上に照射させると共
に、前記視覚センサからの各画像データを前記対象物の
３次元情報として取り込む画像処理制御部と、を有する
ことを特徴とする３次元情報取り込み方式が、提供され
る。
決するために、視覚センサを用いて対象物の３次元情報
を取り込む３次元情報取り込み方式において、スリット
状の光を透過型回折格子を用いて多重化し、前記多重化
されたスリット状の光のうち液晶シャッタアレイを透過
したスリット状の光を前記対象物に照射する投光器と、
前記投光器からのスリット状の光によって照射された前
記対象物を撮像する視覚センサと、前記液晶シャッタア
レイのオンオフ制御を行い前記液晶シャッタアレイを透
過したスリット状の光を前記対象物上に照射させると共
に、前記視覚センサからの各画像データを前記対象物の
３次元情報として取り込む画像処理制御部と、を有する
ことを特徴とする３次元情報取り込み方式が、提供され
る。
【０００８】
【作用】投光器に透過型回折格子と液晶シャッタアレイ
が設けられる。透過型回折格子はスリット状の光を多重
化し、液晶シャッタアレイは、その多重化されたスリッ
ト状の光のうち１本を透過し、その他の光を遮断する。
投光器はその液晶シャッタアレイからの一本のスリット
状の光を対象物に照射する。視覚センサは、その照射さ
れた対象物を撮像する。画像処理制御部は、液晶シャッ
タアレイのオンオフ制御を行うことにより、スリット状
の光を対象物上に走査させると共に、その各スリット状
の光（走査光）によって照射された対象物の各画像デー
タを視覚センサから受け取り、対象物の３次元情報とし
て取り込む。このように、投光器に透過型回折格子と液
晶シャッタアレイとを設け、その液晶シャッタアレイの
オンオフ制御を行うことにより、スリット状の光の走査
をサーボ機構等の機械式可動部によらずに行うことがで
きる。このため、温度依存性を有する回転角度検出用セ
ンサも不要となる。したがって、高精度の光走査を行う
ことができ、対象物についての高精度の３次元情報を視
覚センサから取り込むことができる。
が設けられる。透過型回折格子はスリット状の光を多重
化し、液晶シャッタアレイは、その多重化されたスリッ
ト状の光のうち１本を透過し、その他の光を遮断する。
投光器はその液晶シャッタアレイからの一本のスリット
状の光を対象物に照射する。視覚センサは、その照射さ
れた対象物を撮像する。画像処理制御部は、液晶シャッ
タアレイのオンオフ制御を行うことにより、スリット状
の光を対象物上に走査させると共に、その各スリット状
の光（走査光）によって照射された対象物の各画像デー
タを視覚センサから受け取り、対象物の３次元情報とし
て取り込む。このように、投光器に透過型回折格子と液
晶シャッタアレイとを設け、その液晶シャッタアレイの
オンオフ制御を行うことにより、スリット状の光の走査
をサーボ機構等の機械式可動部によらずに行うことがで
きる。このため、温度依存性を有する回転角度検出用セ
ンサも不要となる。したがって、高精度の光走査を行う
ことができ、対象物についての高精度の３次元情報を視
覚センサから取り込むことができる。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。図１は本発明の全体構成を示す図である。図に
おいて、本発明の３次元情報取り込み方式は、投光器１
０、ＣＣＤカメラ２０及び画像処理装置３０から構成さ
れる。投光器１０のレーザ光源１２は、例えば半導体レ
ーザであり、電源１１の印加電圧によって励起されて出
力されたレーザ光は、図示されていないレンズにより集
光されてシリンドリカルレンズ１３に導かれ、スリット
状の光になる。シリンドリカルレンズ１３の後方に設置
された透過型回折格子１４は、光ファイバを縦列に配列
して構成されたものであり、スリット状の光は、この透
過型回折格子１４を通過する際にその各ファイバのレン
ズ作用によって多重化され、数本〜十数本のスリット状
の光になる。
明する。図１は本発明の全体構成を示す図である。図に
おいて、本発明の３次元情報取り込み方式は、投光器１
０、ＣＣＤカメラ２０及び画像処理装置３０から構成さ
れる。投光器１０のレーザ光源１２は、例えば半導体レ
ーザであり、電源１１の印加電圧によって励起されて出
力されたレーザ光は、図示されていないレンズにより集
光されてシリンドリカルレンズ１３に導かれ、スリット
状の光になる。シリンドリカルレンズ１３の後方に設置
された透過型回折格子１４は、光ファイバを縦列に配列
して構成されたものであり、スリット状の光は、この透
過型回折格子１４を通過する際にその各ファイバのレン
ズ作用によって多重化され、数本〜十数本のスリット状
の光になる。
【００１０】この透過型回折格子１４の後方に液晶シャ
ッタアレイ１５が設置される。液晶シャッタアレイ１５
は、スリット状の光に平行な数十の線状のセグメントを
有し、その各セグメントは画像処理装置３０から液晶コ
ントローラ３１を経由して送られてくる指令信号によっ
て、独立にオンオフ制御される。なお、この液晶シャッ
タアレイ１５を強誘電体材で構成することにより、その
オンオフ制御を高速に行うことができる。例えば、従来
はオンオフに５０〜１００ｍｓを要していたが、１０ｍ
ｓで行うことができる。また、透過率も改善されるので
高コントラストの投映が可能になる。液晶シャッタアレ
イ１５は、このオンオフ制御により、透過型回折格子１
４において多重化されたスリット状の光のうちの１本を
透過させ、他のスリット状の光を遮断する。この１本の
スリット状の光は、対象物４０に照射され、その１本の
スリット状の光が照射された対象物４０をＣＣＤカメラ
２０が撮像する。
ッタアレイ１５が設置される。液晶シャッタアレイ１５
は、スリット状の光に平行な数十の線状のセグメントを
有し、その各セグメントは画像処理装置３０から液晶コ
ントローラ３１を経由して送られてくる指令信号によっ
て、独立にオンオフ制御される。なお、この液晶シャッ
タアレイ１５を強誘電体材で構成することにより、その
オンオフ制御を高速に行うことができる。例えば、従来
はオンオフに５０〜１００ｍｓを要していたが、１０ｍ
ｓで行うことができる。また、透過率も改善されるので
高コントラストの投映が可能になる。液晶シャッタアレ
イ１５は、このオンオフ制御により、透過型回折格子１
４において多重化されたスリット状の光のうちの１本を
透過させ、他のスリット状の光を遮断する。この１本の
スリット状の光は、対象物４０に照射され、その１本の
スリット状の光が照射された対象物４０をＣＣＤカメラ
２０が撮像する。
【００１１】画像処理装置３０には、例えばワークステ
ーションが用いられる。この画像処理装置３０は、液晶
シャッタアレイ１５をオンオフ制御することにより、透
過型回折格子１４において多重化されたスリット状の光
のうち、例えば１０本を選択し、これらの光を走査光と
して順次対象物４０上に照射する。また、画像処理装置
３０は、各走査光によって照射された対象物４０の画像
データをＣＣＤカメラ２０から受け取り、対象物４０の
３次元情報として取り込む。
ーションが用いられる。この画像処理装置３０は、液晶
シャッタアレイ１５をオンオフ制御することにより、透
過型回折格子１４において多重化されたスリット状の光
のうち、例えば１０本を選択し、これらの光を走査光と
して順次対象物４０上に照射する。また、画像処理装置
３０は、各走査光によって照射された対象物４０の画像
データをＣＣＤカメラ２０から受け取り、対象物４０の
３次元情報として取り込む。
【００１２】このように、投光器１０に透過型回折格子
１４と液晶シャッタアレイ１５とを設け、その液晶シャ
ッタアレイ１５のオンオフ制御を行うことにより、スリ
ット光の走査をサーボ機構等の機械式可動部によらずに
行うことができる。このため、温度依存性を有する回転
角度検出用センサも不要となる。したがって、高精度の
光走査を行うことができ、対象物４０についての高精度
の３次元情報をＣＣＤカメラ２０から取り込むことがで
きる。
１４と液晶シャッタアレイ１５とを設け、その液晶シャ
ッタアレイ１５のオンオフ制御を行うことにより、スリ
ット光の走査をサーボ機構等の機械式可動部によらずに
行うことができる。このため、温度依存性を有する回転
角度検出用センサも不要となる。したがって、高精度の
光走査を行うことができ、対象物４０についての高精度
の３次元情報をＣＣＤカメラ２０から取り込むことがで
きる。
【００１３】次に、この３次元情報取り込み方式を用い
て、対象物４０に設けられた検出穴４１を計測する手順
の一例を説明する。図２は本発明を適用して行われる対
象物の検出穴計測の第１段階を示す図である。画像処理
装置３０は、まず、対象物４０にスリット状の光を投映
していない状態での画像を取り込み、次に対象物４０に
スリット状の光を投映した状態で画像を取り込み、その
２つの画像の差分を求める。この差分データから、スリ
ットＳ１〜Ｓ５が抽出され、図２に示すような多重スリ
ット情報（光切断情報）を有する画像が得られる。この
段階でのスリット状の光の間隔は、対象となる検出穴４
１の直径を越えないように、また逆に小さくなり過ぎな
いように、液晶シャッタアレイによって制御される。
て、対象物４０に設けられた検出穴４１を計測する手順
の一例を説明する。図２は本発明を適用して行われる対
象物の検出穴計測の第１段階を示す図である。画像処理
装置３０は、まず、対象物４０にスリット状の光を投映
していない状態での画像を取り込み、次に対象物４０に
スリット状の光を投映した状態で画像を取り込み、その
２つの画像の差分を求める。この差分データから、スリ
ットＳ１〜Ｓ５が抽出され、図２に示すような多重スリ
ット情報（光切断情報）を有する画像が得られる。この
段階でのスリット状の光の間隔は、対象となる検出穴４
１の直径を越えないように、また逆に小さくなり過ぎな
いように、液晶シャッタアレイによって制御される。
【００１４】図３は本発明を適用して行われる対象物の
検出穴計測の第２段階を示す図である。図２の光切断情
報からスリットＳ４のところに検出穴４１が存在するこ
とが分かる。そこで、液晶シャッタアレイ４０でオンす
るセグメントの数を増加し、検出穴４１に照射されるス
リット状の光が、密になるようにする。その結果、図３
に示すような光切断情報を有する画像が得られる。この
光切断情報から検出穴４１の円周上の光切断点Ａ１〜Ａ
１０が求められる。
検出穴計測の第２段階を示す図である。図２の光切断情
報からスリットＳ４のところに検出穴４１が存在するこ
とが分かる。そこで、液晶シャッタアレイ４０でオンす
るセグメントの数を増加し、検出穴４１に照射されるス
リット状の光が、密になるようにする。その結果、図３
に示すような光切断情報を有する画像が得られる。この
光切断情報から検出穴４１の円周上の光切断点Ａ１〜Ａ
１０が求められる。
【００１５】なお、図２のスリットＳ１〜Ｓ４上の各点
及び図３の光切断点Ａ１〜Ａ１０についての３次元座標
は、予め実行しておいたキャリブレーション操作から得
られた座標変換行列を用いて求められる。したがって、
３次元座標での検出穴４１の中心位置や検出穴４１の面
の法線方向を求めることができる。
及び図３の光切断点Ａ１〜Ａ１０についての３次元座標
は、予め実行しておいたキャリブレーション操作から得
られた座標変換行列を用いて求められる。したがって、
３次元座標での検出穴４１の中心位置や検出穴４１の面
の法線方向を求めることができる。
【００１６】このように、本発明の３次元情報取り込み
方式を適用することで、対象物４０の検出穴４１の計測
を行うことができる。その際、第１段階では、粗い間隔
のスリット状の光で走査し、検出穴４１の存在が分かっ
た段階で、密な間隔のスリット状の光で走査するように
した。したがって、最初から密な間隔のスリット状の光
で走査する場合よりも、検出穴４１の計測を高速に行う
ことができ、産業用ロボットのように、動作の高速性を
要求されるような場合にも、本発明を適用することがで
きる。
方式を適用することで、対象物４０の検出穴４１の計測
を行うことができる。その際、第１段階では、粗い間隔
のスリット状の光で走査し、検出穴４１の存在が分かっ
た段階で、密な間隔のスリット状の光で走査するように
した。したがって、最初から密な間隔のスリット状の光
で走査する場合よりも、検出穴４１の計測を高速に行う
ことができ、産業用ロボットのように、動作の高速性を
要求されるような場合にも、本発明を適用することがで
きる。
【００１７】上記の説明では、対象物の撮像にＣＣＤカ
メラを用いたが、他の視覚センサ、例えばレーザセンサ
を用いるように構成することもできる。
メラを用いたが、他の視覚センサ、例えばレーザセンサ
を用いるように構成することもできる。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように本発明では、投光器
に透過型回折格子と液晶シャッタアレイとを設け、その
液晶シャッタアレイのオンオフ制御を行うことにより、
スリット状の光の走査を行うように構成した。このた
め、スリット光の走査をサーボ機構等の機械式可動部に
よらずに行うことができ、温度依存性を有する回転角度
検出用センサも不要となる。したがって、高精度の光走
査を行うことができ、その結果、対象物についての高精
度の３次元情報を視覚センサから取り込むことができ
る。
に透過型回折格子と液晶シャッタアレイとを設け、その
液晶シャッタアレイのオンオフ制御を行うことにより、
スリット状の光の走査を行うように構成した。このた
め、スリット光の走査をサーボ機構等の機械式可動部に
よらずに行うことができ、温度依存性を有する回転角度
検出用センサも不要となる。したがって、高精度の光走
査を行うことができ、その結果、対象物についての高精
度の３次元情報を視覚センサから取り込むことができ
る。
【００１９】また、本発明の３次元情報取り込み方式を
適用して対象物の検出穴を計測する際には、第１段階で
は、粗い間隔のスリット状の光で走査し、検出穴の存在
が分かった段階で、密な間隔のスリット状の光で走査す
るように構成した。したがって、検出穴の計測を高速に
行うことができ、産業用ロボットのように、動作の高速
性を要求されるような場合にも、本発明を適用すること
ができる。
適用して対象物の検出穴を計測する際には、第１段階で
は、粗い間隔のスリット状の光で走査し、検出穴の存在
が分かった段階で、密な間隔のスリット状の光で走査す
るように構成した。したがって、検出穴の計測を高速に
行うことができ、産業用ロボットのように、動作の高速
性を要求されるような場合にも、本発明を適用すること
ができる。
【図１】本発明の全体構成を示す図である。
【図２】本発明を適用して行われる対象物の検出穴計測
の第１段階を示す図である。
の第１段階を示す図である。
【図３】本発明を適用して行われる対象物の検出穴計測
の第２段階を示す図である。
の第２段階を示す図である。
１０ 投光器 １４ 透過型回折格子 １５ 液晶シャッタアレイ ２０ ＣＣＤカメラ ３０ 画像処理装置 ３１ 液晶コントローラ ４０ 対象物 ４１ 検出穴
Claims (6)
- 【請求項１】 視覚センサを用いて対象物の３次元情報
を取り込む３次元情報取り込み方式において、 スリット状の光を透過型回折格子を用いて多重化し、前
記多重化されたスリット状の光のうち液晶シャッタアレ
イを透過したスリット状の光を前記対象物に照射する投
光器と、 前記投光器からのスリット状の光によって照射された前
記対象物を撮像する視覚センサと、 前記液晶シャッタアレイのオンオフ制御を行い前記液晶
シャッタアレイを透過したスリット状の光を前記対象物
上に照射させると共に、前記視覚センサからの各画像デ
ータを前記対象物の３次元情報として取り込む画像処理
制御部と、 を有することを特徴とする３次元情報取り込み方式。 - 【請求項２】 前記画像処理制御部は、前記液晶シャッ
タアレイのオンオフ制御を液晶シャッタアレイコントロ
ーラを経由して行うことを特徴とする請求項１記載の３
次元情報取り込み方式。 - 【請求項３】 前記画像処理制御部は、前記液晶シャッ
タアレイのオンオフ制御を前記液晶シャッタアレイを構
成する各セグメントのオンオフによって行うことを特徴
とする請求項１記載の３次元情報取り込み方式。 - 【請求項４】 前記液晶シャッタアレイは強誘電体材に
よって構成されることを特徴とする請求項１記載の３次
元情報取り込み方式。 - 【請求項５】 前記画像処理制御部は、前記スリット状
の光を粗い間隔で走査させて前記画像データを取り込む
第１段階と、前記スリット状の光を密な間隔で走査させ
て前記画像データを取り込む第２段階とによって、前記
対象物上に設けられた検出穴を検出することを特徴とす
る請求項１記載の３次元情報取り込み方式。 - 【請求項６】 前記粗い間隔は、前記検出穴の直径以下
に設定されることを特徴とする請求項５記載の３次元情
報取り込み方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3328670A JPH05164522A (ja) | 1991-12-12 | 1991-12-12 | ３次元情報取り込み方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3328670A JPH05164522A (ja) | 1991-12-12 | 1991-12-12 | ３次元情報取り込み方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05164522A true JPH05164522A (ja) | 1993-06-29 |
Family
ID=18212856
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3328670A Pending JPH05164522A (ja) | 1991-12-12 | 1991-12-12 | ３次元情報取り込み方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05164522A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0660078A1 (de) * | 1993-12-15 | 1995-06-28 | Gerd Prof. Dr. Häusler | Vorrichtung zur Erzeugung streifenartiger Lichtmuster |
| JP2007121292A (ja) * | 2005-10-24 | 2007-05-17 | General Electric Co <Ge> | 物体を検査する方法および装置 |
| JP2008286743A (ja) * | 2007-05-21 | 2008-11-27 | Nikon Corp | 計測装置 |
| JP2009074814A (ja) * | 2007-09-19 | 2009-04-09 | Kyonan Seiki Kk | 光切断法による３次元形状測定装置 |
| CN106595527A (zh) * | 2016-12-30 | 2017-04-26 | 河南省水产科学研究院 | 鱼类三维图像扫描装置及其控制程序 |
-
1991
- 1991-12-12 JP JP3328670A patent/JPH05164522A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0660078A1 (de) * | 1993-12-15 | 1995-06-28 | Gerd Prof. Dr. Häusler | Vorrichtung zur Erzeugung streifenartiger Lichtmuster |
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| EP1777490A3 (en) * | 2005-10-24 | 2013-06-05 | General Electric Company | Methods and apparatus for inspecting an object using structured light |
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| JP2009074814A (ja) * | 2007-09-19 | 2009-04-09 | Kyonan Seiki Kk | 光切断法による３次元形状測定装置 |
| CN106595527A (zh) * | 2016-12-30 | 2017-04-26 | 河南省水产科学研究院 | 鱼类三维图像扫描装置及其控制程序 |
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