JPH0569390B2 - - Google Patents
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- JPH0569390B2 JPH0569390B2 JP61085771A JP8577186A JPH0569390B2 JP H0569390 B2 JPH0569390 B2 JP H0569390B2 JP 61085771 A JP61085771 A JP 61085771A JP 8577186 A JP8577186 A JP 8577186A JP H0569390 B2 JPH0569390 B2 JP H0569390B2
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- calibration
- printed board
- measured
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0266—Marks, test patterns or identification means
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Manipulator (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
本発明は、処理装置上に設定されたプリント板
に記された複数の基準マークを夫々個別の固定の
撮像装置にて撮像して処理対象物体の該処理装置
上における設定位置を認識し、自動プロービング
する方法であつて、予め求めた基準マークと撮像
した基準マークとのずれ量、及び予め求めた基準
マークの絶対位置情報から処理装置上に設定され
たプリント板の設定位置を認識するようにし、短
時間の認識と高精度の、自動プロービングを可能
としたものである。
に記された複数の基準マークを夫々個別の固定の
撮像装置にて撮像して処理対象物体の該処理装置
上における設定位置を認識し、自動プロービング
する方法であつて、予め求めた基準マークと撮像
した基準マークとのずれ量、及び予め求めた基準
マークの絶対位置情報から処理装置上に設定され
たプリント板の設定位置を認識するようにし、短
時間の認識と高精度の、自動プロービングを可能
としたものである。
本発明は、例えば、電子部品回路の実装、自動
配線、自動プロービングを行なう自動装置（処理
装置）に設定されたプリント板の自動プロービン
グ方法に関するものである。
配線、自動プロービングを行なう自動装置（処理
装置）に設定されたプリント板の自動プロービン
グ方法に関するものである。
プリント板は多層プリント基板上にLSIや抵
抗、コンデンサなどの電子部品を実装し、コネク
タを取付けた回路モジユールで、電子計算機の重
要な構成要素の一つである。
抗、コンデンサなどの電子部品を実装し、コネク
タを取付けた回路モジユールで、電子計算機の重
要な構成要素の一つである。
多品種のプリント板を高品質に、かつ低コスト
で製造するためには、組み立ての自動化と共に、
試験の自動化が重要である。
で製造するためには、組み立ての自動化と共に、
試験の自動化が重要である。
試験にはプリント板の良否を判定する良否判定
試験と、不良と判定されたプリント板の故障位置
を指摘する故障診断とがある。
試験と、不良と判定されたプリント板の故障位置
を指摘する故障診断とがある。
良否判定試験では入試から、試済の捺印に至る
全工程を無人で行なうことは既に実現されている
が、故障診断では故障位置を調べるためのプリン
ト板内部へのプロービング作業だけは人手に頼つ
ているのが現状である。
全工程を無人で行なうことは既に実現されている
が、故障診断では故障位置を調べるためのプリン
ト板内部へのプロービング作業だけは人手に頼つ
ているのが現状である。
ところが、プリント板を搭載する電子部品の微
細化やプリント板実装の高密度化等により、人手
によるプロービング作業はもはや不可能となつて
きており、プローブでの不良箇所の探索作業の自
動化が要望されている。
細化やプリント板実装の高密度化等により、人手
によるプロービング作業はもはや不可能となつて
きており、プローブでの不良箇所の探索作業の自
動化が要望されている。
また、50ミル・グリツドのプリント板のプロー
ビングでは、被試験プリント板の取付誤差やプリ
ント板の歪みが大きく影響してくるために、ロボ
ツトの移動精度を向上させただけでは精度良く目
標にプロービングさせることはできない。
ビングでは、被試験プリント板の取付誤差やプリ
ント板の歪みが大きく影響してくるために、ロボ
ツトの移動精度を向上させただけでは精度良く目
標にプロービングさせることはできない。
そこで、自動試験機上へのプリント板取付状態
やプリント基板の歪み量を検出し、そのずれ分を
補正する必要がある。
やプリント基板の歪み量を検出し、そのずれ分を
補正する必要がある。
第９図は従来のプリント板の設定位置認識を説
明するための図である。
明するための図である。
１は被測定プリント板であり、図示しない自動
試験装置に取付けられるものであり、その４隅に
基準位置を示すＬマークが予め銅パターンで印刷
されているもの、２はプローブであり、被測定プ
リント板１上の所望の探索位置における電子部品
回路の特性を測定するためのもの、３はプローブ
保持体であり、プローブ２をＺ軸方向に往復動可
能に支持するもの、４はXYテーブルであり、プ
ローブ保持体３はXY平面内の所定の探索位置に
位置決めするものであり、５はマークセンサであ
り、プローブ保持体３に設けられ、被測定プリン
ト板１上のＬマークを認識するための１次元セン
サである。
試験装置に取付けられるものであり、その４隅に
基準位置を示すＬマークが予め銅パターンで印刷
されているもの、２はプローブであり、被測定プ
リント板１上の所望の探索位置における電子部品
回路の特性を測定するためのもの、３はプローブ
保持体であり、プローブ２をＺ軸方向に往復動可
能に支持するもの、４はXYテーブルであり、プ
ローブ保持体３はXY平面内の所定の探索位置に
位置決めするものであり、５はマークセンサであ
り、プローブ保持体３に設けられ、被測定プリン
ト板１上のＬマークを認識するための１次元セン
サである。
以上説明した構成において、被測定プリント板
１の設定位置の認識は、XYテーブル４を駆動し
てＬマークのストロークを横切るようにマークセ
ンサ５を移動させながらマークセンサ５の出力電
圧を読取る。
１の設定位置の認識は、XYテーブル４を駆動し
てＬマークのストロークを横切るようにマークセ
ンサ５を移動させながらマークセンサ５の出力電
圧を読取る。
そして、ピーク値となつた座標位置をＬマーク
の中心位置とする。この操作をＸ軸、Ｙ軸方向の
ストロークについて行なうことにより、Ｌマーク
のXY座標を求める。さらにこれらの操作を４隅
のＬマークのすべてについて行なう。このように
して４個のＬマークの座標位置を読取り、被測定
プリント板の設定位置及び歪み等を測定する。
の中心位置とする。この操作をＸ軸、Ｙ軸方向の
ストロークについて行なうことにより、Ｌマーク
のXY座標を求める。さらにこれらの操作を４隅
のＬマークのすべてについて行なう。このように
して４個のＬマークの座標位置を読取り、被測定
プリント板の設定位置及び歪み等を測定する。
前述したように、マークセンサ５がＬマークの
上空を機械的に移動しながらＬマークの座標を読
取るようにしていたので、座標位置の読取りに長
時間を要するといつた問題があつた。
上空を機械的に移動しながらＬマークの座標を読
取るようにしていたので、座標位置の読取りに長
時間を要するといつた問題があつた。
本発明は、被測定プリント板の設定位置の認識
を短時間で行い且つ高精度にプロービングを行な
うことのできる方法の提供を目的とする。
を短時間で行い且つ高精度にプロービングを行な
うことのできる方法の提供を目的とする。
そして、この目的は、テストステーシヨンのス
テージ部分に被試験プリント板を載置し、ロボツ
ト先端に保持させたプローブにより該プリント板
の測定を行なうプリント板測定装置のプロービン
グ方法において、 該ステージ上に植立された位置決めピンを設
け、表面に４本の校正用ピンと４隅に校正用基準
マークが付され、裏面に位置決め足を有する校正
用治具の該位置決め足を前記ステージ上の位置決
めピンに当接させ位置決めし、 前記４本の校正用ピンに対して順次該プローブ
先端を当接させ該ロボツトに校正用ピンの位置を
教示せしめ、 前記４隅の校正用基準マーク上方に、それぞれ
固定配置された撮像装置より該校正用基準マーク
を撮像し測定装置内の画像メモリに記憶保持せし
め、 被測定プリント板の４隅の基準マークを撮像し
該基準マーク位置を算出し、 前記校正用基準マーク位置と被測定プリント板
の基準マーク位置とのずれ量から該プローブの移
動量を指示する事を特徴とするプリント板測定装
置のプロービング方法により達成される。
テージ部分に被試験プリント板を載置し、ロボツ
ト先端に保持させたプローブにより該プリント板
の測定を行なうプリント板測定装置のプロービン
グ方法において、 該ステージ上に植立された位置決めピンを設
け、表面に４本の校正用ピンと４隅に校正用基準
マークが付され、裏面に位置決め足を有する校正
用治具の該位置決め足を前記ステージ上の位置決
めピンに当接させ位置決めし、 前記４本の校正用ピンに対して順次該プローブ
先端を当接させ該ロボツトに校正用ピンの位置を
教示せしめ、 前記４隅の校正用基準マーク上方に、それぞれ
固定配置された撮像装置より該校正用基準マーク
を撮像し測定装置内の画像メモリに記憶保持せし
め、 被測定プリント板の４隅の基準マークを撮像し
該基準マーク位置を算出し、 前記校正用基準マーク位置と被測定プリント板
の基準マーク位置とのずれ量から該プローブの移
動量を指示する事を特徴とするプリント板測定装
置のプロービング方法により達成される。
前述したように、本発明においては、プリント
板上のＬマークの上空に設置された固定の撮像装
置で、Ｌマーク全体を撮像してその濃度情報から
基準位置を算出し、そして予め求めておいて基準
位置とのずれ量からＬマークの絶対座標を求めて
いるので、処理対象物体の設定位置を短時間で認
識し且つ高精度にプロービングすることが可能と
なる。
板上のＬマークの上空に設置された固定の撮像装
置で、Ｌマーク全体を撮像してその濃度情報から
基準位置を算出し、そして予め求めておいて基準
位置とのずれ量からＬマークの絶対座標を求めて
いるので、処理対象物体の設定位置を短時間で認
識し且つ高精度にプロービングすることが可能と
なる。
〔実施例〕
第１図は本発明が適用されるプリント板故障診
断装置の全体構成図である。
断装置の全体構成図である。
図において、１は被測定プリント板であり、４
隅に銅パターンで印刷されたＬマークを有するも
の、１０ａ〜１０ｄはそれぞれTVカメラであ
り、被測定プリント板１の４隅のＬマークにそれ
ぞれ対応して設けられているもの、１１はＬマー
クセンサ制御部であり、各TVカメラ１０ａ〜１
０ｄからの撮像信号に基づいて各Ｌマークの基準
位置を認識するためのもの、１２はロボツト制御
部であり、上位装置からの移動指令に基づいてロ
ボツト１３を駆動し、先端に保持しているプロー
ブ１４を被測定プリント板１上の所定のプロービ
ング位置に位置付けるためのもの、１５はプロー
ブ測定ユニツトであり、ロボツト１３により被測
定プリント板１上に位置付けされるプローブ１４
からの信号に基づいて探索箇所の動作状態を測定
するためのもの、１６はプリント板測定ユニツト
であり、被測定プリント板１の端子部とアダプタ
１６ａを介して接続され、このプリント板１に試
験信号を供給して所定の動作をするか否かを測定
するためのもの、１７は制御計算機であり、前記
各制御部、測定ユニツトを動作制御するためのも
のである。
隅に銅パターンで印刷されたＬマークを有するも
の、１０ａ〜１０ｄはそれぞれTVカメラであ
り、被測定プリント板１の４隅のＬマークにそれ
ぞれ対応して設けられているもの、１１はＬマー
クセンサ制御部であり、各TVカメラ１０ａ〜１
０ｄからの撮像信号に基づいて各Ｌマークの基準
位置を認識するためのもの、１２はロボツト制御
部であり、上位装置からの移動指令に基づいてロ
ボツト１３を駆動し、先端に保持しているプロー
ブ１４を被測定プリント板１上の所定のプロービ
ング位置に位置付けるためのもの、１５はプロー
ブ測定ユニツトであり、ロボツト１３により被測
定プリント板１上に位置付けされるプローブ１４
からの信号に基づいて探索箇所の動作状態を測定
するためのもの、１６はプリント板測定ユニツト
であり、被測定プリント板１の端子部とアダプタ
１６ａを介して接続され、このプリント板１に試
験信号を供給して所定の動作をするか否かを測定
するためのもの、１７は制御計算機であり、前記
各制御部、測定ユニツトを動作制御するためのも
のである。
第２図はＬマークセンサ制御部の説明図であ
り、各TVカメラ１０ａ〜１０ｄからの撮像信号
を切替て入力する切替器１８、切替器１８を介し
て入力されてくるTVカメラからの撮像信号を２
値化処理する２値化処理部１９、２値化処理部１
９の処理結果を、各TVカメラ毎に格納する画像
メモリ２０、各TVカメラ１０ａ〜１０ｃ毎の基
準Ｌマーク座標を格納する基準座標格納メモリ２
１、及び切替器１８乃至基準座標格納メモリ２１
を制御するプロセツサ２２とから構成されてい
る。
り、各TVカメラ１０ａ〜１０ｄからの撮像信号
を切替て入力する切替器１８、切替器１８を介し
て入力されてくるTVカメラからの撮像信号を２
値化処理する２値化処理部１９、２値化処理部１
９の処理結果を、各TVカメラ毎に格納する画像
メモリ２０、各TVカメラ１０ａ〜１０ｃ毎の基
準Ｌマーク座標を格納する基準座標格納メモリ２
１、及び切替器１８乃至基準座標格納メモリ２１
を制御するプロセツサ２２とから構成されてい
る。
第３図はロボツト制御部の説明図であり、ロボ
ツト１３の各関節に設けられたモータに対応して
設けられるモータ駆動回路２３、各モータ駆動回
路２３に駆動パルス信号を供給するモータ駆動パ
ルス制御部２４、制御計算機１７からの移動量指
示が入力され、この移動量を構成座標格納メモリ
２６に格納された校正量で校正した値をモータ駆
動パルス制御部に指示する移動量補正回路２５、
制御計算機１７により予め求められた校正座標位
置を格納する校正座標格納メモリ２６とから構成
されているものである。
ツト１３の各関節に設けられたモータに対応して
設けられるモータ駆動回路２３、各モータ駆動回
路２３に駆動パルス信号を供給するモータ駆動パ
ルス制御部２４、制御計算機１７からの移動量指
示が入力され、この移動量を構成座標格納メモリ
２６に格納された校正量で校正した値をモータ駆
動パルス制御部に指示する移動量補正回路２５、
制御計算機１７により予め求められた校正座標位
置を格納する校正座標格納メモリ２６とから構成
されているものである。
第４図はテストステーシヨンの説明図であり、
同図ａはプリント板試験動作時を示す図、同図ｂ
はロボツト座標位置等の校正動作時を示す図であ
る。
同図ａはプリント板試験動作時を示す図、同図ｂ
はロボツト座標位置等の校正動作時を示す図であ
る。
図において、２７はフレームであり、上鎮側の
取付枠２７ａには、４つのTVカメラ１０ａ〜１
０ｄが設定される被測定プリント板１上のＬマー
ク位置に対応して取付けられており、また、プロ
ーブ１４を位置付けするための多関節型ロボツト
１３が取付けられている。
取付枠２７ａには、４つのTVカメラ１０ａ〜１
０ｄが設定される被測定プリント板１上のＬマー
ク位置に対応して取付けられており、また、プロ
ーブ１４を位置付けするための多関節型ロボツト
１３が取付けられている。
同図ａに示すプリント板試験動作時には、下側
のステージ部分２７ｂに設けられたプリント板測
定ユニツト１６を用い、被測定プリント板１の端
子部と結合するアダプタ１６ａを介して試験信号
等を供給して試験を行なう。アダプタ１６ａは往
復動可能に設けられており、順次搬送されてくる
被測定プリント板１の端子部との挿抜動作を自動
的に行なうことによつて交換動作を行なう。
のステージ部分２７ｂに設けられたプリント板測
定ユニツト１６を用い、被測定プリント板１の端
子部と結合するアダプタ１６ａを介して試験信号
等を供給して試験を行なう。アダプタ１６ａは往
復動可能に設けられており、順次搬送されてくる
被測定プリント板１の端子部との挿抜動作を自動
的に行なうことによつて交換動作を行なう。
また、同図ｂに示すロボツト座標位置等の校正
動作時には、ステージ２７ｂ上に位置決めピン２
８，２９，３０により位置決めされる校正用治具
３１を用いて校正動作を行なう。
動作時には、ステージ２７ｂ上に位置決めピン２
８，２９，３０により位置決めされる校正用治具
３１を用いて校正動作を行なう。
第５図は校正用治具の説明図であり、同図ａは
平面図、同図ｂは正面図である。
平面図、同図ｂは正面図である。
図において、校正用治具３１には被測定プリン
ト板１と同一の位置関係となるように校正用基準
マーク（Ｌマーク）Ｌ１〜Ｌ４が４隅に印刷され
ており、また、ロボツト座標校正用の校正ピンＰ
１乃至Ｐ４が取付けられている。
ト板１と同一の位置関係となるように校正用基準
マーク（Ｌマーク）Ｌ１〜Ｌ４が４隅に印刷され
ており、また、ロボツト座標校正用の校正ピンＰ
１乃至Ｐ４が取付けられている。
この校正用治具３１は、第６図に示されるよう
にロボツト決め用足３１ａ，３１ｂ及び支持足３
１ｃ，３１ｄを備え、ステージ２７ｂ上に植立さ
れた位置決めピン２８，２９，３０に対して位置
決め用足３１ａ，３１ｂを当接させることによつ
てステージ２７ｂ上の所定の校正位置に位置付け
る。
にロボツト決め用足３１ａ，３１ｂ及び支持足３
１ｃ，３１ｄを備え、ステージ２７ｂ上に植立さ
れた位置決めピン２８，２９，３０に対して位置
決め用足３１ａ，３１ｂを当接させることによつ
てステージ２７ｂ上の所定の校正位置に位置付け
る。
更に、校正用ピンＰ１乃至Ｐ４は第７図に示す
ように、円錐形状を有し、ロボツト１３が保持し
ているプローブ１４の先端と突き合わせることに
よりロボツト１３の位置決めを行なう。
ように、円錐形状を有し、ロボツト１３が保持し
ているプローブ１４の先端と突き合わせることに
よりロボツト１３の位置決めを行なう。
尚、前述た校正用治具３１は前以つて治具単体
で別の測定器により、Ｌマーク相互及び校正ピン
相互および両者間の位置関係（ロボツト）を正確
に測定しておく。
で別の測定器により、Ｌマーク相互及び校正ピン
相互および両者間の位置関係（ロボツト）を正確
に測定しておく。
以上説明した構成を用いて本発明に係るプリン
ト板の設定位置認識とプロービング方法を説明す
る。
ト板の設定位置認識とプロービング方法を説明す
る。
まず、第４図ｂに示す状態において、ロボツト
１３に保持させたプローブ１４の先端を校正用ピ
ンＰ１乃至Ｐ４に突き合わせる。この動作は図示
しないテイーチングボツクスからの指示を制御計
算機１７に入力し、制御計算機１７がロボツト制
御部１２に対して移動指示を発することにより行
なう。そして、突き合わせた時のロボツト１３の
各関節位置を各校正用ピンＰ１乃至Ｐ４毎に認識
してプローブ１４の先端の座標位置を算出する。
１３に保持させたプローブ１４の先端を校正用ピ
ンＰ１乃至Ｐ４に突き合わせる。この動作は図示
しないテイーチングボツクスからの指示を制御計
算機１７に入力し、制御計算機１７がロボツト制
御部１２に対して移動指示を発することにより行
なう。そして、突き合わせた時のロボツト１３の
各関節位置を各校正用ピンＰ１乃至Ｐ４毎に認識
してプローブ１４の先端の座標位置を算出する。
そして、突き合わせした校正用ピンの内の一つ
の座標値をプロービングする際の原点とすること
により、原点登録されたことになる。
の座標値をプロービングする際の原点とすること
により、原点登録されたことになる。
また、予め別の測定器で求めておいた治具３１
上における校正用ピンＰ１乃至Ｐ４座標の相対関
係（相対距離）とこの座標位置との関係から校正
用データを作成して校正座標格納メモリ２６に格
納する。すなわち、ロボツトでの測定データはか
ならず誤差を含むものであるから、校正用ピンの
内の一つを原点とし、この原点座標からの相対距
離でロボツトの測定データを補正する。
上における校正用ピンＰ１乃至Ｐ４座標の相対関
係（相対距離）とこの座標位置との関係から校正
用データを作成して校正座標格納メモリ２６に格
納する。すなわち、ロボツトでの測定データはか
ならず誤差を含むものであるから、校正用ピンの
内の一つを原点とし、この原点座標からの相対距
離でロボツトの測定データを補正する。
これにより、現在位置から別の指示された位置
へ移動する場合、移動の方向、移動量を補正する
こができる。
へ移動する場合、移動の方向、移動量を補正する
こができる。
次に、第４図ｂに示す状態において、Ｌマーク
センサ制御部を動作させ、校正用治具３１上の４
つのＬマークの読取りを順次行なう。
センサ制御部を動作させ、校正用治具３１上の４
つのＬマークの読取りを順次行なう。
そして、第８図のTVカメラの視野説明図に示
すように、撮像したＬマークLkの基準点Okを画
像メモリ２０内におけるTVカメラの視野の基準
点Okからの画素数で算出する。尚、第８図にお
いて、基準点Okは、座標XL１，YL１で示す。
すように、撮像したＬマークLkの基準点Okを画
像メモリ２０内におけるTVカメラの視野の基準
点Okからの画素数で算出する。尚、第８図にお
いて、基準点Okは、座標XL１，YL１で示す。
このようにして、各TVカメラ毎にＬマークの
基準点を算出し、得られた座標を基準座標格納メ
モリ２１に格納して保持する。
基準点を算出し、得られた座標を基準座標格納メ
モリ２１に格納して保持する。
次いで、第４図ａに示す状態において、被測定
プリント板１の４つのＬマークLuを順次読取り、
前述と同様にしてＬマークLuの基準点Ouを画像
メモリ２０内におけるTVカメラの視野の基準点
Okからの画素数で算出する。そして、対応する
Ｌマーク毎に基準点OkとOuとの座標値の差４
（相対座標値）ΔX，ΔYを算出し、制御計算機１
７へ送出する。制御計算機１７では、Ｌマークセ
ンサ制御部１１から送られて来た各Ｌマーク毎の
相対座標値（ΔX1，ΔY1〜ΔX4，ΔY4）に基づ
いて、被測定プリント板１が基準位置からどれだ
けずれているか、どれ位回転しているか、どの位
プリント板１が歪んでいるか等を求める。
プリント板１の４つのＬマークLuを順次読取り、
前述と同様にしてＬマークLuの基準点Ouを画像
メモリ２０内におけるTVカメラの視野の基準点
Okからの画素数で算出する。そして、対応する
Ｌマーク毎に基準点OkとOuとの座標値の差４
（相対座標値）ΔX，ΔYを算出し、制御計算機１
７へ送出する。制御計算機１７では、Ｌマークセ
ンサ制御部１１から送られて来た各Ｌマーク毎の
相対座標値（ΔX1，ΔY1〜ΔX4，ΔY4）に基づ
いて、被測定プリント板１が基準位置からどれだ
けずれているか、どれ位回転しているか、どの位
プリント板１が歪んでいるか等を求める。
また、予め測定してある校正用治具上の校正用
ピンＰ１と各Ｌマークとの相対距離とこの相対座
標値とを加算することにより、被測定プリント板
１のロボツト座標系における絶対座標値を算出す
ることができる。
ピンＰ１と各Ｌマークとの相対距離とこの相対座
標値とを加算することにより、被測定プリント板
１のロボツト座標系における絶対座標値を算出す
ることができる。
次に、被測定プリント板１の所定の箇所をプロ
ービングする際、制御計算機１７は、前述した各
Ｌマーク毎の相対座標値から、理論的な座標（被
測定プリント板１が位置付けられるべき座標）を
現実の座標へ変換してロボツト１３へ移動量を指
示する。
ービングする際、制御計算機１７は、前述した各
Ｌマーク毎の相対座標値から、理論的な座標（被
測定プリント板１が位置付けられるべき座標）を
現実の座標へ変換してロボツト１３へ移動量を指
示する。
以上説明したように、本発明によれば、被測定
プリント板上の複数個のＬマークの位置を固定の
撮像装置で撮像するようにし、予め求めておいた
基準Ｌマーク情報とのずれ量によつて被測定プリ
ント板の位置を認識するようにしているので、高
速な認識処理と高精度の自動プロービングが可能
となる。
プリント板上の複数個のＬマークの位置を固定の
撮像装置で撮像するようにし、予め求めておいた
基準Ｌマーク情報とのずれ量によつて被測定プリ
ント板の位置を認識するようにしているので、高
速な認識処理と高精度の自動プロービングが可能
となる。
第１図は本発明が適用されるプリント板故障診
断装置の全体構成図、第２図はＬマークセンサ制
御部の説明図、第３図はロボツト制御部の説明
図、第４図はテストステーシヨンの説明図、第５
図は校正用治具の説明図、第６図は位置決め用足
の説明図、第７図は校正用ピンの説明図、第８図
はTVカメラの視野説明図、第９図は従来のプリ
ント板の設定位置認識装置の説明図である。 図において、１は被測定プリント板、１０ａ〜
１０ｄはTVカメラ、１１はＬマークセンサ制御
部、１２はロボツト制御部、１３はロボツト、１
４はプロービング、１５はプローブ測定ユニツ
ト、１６はプリント板測定ユニツト、１７は制御
計算機、２１は基準座標格納メモリである。
断装置の全体構成図、第２図はＬマークセンサ制
御部の説明図、第３図はロボツト制御部の説明
図、第４図はテストステーシヨンの説明図、第５
図は校正用治具の説明図、第６図は位置決め用足
の説明図、第７図は校正用ピンの説明図、第８図
はTVカメラの視野説明図、第９図は従来のプリ
ント板の設定位置認識装置の説明図である。 図において、１は被測定プリント板、１０ａ〜
１０ｄはTVカメラ、１１はＬマークセンサ制御
部、１２はロボツト制御部、１３はロボツト、１
４はプロービング、１５はプローブ測定ユニツ
ト、１６はプリント板測定ユニツト、１７は制御
計算機、２１は基準座標格納メモリである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ テストステーシヨンのステージ部分に被試験
プリント板を載置し、ロボツト先端に保持させた
プローブにより該プリント板の測定を行なうプリ
ント板測定装置のプロービング方法において、 該ステージ上に植立された位置決めピンを設
け、表面に４本の校正用ピンと４隅に校正用基準
マークが付され、裏面に位置決め足を有する校正
用治具の該位置決め足を前記ステージ上の位置決
めピンに当接させ位置決めし、 前記４本の校正用ピンに対して順次該プローブ
先端を当接させ該ロボツトに校正用ピンの位置を
教示せしめ、 前記４隅の校正用基準マーク上方に、それぞれ
固定配置された撮像装置より該校正用基準マーク
を撮像しピン装置内の画像メモリに記憶保持せし
め、 被測定プリント板の４隅の基準マークを撮像し
該基準マーク位置を算出し、 前記校正用基準マーク位置と被測定プリント板
の基準マーク位置とのずれ量から該プローブの移
動量を教示する事を特徴とするプリント板測定装
置のプロービング方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61085771A JPS62240871A (ja) | 1986-04-14 | 1986-04-14 | プリント板測定装置のプロービング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61085771A JPS62240871A (ja) | 1986-04-14 | 1986-04-14 | プリント板測定装置のプロービング方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62240871A JPS62240871A (ja) | 1987-10-21 |
| JPH0569390B2 true JPH0569390B2 (ja) | 1993-09-30 |
Family
ID=13868136
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61085771A Granted JPS62240871A (ja) | 1986-04-14 | 1986-04-14 | プリント板測定装置のプロービング方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62240871A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02131888A (ja) * | 1988-11-14 | 1990-05-21 | Agency Of Ind Science & Technol | 布地ハンドリング装置 |
| DE4406538A1 (de) | 1994-02-28 | 1995-08-31 | Mania Gmbh | Leiterplatten-Prüfeinrichtung mit Prüfadapter und Verfahren zum Einstellen desselben |
| JP4582433B2 (ja) * | 2000-07-25 | 2010-11-17 | 澁谷工業株式会社 | 画像処理装置 |
| JP4820731B2 (ja) * | 2006-10-17 | 2011-11-24 | 日本電産リード株式会社 | 基板検査装置及び基板検査方法 |
| JP4650411B2 (ja) * | 2006-12-29 | 2011-03-16 | 三菱電機株式会社 | コネクタ自動挿抜装置及びコネクタ挿抜方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59142405A (ja) * | 1983-02-02 | 1984-08-15 | Shimizu Constr Co Ltd | 鋼板セルの位置検知方法 |
| JPS60233503A (ja) * | 1984-05-02 | 1985-11-20 | Matsushita Electric Works Ltd | 位置検出方法 |
-
1986
- 1986-04-14 JP JP61085771A patent/JPS62240871A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62240871A (ja) | 1987-10-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |