JPH0580988B2 - - Google Patents
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- JPH0580988B2 JPH0580988B2 JP16593486A JP16593486A JPH0580988B2 JP H0580988 B2 JPH0580988 B2 JP H0580988B2 JP 16593486 A JP16593486 A JP 16593486A JP 16593486 A JP16593486 A JP 16593486A JP H0580988 B2 JPH0580988 B2 JP H0580988B2
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- JP
- Japan
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- signal
- noise
- sampling
- circuit
- measuring
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Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はデイジタル無線で受信されたデイジタ
ル信号の雑音測定に関し、特に、ダイバーシテイ
受信におけるデイジタル信号の選択、あるいは受
信されたデイジタルを処理するか否かのスケルチ
信号を得るための雑音測定に関する。Detailed Description of the Invention (Industrial Application Field) The present invention relates to noise measurement of digital signals received by digital radio, and particularly to selection of digital signals in diversity reception or processing of received digital signals. This invention relates to noise measurement for obtaining squelch signals.
(従来の技術)
従来、ダイバーシテイ受信におけるデイジタル
信号の品質(例えば、ビツト誤り率)の比較、あ
るいは受信されたデイジタル信号に対してスケル
チ信号を得るために、受信信号の品質について受
信電界強度、または受信信号の帯域外雑音を測定
することにより知る方式が公知であつた。(Prior Art) Conventionally, in order to compare the quality of digital signals (for example, bit error rate) in diversity reception, or to obtain a squelch signal for the received digital signal, the quality of the received signal is compared with the received field strength, Alternatively, a method of knowing by measuring out-of-band noise of a received signal is known.
(発明が解決しようとする問題点)
従来の技術では、受信されたデイジタル信号
と、その品質の測定結果とが必ずしも対応してい
ないため、次のような第1〜第3の問題があつ
た。(Problems to be Solved by the Invention) In the conventional technology, the received digital signal and the measurement result of its quality do not necessarily correspond, resulting in the following problems 1 to 3. .
第1の問題は、スケルチ信号の検出に従来の方
式を適用すると、受信機が都市雑音や干渉波を受
信したときに希望波との区別がつかず、誤つてス
ケルチ信号が応答して、希望波ではないにもかか
わらず誤つた処理をする点にある。 The first problem is that when conventional methods are applied to squelch signal detection, when the receiver receives urban noise or interference waves, it is difficult to distinguish them from the desired signal, and the squelch signal is erroneously responded to. The problem is that even though it is not a wave, it is processed incorrectly.
第2の問題は、さらにスケルチ信号の検出にお
いて、受信されたデイジタル信号の誤り率と受信
電界強度との測定値が受信機により多少ばらつい
ている(通常、数dBの範囲内)ため実際の受信
電界強度が低く、デイジタル信号の品質が劣つて
いるときにもスケルチ信号が応答する点にある。 The second problem is that when detecting a squelch signal, the error rate of the received digital signal and the received field strength vary somewhat depending on the receiver (usually within a range of several dB). The squelch signal responds even when the electric field strength is low and the quality of the digital signal is poor.
第3の問題は、2台の受信機において従来の方
法によりデイジタル信号の品質を測定した場合、
これらの結果を使つて受信機の出力を選択するダ
イバーシテイ受信を行うものとすれば、都市雑音
や干渉波のばらつき、あるいは受信機自身の特性
のばらつきによつて電界強度の測定結果と誤り率
とが対応できないために、受信信号品質のよい方
が必ずしも選ばれるとは限らず、ダイバーシテイ
効果が劣化する点にある。 The third problem is that when measuring the quality of digital signals using the conventional method at two receivers,
If diversity reception is performed in which the output of the receiver is selected using these results, the field strength measurement results and error rate may vary due to variations in urban noise, interference waves, or variations in the characteristics of the receiver itself. Therefore, the one with better received signal quality is not necessarily selected, and the diversity effect deteriorates.
以上の問題は受信電界強度を測定するだけでは
なく、受信信号の帯域外雑音を測定する場合にも
同様に発生するものである。 The above problems occur not only when measuring the received electric field strength but also when measuring out-of-band noise of the received signal.
また、受信電界強度を測定する場合には、受信
電界強度に比例した電圧を得るために対数増幅器
等の高価なものを用いる必要がある。 Furthermore, when measuring the received electric field strength, it is necessary to use an expensive device such as a logarithmic amplifier in order to obtain a voltage proportional to the received electric field strength.
本発明の目的は、受信信号を高域通過フイルタ
へ通し、整流回路へ入力してクロツク周波数成分
を含む信号波を得て、さらに整流回路の出力をク
ロツクパルス再生回路へ入力してクロツクパルス
を再生する受信装置において、整流回路の出力に
ついて、振幅が最大になる確率が最も高い時点を
サンプリングした第1の測定結果と、振幅が最小
になる確率が最も高い時点をサンプリングした第
2の測定結果とを比較して、比較結果を低域通過
フイルタに通すことにより上記欠点を除去し、受
信信号に含まれる雑音に対応した出力電圧を得る
ことができるように構成した雑音測定装置を提供
することにある。 The object of the present invention is to pass the received signal through a high-pass filter, input it to a rectifier circuit to obtain a signal wave containing a clock frequency component, and then input the output of the rectifier circuit to a clock pulse regeneration circuit to regenerate the clock pulse. In the receiving device, regarding the output of the rectifier circuit, a first measurement result obtained by sampling the time point when the probability of the amplitude being the maximum is highest, and a second measurement result obtained by sampling the time point when the probability that the amplitude becomes the minimum value is highest. An object of the present invention is to provide a noise measuring device configured to eliminate the above-mentioned drawbacks by comparing and passing the comparison results through a low-pass filter, and to obtain an output voltage corresponding to the noise contained in the received signal. .
(問題点を解決するための手段)
本発明による雑音測定装置はクロツク生成手段
と、第1および第2のサンプリング/測定手段
と、識別手段とを具備して構成したものである。(Means for Solving the Problems) A noise measuring device according to the present invention is configured to include a clock generating means, first and second sampling/measuring means, and an identifying means.
クロツク生成手段は、受信信号の高域周波数成
分を通過させてから整流してクロツク周波数成分
を含む信号波を生成し、さらに信号波からクロツ
ク周波数成分を再生するためのものである。 The clock generation means is for passing the high frequency component of the received signal and rectifying it to generate a signal wave containing the clock frequency component, and further regenerating the clock frequency component from the signal wave.
第1のサンプリング/測定手段は、整流の出力
について振幅が最大になる確率が最も高い時点を
サンプリングして振幅を測定するためのものであ
る。 The first sampling/measuring means is for measuring the amplitude of the rectified output by sampling the time point at which the probability of the amplitude being the maximum is highest.
第2のサンプリング/測定手段は、振幅が最小
になる確率が最も高い時点をサンプリングして振
幅を測定するためのものである。 The second sampling/measuring means is for measuring the amplitude by sampling the time point where the probability of the amplitude being the minimum is highest.
識別手段は、第1および第2のサンプリング/
測定手段による測定結果を相互に比較して比較結
果を求め、その低域成分のみを通過させて受信信
号に含まれる雑音に対応する電圧を得るためのも
のである。 The identification means includes first and second sampling/
The measurement results obtained by the measurement means are compared with each other to obtain a comparison result, and only the low-frequency components thereof are passed to obtain a voltage corresponding to the noise contained in the received signal.
(実施例)
次に、本発明について図面を参照して説明す
る。(Example) Next, the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図は、本発明による雑音測定装置の一実施
例を示すブロツク図である。第1図において、1
は受信機、2は低域波器、3は高域波器、4
は整流回路、5は帯域波器、6は比較器、7は
識別回路、8は遅延回路、9はサンプリングパル
ス発生回路、10はサンプルホールド回路、11
はインバータ、12はサンプリングパルス発生回
路、13はサンプルホールド回路、14は比較
器、15は積分形の低域波器、16は比較器で
ある。 FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a noise measuring device according to the present invention. In Figure 1, 1
is the receiver, 2 is the low frequency device, 3 is the high frequency device, 4
5 is a rectifier circuit, 5 is a band waver, 6 is a comparator, 7 is an identification circuit, 8 is a delay circuit, 9 is a sampling pulse generation circuit, 10 is a sample hold circuit, 11
12 is an inverter, 12 is a sampling pulse generation circuit, 13 is a sample hold circuit, 14 is a comparator, 15 is an integrating type low-frequency wave generator, and 16 is a comparator.
第2図は、第1図の各部の動作波形を示す説明
図である。 FIG. 2 is an explanatory diagram showing operation waveforms of each part in FIG. 1.
第1図において、受信機1によつて受信された
出力は低域波器2を通り雑音が除去されて受信
信号x2が得られる。第2図に示すように、信号x2
ではアイパターンが開いている模様を示してい
る。さらにクロツク周波数成分を得るために、信
号x2は高域波器3を通つて整流回路4に入力さ
れ、整流回路4で整流される。整流回路4の出力
にはクロツク周波数成分が含まれているので、ク
ロツク周波数成分は帯域波器5で抽出され、さ
らに比較器6で基準電圧Vc1と比較される。 In FIG. 1, the output received by a receiver 1 is passed through a low frequency filter 2 to remove noise and obtain a received signal x2 . As shown in Fig. 2, the signal x 2
This shows that the eye pattern is open. Furthermore, in order to obtain a clock frequency component, the signal x 2 is inputted to a rectifier circuit 4 through a high frequency converter 3, and is rectified by the rectifier circuit 4. Since the output of the rectifier circuit 4 includes a clock frequency component, the clock frequency component is extracted by a bandpass filter 5 and further compared with a reference voltage Vc 1 by a comparator 6.
これによつて波形が整流され、再生されたクロ
ツクパルスx6が得られる。 This rectifies the waveform and provides 6 regenerated clock pulses.
次に、再生クロツクパルスx6を使い、受信信号
x2は識別回路7によつて識別され、識別回路7か
ら受信デイジタル信号x7が出力される。 Next, use 6 regenerated clock pulses to convert the received signal.
x 2 is identified by the identification circuit 7, and the identification circuit 7 outputs the received digital signal x 7 .
以上説明した雑音測定装置では、クロツクパル
スの再生について次のことが言える。 In the noise measuring device described above, the following can be said about clock pulse reproduction.
第2図で示されるように、受信信号x2に雑音が
含まれていないときには、高域波器3の出力x3
と整流回路4の出力x4とには、振幅が非常に小さ
くなる位相点(第2図ではt1,t2,t3)が存在す
る。本発明では、このような波形の性質がどの程
度に保たれているのかを測定することにより、雑
音測定の結果を得ている。サンプルホールド回路
10において、信号x4の波形はサンプリングパル
スx9によつて、振幅が最も小さくなる時点(例え
ば、t1,t2,t3)でサンプルされる。他方、信号
x4の波形はサンプリングパルスx12によつて振幅
が最も高くなる時点(例えばt1′,t2′,t3′)でサ
ンプルホールド回路13によつてサンプルされ
る。 As shown in Fig. 2, when the received signal x 2 does not contain noise, the output x 3 of the high frequency converter 3
There are phase points (t 1 , t 2 , t 3 in FIG. 2) where the amplitude becomes very small between the output x 4 of the rectifier circuit 4 and the output x 4 of the rectifier circuit 4. In the present invention, noise measurement results are obtained by measuring to what extent such waveform properties are maintained. In the sample-and-hold circuit 10, the waveform of the signal x 4 is sampled by a sampling pulse x 9 at the time points (for example, t 1 , t 2 , t 3 ) when the amplitude is the smallest. On the other hand, the signal
The x 4 waveform is sampled by the sample-and-hold circuit 13 at the times when the amplitude is the highest due to the sampling pulse x 12 (for example, t 1 ', t 2 ', t 3 ').
遅延回路8およびサンプリングパルス発生回路
9は、サンプルホールド回路10においてサンプ
リングパルスを生成するためのものである。遅延
回路8でクロツクパルスx6を適当に遅延し、さら
にサンプリングパルス発生回路9において遅延回
路8の出力x8の立上りに同期して微小なパルス幅
を有するサンプリングパルスx9を出力している。
ここで、遅延回路8の遅延量はサンプリングパル
スx9の立上りに対して、x4におけるt1,t2,t3の
ように遅延量が最小となる時点に合わせて調整さ
れる。 The delay circuit 8 and the sampling pulse generation circuit 9 are used to generate sampling pulses in the sample hold circuit 10. A delay circuit 8 appropriately delays the clock pulse x 6 , and a sampling pulse generating circuit 9 outputs a sampling pulse x 9 having a minute pulse width in synchronization with the rise of the output x 8 of the delay circuit 8.
Here, the delay amount of the delay circuit 8 is adjusted in accordance with the time points such as t 1 , t 2 , and t 3 in x 4 when the delay amount becomes minimum with respect to the rising edge of the sampling pulse x 9 .
インバータ11およびサンプリングパルス発生
回路12はサンプルホールド回路13におけるサ
ンプリングパルスを得るためのものであり、イン
バータ11で信号x8を反転し、さらにサンプリン
グパルス発生回路12において信号x8の立上りに
同期して微小なパルス幅を有するサンプリングパ
ルスx12を出力している。従つて、信号x12の時間
的な位置は信号x9の各パルスの丁度中心点に位置
するが、この時点は信号x4の波形が尖頭値に達す
るところである。 The inverter 11 and the sampling pulse generation circuit 12 are used to obtain a sampling pulse for the sample hold circuit 13. The inverter 11 inverts the signal x8 , and the sampling pulse generation circuit 12 inverts the signal x8 in synchronization with the rise of the signal x8 . It outputs 12 sampling pulses with a minute pulse width. Therefore, the temporal position of signal x 12 is exactly at the center point of each pulse of signal x 9 , at which point the waveform of signal x 4 reaches its peak value.
第2図に示すように、信号x4に雑音が含まれて
いないときには、サンプルホールド回路10でサ
ンプルされた結果x10は実線で示す零のレベルに
なる。サンプルホールド回路13によつてサンプ
ルされた結果x13は、信号x4のレベルに応じて高
い値を示している。従つて、信号x4に雑音が含ま
れないときは、信号x10と信号x13との間には常
に、x10<x13が成立する。そこで、信号x10と信
号x13とを比較器14で比較すると、その出力x14
は常に高レベルになる。しかしながら、信号x4に
雑音が含まれていると上記の関係は必ずしも成立
しなくなる。第2図において点線で示されるよう
に、信号x4に雑音があつたときには△V1,△V2,
△V3,……をサンプルして信号x10に電圧△V1,
△V2,△V3が発生する。 As shown in FIG. 2, when the signal x 4 contains no noise, the result x 10 sampled by the sample-and-hold circuit 10 has a zero level as shown by the solid line. The result x13 sampled by the sample and hold circuit 13 shows a high value depending on the level of the signal x4 . Therefore, when signal x 4 does not include noise, x 10 <x 13 always holds between signal x 10 and signal x 13 . Therefore, when the signal x 10 and the signal x 13 are compared by the comparator 14, the output x 14
is always at a high level. However, if the signal x 4 contains noise, the above relationship does not necessarily hold. As shown by the dotted line in Fig. 2, when noise is added to the signal x 4 , △V 1 , △V 2 ,
Sample △V 3 , ... and apply the voltage △V 1 , to the signal x 10
△V 2 and △V 3 occur.
このとき、信号x13は必ずしも上記の電圧と比
較しても常に高レベルの関係にあるとはいえない
ため、信号x10と信号x13とを比較した結果、信号
x14の波形で点線によつて示すように或る確率で
低レベルになる。すなわち、信号x4に雑音が含ま
れていないときには、信号x14は常に高レベルに
なり、雑音の程度に応じて低レベルを示す確率が
高くなる傾向を有する。そこで、信号x14を低域
波器15へ通してパルス的な変動分を除去する
と、信号x4に含まれる雑音に対応した電圧x15を
得ることができる。ここで、受信信号x2に雑音が
あれば、それに応じて信号x4の波形が乱され、信
号x4の雑音の測定はx2の雑音を測つているものと
理解することができる。 At this time, signal x 13 is not necessarily at a high level even when compared with the above voltage, so as a result of comparing signal x 10 and signal x 13 , the signal
As shown by the dotted line in the x 14 waveform, the level becomes low with a certain probability. That is, when the signal x 4 does not include noise, the signal x 14 always has a high level, and the probability that the signal x 14 shows a low level tends to increase depending on the degree of noise. Therefore, if the signal x 14 is passed through the low frequency filter 15 to remove the pulse-like fluctuations, a voltage x 15 corresponding to the noise contained in the signal x 4 can be obtained. Here, if there is noise in the received signal x 2 , the waveform of the signal x 4 will be disturbed accordingly, and the measurement of the noise in the signal x 4 can be understood as measuring the noise in x 2 .
以上のようにして、本発明では受信された信号
x2に含まれる雑音が測定される。 As described above, in the present invention, the received signal
The noise contained in x 2 is measured.
次に、比較器16では低域波器15の出力
x15が或る値Vc2より小さくなつたときに、これ
を雑音状態とみなして出力SQを低レベルに立下
げている。すなわち、SQは受信機1が正常な信
号を受信せずに受信信号出力のアイパターンが開
いていないときに、低レベルを出力するようにす
るためのスケルチ信号として使われる。この場
合、識別回路7の出力x7について、信号の処理を
行わない。 Next, in the comparator 16, the output of the low frequency converter 15 is
When x15 becomes smaller than a certain value Vc2 , this is regarded as a noise condition and the output SQ is lowered to a low level. That is, SQ is used as a squelch signal to output a low level when the receiver 1 does not receive a normal signal and the eye pattern of the received signal output is not open. In this case, no signal processing is performed on the output x7 of the identification circuit 7.
(発明の効果)
以上説明したように本発明は、受信信号を高域
通過フイルタへ通し、整流回路へ入力してクロツ
ク周波数成分を含む信号波を得て、さらに、整流
回路の出力をクロツクパルス再生回路へ入力して
クロツクパルスを再生する受信装置において、整
流回路の出力について振幅が最大になる確率が最
も高い時点をサンプリングした第1の測定結果
と、振幅が最小になる確率が最も高い時点をサン
プリングした第2の測定結果とを比較して、比較
結果を低域通過フイルタに通すことにより、受信
信号のアイパターンに含まれる雑音を測定でき、
ビツト誤り率に対応して次の第1〜第4の効果が
ある。(Effects of the Invention) As explained above, the present invention passes a received signal through a high-pass filter, inputs it to a rectifier circuit to obtain a signal wave containing a clock frequency component, and further reproduces a clock pulse from the output of the rectifier circuit. In a receiving device that regenerates a clock pulse by inputting it to a circuit, the first measurement result is the sampling of the time when the output of the rectifier circuit has the highest probability of maximum amplitude, and the first measurement result of sampling the time of highest probability of minimum amplitude. By comparing the second measurement result and passing the comparison result through a low-pass filter, it is possible to measure the noise included in the eye pattern of the received signal.
There are the following first to fourth effects corresponding to the bit error rate.
第1には、都市雑音や干渉波などに対して受信
信号のアイパターンが開かない場合であり、受信
信号はすべて雑音と判断されて測定されると云う
効果がある。その結果、従来のようにスケルチ信
号により誤つて応答が出力されると云う問題が解
決される。 First, there is a case where the eye pattern of the received signal does not open to urban noise, interference waves, etc., and there is an effect that the received signal is determined to be noise and measured. As a result, the conventional problem of erroneously outputting a response due to a squelch signal is solved.
第2には、受信機の性能にばらつきがある場合
にも、ビツト誤り率に対応したスケルチ応答信号
が得られると云う効果がある。 Second, even if there are variations in receiver performance, a squelch response signal corresponding to the bit error rate can be obtained.
第3には、本発明をダイバーシテイ受信に適用
する場合であり、この場合には2台の受信機のそ
れぞれの受信信号のうちでアイパターンに含まれ
る雑音の測定結果が相互比較されるため、誤り率
の低い信号を確実に選ぶことができると云う効果
がある。このため、従来のようにダイバーシテイ
効果を劣化させることがない。 Thirdly, the present invention is applied to diversity reception, in which the measurement results of noise included in the eye patterns of the respective received signals of two receivers are compared with each other. , it is possible to reliably select a signal with a low error rate. Therefore, the diversity effect does not deteriorate as in the conventional case.
第4は、本発明により回路構成が非常に簡単に
なり、従来の電界強度測定法のように対数増幅器
等の高価なものを使用する必要がないと云う効果
がある。このため、価格的にも有利である。 Fourth, the present invention has the effect that the circuit configuration is extremely simple, and there is no need to use expensive devices such as logarithmic amplifiers as in the conventional electric field strength measurement method. Therefore, it is advantageous in terms of price.
第1図は、本発明による雑音測定装置の一実施
例を示すブロツク図である。第2図は、第1図に
示す雑音測定装置の各部の動作波形を示す波形説
明図である。
1……受信機、2,3,5,15……波器、
4……整流回路、6,14,16……比較器、7
……識別回路、8……遅延回路、9,12……サ
ンプリングパルス発生回路、10,13……サン
プルホールド回路、x2〜x10,x12〜x15,SQ……
信号、△V1,△V2,△V3,Vc1,Vc2……電圧、
t1,t1′,t2,t2′,t3,t3′……時間。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a noise measuring device according to the present invention. FIG. 2 is a waveform explanatory diagram showing operating waveforms of each part of the noise measuring device shown in FIG. 1. 1... Receiver, 2, 3, 5, 15... Wave device,
4... Rectifier circuit, 6, 14, 16... Comparator, 7
... Identification circuit, 8 ... Delay circuit, 9, 12 ... Sampling pulse generation circuit, 10, 13 ... Sample hold circuit, x 2 - x 10 , x 12 - x 15 , SQ ...
Signal, △V 1 , △V 2 , △V 3 , Vc 1 , Vc 2 ... Voltage,
t 1 , t 1 ′, t 2 , t 2 ′, t 3 , t 3 ′...time.
Claims (1)
整流してクロツク周波数成分を含む信号波を生成
し、さらに前記信号波から前記クロツク周波数成
分を再生するためのクロツク生成手段と、前記整
流の出力について振幅が最大になる確率が最も高
い時点をサンプルして前記振幅を測定するための
第1のサンプリング/測定手段と、前記振幅が最
小になる確率が最も高い時点をサンプルして前記
振幅を測定するための第2のサンプリング/測定
手段と、前記第1および第2のサンプリング/測
定手段による測定結果を相互に比較して比較結果
を求め、その低域成分のみを通過させて前記受信
信号に含まれる雑音に対応する電圧を得るための
識別手段とを具備して構成したことを特徴とする
雑音測定装置。1. Clock generation means for passing a high frequency component of a received signal and then rectifying it to generate a signal wave including a clock frequency component, and further reproducing the clock frequency component from the signal wave, and an output of the rectification. a first sampling/measuring means for measuring the amplitude by sampling a point in time when the probability that the amplitude is the highest is highest; A second sampling/measuring means is used to compare the measurement results of the first and second sampling/measuring means to obtain a comparison result, and only the low-frequency components thereof are passed through to form the received signal. 1. A noise measuring device comprising: identification means for obtaining a voltage corresponding to included noise.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16593486A JPS6321573A (en) | 1986-07-15 | 1986-07-15 | Noise measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16593486A JPS6321573A (en) | 1986-07-15 | 1986-07-15 | Noise measuring apparatus |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6321573A JPS6321573A (en) | 1988-01-29 |
| JPH0580988B2 true JPH0580988B2 (en) | 1993-11-11 |
Family
ID=15821791
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16593486A Granted JPS6321573A (en) | 1986-07-15 | 1986-07-15 | Noise measuring apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6321573A (en) |
-
1986
- 1986-07-15 JP JP16593486A patent/JPS6321573A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6321573A (en) | 1988-01-29 |
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