JPH0598430A - イオンプレーテイング法による被膜形成方法 - Google Patents
イオンプレーテイング法による被膜形成方法Info
- Publication number
- JPH0598430A JPH0598430A JP3256292A JP25629291A JPH0598430A JP H0598430 A JPH0598430 A JP H0598430A JP 3256292 A JP3256292 A JP 3256292A JP 25629291 A JP25629291 A JP 25629291A JP H0598430 A JPH0598430 A JP H0598430A
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- Japan
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- film
- base material
- ion plating
- ion
- film formation
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明の目的は、セラミック被膜などの成膜
に用いられるイオンプレーティング法による被膜形成に
おいて、被膜の損傷が少ない条件で付着力が強く、良質
の膜を得る被膜形成方法を提供することにある。 【構成】 電子銃1より放出された電子ビーム6を蒸着
物質5に照射して加熱蒸発させ、母材10の上に被膜を
形成する。このときイオン銃16により水素イオンビー
ム19を母材10上に照射しながら成膜することによっ
て、付着力のある被膜を形成する。
に用いられるイオンプレーティング法による被膜形成に
おいて、被膜の損傷が少ない条件で付着力が強く、良質
の膜を得る被膜形成方法を提供することにある。 【構成】 電子銃1より放出された電子ビーム6を蒸着
物質5に照射して加熱蒸発させ、母材10の上に被膜を
形成する。このときイオン銃16により水素イオンビー
ム19を母材10上に照射しながら成膜することによっ
て、付着力のある被膜を形成する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、イオンプレーティング
法による、良質で付着強度の強い、化合物被膜形成方法
に関するものである。
法による、良質で付着強度の強い、化合物被膜形成方法
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】切削工具等に用いられる耐摩耗性被膜の
コーティングには、現在CVD(化学蒸着)法、イオンビ
ームスパッタ法およびイオンプレーティング法などが用
いられている。
コーティングには、現在CVD(化学蒸着)法、イオンビ
ームスパッタ法およびイオンプレーティング法などが用
いられている。
【0003】CVD法は、成膜速度が速く付着強度も強
いが、成膜の際に母材を500〜1000℃まで加熱する必要
があるため、精密加工部品や低融点物質へのコーティン
グは出来ない。また、イオンビームスパッタ法はスパッ
タ現象を利用した成膜法であり、さらに成膜中に母材に
イオンを照射するダイナミックミキシング法を用いるこ
とにより200℃以下で成膜が可能であり、付着強度も強
い被膜を得ることができる。しかしながら、成膜速度が
遅いため、工業的にはあまり利用されていない。 一
方、イオンプレーティング法は成膜時の母材温度が300
〜500℃と比較的低く、成膜速度も速いが、母材へ印加
できるバイアス電位が数百eV程度であるためイオンビー
ムスパッタ法に比べると被膜の付着強度が弱い値とな
る。
いが、成膜の際に母材を500〜1000℃まで加熱する必要
があるため、精密加工部品や低融点物質へのコーティン
グは出来ない。また、イオンビームスパッタ法はスパッ
タ現象を利用した成膜法であり、さらに成膜中に母材に
イオンを照射するダイナミックミキシング法を用いるこ
とにより200℃以下で成膜が可能であり、付着強度も強
い被膜を得ることができる。しかしながら、成膜速度が
遅いため、工業的にはあまり利用されていない。 一
方、イオンプレーティング法は成膜時の母材温度が300
〜500℃と比較的低く、成膜速度も速いが、母材へ印加
できるバイアス電位が数百eV程度であるためイオンビー
ムスパッタ法に比べると被膜の付着強度が弱い値とな
る。
【0004】上記の様な付着強度を改善するために、従
来真空容器にイオン銃を取り付け、導入ガスイオンを成
膜中に直接母材ホルダに数keV〜数十keVの加速電圧で照
射する方法が用いられている。しかしながら、炭化物や
酸化物被膜成膜時には、イオン銃のフィラメントの寿命
や汚染の問題から安定した炭素イオン、酸素イオンの照
射は難しく、前記方法は主に窒化物被膜作成時にのみ使
われている。
来真空容器にイオン銃を取り付け、導入ガスイオンを成
膜中に直接母材ホルダに数keV〜数十keVの加速電圧で照
射する方法が用いられている。しかしながら、炭化物や
酸化物被膜成膜時には、イオン銃のフィラメントの寿命
や汚染の問題から安定した炭素イオン、酸素イオンの照
射は難しく、前記方法は主に窒化物被膜作成時にのみ使
われている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】このようにイオンプレ
ーティング法によって付着強度の強い化合物被膜を形成
する方法においては、成膜中に被膜に高いエネルギーを
付与するための手段が必要となる。
ーティング法によって付着強度の強い化合物被膜を形成
する方法においては、成膜中に被膜に高いエネルギーを
付与するための手段が必要となる。
【0006】そこで本発明の目的は、比較的安定して供
給可能な水素イオンを成膜中に母材へ照射し、付着強度
の強い化合物被膜を形成できるイオンプレーティング法
を用いた被膜形成方法を提供することにある。
給可能な水素イオンを成膜中に母材へ照射し、付着強度
の強い化合物被膜を形成できるイオンプレーティング法
を用いた被膜形成方法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明による水素イオンを用いたイオンプレーテ
ィング法による被膜形成方法は、真空容器に設けたイオ
ン銃により成膜中に母材に直接水素イオンを照射し、母
材と被膜との界面でのミキシングおよび被膜中の反応の
促進を行なうことを特徴としている。
めに、本発明による水素イオンを用いたイオンプレーテ
ィング法による被膜形成方法は、真空容器に設けたイオ
ン銃により成膜中に母材に直接水素イオンを照射し、母
材と被膜との界面でのミキシングおよび被膜中の反応の
促進を行なうことを特徴としている。
【0008】
【作用】このように構成された本発明の方法において
は、イオン銃から放出された水素イオンビームが成膜中
の母材に照射されることによって、成膜初期には母材と
被膜の界面において、双方の原子と衝突することにより
ミキシング作用を起こし、また成膜中期以後は、蒸着物
質と導入ガスにエネルギーを付与することにより双方の
反応を促進する。水素イオンは質量が小さいため、スパ
ッタリングや被膜へ与える損傷が少なく、良質で付着強
度の強い化合物被膜が得られる。
は、イオン銃から放出された水素イオンビームが成膜中
の母材に照射されることによって、成膜初期には母材と
被膜の界面において、双方の原子と衝突することにより
ミキシング作用を起こし、また成膜中期以後は、蒸着物
質と導入ガスにエネルギーを付与することにより双方の
反応を促進する。水素イオンは質量が小さいため、スパ
ッタリングや被膜へ与える損傷が少なく、良質で付着強
度の強い化合物被膜が得られる。
【0009】
【実施例】本発明の実施例を図1で説明する。真空容器
12内にはホロカソード電子銃1、金属を蒸発させるた
めのルツボ2、イオン化した蒸発粒子および導入ガスが
加速して入射するように直流負あるいは高周波のバイア
ス電位が印加された母材ホルダ3および水素イオンを母
材に照射するためのイオン銃16が設置されている。ま
た蒸発粒子および導入ガスのイオン化率が低い場合には
イオン化電極18を設置する。化合物被膜を形成するに
は、被膜中への不純物混入を減らすために真空容器12
内を10~4Pa台まで排気し、その後カソード13から流量
4〜20sccmのアルゴンガスを電子銃1に導入する。また
ガス導入口4から数十sccmの窒素、炭化水素、酸素など
の反応ガスを真空容器12内に導入する。
12内にはホロカソード電子銃1、金属を蒸発させるた
めのルツボ2、イオン化した蒸発粒子および導入ガスが
加速して入射するように直流負あるいは高周波のバイア
ス電位が印加された母材ホルダ3および水素イオンを母
材に照射するためのイオン銃16が設置されている。ま
た蒸発粒子および導入ガスのイオン化率が低い場合には
イオン化電極18を設置する。化合物被膜を形成するに
は、被膜中への不純物混入を減らすために真空容器12
内を10~4Pa台まで排気し、その後カソード13から流量
4〜20sccmのアルゴンガスを電子銃1に導入する。また
ガス導入口4から数十sccmの窒素、炭化水素、酸素など
の反応ガスを真空容器12内に導入する。
【0010】一方、真空容器12に取り付けられたイオ
ン銃16に、ガス導入口17から水素ガスを4〜10sccm
導入し、10〜100keVの加速電圧によって水素イオンを母
材に照射する。
ン銃16に、ガス導入口17から水素ガスを4〜10sccm
導入し、10〜100keVの加速電圧によって水素イオンを母
材に照射する。
【0011】ルツボには蒸発物質5を設置しておき、電
子ビーム6は電磁石7によって軌道を制御され蒸発物質
5に照射される。電子ビーム6を照射された蒸発物質5
は加熱されて蒸発し、途中でイオン化しながら上方の母
材10上に堆積する。一方、ガス導入口4から導入され
た導入ガスも同様に電子ビーム6またはイオン化電極1
8によってイオン化され加速され母材10に達し、蒸発
物質5と反応して化合物被膜を形成する。この時イオン
銃16から放出された水素イオン19も母材10に達
し、蒸発物質、導入ガス原子と衝突し、ミキシングある
いは反応の促進を行なう。
子ビーム6は電磁石7によって軌道を制御され蒸発物質
5に照射される。電子ビーム6を照射された蒸発物質5
は加熱されて蒸発し、途中でイオン化しながら上方の母
材10上に堆積する。一方、ガス導入口4から導入され
た導入ガスも同様に電子ビーム6またはイオン化電極1
8によってイオン化され加速され母材10に達し、蒸発
物質5と反応して化合物被膜を形成する。この時イオン
銃16から放出された水素イオン19も母材10に達
し、蒸発物質、導入ガス原子と衝突し、ミキシングある
いは反応の促進を行なう。
【0012】このように、化合物被膜を成膜する際に、
水素イオン照射を併用したイオンプレーティング法を用
いることにより良質で付着強度の強い化合物被膜が得ら
れる。 なお、排気口8にオリフィスバルブを設け、直
流電源15に検知器を設置して、前記オリフィスバルブ
と検知器をプログラマブルコントローラへ接続すると、
電子ビーム6がグロー放電からアーク放電へ移行する時
点を検知器で感知し、この信号をプログラマブルコント
ローラへ送って、図示しないフィラメント電源を切断す
ると共にオリフィスバルブを調節して排気を行ようにな
るので、電子ビーム6がグロー放電からアーク放電へ移
行する際の急激な電流増加を抑制し、電子ビーム6を安
定化させることが可能となる。
水素イオン照射を併用したイオンプレーティング法を用
いることにより良質で付着強度の強い化合物被膜が得ら
れる。 なお、排気口8にオリフィスバルブを設け、直
流電源15に検知器を設置して、前記オリフィスバルブ
と検知器をプログラマブルコントローラへ接続すると、
電子ビーム6がグロー放電からアーク放電へ移行する時
点を検知器で感知し、この信号をプログラマブルコント
ローラへ送って、図示しないフィラメント電源を切断す
ると共にオリフィスバルブを調節して排気を行ようにな
るので、電子ビーム6がグロー放電からアーク放電へ移
行する際の急激な電流増加を抑制し、電子ビーム6を安
定化させることが可能となる。
【0013】
【発明の効果】本発明によれば、イオンプレーティング
法において化合物被膜を形成する際に、真空容器に取り
付けられたイオン銃により成膜中に母材に水素イオンを
照射することによって良質で付着強度の強い化合物被膜
を成膜することができる。従って、今まで難しかった精
密加工部品や低融点物質への化合物被膜の被覆が可能と
なり、広範囲にわたる消耗部品の寿命および性能向上と
いう効果を奏する。
法において化合物被膜を形成する際に、真空容器に取り
付けられたイオン銃により成膜中に母材に水素イオンを
照射することによって良質で付着強度の強い化合物被膜
を成膜することができる。従って、今まで難しかった精
密加工部品や低融点物質への化合物被膜の被覆が可能と
なり、広範囲にわたる消耗部品の寿命および性能向上と
いう効果を奏する。
【図1】 本発明の一実施例を示す縦断面図である。
1はホロカソード電子銃、2はルツボ、3は母材ホル
ダ、4は反応ガス導入口、5は蒸着物質、6は電子ビー
ム、7は電磁石、8は排気口、9はシャッタ、10は母
材、11はバイアス電源、12は真空容器、13はカソ
ード、14はガイシ、15は直流電源、16はイオン
銃、17はガス導入口、18はイオン化電極、19は水
素イオンビームである。
ダ、4は反応ガス導入口、5は蒸着物質、6は電子ビー
ム、7は電磁石、8は排気口、9はシャッタ、10は母
材、11はバイアス電源、12は真空容器、13はカソ
ード、14はガイシ、15は直流電源、16はイオン
銃、17はガス導入口、18はイオン化電極、19は水
素イオンビームである。
Claims (1)
- 【請求項1】 真空容器内に、被膜の蒸発源となる金属
を載置するための所定の正電位が印加されるルツボと、
金属を溶融するための電子ビームを放出する電子銃と、
前記ルツボに対し、負電位または高周波を印加し得る母
材ホルダ上に蒸発物質と導入ガスをイオン化手段により
イオン化し、化合物被膜を形成するイオンプレーティン
グ法において、真空容器にイオン銃を設け、化合物被膜
成膜中に水素イオンを母材に照射することを特徴とした
イオンプレーティング法による被膜形成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3256292A JPH0598430A (ja) | 1991-10-03 | 1991-10-03 | イオンプレーテイング法による被膜形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3256292A JPH0598430A (ja) | 1991-10-03 | 1991-10-03 | イオンプレーテイング法による被膜形成方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0598430A true JPH0598430A (ja) | 1993-04-20 |
Family
ID=17290636
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3256292A Withdrawn JPH0598430A (ja) | 1991-10-03 | 1991-10-03 | イオンプレーテイング法による被膜形成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0598430A (ja) |
-
1991
- 1991-10-03 JP JP3256292A patent/JPH0598430A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990107 |