JPH06138186A - プリント基板実装回路の試験方法 - Google Patents
プリント基板実装回路の試験方法Info
- Publication number
- JPH06138186A JPH06138186A JP4289977A JP28997792A JPH06138186A JP H06138186 A JPH06138186 A JP H06138186A JP 4289977 A JP4289977 A JP 4289977A JP 28997792 A JP28997792 A JP 28997792A JP H06138186 A JPH06138186 A JP H06138186A
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- Japan
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- circuit
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 プリント基板実装回路の試験方法に関し、プ
リント基板毎に専用のプリント基板試験装置を用意する
必要がなく、プリント基板と測定器との間の配線も少な
くて済み、動作試験を簡単に行なえるようにすることを
目的とする。 【構成】 実装回路の動作試験信号を発生する試験信号
発生手段と、該試験信号発生手段の出力と実装回路のタ
イミング発生回路の出力のいずれかを選択して実装回路
に供給する切替手段と、実装回路の複数の出力信号中の
任意の信号を選択して出力する出力選択手段とをプリン
ト基板に設け、実装回路の動作試験時には、切替手段を
試験信号発生手段側に切替えることにより試験信号発生
手段の発生する試験信号を実装回路に供給し、この時に
実装回路から出力される出力信号中の任意の信号を出力
選択手段によって選択し、該選択した出力信号をプリン
ト基板外部に用意した測定器で測定するように構成す
る。
リント基板毎に専用のプリント基板試験装置を用意する
必要がなく、プリント基板と測定器との間の配線も少な
くて済み、動作試験を簡単に行なえるようにすることを
目的とする。 【構成】 実装回路の動作試験信号を発生する試験信号
発生手段と、該試験信号発生手段の出力と実装回路のタ
イミング発生回路の出力のいずれかを選択して実装回路
に供給する切替手段と、実装回路の複数の出力信号中の
任意の信号を選択して出力する出力選択手段とをプリン
ト基板に設け、実装回路の動作試験時には、切替手段を
試験信号発生手段側に切替えることにより試験信号発生
手段の発生する試験信号を実装回路に供給し、この時に
実装回路から出力される出力信号中の任意の信号を出力
選択手段によって選択し、該選択した出力信号をプリン
ト基板外部に用意した測定器で測定するように構成す
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント基板実装回路
の試験方法に関する。
の試験方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】図３は、従来のプリント基板実装回路の
試験方法の説明図である。図において、５０はプリント
基板、５１はプリント基板上に実装されたＩＣや電気部
品などの種々の電気回路（以下「実装回路」という）、
５２はプリント基板試験装置である。従来のプリント基
板実装回路の試験方法は、プリント基板試験装置５２の
試験信号発生器５３からプリント基板５０の試験入力端
子５４に動作試験信号を与え、このときにプリント基板
５０の出力端子５５から出力される出力信号をプリント
基板試験装置２２の信号選択器２６に多数のリード線を
用いて接続し、この多数の出力信号中から信号選択器２
６で所望の信号を選択することにより、オシロスコープ
２７などの測定器で出力状態を観測するようにしてい
た。
試験方法の説明図である。図において、５０はプリント
基板、５１はプリント基板上に実装されたＩＣや電気部
品などの種々の電気回路（以下「実装回路」という）、
５２はプリント基板試験装置である。従来のプリント基
板実装回路の試験方法は、プリント基板試験装置５２の
試験信号発生器５３からプリント基板５０の試験入力端
子５４に動作試験信号を与え、このときにプリント基板
５０の出力端子５５から出力される出力信号をプリント
基板試験装置２２の信号選択器２６に多数のリード線を
用いて接続し、この多数の出力信号中から信号選択器２
６で所望の信号を選択することにより、オシロスコープ
２７などの測定器で出力状態を観測するようにしてい
た。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】前記した従来の試験方
法の場合、実装回路５１の内部回路が異なる毎に専用の
プリント基板試験装置５２を設計・制作して用意しなけ
ればならないという問題があった。また、プリント基板
５０とプリント基板試験装置５２との間に多くの配線を
必要とし、試験に手間がかかるという問題があった。
法の場合、実装回路５１の内部回路が異なる毎に専用の
プリント基板試験装置５２を設計・制作して用意しなけ
ればならないという問題があった。また、プリント基板
５０とプリント基板試験装置５２との間に多くの配線を
必要とし、試験に手間がかかるという問題があった。
【０００４】本発明は前記事情に基づきなされたもの
で、その目的とするところは、従来のようにプリント基
板毎に専用のプリント基板試験装置を用意する必要がな
く、またプリント基板と測定器との間の配線も少なくて
済み、動作試験を簡単に行なうことのできるプリント基
板実装回路の試験方法を提供することである。
で、その目的とするところは、従来のようにプリント基
板毎に専用のプリント基板試験装置を用意する必要がな
く、またプリント基板と測定器との間の配線も少なくて
済み、動作試験を簡単に行なうことのできるプリント基
板実装回路の試験方法を提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に本発明が採用した手段を、図１の原理図を参照して説
明する。図において、１はプリント基板、２はプリント
基板１上に実装された電気回路（実装回路）、３は実装
回路２内に設けられている正規の回路動作用のタイミン
グ発生回路、４は動作試験のための試験信号を発生する
試験信号発生手段、５は動作試験時に試験信号発生手段
３の出力を選択するための切替手段、６は実装回路２の
出力端子、７は実装回路２の出力する出力信号中から所
定の出力信号を選択する出力選択手段、８は試験出力端
子、９は試験出力端子８から出力される信号を観測する
ためにプリント基板外部に接続された測定器である。前
記試験信号発生手段４、切替手段５および出力選択手段
７は、実装回路２と同一のプリント基板１上に設けられ
ている。
に本発明が採用した手段を、図１の原理図を参照して説
明する。図において、１はプリント基板、２はプリント
基板１上に実装された電気回路（実装回路）、３は実装
回路２内に設けられている正規の回路動作用のタイミン
グ発生回路、４は動作試験のための試験信号を発生する
試験信号発生手段、５は動作試験時に試験信号発生手段
３の出力を選択するための切替手段、６は実装回路２の
出力端子、７は実装回路２の出力する出力信号中から所
定の出力信号を選択する出力選択手段、８は試験出力端
子、９は試験出力端子８から出力される信号を観測する
ためにプリント基板外部に接続された測定器である。前
記試験信号発生手段４、切替手段５および出力選択手段
７は、実装回路２と同一のプリント基板１上に設けられ
ている。
【０００６】
【作用】通常時は、切替手段５はタイミング発生回路３
側に接続されている。したがって、プリント基板１が電
子機器などに実際に組み込まれて使用される際には、内
部の実装回路２にはタイミング発生回路３から正規のタ
イミング信号が供給され、この正規のタイミング信号に
従って正規の動作を行い、出力端子６から正規の出力信
号を出力する。
側に接続されている。したがって、プリント基板１が電
子機器などに実際に組み込まれて使用される際には、内
部の実装回路２にはタイミング発生回路３から正規のタ
イミング信号が供給され、この正規のタイミング信号に
従って正規の動作を行い、出力端子６から正規の出力信
号を出力する。
【０００７】プリント基板の動作試験時には、切替手段
５を試験信号発生手段４側に切り替える。これにより、
試験信号発生手段４から動作試験のための所定の試験信
号が実装回路２に供給される。実装回路２はこの試験信
号に従って所定の試験動作を行なう。出力選択手段７
は、この時に実装回路２から出力される複数の出力信号
中から所定の信号を選択し、試験出力端子８に送る。こ
の試験出力端子８に送られた出力信号は外部接続した測
定器９に導かれ、その出力状態を監視することにより実
装回路２が正常であるか否かの判定を行なう。
５を試験信号発生手段４側に切り替える。これにより、
試験信号発生手段４から動作試験のための所定の試験信
号が実装回路２に供給される。実装回路２はこの試験信
号に従って所定の試験動作を行なう。出力選択手段７
は、この時に実装回路２から出力される複数の出力信号
中から所定の信号を選択し、試験出力端子８に送る。こ
の試験出力端子８に送られた出力信号は外部接続した測
定器９に導かれ、その出力状態を監視することにより実
装回路２が正常であるか否かの判定を行なう。
【０００８】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例につき
説明する。図２は、本発明の一実施例の構成図である。
図において、１０−１〜１０−ｎはプリント基板１上に
実装された例えばＩＣなどの回路（被試験回路）、１１
は回路１０−１〜１０−ｎの正規の動作のためのタイミ
ング信号を発生するタイミング発生回路、１２は回路１
０−１〜１０−ｎの動作試験を行なうための試験信号を
発生する試験信号発生回路、１３は動作試験時に試験信
号発生回路１２の発生する試験信号を選択するためのマ
ルチプレクサ（ＭＰＸ）である。
説明する。図２は、本発明の一実施例の構成図である。
図において、１０−１〜１０−ｎはプリント基板１上に
実装された例えばＩＣなどの回路（被試験回路）、１１
は回路１０−１〜１０−ｎの正規の動作のためのタイミ
ング信号を発生するタイミング発生回路、１２は回路１
０−１〜１０−ｎの動作試験を行なうための試験信号を
発生する試験信号発生回路、１３は動作試験時に試験信
号発生回路１２の発生する試験信号を選択するためのマ
ルチプレクサ（ＭＰＸ）である。
【０００９】１４−Ａ，１４−Ｂは回路１０−１〜１０
−ｎの出力する複数の出力信号中から指定の出力信号を
選択して出力するためのマルチプレクサ（ＭＰＸ）、１
５はＭＰＸ１３の選択する入力信号の切替を設定ピンの
挿入によって行なう入力切替ピン端子、１６はＭＰＸ１
４−Ａ，１４−Ｂから出力される信号の選択を設定ピン
の挿入によって行なう出力選択ピン端子、１７は出力端
子、１８は試験出力端子である。これらの回路はすべて
プリント基板１上に設けられている。
−ｎの出力する複数の出力信号中から指定の出力信号を
選択して出力するためのマルチプレクサ（ＭＰＸ）、１
５はＭＰＸ１３の選択する入力信号の切替を設定ピンの
挿入によって行なう入力切替ピン端子、１６はＭＰＸ１
４−Ａ，１４−Ｂから出力される信号の選択を設定ピン
の挿入によって行なう出力選択ピン端子、１７は出力端
子、１８は試験出力端子である。これらの回路はすべて
プリント基板１上に設けられている。
【００１０】通常時は、ＭＰＸ１３はタイミング発生回
路１１側を選択しており、タイミング発生回路１１の出
力するタイミング信号Ａ，Ｂを回路１０−１〜１０−ｎ
にそれぞれ供給している。ＩＣなどの回路１０−１〜１
０ｎはこのタイミング信号Ａ，Ｂに従って所定の動作を
行なう。そして、回路１０−１〜１０−ｎから出力され
る出力信号Ａ，Ｂはそれぞれ対応する出力端子１７−１
Ａ，１Ｂ〜１７−ｎＡ，ｎＢに送出され、外部へ出力さ
れる。
路１１側を選択しており、タイミング発生回路１１の出
力するタイミング信号Ａ，Ｂを回路１０−１〜１０−ｎ
にそれぞれ供給している。ＩＣなどの回路１０−１〜１
０ｎはこのタイミング信号Ａ，Ｂに従って所定の動作を
行なう。そして、回路１０−１〜１０−ｎから出力され
る出力信号Ａ，Ｂはそれぞれ対応する出力端子１７−１
Ａ，１Ｂ〜１７−ｎＡ，ｎＢに送出され、外部へ出力さ
れる。
【００１１】回路１０−１〜１０−ｎの動作試験を行な
う場合には、試験出力端子１８−Ａ，１８−Ｂにオシロ
スコープなどの測定器１９を接続する。さらに、入力切
替ピン端子１５に設定ピンを挿入することにより、ＭＰ
Ｘ１３を試験信号発生回路１１側に切り替える。また、
出力選択ピン端子１６の所定の位置に設定ピンを挿入す
ることにより、ＭＰＸ１４−Ａ，１４−Ｂで選択すべき
出力信号を設定する。
う場合には、試験出力端子１８−Ａ，１８−Ｂにオシロ
スコープなどの測定器１９を接続する。さらに、入力切
替ピン端子１５に設定ピンを挿入することにより、ＭＰ
Ｘ１３を試験信号発生回路１１側に切り替える。また、
出力選択ピン端子１６の所定の位置に設定ピンを挿入す
ることにより、ＭＰＸ１４−Ａ，１４−Ｂで選択すべき
出力信号を設定する。
【００１２】前記のように設定した後、試験を開始する
と、試験信号発生回路１１からＭＰＸ１３を通って所定
の試験信号Ａ，Ｂが回路１０−１〜１０−ｎに与えら
れ、各回路１０−１〜１０−ｎがこの試験信号Ａ，Ｂに
従った動作を開始する。
と、試験信号発生回路１１からＭＰＸ１３を通って所定
の試験信号Ａ，Ｂが回路１０−１〜１０−ｎに与えら
れ、各回路１０−１〜１０−ｎがこの試験信号Ａ，Ｂに
従った動作を開始する。
【００１３】この試験動作によって各回路１０−１〜１
０−ｎから出力される出力信号Ａ，Ｂは、ＭＰＸ１４−
Ａ，１４−Ｂに入力され、出力選択ピン端子１６によっ
て設定された回路の出力信号Ａ，Ｂが試験出力端子１８
−Ａ，１８−Ｂに送出される。したがって、測定器１９
は、この試験出力端子１８−Ａ，１８−Ｂに送出されて
くる出力信号を観測し、その信号状態からプリント基板
１内の対応する回路が正常に動作しているか否かを判定
する。なお、出力選択ピン端子１６のピン挿入位置を変
えることにより、ＭＰＸ１４−Ａ，１４−Ｂから出力さ
れる出力信号を自在に設定することできる。
０−ｎから出力される出力信号Ａ，Ｂは、ＭＰＸ１４−
Ａ，１４−Ｂに入力され、出力選択ピン端子１６によっ
て設定された回路の出力信号Ａ，Ｂが試験出力端子１８
−Ａ，１８−Ｂに送出される。したがって、測定器１９
は、この試験出力端子１８−Ａ，１８−Ｂに送出されて
くる出力信号を観測し、その信号状態からプリント基板
１内の対応する回路が正常に動作しているか否かを判定
する。なお、出力選択ピン端子１６のピン挿入位置を変
えることにより、ＭＰＸ１４−Ａ，１４−Ｂから出力さ
れる出力信号を自在に設定することできる。
【００１４】以上、本発明の一実施例について説明した
が、本発明はこの実施例に限定されるものではなく、そ
の発明の主旨に従った各種変形が可能である。
が、本発明はこの実施例に限定されるものではなく、そ
の発明の主旨に従った各種変形が可能である。
【００１５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の試験方法
によれば、プリント基板の実装回路の試験時に外部より
試験信号を入力する必要がなく、また実装回路よりの出
力はプリント基板内部で選択されて出力されるため、測
定器の接続変更が不要となり、動作試験を簡単に行なう
ことができる。
によれば、プリント基板の実装回路の試験時に外部より
試験信号を入力する必要がなく、また実装回路よりの出
力はプリント基板内部で選択されて出力されるため、測
定器の接続変更が不要となり、動作試験を簡単に行なう
ことができる。
【図１】本発明の原理図である。
【図２】本発明の実施例の構成図である。
【図３】従来例の説明図である。
１ プリント基板 ２ 実装回路 ３ タイミング発生回路 ４ 試験信号発生手段 ５ 切替手段 ６ 出力端子 ７ 出力選択手段 ８ 試験出力端子 ９ 測定器
Claims (1)
- 【請求項１】 実装回路の動作試験信号を発生する試験
信号発生手段と、該試験信号発生手段の出力と実装回路
のタイミング発生回路の出力のいずれかを選択して実装
回路に供給する切替手段と、実装回路の複数の出力信号
中の任意の信号を選択して出力する出力選択手段とをプ
リント基板に設け、 実装回路の動作試験時には、前記切替手段を試験信号発
生手段側に切替えることにより試験信号発生手段の発生
する試験信号を実装回路に供給し、 この時に実装回路から出力される出力信号中の任意の信
号を前記出力選択手段によって選択し、該選択した出力
信号をプリント基板外部に用意した測定器で測定するこ
とを特徴とするプリント基板実装回路の試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4289977A JPH06138186A (ja) | 1992-10-28 | 1992-10-28 | プリント基板実装回路の試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4289977A JPH06138186A (ja) | 1992-10-28 | 1992-10-28 | プリント基板実装回路の試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06138186A true JPH06138186A (ja) | 1994-05-20 |
Family
ID=17750183
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4289977A Withdrawn JPH06138186A (ja) | 1992-10-28 | 1992-10-28 | プリント基板実装回路の試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06138186A (ja) |
-
1992
- 1992-10-28 JP JP4289977A patent/JPH06138186A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000104 |