JPH0713913Y2 - 半田小片 - Google Patents
半田小片Info
- Publication number
- JPH0713913Y2 JPH0713913Y2 JP1985158004U JP15800485U JPH0713913Y2 JP H0713913 Y2 JPH0713913 Y2 JP H0713913Y2 JP 1985158004 U JP1985158004 U JP 1985158004U JP 15800485 U JP15800485 U JP 15800485U JP H0713913 Y2 JPH0713913 Y2 JP H0713913Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- solder
- semiconductor
- solder piece
- melting point
- piece
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/30—Die-attach connectors
Landscapes
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Die Bonding (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は半導体素子等の組立において両部品を接合す
る時に使用して好適な半田小片に関するものである。
る時に使用して好適な半田小片に関するものである。
従来、この種の半田小片としては第3図に示すものが知
られている。従来の半導体素子等の組立に使用される半
田小片を第2図,第3図について説明する。ここで、第
3図は高融点半田を母材とするリボン状の半田小片1の
断面図を示す。第2図において、まず半導体用台座2-a
の上に半田小片1-aを設置し、その上に半導体用台座2-b
を設置する。次に、半田小片1-b上に半導体用ペレツト
3を設置する。このような作業を常温で行なつた後、水
素炉等の高温炉に投入する。すると、高温炉内において
半田の融点に到達した時点で半田小片1-a,1-bが完全に
溶け、半導体用台座2-a,2-bおよび半導体用ペレツト3
が接合され、ひとつの半導体素子が形成される。
られている。従来の半導体素子等の組立に使用される半
田小片を第2図,第3図について説明する。ここで、第
3図は高融点半田を母材とするリボン状の半田小片1の
断面図を示す。第2図において、まず半導体用台座2-a
の上に半田小片1-aを設置し、その上に半導体用台座2-b
を設置する。次に、半田小片1-b上に半導体用ペレツト
3を設置する。このような作業を常温で行なつた後、水
素炉等の高温炉に投入する。すると、高温炉内において
半田の融点に到達した時点で半田小片1-a,1-bが完全に
溶け、半導体用台座2-a,2-bおよび半導体用ペレツト3
が接合され、ひとつの半導体素子が形成される。
ところが、従来の半田小片1を使用して半導体用台座2-
a,2-bおよび半導体用ペレツト3を常温で設置して行く
と、常温では半田小片1が溶けないために、組立時の移
送中に各部品が落下したり、位置決めされた各部品の位
置がずれてしまい、再度同様な作業を行なわなければな
らなかつた。また、この作業は非常に注意力が必要とさ
れ、作業能率も悪いという重大な欠点があつた。
a,2-bおよび半導体用ペレツト3を常温で設置して行く
と、常温では半田小片1が溶けないために、組立時の移
送中に各部品が落下したり、位置決めされた各部品の位
置がずれてしまい、再度同様な作業を行なわなければな
らなかつた。また、この作業は非常に注意力が必要とさ
れ、作業能率も悪いという重大な欠点があつた。
この考案は、上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、半導体素子等の組立において接合する両部
品を確実に設置できる半田小片を提供することを目的と
する。
れたもので、半導体素子等の組立において接合する両部
品を確実に設置できる半田小片を提供することを目的と
する。
この考案に係る半田小片は、半田小片の母材より融点の
低い半田をその接合端面に一体成形したものである。
低い半田をその接合端面に一体成形したものである。
この考案の半田小片においては、組立に際し融点の低い
半田のみを溶かし、接合すべき各部品の一部分を接合さ
せることができる。
半田のみを溶かし、接合すべき各部品の一部分を接合さ
せることができる。
以下、この考案の一実施例を第1図,第2図に基づいて
説明する。
説明する。
第1図に示す半田小片は、上記した従来の半田小片1の
両面の一部にその母材より融点の低い低融点の半田11-
a,11-bを一体成形したものである。
両面の一部にその母材より融点の低い低融点の半田11-
a,11-bを一体成形したものである。
次にこの実施例の半田小片を使用した半導体素子の組立
方法を第2図を参照して説明する。昇温されたブロツク
(図示せず)上に半導体用台座2-aを設置し、その上に
半田小片1-aを設置して、さらにその上に半導体台座2-
b,半田小片1-b,半導体用ペレツト3を順次設置する。こ
のとき、半田小片1内に一体成形された半田小片1より
融点の低い半田11-a,11-bが溶ける温度にブロツク上が
昇温しているために、各半田11-a,11-bのみが溶けて半
導体用台座2-aと半導体用台座2-bの一部分が接合され
る。同様に半導体用台座2-bと半導体用ペレツト3の一
部分が接合される。次いで、このようにして接合された
品物を水素炉等の高温炉に投入する。すると、高温炉内
において半田の融点に到達した時点で半田小片1が完全
に溶け、半導体用台座2-a,2-bおよび半導体用ペレツト
3が接合され、ひとつの半導体素子が形成される。
方法を第2図を参照して説明する。昇温されたブロツク
(図示せず)上に半導体用台座2-aを設置し、その上に
半田小片1-aを設置して、さらにその上に半導体台座2-
b,半田小片1-b,半導体用ペレツト3を順次設置する。こ
のとき、半田小片1内に一体成形された半田小片1より
融点の低い半田11-a,11-bが溶ける温度にブロツク上が
昇温しているために、各半田11-a,11-bのみが溶けて半
導体用台座2-aと半導体用台座2-bの一部分が接合され
る。同様に半導体用台座2-bと半導体用ペレツト3の一
部分が接合される。次いで、このようにして接合された
品物を水素炉等の高温炉に投入する。すると、高温炉内
において半田の融点に到達した時点で半田小片1が完全
に溶け、半導体用台座2-a,2-bおよび半導体用ペレツト
3が接合され、ひとつの半導体素子が形成される。
このように、この考案に係る半田小片を使用すると、各
部品間は一部分が接合されているため、組立の移送中で
の落下および位置ずれ等は全くなくなり、自動化も可能
になり、大幅な作業能率の向上がはかれる。
部品間は一部分が接合されているため、組立の移送中で
の落下および位置ずれ等は全くなくなり、自動化も可能
になり、大幅な作業能率の向上がはかれる。
なお、以上は半導体素子等の場合について説明したが、
この考案はこれらに限らず、金属と金属を接合する場合
に使用してもよい。
この考案はこれらに限らず、金属と金属を接合する場合
に使用してもよい。
以上のように、この考案によれば、接合する両部品を確
実に設置できるので、組立に際し移送中での落下,位置
ずれ等がなく、自動化も可能になり、作業能率を大幅に
向上させることができる効果がある。
実に設置できるので、組立に際し移送中での落下,位置
ずれ等がなく、自動化も可能になり、作業能率を大幅に
向上させることができる効果がある。
第1図はこの考案の一実施例による半田小片を示す断面
図、第2図はこの考案または従来の半田小片を用いた半
導体素子の組立方法を説明するための工程断面図、第3
図は従来の半田小片の断面図である。 1……半田小片、11-a,11-b……融点の低い半田。
図、第2図はこの考案または従来の半田小片を用いた半
導体素子の組立方法を説明するための工程断面図、第3
図は従来の半田小片の断面図である。 1……半田小片、11-a,11-b……融点の低い半田。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 宗形 修 埼玉県草加市谷塚町405番地 千住金属工 業株式会社草加事業所内 (56)参考文献 実開 昭56−155447(JP,U)
Claims (1)
- 【請求項1】両部品の接合に使用する半田小片におい
て、該半田小片の母材より融点の低い半田を半田小片の
接合端面に一体成形したことを特徴とする半田小片。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985158004U JPH0713913Y2 (ja) | 1985-10-16 | 1985-10-16 | 半田小片 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985158004U JPH0713913Y2 (ja) | 1985-10-16 | 1985-10-16 | 半田小片 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6267692U JPS6267692U (ja) | 1987-04-27 |
| JPH0713913Y2 true JPH0713913Y2 (ja) | 1995-04-05 |
Family
ID=31081081
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1985158004U Expired - Lifetime JPH0713913Y2 (ja) | 1985-10-16 | 1985-10-16 | 半田小片 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0713913Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4765098B2 (ja) * | 2005-10-13 | 2011-09-07 | 富士電機株式会社 | 半導体装置およびその製造方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56155447U (ja) * | 1980-04-17 | 1981-11-20 |
-
1985
- 1985-10-16 JP JP1985158004U patent/JPH0713913Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6267692U (ja) | 1987-04-27 |
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