JPH0714114A - 磁気ヘッド - Google Patents
磁気ヘッドInfo
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- JPH0714114A JPH0714114A JP15922193A JP15922193A JPH0714114A JP H0714114 A JPH0714114 A JP H0714114A JP 15922193 A JP15922193 A JP 15922193A JP 15922193 A JP15922193 A JP 15922193A JP H0714114 A JPH0714114 A JP H0714114A
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- ferrite
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- film
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 狭トラックを図った場合でも磁気抵抗の低減
が図れると共に、ヘッド効率の低下を抑制し、再生特性
の向上を図る。 【構成】 金属磁性膜3,4を軟磁性フェライト基板
5,6及び7,8によってラミネートしてなる磁気ヘッ
ドにおいて、少なくとも各磁気コア半体1,2の突合わ
せ面におけるフェライトの透磁率を低下させ又は非磁性
化して、磁気ギャップのトラック幅を金属磁性膜3,4
のみによって規制する。
が図れると共に、ヘッド効率の低下を抑制し、再生特性
の向上を図る。 【構成】 金属磁性膜3,4を軟磁性フェライト基板
5,6及び7,8によってラミネートしてなる磁気ヘッ
ドにおいて、少なくとも各磁気コア半体1,2の突合わ
せ面におけるフェライトの透磁率を低下させ又は非磁性
化して、磁気ギャップのトラック幅を金属磁性膜3,4
のみによって規制する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばビデオテープレ
コーダ等に搭載して有用な磁気ヘッドに関する。
コーダ等に搭載して有用な磁気ヘッドに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、磁気記録用磁気ヘッドにおいて
は、記録周波数の上昇、トラック幅の減少及び記録波長
の短波長化等の理由から、高い再生感度及び記録磁界の
増強が求められてきている。
は、記録周波数の上昇、トラック幅の減少及び記録波長
の短波長化等の理由から、高い再生感度及び記録磁界の
増強が求められてきている。
【0003】かかる要求に応えるべく、高透磁率且つ高
飽和磁束密度を有する金属磁性材料を主コアとした磁気
ヘッドが提案されている。金属磁性材料を主コアとした
磁気ヘッドとしては、例えば膜厚の薄い金属磁性膜を絶
縁膜を介して何層にも積層してなる積層金属膜をその厚
み方向から一対の非磁性基板で挟み込むことにより形成
される磁気コア半体同士を突合わせガラス融着により接
合一体化した,いわゆるラミネートタイプの磁気ヘッド
が知られている。
飽和磁束密度を有する金属磁性材料を主コアとした磁気
ヘッドが提案されている。金属磁性材料を主コアとした
磁気ヘッドとしては、例えば膜厚の薄い金属磁性膜を絶
縁膜を介して何層にも積層してなる積層金属膜をその厚
み方向から一対の非磁性基板で挟み込むことにより形成
される磁気コア半体同士を突合わせガラス融着により接
合一体化した,いわゆるラミネートタイプの磁気ヘッド
が知られている。
【0004】この磁気ヘッドにおいては、積層金属膜の
膜厚がすなわち記録再生ギャップのトラック幅となるも
のであることから、当該積層金属膜の膜厚を制御するこ
とで簡単に狭トラック化が図れること、積層金属膜と非
磁性基板との界面が記録再生ギャップと非平行であるた
め当該界面が疑似ギャップとして動作することがないこ
と、さらに製造工程が簡単であること等、種々の利点を
有する。また、積層金属膜は、絶縁膜を介して膜厚の薄
い金属磁性膜を何層にも積層してなるので、高周波数領
域での渦電流損失が低減できる利点もある。
膜厚がすなわち記録再生ギャップのトラック幅となるも
のであることから、当該積層金属膜の膜厚を制御するこ
とで簡単に狭トラック化が図れること、積層金属膜と非
磁性基板との界面が記録再生ギャップと非平行であるた
め当該界面が疑似ギャップとして動作することがないこ
と、さらに製造工程が簡単であること等、種々の利点を
有する。また、積層金属膜は、絶縁膜を介して膜厚の薄
い金属磁性膜を何層にも積層してなるので、高周波数領
域での渦電流損失が低減できる利点もある。
【0005】しかしながら、上記構成の磁気ヘッドで
は、磁気回路部が積層金属膜のみから構成されることに
なるので、狭トラック化を図った場合にはヘッド効率が
低下してしまう。すなわち、狭トラック化すればする
程、積層金属膜の膜厚を薄くする必要があり、そのため
当該積層金属膜の断面積の減少により磁気抵抗が増大し
ヘッド効率が低下する。また、磁気回路部が積層金属膜
のみでは、膜の磁区構造も厳密に調整する必要がある。
は、磁気回路部が積層金属膜のみから構成されることに
なるので、狭トラック化を図った場合にはヘッド効率が
低下してしまう。すなわち、狭トラック化すればする
程、積層金属膜の膜厚を薄くする必要があり、そのため
当該積層金属膜の断面積の減少により磁気抵抗が増大し
ヘッド効率が低下する。また、磁気回路部が積層金属膜
のみでは、膜の磁区構造も厳密に調整する必要がある。
【0006】このため、さらに従来においては、狭トラ
ック化した場合の磁気抵抗の低減を目的として磁性材料
と非磁性材料の複合材からなる複合基板を補助コアとし
た磁気ヘッドが提案されている。かかる磁気ヘッドで
は、積層金属膜の膜厚によって磁気ギャップのトラック
幅を規制するために、磁気記録媒体摺動面部分に非磁性
材を配し、それ以外の部分に軟磁性フェライトを用い
る。
ック化した場合の磁気抵抗の低減を目的として磁性材料
と非磁性材料の複合材からなる複合基板を補助コアとし
た磁気ヘッドが提案されている。かかる磁気ヘッドで
は、積層金属膜の膜厚によって磁気ギャップのトラック
幅を規制するために、磁気記録媒体摺動面部分に非磁性
材を配し、それ以外の部分に軟磁性フェライトを用い
る。
【0007】かかる構成とすることで、狭トラック化し
た場合でもバック側の磁気コア断面積を十分に確保する
ことができ、ヘッド効率の低減を抑制できる。
た場合でもバック側の磁気コア断面積を十分に確保する
ことができ、ヘッド効率の低減を抑制できる。
【0008】ところが、磁性材料と非磁性材料の複合材
を補助コアとして用いた場合には、これら磁性材料と非
磁性材料の熱膨張係数が異なるために、積層金属膜の成
膜時における熱によりフェライトの破壊や割れが発生す
る虞れがある。また、これら磁性材料と非磁性材料の硬
度が異なるために、積層金属膜の成膜前の当該複合基板
の成膜面の鏡面研磨時に接合部分において段差が生ずる
等の不都合が発生する。
を補助コアとして用いた場合には、これら磁性材料と非
磁性材料の熱膨張係数が異なるために、積層金属膜の成
膜時における熱によりフェライトの破壊や割れが発生す
る虞れがある。また、これら磁性材料と非磁性材料の硬
度が異なるために、積層金属膜の成膜前の当該複合基板
の成膜面の鏡面研磨時に接合部分において段差が生ずる
等の不都合が発生する。
【0009】そこで、以上の諸事情を考慮して本願出願
人は、先に特開昭59−221817号公報に開示する
ような磁気ヘッドを提案している。かかる磁気ヘッド
は、積層金属膜をラミネートする基板として磁気ギャッ
プ近傍部のみをガラス等からなる非磁性材とし、その他
の部分を軟磁性フェライトからなる強磁性酸化物材料で
構成することで、当該磁気ギャップのトラック幅を積層
金属膜のみによって規制すると共に、磁気回路部を構成
する大部分の面積を占める強磁性酸化物材料によって磁
気コア断面積を確保したものである。また、この磁気ヘ
ッドにおいては、磁性材料と非磁性材料との貼合わせで
はないので、金属磁性膜の成膜時における熱により、フ
ェライトの破壊や割れが生ずることもない。
人は、先に特開昭59−221817号公報に開示する
ような磁気ヘッドを提案している。かかる磁気ヘッド
は、積層金属膜をラミネートする基板として磁気ギャッ
プ近傍部のみをガラス等からなる非磁性材とし、その他
の部分を軟磁性フェライトからなる強磁性酸化物材料で
構成することで、当該磁気ギャップのトラック幅を積層
金属膜のみによって規制すると共に、磁気回路部を構成
する大部分の面積を占める強磁性酸化物材料によって磁
気コア断面積を確保したものである。また、この磁気ヘ
ッドにおいては、磁性材料と非磁性材料との貼合わせで
はないので、金属磁性膜の成膜時における熱により、フ
ェライトの破壊や割れが生ずることもない。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上述の磁気
ヘッドを製造するには、強磁性酸化物基板に回転砥石等
によって予めガラスを充填させるための溝を形成し、そ
の溝内にガラスを充填する作業が必要となる。このガラ
スを充填させる溝は、フロントギャップ部のみに形成す
る必要があるために、溝加工を行う際の段取りが面倒で
あり、またその加工も困難である。
ヘッドを製造するには、強磁性酸化物基板に回転砥石等
によって予めガラスを充填させるための溝を形成し、そ
の溝内にガラスを充填する作業が必要となる。このガラ
スを充填させる溝は、フロントギャップ部のみに形成す
る必要があるために、溝加工を行う際の段取りが面倒で
あり、またその加工も困難である。
【0011】そこで本発明は、かかる従来の技術的な課
題に鑑みて提案されたものであって、磁気抵抗の低減が
図れると共に軟磁性金属膜の磁区を厳密に調整する必要
のない、高再生出力且つ生産性に優れた磁気ヘッドを提
供することを目的とする。
題に鑑みて提案されたものであって、磁気抵抗の低減が
図れると共に軟磁性金属膜の磁区を厳密に調整する必要
のない、高再生出力且つ生産性に優れた磁気ヘッドを提
供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに、本発明は、金属磁性膜をその厚み方向より一対の
軟磁性フェライト基板によって挟み込んでなる磁気コア
半体同士が突合わされ、その突合わせ面に呈する金属磁
性膜の端面間に磁気ギャップが形成されてなる磁気ヘッ
ドにおいて、少なくとも各磁気コア半体の突合わせ面に
おけるフェライトの透磁率を低下させ又は非磁性化し
て、上記磁気ギャップのトラック幅を金属磁性膜のみに
よって規制してなることを特徴とする。
めに、本発明は、金属磁性膜をその厚み方向より一対の
軟磁性フェライト基板によって挟み込んでなる磁気コア
半体同士が突合わされ、その突合わせ面に呈する金属磁
性膜の端面間に磁気ギャップが形成されてなる磁気ヘッ
ドにおいて、少なくとも各磁気コア半体の突合わせ面に
おけるフェライトの透磁率を低下させ又は非磁性化し
て、上記磁気ギャップのトラック幅を金属磁性膜のみに
よって規制してなることを特徴とする。
【0013】フェライトの透磁率を低下させ又は非磁性
化させる手段として、固体熱拡散法を用いる。そして、
そのフェライトの透磁率を低下させ又は非磁性化させる
被拡散物質としては、例えばリチウム含有酸化物、カル
シウム含有酸化物、バリウム含有酸化物、ストロンチウ
ム含有酸化物等を用いる。
化させる手段として、固体熱拡散法を用いる。そして、
そのフェライトの透磁率を低下させ又は非磁性化させる
被拡散物質としては、例えばリチウム含有酸化物、カル
シウム含有酸化物、バリウム含有酸化物、ストロンチウ
ム含有酸化物等を用いる。
【0014】上記フェライトの透磁率を低下させ又は非
磁性化させた部分の境界面と、磁気ギャップとを非平行
とする。また、各磁気コア半体の突合わせ面に呈するフ
ェライト面上に膜厚分布を持つリチウム含有酸化物、カ
ルシウム含有酸化物、バリウム含有酸化物、ストロンチ
ウム含有酸化物のいずれかを成膜し、これを固体熱拡散
してフェライトに拡散せしめ、その膜厚の差により拡散
深さを異ならしめる。
磁性化させた部分の境界面と、磁気ギャップとを非平行
とする。また、各磁気コア半体の突合わせ面に呈するフ
ェライト面上に膜厚分布を持つリチウム含有酸化物、カ
ルシウム含有酸化物、バリウム含有酸化物、ストロンチ
ウム含有酸化物のいずれかを成膜し、これを固体熱拡散
してフェライトに拡散せしめ、その膜厚の差により拡散
深さを異ならしめる。
【0015】さらに本発明は、金属磁性膜をその厚み方
向より一対の軟磁性フェライト基板によって挟み込んで
なる磁気コア半体同士が突合わされ、その突合わせ面に
呈する金属磁性膜の端面間に磁気ギャップが形成されて
なる磁気ヘッドにおいて、各磁気コア半体の突合わせ面
にリチウム含有酸化物、カルシウム含有酸化物、バリウ
ム含有酸化物、ストロンチウム含有酸化物のいずれかを
成膜し、これら磁気コア半体のギャップ融着時に熱拡散
してフェライトの透磁率を低下させ又は非磁性化して、
磁気ギャップのトラック幅を金属磁性膜のみによって規
制すると共に、リチウム含有酸化物、カルシウム含有酸
化物、バリウム含有酸化物、ストロンチウム含有酸化物
のいずれかをギャップスペーサとしたことを特徴とす
る。
向より一対の軟磁性フェライト基板によって挟み込んで
なる磁気コア半体同士が突合わされ、その突合わせ面に
呈する金属磁性膜の端面間に磁気ギャップが形成されて
なる磁気ヘッドにおいて、各磁気コア半体の突合わせ面
にリチウム含有酸化物、カルシウム含有酸化物、バリウ
ム含有酸化物、ストロンチウム含有酸化物のいずれかを
成膜し、これら磁気コア半体のギャップ融着時に熱拡散
してフェライトの透磁率を低下させ又は非磁性化して、
磁気ギャップのトラック幅を金属磁性膜のみによって規
制すると共に、リチウム含有酸化物、カルシウム含有酸
化物、バリウム含有酸化物、ストロンチウム含有酸化物
のいずれかをギャップスペーサとしたことを特徴とす
る。
【0016】
【作用】本発明の磁気ヘッドにおいては、金属磁性膜を
その厚み方向より一対の軟磁性フェライト基板によって
挟み込んでなる磁気コア半体の突合わせ面におけるフェ
ライトの透磁率を低下させ又は非磁性化しているので、
これら磁気コア半体の突合わせ面に呈する金属磁性膜間
に形成される磁気ギャップのトラック幅が、上記軟磁性
フェライト基板によってラミネートされる金属磁性膜の
みによって規制される。
その厚み方向より一対の軟磁性フェライト基板によって
挟み込んでなる磁気コア半体の突合わせ面におけるフェ
ライトの透磁率を低下させ又は非磁性化しているので、
これら磁気コア半体の突合わせ面に呈する金属磁性膜間
に形成される磁気ギャップのトラック幅が、上記軟磁性
フェライト基板によってラミネートされる金属磁性膜の
みによって規制される。
【0017】本発明においては、フェライトの透磁率を
低下させ又は非磁性化させるのに、リチウム含有酸化
物、カルシウム含有酸化物、バリウム含有酸化物、スト
ロンチウム含有酸化物のいずれかを磁気コア半体の突合
わせ面におけるフェライト部分に成膜し、これを熱処理
することにより、これらリチウム含有酸化物、カルシウ
ム含有酸化物、バリウム含有酸化物、ストロンチウム含
有酸化物のいずれかがフェライト部分にのみ拡散して当
該フェライトの透磁率を低下又は非磁性化せしめる。
低下させ又は非磁性化させるのに、リチウム含有酸化
物、カルシウム含有酸化物、バリウム含有酸化物、スト
ロンチウム含有酸化物のいずれかを磁気コア半体の突合
わせ面におけるフェライト部分に成膜し、これを熱処理
することにより、これらリチウム含有酸化物、カルシウ
ム含有酸化物、バリウム含有酸化物、ストロンチウム含
有酸化物のいずれかがフェライト部分にのみ拡散して当
該フェライトの透磁率を低下又は非磁性化せしめる。
【0018】このとき、磁気コア半体の突合わせ面に呈
するフェライト面上に膜厚分布を持つリチウム含有酸化
物、カルシウム含有酸化物、バリウム含有酸化物、スト
ロンチウム含有酸化物のいずれかを形成すれば、その膜
厚の差によりリチウム含有酸化物、カルシウム含有酸化
物、バリウム含有酸化物、ストロンチウム含有酸化物の
拡散深さが異なる。したがって、軟磁性フェライトと透
磁率低下部分又は非磁性化部分の界面が磁気ギャップに
対して非平行となる。
するフェライト面上に膜厚分布を持つリチウム含有酸化
物、カルシウム含有酸化物、バリウム含有酸化物、スト
ロンチウム含有酸化物のいずれかを形成すれば、その膜
厚の差によりリチウム含有酸化物、カルシウム含有酸化
物、バリウム含有酸化物、ストロンチウム含有酸化物の
拡散深さが異なる。したがって、軟磁性フェライトと透
磁率低下部分又は非磁性化部分の界面が磁気ギャップに
対して非平行となる。
【0019】また本発明においては、各磁気コア半体の
突合わせ面にリチウム含有酸化物、カルシウム含有酸化
物、バリウム含有酸化物、ストロンチウム含有酸化物の
いずれかを形成し、これら磁気コア半体をギャップ融着
すると、そのときの熱によりフェライトの透磁率が低下
し又は非磁性化して、磁気ギャップのトラック幅が金属
磁性膜のみによって規制される。また、各磁気コア半体
の突合わせ面に呈する金属磁性膜には、リチウム含有酸
化物、カルシウム含有酸化物、バリウム含有酸化物、ス
トロンチウム含有酸化物は拡散しないので、残存したリ
チウム含有酸化物、カルシウム含有酸化物、バリウム含
有酸化物、ストロンチウム含有酸化物がギャップスペー
サとなる。
突合わせ面にリチウム含有酸化物、カルシウム含有酸化
物、バリウム含有酸化物、ストロンチウム含有酸化物の
いずれかを形成し、これら磁気コア半体をギャップ融着
すると、そのときの熱によりフェライトの透磁率が低下
し又は非磁性化して、磁気ギャップのトラック幅が金属
磁性膜のみによって規制される。また、各磁気コア半体
の突合わせ面に呈する金属磁性膜には、リチウム含有酸
化物、カルシウム含有酸化物、バリウム含有酸化物、ス
トロンチウム含有酸化物は拡散しないので、残存したリ
チウム含有酸化物、カルシウム含有酸化物、バリウム含
有酸化物、ストロンチウム含有酸化物がギャップスペー
サとなる。
【0020】
【実施例】本発明を適用した具体的な実施例について図
面を参照しながら詳細に説明する。本実施例の磁気ヘッ
ドは、図1及び図2示すように、一対の磁気コア半体
1,2がギャップ接合されることにより、その突合わせ
面に記録再生ギャップとして動作する磁気ギャップgを
形成して構成されている。
面を参照しながら詳細に説明する。本実施例の磁気ヘッ
ドは、図1及び図2示すように、一対の磁気コア半体
1,2がギャップ接合されることにより、その突合わせ
面に記録再生ギャップとして動作する磁気ギャップgを
形成して構成されている。
【0021】上記一対の磁気コア半体1,2は、閉磁路
を構成する金属磁性膜3,4と、この金属磁性膜3,4
を厚み方向より挾み込む一対の軟磁性フェライト基板
5,6及び7,8とから構成されている。
を構成する金属磁性膜3,4と、この金属磁性膜3,4
を厚み方向より挾み込む一対の軟磁性フェライト基板
5,6及び7,8とから構成されている。
【0022】上記金属磁性膜3,4は、高周波数帯域で
の渦電流損失を低減するために、膜厚の薄い磁性金属膜
をSiO2 等からなる絶縁膜を介して何層にも積層して
なる積層膜構造とされている。なお、かかる金属磁性膜
3,4としては、絶縁膜を介さない単層の金属磁性膜で
あってもよい。
の渦電流損失を低減するために、膜厚の薄い磁性金属膜
をSiO2 等からなる絶縁膜を介して何層にも積層して
なる積層膜構造とされている。なお、かかる金属磁性膜
3,4としては、絶縁膜を介さない単層の金属磁性膜で
あってもよい。
【0023】一方、軟磁性フェライト基板5,6及び
7,8は、上記金属磁性膜3,4とによって磁気回路部
を構成するもので、軟磁性フェライトから形成されてい
る。また、この軟磁性フェライト基板5,6及び7,8
は、上記金属磁性膜3,4と平面形状が略同一とされ、
該金属磁性膜3,4をその厚み方向より挟み込むように
なっている。
7,8は、上記金属磁性膜3,4とによって磁気回路部
を構成するもので、軟磁性フェライトから形成されてい
る。また、この軟磁性フェライト基板5,6及び7,8
は、上記金属磁性膜3,4と平面形状が略同一とされ、
該金属磁性膜3,4をその厚み方向より挟み込むように
なっている。
【0024】そして、これら金属磁性膜3,4と軟磁性
フェライト基板5,6及び7,8とは、該金属磁性膜
3,4をその膜厚方向から上記一対の軟磁性フェライト
基板5,6及び7,8で挾み込むことにより、磁気コア
半体1,2を構成する。このように構成された磁気コア
半体1,2には、コイルを巻回させるための巻線溝9,
10が互いの突合わせ面に厚み方向に貫通して設けられ
ている。なお、巻線溝9,10のうち、磁気ギャップg
が呈する磁気記録媒体摺動面側に設けられる傾斜面9
a,10aは、上記磁気ギャップgのデプスを規制する
働きをするようになっている。
フェライト基板5,6及び7,8とは、該金属磁性膜
3,4をその膜厚方向から上記一対の軟磁性フェライト
基板5,6及び7,8で挾み込むことにより、磁気コア
半体1,2を構成する。このように構成された磁気コア
半体1,2には、コイルを巻回させるための巻線溝9,
10が互いの突合わせ面に厚み方向に貫通して設けられ
ている。なお、巻線溝9,10のうち、磁気ギャップg
が呈する磁気記録媒体摺動面側に設けられる傾斜面9
a,10aは、上記磁気ギャップgのデプスを規制する
働きをするようになっている。
【0025】このように構成された一対の磁気コア半体
1,2は、互いの突合わせ面に呈する金属磁性膜3,4
の端面同士を位置合わせし、ギャップ接合することによ
り、その突合わせ面間に記録再生ギャップとして動作す
る磁気ギャップgを構成するようになっている。かかる
磁気ギャップgは、再生時において隣接するトラックか
らの磁束を拾わないように、角度θなるアジマスを有し
ている。
1,2は、互いの突合わせ面に呈する金属磁性膜3,4
の端面同士を位置合わせし、ギャップ接合することによ
り、その突合わせ面間に記録再生ギャップとして動作す
る磁気ギャップgを構成するようになっている。かかる
磁気ギャップgは、再生時において隣接するトラックか
らの磁束を拾わないように、角度θなるアジマスを有し
ている。
【0026】そして特に本実施例では、上記磁気ギャッ
プgのトラック幅を金属磁性膜3,4の膜厚のみによっ
て規制するために、各磁気コア半体1,2の突合わせ面
におけるフェライト部分を低透磁率化又は非磁性化して
いる。すなわち、磁気ギャップ近傍のフェライト部分1
1,12及び13,14(突合わせ面を含む。)が、い
ずれも突合わせ面から突合わせ方向へ亘って透磁率が低
くされ又は非磁性とされている。したがって、磁気ギャ
ップ部では、金属磁性膜3,4の両側のフェライト部分
11,12及び13,14がいずれも低透磁率又は非磁
性であることから、これら金属磁性膜3,4の膜厚によ
って上記磁気ギャップgのトラック幅が規制される。
プgのトラック幅を金属磁性膜3,4の膜厚のみによっ
て規制するために、各磁気コア半体1,2の突合わせ面
におけるフェライト部分を低透磁率化又は非磁性化して
いる。すなわち、磁気ギャップ近傍のフェライト部分1
1,12及び13,14(突合わせ面を含む。)が、い
ずれも突合わせ面から突合わせ方向へ亘って透磁率が低
くされ又は非磁性とされている。したがって、磁気ギャ
ップ部では、金属磁性膜3,4の両側のフェライト部分
11,12及び13,14がいずれも低透磁率又は非磁
性であることから、これら金属磁性膜3,4の膜厚によ
って上記磁気ギャップgのトラック幅が規制される。
【0027】また、本実施例の磁気ヘッドにおいては、
透磁率が低下し又は非磁性化したフェライト部分11,
12及び13,14とそうでないフェライトの境界面
は、上記磁気ギャップgに対して非平行とされており、
かかる透磁率が低下した又は非磁性化した部分が疑似ギ
ャップとして動作することがないようになっている。
透磁率が低下し又は非磁性化したフェライト部分11,
12及び13,14とそうでないフェライトの境界面
は、上記磁気ギャップgに対して非平行とされており、
かかる透磁率が低下した又は非磁性化した部分が疑似ギ
ャップとして動作することがないようになっている。
【0028】ところで、フェライトの透磁率を低下させ
又は非磁性化させる手段としては、固体熱拡散法が用い
られる。固体熱拡散法は、フェライトの透磁率を低下さ
せ又は非磁性化させる被拡散物質を各磁気コア半体1,
2の突合わせに呈するフェライト面に成膜し、これを所
定温度で加熱処理することにより、該被拡散物質をフェ
ライト中に拡散せしめる手法である。
又は非磁性化させる手段としては、固体熱拡散法が用い
られる。固体熱拡散法は、フェライトの透磁率を低下さ
せ又は非磁性化させる被拡散物質を各磁気コア半体1,
2の突合わせに呈するフェライト面に成膜し、これを所
定温度で加熱処理することにより、該被拡散物質をフェ
ライト中に拡散せしめる手法である。
【0029】なお、固体熱拡散法の他に、イオンを打ち
込む方法又は歪みを加える方法があるが、イオンを打ち
込む方法ではリチウム含有酸化物、カルシウム含有酸化
物、バリウム含有酸化物、ストロンチウム含有酸化物の
侵入深さが不足すること、及び疑似ギャップによるノイ
ズ防止のための深さ分布を与えること(低透磁率部分と
フェライト部分の界面を磁気ギャップと非平行とするこ
と)が難しい。また、歪みを加える方法は、ヘッドチッ
プ全体に透磁率低下の影響を与えること、及び後の熱処
理により透磁率が回復することが問題である。したがっ
て、フェライトの透磁率低下の手法としては、固体熱拡
散法が望ましい。
込む方法又は歪みを加える方法があるが、イオンを打ち
込む方法ではリチウム含有酸化物、カルシウム含有酸化
物、バリウム含有酸化物、ストロンチウム含有酸化物の
侵入深さが不足すること、及び疑似ギャップによるノイ
ズ防止のための深さ分布を与えること(低透磁率部分と
フェライト部分の界面を磁気ギャップと非平行とするこ
と)が難しい。また、歪みを加える方法は、ヘッドチッ
プ全体に透磁率低下の影響を与えること、及び後の熱処
理により透磁率が回復することが問題である。したがっ
て、フェライトの透磁率低下の手法としては、固体熱拡
散法が望ましい。
【0030】フェライト中に熱拡散させる物質として
は、次なる条件を満たすものが使用される。軟磁性フ
ェライト中に600℃程度以下で10μm程度以上拡散
し、フェライトの透磁率を低下させること。金属磁性
膜3,4中には、600℃程度で拡散しないこと。拡
散した際に体積変化を余り生じないこと。
は、次なる条件を満たすものが使用される。軟磁性フ
ェライト中に600℃程度以下で10μm程度以上拡散
し、フェライトの透磁率を低下させること。金属磁性
膜3,4中には、600℃程度で拡散しないこと。拡
散した際に体積変化を余り生じないこと。
【0031】上記の条件を満たす被拡散物質としては、
LiNO3 等のリチウム含有酸化物、CaZrO3 等の
カルシウム含有酸化物、BaTiO3 等のバリウム含有
酸化物、SrTiO3 等のストロンチウム含有酸化物等
が使用される。リチウム,カルシウム,バリウム,スト
ロンチウムは共に軟磁性フェライトに体積変化を余り生
じずに拡散し、透磁率を低下させる。この他、LiO,
CaO,BaO,SrO等の酸化物を用いた場合は、C
O2 を吸収し炭酸塩を生じ、拡散前の段階でフェライト
表面上で分解するために好ましくない。
LiNO3 等のリチウム含有酸化物、CaZrO3 等の
カルシウム含有酸化物、BaTiO3 等のバリウム含有
酸化物、SrTiO3 等のストロンチウム含有酸化物等
が使用される。リチウム,カルシウム,バリウム,スト
ロンチウムは共に軟磁性フェライトに体積変化を余り生
じずに拡散し、透磁率を低下させる。この他、LiO,
CaO,BaO,SrO等の酸化物を用いた場合は、C
O2 を吸収し炭酸塩を生じ、拡散前の段階でフェライト
表面上で分解するために好ましくない。
【0032】また、Ti,Zr等の金属をフェライト表
面に付着させ、これを熱拡散させた場合にも軟磁性フェ
ライトの透磁率を部分的に低下させるが、金属の場合に
は同時に金属磁性膜3,4へも拡散し当該金属磁性膜
3,4の透磁率を低下させてしまう。これに対して、リ
チウム含有酸化物、カルシウム含有酸化物、バリウム含
有酸化物、ストロンチウム含有酸化物は、金属磁性膜
3,4には拡散しないため、当該金属磁性膜3,4の透
磁率が低下することはない。
面に付着させ、これを熱拡散させた場合にも軟磁性フェ
ライトの透磁率を部分的に低下させるが、金属の場合に
は同時に金属磁性膜3,4へも拡散し当該金属磁性膜
3,4の透磁率を低下させてしまう。これに対して、リ
チウム含有酸化物、カルシウム含有酸化物、バリウム含
有酸化物、ストロンチウム含有酸化物は、金属磁性膜
3,4には拡散しないため、当該金属磁性膜3,4の透
磁率が低下することはない。
【0033】なお、図3にフェライトの透磁率がLiN
bO3 の拡散と共に低下する様子を、図4にフェライト
の透磁率がBaTiO3 の拡散と共に低下する様子を示
す。かかる図3及び図4は、いずれも0.1mmの厚み
を有するMn−Znフェライト基板の両面に10μmづ
つのLiNbO3 又はBaTiO3 をスパッタリング
し、各温度で12時間づつ熱処理を施し、室温へ冷却後
透磁率を測定したものである。これらの図から、500
℃の熱拡散で透磁率が極めて低くなっていることがわか
る。
bO3 の拡散と共に低下する様子を、図4にフェライト
の透磁率がBaTiO3 の拡散と共に低下する様子を示
す。かかる図3及び図4は、いずれも0.1mmの厚み
を有するMn−Znフェライト基板の両面に10μmづ
つのLiNbO3 又はBaTiO3 をスパッタリング
し、各温度で12時間づつ熱処理を施し、室温へ冷却後
透磁率を測定したものである。これらの図から、500
℃の熱拡散で透磁率が極めて低くなっていることがわか
る。
【0034】また、Li2 ZrO3 ,Li2 MoO4 等
他のリチウム系酸化物、CaTiO 3 ,CaWO4 等の
カルシウム含有酸化物、BaNbO3 ,BaZrO3 等
他のバリウム含有酸化物、SrNbO3 ,SrWO4 等
他のストロンチウム含有酸化物でも同様の現象が確認で
きた。
他のリチウム系酸化物、CaTiO 3 ,CaWO4 等の
カルシウム含有酸化物、BaNbO3 ,BaZrO3 等
他のバリウム含有酸化物、SrNbO3 ,SrWO4 等
他のストロンチウム含有酸化物でも同様の現象が確認で
きた。
【0035】以上のように熱拡散処理を施すことから、
上述の金属磁性膜3,4には500℃程度以上の耐熱性
を有することが好ましい。例示するならば、Fe−Al
−Si(センダスト)、Fe−Ru−Ga−Si、Fe
−Al−Nb−N−O,Fe−Ta−N,Fe−Al−
N,Fe−Ta−C等の鉄系微結晶膜、Co−Zr−Y
−N,Ca−Ta−C等のコバルト系微結晶膜、Co−
Ta−Zr,Co−Nb−Zr等のコバルト系アモルフ
ァス膜等が好適である。なお、積層膜とする場合には、
例えばSiO2 ,Ta2 O5 ,SiN等の絶縁膜が使用
できる。
上述の金属磁性膜3,4には500℃程度以上の耐熱性
を有することが好ましい。例示するならば、Fe−Al
−Si(センダスト)、Fe−Ru−Ga−Si、Fe
−Al−Nb−N−O,Fe−Ta−N,Fe−Al−
N,Fe−Ta−C等の鉄系微結晶膜、Co−Zr−Y
−N,Ca−Ta−C等のコバルト系微結晶膜、Co−
Ta−Zr,Co−Nb−Zr等のコバルト系アモルフ
ァス膜等が好適である。なお、積層膜とする場合には、
例えばSiO2 ,Ta2 O5 ,SiN等の絶縁膜が使用
できる。
【0036】一方、軟磁性フェライト基板5,6及び
7,8には、Mn−Znフェライト、Ni−Znフェラ
イト、これらの単結晶フェライト又は多結晶フェライ
ト、或いは単結晶フェライトと多結晶フェライトの複合
材料よりなる基板がいずれも使用できる。
7,8には、Mn−Znフェライト、Ni−Znフェラ
イト、これらの単結晶フェライト又は多結晶フェライ
ト、或いは単結晶フェライトと多結晶フェライトの複合
材料よりなる基板がいずれも使用できる。
【0037】本実施例では、透磁率が低下し又は非磁性
化されたフェライト部分11,12及び13,14とそ
うでない部分との界面を、磁気ギャップgと非平行とな
るようにするために、各磁気コア半体1,2の突合わせ
面に呈するフェライト面上に側面から磁気ギャップgに
近づくに従いその膜厚が厚くなるようにLiNbO3を
スパッタリングした。そして、これに500℃程度の熱
を加え、当該LiNbO3 をフェライト中に拡散させ
た。
化されたフェライト部分11,12及び13,14とそ
うでない部分との界面を、磁気ギャップgと非平行とな
るようにするために、各磁気コア半体1,2の突合わせ
面に呈するフェライト面上に側面から磁気ギャップgに
近づくに従いその膜厚が厚くなるようにLiNbO3を
スパッタリングした。そして、これに500℃程度の熱
を加え、当該LiNbO3 をフェライト中に拡散させ
た。
【0038】この結果、被拡散物質の膜厚分布に応じて
LiNbO3 がフェライト中に拡散し、膜厚の厚い方が
薄い方に比べて磁気コア半体1,2の突合わせ面方向へ
より拡散し、その拡散深さが深くなる。したがって、透
磁率が低下し又は非磁性化したフェライト部分11,1
2及び13,14とそうでない部分との界面は、磁気ギ
ャップgと非平行となり、かかる部分が疑似ギャップと
して動作することが防止される。
LiNbO3 がフェライト中に拡散し、膜厚の厚い方が
薄い方に比べて磁気コア半体1,2の突合わせ面方向へ
より拡散し、その拡散深さが深くなる。したがって、透
磁率が低下し又は非磁性化したフェライト部分11,1
2及び13,14とそうでない部分との界面は、磁気ギ
ャップgと非平行となり、かかる部分が疑似ギャップと
して動作することが防止される。
【0039】被拡散物質に膜厚分布を持たせることによ
り、その拡散深さが変化することについては、図5及び
図6に示すデータに基づく。かかる図5及び図6は、フ
ェライト表面に成膜したLiNbO3 又はBaTiO3
を500℃,1時間の条件下で熱拡散させたときのフェ
ライト表面からの拡散深さを表したものである。これら
の図からわかるように、拡散深さは、LiNbO3 又は
BaTiO3 の膜厚が厚くなるに従って深くなっている
ことがわかる。したがって、膜厚分布を持たせることに
より、拡散深さも分布を持つことになる。なお、この実
験において、リチウム含有酸化物,カルシウム含有酸化
物,バリウム含有酸化物,ストロンチウム含有酸化物
は、金属磁性膜3,4へ拡散しないことが観察された。
り、その拡散深さが変化することについては、図5及び
図6に示すデータに基づく。かかる図5及び図6は、フ
ェライト表面に成膜したLiNbO3 又はBaTiO3
を500℃,1時間の条件下で熱拡散させたときのフェ
ライト表面からの拡散深さを表したものである。これら
の図からわかるように、拡散深さは、LiNbO3 又は
BaTiO3 の膜厚が厚くなるに従って深くなっている
ことがわかる。したがって、膜厚分布を持たせることに
より、拡散深さも分布を持つことになる。なお、この実
験において、リチウム含有酸化物,カルシウム含有酸化
物,バリウム含有酸化物,ストロンチウム含有酸化物
は、金属磁性膜3,4へ拡散しないことが観察された。
【0040】以上のように構成された磁気ヘッドにおい
ては、軟磁性フェライト基板のうち磁気ギャップ近傍部
分のみを固体熱拡散法により低透磁率化又は非磁性化さ
せるので、非磁性材料と強磁性酸化物材料を複合化させ
た磁気コア基板を用いたものと異なり、これら材料の熱
膨張係数の違いから生ずる基板のクラックや摩耗特性の
違いから生ずる接合部分での段差を回避できる。また、
透磁率の低い又は非磁性化された部分は磁気ギャップ近
傍部のみで、閉磁路を構成する金属磁性膜3,4と軟磁
性フェライト部分はヘッド全体に占める割合が大きいこ
とから、狭トラック化(金属磁性膜3,4の膜厚を薄く
する。)した場合でも、十分に磁気コア断面積を確保す
ることができる。したがって、この軟磁性フェライトに
よって磁気抵抗が低減されると共に、再生効率が向上
し、また金属磁性膜3,4の磁区の調整が不要となる。
ては、軟磁性フェライト基板のうち磁気ギャップ近傍部
分のみを固体熱拡散法により低透磁率化又は非磁性化さ
せるので、非磁性材料と強磁性酸化物材料を複合化させ
た磁気コア基板を用いたものと異なり、これら材料の熱
膨張係数の違いから生ずる基板のクラックや摩耗特性の
違いから生ずる接合部分での段差を回避できる。また、
透磁率の低い又は非磁性化された部分は磁気ギャップ近
傍部のみで、閉磁路を構成する金属磁性膜3,4と軟磁
性フェライト部分はヘッド全体に占める割合が大きいこ
とから、狭トラック化(金属磁性膜3,4の膜厚を薄く
する。)した場合でも、十分に磁気コア断面積を確保す
ることができる。したがって、この軟磁性フェライトに
よって磁気抵抗が低減されると共に、再生効率が向上
し、また金属磁性膜3,4の磁区の調整が不要となる。
【0041】上述の磁気ヘッドを製造するには、以下の
ようにして行う。先ず、Mn−Zn多結晶フェライト基
板の一主面にFe−Al−Si(センダスト)とSiO
2 を交互にスパッタリングした。Fe−Al−SiとS
iO2 の膜厚は、磁気ギャップgのトラック幅を8μm
とすることから、それぞれ2μm、1000Åとなるよ
うにした。なお、上記Fe−Al−Si膜は4層とし
た。
ようにして行う。先ず、Mn−Zn多結晶フェライト基
板の一主面にFe−Al−Si(センダスト)とSiO
2 を交互にスパッタリングした。Fe−Al−SiとS
iO2 の膜厚は、磁気ギャップgのトラック幅を8μm
とすることから、それぞれ2μm、1000Åとなるよ
うにした。なお、上記Fe−Al−Si膜は4層とし
た。
【0042】次に、積層金属膜上に別工程で作製したM
n−Zn多結晶フェライト基板を接着した。この結果、
積層金属膜は、一対のMn−Zn多結晶フェライト基板
によってその膜厚方向より挾み込まれた形となる。次い
で、ラミネートされたMn−Zn多結晶フェライト基板
の突合わせ面となるギャップ面にコイルを巻装するため
の巻線溝を形成した後、該ギャップ面を研磨した。
n−Zn多結晶フェライト基板を接着した。この結果、
積層金属膜は、一対のMn−Zn多結晶フェライト基板
によってその膜厚方向より挾み込まれた形となる。次い
で、ラミネートされたMn−Zn多結晶フェライト基板
の突合わせ面となるギャップ面にコイルを巻装するため
の巻線溝を形成した後、該ギャップ面を研磨した。
【0043】そして、上記ギャップ面に膜厚分布を持っ
たLiNbO3 をスパッタリングする。膜厚分布は、マ
スクにより生じさせた。しかる後、500℃,1時間の
条件の下に熱処理を施し、LiNbO3 をフェライト中
に拡散させた。次に、再びギャップ面を0.5μm研磨
し、平面性を確認した後、同様にして作製した磁気コア
半体同士をギャップ接合して、ギャップ長が0.22μ
mとなるよう磁気ヘッドを完成させた。
たLiNbO3 をスパッタリングする。膜厚分布は、マ
スクにより生じさせた。しかる後、500℃,1時間の
条件の下に熱処理を施し、LiNbO3 をフェライト中
に拡散させた。次に、再びギャップ面を0.5μm研磨
し、平面性を確認した後、同様にして作製した磁気コア
半体同士をギャップ接合して、ギャップ長が0.22μ
mとなるよう磁気ヘッドを完成させた。
【0044】そして得られた磁気ヘッドの相対出力を調
べた。かかる評価をするに際しては、磁気記録媒体とし
てメタルテープを使用し、これを10m/sで走行させ
て出力を測定した。その結果を表1に示す。なお、比較
例として、金属磁性膜3,4をラミネートする磁気コア
基板に非磁性材料であるチタン酸カルシウム(チタカ
リ)基板を用いた同一寸法の磁気ヘッドを作製した。そ
して、この磁気ヘッドの相対出力を測定した。
べた。かかる評価をするに際しては、磁気記録媒体とし
てメタルテープを使用し、これを10m/sで走行させ
て出力を測定した。その結果を表1に示す。なお、比較
例として、金属磁性膜3,4をラミネートする磁気コア
基板に非磁性材料であるチタン酸カルシウム(チタカ
リ)基板を用いた同一寸法の磁気ヘッドを作製した。そ
して、この磁気ヘッドの相対出力を測定した。
【0045】
【表1】
【0046】軟磁性フェライトを用い熱拡散することに
より磁気ギャップのトラック幅を規制した実験例の磁気
ヘッドでは、チタン酸カルシウム基板よりなる比較例の
磁気ヘッドに比べて、周波数の全域に亘って相対出力が
改善されていることがわかる。これは、軟磁性フェライ
トよりなる補助コアを用いたことによるヘッド効率の改
善、及び金属磁性膜の磁区構造に余り影響を受けずに良
好な磁気回路が形成されているためであると考えられ
る。
より磁気ギャップのトラック幅を規制した実験例の磁気
ヘッドでは、チタン酸カルシウム基板よりなる比較例の
磁気ヘッドに比べて、周波数の全域に亘って相対出力が
改善されていることがわかる。これは、軟磁性フェライ
トよりなる補助コアを用いたことによるヘッド効率の改
善、及び金属磁性膜の磁区構造に余り影響を受けずに良
好な磁気回路が形成されているためであると考えられ
る。
【0047】このように、固体熱拡散法を用いることに
より、非磁性材料と強磁性酸化物材料よりなる複合基板
等を作製する際の複雑な基板作製工程を経ることなく、
簡単に軟磁性フェライトを用いて金属磁性膜のみにより
磁気ギャップのトラック幅を規制可能ならしめたラミネ
ート型磁気ヘッドを作製することができる。
より、非磁性材料と強磁性酸化物材料よりなる複合基板
等を作製する際の複雑な基板作製工程を経ることなく、
簡単に軟磁性フェライトを用いて金属磁性膜のみにより
磁気ギャップのトラック幅を規制可能ならしめたラミネ
ート型磁気ヘッドを作製することができる。
【0048】また、上記実験例では、LiNbO3 を用
いたが、BaTiO3 を用いて同一条件の下に実験した
ところ、全く同一の結果が得られた。
いたが、BaTiO3 を用いて同一条件の下に実験した
ところ、全く同一の結果が得られた。
【0049】さらに、次なる実験を行ってみた。すなわ
ち、Mn−Zn多結晶フェライト基板の一主面にFe−
Al−V−Nb−O−NとSiO2 を交互にスパッタリ
ングした。Fe−Al−V−Nb−O−NとSiO2 の
膜厚は、磁気ギャップgのトラック幅を8μmとするこ
とから、それぞれ2μm、1000Åとなるようにし
た。なお、上記Fe−Al−V−Nb−O−N膜は4層
とした。
ち、Mn−Zn多結晶フェライト基板の一主面にFe−
Al−V−Nb−O−NとSiO2 を交互にスパッタリ
ングした。Fe−Al−V−Nb−O−NとSiO2 の
膜厚は、磁気ギャップgのトラック幅を8μmとするこ
とから、それぞれ2μm、1000Åとなるようにし
た。なお、上記Fe−Al−V−Nb−O−N膜は4層
とした。
【0050】次に、この積層金属膜上に別工程で作製し
たMn−Zn多結晶フェライト基板を接着した。次い
で、ラミネートされたMn−Zn多結晶フェライト基板
の突合わせ面となるギャップ面にコイルを巻装するため
の巻線溝を形成した後、該ギャップ面を研磨した。
たMn−Zn多結晶フェライト基板を接着した。次い
で、ラミネートされたMn−Zn多結晶フェライト基板
の突合わせ面となるギャップ面にコイルを巻装するため
の巻線溝を形成した後、該ギャップ面を研磨した。
【0051】次に、ギャップスペーサとしてBaTiO
3 をスパッタし、530℃の温度を加えてギャップをガ
ラス接合した。しかる後、チップカッティングして磁気
ヘッドを完成させた。なお、比較例として、ギャップス
ペーサにSiO2 を用いた磁気ヘッドを作成した。
3 をスパッタし、530℃の温度を加えてギャップをガ
ラス接合した。しかる後、チップカッティングして磁気
ヘッドを完成させた。なお、比較例として、ギャップス
ペーサにSiO2 を用いた磁気ヘッドを作成した。
【0052】そして、これら2つの磁気ヘッドを書き込
みヘッドとして用い、テープに磁化反転を記録したとこ
ろ、BaTiO3 をギャップスペーサとして用いたヘッ
ドではトラック幅8μmの記録が認められたが、SiO
2 をギャップスペーサとして用いたヘッドではフェライ
ト部分でも磁気ギャップが形成されており、テープ当た
り幅全域がギャップとなってしまっていることが確認さ
れた。
みヘッドとして用い、テープに磁化反転を記録したとこ
ろ、BaTiO3 をギャップスペーサとして用いたヘッ
ドではトラック幅8μmの記録が認められたが、SiO
2 をギャップスペーサとして用いたヘッドではフェライ
ト部分でも磁気ギャップが形成されており、テープ当た
り幅全域がギャップとなってしまっていることが確認さ
れた。
【0053】なお、SrTiO2 , BaWO4 をギャッ
プスペーサとして用いたヘッドにおいても、上記BaT
iO3 をギャップスペーサとしたヘッドと同様の効果が
得られた。
プスペーサとして用いたヘッドにおいても、上記BaT
iO3 をギャップスペーサとしたヘッドと同様の効果が
得られた。
【0054】以上、本発明を適用した具体的な実施例に
ついて説明したが、本発明は上述の実施例に限定される
ことなく種々の変更が可能である。例えば、図7に示す
ように、膜厚分布を持つリチウム含有酸化物、カルシウ
ム含有酸化物、バリウム含有酸化物、ストロンチウム含
有酸化物のいずれかよりなる被拡散物質膜15を、各磁
気コア半体1,2の突合わせ面に呈するフェライト面上
のみならず金属磁性膜3,4の端面にも成膜し、これら
磁気コア半体1,2同士をギャップ融着して当該被拡散
物質膜15をギャップスペーサとするようにしてもよ
い。
ついて説明したが、本発明は上述の実施例に限定される
ことなく種々の変更が可能である。例えば、図7に示す
ように、膜厚分布を持つリチウム含有酸化物、カルシウ
ム含有酸化物、バリウム含有酸化物、ストロンチウム含
有酸化物のいずれかよりなる被拡散物質膜15を、各磁
気コア半体1,2の突合わせ面に呈するフェライト面上
のみならず金属磁性膜3,4の端面にも成膜し、これら
磁気コア半体1,2同士をギャップ融着して当該被拡散
物質膜15をギャップスペーサとするようにしてもよ
い。
【0055】かかる場合でも、フェライト面上に成膜さ
れた被拡散物質膜15は、ギャップ融着時の熱によって
フェライト中に拡散し、当該部分のフェライトの透磁率
を低下させ又は非磁性化させる。したがって、磁気ギャ
ップ近傍のみのフェライトが低透磁率化又は非磁性化さ
れ、その結果磁気ギャップgのトラック幅が金属磁性膜
3,4の膜厚のみによって規制される。
れた被拡散物質膜15は、ギャップ融着時の熱によって
フェライト中に拡散し、当該部分のフェライトの透磁率
を低下させ又は非磁性化させる。したがって、磁気ギャ
ップ近傍のみのフェライトが低透磁率化又は非磁性化さ
れ、その結果磁気ギャップgのトラック幅が金属磁性膜
3,4の膜厚のみによって規制される。
【0056】この他、LiNbO3 を各磁気コア半体
1,2の突合わせ面全体に一定の膜厚(1000Åず
つ)に成膜し、これら磁気コア半体1,2同士をギャッ
プ融着するようにしてもよい。
1,2の突合わせ面全体に一定の膜厚(1000Åず
つ)に成膜し、これら磁気コア半体1,2同士をギャッ
プ融着するようにしてもよい。
【0057】
【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、本発
明の磁気ヘッドにおいては、金属磁性膜をラミネートす
る磁気コア基板として軟磁性フェライト基板を用い、そ
の軟磁性フェライト基板のうち磁気ギャップ近傍部にお
けるフェライト部分のみを、リチウム含有酸化物、カル
シウム含有酸化物、バリウム含有酸化物、ストロンチウ
ム含有酸化物のうちいずれかを熱拡散処理して低透磁率
化又は非磁性化しているので、狭トラック化を図った場
合でも軟磁性フェライトによって磁気抵抗の低減が図れ
ると共に、ヘッド効率の低下を抑制することができる。
明の磁気ヘッドにおいては、金属磁性膜をラミネートす
る磁気コア基板として軟磁性フェライト基板を用い、そ
の軟磁性フェライト基板のうち磁気ギャップ近傍部にお
けるフェライト部分のみを、リチウム含有酸化物、カル
シウム含有酸化物、バリウム含有酸化物、ストロンチウ
ム含有酸化物のうちいずれかを熱拡散処理して低透磁率
化又は非磁性化しているので、狭トラック化を図った場
合でも軟磁性フェライトによって磁気抵抗の低減が図れ
ると共に、ヘッド効率の低下を抑制することができる。
【0058】また、本発明の磁気ヘッドでは、低透磁率
化又は非磁性化したフェライト部分とそうでないフェラ
イトとの界面を磁気ギャップに対して非平行としている
ので、疑似ギャップの発生を防止することができ、再生
信号にノイズが生じず、良好な再生特性を得ることがで
きる。
化又は非磁性化したフェライト部分とそうでないフェラ
イトとの界面を磁気ギャップに対して非平行としている
ので、疑似ギャップの発生を防止することができ、再生
信号にノイズが生じず、良好な再生特性を得ることがで
きる。
【0059】さらに、本発明の磁気ヘッドでは、固体熱
拡散法によって磁気ギャップ近傍部のフェライトを低透
磁率化又は非磁性化させて金属磁性膜のみによって磁気
ギャップのトラック幅を規制しているので、磁性材料と
非磁性材料よりなる基板を接合した複合フェライト基板
のような研磨時の段差が発生する心配がなく、軟磁性フ
ェライト基板と金属磁性膜とを強固に接合することがで
き、機械的強度を高めることができる。
拡散法によって磁気ギャップ近傍部のフェライトを低透
磁率化又は非磁性化させて金属磁性膜のみによって磁気
ギャップのトラック幅を規制しているので、磁性材料と
非磁性材料よりなる基板を接合した複合フェライト基板
のような研磨時の段差が発生する心配がなく、軟磁性フ
ェライト基板と金属磁性膜とを強固に接合することがで
き、機械的強度を高めることができる。
【図1】本発明を適用した磁気ヘッドの一例を示す斜視
図である。
図である。
【図2】図1に示す磁気ヘッドの磁気記録媒体摺動面部
分を拡大して示す要部拡大平面図である。
分を拡大して示す要部拡大平面図である。
【図3】フェライトの透磁率がLiNbO3 と共に低下
する様子を示す特性図である。
する様子を示す特性図である。
【図4】フェライトの透磁率がBaTiO3 と共に低下
する様子を示す特性図である。
する様子を示す特性図である。
【図5】LiNbO3 のフェライト中への拡散深さとL
iNbO3 の膜厚との関係を示す特性図である。
iNbO3 の膜厚との関係を示す特性図である。
【図6】BaTiO3 のフェライト中への拡散深さとB
aTiO3 の膜厚との関係を示す特性図である。
aTiO3 の膜厚との関係を示す特性図である。
【図7】本発明を適用した磁気ヘッドの他の例を示すも
ので、その磁気記録媒体摺動面部分を拡大して示す要部
拡大平面図である。
ので、その磁気記録媒体摺動面部分を拡大して示す要部
拡大平面図である。
1,2・・・磁気コア半体 3,4・・・金属磁性膜 5,6,7,8・・・軟磁性フェライト基板 9,10・・・巻線溝 11,12,13,14・・・・低透磁率化又は非磁性
化したフェライト部分
化したフェライト部分
Claims (6)
- 【請求項1】 金属磁性膜をその厚み方向より一対の軟
磁性フェライト基板によって挟み込んでなる磁気コア半
体同士が突合わされ、その突合わせ面に呈する金属磁性
膜の端面間に磁気ギャップが形成されてなる磁気ヘッド
において、 少なくとも各磁気コア半体の突合わせ面におけるフェラ
イトの透磁率を低下させ又は非磁性化して、上記磁気ギ
ャップのトラック幅を金属磁性膜のみによって規制して
なることを特徴とする磁気ヘッド。 - 【請求項2】 フェライトの透磁率を低下させ又は非磁
性化させる手段として固体熱拡散法を用いたことを特徴
とする請求項1記載の磁気ヘッド。 - 【請求項3】 フェライトの透磁率を低下させ又は非磁
性化させる被拡散物質としてリチウム含有酸化物、カル
シウム含有酸化物、バリウム含有酸化物、ストロンチウ
ム含有酸化物のいずれかを用いたことを特徴とする請求
項2記載の磁気ヘッド。 - 【請求項4】 フェライトの透磁率を低下させ又は非磁
性化させた部分の境界面と、磁気ギャップとが非平行で
あることを特徴とする請求項1から請求項3のうちいず
れか1記載の磁気ヘッド。 - 【請求項5】 各磁気コア半体の突合わせ面に呈するフ
ェライト面上に膜厚分布を持つリチウム含有酸化物、カ
ルシウム含有酸化物、バリウム含有酸化物、ストロンチ
ウム含有酸化物のいずれかを成膜し、これを固体熱拡散
してフェライトに拡散せしめ、その膜厚の差により拡散
深さを異ならしめたことを特徴とする請求項1又は請求
項4記載の磁気ヘッド。 - 【請求項6】 金属磁性膜をその厚み方向より一対の軟
磁性フェライト基板によって挟み込んでなる磁気コア半
体同士が突合わされ、その突合わせ面に呈する金属磁性
膜の端面間に磁気ギャップが形成されてなる磁気ヘッド
において、 各磁気コア半体の突合わせ面にリチウム含有酸化物、カ
ルシウム含有酸化物、バリウム含有酸化物、ストロンチ
ウム含有酸化物のいずれかを成膜し、これら磁気コア半
体のギャップ融着時に熱拡散してフェライトの透磁率を
低下させ又は非磁性化して、磁気ギャップのトラック幅
を金属磁性膜のみによって規制すると共に、リチウム含
有酸化物、カルシウム含有酸化物、バリウム含有酸化
物、ストロンチウム含有酸化物のいずれかをギャップス
ペーサとしたことを特徴とする磁気ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15922193A JPH0714114A (ja) | 1993-04-26 | 1993-06-29 | 磁気ヘッド |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9979293 | 1993-04-26 | ||
| JP5-99792 | 1993-04-26 | ||
| JP15922193A JPH0714114A (ja) | 1993-04-26 | 1993-06-29 | 磁気ヘッド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0714114A true JPH0714114A (ja) | 1995-01-17 |
Family
ID=26440905
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15922193A Withdrawn JPH0714114A (ja) | 1993-04-26 | 1993-06-29 | 磁気ヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0714114A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7753167B2 (en) | 2005-01-13 | 2010-07-13 | Smc Kabushiki Kaisha | Silencer |
-
1993
- 1993-06-29 JP JP15922193A patent/JPH0714114A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7753167B2 (en) | 2005-01-13 | 2010-07-13 | Smc Kabushiki Kaisha | Silencer |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000905 |