JPH07157307A - 炭化ケイ素単結晶製造用高純度β型炭化ケイ素粉末の製造方法 - Google Patents
炭化ケイ素単結晶製造用高純度β型炭化ケイ素粉末の製造方法Info
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- JPH07157307A JPH07157307A JP5304901A JP30490193A JPH07157307A JP H07157307 A JPH07157307 A JP H07157307A JP 5304901 A JP5304901 A JP 5304901A JP 30490193 A JP30490193 A JP 30490193A JP H07157307 A JPH07157307 A JP H07157307A
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- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Carbon And Carbon Compounds (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明の製造方法により得られた高純度β型
炭化ケイ素粉末を用いることにより、単結晶の不純物混
入による特性の低下を大幅に改善し、高純度で、結晶欠
陥の少なく、さらに、歩止りのよい炭化ケイ素単結晶を
提供し得る。 【構成】 不純物元素を実質的に含まない液状のケイ素
化合物と官能基を有し加熱により炭素を生成する不純物
元素を実質的に含まない液状の有機化合物と不純物元素
を実質的に含まない重合又は架橋触媒との混合溶液を硬
化乾燥し、得られた固形物を非酸化性雰囲気下で加熱炭
化した後、得られた中間体物質をさらに非酸化性雰囲気
下、1600〜2200℃で焼成することにより、平均
粒径が10μm〜500μmであり、かつ各不純物元素
の含有量が1ppm以下のβ型炭化ケイ素粉末を得るこ
とを特徴とする炭化ケイ素単結晶製造用高純度β型炭化
ケイ素粉末の製造方法。
炭化ケイ素粉末を用いることにより、単結晶の不純物混
入による特性の低下を大幅に改善し、高純度で、結晶欠
陥の少なく、さらに、歩止りのよい炭化ケイ素単結晶を
提供し得る。 【構成】 不純物元素を実質的に含まない液状のケイ素
化合物と官能基を有し加熱により炭素を生成する不純物
元素を実質的に含まない液状の有機化合物と不純物元素
を実質的に含まない重合又は架橋触媒との混合溶液を硬
化乾燥し、得られた固形物を非酸化性雰囲気下で加熱炭
化した後、得られた中間体物質をさらに非酸化性雰囲気
下、1600〜2200℃で焼成することにより、平均
粒径が10μm〜500μmであり、かつ各不純物元素
の含有量が1ppm以下のβ型炭化ケイ素粉末を得るこ
とを特徴とする炭化ケイ素単結晶製造用高純度β型炭化
ケイ素粉末の製造方法。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は高純度で、結晶欠陥が少
なく、歩止りのよい炭化ケイ素単結晶を育成するための
高純度β型炭化ケイ素原料粉末を製造する方法に関す
る。
なく、歩止りのよい炭化ケイ素単結晶を育成するための
高純度β型炭化ケイ素原料粉末を製造する方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、炭化ケイ素単結晶の製造方法とし
ては、図1に示す高純度黒鉛容器を用い、炭化ケイ素の
種結晶上に炭化ケイ素粉体を2000℃以上の高温で昇
華し、炭化ケイ素単結晶を得る改良レーリー法(改良昇
華再結晶法)が知られている(FC report 1
1 No1 P22[1993])。
ては、図1に示す高純度黒鉛容器を用い、炭化ケイ素の
種結晶上に炭化ケイ素粉体を2000℃以上の高温で昇
華し、炭化ケイ素単結晶を得る改良レーリー法(改良昇
華再結晶法)が知られている(FC report 1
1 No1 P22[1993])。
【0003】一方、前記炭化ケイ素粉末の製造方法とし
ては、ケイ砂と石油コークスを原料とし、炭化ケイ素粉
末を得るアチソン法が知られている。しかし、この方法
によれば、上記原料に不純物が多く含まれているために
炭化ケイ素単結晶を育成すると単結晶中に不純物が混入
するだけでなく、結晶欠陥も多発することが文献(第5
1回応用物理学会学術講演予稿集29−W−1[199
0])に開示されている。
ては、ケイ砂と石油コークスを原料とし、炭化ケイ素粉
末を得るアチソン法が知られている。しかし、この方法
によれば、上記原料に不純物が多く含まれているために
炭化ケイ素単結晶を育成すると単結晶中に不純物が混入
するだけでなく、結晶欠陥も多発することが文献(第5
1回応用物理学会学術講演予稿集29−W−1[199
0])に開示されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、不純物含有
量が少なく、結晶欠陥の数も少ない良質の炭化ケイ素単
結晶を製造するため、原料である炭化ケイ素粉体として
各不純物元素の含有量が少なく、かつ焼結工程時に比表
面積の大幅な減少を起こさない粒度の炭化ケイ素粉体を
得る製造方法を提供することを目的とする。
量が少なく、結晶欠陥の数も少ない良質の炭化ケイ素単
結晶を製造するため、原料である炭化ケイ素粉体として
各不純物元素の含有量が少なく、かつ焼結工程時に比表
面積の大幅な減少を起こさない粒度の炭化ケイ素粉体を
得る製造方法を提供することを目的とする。
【0005】
【発明を解決するための手段】本発明の炭化ケイ素単結
晶製造用高純度β型炭化ケイ素粉末の製造方法は、不純
物元素を実質的に含まない液状のケイ素化合物と官能基
を有し加熱により炭素を生成する不純物元素を実質的に
含まない液状の有機化合物と不純物元素を実質的に含ま
ない重合又は架橋触媒との混合溶液を硬化乾燥し、得ら
れた固形物を非酸化性雰囲気下で加熱炭化した後、得ら
れた中間体物質をさらに非酸化性雰囲気下、1600〜
2000℃で焼成することにより、平均粒径が10μm
〜500μmであり、かつ各不純物元素の含有量が1p
pm以下のβ型炭化ケイ素粉末を得ることを特徴とす
る。
晶製造用高純度β型炭化ケイ素粉末の製造方法は、不純
物元素を実質的に含まない液状のケイ素化合物と官能基
を有し加熱により炭素を生成する不純物元素を実質的に
含まない液状の有機化合物と不純物元素を実質的に含ま
ない重合又は架橋触媒との混合溶液を硬化乾燥し、得ら
れた固形物を非酸化性雰囲気下で加熱炭化した後、得ら
れた中間体物質をさらに非酸化性雰囲気下、1600〜
2000℃で焼成することにより、平均粒径が10μm
〜500μmであり、かつ各不純物元素の含有量が1p
pm以下のβ型炭化ケイ素粉末を得ることを特徴とす
る。
【0006】すなわち、本発明者らは高純度β型炭化ケ
イ素粉末の製造方法において、全工程の不純物、炭化物
(中間体生成物)の組成等に着目し、鋭意検討を重ねた
結果、不純物元素を実質的に含まない液状の物質を原料
に用いることにより、ケイ素と炭素の分散の良い中間体
物質が得られ、その結果として比較的粒径のそろった高
純度β型炭化ケイ素多結晶粉体を得る製造方法を確立
し、本発明を完成するに至った。また、炭化物中間体の
炭素/ケイ素のモル比及び焼成工程の温度と時間につい
て再検討した結果、炭化物中間体の炭素/ケイ素のモル
比を2.3〜2.5とし、さらに従来の温度に比べ比較
的低い温度(1600〜2000℃)で焼成することに
より、所望の平均粒径で、かつ残留炭素を実質的に含ま
ない高純度β型炭化ケイ素多結晶粉体が得られることが
わかった。
イ素粉末の製造方法において、全工程の不純物、炭化物
(中間体生成物)の組成等に着目し、鋭意検討を重ねた
結果、不純物元素を実質的に含まない液状の物質を原料
に用いることにより、ケイ素と炭素の分散の良い中間体
物質が得られ、その結果として比較的粒径のそろった高
純度β型炭化ケイ素多結晶粉体を得る製造方法を確立
し、本発明を完成するに至った。また、炭化物中間体の
炭素/ケイ素のモル比及び焼成工程の温度と時間につい
て再検討した結果、炭化物中間体の炭素/ケイ素のモル
比を2.3〜2.5とし、さらに従来の温度に比べ比較
的低い温度(1600〜2000℃)で焼成することに
より、所望の平均粒径で、かつ残留炭素を実質的に含ま
ない高純度β型炭化ケイ素多結晶粉体が得られることが
わかった。
【0007】
【作用】高純度β型炭化ケイ素粉体においては、不純物
元素の含有量を少なくし、単結晶育成時に比表面積の大
幅な減少を起こさない粒度に調整されることが好ましい
が、従来の炭化ケイ素粉体は、原料として、例えばケイ
砂や石油コークス等を用いること及び粉砕工程を経るた
めに不純物が混入しており、単結晶を育成した際に結晶
欠陥が多発していたが、本発明の製造方法によって得ら
れる高純度β型炭化ケイ素粉体を用いて炭化ケイ素単結
晶を製造することにより、高純度で、結晶欠陥の少ない
単結晶を得ることができ、さらに、単結晶育成時に比表
面積の大幅な減少を起こさない粒径に調整可能である優
れた効果を奏するものである。
元素の含有量を少なくし、単結晶育成時に比表面積の大
幅な減少を起こさない粒度に調整されることが好ましい
が、従来の炭化ケイ素粉体は、原料として、例えばケイ
砂や石油コークス等を用いること及び粉砕工程を経るた
めに不純物が混入しており、単結晶を育成した際に結晶
欠陥が多発していたが、本発明の製造方法によって得ら
れる高純度β型炭化ケイ素粉体を用いて炭化ケイ素単結
晶を製造することにより、高純度で、結晶欠陥の少ない
単結晶を得ることができ、さらに、単結晶育成時に比表
面積の大幅な減少を起こさない粒径に調整可能である優
れた効果を奏するものである。
【0008】
【実施例】以下に本発明を詳細に説明する。本発明にお
いて、液状のケイ素化合物としては、メチルシリケー
ト、エチルシリケート等のアルキルシリケート、ケイ酸
ポリマー水溶液、水酸基を持つ有機化合物とケイ酸のエ
ステル溶液等が挙げられ、特に、エチルシリケートモノ
マー及びオリゴマーが好ましい。
いて、液状のケイ素化合物としては、メチルシリケー
ト、エチルシリケート等のアルキルシリケート、ケイ酸
ポリマー水溶液、水酸基を持つ有機化合物とケイ酸のエ
ステル溶液等が挙げられ、特に、エチルシリケートモノ
マー及びオリゴマーが好ましい。
【0009】本発明において、官能基を有し加熱により
炭素を生成する液状の有機化合物としては、特に残炭率
の高く、触媒又は加熱により、重合又は架橋する有機化
合物、例えば、フェノール樹脂、ニトリル樹脂、フラン
樹脂、ポリイミド樹脂、スチレン樹脂、キシレン樹脂、
ポリフェニレンオキシド、ポリフェニレンスルフィド、
ポリアニリン等の樹脂(高分子)のモノマーやプレポリ
マーが挙げられ、レゾール型又はノボラック型のフェノ
ール樹脂が好ましい。
炭素を生成する液状の有機化合物としては、特に残炭率
の高く、触媒又は加熱により、重合又は架橋する有機化
合物、例えば、フェノール樹脂、ニトリル樹脂、フラン
樹脂、ポリイミド樹脂、スチレン樹脂、キシレン樹脂、
ポリフェニレンオキシド、ポリフェニレンスルフィド、
ポリアニリン等の樹脂(高分子)のモノマーやプレポリ
マーが挙げられ、レゾール型又はノボラック型のフェノ
ール樹脂が好ましい。
【0010】本発明において、原料に均一に溶化する重
合又は架橋触媒としては、原料としてフェノール樹脂を
用いる場合、トルエンスルホン酸、塩酸、硫酸、シュウ
酸等の酸類が好ましく、特に、界面活性作用を持つトル
エンスルホン酸がより好ましい。ニトリル樹脂のモノマ
ーやオリゴマーを用いる場合は、過硫酸アンモニウム、
過酸化水素、各種ヒドロペルオキシド類、過酸化アルキ
ル類、過酸化エステル類、アゾ化合物類等のラジカル重
合開始剤が好ましい。また、この他の有機化合物を用い
る場合も一般に用いられる重合又は架橋触媒が好まし
い。
合又は架橋触媒としては、原料としてフェノール樹脂を
用いる場合、トルエンスルホン酸、塩酸、硫酸、シュウ
酸等の酸類が好ましく、特に、界面活性作用を持つトル
エンスルホン酸がより好ましい。ニトリル樹脂のモノマ
ーやオリゴマーを用いる場合は、過硫酸アンモニウム、
過酸化水素、各種ヒドロペルオキシド類、過酸化アルキ
ル類、過酸化エステル類、アゾ化合物類等のラジカル重
合開始剤が好ましい。また、この他の有機化合物を用い
る場合も一般に用いられる重合又は架橋触媒が好まし
い。
【0011】本発明において、原料を重合又は架橋反応
させて得られた前駆体物質は非酸化性雰囲気中で加熱炭
化されるが、炭化温度としては、700〜1100℃が
用いられ、好ましくは800〜1000℃が採用され
る。また、前記前駆体物質を炭化して得られた中間生成
物は非酸化性雰囲気中でさらに高温で焼成されるが、焼
成温度としては、1600〜2000℃が用いられ、好
ましくは1600〜1900℃が採用される。
させて得られた前駆体物質は非酸化性雰囲気中で加熱炭
化されるが、炭化温度としては、700〜1100℃が
用いられ、好ましくは800〜1000℃が採用され
る。また、前記前駆体物質を炭化して得られた中間生成
物は非酸化性雰囲気中でさらに高温で焼成されるが、焼
成温度としては、1600〜2000℃が用いられ、好
ましくは1600〜1900℃が採用される。
【0012】本発明における重要な要素である不純物の
関連事項を次に述べる。前記高純度β型炭化ケイ素粉末
は不純物元素を実質的に含まないものであるが、含まれ
ていても各不純物元素の含有量は1ppm以下であるこ
とを要する。本発明で用いられる原料は、不純物元素を
実質的に含まないものであるが、含まれていても各不純
物元素の含有量は0.5ppm以下で、好ましくは0.
1ppmであるが、焼成温度(1600〜2000℃)
で蒸発する元素または元素の化合物についてはこの限り
ではない。
関連事項を次に述べる。前記高純度β型炭化ケイ素粉末
は不純物元素を実質的に含まないものであるが、含まれ
ていても各不純物元素の含有量は1ppm以下であるこ
とを要する。本発明で用いられる原料は、不純物元素を
実質的に含まないものであるが、含まれていても各不純
物元素の含有量は0.5ppm以下で、好ましくは0.
1ppmであるが、焼成温度(1600〜2000℃)
で蒸発する元素または元素の化合物についてはこの限り
ではない。
【0013】また、ここでいう不純物元素とは周期律表
のIa(水素を除く)〜IIIa族元素、Ib〜VIIb族元
素、VIII族元素、IVa族の原子番号32以上の元素及
びVa族の原子番号33以上の元素をいう。
のIa(水素を除く)〜IIIa族元素、Ib〜VIIb族元
素、VIII族元素、IVa族の原子番号32以上の元素及
びVa族の原子番号33以上の元素をいう。
【0014】本発明に用いる触媒、添加剤、溶媒(水を
含む)等、前工程に使用の物質は、不純物を実質的に含
まない高純度品を用いる必要がある。また、原料、製品
はクラス1000以下のクリーン・ブース中で取り扱う
ことが好ましい。
含む)等、前工程に使用の物質は、不純物を実質的に含
まない高純度品を用いる必要がある。また、原料、製品
はクラス1000以下のクリーン・ブース中で取り扱う
ことが好ましい。
【0015】本発明において、前駆体物質を炭化して得
られる中間体生成物中の炭素/ケイ素のモル比は2.3
〜2.5が好ましい。このモル比で、炭化温度700〜
1100℃、焼成温度が1600〜2000℃の条件で
純粋な炭化ケイ素が得られる。本来、理論的には中間体
生成物中の炭素/ケイ素のモル比が3.0で得られた炭
化ケイ素中の炭素量が0重量%となるはずであるが、本
発明により、このモル比が2.3〜2.5で炭素が存在
しない高純度β型炭化ケイ素が得られ、このモル比が
2.5を越える場合には炭素が残留することを知見して
いる。
られる中間体生成物中の炭素/ケイ素のモル比は2.3
〜2.5が好ましい。このモル比で、炭化温度700〜
1100℃、焼成温度が1600〜2000℃の条件で
純粋な炭化ケイ素が得られる。本来、理論的には中間体
生成物中の炭素/ケイ素のモル比が3.0で得られた炭
化ケイ素中の炭素量が0重量%となるはずであるが、本
発明により、このモル比が2.3〜2.5で炭素が存在
しない高純度β型炭化ケイ素が得られ、このモル比が
2.5を越える場合には炭素が残留することを知見して
いる。
【0016】得られた炭化ケイ素の平均粒径は10〜5
00μm、好ましくは100〜300μmである。平均
粒径が10μm以下になると、単結晶をつくるための炭
化ケイ素の昇華温度(2000〜2500℃)で焼結を
起こし、昇華表面積が小さくなり、単結晶の成長が遅く
なる。また、500μm以上になると、粒子自身の非表
面積が小さいため、やはり単結晶の成長が遅くなる。
00μm、好ましくは100〜300μmである。平均
粒径が10μm以下になると、単結晶をつくるための炭
化ケイ素の昇華温度(2000〜2500℃)で焼結を
起こし、昇華表面積が小さくなり、単結晶の成長が遅く
なる。また、500μm以上になると、粒子自身の非表
面積が小さいため、やはり単結晶の成長が遅くなる。
【0017】この平均粒径が10〜500μmである炭
化ケイ素粉体を得るには、焼成時の温度と時間を適当に
選択する必要がある。例えば、1900℃で焼成を行う
場合、150μmの粒径を得るためには約3時間の加熱
時間が必要となる。しかし、温度が1600℃以下だと
結晶粒子の成長速度が非常に速くなるため実用的には炭
化ケイ素が得られず、また、2000℃以上だと粒子の
成長にともない炭化ケイ素の昇華分解が起こるため高純
度の炭化ケイ素が得られない。
化ケイ素粉体を得るには、焼成時の温度と時間を適当に
選択する必要がある。例えば、1900℃で焼成を行う
場合、150μmの粒径を得るためには約3時間の加熱
時間が必要となる。しかし、温度が1600℃以下だと
結晶粒子の成長速度が非常に速くなるため実用的には炭
化ケイ素が得られず、また、2000℃以上だと粒子の
成長にともない炭化ケイ素の昇華分解が起こるため高純
度の炭化ケイ素が得られない。
【0018】本発明において、ケイ素源として液状のケ
イ素化合物及び炭素源として液状の有機化合物の原料に
重合又は架橋反応を行っているので、得られた前駆体物
質はケイ素、炭素共に分子オーダーで均質に混合されて
いるため、炭化後の中間体物質を経て、焼成された炭化
ケイ素は粒界の少ない良質な結晶であり、粒子径を焼成
時に制御するために粉砕等による不純物の混入もなく、
生産性よく目的の粉体を得ることができる。
イ素化合物及び炭素源として液状の有機化合物の原料に
重合又は架橋反応を行っているので、得られた前駆体物
質はケイ素、炭素共に分子オーダーで均質に混合されて
いるため、炭化後の中間体物質を経て、焼成された炭化
ケイ素は粒界の少ない良質な結晶であり、粒子径を焼成
時に制御するために粉砕等による不純物の混入もなく、
生産性よく目的の粉体を得ることができる。
【0019】以下に、実施例を挙げて本発明をより具体
的に説明するが、本発明の主旨を越えない限り、本実施
例に限定されるものではない。なお、本実施例では従来
の製造方法との優位性を確認するため、改良レーリー法
(昇華再結晶法)を用いて単結晶の育成を試みた。
的に説明するが、本発明の主旨を越えない限り、本実施
例に限定されるものではない。なお、本実施例では従来
の製造方法との優位性を確認するため、改良レーリー法
(昇華再結晶法)を用いて単結晶の育成を試みた。
【0020】(高純度炭化ケイ素単結晶の製造装置)炭
化ケイ素粉末の製造装置は図1に示した円筒状の高純度
黒鉛容器1及び蓋2を用いて、粉体試料3が入る部分を
高周波コイル6で加熱し、加熱部分と種結晶4に近い上
側面部の温度測定ができるようにした。反応炉は真空又
は不活性ガス置換ができ、さらに内圧をコントロールで
きるものを用いた。
化ケイ素粉末の製造装置は図1に示した円筒状の高純度
黒鉛容器1及び蓋2を用いて、粉体試料3が入る部分を
高周波コイル6で加熱し、加熱部分と種結晶4に近い上
側面部の温度測定ができるようにした。反応炉は真空又
は不活性ガス置換ができ、さらに内圧をコントロールで
きるものを用いた。
【0021】(実施例A1)液状ケイ素化合物としてS
iO2 含有量40%の高純度のエチルシリケート690
gと、含水率20%の高純度液体レゾール型フェノール
樹脂305gの混合液に、触媒として高純度p−トルエ
ンスルホン酸の25%水溶液137gを加えて硬化・乾
燥させ、均質な樹脂状固形物を得た。これを窒素雰囲気
下で900℃で1時間炭化した。得られた炭化物の炭素
/ケイ素のモル比は元素分析から2.4であった。この
炭化物をアルゴン雰囲気下で1900℃まで昇温、加熱
し、4時間保持して炭化ケイ素化反応及び結晶粒成長を
行った。得られた粉末の色は黄緑色であった。また、X
線回折による炭化ケイ素の結晶形はβ型(立方晶)であ
った。本粉末の不純物分析(ICP−質量分析及びフレ
ームス原子吸光法)の結果を表1に示す。また、本粉末
を粒度分布測定機(TSUB−TEC)で測定したとこ
ろ、平均粒径が185μmであった。
iO2 含有量40%の高純度のエチルシリケート690
gと、含水率20%の高純度液体レゾール型フェノール
樹脂305gの混合液に、触媒として高純度p−トルエ
ンスルホン酸の25%水溶液137gを加えて硬化・乾
燥させ、均質な樹脂状固形物を得た。これを窒素雰囲気
下で900℃で1時間炭化した。得られた炭化物の炭素
/ケイ素のモル比は元素分析から2.4であった。この
炭化物をアルゴン雰囲気下で1900℃まで昇温、加熱
し、4時間保持して炭化ケイ素化反応及び結晶粒成長を
行った。得られた粉末の色は黄緑色であった。また、X
線回折による炭化ケイ素の結晶形はβ型(立方晶)であ
った。本粉末の不純物分析(ICP−質量分析及びフレ
ームス原子吸光法)の結果を表1に示す。また、本粉末
を粒度分布測定機(TSUB−TEC)で測定したとこ
ろ、平均粒径が185μmであった。
【表1】
【0022】(比較例A1)炭化ケイ素化反応温度を1
700℃、加熱温度を30分とした以外は実施例1と同
様にして炭化ケイ素粉体を得た。得られた粉末の色は灰
白色、X線回折による炭化ケイ素の結晶形はβ型(立方
晶)、また、本粉末の平均粒径は1.2μmであった。
本粉末の不純物分析の結果を表1に示す。
700℃、加熱温度を30分とした以外は実施例1と同
様にして炭化ケイ素粉体を得た。得られた粉末の色は灰
白色、X線回折による炭化ケイ素の結晶形はβ型(立方
晶)、また、本粉末の平均粒径は1.2μmであった。
本粉末の不純物分析の結果を表1に示す。
【0023】(比較例A2)#100の研磨用炭化ケイ
素粉体を不純物を含まない高純度塩酸溶液でよく洗浄し
た後、乾燥後2000℃で10分間高純度処理をした。
得られた粉末の色は黒色、X線回折による炭化ケイ素の
結晶形はα型であった。本粉末の不純物分析の結果を表
1に示す。
素粉体を不純物を含まない高純度塩酸溶液でよく洗浄し
た後、乾燥後2000℃で10分間高純度処理をした。
得られた粉末の色は黒色、X線回折による炭化ケイ素の
結晶形はα型であった。本粉末の不純物分析の結果を表
1に示す。
【0024】(実施例B1)図1のグラファイト容器
に、実施例A1で得た粉体約100gを入れ、蓋の部分
に種結晶としてアチソン法でつくられた6H{000
1}面カットのウェハー10mm×10mmを設置し、
反応炉に入れアルゴンの10Torr減圧下で粉体部分
を高周波誘導加熱により2350℃に保った。この時の
容器上部の温度は2280℃であった。この条件で約5
時間単結晶の育成を行ったところ、直径10mm、長さ
が5.5mmの単結晶を得ることができた。この結晶の
種結晶にできるだけ遠い部分をスライスし、鏡面研磨し
た。これを溶融アルカリによりエッシングして、欠陥を
観察したところ、欠陥密度は1.0×103 個/cm2
であった。また、この結晶の不純物分析(ICP−質量
分析及びフレームス原子吸光法)を行った結果を表2に
示す。
に、実施例A1で得た粉体約100gを入れ、蓋の部分
に種結晶としてアチソン法でつくられた6H{000
1}面カットのウェハー10mm×10mmを設置し、
反応炉に入れアルゴンの10Torr減圧下で粉体部分
を高周波誘導加熱により2350℃に保った。この時の
容器上部の温度は2280℃であった。この条件で約5
時間単結晶の育成を行ったところ、直径10mm、長さ
が5.5mmの単結晶を得ることができた。この結晶の
種結晶にできるだけ遠い部分をスライスし、鏡面研磨し
た。これを溶融アルカリによりエッシングして、欠陥を
観察したところ、欠陥密度は1.0×103 個/cm2
であった。また、この結晶の不純物分析(ICP−質量
分析及びフレームス原子吸光法)を行った結果を表2に
示す。
【表2】
【0025】(比較例B1)原料粉体として実施例A2
で得たものを用いた以外、実施例B1と同様にして単結
晶を育成したところ成長した長さは約2mmであった。
また、冷却した原料を観察したところ焼結して固まって
いた。本結晶の欠陥密度は3.3×103 個/cm2 で
あった。また、この結晶の不純物分析を行った結果を表
2に示す。
で得たものを用いた以外、実施例B1と同様にして単結
晶を育成したところ成長した長さは約2mmであった。
また、冷却した原料を観察したところ焼結して固まって
いた。本結晶の欠陥密度は3.3×103 個/cm2 で
あった。また、この結晶の不純物分析を行った結果を表
2に示す。
【0026】(比較例B2)原料粉体として比較例A1
で得たものを用いた以外、実施例B1と同様にして単結
晶を育成したところ成長した長さは約4.5mmであっ
た。また、冷却した原料を観察したところ焼結して固ま
っていた。本結晶の欠陥密度は8.7×104 個/cm
2 であった。また、この結晶の不純物分析を行った結果
を表2に示す。
で得たものを用いた以外、実施例B1と同様にして単結
晶を育成したところ成長した長さは約4.5mmであっ
た。また、冷却した原料を観察したところ焼結して固ま
っていた。本結晶の欠陥密度は8.7×104 個/cm
2 であった。また、この結晶の不純物分析を行った結果
を表2に示す。
【0027】
【発明の効果】以上記載したように、本発明の製造方法
により得られた高純度炭化ケイ素を用いることにより、
高純度で、結晶欠陥が少なく、歩止りのよい炭化ケイ素
単結晶を育成可能となり、例えば、パワーデバイス、高
周波デバイス、青色発行ダイオード等で良好な特性を示
す炭化ケイ素単結晶ウェハーを提供することが可能とな
る。
により得られた高純度炭化ケイ素を用いることにより、
高純度で、結晶欠陥が少なく、歩止りのよい炭化ケイ素
単結晶を育成可能となり、例えば、パワーデバイス、高
周波デバイス、青色発行ダイオード等で良好な特性を示
す炭化ケイ素単結晶ウェハーを提供することが可能とな
る。
【図1】図1は本発明の高純度β型炭化ケイ素単結晶製
造装置の断面図である。
造装置の断面図である。
1 高純度黒鉛容器 2 高純度黒鉛蓋 3 原料炭化ケイ素 4 種結晶 5 育成した単結晶 6 高周波コイル
Claims (1)
- 【請求項1】 不純物元素を実質的に含まない液状のケ
イ素化合物と官能基を有し加熱により炭素を生成する不
純物元素を実質的に含まない液状の有機化合物と不純物
元素を実質的に含まない重合又は架橋触媒との混合溶液
を硬化乾燥し、得られた固形物を非酸化性雰囲気下で加
熱炭化した後、得られた中間体物質をさらに非酸化性雰
囲気下、1600〜2000℃で焼成することにより、
平均粒径が10μm〜500μmであり、かつ各不純物
元素の含有量が1ppm以下のβ型炭化ケイ素粉末を得
ることを特徴とする炭化ケイ素単結晶製造用高純度β型
炭化ケイ素粉末の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5304901A JPH07157307A (ja) | 1993-12-06 | 1993-12-06 | 炭化ケイ素単結晶製造用高純度β型炭化ケイ素粉末の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5304901A JPH07157307A (ja) | 1993-12-06 | 1993-12-06 | 炭化ケイ素単結晶製造用高純度β型炭化ケイ素粉末の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07157307A true JPH07157307A (ja) | 1995-06-20 |
Family
ID=17938659
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5304901A Pending JPH07157307A (ja) | 1993-12-06 | 1993-12-06 | 炭化ケイ素単結晶製造用高純度β型炭化ケイ素粉末の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07157307A (ja) |
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002053813A1 (en) * | 2000-12-28 | 2002-07-11 | Bridgestone Corporation | Silicon carbide single crystal, and method and apparatus for producing the same |
| JP2003002794A (ja) * | 2001-06-15 | 2003-01-08 | Bridgestone Corp | 炭化ケイ素単結晶及びその製造方法 |
| US6733736B2 (en) | 2001-05-01 | 2004-05-11 | Bridgestone Corporation | Silicon carbide powder and method for producing the same |
| JP2005093519A (ja) * | 2003-09-12 | 2005-04-07 | Shikusuon:Kk | 炭化珪素基板の製造方法および炭化珪素基板 |
| US7553373B2 (en) | 2001-06-15 | 2009-06-30 | Bridgestone Corporation | Silicon carbide single crystal and production thereof |
| US7807123B2 (en) | 2005-01-28 | 2010-10-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Method of manufacturing silicon carbide |
| JP2010248025A (ja) * | 2009-04-14 | 2010-11-04 | Bridgestone Corp | 炭化珪素粉体の製造方法 |
| JP2012046424A (ja) * | 2000-12-28 | 2012-03-08 | Bridgestone Corp | 炭化ケイ素単結晶 |
| WO2015015662A1 (ja) * | 2013-07-31 | 2015-02-05 | 太平洋セメント株式会社 | 炭化珪素粉末、及び、炭化珪素単結晶の製造方法 |
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| JP2016183108A (ja) * | 2016-07-27 | 2016-10-20 | 住友電気工業株式会社 | 炭化珪素基板 |
| US11242618B2 (en) | 2011-09-21 | 2022-02-08 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Silicon carbide substrate and method of manufacturing the same |
-
1993
- 1993-12-06 JP JP5304901A patent/JPH07157307A/ja active Pending
Cited By (16)
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|---|---|---|---|---|
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| US7048798B2 (en) | 2000-12-28 | 2006-05-23 | Bridgestone Corporation | Silicon carbide single crystal and method and apparatus for producing the same |
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Legal Events
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| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040427 |
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| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20041019 |