JPH0745008A - 磁気ディスク制御装置の自己診断方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は磁気ディスクコントローラにおい
て、磁気ディスク装置を接続する事無く、磁気ディスク
コントローラを自己診断できるようにする。 【構成】 自己診断時においてテスト用書き込み信号を
ＦＤＤからの読み出し信号とするための切り換え手段を
もち、テスト用の書き込みデータより生成されるテスト
用書き込み信号をＦＤＤからの読み出し信号として処理
し、その時の読み出しデータがテスト用の書き込みデー
タと一致するか否かでＦＤＤへの書き込み回路とＦＤＤ
からの読み出し回路をテストできる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、磁気ディスク装置の読
み出し書き込み用集積回路の自己診断方式に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の磁気ディスク装置の書き込み及び
読み出し用集積回路について、特にフロッピーディスク
装置の書き込み及び読み出し用集積回路（以下ＦＤＣと
略記する）で、ＭＦＭ記録方式による場合を例にして説
明する。

【０００３】図４は従来のフロッピーディスク装置のＦ
ＤＣのテストを説明するための構成図である。図２はＭ
ＦＭ記録方式の波形図である。図４において、フロッピ
ー・ディスク・ドライブ装置（以下ＦＤＤと略記する）
よりの読み出し信号は、ＭＦＭ記録方式に従いクロック
・パルスとデータ・パルスの混じったものであり、ＰＬ
Ｌ回路２２によりクロック・パルスとデータ・パルスを
分離するための分離信号（以下ＷＩＮＤＯＷ信号と略記
する）を生成する。データ・セパレータ２３はＰＬＬ回
路２２の生成するＷＩＮＤＯＷ信号によりＦＤＤよりの
読み出し信号からデータを分離し、シリアル・パラレル
変換回路２４により８ビット単位のデータとしてホスト
・インターフェース２５を介してデータの転送を実施す
る。また、書き込みの時は、ホスト・インターフェース
回路２５を介して送られる８ビット単位のデータをパラ
レル・シリアル変換回路２７によりシリアルのデータに
変換し、ミキサー２６によりデータのみのシリアルの信
号にクロック信号を付加してＦＤＤの書き込みデータと
して出力する。

【０００４】この構成においては、従来のＦＤＣを組み
込んだ装置において不具合が発生した場合、不具合箇所
の特定が重要な点となり、装置を構成する集積回路にお
いては自己診断の機能を持つことが不具合箇所の特定を
助ける事になる。ＦＤＣの自己診断においては、ＦＤＤ
への書き込み信号が正常であることと、ＦＤＤよりの読
み出し信号よりデータを読み出すことができることが重
要な点となり、このためにはＦＤＤをＦＤＣに接続した
状態で、ＦＤＤへの書き込み読み出しによりテストす
る。

【０００５】また、従来のＬＳＩテスターによるテスト
においては、ＦＤＤよりの読み出し信号をＬＳＩテスタ
ーが代わりに供給する事になるが、ＦＤＣの内蔵するＰ
ＬＬ回路２２がアナログＰＬＬ回路の時には、入力信号
に従いＷＩＮＤＯＷ信号を生成することができる周波数
には上限と下限が存在する。ＦＤＤよりの読み出し信号
はＦＤＤのデータの転送速度を決定するため高速にな
る。ＰＬＬ回路２２の動作周波数の限界から、テストに
おける動作周波数は実際のＦＤＣ動作周波数に限定され
るため、自己診断機能を内蔵させて高速の信号のやり取
りを減らし、最後の結果のみを良否の判断とすること
が、ＬＳＩテスターにおいては重要となる。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】従来のＦＤＣにおいて
不都合がある時、ＦＤＤを接続し、フロッピ−・ディス
クに実際にデータを書き込んで読み出す事でテストする
か、ＬＳＩテスターの場合にはＦＤＤよりの読み出し信
号と同様の信号をＬＳＩテスター側で供給する事が必要
であるため、ＦＤＣの自己診断機能を付加したとしても
外部にＦＤＤよりの読み出し信号を常に供給する事が必
要となり、ＦＤＣの単独のテストができないか、ＬＳＩ
テスターにおいては常に実動作周波数でのテストをしな
ければならいという欠点を持つ。

【０００７】

【課題を解決するための手段】前記従来の欠点を解消す
るために、本発明は、磁気ディスク装置への書き込み及
び読み出しを制御する磁気ディスク制御装置において、
制御ファームとテストファームとから成る記憶制御手段
と、テスト時に前記記憶制御手段から出力されるテスト
用書き込み信号を入力とする書き込み回路手段の出力信
号を前記磁気ディスク装置からの読み出し信号に切換え
て、入力するセレクタ手段と、テスト時のセレクタ手段
からの出力信号を入力とする読み出し回路手段の出力信
号と前記テスト用書き込み信号との一致をチェックする
一致検出手段とを具備することを特徴とする。

【０００８】

【作用】テスト時に、テスト用書き込み信号を発生さ
せ、このテスト用書き込み信号を入力として書き込み回
路手段からセレクタ手段を経て読み出し回路手段へと一
巡させ、書き込み回路手段への入力信号と読み出し回路
手段の出力信号とを比較し、両信号が一致するか否かを
検査することで、磁気ディスク装置を実際に接続するこ
となく、磁気ディスク制御装置側のみで、自己診断を行
うことができる。

【０００９】

【実施例】本発明の実施例について図を用いて説明す
る。図１は本発明第１実施例の構成を示すブロック図で
ある。図２はＭＦＭ記録方式の波形図である。

【００１０】図１において、磁気ディスク装置（不図
示）への書き込み・読み出し用集積回路ＦＤＣは、磁気
ディスク装置からの読み出しデータ及びテスト制御回路
８から出力されるテスト用データを切換えるセレクタ
１、読み出し信号中のクロックパルスとデータパルスを
分離するためのＷＩＮＤＯＷ信号を生成するＰＬＬ回路
２、ＷＩＮＤＯＷ信号により読み出し信号からデータを
分離するデータ・セパレーター３、分離されたデータを
８ビット単位のデータに変換するシリアル・パラレル変
換回路４、データをホストバスに送出するホストインタ
ーフェース回路５、また、書き込み時にホストインター
フェース回路５を介して送られてくる８ビット単位のデ
ータをシリアル信号に変換するパラレル・シリアル変換
回路７、データのみのシリアル信号にクロック信号を付
加して書き込みデータとしてＦＤＤ及びセレクタへ向け
て出力するミキサー６、そして、ファームウェアを内蔵
するリード・オンリー・メモリー（ＲＯＭ）１０、イン
ストラクション・デコーダ９の出力によってセレクタ１
へ入力切換を指示するテスト制御回路８とから構成され
る。

【００１１】セレクタ１の出力はＰＬＬ回路２とデータ
セパレータ３に入力し、ＰＬＬ回路２の出力するＷＩＮ
ＤＯＷ信号はデータセパレータ３に入力する。データセ
パレータ３はセレクタ１の出力とＰＬＬ回路２の出力に
よりクロックとデータの分離をし、シリアル・パラレル
変換回路４にデータを出力する。シリアル・パラレル変
換回路４はデータセパレータ３のシリアルのデータ信号
を８ビット単位のパラレルのデータに変換し、ホストイ
ンターフェース回路５を介して外部制御装置に転送す
る。外部制御装置よりＦＤＤに書き込むためのデータの
変換はホストインターファース回路５を介してパラレル
・シリアル変換回路７に供給され、シリアルのデータ信
号としてミキサー６に入力される。ミキサー６はシリア
ルのデータ入力に対してクロック信号を付加し、ＦＤＤ
への書き込み信号として出力する。ファームウェアを内
蔵するＲＯＭ１０は制御ファームの部分とテストファー
ムの部分より構成される。ＲＯＭ１０の出力はインスト
ラクション・デコーダ９に入力する。インストラクショ
ン・デコーダ９はテスト制御回路８に入力される。テス
ト制御回路８の出力はセレクタ１の２つの入力を切り替
える。すなわち、ＦＤＤよりの読み出し信号とテスト用
の書き込み信号とが切換わって入力される。

【００１２】通常動作においてはセレクタ１は外部のＦ
ＤＤよりの読み出し信号をＰＬＬ回路２及びデータ・セ
パレータ３に入力している。

【００１３】次に、ＦＤＣの自己診断においては、ＲＯ
Ｍ１０のテストファームと制御ファームの内容に従い動
作をする。テストファームによって、インストラクショ
ンデコーダ９及びテスト制御回路８によりセレクタ１が
入力切換えを行うので、ＦＤＣはＦＤＣ内部でテスト用
の書き込み信号をＦＤＤからの読み出し信号として処理
を行う。すなわち、通常動作においては外部制御装置か
らデータを取り込んでＦＤＤへの書き込みデータとして
出力していたが、テストファームによりテストファーム
に設定されている値をテスト用の書き込みデータとして
出力し、ＰＬＬ回路２及びデータセパレータ３はこのテ
スト用出力データを読み出し信号として処理を行い、シ
リアル・パラレル変換回路４を介してデータを取り込
み、さらにホストインターフェース５に出力される。ホ
ストインターフェース回路の出力はインストラクション
デコーダ９でデコードされファームウェアで発信された
テスト用書き込みデータと比較され、一致しているか否
かがテストされる。従って、自分で出力したテスト用書
き込みデータが読み出しデータとして受け取ることがで
きれば、ＦＤＣの書き込み及び読み出し回路は正常に動
作していると判断できる。これらの比較、判断について
は、制御ファームの内容に従って制御される。

【００１４】（第２の実施例）図３は本発明の第２実施
例の構成を示すブロック図である。

【００１５】第１の実施例において、磁気ディスクコン
トローラにおいては、磁気ディスクにおけるピーク・シ
フトを抑えるため、磁気ディスクコントローラにおいて
はデータ・パターンにより予想されるピークシフトと逆
方向にパルスの位置をずらすための書き込み補償回路を
持つ。通常、磁気ディスクコントローラにおいて書き込
み信号は磁気ディスクコントローラより出力されるた
め、周波数変動などのまったくないデータが磁気ディス
クよりの読み出し信号となる。これはＰＬＬ回路２が変
動のある信号に追従してＷＩＮＤＯＷ信号を生成すると
いう動作に対しては十分なテストとならない。第２の実
施例においてはこの書き込み補償回路により本来磁気デ
ィスクコントローラより出力される磁気ディスクへの書
き込み信号へ変動を付加することでＰＬＬのテストを行
うようにしたものである。

【００１６】

【発明の効果】本発明の自己診断方式によれば、テスト
においてテスト用の書き込み信号をＦＤＤからの読み出
し信号とするため、ＦＤＣの読み出し及び書き込み回路
を同時に外部との信号のやり取りをする事なくテストで
きるという利点を持つ。また、ＬＳＩテスターにおける
テストにおいても、ＦＤＣが自己診断動作に入るように
信号を供給した後は、ＦＤＣの診断結果を待っているだ
けでよいためテストが非常に簡単に成るという利点を持
つ。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明び第１の実施例の構成を示すブロック図

【図２】ＭＦＭ記録方式の波形図

【図３】本発明の第２の実施例の構成を示すブロック図

【図４】従来の実施例の構成を示すブロック図

【符号の説明】 １ セレクタ ２ ＰＬＬ回路 ３ データ・セパレータ ４ シリアル・パラレル変換回路 ５ ホスト・インターフェース回路 ６ ミキサー ７ パラレル・シリアル変換回路 ８ テスト制御回路 ９ インストラクションデコーダ １０ ＲＯＭ １１ セレクタ １２ ＰＬＬ回路 １３ データ・セパレータ １４ シリアル・パラレル変換回路 １５ ホスト・インターフェース回路 １６ 書き込み補償回路 １７ ミキサー １８ パラレル・シリアル変換 １９ テスト制御回路 ２０ インストラクション・デコーダ ２１ ＲＯＭ ２２ ＰＬＬ回路 ２３ データ・セパレータ ２４ シリアル・パラレル変換 ２５ ホスト・インターフェース回路 ２６ ミキサー ２７ パラレル・シリアル変換 ２８ ＲＯＭ

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【手続補正書】

【提出日】平成５年１１月１６日

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】特許請求の範囲

【補正方法】変更

【補正内容】

【特許請求の範囲】

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 磁気ディスク装置への書き込み及び読み
   出しを制御する磁気ディスク制御装置において、 制御ファームとテストファームとから成る記憶制御手段
   と、 テスト時に前記記憶制御手段から出力されるテスト用書
   き込み信号を入力とする書き込み回路手段の出力信号を
   前記磁気ディスク装置からの読み出し信号に切換えて入
   力するセレクタ手段と、 テスト時のセレクタ手段からの出力信号を入力とする読
   み出し回路手段の出力信号と前記テスト用書き込み信号
   との一致をチェックする一致検出手段とを具備すること
   を特徴とする磁気ディスク制御装置の自己診断方式。