JPH08292229A - プローブ変換装置 - Google Patents
プローブ変換装置Info
- Publication number
- JPH08292229A JPH08292229A JP7094873A JP9487395A JPH08292229A JP H08292229 A JPH08292229 A JP H08292229A JP 7094873 A JP7094873 A JP 7094873A JP 9487395 A JP9487395 A JP 9487395A JP H08292229 A JPH08292229 A JP H08292229A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- electric board
- conversion device
- probe conversion
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- Pending
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 多数のピンを備えたＩＣを電気基板上でデバ
ッグする際に、ＩＣあるいは電気基板へ容易に着脱可能
であり、容易にＩＣの必要とするピンから信号を測定器
に対して出力することのできるプローブ変換装置を提供
することを目的とする。 【構成】 多数のピン２０を備えたＩＣ１９を電気基板
１１上でデバッグする際に用いるプローブ変換装置１４
であって、ＩＣ１９と接続するためのＩＣ接続部１８
と、電気基板１１と接続するための基板接続部１５と、
ＩＣ１９からの信号を外部測定器に出力する出力端子１
７とを備え、ＩＣ１９及び電気基板１１と着脱可能に構
成した。
ッグする際に、ＩＣあるいは電気基板へ容易に着脱可能
であり、容易にＩＣの必要とするピンから信号を測定器
に対して出力することのできるプローブ変換装置を提供
することを目的とする。 【構成】 多数のピン２０を備えたＩＣ１９を電気基板
１１上でデバッグする際に用いるプローブ変換装置１４
であって、ＩＣ１９と接続するためのＩＣ接続部１８
と、電気基板１１と接続するための基板接続部１５と、
ＩＣ１９からの信号を外部測定器に出力する出力端子１
７とを備え、ＩＣ１９及び電気基板１１と着脱可能に構
成した。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、多数のピンを備えたＩ
Ｃ（Integrated Circuits）を電気基板上でデバッグす
る際に使用するプローブ変換装置に関するものである。
Ｃ（Integrated Circuits）を電気基板上でデバッグす
る際に使用するプローブ変換装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ゲートアレイやＦＰＧＡなど素子を備え
たＩＣを電気基板に実装した状態（オンボード）でデバ
ッグしようとする場合、オシロスコープなどの測定器で
ＩＣの出力信号を観測する必要が生じる。このようなＩ
Ｃは一般に多ピン化しているため、ＱＦＰやＰＧＡなど
のパッケージ（ＱＦＰとＰＧＡとでは、ピンの数や配置
などが異なる）を有するものが一般的になっており、こ
のようなパッケージではピン間のピッチが狭いため、観
測したい信号を測定器へと引き出すことは容易ではな
い。特にＰＧＡの場合ではＩＣの内周ピンの信号を取り
出すことは困難を極める。
たＩＣを電気基板に実装した状態（オンボード）でデバ
ッグしようとする場合、オシロスコープなどの測定器で
ＩＣの出力信号を観測する必要が生じる。このようなＩ
Ｃは一般に多ピン化しているため、ＱＦＰやＰＧＡなど
のパッケージ（ＱＦＰとＰＧＡとでは、ピンの数や配置
などが異なる）を有するものが一般的になっており、こ
のようなパッケージではピン間のピッチが狭いため、観
測したい信号を測定器へと引き出すことは容易ではな
い。特にＰＧＡの場合ではＩＣの内周ピンの信号を取り
出すことは困難を極める。
【０００３】このために、従来では予め測定が予想され
るピンを選定し、それらのピンに対して、実装する電気
基板上に特別な配線を施し、その配線と接続したテスト
ピンを電気基板上に設けることによってデバッグ時の利
便性の向上が図られてきた。
るピンを選定し、それらのピンに対して、実装する電気
基板上に特別な配線を施し、その配線と接続したテスト
ピンを電気基板上に設けることによってデバッグ時の利
便性の向上が図られてきた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の構成では、以下に示すような問題点を有していた。
の構成では、以下に示すような問題点を有していた。
【０００５】（１）デバッグ中に予め測定を想定してい
た以外の信号を観測しようとする場合には容易に対応で
きない（電気基板上の配線、テストピンが無いため）。
た以外の信号を観測しようとする場合には容易に対応で
きない（電気基板上の配線、テストピンが無いため）。
【０００６】（２）電気基板上にデバッグのためだけの
配線、テストピンの空間が必要であり、電気基板の小型
化を妨げる。
配線、テストピンの空間が必要であり、電気基板の小型
化を妨げる。
【０００７】（３）デバッグに使用した電気基板を、そ
のままＩＣを実動作させる際に使用すると、デバッグの
ためだけの配線、テストピンは、ＩＣを実動作させる際
に、ＩＣや電気基板上のその他の配線に対して余分な負
荷となり、性能面での悪影響が考えられる。
のままＩＣを実動作させる際に使用すると、デバッグの
ためだけの配線、テストピンは、ＩＣを実動作させる際
に、ＩＣや電気基板上のその他の配線に対して余分な負
荷となり、性能面での悪影響が考えられる。
【０００８】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
であり、多数のピンを備えたＩＣを電気基板上でデバッ
グする際の作業を容易にすると共に、作業性を向上させ
ることのできるプローブ変換装置を提供することを目的
とする。
であり、多数のピンを備えたＩＣを電気基板上でデバッ
グする際の作業を容易にすると共に、作業性を向上させ
ることのできるプローブ変換装置を提供することを目的
とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明は、多数のピンを備えたＩＣを電気基板上でデ
バッグする際に用いるプローブ変換装置であって、ＩＣ
と接続するための第１の接続部と、電気基板と接続する
ための第２の接続部と、ＩＣからの信号を外部測定器に
出力する出力端子とを備え、ＩＣ及び電気基板と着脱可
能に構成した。
に本発明は、多数のピンを備えたＩＣを電気基板上でデ
バッグする際に用いるプローブ変換装置であって、ＩＣ
と接続するための第１の接続部と、電気基板と接続する
ための第２の接続部と、ＩＣからの信号を外部測定器に
出力する出力端子とを備え、ＩＣ及び電気基板と着脱可
能に構成した。
【００１０】また本発明は、多数のピンを備えたＩＣを
電気基板上でデバッグする際に用いるプローブ変換装置
であって、ＩＣと接続するための第１の接続部と、電気
基板と接続するための第２の接続部と、ＩＣからの信号
を外部測定器に出力する出力端子と、任意の信号を選択
する選択部と、選択部からの選択信号に基づいて、第１
の接続部から入力された信号を選択すると共に、選択し
た信号を前記出力端子へ送るセレクタ部とを備え、ＩＣ
及び電気基板と着脱可能に構成した。
電気基板上でデバッグする際に用いるプローブ変換装置
であって、ＩＣと接続するための第１の接続部と、電気
基板と接続するための第２の接続部と、ＩＣからの信号
を外部測定器に出力する出力端子と、任意の信号を選択
する選択部と、選択部からの選択信号に基づいて、第１
の接続部から入力された信号を選択すると共に、選択し
た信号を前記出力端子へ送るセレクタ部とを備え、ＩＣ
及び電気基板と着脱可能に構成した。
【００１１】また本発明は、多数のピンを備えたＩＣを
電気基板上でデバッグする際に用いるプローブ変換装置
であって、ＩＣと接続するための第１の接続部と、電気
基板と接続するための第２の接続部と、ＩＣからの信号
を外部測定器に出力する出力端子と、任意の信号を選択
すると第１選択部と、演算処理を指定する第２の選択部
と、第１の選択部からの選択信号に基づいて、第１の接
続部から入力された信号を選択するセレクタ部と、セレ
クタ部を介して得たＩＣからの信号を、第２の選択部か
らの指定信号に基づいて指定された演算処理を行う共
に、演算結果を前記出力端子へ送る演算部とを備え、Ｉ
Ｃ及び電気基板と着脱可能に構成した。
電気基板上でデバッグする際に用いるプローブ変換装置
であって、ＩＣと接続するための第１の接続部と、電気
基板と接続するための第２の接続部と、ＩＣからの信号
を外部測定器に出力する出力端子と、任意の信号を選択
すると第１選択部と、演算処理を指定する第２の選択部
と、第１の選択部からの選択信号に基づいて、第１の接
続部から入力された信号を選択するセレクタ部と、セレ
クタ部を介して得たＩＣからの信号を、第２の選択部か
らの指定信号に基づいて指定された演算処理を行う共
に、演算結果を前記出力端子へ送る演算部とを備え、Ｉ
Ｃ及び電気基板と着脱可能に構成した。
【００１２】さらに本発明は、パーソナルコンピュータ
などの外部制御機器と接続するインターフェース部を備
えた構成とした。
などの外部制御機器と接続するインターフェース部を備
えた構成とした。
【００１３】
【作用】この構成により、多数のピンを備えたＩＣから
の信号の取り出しを容易に行うことができる。
の信号の取り出しを容易に行うことができる。
【００１４】また、セレクタ部を設けたことにより、デ
バッグ時にＩＣから取り出したい信号を変更したい場合
に、容易に変更させることができる。
バッグ時にＩＣから取り出したい信号を変更したい場合
に、容易に変更させることができる。
【００１５】また、演算部を設けたことにより、ＩＣか
ら取り出した信号の演算処理を行うことができる。
ら取り出した信号の演算処理を行うことができる。
【００１６】さらに、パーソナルコンピュータなどの外
部制御機器と接続可能としたことにより、セレクタ部や
演算部などを制御することができる。
部制御機器と接続可能としたことにより、セレクタ部や
演算部などを制御することができる。
【００１７】
【実施例】以下に本発明の一実施例について、以下に図
面を参照しながら説明する。
面を参照しながら説明する。
【００１８】図１は本発明の一実施例におけるプローブ
変換装置の説明図であり、本実施例のプローブ変換装置
を用いてＰＧＡパッケージを備えたＩＣをデバッグする
様子について示している。また、ＰＧＡに限らずＰＬＣ
Ｃなどパッケージを備えた場合であっても、本実施例に
おけるプローブ変換装置とＩＣとの間、または基板との
間の接続部分の形式が異なるのみであり、本質的な相違
はない。
変換装置の説明図であり、本実施例のプローブ変換装置
を用いてＰＧＡパッケージを備えたＩＣをデバッグする
様子について示している。また、ＰＧＡに限らずＰＬＣ
Ｃなどパッケージを備えた場合であっても、本実施例に
おけるプローブ変換装置とＩＣとの間、または基板との
間の接続部分の形式が異なるのみであり、本質的な相違
はない。
【００１９】図１に示すように、本実施例のプローブ変
換装置１４は、ＩＣ１９及び基板１１と着脱可能となっ
ており、上面にはＩＣ１９のピン２０と接続するための
ＩＣ接続部１８を、下面には基板１１に設けられたソケ
ット１２と接続するための基板接続部１５が設けられて
いる。側面にはオシロスコープなどの測定器に信号を出
力するための出力端子１７が設けられている。また、上
面の一部にはＩＣ１９からの任意の信号を取り出すため
の選択部１６が設けられており、本実施例ではこの選択
部１９を具体的にディップスイッチとして示している。
換装置１４は、ＩＣ１９及び基板１１と着脱可能となっ
ており、上面にはＩＣ１９のピン２０と接続するための
ＩＣ接続部１８を、下面には基板１１に設けられたソケ
ット１２と接続するための基板接続部１５が設けられて
いる。側面にはオシロスコープなどの測定器に信号を出
力するための出力端子１７が設けられている。また、上
面の一部にはＩＣ１９からの任意の信号を取り出すため
の選択部１６が設けられており、本実施例ではこの選択
部１９を具体的にディップスイッチとして示している。
【００２０】以上のような構成により、ＩＣ１９を基板
１１上でデバッグする際に、プローブ変換装置１４をＩ
Ｃ１９と基板１１（ただし本実施例では、基板１１上に
ソケット１２が設けられている）との間に装着するだけ
で、デバッグに必要なＩＣ１９のピン２０から出力され
る信号を容易に取り出すことができる。これにより、Ｉ
Ｃ１９のピン２０から信号を取り出し難い場合でも、プ
ローブ変換装置１４の出力端子１７は取り出し易い位置
に配置されているので、容易に信号を取り出すことがで
きる。
１１上でデバッグする際に、プローブ変換装置１４をＩ
Ｃ１９と基板１１（ただし本実施例では、基板１１上に
ソケット１２が設けられている）との間に装着するだけ
で、デバッグに必要なＩＣ１９のピン２０から出力され
る信号を容易に取り出すことができる。これにより、Ｉ
Ｃ１９のピン２０から信号を取り出し難い場合でも、プ
ローブ変換装置１４の出力端子１７は取り出し易い位置
に配置されているので、容易に信号を取り出すことがで
きる。
【００２１】次にプローブ変換装置１４の動作につい
て、図２を用いて説明する。図２は本発明の一実施例に
おけるプローブ変換装置の構成を示すブロック図であ
り、図１に示すプローブ変換装置１４の内部構成を示し
たものである。
て、図２を用いて説明する。図２は本発明の一実施例に
おけるプローブ変換装置の構成を示すブロック図であ
り、図１に示すプローブ変換装置１４の内部構成を示し
たものである。
【００２２】図２に示すように、ＩＣ接続部１８、出力
端子１７については図１に示しており説明を省く。ただ
し、図１に示した選択部１６については、図２ではＩＣ
１９から出力される信号の選択を行う選択スイッチ１６
ａと後述の演算器での演算を指定する指定スイッチ１６
ｂとに分けて示している。
端子１７については図１に示しており説明を省く。ただ
し、図１に示した選択部１６については、図２ではＩＣ
１９から出力される信号の選択を行う選択スイッチ１６
ａと後述の演算器での演算を指定する指定スイッチ１６
ｂとに分けて示している。
【００２３】また、セレクタ２１は、ＩＣ１９のピン２
０全て（実際上は電源ピンなどを除いても良い）から任
意の１ピン（信号）を選択するものである（図２ではセ
レクタ２１とピン２０とを接続する結線を省略してＡ部
分のように表現している）。セレクタ２１の数ｎは出力
端子１７（図１参照）の数に対応しており、セレクタ２
１にセレクト信号を出力する選択スイッチ１６ａの数も
ｎ個存在している。本実施例ではこのセレクタ２１の出
力信号を出力端子１７へと直接接続しただけでも、取り
出したい信号を容易に変更できるという目的を充分に達
成できるのであるが、図２の構成例ではさらに、演算器
２２を設けて使用時の利便性の向上を図っている。
０全て（実際上は電源ピンなどを除いても良い）から任
意の１ピン（信号）を選択するものである（図２ではセ
レクタ２１とピン２０とを接続する結線を省略してＡ部
分のように表現している）。セレクタ２１の数ｎは出力
端子１７（図１参照）の数に対応しており、セレクタ２
１にセレクト信号を出力する選択スイッチ１６ａの数も
ｎ個存在している。本実施例ではこのセレクタ２１の出
力信号を出力端子１７へと直接接続しただけでも、取り
出したい信号を容易に変更できるという目的を充分に達
成できるのであるが、図２の構成例ではさらに、演算器
２２を設けて使用時の利便性の向上を図っている。
【００２４】演算器２２はｎ個のセレクタ２１からの出
力を入力とし、所定の演算処理を行った後、この演算器
２２と１対１に対応した出力端子１７へ出力する。演算
器２２の指定は、対応する指定スイッチ１６ｂによって
行う。ただし、指定スイッチ１６ｂで指定できる演算は
実現上の理由で比較的簡単な演算処理（論理和や論理積
など）を行うものに限定されると思われるが、そのよう
なものであってもデバッグ時の作業効率は大幅に向上す
ることになる。
力を入力とし、所定の演算処理を行った後、この演算器
２２と１対１に対応した出力端子１７へ出力する。演算
器２２の指定は、対応する指定スイッチ１６ｂによって
行う。ただし、指定スイッチ１６ｂで指定できる演算は
実現上の理由で比較的簡単な演算処理（論理和や論理積
など）を行うものに限定されると思われるが、そのよう
なものであってもデバッグ時の作業効率は大幅に向上す
ることになる。
【００２５】また、プローブ変換装置１４にセレクタ２
１や演算器２２を設けると、それらを動作させるために
は電源部２３が必要となってくる。これは外部電源から
得ても良いのであるが、小型のバッテリーなどを用いて
実現すれば装置をそれほど大型にすることなく、電源内
蔵とすることも可能となる。
１や演算器２２を設けると、それらを動作させるために
は電源部２３が必要となってくる。これは外部電源から
得ても良いのであるが、小型のバッテリーなどを用いて
実現すれば装置をそれほど大型にすることなく、電源内
蔵とすることも可能となる。
【００２６】図３は本発明の一実施例におけるプローブ
変換装置とパソコンとの接続を示す図である。図３に示
すように、プローブ変換装置１４にはパソコン２４と接
続するするためのコネクタ部２５が設けられており、こ
のようにパソコン２４などの外部制御機器と接続するこ
とによって、パソコン２４でＩＣ１９の出力信号をサン
プリングじたり、出力端子１７から出力する信号に応じ
てタイミングよく演算器２２及びセレクタ２１をパソコ
ン２４から制御することが可能となる。これによって作
業能力及び効率を大幅に向上させることができる。
変換装置とパソコンとの接続を示す図である。図３に示
すように、プローブ変換装置１４にはパソコン２４と接
続するするためのコネクタ部２５が設けられており、こ
のようにパソコン２４などの外部制御機器と接続するこ
とによって、パソコン２４でＩＣ１９の出力信号をサン
プリングじたり、出力端子１７から出力する信号に応じ
てタイミングよく演算器２２及びセレクタ２１をパソコ
ン２４から制御することが可能となる。これによって作
業能力及び効率を大幅に向上させることができる。
【００２７】
【発明の効果】以上のように本発明は、以下に示すよう
なことを実現できるプローブ変換装置である。
なことを実現できるプローブ変換装置である。
【００２８】（１）ＩＣ及び電気基板に対して着脱可能
な構成となっており、多数のピンを備えたＩＣであって
も測定に必要な信号の取り出すことができ、電気基板に
配線やテストピンを施す必要がなく、電気基板の小型化
を図ることができると共に、デバッグ用の配線やテスト
ピンから影響を受けずに済む。さらに、ＩＣ側に特別な
機能が必要ないので、ＩＣのピン配置が同一であれば汎
用的に使用できる。
な構成となっており、多数のピンを備えたＩＣであって
も測定に必要な信号の取り出すことができ、電気基板に
配線やテストピンを施す必要がなく、電気基板の小型化
を図ることができると共に、デバッグ用の配線やテスト
ピンから影響を受けずに済む。さらに、ＩＣ側に特別な
機能が必要ないので、ＩＣのピン配置が同一であれば汎
用的に使用できる。
【００２９】（２）デバッグ時にＩＣから取り出したい
信号を変更する場合に、使用者が選択部を操作するなど
の簡単な作業のみで、容易に変更することができるの
で、デバッグの作業効率を向上させることができる。
信号を変更する場合に、使用者が選択部を操作するなど
の簡単な作業のみで、容易に変更することができるの
で、デバッグの作業効率を向上させることができる。
【００３０】（３）演算部や外部制御機器とのインター
フェース部を設けることで、演算処理やその他の様々な
処理を行うことができ、利便性の向上を図ることができ
る。
フェース部を設けることで、演算処理やその他の様々な
処理を行うことができ、利便性の向上を図ることができ
る。
【図１】本発明の一実施例におけるプローブ変換装置の
説明図
説明図
【図２】本発明の一実施例におけるプローブ変換装置の
構成を示すブロック図
構成を示すブロック図
【図３】本発明の一実施例におけるプローブ変換装置と
パソコンとの接続を示す図
パソコンとの接続を示す図
１１ 基板（電気基板） １２ ソケット １３ 接続部 １４ プローブ変換装置 １５ 基板接続部（第２の接続部） １６ 選択部 １６ａ 選択スイッチ（第１の選択部） １６ｂ 指定スイッチ（第２の選択部） １７ 出力端子 １８ ＩＣ接続部（第１の接続部） １９ ＩＣ ２０ ピン ２１ セレクタ（セレクタ部） ２２ 演算器（演算部） ２３ 電源部 ２４ パソコン（外部制御機器） ２５ コネクタ（インターフェース部）
Claims (4)
- 【請求項１】多数のピンを備えたＩＣを電気基板上でデ
バッグする際に用いるプローブ変換装置であって、ＩＣ
と接続するための第１の接続部と、電気基板と接続する
ための第２の接続部と、ＩＣからの信号を外部測定器に
出力する出力端子とを備え、ＩＣ及び電気基板と着脱可
能に構成されていることを特徴とするプローブ変換装
置。 - 【請求項２】多数のピンを備えたＩＣを電気基板上でデ
バッグする際に用いるプローブ変換装置であって、ＩＣ
と接続するための第１の接続部と、電気基板と接続する
ための第２の接続部と、ＩＣからの信号を外部測定器に
出力する出力端子と、任意の信号を選択する選択部と、
前記選択部からの選択信号に基づいて、前記第１の接続
部から入力された信号を選択すると共に、選択した信号
を前記出力端子へ送るセレクタ部とを備え、ＩＣ及び電
気基板と着脱可能に構成されていることを特徴とするプ
ローブ変換装置。 - 【請求項３】多数のピンを備えたＩＣを電気基板上でデ
バッグする際に用いるプローブ変換装置であって、ＩＣ
と接続するための第１の接続部と、電気基板と接続する
ための第２の接続部と、ＩＣからの信号を外部測定器に
出力する出力端子と、任意の信号を選択すると第１選択
部と、演算処理を指定する第２の選択部と、前記第１の
選択部からの選択信号に基づいて、前記第１の接続部か
ら入力された信号を選択するセレクタ部と、前記セレク
タ部を介して得たＩＣからの信号を、前記第２の選択部
からの指定信号に基づいて指定された演算処理を行う共
に、演算結果を前記出力端子へ送る演算部とを備え、Ｉ
Ｃ及び電気基板と着脱可能に構成されていることを特徴
とするプローブ変換装置。 - 【請求項４】パーソナルコンピュータなどの外部制御機
器と接続するインターフェース部を備えたことを特徴と
する請求項３記載のプローブ変換装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7094873A JPH08292229A (ja) | 1995-04-20 | 1995-04-20 | プローブ変換装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7094873A JPH08292229A (ja) | 1995-04-20 | 1995-04-20 | プローブ変換装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08292229A true JPH08292229A (ja) | 1996-11-05 |
Family
ID=14122177
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7094873A Pending JPH08292229A (ja) | 1995-04-20 | 1995-04-20 | プローブ変換装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08292229A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2469903A (en) * | 2009-04-06 | 2010-11-03 | Intel Corp | Integrated circuit with Land Grid Array |
| WO2011033768A1 (ja) * | 2009-09-15 | 2011-03-24 | パナソニック株式会社 | 信号観測装置および信号観測方法 |
-
1995
- 1995-04-20 JP JP7094873A patent/JPH08292229A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2469903A (en) * | 2009-04-06 | 2010-11-03 | Intel Corp | Integrated circuit with Land Grid Array |
| GB2493234A (en) * | 2009-04-06 | 2013-01-30 | Intel Corp | Integrated circuit with Land Grid Array |
| GB2469903B (en) * | 2009-04-06 | 2013-03-20 | Intel Corp | Space and cost efficient incorporation of specialized pins on integrated circuit substrates |
| TWI411076B (zh) * | 2009-04-06 | 2013-10-01 | 英特爾股份有限公司 | 積體電路封裝，承座及系統 |
| US8834184B2 (en) | 2009-04-06 | 2014-09-16 | Intel Corporation | Space and cost efficient incorporation of specialized input-output pins on integrated circuit substrates |
| US9111927B2 (en) | 2009-04-06 | 2015-08-18 | Intel Corporation | Space and cost efficient incorporation of specialized input-output pins on integrated circuit substrates |
| US9418906B2 (en) | 2009-04-06 | 2016-08-16 | Intel Corporation | Space and cost efficient incorporation of specialized input-output pins on integrated circuit substrates |
| WO2011033768A1 (ja) * | 2009-09-15 | 2011-03-24 | パナソニック株式会社 | 信号観測装置および信号観測方法 |
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