JPH09159625A - インゴット方位測定装置 - Google Patents

インゴット方位測定装置

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JPH09159625A
JPH09159625A JP7315341A JP31534195A JPH09159625A JP H09159625 A JPH09159625 A JP H09159625A JP 7315341 A JP7315341 A JP 7315341A JP 31534195 A JP31534195 A JP 31534195A JP H09159625 A JPH09159625 A JP H09159625A
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JP
Japan
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plate
ingot
parallel
sticking
sensor
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Pending
Application number
JP7315341A
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English (en)
Inventor
Yutaka Inari
裕 稲荷
Kiyoshi Mase
精士 間瀬
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MAC SCI KK
Original Assignee
MAC SCI KK
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 インゴットの結晶格子面と貼付板の基準面と
の間を一定角度に保ってインゴットを貼付板に固定す
る。 【解決手段】 インゴット18を、その結晶格子面と貼
付板19の基準面19Aとを一定角度に保った状態で、
貼付板19に固定すると共に、平行移動機構23で貼付
板19を正確に平行移動させ、次のインゴット18を一
定角度に保った状態で貼付板19に固定するインゴット
方位測定装置21である。平行移動機構23は、貼付板
19の正確な移動の基準となる基準板28と、貼付板1
9を支持した状態で基準板28に対して貼付板19を正
確に平行移動させる平行移動部29とからなる。基準板
28にはセンサ34を設け、貼付板19の基準面19A
と基準板28との間隔を非接触状態で一定に保つ。この
センサ34により、基準面19Aや基準板28にゴミや
キズがあっても、これらの間に平行状態が保たれる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、インゴットから多
数の結晶性試料を切り出す際に、カット面が結晶格子面
に対して正確に所定の角度になるように、インゴットの
方位を測定して貼付板に固定するためのインゴット方位
測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、インゴット方位測定装置は図3
及び図4に示すように構成されている。図3はインゴッ
ト方位測定装置1を示す正面図、図4はインゴット方位
測定装置1を示す平面図である。
【0003】インゴット方位測定装置1は主に、装置本
体2と、この装置本体2に設けられた平行移動機構3と
から構成されている。
【0004】装置本体2は主に、ベース4に設置された
測角器5と、この測角器5の上側に取り付けられ平行移
動機構3を支持する支持台部6とから構成されている。
測角器5は主に、ベース4側に設置された固定筒部7
と、この固定筒部7内に回転可能に挿入された回転筒部
8と、これら固定筒部7と回転筒部8との間に設けられ
固定筒部7に対して回転筒部8を回転可能に支持する軸
受9とから構成されている。支持台部6は、回転筒部8
に一体的に取り付けられた支持板11と、基端部が支持
板11に固定された状態で後述する基準板13の一側か
ら他側に延出して設けられた位置決め用腕部12とから
構成されている。
【0005】平行移動機構3は、この支持板11上に取
り付けられた四角棒状の基準板13と、貼付板19を支
持して平行移動させる平行移動部14とから構成されて
いる。基準板13は貼付板19の正確な平行移動の基準
となるものである。平行移動部14は、貼付板19を、
その基準面19Aと基準板13との間で正確に平行状態
を保って移動させるもので、装置本体2の支持板11に
基準板13と平行に配設された2本のレール15と、こ
の2本のレール15上に摺動可能に載置され基準板13
と平行に移動する移動板16と、この移動板16を移動
させるつまみ17とから構成されている。
【0006】インゴット18は、その結晶格子面の方位
を一定角度に調整された状態で、貼付板19上に複数個
並列に貼付し固定される。この際には、インゴット18
の結晶格子面の方位を正確に測定するためにX線が用い
られる。装置本体2の一側にはX線発振機(図示せず)
が設けられ、他側にはインゴット18で回折したX線を
検出するカウンタ20が設けられている。X線発振機か
らのX線は位置決め用腕部12の先端に向けて照射され
る。
【0007】貼付板19の基準面19Aはインゴット1
8をカットする際の基準になる面で、インゴット18は
この基準面19Aに対して一定角度に調整され、貼付板
19の上面に貼付して固定される。
【0008】以上のように構成されたインゴット方位測
定装置1では、次のようにして複数のインゴット18が
貼付板19上に並列に貼付して固定される。
【0009】まず、貼付板19が、その基準面19Aを
基準板13に当接した状態で、移動板16上に取り付け
られる。次いで、インゴット18の先端部が位置決め用
腕部12の先端に当接されて大雑把な位置決めがなされ
る。この状態で、インゴット18の先端部にX線が照射
され、その反射X線がカウンタ20で検出される。これ
により、インゴット18が正確に位置決めされ、貼付板
19上に貼付して固定される。
【0010】次いで、つまみ17で移動板16が一方
(図4中の下方)へ移動される。このとき、貼付板19
の基準面19Aは基準板13に当接した状態に保たれ、
貼付板19が正確に平行移動される。そして、次のイン
ゴット18が前記同様の処理によって、基準面19Aに
対して最初のインゴット18と同じ角度で貼付板19に
固定される。
【0011】そして、複数のインゴット18が貼付板1
9の上側面に取り付けられた状態で、この貼付板19ご
とカット装置(図示せず)に装着され、各インゴット1
8がその結晶格子面とカット面とが一定の角度を保った
状態でカットされる。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前述のよう
にしてインゴット方位測定装置1でインゴット18を貼
付板19に固定する場合は次のような問題がある。
【0013】貼付板19を正確な位置に維持するために
この貼付板19の基準面19Aを基準板13に直接に接
触させるが、互いの接触面にゴミやキズ等があると、基
準面19Aが基準板13に正確に密着することができな
くなる。これにより、貼付板19の基準面19Aと基準
板13とが正確な平行状態を保つことができず、貼付板
19に固定されたインゴット18の結晶格子面と基準面
19Aとの間を一定角度に保つことができなくなる。こ
の結果、インゴット18の結晶格子面と、それがカット
された後の結晶性試料のカット面とが一定角度に保つこ
とができなくなるという問題点がある。
【0014】長期間の使用によって貼付板19の基準面
19Aや基準板13が摩耗することもあり、この場合も
前記前記同様の問題がある。
【0015】本発明は、前記事情に鑑みてなされたもの
で、貼付板の基準面と基準板との間を正確に平行状態に
保ってインゴットの結晶格子面と基準面との間を一定角
度に保つことができるインゴット方位測定装置を提供す
ることを目的とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明に係るインゴット
方位測定装置は、結晶性試料のインゴットの有する結晶
格子面の方位を測定し、その結晶格子面と貼付板の基準
面とを一定角度に保った状態で前記インゴットを貼付板
に固定すると共に、装置本体に備えた平行移動機構で前
記貼付板を正確に平行移動させ、次のインゴットを、そ
の結晶格子面と貼付板の基準面とを一定角度に保った状
態で前記貼付板に固定するインゴット方位測定装置にお
いて、前記平行移動機構が、装置本体側に設けられ前記
貼付板の正確な移動の基準となる基準板と、前記貼付板
を支持した状態でこの貼付板の基準面と前記基準板とを
対向させこの基準板に対して貼付板を正確に平行移動さ
せる平行移動部とからなり、前記貼付板の基準面と前記
基準板との間に、互いの間隔を一定に保つセンサを設け
たことを特徴とする。
【0017】本発明により、センサで貼付板の基準面と
基準板とを平行に維持する。このとき、基準面と基準板
との間隔をセンサによって非接触状態で平行に維持する
場合は、これら基準面と基準板との間にゴミやキズがあ
っても、基準面と基準板との平行状態が保たれる。
【0018】基準面と基準板とを互いに接触させて平行
を維持する場合も、センサによって平行になっているか
否かを見るため、これら基準面と基準板との間にゴミや
キズがあれば、平行状態にないことが分かり、ゴミ等を
除去することによって基準面と基準板との平行状態が保
たれる。
【0019】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施形態を添付
図面に基づいて説明する。
【0020】[第1の実施形態]図1は本実施形態に係
るインゴット方位測定装置21を示す要部正面図であ
る。このインゴット方位測定装置21は前記従来のイン
ゴット方位測定装置1とほぼ同様の構成を有している。
即ち、このインゴット方位測定装置21は主に、装置本
体22と、この装置本体22に設けられた平行移動機構
23とから構成されている。
【0021】装置本体22は主に、測角器(図示せず)
と支持台部24とから構成されている。支持台部24
は、支持板25と位置決め用腕部26とから構成されて
いる。平行移動機構23は、基準板28と平行移動部2
9とから構成されている。平行移動部29は、2本のレ
ール30と移動板31とつまみ(図示せず)とから構成
されている。移動板31の上側に貼付板19が取り付け
られ、この貼付板19の上側にインゴット18が取り付
けられる。これらの構成は前記従来のインゴット方位測
定装置1とほぼ同様である。
【0022】そして、本実施形態の基準板28は、貼付
板19と直接に接触しないように配設されている。基準
板28にはセンサ装着穴33が設けられている。このセ
ンサ装着穴33は、基準板28のうち、前記貼付板19
の基準面19Aと対向する位置に設けられている。この
センサ装着穴33の内部には、貼付板19の基準面19
Aに面してセンサ34が装着されている。このセンサ3
4は、貼付板19の基準面19Aと基準板28との間隔
を測定するためのものである。このセンサ34で基準面
19Aと基準板28との間隔を測定し、その間隔が一定
に保たれていることを確認する。これにより、貼付板1
9を平行移動機構23で移動させても、貼付板19の基
準面19Aを基準板28に対して常に正確な平行状態に
維持することができるようになる。
【0023】なお、センサ34としては所定間隔を測定
できる公知のセンサを用いる。例えば、レーザ光等の光
や超音波等を用い、対象物に反射した光等を検出して距
離を測定するセンサや、間隔の変化を静電容量の変化と
して測定できるセンサ等がある。また、前記センサ装着
穴33及びセンサ34は、貼付板19の基準面19Aに
沿って1個だけ設けても、2個以上設けてもよい。セン
サ34を2個以上設けると、基準面19Aと基準板28
との間の平行状態をより正確に維持することができるよ
うになる。
【0024】以上のように構成されたインゴット方位測
定装置21では、次のようにして複数のインゴット18
が貼付板19上に並列に貼付して固定される。
【0025】まず、貼付板19が、その基準面19Aを
基準板28に対向させた状態で、一定間隔を保って移動
板31上に取り付けられる。このとき、貼付板19はそ
の基準面19Aが基準板28に対して正確な平行状態に
なるように、センサ34で確認しながら調整される。貼
付板19が基準板28に対して正確な平行状態になった
ところで貼付板19が移動板31に固定される。
【0026】次いで、インゴット18の先端部が位置決
め用腕部26に当接することで、このインゴット18が
大雑把に位置決めされ、その後X線で正確に位置決めさ
れて、貼付板19上に貼付して固定される。
【0027】次いで、つまみで移動板31と共に貼付板
19が移動され、次のインゴット18が取り付けられ
る。この貼付板19の移動の際には、その基準面19A
は基準板28に接触せずに一定間隔が保たれる。移動後
であってインゴット18の固定前に、センサ34で基準
面19Aと基準板28との間隔及び平行状態が再確認さ
れる。
【0028】ところで、インゴット18は基準板28を
基準として貼付板19に取り付けられる。即ち、インゴ
ット18の結晶格子面を基準板28に対して一定角度に
設定した状態で、インゴット18が貼付板19に取り付
けられる。このとき、貼付板19の基準面19Aは基準
板28に対して正確に平行状態になっているので、結果
的に貼付板19の基準面19Aに対してインゴット18
の結晶格子面を一定角度に設定することになる。
【0029】このように、センサ34で基準面19Aと
基準板28との間隔及び平行状態を正確に保ってインゴ
ット18の結晶格子面と貼付板19の基準面19Aとが
間接的に一定角度に合わされた状態で、インゴット18
が貼付板19に固定される。次のインゴット18も前記
同様の処理で固定される。
【0030】そして、複数のインゴット18が貼付板1
9の上側面に取り付けられた状態で、この貼付板19ご
とカット装置(図示せず)に装着される。そして、各イ
ンゴット18は貼付板19の基準面19Aを基準にして
結晶格子面とカット面とが一定角度を保った状態でカッ
トされる。
【0031】以上のように、貼付板19の基準面19A
と基準板28との間を正確に平行状態に保つことができ
るので、インゴット18を、その結晶格子面が貼付板1
9の基準面19Aに対して正確に一定角度に保った状態
で、インゴット18を貼付板19に取り付けることがで
きるようになる。この際に、基準面19Aや基準板28
の表面にゴミやキズがある場合でも、基準面19Aと基
準板28との間を正確に平行状態に保つことができ、イ
ンゴット18の結晶格子面を貼付板19の基準面19A
に対して正確に一定角度に保つことができるようにな
る。
【0032】[第2の実施形態]以下に、本発明の第2
の実施形態を図2に基づいて説明する。本実施形態のイ
ンゴット方位測定装置41の全体構成は、前記第1の実
施形態のインゴット方位測定装置21とほぼ同様である
ため、同一部材には同一符号を付してその説明を省略す
る。
【0033】本実施形態の特徴は平行移動機構42にあ
る。この平行移動機構42は、基準板43と平行移動部
44とから構成されている。平行移動部44は、2本の
レール45と移動板46とつまみ(図示せず)とから構
成されている。
【0034】基準板43は、第1の実施形態の基準板2
8と比較して小さく形成されている。
【0035】移動板46は、全体をほぼ平板状に形成さ
れると共に、基準板43側端部に立上げ壁47が形成さ
れている。この立上げ壁47は、移動板46の上側に載
置された貼付板19よりも少し高い程度に形成されてい
る。立上げ壁47にはセンサ装着穴49が設けられてい
る。このセンサ装着穴49は、立上げ壁47のうち、移
動板46に載置された貼付板19の基準面19Aに面し
て設けられている。このセンサ装着穴49の内部には、
貼付板19の基準面19Aに面してセンサ50が設けら
れている。このセンサ50は、基準面19Aが立上げ壁
47に密着しているか否かを見るためのものである。基
準面19Aや立上げ壁47にゴミが付着していたり、キ
ズがあったりすると、基準面19Aが立上げ壁47に密
着せず、センサ50で平行状態が損われていることを確
認できる。
【0036】移動板46の基準板43側端部には、前記
立上げ壁47と共に、下方へ垂下して垂下壁51が形成
されている。この垂下壁51は基準板43に面して形成
されている。この垂下壁51の基準板43側の面にはセ
ンサ52が設けられている。このセンサ52は、基準板
43との間隔を確認するためのもので、移動板46が基
準板43に対して正確な間隔及び平行状態を保っている
かを確認できる。
【0037】そして、センサ50で貼付板19の基準面
19Aが立上げ壁47に密着していることを確認し、セ
ンサ52で垂下壁51が基準板43との間隔を一定に保
って且つ平行状態になっていることを確認する。これに
より、貼付板19の基準面19Aと基準板43とを正確
な平行状態に維持することができるようになる。
【0038】この結果、前記第1の実施形態と同様の作
用、効果を奏することができるようになる。
【0039】[変形例]前記各実施形態では、各センサ
34,50,52として非接触型のセンサを用いたが、
接触型のセンサを用いてもよい。この接触型のセンサと
しては、接触と非接触とでスイッチのオンオフを行うも
のや、電流が流れるもの等の公知のセンサを用いる。こ
のセンサを用いて基準面と基準板との平行状態を監視
し、これら基準面と基準板との間にゴミやキズがあって
平行状態にない場合はすぐにそれを是正する。これによ
り、基準面と基準板との平行状態が保たれる。
【0040】
【発明の効果】以上、詳述したように、本発明に係るイ
ンゴット方位測定装置によれば、貼付板の基準面と基準
板との間に、互いの間隔を一定に保つセンサを設けたの
で、貼付板の基準面を基準板に対して正確に平行に保つ
ことができるようになる。このとき、非接触状態で平行
を監視するセンサを用いる場合には基準面と基準板とは
互いに接触しないため、ゴミやキズがあっても、基準面
と基準板との平行状態が保たれる。
【0041】接触状態で平行を監視するセンサを用いる
場合には、基準面又は基準板にキズ等があって互いにこ
れらが互いに平行状態になっていないことがすぐに分か
り、それを是正することで、基準面と基準板との平行状
態が保たれる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態に係るインゴット方位測
定装置を示す要部正面図である。
【図2】本発明の第2実施形態に係るインゴット方位測
定装置を示す要部正面図である。
【図3】従来のインゴット方位測定装置を示す正面図で
ある。
【図4】従来のインゴット方位測定装置を示す平面図で
ある。
【符号の説明】
19:貼付板、19A:基準面、21:インゴット方位測
定装置、22:装置本体、23:平行移動機構、24:支
持台部、25:支持板、26:位置決め用腕部、28:基
準板、29:平行移動部、33:センサ装着穴、34:セ
ンサ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 結晶性試料のインゴットの有する結晶格
    子面の方位を測定し、その結晶格子面と貼付板の基準面
    とを一定角度に保った状態で前記インゴットを貼付板に
    固定すると共に、装置本体に備えた平行移動機構で前記
    貼付板を正確に平行移動させ、次のインゴットを、その
    結晶格子面と貼付板の基準面とを一定角度に保った状態
    で前記貼付板に固定するインゴット方位測定装置におい
    て、 前記平行移動機構が、装置本体側に設けられ前記貼付板
    の正確な移動の基準となる基準板と、前記貼付板を支持
    した状態でこの貼付板の基準面と前記基準板とを対向さ
    せこの基準板に対して貼付板を正確に平行移動させる平
    行移動部とからなり、 前記貼付板の基準面と前記基準板との間に、互いの間隔
    を一定に保つセンサを設けたことを特徴とするインゴッ
    ト方位測定装置。
JP7315341A 1995-12-04 1995-12-04 インゴット方位測定装置 Pending JPH09159625A (ja)

Priority Applications (1)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014013225A (ja) * 2012-07-04 2014-01-23 Toshiba It & Control Systems Corp 結晶方位測定装置
US8677777B2 (en) 2006-09-01 2014-03-25 Hoshizaki Denki Kabushiki Kaisha Flow-down-type ice making machine

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8677777B2 (en) 2006-09-01 2014-03-25 Hoshizaki Denki Kabushiki Kaisha Flow-down-type ice making machine
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Effective date: 20040601