JPH0924477A - 被溶接物の溶接状態の評価装置及びその評価方法 - Google Patents
被溶接物の溶接状態の評価装置及びその評価方法Info
- Publication number
- JPH0924477A JPH0924477A JP7173215A JP17321595A JPH0924477A JP H0924477 A JPH0924477 A JP H0924477A JP 7173215 A JP7173215 A JP 7173215A JP 17321595 A JP17321595 A JP 17321595A JP H0924477 A JPH0924477 A JP H0924477A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- welding
- welded
- data
- evaluating
- electrodes
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating And Analyzing Materials By Characteristic Methods (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 フラッシュはその飛び方にバラツキが見受け
られ、良品と評価された被溶接物にも溶接品質，強度な
どのバラツキが存在し、かかる被溶接物を組み込んだ製
品の安定した品質，信頼性を確保することが難しい。 【解決手段】 開放端１ａを有するリング状の被溶接物
１のそれぞれの端部を挟持する電極２，３、電極２，３
に接続したコントロ−ラ４及び少なくとも一方の電極３
を、被溶接物１の溶接作業に関連して被溶接物１の開放
端１ａの間隔を変更させる移動手段を含むフラッシュバ
ット溶接装置と、電極２，３に接続した電圧検出手段８
と、電圧検出手段の出力をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換手
段と、Ａ／Ｄ変換デ−タをメモリに格納し、そのデ−タ
に基づいて演算処理することにより、溶接状態を評価す
る制御手段とを具備し、前記被溶接物の溶接期間に検出
した電極間電圧をＡ／Ｄ変換し、Ａ／Ｄ変換デ−タの演
算処理に基づいて溶接状態を評価する。評価結果は次の
被溶接物の溶接にフィ−ドバックされ、それに基づいて
サ−ボモ−タ６Ａを含む移動手段が制御される。
られ、良品と評価された被溶接物にも溶接品質，強度な
どのバラツキが存在し、かかる被溶接物を組み込んだ製
品の安定した品質，信頼性を確保することが難しい。 【解決手段】 開放端１ａを有するリング状の被溶接物
１のそれぞれの端部を挟持する電極２，３、電極２，３
に接続したコントロ−ラ４及び少なくとも一方の電極３
を、被溶接物１の溶接作業に関連して被溶接物１の開放
端１ａの間隔を変更させる移動手段を含むフラッシュバ
ット溶接装置と、電極２，３に接続した電圧検出手段８
と、電圧検出手段の出力をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換手
段と、Ａ／Ｄ変換デ−タをメモリに格納し、そのデ−タ
に基づいて演算処理することにより、溶接状態を評価す
る制御手段とを具備し、前記被溶接物の溶接期間に検出
した電極間電圧をＡ／Ｄ変換し、Ａ／Ｄ変換デ−タの演
算処理に基づいて溶接状態を評価する。評価結果は次の
被溶接物の溶接にフィ−ドバックされ、それに基づいて
サ−ボモ−タ６Ａを含む移動手段が制御される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は被溶接物の溶接状
態の評価装置及びその評価方法に関し、特にフラッシュ
バット溶接装置を用いてほぼリング状の被溶接物を連続
的に溶接して所定の工程に供給する製造ラインにおい
て、流れの中で被溶接物の溶接状態を短時間で精度よく
評価・判定できる評価装置及びその評価方法に関する。
態の評価装置及びその評価方法に関し、特にフラッシュ
バット溶接装置を用いてほぼリング状の被溶接物を連続
的に溶接して所定の工程に供給する製造ラインにおい
て、流れの中で被溶接物の溶接状態を短時間で精度よく
評価・判定できる評価装置及びその評価方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、フラッシュバット溶接装置は、
例えば図９に示すように構成されている。同図におい
て、１は開放端１ａを有するほぼリング状の被溶接物で
あって、例えばスチ−ルなどにて形成されている。この
被溶接物１のそれぞれの端部は、対をなす第１，第２の
電極２，３にて挟持されており、特に、被溶接物１の端
部に当接する第１，第２の電極２，３部分は銅よりなる
チップ電極２ａ，３ａにて構成されている。そして、こ
の第１，第２の電極２，３には溶接電圧などを印加する
コントロ−ラ４が接続されている。一方、第２の電極３
側には傾斜面を有するカム５が配置されており、モ−タ
６の回転によって図示矢印Ａの方向に直線的に移動す
る。このカム５の傾斜面には第２の電極３より延びるア
−ムの先端に装着したカムフォロア−７がバネを利用し
て弾性的に当接されており、カム５がＡ方向に移動する
ことによって電極３は図示矢印Ｂの方向に移動する。
例えば図９に示すように構成されている。同図におい
て、１は開放端１ａを有するほぼリング状の被溶接物で
あって、例えばスチ−ルなどにて形成されている。この
被溶接物１のそれぞれの端部は、対をなす第１，第２の
電極２，３にて挟持されており、特に、被溶接物１の端
部に当接する第１，第２の電極２，３部分は銅よりなる
チップ電極２ａ，３ａにて構成されている。そして、こ
の第１，第２の電極２，３には溶接電圧などを印加する
コントロ−ラ４が接続されている。一方、第２の電極３
側には傾斜面を有するカム５が配置されており、モ−タ
６の回転によって図示矢印Ａの方向に直線的に移動す
る。このカム５の傾斜面には第２の電極３より延びるア
−ムの先端に装着したカムフォロア−７がバネを利用し
て弾性的に当接されており、カム５がＡ方向に移動する
ことによって電極３は図示矢印Ｂの方向に移動する。
【０００３】次に、このフラッシュバット溶接装置によ
る溶接方法について説明する。まず、第１，第２の電極
２，３に被溶接物１の端部を挟持する。次に、コントロ
−ラ４から第１，第２の電極２，３に所定の溶接電圧を
印加する。この状態において、モ−タ６を駆動させてカ
ム５を実線矢印方向Ａに移動させると、カムフォロア−
７はカム５の傾斜面に沿って回転すると同時に、傾斜面
から押圧力を受けてア−ムを介して第２の電極３を実線
矢印方向Ｂに移動させる。この結果、被溶接物１の開放
端は当接される。次に、モ−タ６を逆回転させると、カ
ム５は点線矢印Ａの方向に移動すると共に、第２の電極
３も点線矢印Ｂの方向に移動する。このために、被溶接
物１には再び開放端１ａが形成されるのであるが、これ
と同時に端部間にフラッシュ（ア−ク放電）が生成され
る。尚、フラッシュは被溶接物１の開放端が当接される
と同時に当接部分の部材がスパッタリングして発生する
こともある。このフラッシュによって被溶接物１の端部
は加熱され始める。次に、モ−タ６は、被溶接物１のフ
ラッシュが持続されるように、再び正回転し第２の電極
３が一定の速度で第１の電極２に向けて接近するように
制御される。そして、被溶接物１の端部が十分に加熱・
軟化された状態になったならば、モ−タ６をさらに回転
させて被溶接物１のそれぞれの端部を数サイクル程度の
時間だけ圧接させる。これによって被溶接物１のフラッ
シュバット溶接を完了する。
る溶接方法について説明する。まず、第１，第２の電極
２，３に被溶接物１の端部を挟持する。次に、コントロ
−ラ４から第１，第２の電極２，３に所定の溶接電圧を
印加する。この状態において、モ−タ６を駆動させてカ
ム５を実線矢印方向Ａに移動させると、カムフォロア−
７はカム５の傾斜面に沿って回転すると同時に、傾斜面
から押圧力を受けてア−ムを介して第２の電極３を実線
矢印方向Ｂに移動させる。この結果、被溶接物１の開放
端は当接される。次に、モ−タ６を逆回転させると、カ
ム５は点線矢印Ａの方向に移動すると共に、第２の電極
３も点線矢印Ｂの方向に移動する。このために、被溶接
物１には再び開放端１ａが形成されるのであるが、これ
と同時に端部間にフラッシュ（ア−ク放電）が生成され
る。尚、フラッシュは被溶接物１の開放端が当接される
と同時に当接部分の部材がスパッタリングして発生する
こともある。このフラッシュによって被溶接物１の端部
は加熱され始める。次に、モ−タ６は、被溶接物１のフ
ラッシュが持続されるように、再び正回転し第２の電極
３が一定の速度で第１の電極２に向けて接近するように
制御される。そして、被溶接物１の端部が十分に加熱・
軟化された状態になったならば、モ−タ６をさらに回転
させて被溶接物１のそれぞれの端部を数サイクル程度の
時間だけ圧接させる。これによって被溶接物１のフラッ
シュバット溶接を完了する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述の溶接
方法によれば、フラッシュバット溶接時には大きな溶接
電流が流れることにより、リング状の被溶接物１を短時
間に溶接できるために、溶接作業を能率的に行なうこと
ができるという特徴を有するものの、次のような問題が
ある。
方法によれば、フラッシュバット溶接時には大きな溶接
電流が流れることにより、リング状の被溶接物１を短時
間に溶接できるために、溶接作業を能率的に行なうこと
ができるという特徴を有するものの、次のような問題が
ある。
【０００５】即ち、この溶接方法では、第１，第２の電
極２，３に被溶接物１を何回も挟持させることによって
チップ電極２ａ，３ａが磨耗し、その磨耗の仕方がフラ
ッシュの発生に微妙に影響を及ぼしている。従って、経
験的に溶接状態が低下していると判断された場合には、
チップ電極２ａ，３ａを交換しているが、個々の被溶接
物１におけるフラッシュの発生の仕方（フラッシュ飛び
率）にはかなりのバラツキが見られ、溶接品質，強度な
どにもバラツキが存在して安定した品質を保証し難いと
いう問題がある。
極２，３に被溶接物１を何回も挟持させることによって
チップ電極２ａ，３ａが磨耗し、その磨耗の仕方がフラ
ッシュの発生に微妙に影響を及ぼしている。従って、経
験的に溶接状態が低下していると判断された場合には、
チップ電極２ａ，３ａを交換しているが、個々の被溶接
物１におけるフラッシュの発生の仕方（フラッシュ飛び
率）にはかなりのバラツキが見られ、溶接品質，強度な
どにもバラツキが存在して安定した品質を保証し難いと
いう問題がある。
【０００６】ところで、このフラッシュ飛び率は溶接品
質，強度，信頼性に大きく影響を及ぼすことが知られて
いることから、フラッシュ飛び率を高めるための種々の
工夫がなされている。例えば経験的な知見からカム５を
等速で移動させることが多く採用されている。
質，強度，信頼性に大きく影響を及ぼすことが知られて
いることから、フラッシュ飛び率を高めるための種々の
工夫がなされている。例えば経験的な知見からカム５を
等速で移動させることが多く採用されている。
【０００７】しかしながら、この方法によれば、ある程
度は改善できるものの、フラッシュの発生に影響を及ぼ
す要因が多く、仮にカム５を等速で移動させていてもフ
ラッシュの飛び方にバラツキが見受けられ、良品と評価
された被溶接物にも溶接品質，強度などにはバラツキが
存在し、かかる被溶接物を組み込んだ製品の安定した品
質，信頼性を確保することが難しいという問題がある。
度は改善できるものの、フラッシュの発生に影響を及ぼ
す要因が多く、仮にカム５を等速で移動させていてもフ
ラッシュの飛び方にバラツキが見受けられ、良品と評価
された被溶接物にも溶接品質，強度などにはバラツキが
存在し、かかる被溶接物を組み込んだ製品の安定した品
質，信頼性を確保することが難しいという問題がある。
【０００８】それ故に、本発明の目的は、比較的に簡単
な構成によって被溶接物の溶接状態を短時間内に精度よ
く適正に評価できる被溶接物の溶接状態の評価装置及び
その評価方法を提供することにある。
な構成によって被溶接物の溶接状態を短時間内に精度よ
く適正に評価できる被溶接物の溶接状態の評価装置及び
その評価方法を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】従って、本発明は、上述
の目的を達成するために、開放端を有するリング状の被
溶接物のそれぞれの端部を挟持する一対の電極、一対の
電極に接続したコントロ−ラ及び少なくとも一方の電極
を、被溶接物の溶接作業に関連して被溶接物の開放端の
間隔を変更させる移動手段を含むフラッシュバット溶接
装置と、一対の電極に接続した電圧検出手段と、電圧検
出手段の出力をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換手段と、Ａ／
Ｄ変換デ−タをメモリに格納し、そのデ−タに基づいて
演算処理することにより、溶接状態を評価する制御手段
とを具備し、前記被溶接物の溶接期間に検出した電極間
電圧をＡ／Ｄ変換し、Ａ／Ｄ変換デ−タの演算処理に基
づいて溶接状態を評価するものである。
の目的を達成するために、開放端を有するリング状の被
溶接物のそれぞれの端部を挟持する一対の電極、一対の
電極に接続したコントロ−ラ及び少なくとも一方の電極
を、被溶接物の溶接作業に関連して被溶接物の開放端の
間隔を変更させる移動手段を含むフラッシュバット溶接
装置と、一対の電極に接続した電圧検出手段と、電圧検
出手段の出力をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換手段と、Ａ／
Ｄ変換デ−タをメモリに格納し、そのデ−タに基づいて
演算処理することにより、溶接状態を評価する制御手段
とを具備し、前記被溶接物の溶接期間に検出した電極間
電圧をＡ／Ｄ変換し、Ａ／Ｄ変換デ−タの演算処理に基
づいて溶接状態を評価するものである。
【００１０】又、本発明の第２の発明は、開放端を有す
るリング状の被溶接物のそれぞれの端部を挟持する一対
の電極、一対の電極に接続したコントロ−ラ及び少なく
とも一方の電極を、被溶接物の溶接作業に関連して被溶
接物の開放端の間隔を変更させる移動手段を含むフラッ
シュバット溶接装置と、一対の電極に接続した電圧検出
手段と、電圧検出手段の出力をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変
換手段と、Ａ／Ｄ変換デ−タをメモリに格納し、そのデ
−タに基づいて演算処理することにより、溶接状態を評
価する制御手段とを具備し、前記移動手段は、制御手段
からの評価デ−タに基づいて電極の移動条件を決定する
サ−ボ制御手段と、サ−ボ制御手段からの信号に基づい
て駆動するサ−ボ駆動回路と、サ−ボ駆動回路からの信
号に基づいて駆動するサ−ボモ−タとを含み、サ−ボモ
−タの回転に基づいて被溶接物の開放端の間隔を適宜に
変更させるものである。
るリング状の被溶接物のそれぞれの端部を挟持する一対
の電極、一対の電極に接続したコントロ−ラ及び少なく
とも一方の電極を、被溶接物の溶接作業に関連して被溶
接物の開放端の間隔を変更させる移動手段を含むフラッ
シュバット溶接装置と、一対の電極に接続した電圧検出
手段と、電圧検出手段の出力をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変
換手段と、Ａ／Ｄ変換デ−タをメモリに格納し、そのデ
−タに基づいて演算処理することにより、溶接状態を評
価する制御手段とを具備し、前記移動手段は、制御手段
からの評価デ−タに基づいて電極の移動条件を決定する
サ−ボ制御手段と、サ−ボ制御手段からの信号に基づい
て駆動するサ−ボ駆動回路と、サ−ボ駆動回路からの信
号に基づいて駆動するサ−ボモ−タとを含み、サ−ボモ
−タの回転に基づいて被溶接物の開放端の間隔を適宜に
変更させるものである。
【００１１】又、本発明の第３の発明は、所定の判定条
件を設定するステップと、電圧検出手段の初期値に対し
てトリガ−レベルを設定するステップと、フラッシュバ
ット溶接装置の駆動に関連して電圧検出手段から出力さ
れる電圧を一定の時間間隔でＡ／Ｄ変換し、メモリに格
納するステップと、メモリに格納されたデ−タを判定条
件に基づいて解析するステップと、解析ステップの解析
結果に基づいてフラッシュバット溶接状態を評価・判定
するステップとを含むことを特徴とする被溶接物の溶接
状態の評価方法であり、第４の発明は、前記トリガ−レ
ベルの設定ステップは、被溶接物にフラッシュ電流が流
れていない無負荷状態での電圧検出手段の出力電圧に基
づくＡ／Ｄ変換デ−タを取り込むステップと、Ａ／Ｄ変
換デ−タに定数を乗算するステップとを含むことを特徴
とする。
件を設定するステップと、電圧検出手段の初期値に対し
てトリガ−レベルを設定するステップと、フラッシュバ
ット溶接装置の駆動に関連して電圧検出手段から出力さ
れる電圧を一定の時間間隔でＡ／Ｄ変換し、メモリに格
納するステップと、メモリに格納されたデ−タを判定条
件に基づいて解析するステップと、解析ステップの解析
結果に基づいてフラッシュバット溶接状態を評価・判定
するステップとを含むことを特徴とする被溶接物の溶接
状態の評価方法であり、第４の発明は、前記トリガ−レ
ベルの設定ステップは、被溶接物にフラッシュ電流が流
れていない無負荷状態での電圧検出手段の出力電圧に基
づくＡ／Ｄ変換デ−タを取り込むステップと、Ａ／Ｄ変
換デ−タに定数を乗算するステップとを含むことを特徴
とする。
【００１２】さらに、本発明の第５の発明は、所定の判
定条件を設定するステップと、電圧検出手段の初期値に
対してトリガ−レベルを設定するステップと、フラッシ
ュバット溶接装置の駆動に関連して電圧検出手段から出
力される電圧を一定の時間間隔でＡ／Ｄ変換し、メモリ
に格納するステップと、メモリに格納されたデ−タを判
定条件に基づいて解析するステップと、解析ステップの
解析結果に基づいてフラッシュバット溶接状態を評価・
判定するステップと、判定結果を外部機器に対して出力
するステップとを含み、前記判定結果を溶接開始までの
いずれかのステップにフィ−ドバックすることを特徴と
する。
定条件を設定するステップと、電圧検出手段の初期値に
対してトリガ−レベルを設定するステップと、フラッシ
ュバット溶接装置の駆動に関連して電圧検出手段から出
力される電圧を一定の時間間隔でＡ／Ｄ変換し、メモリ
に格納するステップと、メモリに格納されたデ−タを判
定条件に基づいて解析するステップと、解析ステップの
解析結果に基づいてフラッシュバット溶接状態を評価・
判定するステップと、判定結果を外部機器に対して出力
するステップとを含み、前記判定結果を溶接開始までの
いずれかのステップにフィ−ドバックすることを特徴と
する。
【００１３】
【発明の実施の形態】次に、本発明の１実施例について
図１〜図３を参照して説明する。尚、図９と同一部分に
は同一参照符号を付し、その詳細な説明は省略する。同
図において、８は第１，第２の電極２，３のチップ電極
２ａ，３ａに直接的又は間接的に接続された電圧検出手
段であって、Ａ／Ｄ変換手段９，バスライン１０を介し
て制御手段１１に接続されている。又、第２の電極３よ
り延びるア−ムに固定されたカムフォロア−７は、カム
５Ａの二次曲面に当接されており、このカム５Ａはサ−
ボモ−タ６Ａによって図示矢印Ａの方向に移動制御され
ると共に、第２の電極３は図示矢印Ｂの方向に移動制御
される。尚、カム面の形状は、後述するように、評価結
果がフィ−ドバックされ、そのデ−タに基づいて制御さ
れる関係で、如何様にも形成できる。上述のサ−ボモ−
タ６Ａはサ−ボ駆動回路１２を介してサ−ボ制御手段１
３に接続されている。そして、このサ−ボ制御手段１３
はＩ／Ｏインタ−フェ−ス１４を介して制御手段１１と
の間で信号，デ−タなどの授受が行なわれる。尚、この
制御手段１１には、バスライン１０を介してフロッピ−
ディスク又はディスク１５，キ−ボ−ド１６，ＣＲＴな
どの表示装置１７などに接続されている。
図１〜図３を参照して説明する。尚、図９と同一部分に
は同一参照符号を付し、その詳細な説明は省略する。同
図において、８は第１，第２の電極２，３のチップ電極
２ａ，３ａに直接的又は間接的に接続された電圧検出手
段であって、Ａ／Ｄ変換手段９，バスライン１０を介し
て制御手段１１に接続されている。又、第２の電極３よ
り延びるア−ムに固定されたカムフォロア−７は、カム
５Ａの二次曲面に当接されており、このカム５Ａはサ−
ボモ−タ６Ａによって図示矢印Ａの方向に移動制御され
ると共に、第２の電極３は図示矢印Ｂの方向に移動制御
される。尚、カム面の形状は、後述するように、評価結
果がフィ−ドバックされ、そのデ−タに基づいて制御さ
れる関係で、如何様にも形成できる。上述のサ−ボモ−
タ６Ａはサ−ボ駆動回路１２を介してサ−ボ制御手段１
３に接続されている。そして、このサ−ボ制御手段１３
はＩ／Ｏインタ−フェ−ス１４を介して制御手段１１と
の間で信号，デ−タなどの授受が行なわれる。尚、この
制御手段１１には、バスライン１０を介してフロッピ−
ディスク又はディスク１５，キ−ボ−ド１６，ＣＲＴな
どの表示装置１７などに接続されている。
【００１４】この装置は次のように動作する。まず、第
１，第２の電極２，３に被溶接物１を挟持させ、サ−ボ
モ−タ６Ａの回転によりカム５Ａを実線矢印Ａの方向に
移動させると共に、第２の電極３を実線矢印Ｂの方向に
移動させる。これによって、被溶接物１の開放端１ａが
当接される。次に、サ−ボモ−タ６Ａを逆転させること
によって被溶接物１の端部を再び開放（図３のｔ0 ）さ
せると、例えば図３に示すようにｎ3 ，ｎ4 ，ｎ6 ，ｎ
7 ・・・の半サイクルでフラッシュが発生する。これに
伴って、サ−ボモ−タ６Ａを所定の速度で正転させる。
尚、サ−ボモ−タ６Ａはサ−ボ制御手段１３及び制御手
段１１からの制御信号に基づいて制御される。そして、
ｔ0 以降の電圧（電極間電圧）は電圧検出手段８によっ
て検出され、Ａ／Ｄ変換手段９にて一定の時間間隔（例
えば５μｓｅｃ）でＡ／Ｄ変換され、バスライン１０を
介して制御手段１１のメモリに格納されると共に、ディ
スク１５にも記憶される。次に、被溶接物１の端部がフ
ラッシュによって加熱・軟化されると、ｔn において被
溶接物１の端部を例えば数サイクル圧接（ｔn 〜ｔ
n+5 ）してフラッシュバット溶接を完了する。然る後、
制御手段１１のメモリに格納されたデ−タは、後述する
判定条件に基づいて適宜に演算処理されて被溶接物の溶
接状態が評価・判定される。尚、制御手段１１には、予
め、キ−ボ−ド１６から後述の判定条件が入力されてい
る。そして、評価結果は次の被溶接物の溶接条件（カム
５Ａの移動速度など）に反映（フィ−ドバック）される
他、例えば表示装置１７に表示される。特に、判定が不
合格の場合には、被溶接物が不合格である旨の警報（警
報ランプの点滅，ブザ−の作動など）が図示しないＩ／
Ｏインタ−フェ−スを介して外部機器（警報ランプ，ブ
ザ−など）に対して出力される。
１，第２の電極２，３に被溶接物１を挟持させ、サ−ボ
モ−タ６Ａの回転によりカム５Ａを実線矢印Ａの方向に
移動させると共に、第２の電極３を実線矢印Ｂの方向に
移動させる。これによって、被溶接物１の開放端１ａが
当接される。次に、サ−ボモ−タ６Ａを逆転させること
によって被溶接物１の端部を再び開放（図３のｔ0 ）さ
せると、例えば図３に示すようにｎ3 ，ｎ4 ，ｎ6 ，ｎ
7 ・・・の半サイクルでフラッシュが発生する。これに
伴って、サ−ボモ−タ６Ａを所定の速度で正転させる。
尚、サ−ボモ−タ６Ａはサ−ボ制御手段１３及び制御手
段１１からの制御信号に基づいて制御される。そして、
ｔ0 以降の電圧（電極間電圧）は電圧検出手段８によっ
て検出され、Ａ／Ｄ変換手段９にて一定の時間間隔（例
えば５μｓｅｃ）でＡ／Ｄ変換され、バスライン１０を
介して制御手段１１のメモリに格納されると共に、ディ
スク１５にも記憶される。次に、被溶接物１の端部がフ
ラッシュによって加熱・軟化されると、ｔn において被
溶接物１の端部を例えば数サイクル圧接（ｔn 〜ｔ
n+5 ）してフラッシュバット溶接を完了する。然る後、
制御手段１１のメモリに格納されたデ−タは、後述する
判定条件に基づいて適宜に演算処理されて被溶接物の溶
接状態が評価・判定される。尚、制御手段１１には、予
め、キ−ボ−ド１６から後述の判定条件が入力されてい
る。そして、評価結果は次の被溶接物の溶接条件（カム
５Ａの移動速度など）に反映（フィ−ドバック）される
他、例えば表示装置１７に表示される。特に、判定が不
合格の場合には、被溶接物が不合格である旨の警報（警
報ランプの点滅，ブザ−の作動など）が図示しないＩ／
Ｏインタ−フェ−スを介して外部機器（警報ランプ，ブ
ザ−など）に対して出力される。
【００１５】次に、この装置による被溶接物の溶接状態
の評価方法について図３〜図４を参照して説明する。ま
ず、被溶接物の溶接状態を判定するための条件を設定す
る（ステップＳ１）。このステップＳ１では、溶接状態
の評価項目（判定項目）として、平均フラッシュ飛び
率、溶接時間、最初にフラッシュが飛んだ位置（時
間）が対象となる。平均フラッシュ飛び率は、溶接品
質などへの影響力の大きな要素の一つであり、図３にお
いてｎ3 ，ｎ4 ，ｎ6 ・・・の半サイクルでのフラッシ
ュ発生を移動平均によって平均フラッシュ飛び率を演算
し、溶接状態を評価する一つの指標となる。例えば２５
％が一つの目安となる。溶接時間は、デ−タ数とサン
プリング時間（例えば５μｓｅｃ）との積で表すことが
でき、これによって溶接作業における実質的なフラッシ
ュ時間，圧接時間を知ることができ、溶接状態を評価す
る一つの指標となる。最初にフラッシュが飛んだ位置
（時間）も評価の一つの指標となる。このような評価項
目に対する判定条件は、経験的，統計的数値から決定さ
れ、キ−ボ−ド１６から制御手段１１に入力される。そ
して、ステップＳ２では、フラッシュバット溶接装置が
駆動したことを電圧検出手段８が確認することのできる
トリガ−レベルを設定する。次いで、溶接が開始された
か否かが判断される（ステップＳ３）。溶接が開始され
た場合には、電圧検出手段８からの出力電圧（図３にお
いて、ｔ0 〜ｔn+5 までの電圧）がＡ／Ｄ変換手段９に
よって一定の時間間隔（例えば５μｓｅｃ）でＡ／Ｄ変
換され、バスライン１０を介して制御手段１１のメモリ
内に格納される（ステップＳ４）。そして、ステップＳ
５では、溶接が終了したか否かが判断される。溶接が終
了した場合には、メモリ内のデ−タをステップＳ１の判
定条件に基づいて演算処理し、解析する（ステップＳ
６）。一方、溶接が終了していない場合には、ステップ
Ｓ４に戻る。次いで、ステップＳ７では、ステップＳ６
での解析結果に基づいて上述の３項目の判定項目がそれ
ぞれの判定条件を満たしているか否かを判断し、最終的
に合否を判定する（ステップＳ７）。そして、判定結果
は、例えば表示装置１７に表示されると共に、被溶接物
の溶接状態が不合格の場合にはＩ／Ｏインタ−フェ−ス
を介して外部機器に不良であることの警報が、例えば警
報ランプの点滅，ブザ−の作動によって報知される。こ
の判定結果は、ステップＳ２に戻される。ステップＳ２
では、フィ−ドバックされた結果に基づいてトリガ−レ
ベルが再設定され、以下、新しく設定されたトリガ−レ
ベルによって処理されるみとになる。尚、判定結果はス
テップＳ１にフィ−ドバックさせ、判定条件を再設定す
るようにすることもできる。
の評価方法について図３〜図４を参照して説明する。ま
ず、被溶接物の溶接状態を判定するための条件を設定す
る（ステップＳ１）。このステップＳ１では、溶接状態
の評価項目（判定項目）として、平均フラッシュ飛び
率、溶接時間、最初にフラッシュが飛んだ位置（時
間）が対象となる。平均フラッシュ飛び率は、溶接品
質などへの影響力の大きな要素の一つであり、図３にお
いてｎ3 ，ｎ4 ，ｎ6 ・・・の半サイクルでのフラッシ
ュ発生を移動平均によって平均フラッシュ飛び率を演算
し、溶接状態を評価する一つの指標となる。例えば２５
％が一つの目安となる。溶接時間は、デ−タ数とサン
プリング時間（例えば５μｓｅｃ）との積で表すことが
でき、これによって溶接作業における実質的なフラッシ
ュ時間，圧接時間を知ることができ、溶接状態を評価す
る一つの指標となる。最初にフラッシュが飛んだ位置
（時間）も評価の一つの指標となる。このような評価項
目に対する判定条件は、経験的，統計的数値から決定さ
れ、キ−ボ−ド１６から制御手段１１に入力される。そ
して、ステップＳ２では、フラッシュバット溶接装置が
駆動したことを電圧検出手段８が確認することのできる
トリガ−レベルを設定する。次いで、溶接が開始された
か否かが判断される（ステップＳ３）。溶接が開始され
た場合には、電圧検出手段８からの出力電圧（図３にお
いて、ｔ0 〜ｔn+5 までの電圧）がＡ／Ｄ変換手段９に
よって一定の時間間隔（例えば５μｓｅｃ）でＡ／Ｄ変
換され、バスライン１０を介して制御手段１１のメモリ
内に格納される（ステップＳ４）。そして、ステップＳ
５では、溶接が終了したか否かが判断される。溶接が終
了した場合には、メモリ内のデ−タをステップＳ１の判
定条件に基づいて演算処理し、解析する（ステップＳ
６）。一方、溶接が終了していない場合には、ステップ
Ｓ４に戻る。次いで、ステップＳ７では、ステップＳ６
での解析結果に基づいて上述の３項目の判定項目がそれ
ぞれの判定条件を満たしているか否かを判断し、最終的
に合否を判定する（ステップＳ７）。そして、判定結果
は、例えば表示装置１７に表示されると共に、被溶接物
の溶接状態が不合格の場合にはＩ／Ｏインタ−フェ−ス
を介して外部機器に不良であることの警報が、例えば警
報ランプの点滅，ブザ−の作動によって報知される。こ
の判定結果は、ステップＳ２に戻される。ステップＳ２
では、フィ−ドバックされた結果に基づいてトリガ−レ
ベルが再設定され、以下、新しく設定されたトリガ−レ
ベルによって処理されるみとになる。尚、判定結果はス
テップＳ１にフィ−ドバックさせ、判定条件を再設定す
るようにすることもできる。
【００１６】上述のトリガ−レベルを設定するステップ
Ｓ２は、具体的には図５に示すように細分化されてい
る。即ち、まず、第１，第２の電極２，３に被溶接物１
がクランプされているか否かの判断がなされる（ステッ
プＳ２−１）。クランプされていると、無負荷状態にお
ける電圧検出手段８からの出力電圧をＡ／Ｄ変換手段９
にてＡ／Ｄ変換し、Ａ／Ｄ変換デ−タを取り込む（ステ
ップＳ２−２）。そして、このＡ／Ｄ変換デ−タに定数
を乗算することによってトリガ−レベルが設定される
（ステップＳ２−３）。尚、Ａ／Ｄ変換デ−タに乗算す
る定数は、例えば１．２が用いられている。
Ｓ２は、具体的には図５に示すように細分化されてい
る。即ち、まず、第１，第２の電極２，３に被溶接物１
がクランプされているか否かの判断がなされる（ステッ
プＳ２−１）。クランプされていると、無負荷状態にお
ける電圧検出手段８からの出力電圧をＡ／Ｄ変換手段９
にてＡ／Ｄ変換し、Ａ／Ｄ変換デ−タを取り込む（ステ
ップＳ２−２）。そして、このＡ／Ｄ変換デ−タに定数
を乗算することによってトリガ−レベルが設定される
（ステップＳ２−３）。尚、Ａ／Ｄ変換デ−タに乗算す
る定数は、例えば１．２が用いられている。
【００１７】又、上述のメモリ内デ−タの解析ステップ
Ｓ６は、具体的には図６に示すように細分化されてい
る。即ち、まず、図３に示すように、電圧検出手段８に
よって検出された電圧に基づくデ−タについてどの区間
でフラッシュが発生したかの判断が容易になるように、
区間ｔ0 ，ｔ1 ，ｔ2 ，ｔ3 ，・・・を設定する（ステ
ップＳ６−１）。次に、Ａ／Ｄ変換手段９からのサンプ
リングデ−タを微分する。ｔ0 〜ｔ1 の区間ではフラッ
シュが発生していないので、個々のサンプリングデ−タ
の微分値は小さいが、ｔ2 〜ｔ3 の区間ではフラッシュ
が発生しているので、個々のサンプリングデ−タの微分
値は前記区間より大きい。従って、この微分値に一定の
基準値を設ける（ステップＳ６−２）。次に、この判定
基準値に基づいてそれぞれの区間でのフラッシュの発生
の有無を判定する（ステップＳ６−３）。図３に基づい
てフラッシュの発生の有無を判定すると、図７に示すよ
うになる。同図において、「１」はフラッシュが発生し
ていることを、「０」はフラッシュが発生していないこ
とを示す。次に、図７に示す判定結果に基づいて移動平
均にてフラッシュ飛び率を求める（ステップＳ６−
４）。図７において、例えばｎ1 〜ｎ4 までのフラッシ
ュ飛び率を求め、次いでｎ2 〜ｎ5 までのフラッシュ飛
び率を求める。以下、一つずつずらしながらフラッシュ
飛び率を求める。これを図表化すると図８に示すように
なる。このフラッシュ飛び率の判定基準値としては例え
ば２５％が設定されており、ステップＳ７においてこの
判定基準値を１個所でも下回るものについては不合格の
判定がなされる。
Ｓ６は、具体的には図６に示すように細分化されてい
る。即ち、まず、図３に示すように、電圧検出手段８に
よって検出された電圧に基づくデ−タについてどの区間
でフラッシュが発生したかの判断が容易になるように、
区間ｔ0 ，ｔ1 ，ｔ2 ，ｔ3 ，・・・を設定する（ステ
ップＳ６−１）。次に、Ａ／Ｄ変換手段９からのサンプ
リングデ−タを微分する。ｔ0 〜ｔ1 の区間ではフラッ
シュが発生していないので、個々のサンプリングデ−タ
の微分値は小さいが、ｔ2 〜ｔ3 の区間ではフラッシュ
が発生しているので、個々のサンプリングデ−タの微分
値は前記区間より大きい。従って、この微分値に一定の
基準値を設ける（ステップＳ６−２）。次に、この判定
基準値に基づいてそれぞれの区間でのフラッシュの発生
の有無を判定する（ステップＳ６−３）。図３に基づい
てフラッシュの発生の有無を判定すると、図７に示すよ
うになる。同図において、「１」はフラッシュが発生し
ていることを、「０」はフラッシュが発生していないこ
とを示す。次に、図７に示す判定結果に基づいて移動平
均にてフラッシュ飛び率を求める（ステップＳ６−
４）。図７において、例えばｎ1 〜ｎ4 までのフラッシ
ュ飛び率を求め、次いでｎ2 〜ｎ5 までのフラッシュ飛
び率を求める。以下、一つずつずらしながらフラッシュ
飛び率を求める。これを図表化すると図８に示すように
なる。このフラッシュ飛び率の判定基準値としては例え
ば２５％が設定されており、ステップＳ７においてこの
判定基準値を１個所でも下回るものについては不合格の
判定がなされる。
【００１８】尚、本発明は何ら上記実施例にのみ制約さ
れることなく、例えばフラッシュの有無の判断にはフラ
ッシュしていない区間のサンプリングデ−タの微分値を
基準として比較判断する他、フラッシュしていない区間
のサンプリングデ−タの積分値（面積）を基準として比
較判断することもできる。又、区間の設定はゼロクロス
点としたが、任意に設定できる。又、判定結果は溶接開
始ステップまでであればどのステップにフィ−ドバック
させてもよい。さらに、電圧検出手段からの信号は連続
的に出力させた後、一定の時間間隔でサンプリングして
Ａ／Ｄ変換することもできるし、又、電圧検出手段の信
号を一定の時間間隔でサンプリングすることもできる。
れることなく、例えばフラッシュの有無の判断にはフラ
ッシュしていない区間のサンプリングデ−タの微分値を
基準として比較判断する他、フラッシュしていない区間
のサンプリングデ−タの積分値（面積）を基準として比
較判断することもできる。又、区間の設定はゼロクロス
点としたが、任意に設定できる。又、判定結果は溶接開
始ステップまでであればどのステップにフィ−ドバック
させてもよい。さらに、電圧検出手段からの信号は連続
的に出力させた後、一定の時間間隔でサンプリングして
Ａ／Ｄ変換することもできるし、又、電圧検出手段の信
号を一定の時間間隔でサンプリングすることもできる。
【００１９】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、溶接時
おける溶接電圧を電圧検出手段にて検出すると共に検出
出力をＡ／Ｄ変換し、このＡ／Ｄ変換デ−タを溶接状態
の判定条件に基づいて演算処理することにより、被溶接
物の溶接状態を溶接が終了した後に短時間（例えば０．
１ｓｅｃ）で評価できる。このために、例えば製造ライ
ンの全数に対しての評価が可能となり、全数保証により
溶接状態の信頼性を著しく向上できる。
おける溶接電圧を電圧検出手段にて検出すると共に検出
出力をＡ／Ｄ変換し、このＡ／Ｄ変換デ−タを溶接状態
の判定条件に基づいて演算処理することにより、被溶接
物の溶接状態を溶接が終了した後に短時間（例えば０．
１ｓｅｃ）で評価できる。このために、例えば製造ライ
ンの全数に対しての評価が可能となり、全数保証により
溶接状態の信頼性を著しく向上できる。
【００２０】特に、判定条件の設定ステップにおける条
件の設定項目数を増加すれば、多面的に溶接状態を評価
できる関係で、評価精度を一層高めることができる。
件の設定項目数を増加すれば、多面的に溶接状態を評価
できる関係で、評価精度を一層高めることができる。
【００２１】又、フラッシュバット溶接装置の駆動に関
連して電圧検出手段から出力される溶接電圧をＡ／Ｄ変
換し、Ａ／Ｄ変換デ−タに基づいて演算処理すると共
に、判定条件に基づいて解析し、解析結果に基づいて溶
接状態が評価・判定されるために、フラッシュ飛び率な
どによって影響を受け易い被溶接物の溶接状態を精度よ
く適正に評価でき、溶接品質，強度，信頼性などをハイ
レベルで維持できる。
連して電圧検出手段から出力される溶接電圧をＡ／Ｄ変
換し、Ａ／Ｄ変換デ−タに基づいて演算処理すると共
に、判定条件に基づいて解析し、解析結果に基づいて溶
接状態が評価・判定されるために、フラッシュ飛び率な
どによって影響を受け易い被溶接物の溶接状態を精度よ
く適正に評価でき、溶接品質，強度，信頼性などをハイ
レベルで維持できる。
【００２２】又、すべてのＡ／Ｄ変換デ−タは、一旦、
制御手段のメモリ内に格納される関係で、ある種の判定
条件について評価する必要のある場合には判定条件に基
づいて格納デ−タを適宜に演算処理すればよい。従っ
て、判定条件の設定性に多様性が生じ、多角的な評価が
可能となる。
制御手段のメモリ内に格納される関係で、ある種の判定
条件について評価する必要のある場合には判定条件に基
づいて格納デ−タを適宜に演算処理すればよい。従っ
て、判定条件の設定性に多様性が生じ、多角的な評価が
可能となる。
【００２３】さらには、判定結果を常に溶接開始までの
いずれかのステップ例えばトリガ−レベルの設定ステッ
プにフィ−ドバックさせているために、温度ドリフトな
どによるトリガ−レベルの変動を最小限に止めることが
でき、判定精度を高めるのみならず、信頼性も向上でき
る。
いずれかのステップ例えばトリガ−レベルの設定ステッ
プにフィ−ドバックさせているために、温度ドリフトな
どによるトリガ−レベルの変動を最小限に止めることが
でき、判定精度を高めるのみならず、信頼性も向上でき
る。
【図１】本発明にかかるフラッシュバット溶接装置の１
実施例を示す側断面図。
実施例を示す側断面図。
【図２】本発明装置の信号系のブロック図。
【図３】電圧検出手段によって検出された電圧波形図。
【図４】本発明方法の概略フロ−チャ−ト。
【図５】トリガ−レベルの設定ステップの細部のフロ−
チャ−ト。
チャ−ト。
【図６】メモリ内デ−タの解析ステップの細部のフロ−
チャ−ト。
チャ−ト。
【図７】フラッシュの有無の判定状況を示す図。
【図８】経過時間に対するフラッシュ飛び率を示す図。
【図９】従来のフラッシュバット溶接装置の側断面図。
１ 被溶接物 １ａ 開放端 ２，３ 電極 ２ａ，３ａ チップ電極 ４ コントロ−ラ ５Ａ カム ６Ａ サ−ボモ−タ ８ 電圧検出手段 ９ Ａ／Ｄ変換手段 １１ 制御手段 １２ サ−ボ駆動回路 １３ サ−ボ制御手段 １４ Ｉ／Ｏインタ−フェ−ス １５ フロッピ−ディスク １６ キ−ボ−ド １７ 表示装置
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０１Ｎ 33/20 Ｇ０１Ｎ 33/20 Ｐ
Claims (5)
- 【請求項１】 開放端を有するリング状の被溶接物のそ
れぞれの端部を挟持する一対の電極、一対の電極に接続
したコントロ−ラ及び少なくとも一方の電極を、被溶接
物の溶接作業に関連して被溶接物の開放端の間隔を変更
させる移動手段を含むフラッシュバット溶接装置と、一
対の電極に接続した電圧検出手段と、電圧検出手段の出
力をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換手段と、Ａ／Ｄ変換デ−
タをメモリに格納し、そのデ−タに基づいて演算処理す
ることにより、溶接状態を評価する制御手段とを具備
し、前記被溶接物の溶接期間に検出した電極間電圧をＡ
／Ｄ変換し、Ａ／Ｄ変換デ−タの演算処理に基づいて溶
接状態を評価することを特徴とする被溶接物の溶接状態
の評価装置。 - 【請求項２】 開放端を有するリング状の被溶接物のそ
れぞれの端部を挟持する一対の電極、一対の電極に接続
したコントロ−ラ及び少なくとも一方の電極を、被溶接
物の溶接作業に関連して被溶接物の開放端の間隔を変更
させる移動手段を含むフラッシュバット溶接装置と、一
対の電極に接続した電圧検出手段と、電圧検出手段の出
力をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換手段と、Ａ／Ｄ変換デ−
タをメモリに格納し、そのデ−タに基づいて演算処理す
ることにより、溶接状態を評価する制御手段とを具備
し、前記移動手段は、制御手段からの評価デ−タに基づ
いて電極の移動条件を決定するサ−ボ制御手段と、サ−
ボ制御手段からの信号に基づいて駆動するサ−ボ駆動回
路と、サ−ボ駆動回路からの信号に基づいて駆動するサ
−ボモ−タとを含み、サ−ボモ−タの回転に基づいて被
溶接物の開放端の間隔を適宜に変更させることを特徴と
する被溶接物の溶接状態の評価装置。 - 【請求項３】 所定の判定条件を設定するステップと、
電圧検出手段の初期値に対してトリガ−レベルを設定す
るステップと、フラッシュバット溶接装置の駆動に関連
して電圧検出手段から出力される電圧を一定の時間間隔
でＡ／Ｄ変換し、メモリに格納するステップと、メモリ
に格納されたデ−タを判定条件に基づいて解析するステ
ップと、解析ステップの解析結果に基づいてフラッシュ
バット溶接状態を評価・判定するステップとを含むこと
を特徴とする被溶接物の溶接状態の評価方法。 - 【請求項４】 前記トリガ−レベルの設定ステップは、
被溶接物にフラッシュ電流が流れていない無負荷状態で
の電圧検出手段の出力電圧に基づくＡ／Ｄ変換デ−タを
取り込むステップと、Ａ／Ｄ変換デ−タに定数を乗算す
るステップとを含むことを特徴とする請求項３記載の被
溶接物の溶接状態の評価方法。 - 【請求項５】 所定の判定条件を設定するステップと、
電圧検出手段の初期値に対してトリガ−レベルを設定す
るステップと、フラッシュバット溶接装置の駆動に関連
して電圧検出手段から出力される電圧を一定の時間間隔
でＡ／Ｄ変換し、メモリに格納するステップと、メモリ
に格納されたデ−タを判定条件に基づいて解析するステ
ップと、解析ステップの解析結果に基づいてフラッシュ
バット溶接状態を評価・判定するステップと、判定結果
を外部機器に対して出力するステップとを含み、前記判
定結果を溶接開始までのいずれかのステップにフィ−ド
バックすることを特徴とする被溶接物の溶接状態の評価
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7173215A JPH0924477A (ja) | 1995-07-10 | 1995-07-10 | 被溶接物の溶接状態の評価装置及びその評価方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7173215A JPH0924477A (ja) | 1995-07-10 | 1995-07-10 | 被溶接物の溶接状態の評価装置及びその評価方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0924477A true JPH0924477A (ja) | 1997-01-28 |
Family
ID=15956268
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7173215A Pending JPH0924477A (ja) | 1995-07-10 | 1995-07-10 | 被溶接物の溶接状態の評価装置及びその評価方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0924477A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008536692A (ja) * | 2005-04-20 | 2008-09-11 | フォンティグネ グロトネス ベスロテン フェンノートシャップ | 部材の溶接方法およびシステム |
| EP2540431A1 (de) * | 2011-07-01 | 2013-01-02 | Ideal-Werk C. & E. Jungeblodt GmbH & Co.KG | Abbrennstumpfschweißmaschine mit einem durch einen Servomotor angetriebenen Kurvengetriebe |
| CN102935553A (zh) * | 2012-11-23 | 2013-02-20 | 贵州安大航空锻造有限责任公司 | 不锈钢薄壁环件的闪光焊成形方法 |
| CN102962568A (zh) * | 2012-11-23 | 2013-03-13 | 贵州安大航空锻造有限责任公司 | β相钛合金薄壁环件的闪光焊成形方法 |
| CN105458623A (zh) * | 2015-12-04 | 2016-04-06 | 顾伟 | 一种r4级锚链焊接生产工艺 |
| WO2019022550A1 (ko) * | 2017-07-28 | 2019-01-31 | 금성볼트공업(주) | 서보프레스 제어를 이용한 플래시버트 용접방법 |
| CN114101963A (zh) * | 2021-12-14 | 2022-03-01 | 吉林大学 | 汽车轮辋闪光对焊焊接质量实时评估方法及装置 |
-
1995
- 1995-07-10 JP JP7173215A patent/JPH0924477A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008536692A (ja) * | 2005-04-20 | 2008-09-11 | フォンティグネ グロトネス ベスロテン フェンノートシャップ | 部材の溶接方法およびシステム |
| EP2540431A1 (de) * | 2011-07-01 | 2013-01-02 | Ideal-Werk C. & E. Jungeblodt GmbH & Co.KG | Abbrennstumpfschweißmaschine mit einem durch einen Servomotor angetriebenen Kurvengetriebe |
| EP2835208A1 (de) | 2011-07-01 | 2015-02-11 | Ideal-Werk C. & E. Jungeblodt GmbH & Co.KG | Abbrennstumpfschweißmaschine mit einem einen Kurvenkörper aufweisenden Kurvengetriebe |
| CN102935553A (zh) * | 2012-11-23 | 2013-02-20 | 贵州安大航空锻造有限责任公司 | 不锈钢薄壁环件的闪光焊成形方法 |
| CN102962568A (zh) * | 2012-11-23 | 2013-03-13 | 贵州安大航空锻造有限责任公司 | β相钛合金薄壁环件的闪光焊成形方法 |
| CN102962568B (zh) * | 2012-11-23 | 2015-04-22 | 贵州安大航空锻造有限责任公司 | β相钛合金薄壁环件的闪光焊成形方法 |
| CN105458623A (zh) * | 2015-12-04 | 2016-04-06 | 顾伟 | 一种r4级锚链焊接生产工艺 |
| WO2019022550A1 (ko) * | 2017-07-28 | 2019-01-31 | 금성볼트공업(주) | 서보프레스 제어를 이용한 플래시버트 용접방법 |
| CN114101963A (zh) * | 2021-12-14 | 2022-03-01 | 吉林大学 | 汽车轮辋闪光对焊焊接质量实时评估方法及装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100503554B1 (ko) | 아크용접 모니터장치 | |
| CA2359424C (en) | Monitor for electric arc welder | |
| KR950005437A (ko) | 서보 용접건을 사용하는 스폿 용접 제어방법 및 장치 | |
| XIA et al. | Recent advances and analysis of quality monitoring and control technologies for RSW | |
| JP5622182B2 (ja) | リアルタイム溶接品質判定装置及び判定方法 | |
| JPH09136220A (ja) | ワイヤ放電加工装置の基準接触位置の位置決め方法及びその装置 | |
| JPH0924477A (ja) | 被溶接物の溶接状態の評価装置及びその評価方法 | |
| KR101575193B1 (ko) | 휴대용 용접 모니터링 장치 | |
| US4348578A (en) | Workpiece monitoring means for electric discharge working apparatus | |
| KR101642807B1 (ko) | 스폿 용접의 품질 판정 방법 | |
| JPH11123546A (ja) | アークスタート時の溶接安定性判定方法及び安定性判定装 置 | |
| JPH11123547A (ja) | アーク溶接定常部の溶接安定性判定方法及び安定性判定装 置 | |
| JP2000005882A (ja) | スポット溶接制御装置およびその制御方法 | |
| KR101515500B1 (ko) | 저항용접 제어장치 및 이를 이용한 저항용접 방법 | |
| JP3709807B2 (ja) | 溶接状態判定方法、およびその装置 | |
| JP3396602B2 (ja) | 溶接品質監視方法および装置 | |
| KR100911723B1 (ko) | 아크 용접 전원장치를 이용한 용접 진단 방법 | |
| JP4642267B2 (ja) | パルスアーク溶接の溶接安定性判定装置 | |
| JPH0484673A (ja) | アーク溶接モニタ装置 | |
| KR20040088896A (ko) | 아크 용접 네트워크 시스템 | |
| JPS63165077A (ja) | スタッド溶接の品質判定方法 | |
| JP2501156B2 (ja) | 溶接機の診断方法 | |
| JPH0646632Y2 (ja) | 連続シーム溶接モニタ装置 | |
| JPH08300225A (ja) | ワイヤ放電加工機の位置決め方法及びその装置 | |
| JPH07185835A (ja) | 抵抗溶接の溶接品質監視装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20001024 |