JPH1015780A - Sizing device - Google Patents
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- JPH1015780A JPH1015780A JP17487296A JP17487296A JPH1015780A JP H1015780 A JPH1015780 A JP H1015780A JP 17487296 A JP17487296 A JP 17487296A JP 17487296 A JP17487296 A JP 17487296A JP H1015780 A JPH1015780 A JP H1015780A
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- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Automatic Control Of Machine Tools (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、加工中に被加工物
(ワーク)の加工部分の寸法を測定し、寸法が所定の加
工寸法に達した時に定寸信号と呼ばれる測定信号を出力
する定寸装置に関し、特に円筒以外のワークの場合にも
定寸信号を出力できる定寸装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a measuring device for measuring a dimension of a machined portion of a workpiece during machining and outputting a measurement signal called a sizing signal when the dimension reaches a predetermined machining dimension. The present invention relates to a sizing device, and more particularly to a sizing device capable of outputting a sizing signal even for a work other than a cylinder.
【0002】[0002]
【従来の技術】ワークの加工部分の寸法を加工中に測定
して加工精度を向上させることが行われている。例え
ば、あらかじめ目標寸法を設定し、測定した寸法がこの
目標寸法に達した時又は達する直前に加工停止信号を出
力して、加工を停止すれば高精度の加工が可能である。
このような加工中に加工部分の寸法を測定して、加工動
作を制御する信号を出力する装置を定寸装置と呼んでい
る。2. Description of the Related Art It has been practiced to improve the processing accuracy by measuring the dimensions of a processed portion of a work during processing. For example, if a target dimension is set in advance, and a processing stop signal is output when or before the measured dimension reaches the target dimension, and processing is stopped, high-precision processing is possible.
A device that measures the dimensions of the processed portion during processing and outputs a signal for controlling the processing operation is called a sizing device.
【0003】例えば、研削加工では、単位時間当たりの
加工量、すなわち、ワークに対して砥石を移動させる速
度により表面の仕上がり具合が異なる。そのため、研削
加工では、目標寸法より所定量大きな寸法までは高速に
加工し、それ以後は仕上がり具合を良好にするようにゆ
っくり加工することにより、高速で且つ正確で良好な仕
上がり具合になるようにしている。実際には、加工速度
の大きな粗研工程、加工速度の小さな精研工程、ほとん
ど加工は行われず仕上がり具合を良好にするために行わ
れるスパークアウト工程の順で加工を行うのが一般的で
ある。定寸装置には、あらかじめ粗研から精研、精研か
らスパークアウト、加工停止の寸法が設定されており、
設定された寸法に達すると定寸信号を出力するように構
成されている。[0003] For example, in grinding, the degree of surface finish varies depending on the processing amount per unit time, that is, the speed at which the grindstone is moved with respect to the work. Therefore, in the grinding process, high-speed processing is performed up to a dimension larger than the target dimension by a predetermined amount, and thereafter, processing is performed slowly so as to improve the finish, so that high-speed, accurate and good finish is achieved. ing. In practice, it is common to perform processing in the order of a rough polishing step with a high processing speed, a fine polishing step with a low processing speed, and a spark-out step performed to improve the finished state with almost no processing. . In the sizing device, the dimensions of roughing to fine polishing, fine polishing to spark out, and processing stop are set in advance.
It is configured to output a fixed size signal when the set size is reached.
【0004】研削加工では、回転するワークに回転する
砥石を接触させることにより加工を行うため、一般にワ
ークの外径寸法が重要であり、定寸装置も外径寸法を測
定して定寸信号を出力する。このような 定寸装置に使
用されるワークの寸法を測定する測定ヘッドは、基本的
には加工中にも加工部分の外径寸法が測定できるもので
あればどのようなものであってもかまわないが、ここで
はもっとも一般的に使用されている測子が測定する部分
に接触し、測子の変位を検出する方式の測定ヘッドを使
用した定寸装置を例として説明する。[0004] In grinding, since the processing is performed by bringing a rotating grindstone into contact with a rotating work, generally the outer diameter of the work is important, and a sizing device also measures the outer diameter and outputs a sizing signal. Output. The measuring head that measures the dimensions of the work used in such a sizing device can be basically any type that can measure the outer diameter of the processed part even during processing. Although not shown, a sizing device using a measuring head of a type in which a most commonly used contact comes into contact with a portion to be measured and detects displacement of the contact will be described as an example.
【0005】ワークが円筒状の回転体でその外径を測定
する場合には、外径部に接触する触針等の測定器の測子
を、回転体の回転軸に対して対称な位置にセットしてワ
ークを回転させながら測定を行う。外径の値は、2つの
測子の出力和から算出していた。通常は基準となる目標
形状を有するマスタをセットし、それを測定した時の測
定値がゼロになるように設定した上で測定を行う。この
ような設定動作をマスタセットと呼ぶ。When the outer diameter of a workpiece is measured with a cylindrical rotating body, a probe of a measuring instrument such as a stylus in contact with the outer diameter portion is moved to a position symmetrical with respect to the rotation axis of the rotating body. Measure while setting and rotating the work. The value of the outer diameter was calculated from the sum of the outputs of the two tracings. Normally, a master having a target shape serving as a reference is set, and measurement is performed after setting a measurement value when the master is measured to be zero. Such a setting operation is called a master set.
【0006】図5は検出部に差動トランスを有する定寸
装置を使用した従来の加工システムの基本的な構成を示
す図である。図5に示すように、高速で回転する砥石1
11でワーク100を研削する。加工中のワーク100
の外径部分には、測定ヘッド13から延びる測子11と
12が接触される。ヘッド13内には、差動トランス等
で構成される第1及び第2検出部14と15が設けられ
ており、測子11と12の変位をそれぞれ検出する。第
1及び第2検出部14と15の出力は、第1及び第2サ
イズシフト回路16と17に入力された後、第1及び第
2整流回路18と19で直流信号に変換され、加算回路
でそれらの和を示す信号、すなわち、ワーク100の外
径を示す測定信号が出力される。最小値記憶回路21
は、加算回路20の出力の最小値を検出して記憶する回
路であり、アナログ/ディジタル(A/D)変換回路2
4は最小値記憶回路21の出力をディジタル信号に変換
し、コンピュータ25はそれを読み取る。コンピュータ
25では、読み取った値をあらかじめ設定されている粗
研から精研、精研からスパークアウト、加工停止の寸法
値である定寸値と比較し、その値に達した時に所定の定
寸信号を出力する。通常は、信号処理・変換部とデータ
処理部を合わせて定寸装置と呼んでいるが、測定ヘッド
13を含めて定寸装置と呼ぶ場合もある。ここでは、測
定ヘッド13を含めて定寸装置とするが、これに限られ
るものではない。なお、最小値記憶回路21はA/D変
換回路21の出力するディジタル信号の値から最小値を
検出して保持する回路でもよく、コンピュータ25で実
現することも可能である。FIG. 5 is a diagram showing a basic configuration of a conventional processing system using a sizing device having a differential transformer in a detection unit. As shown in FIG. 5, the grinding wheel 1 rotating at high speed
In step 11, the workpiece 100 is ground. Work being processed 100
The measuring elements 11 and 12 extending from the measuring head 13 are in contact with the outer diameter portion of the measuring element 13. First and second detectors 14 and 15 each composed of a differential transformer or the like are provided in the head 13 to detect displacements of the tracing styluses 11 and 12, respectively. Outputs of the first and second detectors 14 and 15 are input to first and second size shift circuits 16 and 17, and then converted into DC signals by first and second rectifier circuits 18 and 19, and are added to an adder circuit. Then, a signal indicating the sum of them, that is, a measurement signal indicating the outer diameter of the workpiece 100 is output. Minimum value storage circuit 21
Is a circuit for detecting and storing the minimum value of the output of the adder circuit 20. The analog / digital (A / D) conversion circuit 2
4 converts the output of the minimum value storage circuit 21 into a digital signal, and the computer 25 reads it. In the computer 25, the read value is compared with a preset sizing value which is a dimension value of the roughening to the fine polishing, a sparkout from the fine polishing, and the processing stop. When the value is reached, a predetermined sizing signal is obtained. Is output. Normally, the signal processing / conversion unit and the data processing unit are collectively called a sizing device, but the sizing device including the measuring head 13 may also be called a sizing device. Here, a sizing device including the measuring head 13 is used, but is not limited to this. Note that the minimum value storage circuit 21 may be a circuit that detects and holds the minimum value from the value of the digital signal output from the A / D conversion circuit 21, and may be realized by the computer 25.
【0007】図5の構成では、加算回路20の出力をA
/D変換回路21でディジタル信号に変換した後、マイ
クロコンピュータなどで構成されるコンピュータ25で
読み取り、定寸値と比較するなどの処理を行っている
が、加算回路20の出力をあらかじめ設定された定寸値
に対応するアナログ電圧と比較する回路を設けて定寸信
号を発生させることも可能である。近年は、ディジタル
変換した測定値をコンピュータで処理するのが一般的で
あるので、以下の説明ではコンピュータ処理する例につ
いて説明するが、本発明はこれに限らず、どのような方
式にも適用可能である。In the configuration shown in FIG. 5, the output of the addition circuit 20 is A
After the digital signal is converted by the / D conversion circuit 21, it is read by a computer 25 constituted by a microcomputer or the like, and is compared with a fixed size value, but the output of the addition circuit 20 is set in advance. It is also possible to provide a circuit for comparing with an analog voltage corresponding to the sizing value to generate a sizing signal. In recent years, it is common to process digitally measured values with a computer, so in the following description, an example of computer processing will be described. However, the present invention is not limited to this and can be applied to any method. It is.
【0008】寸法を測定する場合に問題になるのが、測
定範囲と測定精度である。変位に対して出力信号が変化
する範囲(できれば線形に変化する範囲)であれば変位
を測定することが可能であるが、後処理回路のダイナミ
ックレンジやA/D変換回路21の変換範囲をこの範囲
に対応させると、十分な精度で測定することができない
という問題が生じる。そこで、測定ヘッドの出力に応じ
て後処理回路の増幅率を変化させて測定精度を可変にす
ることや、後処理回路に所定の信号値を加算して高精度
で測定できる範囲を移動(シフト)できるようにするこ
とが行われている。図5の第1及び第2サイズシフト回
路16と17はそのための回路である。サイズシフト回
路の詳しい構成については後述するが、図5の回路で
は、第1及び第2サイズシフト回路16と17は、コン
ピュータ25からのサイズシフト信号に応じて、第1及
び第2検出部からの信号に所定の振幅の信号を加算し
て、所定範囲の振幅を有する信号に変換する。測定値
は、この時に検出した値にサイズシフト分を加えた値で
ある。サイズシフト回路の設定は、作業者があらかじめ
設定したワークの形状に応じて行われる。What matters when measuring dimensions is the measurement range and measurement accuracy. The displacement can be measured in a range where the output signal changes with respect to the displacement (preferably a range in which the output signal changes linearly). However, the dynamic range of the post-processing circuit and the conversion range of the A / D conversion circuit 21 can be measured. If it is made to correspond to a range, there arises a problem that measurement cannot be performed with sufficient accuracy. Therefore, the measurement accuracy can be varied by changing the amplification factor of the post-processing circuit in accordance with the output of the measuring head, or a predetermined signal value can be added to the post-processing circuit to move (shift) the range in which measurement can be performed with high accuracy. ) To be able to do it. The first and second size shift circuits 16 and 17 in FIG. 5 are circuits for that purpose. Although the detailed configuration of the size shift circuit will be described later, in the circuit of FIG. 5, the first and second size shift circuits 16 and 17 receive signals from the first and second detection units in response to a size shift signal from the computer 25. Is added to a signal having a predetermined amplitude to convert the signal into a signal having a predetermined range of amplitude. The measured value is a value obtained by adding the size shift to the value detected at this time. The setting of the size shift circuit is performed according to the shape of the work set in advance by the operator.
【0009】[0009]
【発明が解決しようとする課題】ワークが円筒物であれ
ば、ワークが回転しても測子の変位は小さく、マスタセ
ット時に高精度で測定できる範囲を、ワークの形状に応
じて設定すれば、図5に示すような定寸装置を用いて加
工を制御することができる。しかし、例えば、ワークが
図6に示すカムシャフトのような、方向によって大きな
径(長径)と小さな径(短径)を有するワークの場合、
同一のサイズシフト回路の設定では測定することができ
ない。加工中にワークは回転中心101を中心として回
転するが、第1の測子11が上側からワーク100に接
触するとした場合、長径の大きな半径部分が上方にきた
時には第1の測子11は上方に大きく変位し、この状態
から長径が側方にきた時には、第1の測子11は下方に
移動し、長径の大きな半径部分が反対側の側方にくるま
で、ほぼ同じ変位を維持する。第2の測子12の変位
は、第1の測子1と逆である。従って、長径の大きな半
径部分が上方にきた時と長径の大きな半径部分が下方に
きた時では、第1検出部13の出力する信号の振幅は大
きく変化し、第1サイズシフト回路の設定が同じであれ
ば、一方の状態は測定可能でももう一方の状態では測定
できないという事態が生じる。If the work is a cylindrical object, the displacement of the probe is small even if the work is rotated, and the range in which the measurement can be performed with high accuracy at the time of setting the master is set according to the shape of the work. Processing can be controlled using a sizing device as shown in FIG. However, for example, when the work has a large diameter (long diameter) and a small diameter (short diameter) depending on the direction, such as the camshaft shown in FIG. 6,
Measurement cannot be performed with the same size shift circuit setting. The workpiece rotates around the rotation center 101 during processing, but if the first probe 11 comes into contact with the workpiece 100 from above, the first probe 11 will move upward when a large radius portion of the long diameter comes upward. When the major axis comes to the side from this state, the first gauge head 11 moves downward, and maintains substantially the same displacement until the large radius part of the major axis comes to the opposite side. The displacement of the second probe 12 is opposite to that of the first probe 1. Therefore, the amplitude of the signal output from the first detection unit 13 greatly changes when the large radius part of the large diameter comes upward and when the large radius part of the large diameter comes downward, and the setting of the first size shift circuit is the same. Then, a situation arises in which one state can be measured but cannot be measured in the other state.
【0010】そのため、図6に示すカムシャフトのよう
なワークの定寸信号を発生する場合、長径の大きな半径
部分が側方にきた時には短径の寸法は測定できるので、
短径についてのみ定寸信号を発生させていた。しかし、
これでは長径方向については寸法の管理ができないた
め、高精度での加工が難しという問題があった。本発明
は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、方向によ
って定寸値が異なるワークについても定寸信号を発生す
る定寸装置を簡単な構成で実現することを目的とする。Therefore, when a fixed size signal for a work such as a camshaft shown in FIG. 6 is generated, the minor dimension can be measured when the large radius part of the workpiece comes to the side.
A sizing signal was generated only for the minor axis. But,
In this case, since the dimension cannot be controlled in the major axis direction, there is a problem that high-precision processing is difficult. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to realize a sizing device that generates a sizing signal even for a workpiece having a different sizing value depending on a direction with a simple configuration.
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の定寸装置は、測定信号を所定のしきい値と
比較して測定信号が被加工物(ワーク)のどの部分を測
定しようとしているかを判定してサイズシフト回路のシ
フト量を設定するシフト量設定手段を設け、加工目標値
である複数の寸法に応じてサイズシフト回路を切り換え
る。In order to achieve the above object, a sizing apparatus according to the present invention compares a measurement signal with a predetermined threshold value and measures a portion of a workpiece by measuring the measurement signal. A shift amount setting means for determining whether or not the size shift circuit is to be set and setting a shift amount of the size shift circuit is provided, and the size shift circuit is switched according to a plurality of dimensions which are processing target values.
【0012】すなわち、本発明の定寸装置は、被加工物
の加工部分の寸法を示す測定信号を出力する測定ヘッド
と、測定ヘッドの出力する測定信号を処理する信号処理
回路と、信号処理回路の出力信号から、加工部分の寸法
があらかじめ設定された目標寸法に達した時に加工条件
を変化させるための定寸信号を出力する演算処理手段と
を備え、信号処理回路は、測定ヘッドの出力する測定信
号を演算処理手段で処理するのに適した信号に変換する
定寸装置であり、信号処理回路は、測定信号を演算処理
手段で処理するのに適した信号に変換できる測定信号の
最適入力範囲が制限されている。このような定寸装置に
おいて上記目的を達成するため、設定されたシフト量で
測定信号の強度をシフトさせるサイズシフト回路と、測
定信号を所定のしきい値と比較し、測定信号が最適入力
範囲内に入るように、サイズシフト回路のシフト量を設
定するシフト量設定手段とを備えることを特徴とする。In other words, the sizing device of the present invention comprises a measuring head for outputting a measuring signal indicating a dimension of a processed portion of a workpiece, a signal processing circuit for processing a measuring signal output from the measuring head, and a signal processing circuit. A processing means for outputting a fixed size signal for changing the processing condition when the dimension of the processed portion reaches a preset target dimension from the output signal of A sizing device for converting a measurement signal into a signal suitable for processing by arithmetic processing means, and a signal processing circuit for optimal input of the measurement signal capable of converting the measurement signal into a signal suitable for processing by the arithmetic processing means. Limited range. In order to achieve the above object in such a sizing device, a size shift circuit for shifting the intensity of the measurement signal by a set shift amount, a measurement signal is compared with a predetermined threshold value, and the measurement signal is adjusted to an optimum input range. And a shift amount setting means for setting a shift amount of the size shift circuit so as to fall within the range.
【0013】方向によって定寸値が異なる被測定物の場
合、測定信号の値は被測定物の回転に応じて大きく変化
する。そのため、信号処理回路は、測定信号の最小値を
記憶する最小値記憶回路と、測定信号の最大値を記憶す
る最大値記憶回路とを備え、演算処理手段は、シフト量
設定手段によるサイズシフト回路のシフト量の設定に応
じて、最小値記憶回路と最大値記憶回路に記憶された最
小値と最小値のいずれを読み取るかを変化させる。In the case of an object to be measured whose dimensional value varies depending on the direction, the value of the measurement signal greatly changes according to the rotation of the object to be measured. Therefore, the signal processing circuit includes a minimum value storage circuit that stores the minimum value of the measurement signal, and a maximum value storage circuit that stores the maximum value of the measurement signal. Of the minimum value or the minimum value stored in the minimum value storage circuit or the maximum value storage circuit is changed in accordance with the setting of the shift amount.
【0014】また、通常の定寸装置の場合、測定ヘッド
は被加工物の2か所の表面位置を検出する2個の検出部
を備え、信号処理回路は2個の検出部の出力する測定信
号の和から被加工物の寸法を算出するのが一般的であ
り、その場合にはサイズシフト回路も2個の検出部の出
力する測定信号の強度をそれぞれシフトさせるように2
個設ける。この場合、シフト量設定手段は、2個のサイ
ズシフト回路のシフト量を独立に設定することが望まし
い。In the case of an ordinary sizing device, the measuring head has two detecting sections for detecting two surface positions of the workpiece, and the signal processing circuit has a measuring section output from the two detecting sections. In general, the size of the workpiece is calculated from the sum of the signals. In this case, the size shift circuit also shifts the intensity of the measurement signal output from the two detectors so as to shift the intensity of the measurement signal.
Provided. In this case, it is desirable that the shift amount setting means independently sets the shift amounts of the two size shift circuits.
【0015】本発明の定寸装置は、シフト量設定手段に
より、測定信号を所定のしきい値と比較して測定信号が
被加工物のどの部分を測定しようとしているかを判定し
てサイズシフト回路のシフト量を設定するため、加工目
標値である複数の寸法に応じてサイズシフト回路の測定
範囲を切り換えることができる。従って、方向によって
定寸値が異なる被測定物であっても、測定が可能であ
る。In the sizing apparatus according to the present invention, the shift amount setting means compares the measurement signal with a predetermined threshold to determine which part of the workpiece the measurement signal is to measure, and the size shift circuit , The measurement range of the size shift circuit can be switched according to a plurality of dimensions that are the processing target values. Therefore, it is possible to measure even an object to be measured whose dimensional value differs depending on the direction.
【0016】方向によって定寸値が異なる被測定物の場
合、管理する必要のある寸法が複数存在し、測定信号の
値は、これらの複数の寸法の最小値と最大値より少し大
きな値(加工分を加えた値)の間を連続的に変化する。
従って、信号処理回路に、最小値記憶回路と最大値記憶
回路とを設け、演算処理手段は、シフト量設定手段によ
るサイズシフト回路のシフト量の設定に応じて、最小値
記憶回路と最大値記憶回路に記憶された最小値と最小値
のいずれを読み取って、対象となる加工部分の寸法があ
らかじめ設定された目標寸法に達したかを判定する。In the case of an object to be measured whose dimensional value differs depending on the direction, there are a plurality of dimensions that need to be managed, and the value of the measurement signal is slightly larger than the minimum and maximum values of these multiple dimensions (processing). (The value obtained by adding the minute).
Therefore, the signal processing circuit is provided with a minimum value storage circuit and a maximum value storage circuit, and the arithmetic processing means stores the minimum value storage circuit and the maximum value storage in accordance with the setting of the shift amount of the size shift circuit by the shift amount setting means. By reading either the minimum value or the minimum value stored in the circuit, it is determined whether the size of the target processed portion has reached a preset target size.
【0017】通常の定寸装置では、測定ヘッドは2個の
測子とその変位を検出する2個の検出部を備え、信号処
理回路は2個の検出部の出力する測定信号の和から被加
工物の寸法を算出するのが一般的である。その場合には
サイズシフト回路も2個の検出部の出力する測定信号の
強度をそれぞれシフトさせるように2個設けるが、シフ
ト量設定手段により2個のサイズシフト回路のシフト量
が独立に設定されれば、各種の形状の被測定物に対応で
きる。例えば、被加工物が図6のような形状を有するの
であれば、通常は2個のサイズシフト回路を短径に対応
したフト量に設定しておき、長径がきた時のみ長径に対
応するシフト量に設定する。従って、2個のサイズシフ
ト回路が同時に長径に対応するシフト量に設定されるこ
とはない。これに対して、例えば、楕円形状を加工する
時には、2つの測定信号は同じように変化するので、2
個のサイズシフト回路のシフト量は同時に切り換えれば
よい。In a normal sizing device, the measuring head has two tracing styluses and two detecting portions for detecting the displacement of the tracing stylus, and the signal processing circuit detects the sum of the measuring signals output from the two detecting portions. It is common to calculate the dimensions of the workpiece. In this case, two size shift circuits are provided so as to shift the intensities of the measurement signals output from the two detectors, respectively, but the shift amounts of the two size shift circuits are independently set by the shift amount setting means. Then, it is possible to cope with an object to be measured having various shapes. For example, if the workpiece has a shape as shown in FIG. 6, usually, two size shift circuits are set to a shift amount corresponding to the short diameter, and the shift corresponding to the long diameter is performed only when the long diameter comes. Set to quantity. Therefore, the two size shift circuits are not simultaneously set to the shift amount corresponding to the long diameter. On the other hand, for example, when processing an elliptical shape, the two measurement signals change in the same way.
The shift amounts of the size shift circuits may be switched simultaneously.
【0018】[0018]
【発明の実施の形態】図1は本発明の実施例の加工シス
テムの全体構成を示すブロック図である。図1におい
て、参照番号100aはワークを、11と12は測子
を、13は測定ヘッドを、14と15は測子11と12
の変位をそれぞれ検出する差動トランスで構成される第
1及び第2検出部を、16と17は第1及び第2検出部
14、15の出力する測定信号の強度をそれぞれシフト
させる第1及び第2サイズシフト回路を、18と19は
第1及び第2サイズシフト回路16、17の出力をそれ
ぞれ整流して直流信号に変換する第1及び第2整流回路
を、20は第1及び第2整流回路18、19の出力を加
算して和を算出する加算回路を、21は加算回路20の
出力の最小値を検出して記憶する最小値記憶回路を、2
2は加算回路20の出力の最大値を検出して記憶する最
大値記憶回路を、23は最小値記憶回路21と最大値記
憶回路22のいずれかの出力を選択するスイッチを、2
4はスイッチ23で選択した最小値記憶回路21と最大
値記憶回路22のいずれかの出力をディジタル信号に変
換するA/D変換回路を、25は演算処理手段を構成す
るコンピュータを、26はコンピュータ25からの設定
値に応じて第1サイズシフト回路16のシフト量を設定
する第1D/A変換回路を、27はコンピュータ25か
らの設定値に応じて第2サイズシフト回路17のシフト
量を設定する第2D/A変換回路を、28は第1シフト
量設定回路を、29は第2シフト量設定回路を、30か
ら32は第1シフト量設定回路を構成する部分で、30
は補助整流回路を、31はしきい値設定回路を、32は
比較回路を示す。第2シフト量設定回路29も、第1シ
フト量設定回路28と同様の構成を有する。FIG. 1 is a block diagram showing the overall configuration of a processing system according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 100a denotes a work, 11 and 12 denote probes, 13 denotes a measurement head, and 14 and 15 denote probes 11 and 12.
The first and second detectors 16 and 17 are composed of differential transformers for detecting the displacements of the first and second detectors, respectively. The first and second detectors 16 and 17 shift the intensity of the measurement signal output from the first and second detectors 14 and 15, respectively. Reference numerals 18 and 19 denote first and second rectifier circuits for rectifying the outputs of the first and second size shift circuits 16 and 17, respectively, to convert them into DC signals, and reference numeral 20 denotes first and second rectifier circuits. An addition circuit 21 calculates the sum by adding the outputs of the rectifier circuits 18 and 19, a minimum value storage circuit 21 detects and stores the minimum value of the output of the addition circuit 20, and 2
2 is a maximum value storage circuit for detecting and storing the maximum value of the output of the adder circuit 20, 23 is a switch for selecting one of the outputs of the minimum value storage circuit 21 and the maximum value storage circuit 22, and 2 is a switch.
Reference numeral 4 denotes an A / D conversion circuit for converting the output of either the minimum value storage circuit 21 or the maximum value storage circuit 22 selected by the switch 23 into a digital signal; 25, a computer constituting arithmetic processing means; The first D / A conversion circuit sets the shift amount of the first size shift circuit 16 in accordance with the set value from 25, and the 27 sets the shift amount of the second size shift circuit 17 in accordance with the set value from the computer 25. A second D / A conversion circuit, 28 is a first shift amount setting circuit, 29 is a second shift amount setting circuit, and 30 to 32 are parts constituting the first shift amount setting circuit.
Denotes an auxiliary rectifier circuit, 31 denotes a threshold value setting circuit, and 32 denotes a comparison circuit. The second shift amount setting circuit 29 has the same configuration as the first shift amount setting circuit 28.
【0019】図1に示した第1及び第2検出部14と1
5、第1及び第2整流回路16と17、加算回路20、
A/D変換回路24は従来の定寸装置に使用されている
ものと同じであるので、ここでは説明を省略する。図2
は第1検出部14の一部と第1サイズシフト回路16の
構成を示す図であり、第2サイズシフト回路17も同様
の構成を有する。また、図3は図2の回路における信号
を示す図である。The first and second detectors 14 and 1 shown in FIG.
5, first and second rectifier circuits 16 and 17, adder circuit 20,
Since the A / D conversion circuit 24 is the same as that used in the conventional sizing device, the description is omitted here. FIG.
FIG. 3 is a diagram showing a configuration of a part of the first detection unit 14 and a first size shift circuit 16, and a second size shift circuit 17 has a similar configuration. FIG. 3 is a diagram showing signals in the circuit of FIG.
【0020】図2に示すように、参照番号40から44
は第1検出部14の差動トランスを構成する部分であ
り、測子11の一方の端に設けられた鉄心40が、一次
コイル41と2個の2次コイル42と43内を変位す
る。一次コイル41には発振器44から交流信号が印加
されており、鉄心40の位置に応じて2次コイル42と
43に誘導される誘導起電力に差が生じる。2次コイル
42と43の誘導起電力の差をアンプ45で増幅する。
アンプ45から出力される信号は、図3の(1)に示す
ような交流信号であり、発振器44から出力される交流
信号と同じ周期で変化する交流信号である。この交流信
号は、鉄心40の位置に応じてその振幅を変化させる。
具体的には、鉄心40が2つの2次コイル42と43の
中間位置にいる時には2つの2次コイル42と43に誘
導される誘導起電力は等しく、アンプ45から出力され
る信号はゼロである。この状態から鉄心40が変位する
に従って、アンプ45から出力される交流信号の振幅が
増加する。鉄心40の変位が小さい時には、図において
bで示すような信号になり、鉄心40の変位が大きくな
るとaで示すような信号になる。サイズシフト回路を設
けていない場合には、アンプ45の出力する交流信号を
整流回路で整流することにより、図3の(2)に示すよ
うな、交流信号の振幅に対応する電圧の直流信号が得ら
れる。この直流信号の電圧が変位を示すことになる。こ
れが差動トランスの動作である。As shown in FIG. 2, reference numerals 40 to 44
Is a part that constitutes a differential transformer of the first detection unit 14, and an iron core 40 provided at one end of the tracing stylus 11 is displaced in a primary coil 41 and two secondary coils 42 and 43. An AC signal is applied to the primary coil 41 from an oscillator 44, and a difference occurs between the induced electromotive forces induced in the secondary coils 42 and 43 according to the position of the iron core 40. The difference between the induced electromotive forces of the secondary coils 42 and 43 is amplified by the amplifier 45.
The signal output from the amplifier 45 is an AC signal as shown in FIG. 3A, and is an AC signal that changes at the same cycle as the AC signal output from the oscillator 44. This AC signal changes its amplitude in accordance with the position of the iron core 40.
Specifically, when the iron core 40 is at an intermediate position between the two secondary coils 42 and 43, the induced electromotive force induced in the two secondary coils 42 and 43 is equal, and the signal output from the amplifier 45 is zero. is there. As the iron core 40 is displaced from this state, the amplitude of the AC signal output from the amplifier 45 increases. When the displacement of the iron core 40 is small, the signal becomes as shown by b in the figure, and when the displacement of the iron core 40 becomes large, the signal becomes as shown by a. If the size shift circuit is not provided, the AC signal output from the amplifier 45 is rectified by a rectifier circuit, so that a DC signal having a voltage corresponding to the amplitude of the AC signal as shown in (2) of FIG. can get. The voltage of this DC signal indicates displacement. This is the operation of the differential transformer.
【0021】鉄心40の変位に応じて2つの2次コイル
42と43に誘導される誘導起電力の差が単純に変化す
る範囲では、線形性を有するように補正することにより
鉄心40の変位を測定することが可能である。測定の分
解能は整流後の直流信号の変化の識別能力で決定され
る。例えば、測定信号をA/D変換してディジタル信号
で読み取る場合、10ビットのディジタル信号に変換す
るとすると、1024レベルに分解できる。測定ヘッド
の測定範囲が±10mmとすると、約20μmが分解能
となる。従って、2μmやそれ以下の分解能で測定する
必要が有る場合には、測定範囲を±1mm以下の小さな
範囲にする必要がある。逆に、測定範囲を±50mmと
するならば分解能は100μmと非常に大きくなる。In a range where the difference between the induced electromotive forces induced in the two secondary coils 42 and 43 according to the displacement of the iron core 40 simply changes, the displacement of the iron core 40 is corrected by having a linearity. It is possible to measure. The resolution of the measurement is determined by the ability to discriminate the change of the rectified DC signal. For example, when the measurement signal is A / D converted and read as a digital signal, if it is converted into a 10-bit digital signal, it can be decomposed into 1024 levels. If the measuring range of the measuring head is ± 10 mm, the resolution is about 20 μm. Therefore, when it is necessary to measure at a resolution of 2 μm or less, the measurement range needs to be a small range of ± 1 mm or less. Conversely, if the measurement range is ± 50 mm, the resolution will be very large at 100 μm.
【0022】そこで、測定の分解能を変化できるように
すると共に、高分解能で測定できる範囲を切り換えられ
るようにしている。測定の分解能の変化は信号の増幅率
を変えることにより行うが、高分解能で測定できる範囲
の切り換えはサイズシフト回路で行う。図2において、
サイズシフト回路は、加算回路46と可変増幅回路48
で構成され、サイズシフト回路におけるシフト量は、コ
ンピュータ25からの設定値をD/A変換回路26でア
ナログ信号に変換して可変増幅回路48の増幅率を設定
することにより決定される。例えば、アンプ45の出力
が、図3の(3)にcで示す信号である場合、可変増幅
回路48で発振器44からの信号を反転増幅してdで示
すようなcの出力に近い振幅を有する逆位相の信号を発
生させる。加算回路46でこの逆相の信号dとアンプ4
5の出力cとを加算すると、eで示すような信号が出力
される。このように、アンプ45、すなわち測定部から
の出力に応じて、コンピュータ25からD/A変換回路
26への設定値を適当に設定することにより、加算回路
46から出力される信号の振幅を常に所定の範囲にする
ことができる。このような範囲の限界値がA/D変換回
路の最大値と最小値になるように各回路の増幅率を設定
しておけば、すべての測定範囲において高精度での測定
が行える。これがサイズシフト回路の構成および機能で
ある。サイズシフトした時の測定値は、測定した値にサ
イズシフトした分の値を加算することにより求められ
る。Therefore, the resolution of measurement can be changed, and the range in which measurement can be performed with high resolution can be switched. The resolution of the measurement is changed by changing the amplification factor of the signal, but the range that can be measured at a high resolution is switched by a size shift circuit. In FIG.
The size shift circuit includes an adder circuit 46 and a variable amplifier circuit 48.
The shift amount in the size shift circuit is determined by converting the set value from the computer 25 into an analog signal by the D / A conversion circuit 26 and setting the amplification factor of the variable amplifier circuit 48. For example, when the output of the amplifier 45 is a signal indicated by c in (3) of FIG. 3, the signal from the oscillator 44 is inverted and amplified by the variable amplifying circuit 48 and an amplitude close to the output of c as indicated by d is obtained. Signal having the opposite phase. The signal d of the opposite phase and the amplifier 4
When the output c of 5 is added, a signal as shown by e is output. In this way, by appropriately setting the set value from the computer 25 to the D / A conversion circuit 26 in accordance with the output from the amplifier 45, that is, the measurement unit, the amplitude of the signal output from the addition circuit 46 is always adjusted. It can be in a predetermined range. If the amplification factor of each circuit is set so that the limit value of such a range becomes the maximum value and the minimum value of the A / D conversion circuit, the measurement can be performed with high accuracy in the entire measurement range. This is the configuration and function of the size shift circuit. The measurement value at the time of size shift is obtained by adding the value of the size shift to the measured value.
【0023】第1検出部14と第2検出部15の出力に
対して上記のようなサイズシフトを行うための第1及び
第2サイズシフト回路が設けられている。第1及び第2
サイズシフト回路のシフト量は、第1D/A変換回路2
6と第2D/A変換回路27への設定値により独立に設
定できるようになっている。第1及び第2サイズシフト
回路の出力は、それぞれ第1及び第2整流回路18と1
9で直流信号に変換され、加算回路20で第1及び第2
整流回路18と19の出力の和が算出される。加算回路
20の出力は、ワーク100の径に相当する。加算回路
20の出力は最小値記憶回路21と最大値記憶回路22
に入力される。最大値記憶回路22は、例えば、公知の
ピークホールド回路で構成され、外部から印加されるリ
セット信号によりリセットされた後の入力信号の最大値
を記憶する。最小値記憶回路21も最大値記憶回路22
と同様の構成を有し、入力信号が反転されている点のみ
が異なる。スイッチ23は、最小値記憶回路21と最大
値記憶回路22のいずれの出力をA/D変換回路24に
入力するかを選択する。There are provided first and second size shift circuits for performing the above-described size shift on the outputs of the first detector 14 and the second detector 15. First and second
The shift amount of the size shift circuit is determined by the first D / A conversion circuit 2
6 and the setting value to the second D / A conversion circuit 27 can be set independently. Outputs of the first and second size shift circuits are first and second rectifier circuits 18 and 1 respectively.
9 and converted by the adder 20 into the first and second DC signals.
The sum of the outputs of the rectifier circuits 18 and 19 is calculated. The output of the adding circuit 20 corresponds to the diameter of the work 100. The output of the addition circuit 20 is a minimum value storage circuit 21 and a maximum value storage circuit 22.
Is input to The maximum value storage circuit 22 is formed of, for example, a known peak hold circuit, and stores the maximum value of the input signal after being reset by a reset signal applied from the outside. The minimum value storage circuit 21 is also the maximum value storage circuit 22.
And the only difference is that the input signal is inverted. The switch 23 selects which output of the minimum value storage circuit 21 and the maximum value storage circuit 22 is input to the A / D conversion circuit 24.
【0024】第1シフト量設定回路28の補助整流回路
30は、第1及び第2整流回路18、19と同じ構成の
もので、第1検出部14の出力を直流信号に変換する。
補助整流回路30に入力される信号はサイズシフトされ
ていない信号であり、第1検出部14の全測定範囲を示
す信号である。しきい値設定回路31には、被加工物1
00の形状に応じてあらかじめしきい値が設定されてい
る。しきい値設定回路31は、例えばボリュームで構成
され使用者が直接しきい値を設定できるようにすること
も、D/A変換回路等を利用してコンピュータを介して
設定できるようにすることもできる。比較回路32は補
助整流回路30の出力をしきい値と比較してその比較結
果をコンピュータ25に送る。The auxiliary rectifier circuit 30 of the first shift amount setting circuit 28 has the same configuration as the first and second rectifier circuits 18 and 19, and converts the output of the first detector 14 into a DC signal.
The signal input to the auxiliary rectifier circuit 30 is a signal that has not been size-shifted, and is a signal indicating the entire measurement range of the first detection unit 14. The threshold value setting circuit 31 includes the workpiece 1
A threshold value is set in advance according to the shape of 00. The threshold value setting circuit 31 is configured by, for example, a volume and allows a user to directly set a threshold value, or can set the threshold value via a computer using a D / A conversion circuit or the like. it can. The comparison circuit 32 compares the output of the auxiliary rectifier circuit 30 with a threshold value and sends the comparison result to the computer 25.
【0025】図4は、図6に示すようなワーク100a
が回転した場合の、第1及び第2シフト量設定回路2
8、29の補助整流回路の出力変化を示す図であり、f
とgはそれぞれ第1及び第2シフト量設定回路の補助整
流回路の出力を、hとiはしきい値を示す。図示のよう
に、第2シフト量設定回路29の補助整流回路の出力
は、第1シフト量設定回路28の補助整流回路30の出
力に対して180°位相シフトしている。ここで、第1
シフト量設定回路28の補助整流回路30の出力fがし
きい値hより大きい時には第1D/A変換回路26に長
径の大きな半径に対応した測定範囲にする値を設定し、
それ以外の時には、第1D/A変換回路26に短径に対
応した測定範囲にする値を設定する。同様に、第2シフ
ト量設定回路29の補助整流回路の出力gがしきい値i
より大きい時には第2D/A変換回路27に長径の大き
な半径に対応した測定範囲にする値を設定し、それ以外
の時には、第2D/A変換回路27に短径に対応した測
定範囲にする値を設定する。FIG. 4 shows a work 100a as shown in FIG.
1st and 2nd shift amount setting circuit 2 when
FIGS. 8A and 8B are diagrams illustrating output changes of auxiliary rectifier circuits 8 and 29, and
And g indicate the outputs of the auxiliary rectifier circuits of the first and second shift amount setting circuits, respectively, and h and i indicate the threshold values. As shown, the output of the auxiliary rectifier circuit of the second shift amount setting circuit 29 is shifted by 180 ° with respect to the output of the auxiliary rectifier circuit 30 of the first shift amount setting circuit 28. Here, the first
When the output f of the auxiliary rectifier circuit 30 of the shift amount setting circuit 28 is larger than the threshold value h, a value is set in the first D / A conversion circuit 26 so that the measurement range corresponds to the larger radius of the major axis.
At other times, a value is set in the first D / A conversion circuit 26 so that the measurement range corresponds to the minor axis. Similarly, the output g of the auxiliary rectifier circuit of the second shift amount setting circuit 29 is the threshold value i
When the value is larger, the second D / A conversion circuit 27 sets a value for setting a measurement range corresponding to the larger radius of the major axis. At other times, the second D / A conversion circuit 27 sets a value for setting a measurement range corresponding to the shorter diameter. Set.
【0026】ここで、第1及び第2サイズシフト回路1
6、17がどちらも短径に対応した測定範囲に設定され
ている場合には、短径部分の加工状態が問題であるから
最小値記憶回路21の出力がA/D変換回路24に入力
されて、コンピュータ25が最小値記憶回路21の出力
を読み取れるようにし、第1及び第2サイズシフト回路
16、17がどちらかが長径に対応した測定範囲に設定
されている場合には、長径部分の加工状態が問題である
から最大値記憶回路22の出力がA/D変換回路24に
入力されて、コンピュータ25が最大値記憶回路22の
出力を読み取れるようにする。最小値記憶回路21と最
大値記憶回路22の値は、それぞれの値が読み出される
ように切り換えられる時にリセットされる。コンピュー
タ25はこのようにして読み取った値に基づいて定寸信
号を発生させる。Here, the first and second size shift circuits 1
If both 6 and 17 are set in the measurement range corresponding to the minor axis, the output of the minimum value storage circuit 21 is input to the A / D conversion circuit 24 because the machining state of the minor axis is a problem. Then, the computer 25 can read the output of the minimum value storage circuit 21, and if one of the first and second size shift circuits 16 and 17 is set in the measurement range corresponding to the long diameter, Since the processing state is a problem, the output of the maximum value storage circuit 22 is input to the A / D conversion circuit 24 so that the computer 25 can read the output of the maximum value storage circuit 22. The values of the minimum value storage circuit 21 and the maximum value storage circuit 22 are reset when the respective values are switched to be read. The computer 25 generates a fixed size signal based on the value thus read.
【0027】なお、上記の実施例では、長径の大きな半
径部分が第1及び第2測子11、12のいずれにきた時
にも測定ができるようにしたが、一方にきた時にのみ測
定するならば、第2シフト量設定回路はなくてもよい。
上記の実施例では、図6に示した形状を有するワークを
測定する場合について説明したが、例えば、実施例の装
置を使用して楕円形状を有するワークを加工する場合に
も定寸信号を発生させることも可能である。その場合に
は、第1及び第2シフト量設定回路はいずれか一方のみ
設ければよく、第1及び第2サイズシフト回路16、1
7のシフト量は同じように切り換えられる。In the above-described embodiment, the measurement can be performed when the large radius portion reaches the first and second tracing styluses 11 and 12. The second shift amount setting circuit may not be provided.
In the above embodiment, the case where the work having the shape shown in FIG. 6 is measured has been described. For example, even when the work having the elliptical shape is processed using the apparatus of the embodiment, the fixed-size signal is generated. It is also possible to make it. In that case, only one of the first and second shift amount setting circuits may be provided, and the first and second size shift circuits 16 and 1 may be provided.
The shift amount of 7 is switched in the same manner.
【0028】また、上記の実施例に限らず各種の変形例
が可能である。例えば、最小値記憶回路21と最大値記
憶回路22はアナログ回路により実現したが、A/D変
換回路のサンプリング速度が十分に速く、コンピュータ
25の処理速度も十分に速ければ、加算回路20の出力
をA/D変換回路でディジタル信号に変換した後、ディ
ジタル処理により最小値と最大値を算出するようにして
もよい。The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications are possible. For example, the minimum value storage circuit 21 and the maximum value storage circuit 22 are realized by analog circuits. However, if the sampling speed of the A / D conversion circuit is sufficiently high and the processing speed of the computer 25 is sufficiently high, the output of the addition circuit 20 is sufficient. May be converted into a digital signal by an A / D conversion circuit, and then the minimum value and the maximum value may be calculated by digital processing.
【0029】また、第1及び第2シフト量設定回路28
と29の出力は、一旦コンピュータ25に入力された
後、コンピュータ25が第1及び第2D/A変換回路2
6、27に測定レンジを決定する値を設定していたが、
第1及び第2シフト量設定回路28と29の出力で値が
選択される回路を設けて、その出力を第1及び第2D/
A変換回路26、27に入力するようにすることも可能
である。The first and second shift amount setting circuits 28
After the outputs of the first and second D / A conversion circuits 2 and 29 are input to the computer 25 once,
The values that determine the measurement range were set in 6, 27.
A circuit whose value is selected by the output of the first and second shift amount setting circuits 28 and 29 is provided, and the output is output by the first and second D /
It is also possible to input to the A conversion circuits 26 and 27.
【0030】更に、第1及び第2整流回路18、19及
び加算回路20が、全測定範囲にわたって十分に高精度
で、分解能を規定しているのがA/D変換回路のビット
数であれば、サイズシフト回路として第1及び第2整流
回路18、19の出力をシフトさせる回路を用いてもよ
い。更に、上記の実施例では、2個の測子を使用してワ
ークの径を測定できるようにしたが、測子を1個使用し
てその変化だけで定寸信号を発生させることも可能であ
り、その場合には、測定部、サイズシフト回路、整流回
路、D/A変換回路、シフト量設定回路は一方のみがあ
ればよく、加算回路20も必要ない。Furthermore, if the first and second rectifier circuits 18, 19 and the adder circuit 20 have sufficiently high accuracy over the entire measurement range and define the resolution, the number of bits of the A / D converter circuit is sufficient. Alternatively, a circuit for shifting the output of the first and second rectifier circuits 18 and 19 may be used as the size shift circuit. Furthermore, in the above embodiment, the diameter of the workpiece can be measured using two probes, but it is also possible to use one probe to generate a sizing signal only by the change. In this case, only one of the measuring unit, the size shift circuit, the rectifier circuit, the D / A converter circuit, and the shift amount setting circuit is required, and the adder circuit 20 is not required.
【0031】[0031]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
方向によって異なる複数の寸法を測定して管理すること
ができるので、円筒形状以外の複数の寸法を管理して定
寸信号を発生させる必要のある被測定物(ワーク)にも
対応できる定寸装置が実現できる。As described above, according to the present invention,
Since a plurality of different dimensions can be measured and managed depending on the direction, a sizing device capable of managing a plurality of dimensions other than a cylindrical shape and corresponding to a workpiece (work) that needs to generate a sizing signal. Can be realized.
【図1】本発明の実施例の定寸装置の構成を示す図であ
る。FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a sizing device according to an embodiment of the present invention.
【図2】実施例におけるサイズシフト回路の構成を示す
図である。FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of a size shift circuit in the embodiment.
【図3】実施例のサイズシフト回路における処理を説明
する図である。FIG. 3 is a diagram illustrating processing in a size shift circuit according to the embodiment.
【図4】本実施例におけるサイズシフト量の切り換え
と、最小値と最大値の読み取りの切り換えを示す図であ
る。FIG. 4 is a diagram illustrating switching of a size shift amount and switching of reading of a minimum value and a maximum value in the present embodiment.
【図5】従来の定寸装置の構成を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a configuration of a conventional sizing device.
【図6】従来の定寸装置では定寸信号の発生が難しかっ
たワーク形状の例を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing an example of a workpiece shape in which it is difficult to generate a sizing signal in a conventional sizing device.
11,12…測子 13…測定ヘッド 14,15…検出部 16,17…サイズシフト回路 18,19…整流回路 20…加算回路 21…最小値記憶回路 22…最大値記憶回路 24…A/D変換回路 25…コンピュータ 26…第1D/A変換回路 27…第2D/A変換回路 28,29…シフト量設定回路 100,100a…被加工物(ワーク) 11, 12 ... Probe 13 ... Measuring head 14, 15 ... Detection unit 16, 17 ... Size shift circuit 18, 19 ... Rectifier circuit 20 ... Addition circuit 21 ... Minimum value storage circuit 22 ... Maximum value storage circuit 24 ... A / D Conversion circuit 25 ... Computer 26 ... First D / A conversion circuit 27 ... Second D / A conversion circuit 28,29 ... Shift amount setting circuit 100,100a ... Workpiece (work)
Claims (3)
示す測定信号を出力する測定ヘッド(13)と、 該測定ヘッド(13)の出力する測定信号を処理する信
号処理回路(18、19、20、21、22)と、 該信号処理回路の出力信号から、加工部分の寸法があら
かじめ設定された目標寸法に達した時に加工条件を変化
させるための定寸信号を出力する演算処理手段(25)
とを備え、 前記信号処理回路は、前記測定ヘッド(13)の出力す
る前記測定信号を前記演算処理手段(25)で処理する
のに適した信号に変換する定寸装置において、 前記信号処理回路は、前記測定信号を前記演算処理手段
(25)で処理するのに適した信号に変換できる前記測
定信号の最適入力範囲が制限されており、 設定されたシフト量で前記測定信号の強度をシフトさせ
るサイズシフト回路(16、17)と、 前記測定信号を所定のしきい値と比較し、前記測定信号
が前記最適入力範囲内に入るように、前記サイズシフト
回路(16、17)の前記シフト量を設定するシフト量
設定手段(28、29)とを備えることを特徴とする定
寸装置。1. A measuring head (13) for outputting a measuring signal indicating a dimension of a processed portion of a workpiece (100), and a signal processing circuit (18,) for processing the measuring signal output from the measuring head (13). 19, 20, 21, 22) and an arithmetic processing means for outputting, from an output signal of the signal processing circuit, a fixed size signal for changing a processing condition when a size of a processed portion reaches a preset target size. (25)
A sizing device for converting the measurement signal output from the measurement head (13) into a signal suitable for processing by the arithmetic processing means (25), the signal processing circuit comprising: The optimal input range of the measurement signal which can convert the measurement signal into a signal suitable for processing by the arithmetic processing means (25) is limited, and the intensity of the measurement signal is shifted by a set shift amount. A size shift circuit (16, 17) for comparing the measured signal with a predetermined threshold value, and shifting the size shift circuit (16, 17) so that the measured signal falls within the optimum input range. A sizing device comprising: shift amount setting means (28, 29) for setting an amount.
小値を記憶する最小値記憶回路(21)と、前記測定信
号の最大値を記憶する最大値記憶回路(22)とを備
え、 前記演算処理手段(25)は、前記シフト量設定手段に
よる前記サイズシフト回路の前記シフト量の設定に応じ
て、前記最小値記憶回路(21)と前記最大値記憶回路
(22)に記憶された前記最小値と前記最小値のいずれ
を読み取るかを変化させる請求項1に記載の定寸装置。2. The signal processing circuit includes a minimum value storage circuit (21) that stores a minimum value of the measurement signal, and a maximum value storage circuit (22) that stores a maximum value of the measurement signal. Arithmetic processing means (25) stores the minimum value storage circuit (21) and the maximum value storage circuit (22) stored in the minimum value storage circuit (21) in accordance with the setting of the shift amount of the size shift circuit by the shift amount setting means. The sizing apparatus according to claim 1, wherein a change is made between a minimum value and the minimum value.
分の2か所の表面位置を検出する2個の検出部(14、
15)を備え、 前記サイズシフト回路は、前記2個の検出部(14、1
5)の出力する前記測定信号の強度をそれぞれシフトさ
せる2個のサイズシフト回路(16、17)を備え、 前記シフト量設定手段は、前記2個のサイズシフト回路
(16、17)の前記シフト量を独立に設定する請求項
2に記載の定寸装置。3. The measuring head (13) includes two detectors (14, 14) for detecting two surface positions of the processed part.
15), wherein the size shift circuit includes the two detection units (14, 1).
5) two size shift circuits (16, 17) for respectively shifting the intensity of the measurement signal output from the above (5), wherein the shift amount setting means is configured to perform the shift of the two size shift circuits (16, 17). 3. The sizing device according to claim 2, wherein the amounts are independently set.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08174872A JP3095686B2 (en) | 1996-07-04 | 1996-07-04 | Sizing device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08174872A JP3095686B2 (en) | 1996-07-04 | 1996-07-04 | Sizing device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1015780A true JPH1015780A (en) | 1998-01-20 |
| JP3095686B2 JP3095686B2 (en) | 2000-10-10 |
Family
ID=15986142
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP08174872A Expired - Fee Related JP3095686B2 (en) | 1996-07-04 | 1996-07-04 | Sizing device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3095686B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6817455B1 (en) | 1999-10-27 | 2004-11-16 | Zf Friedrichshafen Ag | Retarder system |
-
1996
- 1996-07-04 JP JP08174872A patent/JP3095686B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6817455B1 (en) | 1999-10-27 | 2004-11-16 | Zf Friedrichshafen Ag | Retarder system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3095686B2 (en) | 2000-10-10 |
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