JPH10339845A5 - モニタ顕微鏡および顕微鏡 - Google Patents
モニタ顕微鏡および顕微鏡Info
- Publication number
- JPH10339845A5 JPH10339845A5 JP1997150724A JP15072497A JPH10339845A5 JP H10339845 A5 JPH10339845 A5 JP H10339845A5 JP 1997150724 A JP1997150724 A JP 1997150724A JP 15072497 A JP15072497 A JP 15072497A JP H10339845 A5 JPH10339845 A5 JP H10339845A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- specimen
- objective lens
- observation
- stage
- optical system
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はモニタ観察に適したモニタ観察型顕微鏡に関する。また、本発明は光軸を水平とした顕微鏡に関する。
【発明の属する技術分野】本発明はモニタ観察に適したモニタ観察型顕微鏡に関する。また、本発明は光軸を水平とした顕微鏡に関する。
請求項3に対応する発明によれば、モニタ上にマクロ観察画像とミクロ観察画像が同時に表示されるので、検鏡者はモニタを見るだけで、常に拡大された標本像と、標本の全体像における現在の顕微鏡の情報も同一画面上で確認できる。
光学系が、光源1と結像レンズ11を結ぶ光軸が、顕微鏡のフレーム03をのせる机や防振台等に水平になっている。従って、前述した図22に示すような従来の顕微鏡に比較して顕微鏡自体050の高さが1/4以下に抑えられる様になっている。また、光軸を水平方向に設定することにより、従来の顕微鏡に比べて以下の点で有利となる。
a)顕微鏡050の高さが低く設定可能である。
b)透過照明の場合、光軸を折り返す必要がなくなり、照明光が劣化せず低コスト化が可能となる。
c)落射検鏡で光源等に比較的重量のあるレーザーを使用する時に、床面に設置可能のまま簡単に、レーザー光源を使用することが可能となる。
d)床面とフレームの設置面積が大きくとれるため、振動に強くなる。
e)熱によるフレームの変形が起きにくい。
f)対物レンズが無限遠の場合、対物レンズと結像レンズの間に、中間レンズ等が簡単に構成できる。
光学系が、光源1と結像レンズ11を結ぶ光軸が、顕微鏡のフレーム03をのせる机や防振台等に水平になっている。従って、前述した図22に示すような従来の顕微鏡に比較して顕微鏡自体050の高さが1/4以下に抑えられる様になっている。また、光軸を水平方向に設定することにより、従来の顕微鏡に比べて以下の点で有利となる。
a)顕微鏡050の高さが低く設定可能である。
b)透過照明の場合、光軸を折り返す必要がなくなり、照明光が劣化せず低コスト化が可能となる。
c)落射検鏡で光源等に比較的重量のあるレーザーを使用する時に、床面に設置可能のまま簡単に、レーザー光源を使用することが可能となる。
d)床面とフレームの設置面積が大きくとれるため、振動に強くなる。
e)熱によるフレームの変形が起きにくい。
f)対物レンズが無限遠の場合、対物レンズと結像レンズの間に、中間レンズ等が簡単に構成できる。
請求項3に対応する発明によれば、モニタ上にマクロ観察画像とミクロ観察画像が同時に表示されるので、検鏡者はモニタを見るだけで、常に拡大された標本像と、標本の全体像における現在の顕微鏡の情報も同一画面上で確認できる。
また、以下の効果を奏する。顕微鏡050の高さが低く設定可能である。透過照明の場合、光軸を折り返す必要がなくなり、照明光が劣化せず低コスト化が可能となる。落射検鏡で光源等に比較的重量のあるレーザーを使用する時に、床面に設置可能のまま簡単に、レーザー光源を使用することが可能となる。床面とフレームの設置面積が大きくとれるため、振動に強くなる。熱によるフレームの変形が起きにくい。対物レンズが無限遠の場合、対物レンズと結像レンズの間に、中間レンズ等が簡単に構成できる。
また、以下の効果を奏する。顕微鏡050の高さが低く設定可能である。透過照明の場合、光軸を折り返す必要がなくなり、照明光が劣化せず低コスト化が可能となる。落射検鏡で光源等に比較的重量のあるレーザーを使用する時に、床面に設置可能のまま簡単に、レーザー光源を使用することが可能となる。床面とフレームの設置面積が大きくとれるため、振動に強くなる。熱によるフレームの変形が起きにくい。対物レンズが無限遠の場合、対物レンズと結像レンズの間に、中間レンズ等が簡単に構成できる。
Claims (8)
- 観察すべき標本を照明する光源と、前記標本を積載するステージと、前記ステージを上下左右方向に移動可能とするステージ操作手段と、前記標本を観察する対物レンズと、前記対物レンズからの標本光像を結像させる結像光学系と、対物レンズ等を切り換える観察条件切り換え操作手段と、前記結像光学系により得られる画像信号を表示するモニタと、を具備したモニタ観察型顕微鏡において、
前記光源から前記結像光学系までの光軸を床面に対して水平とし、前記ステージ操作手段と前記観察条件切り換え操作手段を顕微鏡本体の特定の1面に集中させたことを特徴とするモニタ観察型顕微鏡。 - 観察すべき標本を照明する光源と、前記標本を積載するステージと、前記ステージを上下左右方向に移動可能とするステージ操作手段と、前記標本を観察する対物レンズと、前記対物レンズからの標本光像を結像させる結像光学系と、対物レンズ等を切り換える観察条件切り換え操作手段と、前記結像光学系により得られる画像信号を表示するモニタと、を具備したモニタ観察型顕微鏡において、
標本像を高倍率で拡大、投影するための対物レンズ、及び、前記対物レンズの投影像を観察する手段を含む第1の光学系と、前記対物レンズを透過せずに、前記標本像を低倍率で投影するためのマクロレンズ、及び、前記マクロレンズの投影像を観察する手段を含む第2の光学系を備え、前記第1の光学系と前記第2の光学系を切換えて観察可能としたことを特徴とするモニタ観察型顕微鏡。 - 観察すべき標本を照明する光源と、前記標本を積載するステージと、前記ステージを上下左右方向に移動可能とするステージ操作手段と、前記標本を観察する対物レンズと、前記対物レンズからの標本光像を結像させる結像光学系と、対物レンズ等を切り換える観察条件切り換え操作手段と、前記結像光学系により得られる画像信号を表示するモニタと、を具備したモニタ観察型顕微鏡において、
標本像を高倍率で拡大、投影するための対物レンズ、及び、前記対物レンズの投影像を観察する手段を含む第1の光学系と、前記対物レンズを透過せずに、前記標本像を低倍率で投影するためのマクロレンズ、及び、前記マクロレンズの投影像を観察する手段を含む第2の光学系と、を備え、該モニタに前記第1および第2の光学系から得られるマクロ観察画像とミクロ観察画像が同時に表示されるようにしたモニタ観察型顕微鏡。 - 観察すべき標本を照明する光源と、前記標本を積載するステージと、前記ステージを上下左右方向に移動可能とするステージ操作手段と、前記標本を観察する対物レンズと、前記対物レンズからの標本光像を結像させる結像光学系と、対物レンズ等を切り換える観察条件切り換え操作手段と、
対物レンズが無限遠光学系対物レンズであり、
光源から前記結像光学系までの光軸を水平としたことを特徴とする顕微鏡。 - 観察すべき標本を照明する光源と、前記標本を積載するステージと、前記ステージを上下左右方向に移動可能とするステージ操作手段と、前記標本を観察する対物レンズと、前記対物レンズからの標本光像を結像させる結像光学系と、対物レンズ等を切り換える観察条件切り換え操作手段と、
無限遠光学系対物レンズとを供え、
観察光軸、高倍観察光軸、低倍観察光軸、落射照明光軸の光軸を床面に対して水平としたことを特徴とする顕微鏡。 - 前記ステージ操作手段と前記観察条件切り換え操作手段を顕微鏡本体の特定の1面に集中させたことを特徴とする請求項4または5のいずれか一つに記載の顕微鏡。
- 前記ステージの、前記観察光軸に対して垂直な平面内での移動により、高倍観察と低倍観察を切換え可能としたことを特徴とする請求項4ないし6のいずれか一つに記載の顕微鏡。
- 前記ステージは吸着によって標本固定することを特徴とする請求項7に記載の顕微鏡。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9150724A JPH10339845A (ja) | 1997-06-09 | 1997-06-09 | モニタ観察型顕微鏡 |
| US09/090,631 US6219181B1 (en) | 1997-06-09 | 1998-06-04 | Monitor-aided microscope |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9150724A JPH10339845A (ja) | 1997-06-09 | 1997-06-09 | モニタ観察型顕微鏡 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10339845A JPH10339845A (ja) | 1998-12-22 |
| JPH10339845A5 true JPH10339845A5 (ja) | 2005-04-14 |
Family
ID=15503032
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9150724A Pending JPH10339845A (ja) | 1997-06-09 | 1997-06-09 | モニタ観察型顕微鏡 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6219181B1 (ja) |
| JP (1) | JPH10339845A (ja) |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1320386C (zh) * | 1999-07-29 | 2007-06-06 | 奥林巴斯光学工业株式会社 | 中继透镜装置 |
| WO2001023937A1 (en) * | 1999-09-27 | 2001-04-05 | Naomi Yamakawa | Microscopic operation assisting device |
| JP2001221951A (ja) | 1999-11-29 | 2001-08-17 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡 |
| JP2002031758A (ja) * | 2000-07-17 | 2002-01-31 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡 |
| US20020051287A1 (en) * | 2000-07-25 | 2002-05-02 | Olympus Optical Co., Ltd. | Imaging apparatus for microscope |
| JP2002040334A (ja) * | 2000-07-27 | 2002-02-06 | Nikon Corp | 顕微鏡制御装置、顕微鏡制御装置の使用方法、顕微鏡装置の制御方法 |
| JP2002148526A (ja) * | 2000-11-06 | 2002-05-22 | Nikon Corp | 顕微鏡装置 |
| JP2002182123A (ja) * | 2000-12-11 | 2002-06-26 | Nikon Corp | 顕微鏡装置 |
| WO2002067039A1 (fr) | 2001-02-19 | 2002-08-29 | Olympus Optical Co., Ltd. | Dispositif de comparaison d'images, procede de comparaison d'images et programme comportant une comparaison d'images informatisee |
| DE10306970B4 (de) * | 2003-02-19 | 2017-02-09 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Elektronisches Mikroskop |
| JP2004343222A (ja) * | 2003-05-13 | 2004-12-02 | Olympus Corp | 画像処理装置 |
| DE102004016736A1 (de) * | 2004-04-05 | 2005-11-10 | Carl Zeiss | Bildaufnahmesystem, Bildwiedergabesystem und Bildaufnahme/-wiedergabesystem |
| CN101151378B (zh) | 2005-03-30 | 2013-04-03 | 奥林巴斯株式会社 | 规定部位发光量测定方法、规定部位发光量测定装置、表达量测定方法及测定装置 |
| JP4954321B2 (ja) * | 2010-08-18 | 2012-06-13 | キヤノン株式会社 | 顕微鏡 |
| JP2012198118A (ja) * | 2011-03-22 | 2012-10-18 | Olympus Corp | 測光装置 |
| JP5806537B2 (ja) | 2011-07-20 | 2015-11-10 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡セット |
| US10473525B2 (en) * | 2013-11-01 | 2019-11-12 | Tokyo Electron Limited | Spatially resolved optical emission spectroscopy (OES) in plasma processing |
| FR3046239A1 (fr) | 2015-12-28 | 2017-06-30 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif et procede d’observation bimodale d’un objet |
| CN108801316A (zh) * | 2018-06-25 | 2018-11-13 | 芜湖市奥尔特光电科技有限公司 | 一种显微镜防沙尘装置 |
| GB202316322D0 (en) * | 2023-10-25 | 2023-12-06 | Renishaw Plc | Spectroscopy |
Family Cites Families (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4875652A (ja) | 1972-01-13 | 1973-10-12 | ||
| US3782823A (en) * | 1972-03-23 | 1974-01-01 | American Optical Corp | Laser microprobe |
| DE2626864C2 (de) * | 1976-06-16 | 1983-12-29 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar | Mikroskop-Universalkondensor |
| JPH0662305B2 (ja) * | 1983-12-29 | 1994-08-17 | オ−ストラリア国 | テクネチウム−99m−標識放射医薬の製造 |
| US4756611A (en) * | 1984-08-31 | 1988-07-12 | Olympus Optical Co., Ltd. | Multiple-purpose microscope |
| US4769698A (en) * | 1985-10-04 | 1988-09-06 | National Biomedical Research Foundation | Interactive microscopic image display system and method |
| JPS63131115A (ja) * | 1986-11-21 | 1988-06-03 | Hitachi Ltd | 走査レ−ザ顕微鏡 |
| JPH01167817A (ja) * | 1987-12-24 | 1989-07-03 | Mitsubishi Electric Corp | 光学式顕微鏡 |
| JPH01157308U (ja) * | 1988-04-21 | 1989-10-30 | ||
| US5006872A (en) * | 1989-12-06 | 1991-04-09 | Mideo Systems, Inc. | Video attachment system for microscopes |
| JPH04213404A (ja) * | 1990-12-10 | 1992-08-04 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光照射装置 |
| JPH05127087A (ja) | 1991-07-02 | 1993-05-25 | Nikon Corp | 顕微鏡システム |
| JP3075299B2 (ja) | 1991-08-02 | 2000-08-14 | オリンパス光学工業株式会社 | 顕微鏡操作ユニット |
| DE4231379C2 (de) * | 1992-09-19 | 2001-09-13 | Leica Microsystems | Mikroskop mit einem multifunktionalen Triebknopf |
| JPH07199077A (ja) | 1993-12-29 | 1995-08-04 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡システム |
-
1997
- 1997-06-09 JP JP9150724A patent/JPH10339845A/ja active Pending
-
1998
- 1998-06-04 US US09/090,631 patent/US6219181B1/en not_active Expired - Lifetime
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH10339845A5 (ja) | モニタ顕微鏡および顕微鏡 | |
| US6160662A (en) | Inverted microscope having a variable stage position | |
| JP4701325B2 (ja) | 顕微鏡検査システム及び方法 | |
| WO2002012945A3 (de) | Anordnung zur erhöhung der tiefendiskriminierung optisch abbildender system | |
| JPH06289301A (ja) | 顕微鏡用落射照明光学系 | |
| JPH10339845A (ja) | モニタ観察型顕微鏡 | |
| JP3861357B2 (ja) | 光学装置と一体化された顕微鏡用レボルバおよび顕微鏡 | |
| JPH1073767A (ja) | 顕微鏡 | |
| US9140886B2 (en) | Inverted microscope including a control unit configured to synchronize a switching operation between absorption filters with a switching operation between excitation filters | |
| JPH1073767A5 (ja) | ||
| JP4046525B2 (ja) | 倒立型顕微鏡 | |
| JPS6053916A (ja) | 多目的顕微鏡 | |
| US7154679B2 (en) | Optical arrangement with a telecentric beam region | |
| JP3757529B2 (ja) | 顕微鏡用照明光学系 | |
| JP4792163B2 (ja) | 顕微鏡装置 | |
| JP2004151351A (ja) | 実体顕微鏡用透過照明装置及び実体顕微鏡 | |
| JPH0297910A (ja) | 顕微鏡用光学系アタッチメント | |
| JPS60227214A (ja) | 双眼実体顕微鏡 | |
| WO2008001945A1 (fr) | Microscope | |
| JPH03142301A (ja) | 走査トンネル顕微鏡 | |
| US20040105148A1 (en) | Transmitted-light illumination device for a microscope | |
| JP2002311333A (ja) | 顕微鏡用光偏向ユニット、それを備えた落射投光管及び顕微鏡 | |
| JP4149304B2 (ja) | 顕微鏡 | |
| JP2990859B2 (ja) | 変倍照明光学系 | |
| JP4499217B2 (ja) | 顕微鏡 |