JPH11160441A - 放射線検出素子 - Google Patents

放射線検出素子

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JPH11160441A
JPH11160441A JP9328619A JP32861997A JPH11160441A JP H11160441 A JPH11160441 A JP H11160441A JP 9328619 A JP9328619 A JP 9328619A JP 32861997 A JP32861997 A JP 32861997A JP H11160441 A JPH11160441 A JP H11160441A
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phosphor
light
solid
imaging device
state imaging
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JP9328619A
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English (en)
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Takashi Ogura
隆 小倉
Yoshikazu Miyazawa
良和 宮澤
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OPUTORON KK
Canon Inc
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OPUTORON KK
Canon Inc
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 高感度、高解像度で、耐久性及び機械的強度
に優れた放射線検出素子を提供する。 【解決手段】 複数画素からなる固体撮像素子3と、固
体撮像素子3の前面に配置した蛍光体1と、固体撮像素
子3と前記蛍光体1の間に、固体撮像素子3に入射する
前記蛍光体の拡散光を低減させる光遮蔽体2を配置した
ことを特徴とする放射線検出素子。また、この光遮蔽体
は、前記固体撮像素子3の受光のための開口部に対応し
た開口部を有することを特徴とする。また、前記蛍光体
1は、透明単結晶であることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、医療分野または非
破壊検査分野において、被写体に放射線を照射し、この
被写体を透過した被写体情報を取得する放射線検出素子
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の放射線検出装置を図7に示す。図
7において、放射線源11から放射線を被写体Sに照射
すると、放射線と被写体との相互作用(吸収、散乱等)
により、被写体Sの内部構造に応じて放射線が強度変調
かつ散乱され、放射線検出器13に到達し、放射線画像
となる。放射線検出器13の前に配置するグリッド12
は、散乱放射線を除去し、放射線画像のコントラストを
改善する。
【0003】一般に、放射線検出器13は、照射放射線
量に比例した強度の蛍光を発する増感紙(Gd22
i:Tb等)と銀塩フィルムからなり、被写体は潜像と
してフィルムに記録され、現像処理の後、蛍光量の対数
に比例した濃度で表す可視画像として提示され、診断や
検査等に使用される。
【0004】また、輝尽性蛍光を発するBaFBr:E
u蛍光体、およびBaF:Eu蛍光体を塗布したイメー
ジングプレート(以下IP)を使用したコンピューテッ
ドラジオグラフィ装置(以下CR装置)も使用され始め
ている。このCR装置は、被写体の放射線画像をIPに
一旦記録し、その後、レーザ光等の励起光をこのIPに
照射して輝尽性発光させ、この光を光電的に読取って画
像信号を得、この信号に基づいて被写体の放射線画像を
銀塩フィルムやCRTディスプレイに表示する装置であ
る。
【0005】最近では、放射線検出器13に微小な固体
撮像素子、スイッチング素子等からなる画素を格子状に
配列した固体撮像素子と蛍光体を組み合わせたデジタル
撮影装置が開発されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来
の、固体撮像素子の受光面に銀塩フィルムとともに用い
る増感紙を密着した放射線検出器では、発光した蛍光
が、蛍光体層内の蛍光体粒子自体や蛍光体粒子同士を接
着しているバインダ等で吸収、散乱され、発光率や鮮鋭
度の低下が生じるという問題が起こる場合がある。
【0007】また、ヨウ化セシウム(Csl)、ヨウ化
ナトリウム(NaI)、硫化亜鉛(ZnS)等の蛍光体
を塗布、または真空蒸着した、従来の放射線検出器の
内、CsI結晶を柱状化して成長させたもの等は、横方
向の散乱が減少して鮮鋭度は高いものの、前者と同様、
結晶内で散乱、吸収されて発光輝度が低下するという問
題点が生じる場合がある。
【0008】また、この柱状CsI結晶は、特に湿気に
弱く、柱状であるため強度的にも弱い。
【0009】更にまた、CsI結晶をa−Si:H膜に
直接蒸着・焼成させて放射線検出器を形成する場合は、
このCsI結晶の焼成プロセスにおいて、a−Si:H
膜を熱によって劣化させてしまうという場合があること
が、特開平05−180945号公報で報告されてい
る。
【0010】また、従来例として、光ファイバプレート
の上部に柱状CsI結晶等を形成し、光ファイバプレー
トを通った光を固体撮像素子で受光するものもある。
【0011】しかしながら、光ファイバプレートは、高
価で、かつ大型化が困難であり、固体撮像素子の画素ピ
ッチと光ファイバプレートのピッチを同程度にすること
や画素と光ファイバのコアとの位置合わせが極めて難し
く、さらに、発光光が光ファイバプレートを通過する際
に反射吸収が起こり、固体撮像素子に入射する光量が低
下するということがあることが、特開平07−0278
63号公報で報告されている。
【0012】[発明の目的]本発明の目的は、上記のよ
うな問題点を鑑み、蛍光体内での蛍光の拡散および吸収
が少なく、かつ、拡散光が光電変換素子へ入射すること
がなく、耐湿性による劣化がなく、機械的強度の高い、
高感度、高解像度の放射線検出素子を提供することにあ
る。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係る放射線検出素子は、複数画素からなる
固体撮像素子と、該固体撮像素子の前面に配置した蛍光
体と、前記固体撮像素子と前記蛍光体との間に、前記固
体撮像素子の受光のための開口部に対応した開口部を有
する光遮蔽体を配置したことを特徴とする。
【0014】また、前記遮光層の光学濃度が、0.7以
上であることを特徴とする放射線検出素子でもある。
【0015】また、前記遮光層が、顔料及び/又は染料
を含む樹脂より形成されていることを特徴とする放射線
検出素子でもある。
【0016】また、前記光遮蔽体は、蛍光体から発生す
る光を透過する層と蛍光体から発生する光の一部を遮蔽
する層を積層したことを特徴とする。
【0017】また、前記光遮蔽体は、表面に遮光層を有
する透明なガラス板を複数枚積層して構成し、前記遮光
層は、前記固体撮像素子の受光のための開口部に対応し
た開口部を有することを特徴とする。
【0018】また、前記光遮蔽体は、蛍光体から発生す
る光を遮蔽する物質の格子構造体であることを特徴とす
る。
【0019】また、前記光遮蔽体の開口形状は、前記固
体撮像素子の受光面から前記蛍光体に向かって次第に広
がる形状であることを特徴とする。
【0020】また、前記光遮蔽体は、前記蛍光体と、屈
折率が1.5から2.0の透明接着剤で接着されたこと
を特徴とする。
【0021】また、前記蛍光体は、透明であることを特
徴とする。
【0022】また、前記蛍光体は、該蛍光体が発する蛍
光に対して透明であることを特徴とする。
【0023】また、前記蛍光体は、透明単結晶であるこ
とを特徴とする。
【0024】また、前記蛍光体は、CsI:Tl、Cs
I:Na、NaI:Tlのいずれかからなることを特徴
とする。
【0025】また、前記蛍光体は、100μmから1m
mの厚さを有することを特徴とする。
【0026】また、前記蛍光体は、前記固体撮像素子の
受光面と反対側の面を光反射層で覆っていることを特徴
とする。
【0027】また、前記固体撮像素子は、光電変換膜に
a−Si:Hを用いたことを特徴とする。
【0028】[作用]本発明によれば、従来の、拡散、
吸収の大きい粒子状の蛍光体に代えて、透明な蛍光体を
用いることにより、蛍光体内での拡散および吸収を少な
くすることができる。
【0029】また、単結晶の蛍光体を用いることによ
り、耐湿性が良好で、硬度の高い蛍光体とすることがで
きるため、耐久性及び機械的強度を高めることができ
る。
【0030】さらに、固体撮像素子と蛍光体との間に、
固体撮像素子の受光のための開口部以外の領域を遮蔽す
る光遮蔽体を配置することにより、横方向の拡散光の入
射を防止し、直接光のみを固体撮像素子に入射させるこ
とができる。
【0031】従って、本発明によれば、高感度、高解像
度で、かつ耐久性と機械的強度を向上した放射線検出素
子を提供することができる。
【0032】
【実施例】[実施例1]本発明の実施例を図1〜図4に
基づいて詳細に説明する。
【0033】[概略構成]図1は、本発明の放射線検出
素子の概略構成を示す模式的断面図である。
【0034】[蛍光体]図1において、1は、放射線
を、蛍光体から発光する光に変換する蛍光体である。
【0035】本発明は、この蛍光体として、透明単結晶
の蛍光体を用いることを特徴の一つとする。このような
蛍光体としては、CsI:Tl、CsI:Na、又はN
aI:Tlを用いることができる。
【0036】本実施例では、この蛍光体として、例え
ば、その大きさが430mm×430mmで、厚さが約
500μm位の単結晶のCsI:Tlを用いた(結晶厚
は、特に、この値にとらわれる必要はない)。
【0037】CsI:Tlの結晶は、厚さが厚ければ厚
いほど、放射線の吸収率は高くなるが、固体撮像素子に
到達する発光光は、厚ければ厚いほど結晶内で拡散、吸
収して減衰する。よって、結晶の発光輝度は、結晶厚に
対してピーク値が存在し、発明者が検討した結果による
と、CsI:Tlの結晶は100μm〜1mmであるこ
とが好ましい。すなわち、100μmより薄くすると、
発光量が低下し、1mmより厚くすると、解像力が低下
し、好ましくない場合がある。
【0038】[光遮蔽体]2は、蛍光体1と固体撮像素
子3との間に配置した光遮蔽体である。この光遮蔽体2
は、固体撮像素子3に入射する単結晶の蛍光体1の拡散
光を低減させ、固体撮像素子3に入射する全光に対する
直接光の比率を高くする性質を有している。詳しくは、
後述する。
【0039】また、この光遮蔽体は、前記蛍光体と、屈
折率が1.5から2.0の透明接着剤で接着されてい
る。透明接着剤は、蛍光体1で発光された光成分のう
ち、固体撮像素子で必要とする波長成分を充分に透過す
るものであってよく、いわゆる、透明体に必ずしも限定
されるものではない。
【0040】[固体撮像素子]3は、単結晶の蛍光体1
で発光した光を光電変換する複数画素からなる固体撮像
素子であり、光電変換膜にa−Si:Hなどの薄膜半導
体層を用いたものが好適に使用できる。
【0041】[光反射層]4は、蛍光体1の放射線の入
射面側を覆った光反射層である。この光反射層4は、例
えばアルミニウムまたはクロム等からなり、蛍光体1の
発光光を、固体撮像素子3方向に反射し、蛍光体の発光
輝度を高める。この光反射層4は、例えば、蛍光体1の
一面に真空蒸着により直接形成する。
【0042】[回路構成]図5に、固体撮像素子3の等
価回路の一例を示す。以下の例は、2次元a−Siセン
サについて説明を加えていくが、検出素子は特に限定す
る必要はなく、例えばその他の固体撮像素子(電荷結合
素子など)であってもよい。
【0043】ただし、a−SiセンサとCsI:Tlの
組み合わせは、CsI:Tlの極大発光波長が565n
mであり、a−Siセンサの感度ピークが580nmで
ほぼ一致するので変換効率が良い。
【0044】ここで一素子の構成について説明する。一
素子の構成は、固体撮像素子21と電荷の蓄積および読
み取りを制御するスイッチングTFT22とで構成さ
れ、一般には、ガラスの基板上に配されたa−Si:H
膜で形成される。
【0045】固体撮像素子21中の21Cは、この例で
は単に寄生キャパシタンスを有した光ダイオードでもよ
いし、光ダイオード21Dと検出器のダイナミックレン
ジを改良するように追加コンデンサ21Cを並列に含ん
でいる光検出器と捉えても良い。ダイオード21Dのア
ノードAは、共通電極であるバイアス配線Lbに接続さ
れ、カソードKは、コンデンサ21Cに蓄積された電荷
を読み出すための制御自在なスイッチングTFT22に
接続されている。この例では、スイッチングTFT22
は、ダイオード21DのカソードKと電荷読み出し用増
幅器25との間に接続された薄膜トランジスタである。
【0046】スイッチングTFT22と信号電荷はリセ
ット用スイッチング素子24を操作してコンデンサ21
Cをリセットした後に、放射線26を放射することによ
り、光ダイオード21Dで放射線量に応じた電荷が発生
し、コンデンサ21Cに蓄積される。その後、再度、ス
イッチングTFT22と信号電荷は、リセット用スイッ
チング素子24を操作して容量素子23に電荷を転送す
る。そして、光ダイオード21Dにより蓄積された量を
電位信号として読み出し用増幅器25によって読み出
し、A/D変換を行うことにより入射放射線量を検出す
る。
【0047】図6は、2次元に配列した固体撮像素子を
表した等価回路図である。図5で示された固体撮像素子
を具体的に2次元に拡張して構成した場合における光電
変換動作について述べる。
【0048】固体撮像素子3の画素は、2000×20
00〜4000×4000程度の画素から構成され、セ
ンサ面積は、200mm×200mm〜500mm×5
00mm程度である。図6において、固体撮像素子3は
4096×4096の画素から構成され、センサ面積は
430mm×430mmである。よって、1画素のサイ
ズは、約105×105μmである。1ブロック内の4
096画素を横方向に配線し、4096ラインを順に縦
に配置する事により各画素を2次元的に配置している。
【0049】前述の通り、1画素は、固体撮像素子21
とスイッチングTFT22とで構成される。21−
(1,1)〜21−(4096,4096)は前述の固
体撮像素子21に対応するものであり、光検出ダイオー
ドのカソード側をK、アノード側をAとして表してい
る。22−(1,1)〜22(4096,4096)は
スイッチングTFT22に対応するものである。
【0050】2次元a−Siセンサの各列の固体撮像素
子21−(m,n)のK電極は、対応するスイッチング
TFT22−(m,n)のソース、ドレイン導電路によ
りその列に対する共通の列信号線(Lc1〜4096)
に接続されている。例えば、列1の固体撮像素子21−
(1,1)〜(1,4096)は第1の列信号配線Lc
1に接続されている。
【0051】各行の固体撮像素子21のA電極は、共通
にバイアス配線Lbを通してバイアス電源31に接続さ
れている。各行のTFT22のゲート電極は、行選択配
線(Lr1〜4096)に接続されている。例えば、行
1のTFT22−(1,1)〜(4096,1)は行選
択配線Lr1に接続される。行選択配線Lrはラインセ
レクタ部32を通して制御部33に接続されている。ラ
インセレクタ部32は最も簡単に構成するならば、単に
液晶ディスプレイなどに用いられているシフトレジスタ
によって構成することも可能である。
【0052】列信号配線Lcは、制御部33により制御
される信号読み出し部34に接続されている。出力信号
は順次図示しないA/D変換器へ出力されディジタル値
に変換される。
【0053】[複数基板の貼り合わせによる大面積基板
の作製]上記の例では、4096×4096画素の固体
撮像素子3を1枚の基板で構成した例を示したが、40
96×4096画素の固体撮像素子3を2048×20
48個の画素を持つ4枚の光検出器で構成することもで
きる。2048×2048個の検出器を4枚で1つの固
体撮像素子3を構成する場合は、分割して製作する事に
より歩留まりが向上するなどのメリットがある。
【0054】また、蛍光体も同様に、必ずしもCsI:
Tlも430mm×430mmの1枚の単結晶である必
要はなく、例えば、4枚を貼り合わせることで生産性を
向上することができる。215mm×215mmの4枚
の結晶は、端面を接着剤等で貼り合わせてもよいし、レ
ーザ光等を用いて、結晶の一部を溶解して貼り合わせて
もよい。
【0055】接着剤を用いる場合は、この接着剤は蛍光
体から発生する光に対して透明で、その屈折率はCs
I:Tl結晶と同等で、約1.8程度が好ましい。
【0056】[光遮蔽体の構成]次に、蛍光体1と固体
撮像素子3の間に配置した光遮蔽体について説明する。
【0057】図2に、実施例1の光遮蔽体の構造を示
す。図2に示すように、本実施例の光遮蔽体2は、蛍光
体1と固体撮像素子3との間に配置され、蛍光体から発
生する光を透過する層41と蛍光体から発生する光の一
部を遮蔽する層42を積層した構成としてある。
【0058】蛍光体から発生する光を透過する層41
は、例えばガラス板(?)からなり、本実施例では、こ
のガラス板を3枚積層してある(ただし、積層枚数は何
枚でもかまわないし、1枚だけでも、かまわない)。
【0059】また、蛍光体から発生する光遮蔽層42
は、そのガラス板の表面に、蛍光体から発生する光に対
して不透明な物質によって、蛍光体から発生する光の一
部を遮光する形状に形成された層である。この光遮蔽層
を形成する材料は、アルミニウムやクロムなどの金属膜
あるいは金属酸化膜、顔料や染料などの着色剤を含有す
る樹脂である。
【0060】本実施例では、このような蛍光体から発生
する光遮蔽層42をそれぞれ形成したガラス板を3枚、
積層してある。また、この蛍光体から発生する光遮蔽層
は、格子状に光電変換部(開口部)31以外の領域上に
形成されており、かつ、固体撮像素子3に近付くにした
がって、遮光幅が大きくなるようにしてある。
【0061】図3は、この光遮蔽体の断面図を模式的に
示した図である。図3において、単結晶蛍光体で発光し
た蛍光の内、直接光(実線)は固体撮像素子3の開口部
5に導光し、その他の結晶内で拡散した拡散光(点線)
は遮蔽層42が吸収するようになっている。例えば、最
下層の遮蔽層42は固体撮像素子3の開口部5以外の部
分、例えば、図5、図6で説明した、スイッチングTF
T22や信号配線Lcや選択配線Lr等を覆うように形
成され、上層の遮蔽層42ほどその面積が小さくなるよ
うになっているのが好ましい。
【0062】ここでは、光遮蔽体としては、一枚の厚さ
が100〜500μm(未定??)のガラス板を3枚、
積層して形成している。特に積層するガラスの厚さおよ
び積層枚数は、この例にとらわれる必要はなく、固体撮
像素子の開口面積とCsI:Tl結晶の厚さに基づいて
最適化されていればよい。
【0063】そして、放射線検出素子として感度を重視
する場合は、この光遮蔽体を薄くして固体撮像素子へ多
くの光量が到達するようにし、解像力を重視する場合
は、逆に光遮蔽体を厚くして結晶内での拡散光を減少さ
せるのが好ましい。
【0064】これにより、拡散光が固体撮像素子の光電
変換部(開口部)に入射するのを減少させることができ
る。
【0065】[光遮蔽体の作製方法]蛍光体から発生す
る光の遮光層の材料としては、アルミニウムやクロムな
どの金属膜あるいは金属酸化膜、カーボンブラックやチ
タンブラックなどの顔料又はアゾ系の黒色染料などが上
げられる。
【0066】遮光層の光学濃度は、再帰反射を防止する
ために、0.7以上であることが必要である。
【0067】また、作製方法としては、オフセット印刷
法、スクリーン印刷法などの印刷方法、またはフォトリ
ソプロセスなどにより、容易に作製することができる。
【0068】また、このように、固体撮像素子の基板と
同等の熱膨張率の物質(ガラス)で光遮蔽体を作製すれ
ば、固体撮像素子の開口部と光遮蔽体の開口部との熱膨
張による位置ずれは生じない。
【0069】また、CsI:Tl結晶からなる蛍光体と
ガラスとの接着は、屈折率が1.5から2.0の透明接
着剤を用いて、接着面での反射を最小限にすることが好
ましい。
【0070】[実施例2]光遮蔽体の実施例2として、
図4に蛍光体から発生する光を遮蔽する物質の格子構造
体からなる光遮蔽体を示す。
【0071】[光遮蔽体の構成]この格子構造体61
は、例えば、フォトリソグラフィ技術により作製したも
ので、その格子の開口の数は固体撮像素子の画素数と一
致し、固体撮像素子に近い方の格子の開口形状は、固体
撮像素子の受光面の開口形状と一致し、固体撮像素子か
ら離れるにしたがい、わずかに広がっているのが好まし
い。
【0072】また、この格子構造体61は、単結晶蛍光
体の放射線入射面付近、すなわち固体撮像素子3から遠
い面付近で発光した蛍光を固体撮像素子3に導光し、そ
の他の結晶内で拡散した拡散光は格子が吸収するように
設計されていることを特徴としている。
【0073】[光遮蔽体の作製方法]このような、格子
構造の光遮蔽体の作製方法としては、例えば、カラーテ
レビ等のCRTディスプレイ装置に用いられるシャドー
マスク製造法と同様に、フォトリソグラフィ技術により
作製することができる。
【0074】例えば、図8に示すように、光遮蔽体とな
る基材の両面にレジストを塗布し(a)、その両面のレ
ジストに格子のガラスマスクを用いて露光し(b)、そ
の後、レジストを現像し(c)、エッチングして開口し
(d)、レジストを剥離して(e)、格子構造を形成す
ることができる。
【0075】[他の実施例]実施例1では、複数のガラ
ス板を積層して構成した光遮蔽体を示したが、1枚のガ
ラス板中に、光遮蔽層を形成しても良い。
【0076】
【発明の効果】以上、説明したように、本発明によれ
ば、従来の、拡散、吸収の大きい粒子状の蛍光体に代え
て、透明な蛍光体を用いることにより、蛍光体内での拡
散および吸収を少なくすることができる。
【0077】また、単結晶の蛍光体を用いることによ
り、耐湿性が良好で、硬度の高い蛍光体とすることがで
きるため、耐久性及び機械的強度を高めることができ
る。
【0078】さらに、固体撮像素子と蛍光体との間に、
固体撮像素子の受光のための開口部以外の領域を遮蔽す
る光遮蔽体を配置することにより、横方向の拡散光の入
射を防止し、直接光のみを固体撮像素子に入射させるこ
とができる。
【0079】従って、本発明によれば、蛍光体内での拡
散および吸収が少なく、かつ蛍光体内での拡散光が固体
撮像素子に入射することを低減した、高感度、高解像度
で、更に耐久性及び機械的強度に優れた放射線検出素子
を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の放射線検出素子の模式的断面図であ
る。
【図2】本発明の光遮蔽体の一例を示す図である。
【図3】本発明の光遮蔽体の一例の模式断面図である。
【図4】本発明の他の光遮蔽体の一例を示す図である。
【図5】実施例の固体撮像素子の等価回路図である。
【図6】実施例の2次元に配列した固体撮像素子を表し
た等価回路図である。
【図7】従来の放射線検出装置の構成図である。
【図8】光遮蔽体の製造方法を説明する図である。
【符号の説明】
1 蛍光体 2 光遮蔽体 3 固体撮像素子 4 光反射層 5 開口部 S 被写体 11 放射線源 12 グリッド 13 放射線検出器 21 固体撮像素子 22 スイッチングTFT 23 容量素子 24 リセット用スイッチング素子 25 読み出し用増幅器 27 放射線 31 バイアス電源 32 ラインセレクタ部 33 制御部 34 信号読み出し部 41 蛍光体から発生する光透過層 42 蛍光体から発生する光遮蔽層 61 格子構造体
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成11年1月11日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0058
【補正方法】変更
【補正内容】
【0058】蛍光体から発生する光を透過する層41
は、例えばガラス板からなり、本実施例では、このガラ
ス板を3枚積層してある(ただし、積層枚数は何枚でも
かまわないし、1枚だけでも、かまわない)。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0062
【補正方法】変更
【補正内容】
【0062】ここでは、光遮蔽体としては、一枚の厚さ
が100〜500μmのガラス板を3枚、積層して形成
している。特に積層するガラスの厚さおよび積層枚数
は、この例にとらわれる必要はなく、固体撮像素子の開
口面積とCsI:Tl結晶の厚さに基づいて最適化され
ていればよい。

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数画素からなる固体撮像素子と、 該固体撮像素子の前面に配置した蛍光体と、 前記固体撮像素子と前記蛍光体との間に、前記固体撮像
    素子の受光のための開口部に対応した開口部を有する光
    遮蔽体を配置したことを特徴とする放射線検出素子。
  2. 【請求項2】 前記光遮蔽体は、前記蛍光体から発生す
    る光を透過する層と前記蛍光体から発生する光の一部を
    遮蔽する層を積層したことを特徴とする請求項1記載の
    放射線検出素子。
  3. 【請求項3】 前記光遮蔽体は、表面に遮光層を有する
    透明なガラス板を複数枚積層して構成し、前記遮光層
    は、前記固体撮像素子の受光のための開口部に対応した
    開口部を有することを特徴とする請求項2記載の放射線
    検出素子。
  4. 【請求項4】 前記遮光層の光学濃度が、0.7以上で
    あることを特徴とする請求項2又は3記載の放射線検出
    素子。
  5. 【請求項5】 前記遮光層が、顔料及び/又は染料を含
    む樹脂より形成されていることを特徴とする請求項2〜
    4のいずれかに記載の放射線検出素子。
  6. 【請求項6】 前記光遮蔽体は、蛍光体から発生する光
    を遮蔽する物質の格子構造体であることを特徴とする請
    求項1記載の放射線検出素子。
  7. 【請求項7】 前記光遮蔽体は、前記固体撮像素子の受
    光面から前記蛍光体に向かって次第に広がる形状の開口
    部を有することを特徴とする請求項2〜6のいずれか1
    項記載の放射線検出素子。
  8. 【請求項8】 前記光遮蔽体は、前記蛍光体と、屈折率
    が1.5から2.0の透明接着剤で接着されたことを特
    徴とする請求項2〜7のいずれか1項記載の放射線検出
    素子。
  9. 【請求項9】 前記蛍光体は、透明であることを特徴と
    する請求項1〜8のいずれか1項記載の放射線検出素
    子。
  10. 【請求項10】 前記蛍光体は、該蛍光体が発する蛍光
    に対して透明であることを特徴とする請求項1〜9のい
    ずれか1項記載の放射線検出素子。
  11. 【請求項11】 前記蛍光体は、透明単結晶であること
    を特徴とする請求項9記載の放射線検出素子。
  12. 【請求項12】 前記蛍光体は、CsI:Tl、Cs
    I:Na、NaI:Tlのいずれかからなることを特徴
    とする請求項9〜11のいずれか1項記載の放射線検出
    素子。
  13. 【請求項13】 前記蛍光体は、100μmから1mm
    の厚さを有することを特徴とする請求項9〜12のいず
    れか1項記載の放射線検出素子。
  14. 【請求項14】 前記蛍光体は、前記固体撮像素子の受
    光面と反対側の面を光反射層で覆っていることを特徴と
    する請求項9〜13のいずれか1項記載の放射線検出素
    子。
  15. 【請求項15】 前記固体撮像素子は、光電変換膜にa
    −Si:Hを用いたことを特徴とする請求項1〜14の
    いずれか1項記載の放射線検出素子。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002190584A (ja) * 2000-12-20 2002-07-05 Canon Inc 放射線撮影装置
JP2002357699A (ja) * 2001-05-31 2002-12-13 Konica Corp 放射線画像変換パネル
JP2005037363A (ja) * 2003-06-30 2005-02-10 Shimadzu Corp 放射線検出器およびその製造方法
JP2009294089A (ja) * 2008-06-05 2009-12-17 Aloka Co Ltd 放射線測定装置及びその製造方法

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