JPH11224625A - X線管 - Google Patents
X線管Info
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- JPH11224625A JPH11224625A JP10025885A JP2588598A JPH11224625A JP H11224625 A JPH11224625 A JP H11224625A JP 10025885 A JP10025885 A JP 10025885A JP 2588598 A JP2588598 A JP 2588598A JP H11224625 A JPH11224625 A JP H11224625A
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 6
- 238000004846 x-ray emission Methods 0.000 claims description 60
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000004904 shortening Methods 0.000 abstract description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 22
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 19
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 16
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000004323 axial length Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000004876 x-ray fluorescence Methods 0.000 description 1
Classifications
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/02—Constructional details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/14—Arrangements for concentrating, focusing, or directing the cathode ray
- H01J35/153—Spot position control
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2235/00—X-ray tubes
- H01J2235/16—Vessels
- H01J2235/165—Shielding arrangements
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- X-Ray Techniques (AREA)
Abstract
縮化が図れるX線管を提供すること。 【解決手段】 電子を放出する電子銃部2と、電子銃部
2から放出される電子を先端面41で受けてX線を発生
させるターゲット4と、ターゲット4の先端面41の前
方に設けられX線を出射するためのX線出射窓32と、
ターゲット4の先端部分に取り付けられる筒体であって
その周面に電子を通過させる電子通過口52を有しその
電子通過口52が電子の通過位置に対し少なくともX線
出射窓32の方向と反対側へ広げられてなるフード電極
5とを備えている。
Description
線管に関するものである。
透過性の良い電磁波であり、物体の内部構造の非破壊・
被接触観察に多用されている。X線の発生にあたっては
X線管が用いられ、電子銃から出射された電子をターゲ
ットに衝突させてX線を発生するが通例であり、この衝
突にあたっては、電子銃を収納する筒状部材の中心軸と
ターゲットを収納する筒状部材の中心軸とを一致させる
か、双方の中心軸を垂直に設定することが一般的であ
る。
心軸とターゲットを収納する筒状部材の中心軸とが略直
交するX線管の構成図であり、米国特許(USP)第
5,077,771号に開示のX線管である。図11に
示すように、このX線管は、電子を発生・出射する電子
銃部910と、電子銃部910から出射された電子を入
力し、この電子がターゲット921に衝突することによ
りX線を発生するX線発生部920と、を備える。
力供給により発熱するヒータ911と、ヒータ911に
よって熱せられて電子を放出するカソード912と、カ
ソード912から放出された電子を加速・集束するフォ
ーカスグリッド電極913と、ヒータ911、カソード
912、およびフォーカスグリッド電極913を収納す
るとともに電子通過口を有する容器914と、を備え
る。
0から出射された電子が衝突してX線を発生するターゲ
ット921と、ターゲット921を包む平坦な管状に、
かつ、中心軸が電子銃部910の中心軸と略直交する様
に形成されるともに、電子銃部910から出射された電
子がターゲット911に至る経路に電子通過開口を有す
るフード電極922と、ターゲット921およびフード
電極922を収納する内部空間を有し、ターゲット92
1で発生したX線を取り出す開口を有するとともに、容
器914の電子通過口を介して容器914の内部空間と
内部空間が連結する容器923と、容器923のX線通
過口に配設されたX線透過部材から成るX線取り出し窓
924と、を備える。なお、フード電極922及びター
ゲット921には、電子銃部910の出射口の電位に対
して、正の高電圧が印加される。
出射された電子は、フォーカスグリッド電極913とフ
ード電極922との間の電界によって高速度に加速さ
れ、電子の各時刻の各位置における等電位面の垂直方向
(すなわち、電界方向)に進行し、フード電極の電子通
過用の開口を通過した後にターゲット921に衝突す
る。電子がターゲット921に衝突するとX線が発生
し、フード電極922のX線通過用開口およびX線通過
窓924を順次介して、X線管からX線が出力される。
品質管理のために、拡大透視画像を得るX線検査装置な
どでX線源として使用される。そして、拡大率を大きく
できることは、検査精度を向上する上で非常に重要であ
る。
な概略構成図である。図12に示されるX線検査装置で
は、X線管から出射されたX線が試料皿上の試料に照射
される。試料を透過したX線は、X線蛍光増倍管(イメ
ージインテンシファイア管;I.I.管)で検出され、
撮像管で拡大透視画像が撮像される。この装置での透視
画像の拡大率は、X線管内のX線発生点(X線管の焦点
位置)から試料位置までの距離(A)と、試料位置から
I.I.管のX線入射面までの距離(B)との比で決ま
る。すなわち、拡大率Mは、 M=(A+B)/A …(1) である。通常は、A《Bなので、 M=B/A …(2) と表すことができる。
小さくすること、又は、Bを大きくすることが考えられ
る。しかし、Bを大きくすると、X線検査装置全体が大
きくなるとともに、X線の外部への漏れを防ぐための鉛
シールドの量が増えるなど重量の増大が著しい。そこ
で、少しでもAを小さくすることが切望されている。
ものであり、X線の発生点からX線出射窓までの距離の
短縮化が図れるX線管を提供することを目的とする。
X線管は、電子を放出する電子銃と、電子銃から放出さ
れる電子を先端面で受けてX線を発生させるターゲット
と、ターゲットの先端面の前方に設けられX線を出射す
るためのX線出射窓と、ターゲットの先端部分に取り付
けられる筒体であってその周面に電子を通過させる電子
通過口を有しその電子通過口が電子の通過位置に対し少
なくともX線出射窓の方向と反対側へ広げられてなるフ
ード電極とを備えて構成されている。また本発明に係る
X線管は、前述のターゲットが、先端部分であって電子
通過口から露出する部分が削られていることを特徴とす
る。また本発明に係るX線管は、前述の電子をターゲッ
トの先端面の中心軸上に入射させることを特徴とする。
れた電子は、フード電極の電子通過口を通りターゲット
の先端面に入射される。その際、電子通過口がX線の出
射方向の反対側へ広がっているため、電子は、X線の出
射方向側に曲げられX線出射窓に近い位置に入射される
ことなる。従って、X線の発生位置とX線出射窓との距
離の短縮化が図れる。
る電子銃と、電子銃から放出される電子を先端面で受け
てX線を発生させるターゲットと、ターゲットの先端面
の前方に設けられX線を出射するためのX線出射窓と、
ターゲットの先端部分に取り付けられる環体であって電
子が先端面に入射される位置よりX線出射窓側に配置さ
れるフード電極とを備えて構成されている。
電子は、フード電極の後方を通りターゲットの先端面に
入射される。その際、フード電極の存在により電子が通
過する領域における電界がX線出射窓側へ傾けられてい
るため、電子は、X線の出射方向側に曲がりX線出射窓
に近い位置に入射される。従って、X線の発生位置とX
線出射窓との距離の短縮化が図れる。
の実施形態について説明する。尚、各図において同一要
素には同一符号を付して説明を省略する。また、図面の
寸法比率は説明のものと必ずしも一致していない。
X線管1を示す。図1(a)はX線管1の横断面図であ
り、図1(b)はX線管1の縦断面図である。図1
(a)、(b)に示すように、X線管1は、電子を発生
・放出する電子銃部2と、電子銃部2からの電子を受け
てX線を発生するX線発生部3とを備えている。
容器21を具備し、その容器21には外部からの電力供
給により発熱するヒータ22が設けられている。また、
電子銃部2には、ヒータ21によって熱せられ電子を放
出するカソード23が設けられている。また、カソード
23から放出された電子を集束させるフォーカスグリッ
ド電極24が設けられている。更に、容器21には、カ
ソード23から放出されフォーカスグリッド電極24に
より集束された電子を出射するための開口25が設けら
れている。この開口25は、フォーカス電極としての機
能も果たすものである。
収容する容器31を備えている。容器31は、電子銃部
2の容器21と開口25を通じて連通しており、カソー
ド23から放出される電子を入射できる構造になってい
る。これらの容器31、容器21は密封されており、そ
の内部がほぼ真空状態に保たれている。
されている。ターゲット4は、電子銃部2からの電子を
受けてX線を発生させるものである。このターゲット4
は、金属製の棒状体であって、その軸方向を電子が進入
してくる方向に対して交差する向きに配置されている。
ターゲット4の先端面41は、電子銃部2からの電子を
受ける面であり、その電子が進入してくる前方の位置に
配置されている。
ている。X線出射窓32は、ターゲット4から発せられ
たX線を容器31の外部へ出射させるための窓であり、
例えば、X線透過材であるBe材からなる板体などによ
り構成される。このX線出射窓32は、ターゲット4の
先端の前方に設けられている。また、X線出射窓32
は、その中心がターゲット4の中心軸の延長上に位置す
るように形成されている。
5が取り付けられている。フード電極5は、ターゲット
4の先端面41に入射される電子の入射位置をX線の取
出側、すなわち、X線出射窓32側に近づけるためのも
のである。
は、電子銃部2の開口25の縁部分の電位に対して、正
の高電圧が印加されている。
極の拡大斜視図を示す。
分42は、他の部分に対し細径となっている。ターゲッ
ト4の先端部分42の先端面41は、ターゲット4の軸
方向に対し斜めに形成されている。すなわち、先端面4
1は、ターゲット4の軸方向に対して直交せず、かつ、
平行とならないように形成されている。
電極5が取り付けられている。フード電極5は、金属製
の筒状体であり、その内径がターゲット4の先端部分4
2の外径とほぼ同一径とされている。フード電極5の軸
方向の長さ寸法は、細径の先端部分42の長さとほぼ同
一寸法とされている。また、フード電極5の先端側の端
部には、リング状に肉厚を増してなる大径部51が形成
されている。大径部51は、ターゲット4の先端部分4
2にフード電極5を取り付けたときに、ターゲット4の
先端面41の最先端の位置に配される。
口52が形成されている。電子通過口52は、ターゲッ
ト4の先端部分42をフード電極5で覆いつつ、電子銃
部2(図1参照)からの電子を先端面41へ入射させる
ためのものである。このため、電子通過口52は、ター
ゲット4の側方から入射される電子が少なくとも先端面
41へ入射できる位置に開口している。
Pに対しX線の出射方向の反対側へ広げられた開口形状
となっている。これにより、容器31、出射窓32との
異常放電が防止される。
過口52の開口により露出した部分は、軸方向とほぼ平
行に削除されて平坦面43が形成されている。平坦面4
3は、電子をX線の出射方向側へ引き寄せるために形成
されるものである。
ターゲット4の径方向とほぼ平行に削除されている。こ
の最先端部分41aを削除することにより、先端面41
全体をターゲット4の前方側、即ちX線出射窓32側へ
位置させることが可能となる。
示すように、ターゲット4及びフード電極5に正の高電
圧が印加されると、ターゲット4及びフード電極5は、
電子銃部2の開口25の縁部に対して正の高電位となる
ため、電子銃部2とターゲット4及びフード電極5の間
の空間に電界が形成される。その電界の等電位線6は、
ターゲット4の軸方向(図3では左右方向)に沿って形
成されるが、電子通過口52の付近では、ターゲット4
側へ引き付けられた状態となる。
電子通過口52により露出した部分が削除されているた
め、等電位線6は、電子通過口52からターゲット4の
平坦面43側へ引き付けられた状態となる。
位置には大径部51が形成されているため、等電位線6
は、その大径部51の外周付近では電子銃部2側(図3
では上側)に形成され、電子通過口52の付近では先端
面41側(図3では下側)に大きく引き寄せられた状態
となっている。つまり、電子が通過する電子通過口52
の付近における電界は、X線出射窓32側に大きく傾い
た状態となっている。
銃部2から電子が放出されると、電子は、フォーカスグ
リッド電極24などに集束され開口25を通じてX線発
生部3内に進入する。そして、電子通過口52の先端側
の位置を通過して先端面41に入射される。
る領域では等電位線6が先端面41へ引き寄せられて傾
いた状態(図3では右下がりに傾いた状態)となってい
るため、電子は、電子通過口52の付近からターゲット
4の先端側、即ちX線出射窓32側へ曲がりながら先端
面41に入射される。従って、電子の入射位置は、先端
面41上のX線出射窓32に近い位置となる。
ゲット4の中心軸付近の位置に入射される。なお、この
ように電子をX線出射窓32に近い位置であってターゲ
ット4の中心軸付近の位置に入射させるためには、ター
ゲット4がX線出射窓32に近い位置に配するなどすれ
ばよい。
X線が発生するため、X線の発生位置とX線出射窓32
との距離の短縮化が図れることになる。
ぼ中心軸上であるため、その中心軸に中心が位置してい
るX線出射窓32からその前方へ上下左右などの各方向
にほぼ等角度で広がるX線が得られることになる。
によれば、電子通過口52がX線の出射方向の反対側へ
広げられているため、電子銃部2から放出される電子の
軌道をX線の出射方向側に曲げて、電子を先端面41上
のX線出射窓に近い位置に入射させることができる。こ
のため、X線の発生位置とX線出射窓との距離の短縮化
が図れる。
X線を照射し、その拡大透視画像を撮像管で撮像して検
査対象物の状態を検査する場合、X線発生点から測定対
象物までの距離を短くできる。このため、撮像画像の拡
大率を増加でき、検査精度の向上が図れる。
入射させることにより、X線出射窓32の前方へほぼ等
角度で広がるX線が得られる。このため、X線管1から
出射されるX線の取扱いが容易なものとなる。
X線管について説明する。
である。本実施形態に係るX線管は、第一実施形態に係
るX線管1とほぼ同様に構成されるものであり、ターゲ
ット4aの形状のみが異なるものである。
aは、細径の先端部分42の先端には傾斜した先端面4
1が形成されているが、先端部分42の周面には平坦面
43(図2参照)が形成されていない。このようなX線
管であっても第一実施形態に係るX線管1とほぼ同様な
作用効果が得られる。
図を示す。
ード電極5に正の高電圧が印加されると、電子銃部2と
ターゲット4a及びフード電極5の間の空間に電界が形
成される。この電界の等電位線6aは、ターゲット4の
軸方向(図5では左右方向)に沿って形成されるが、電
子通過口52の付近では、ターゲット4a側へ引き付け
られた状態となる。また、ターゲット4aの先端面41
の最先端位置には大径部51が形成されているため、等
電位線6aは、その大径部51の外周付近では電子銃部
2側(図5では上側)に形成され、電子通過口52の付
近で先端面41側(図5では下側)に大きく引き寄せら
れた状態となっている。つまり、電子が通過する電子通
過口52の付近における電界は、X線出射窓32側に傾
いた状態となっている。
のターゲット4のように平坦面43が形成されていない
ため、等電位線6aは、図3に示す等電位線6に比べ、
電子通過位置における傾きが小さいものとなっている。
銃部2から電子が放出されると、電子は、フォーカスグ
リッド電極などに集束され開口25を通じてX線発生部
3内に進入する。そして、電子通過口52の先端側の位
置を通過して先端面41に入射される。
る領域では、等電位線6aが先端面41へ引き寄せられ
て傾いた状態(図5では右下がりに傾いた状態)となっ
ているため、電子は、電子通過口52の付近からターゲ
ット4の先端側、即ちX線出射窓32側へ曲がりながら
先端面41に入射される。従って、電子の入射位置は、
先端面41上のX線出射窓32に近い位置となる。ま
た、電子は、先端面41上であってターゲット4の中心
軸付近の位置に入射される。
X線が発生するため、X線の発生位置とX線出射窓32
との距離の短縮化が図れることになる。
ぼ中心軸上であるため、その中心軸に中心が位置してい
るX線出射窓32からその前方へ上下左右などの各方向
にほぼ等角度で広がるX線が得られることになる。
よれば、第一実施形態に係るX線管1とほぼ同様にし
て、X線の発生位置とX線出射窓32との距離の短縮化
が図れるという効果が得られる。また、本実施形態に係
るX線管によれば、ターゲット4aが簡易な構造である
ため、その製造が容易に行えるという効果も得られる。
査対象物にX線を照射し、その拡大透視画像を撮像管で
撮像して検査対象物の状態を検査する場合、X線発生点
から測定対象物までの距離を短くできる。このため、撮
像画像の拡大率を増加でき、検査精度の向上が図れる。
入射させることにより、X線出射窓32の前方へ各方向
にほぼ等角度で広がるX線が得られる。このため、X線
管1から出射されるX線の取扱いが容易なものとなる。
X線管について説明する。
である。本実施形態に係るX線管は、第二実施形態に係
るX線管とほぼ同様に構成されるものであり、フード電
極5bの形状のみが異なるものである。
bは、先端部に大径部51(図4参照)が形成されてお
らず、単純な筒状を呈している。フード電極5bの周面
には、電子通過口52bが開設されている。この電子通
過口52bは、フード電極5bの側方から穿孔してなる
丸孔である。なお、この電子通過口52bの開口形状
は、フード電極5bの軸方向に延びる長孔などであって
もよい。このようなX線管であっても第一実施形態及び
第二実施形態に係るX線管とほぼ同様な作用効果が得ら
れる。
図を示す。
ード電極5bに正の高電圧が印加されると、電子銃部2
とターゲット4b及びフード電極5bの間の空間に電界
が形成される。この電界の等電位線6bは、ターゲット
4bの軸方向(図7では左右方向)に沿って形成される
が、電子通過口52bの付近では、ターゲット4a側へ
引き付けられた状態となる。また、フード電極5bの周
面には電子通過口52bが開口しているため、等電位線
6bは、電子通過口52bの中央位置に向けて引き寄せ
られた状態となっている。つまり、電子が通過する電子
通過口52bの付近における電界は、X線出射窓32側
に大きく傾いた状態となっている。
子銃部2から電子が放出されると、電子は、フォーカス
グリッド電極などに集束され開口25を通じてX線発生
部3内に進入する。そして、電子通過口52bの中央位
置から先端側の位置を通過して先端面41に入射され
る。
する領域では、等電位線6bが電子通過口52bの中央
位置に向けて傾いた状態(図7では右下がりに傾いた状
態)となっているため、電子は、電子通過口52bの付
近からターゲット4の先端側、即ちX線出射窓32側へ
曲がりながら先端面41に入射される。従って、電子の
入射位置は、先端面41上のX線出射窓32に近い位置
となる。
ゲット4bの中心軸付近の位置に入射される。
X線が発生するため、X線の発生位置とX線出射窓32
との距離の短縮化が図れることになる。また、X線の発
生位置がターゲット4bのほぼ中心軸上であるため、そ
の中心軸に中心が位置しているX線出射窓32からその
前方へ上下左右などの各方向にほぼ等角度で広がるX線
が得られることになる。
よれば、第一実施形態及び第二実施形態に係るX線管と
ほぼ同様にして、X線の発生位置とX線出射窓32との
距離の短縮化が図れるという効果が得られる。また、本
実施形態に係るX線管によれば、フード電極5bが簡易
な構造であるため、製造が容易に行えるという効果も得
られる。
査対象物にX線を照射し、その拡大透視画像を撮像管で
撮像して検査対象物の状態を検査する場合、X線発生点
から測定対象物までの距離を短くできる。このため、撮
像画像の拡大率を増加でき、検査精度の向上が図れる。
に入射させることにより、X線出射窓32の前方へほぼ
等角度で広がるX線が得られる。このため、X線管1か
ら出射されるX線の取扱いが容易なものとなる。
X線管について説明する。
説明図である。本実施形態に係るX線管は、第二実施形
態に係るX線管とほぼ同様に構成されるものであり、フ
ード電極5cとして環状のものを用いたものである。
cは、第二実施形態に係るX線管のターゲット4aと同
一形状のものである。ターゲット4cの先端部分42の
最先位置には、フード電極5cが取り付けられている。
フード電極5cは、金属製のリング体であり、その内径
がターゲット4cの先端部分42の外径とほぼ同一径と
されている。また、フード電極5cの軸方向の長さ寸法
は、ターゲットcの先端部分42に取り付けらえた際
に、ターゲット4cの側部に少なくとも先端面41の一
部を露出させる寸法とされている。
に、周面に一部を軸方向に延ばしたものであってもよ
い。この場合、フード電極5cの内周面の面積が大きく
なるため、ターゲット4cの先端部分42の外周と密着
する領域の増大化が図れる。このため、フード電極5c
の取り付けが正確、かつ、容易に行える。
ターゲット4cの先端部分42を他の部分に対して細径
としない場合もある。
明図を示す。
フード電極5cに正の高電圧が印加されると、電子銃部
2とターゲット4c及びフード電極5cの間の空間に電
界が形成される。この電界の等電位線6cは、ターゲッ
ト4の軸方向(図10では左右方向)に沿って形成され
るが、先端面41の付近では、ターゲット4c側へ引き
付けられた状態となる。また、ターゲット4cの先端面
41の最先端位置にはフード電極5cが配置されている
ため、等電位線6cは、そのフード電極5cの外周付近
では電子銃部2側(図5では上側)に形成され、先端面
41の付近で先端面41側(図5では下側)に大きく引
き寄せられた状態となっている。つまり、電子が通過す
る領域における電界は、X線出射窓32側に大きく傾い
た状態となっている。
子銃部2から電子が放出されると、電子は、フォーカス
グリッド電極などに集束され開口25を通じてX線発生
部3内に進入する。そして、フード電極5cの後方を通
って先端面41に入射される。
は等電位線6cが先端面41へ引き寄せられて傾いた状
態(図10では右下がりに傾いた状態)となっているた
め、電子は、X線出射窓32側へ曲がりながら先端面4
1に入射されることになる。従って、電子の入射位置
は、先端面41上のX線出射窓32に近い位置となる。
ゲット4cの中心軸付近の位置に入射される。
が発生するため、X線の発生位置とX線出射窓32との
距離の短縮化が図れる。また、X線の発生位置がターゲ
ット4cのほぼ中心軸上であるため、その中心軸に中心
が位置しているX線出射窓32からその前方へ上下左右
などの各方向にほぼ等角度で広がるX線が得られること
になる。
よれば、第一実施形態から第三実施形態までに係るX線
管とほぼ同様にして、X線の発生位置とX線出射窓32
との距離の短縮化が図れるという効果が得られる。ま
た、本実施形態に係るX線管によれば、フード電極5c
が簡易な構造であるため、その製造が容易なものとなる
という効果も得られる。
査対象物にX線を照射し、その拡大透視画像を撮像管で
撮像して検査対象物の状態を検査する場合、X線発生点
から測定対象物までの距離を短くできる。このため、撮
像画像の拡大率を増加でき、検査精度の向上が図れる。
に入射させることにより、X線出射窓32の前方へほぼ
等角度で広がるX線が得られる。このため、X線管1か
ら出射されるX線の取扱いが容易なものとなる。
のような効果が得られる。
反対側へ広げて形成されるため、電子をターゲットの先
端面のX線出射窓に近い位置に入射させることができ
る。このため、X線の発生位置とX線出射窓との距離の
短縮化が図れる。従って、X線検査装置のX線源として
用いる場合に、X線発生点から測定対象物までの距離を
短くでき、撮像画像の拡大率を増加させて検査精度の向
上を図ることができる。
先端に設けることにより、電子の通過領域における電界
がX線出射窓側へ傾くので、電子をターゲットの先端面
のX線出射窓に近い位置に入射させることができる。こ
のため、X線の発生位置とX線出射窓との距離の短縮化
が図れる。従って、X線検査装置のX線源として用いる
場合に、X線発生点から測定対象物までの距離を短くで
き、撮像画像の拡大率を増加させて検査精度の向上を図
ることができる。
射させることにより、X線出射窓の前方へほぼ等角度で
広がるX線が得られる。このため、X線の取扱いが容易
なものとなる。
ある。
る。
る。
る。
部、32…X線出射窓、4…ターゲット、41…先端
面、5…フード電極、52…電子通過口。
Claims (4)
- 【請求項1】 電子を放出する電子銃と、 前記電子銃から放出される前記電子を先端面で受けてX
線を発生させるターゲットと、 前記ターゲットの前記先端面の前方に設けられ、前記X
線を出射するためのX線出射窓と、 前記ターゲットの先端部分に取り付けられる筒体であっ
て、その周面に前記電子を通過させる電子通過口を有
し、その電子通過口が前記電子の通過位置に対し少なく
とも前記X線出射窓の方向と反対側へ広げられてなるフ
ード電極と、を備えて構成されるX線管。 - 【請求項2】 前記ターゲットは、前記先端部分であっ
て前記電子通過口から露出する部分が削られていること
を特徴とする請求項1に記載のX線管。 - 【請求項3】 前記電子を前記ターゲットの前記先端面
の中心軸上に入射させることを特徴とする請求項1又は
2に記載のX線管。 - 【請求項4】 電子を放出する電子銃と、 前記電子銃から放出される前記電子を先端面で受けてX
線を発生させるターゲットと、 前記ターゲットの前記先端面の前方に設けられ、前記X
線を出射するためのX線出射窓と、 前記ターゲットの先端部分に取り付けられる環体であっ
て、前記電子が前記先端面に入射される位置より前記X
線出射窓側に配置されるフード電極と、を備えて構成さ
れるX線管。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02588598A JP4015256B2 (ja) | 1998-02-06 | 1998-02-06 | X線管 |
| DE69930923T DE69930923T2 (de) | 1998-02-06 | 1999-02-05 | Röntgenröhre |
| AU22996/99A AU2299699A (en) | 1998-02-06 | 1999-02-05 | X-ray tube |
| EP99902845A EP1052674B1 (en) | 1998-02-06 | 1999-02-05 | X-ray tube |
| PCT/JP1999/000507 WO1999040605A1 (fr) | 1998-02-06 | 1999-02-05 | Tube a rayons x |
| US09/633,159 US6381305B1 (en) | 1998-02-06 | 2000-08-04 | X-ray tube having a hood electrode |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02588598A JP4015256B2 (ja) | 1998-02-06 | 1998-02-06 | X線管 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11224625A true JPH11224625A (ja) | 1999-08-17 |
| JP4015256B2 JP4015256B2 (ja) | 2007-11-28 |
Family
ID=12178251
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP02588598A Expired - Fee Related JP4015256B2 (ja) | 1998-02-06 | 1998-02-06 | X線管 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6381305B1 (ja) |
| EP (1) | EP1052674B1 (ja) |
| JP (1) | JP4015256B2 (ja) |
| AU (1) | AU2299699A (ja) |
| DE (1) | DE69930923T2 (ja) |
| WO (1) | WO1999040605A1 (ja) |
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| WO2026053567A1 (ja) * | 2024-09-03 | 2026-03-12 | 株式会社島津製作所 | X線管、およびx線発生装置 |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| WO2000003412A1 (en) * | 1998-07-09 | 2000-01-20 | Hamamatsu Photonics K.K. | X-ray tube |
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| CN101069259B (zh) | 2004-12-27 | 2011-06-08 | 浜松光子学株式会社 | X射线管及x射线源 |
| JP4370576B2 (ja) * | 2004-12-28 | 2009-11-25 | 株式会社島津製作所 | X線発生装置 |
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| JP4954526B2 (ja) | 2005-10-07 | 2012-06-20 | 浜松ホトニクス株式会社 | X線管 |
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| WO2015114917A1 (ja) * | 2014-01-29 | 2015-08-06 | 株式会社島津製作所 | 金属電極、それを用いた電子銃、電子管並びにx線管 |
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| JP7044615B2 (ja) | 2018-04-12 | 2022-03-30 | 浜松ホトニクス株式会社 | X線管 |
| JP7112235B2 (ja) | 2018-04-12 | 2022-08-03 | 浜松ホトニクス株式会社 | X線管 |
| JP7048396B2 (ja) | 2018-04-12 | 2022-04-05 | 浜松ホトニクス株式会社 | X線管 |
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| US5077771A (en) | 1989-03-01 | 1991-12-31 | Kevex X-Ray Inc. | Hand held high power pulsed precision x-ray source |
| JP2713860B2 (ja) * | 1994-04-26 | 1998-02-16 | 浜松ホトニクス株式会社 | X線管装置 |
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1998
- 1998-02-06 JP JP02588598A patent/JP4015256B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1999
- 1999-02-05 EP EP99902845A patent/EP1052674B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-02-05 AU AU22996/99A patent/AU2299699A/en not_active Abandoned
- 1999-02-05 WO PCT/JP1999/000507 patent/WO1999040605A1/ja not_active Ceased
- 1999-02-05 DE DE69930923T patent/DE69930923T2/de not_active Expired - Lifetime
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| WO2026053567A1 (ja) * | 2024-09-03 | 2026-03-12 | 株式会社島津製作所 | X線管、およびx線発生装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE69930923D1 (de) | 2006-05-24 |
| US6381305B1 (en) | 2002-04-30 |
| EP1052674A1 (en) | 2000-11-15 |
| WO1999040605A1 (fr) | 1999-08-12 |
| EP1052674A4 (en) | 2001-02-14 |
| EP1052674B1 (en) | 2006-04-19 |
| DE69930923T2 (de) | 2007-01-11 |
| JP4015256B2 (ja) | 2007-11-28 |
| AU2299699A (en) | 1999-08-23 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
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| A131 | Notification of reasons for refusal |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100921 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110921 Year of fee payment: 4 |
|
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Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110921 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120921 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120921 Year of fee payment: 5 |
|
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