JPH11295206A - Solder wettability evaluation method - Google Patents
Solder wettability evaluation methodInfo
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- JPH11295206A JPH11295206A JP9447998A JP9447998A JPH11295206A JP H11295206 A JPH11295206 A JP H11295206A JP 9447998 A JP9447998 A JP 9447998A JP 9447998 A JP9447998 A JP 9447998A JP H11295206 A JPH11295206 A JP H11295206A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 はんだペーストの材料種類や試験片の材質に
応じた濡れ性の差を明確に得る。
【解決手段】 基材12上に円形の銅ランド13を形成
すると共にその周囲をソルダレジスト14により覆って
基板11を構成する。基板11の銅ランド13(はんだ
レベラ16)上に、所要量のはんだペースト21を印刷
により塗布する。はんだペースト21上に、銅板からな
る試験片15を縦長状態として垂直に立てるように配置
する。このものを、リフロー炉を通して所定の温度条件
で全体加熱を行い、はんだ21を溶融させる。試験片1
5に対するはんだ21の濡れ上がり面積に基づいてはん
だ21の濡れ性を評価する。
(57) [Summary] [Problem] To clearly obtain a difference in wettability according to a material type of a solder paste and a material of a test piece. SOLUTION: A substrate 11 is formed by forming a circular copper land 13 on a base material 12 and surrounding the copper land 13 with a solder resist 14. A required amount of solder paste 21 is applied on the copper land 13 (solder leveler 16) of the substrate 11 by printing. A test piece 15 made of a copper plate is vertically arranged on the solder paste 21 so as to stand vertically. The whole is heated under a predetermined temperature condition through a reflow furnace to melt the solder 21. Test piece 1
The wettability of the solder 21 is evaluated based on the wetted area of the solder 21 with respect to No. 5.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、はんだペーストの
材料種類や試験片の材質に応じて濡れ性の差が顕著に現
れるようにしたはんだの濡れ性評価方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for evaluating the wettability of a solder so that the difference in the wettability is remarkable depending on the material type of the solder paste and the material of the test piece.
【0002】[0002]
【発明が解決しようとする課題】例えばプリント配線板
に対する電子部品の実装に用いられるはんだ(はんだペ
ースト)の濡れ性(はんだ付け性)を評価する方法とし
ては、JISに規定されたものを含め各種の方法がある
が、現在では、主として下記のような濡れ性評価方法が
一般的に用いられている。For example, there are various methods for evaluating the wettability (solderability) of solder (solder paste) used for mounting electronic components on a printed wiring board, including those specified in JIS. At present, mainly the following wettability evaluation method is generally used.
【0003】即ち、図7に示すように、銅板1の上面に
はんだペースト2を円形をなすように印刷塗布し、その
はんだペースト2に接触するように銅パイプからなる試
験片3を垂直に立てて配置する。そして、前記銅板1を
ホットプレート4上に配置してヒータ加熱し、はんだペ
ースト2を溶融させ、試験片3に対するはんだ2のメニ
スカス原理による濡れ力(引張り力)を加重計5を用い
て測定することにより、はんだ2の濡れ性を評価するも
のである。That is, as shown in FIG. 7, a solder paste 2 is printed and applied on the upper surface of a copper plate 1 so as to form a circle, and a test piece 3 made of a copper pipe is vertically set in contact with the solder paste 2. To place. Then, the copper plate 1 is placed on a hot plate 4 and heated by a heater to melt the solder paste 2, and the wetting force (tensile force) of the solder 2 on the test piece 3 based on the meniscus principle is measured using a weight meter 5. Thereby, the wettability of the solder 2 is evaluated.
【0004】尚、図8(a)は、上記方法によるはんだ
ペースト2の加熱の際の、時間経過に伴う温度の変化の
様子(温度プロファイル)を示しており、例えば常温か
ら2deg/秒にて150℃まで温度を上昇させ、その1
50℃を一定時間維持した後、さらに200℃程度まで
温度上昇させるようになっている。また、図8(b)は
はんだ融点以降の濡れ力の変化の様子を示しており、は
んだが試験片3に濡れ上がった時点で最大濡れ力が現れ
るようになっている。FIG. 8 (a) shows how the temperature changes over time (temperature profile) when the solder paste 2 is heated by the above-described method. For example, the temperature changes from room temperature to 2 deg / sec. Raise the temperature to 150 ° C.
After maintaining the temperature at 50 ° C. for a certain time, the temperature is further increased to about 200 ° C. FIG. 8B shows how the wetting force changes after the melting point of the solder, and the maximum wetting force appears when the solder is wetted on the test piece 3.
【0005】しかしながら、上記したような濡れ力の測
定による評価方法では、はんだペーストの材料の種類を
異ならせたり、試験片の材質を異ならせたりしても、評
価結果にさほど顕著な差が見られず、濡れ性の良否につ
いての評価を十分明確に行えないという不具合があっ
た。However, in the evaluation method based on the measurement of the wetting force as described above, even if the kind of the solder paste is changed or the material of the test piece is changed, a remarkable difference is observed in the evaluation result. Therefore, there was a problem that the quality of the wettability could not be evaluated sufficiently clearly.
【0006】ちなみに、図9は、本発明者による、3種
類の異なるはんだペースト2(材料A,B,C)につい
ての、濡れ力の評価結果を示しており、濡れ力に顕著な
差は見られないのである。また、はんだ2の試験片3に
対する濡れ上がり状態にも顕著な差異は見られなかっ
た。更には、実際の部品実装工程では、リフロー炉を通
すことによりはんだの溶融,硬化が行われるが、上記方
法により評価されたはんだの濡れ性と実際のリフロー炉
を用いた場合のはんだの濡れ性とが対応しないことがあ
った。FIG. 9 shows the results of evaluation of the wetting force of the present inventors for three different types of solder pastes 2 (materials A, B, and C). It cannot be done. Also, no remarkable difference was observed in the wet state of the solder 2 with respect to the test piece 3. Furthermore, in the actual component mounting process, the solder is melted and hardened by passing it through a reflow oven, but the solder wettability evaluated by the above method and the solder wettability when an actual reflow oven is used And sometimes did not correspond.
【0007】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的は、はんだペーストの材料種類や試験片の
材質に応じた濡れ性の差を明確に得ることができるはん
だの濡れ性評価方法を提供するにある。The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a solder wettability evaluation method capable of clearly obtaining a wettability difference according to the material type of a solder paste and the material of a test piece. To provide.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】本発明者は、従来一般に
行われていた濡れ性の評価方法、つまり、はんだペース
トを銅板に塗布し、ホットプレート上で加熱して、試験
片に対するはんだの濡れ力を求める評価方法において、
明確な評価が得られなくなる要因は次の2点にあると推
定した。即ち、第1の要因としては、はんだペーストを
銅板上に塗布するので、溶融したはんだが水平方向に自
由に広がってしまい、試験片に濡れ上がるはんだの量が
変動してしまうためであり、第2の要因としては、加熱
が銅板の下面から行われるので、銅板の加熱に遅れて試
験片が加熱され、それらの加熱時点のずれや温度差が生
ずるためである。そして、本発明者は、その推定が妥当
であることを確認し、本発明を成し遂げたのである。Means for Solving the Problems The present inventor has conducted a conventional method of evaluating wettability, that is, applying a solder paste to a copper plate, heating the copper plate on a hot plate, and applying wetness to the test piece. In the evaluation method for obtaining power,
It is estimated that there are two factors that make clear evaluation impossible. That is, the first factor is that the solder paste is applied on the copper plate, so that the molten solder spreads freely in the horizontal direction, and the amount of solder that wets the test piece varies, The second factor is that, since the heating is performed from the lower surface of the copper plate, the test pieces are heated with a delay from the heating of the copper plate, causing a shift or a temperature difference between the heating points. Then, the inventor confirmed that the estimation was valid, and accomplished the present invention.
【0009】即ち、本発明のはんだの濡れ性評価方法
は、水平に配置された基板上に設けられた塗布領域に、
所要量のはんだペーストを水平方向への広がりを規制し
た状態で塗布し、試験片を前記はんだペースト上に立て
た状態で、全体を加熱してはんだペーストを溶融させ、
前記試験片に対するはんだの濡れ上がり状態に基づい
て、濡れ性を評価するところに特徴を有する(請求項1
の発明)。That is, the method for evaluating the wettability of a solder according to the present invention comprises the steps of:
A required amount of solder paste is applied in a state where the spread in the horizontal direction is regulated, and in a state where the test piece is set on the solder paste, the whole is heated to melt the solder paste,
The method is characterized in that the wettability is evaluated based on the wetting state of the solder on the test piece.
Invention).
【0010】これによれば、はんだペーストは水平方向
の広がりが規制された状態で基板の塗布領域に塗布され
るので、溶融したはんだが基板上を広がることがなくな
り、試験片に濡れ上がるはんだの量の変動を防止するこ
とができる。また、はんだの溶融時に全体が加熱される
ので、基板と試験片とが同様に加熱されることになる。
この結果、試験片に対するはんだの濡れ上がり状態に基
づいて、濡れ性を評価するにあたって、はんだペースト
の材料種類や試験片の材質に応じた濡れ性の差を明確に
得ることができるようになったのである。According to this, since the solder paste is applied to the application area of the substrate in a state where the spread in the horizontal direction is regulated, the molten solder does not spread on the substrate, and the solder paste which wets the test piece is prevented. Fluctuations in volume can be prevented. Further, since the whole is heated when the solder is melted, the substrate and the test piece are heated in the same manner.
As a result, in evaluating the wettability based on the wet-up state of the solder on the test piece, it became possible to clearly obtain a difference in wettability according to the material type of the solder paste and the material of the test piece. It is.
【0011】このとき、前記基板上におけるはんだの水
平方向への広がりの規制を、基板の塗布領域の周囲にソ
ルダレジストを塗布することにより行うことができ(請
求項2の発明)、これにより、簡易な方法で確実に基板
上におけるはんだの水平方向への広がりを規制すること
ができるようになる。At this time, the spread of the solder on the substrate in the horizontal direction can be regulated by applying a solder resist around the application area of the substrate (the invention of claim 2). The spread of the solder on the substrate in the horizontal direction can be reliably regulated by a simple method.
【0012】そして、前記はんだペーストの溶融を、前
記基板をリフロー炉内を通すことにより行うようにして
も良く(請求項3の発明)、これにより、全体を均一な
条件で加熱することができ、また、実際に用いられる条
件にてはんだの濡れ性の評価を行うことができるように
なる。The solder paste may be melted by passing the substrate through a reflow furnace (the invention of claim 3), whereby the whole can be heated under uniform conditions. In addition, the wettability of the solder can be evaluated under the conditions actually used.
【0013】さらには、前記試験片を、前記はんだペー
ストに接触してはんだが濡れ上がる部分が垂直に安定し
て立つような形状とすれば(請求項4の発明)、試験片
を垂直に配置するための別途の手段が不要となるので、
より効果的となる。尚、このとき、試験片が垂直に安定
して立つような形状としては、コ字形、逆V字形、円筒
形、上面L字形など様々な形状が考えられる。Further, if the test piece is formed in such a shape that the portion where the solder comes into contact with the solder paste and the solder wets up stably (invention of claim 4), the test piece is arranged vertically. Since there is no need for a separate means for
Be more effective. At this time, various shapes such as a U-shape, an inverted V-shape, a cylindrical shape, and an L-shape on the upper surface can be considered as a shape in which the test piece stands stably vertically.
【0014】[0014]
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施例(請求項
1〜3に対応)について、図1ないし図5を参照しなが
ら説明する。まず、本実施例において、はんだの濡れ性
評価方法を実施するにあたって使用される器材、装置に
ついて述べる。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention (corresponding to claims 1 to 3) will be described below with reference to FIGS. First, in this example, equipment and devices used for performing the method for evaluating solder wettability will be described.
【0015】評価に用いられる基板11は、図1に示す
ように、例えばガラスエポキシからなる基材12上に、
塗布領域としての銅ランド13を設けると共に、その周
囲に位置して後述するはんだの広がりを規制するための
ソルダレジスト14を塗布して構成されている。これに
対し、試験片15は、図2にも示すように、長方形の薄
板状の銅板から構成されている。As shown in FIG. 1, a substrate 11 used for evaluation is formed on a base material 12 made of, for example, glass epoxy.
A copper land 13 is provided as an application area, and a solder resist 14 for controlling the spread of solder, which will be described later, is provided around the copper land 13 and is configured. On the other hand, the test piece 15 is formed of a rectangular thin copper plate as shown in FIG.
【0016】尚、このとき、前記銅ランド13は、例え
ば直径寸法が6mmφの円形に形成されており、図1に示
すように、その上面にはんだレベラ16が施されるよう
になっている。また、前記試験片15は、その縦横寸法
が、例えば5mm×9mm、厚み寸法が例えば0.3mmとさ
れ、さらに、例えば240℃,30分の強制酸化処理が
なされている。At this time, the copper land 13 is formed, for example, in a circular shape having a diameter of 6 mmφ, and a solder leveler 16 is provided on its upper surface as shown in FIG. The test piece 15 has a length and width of, for example, 5 mm × 9 mm and a thickness of, for example, 0.3 mm, and is further subjected to, for example, forced oxidation at 240 ° C. for 30 minutes.
【0017】一方、加熱に用いられるリフロー炉17
は、全体加熱方式の例えばIR併用エアリフロー炉から
なり、図3に模式的に示すように、炉体内に、入口部1
7aから出口部17bまで前記基板11を矢印a方向に
搬送する搬送路18が設けられていると共に、その搬送
路18に沿って上下両側に位置して、赤外線ヒータを含
む複数個のヒータ19が配設されている。これにて、入
口部17a側から順にプリヒートゾーン、リフローゾー
ン、クーリングゾーンが形成されている。さらには、前
記出口部17b側のクーリングゾーンには冷却ファン装
置20が設けられている。On the other hand, a reflow furnace 17 used for heating
Is composed of, for example, an air reflow furnace combined with IR of a whole heating system, and as shown schematically in FIG.
A transport path 18 for transporting the substrate 11 in the direction of arrow a is provided from 7a to the outlet 17b. A plurality of heaters 19 including infrared heaters It is arranged. Thus, a preheat zone, a reflow zone, and a cooling zone are formed in this order from the entrance 17a side. Further, a cooling fan device 20 is provided in the cooling zone on the outlet 17b side.
【0018】さて、はんだの濡れ性評価の手順につい
て、図4及び図5も参照して述べる。評価を行うにあた
っては、まず、図1及び図2(a)に示すように、前記
基板11の銅ランド13(はんだレベラ16)上に、所
要量のはんだペースト21を塗布する。このはんだペー
スト21の塗布は、例えばメタルマスク(図示せず)を
用いた印刷により行われる。この場合、例えば厚み0.
3mm相当のメタルマスクに、直径寸法が6mmの円形開口
部を形成し、その開口部を通して印刷塗布がなされるこ
とにより、はんだペースト21は、直径寸法が6mmの円
形状で、厚さ0.3mmに塗布されるようになる。The procedure for evaluating the wettability of the solder will now be described with reference to FIGS. In performing the evaluation, first, as shown in FIGS. 1 and 2A, a required amount of solder paste 21 is applied on the copper land 13 (solder leveler 16) of the substrate 11. The application of the solder paste 21 is performed by, for example, printing using a metal mask (not shown). In this case, for example, a thickness of 0.
A circular opening having a diameter of 6 mm is formed in a metal mask equivalent to 3 mm, and the solder paste 21 is formed into a circular shape having a diameter of 6 mm and a thickness of 0.3 mm by being printed and applied through the opening. It will be applied to.
【0019】次に、図1及び図2(a)に示すように、
前記基板11上に塗布されたはんだペースト21上に、
前記試験片15を縦長状態として垂直に立てるように配
置することが行われる。このとき、試験片15は、クリ
ップ(図示せず)等を用いて垂直に立てた状態に保持さ
れるようになる。Next, as shown in FIG. 1 and FIG.
On the solder paste 21 applied on the substrate 11,
The test piece 15 is arranged vertically in a vertically long state. At this time, the test piece 15 is held in an upright state using a clip (not shown) or the like.
【0020】そして、上記のように試験片15が配置さ
れた基板11を前記リフロー炉17を通して、基板1
1、試験片15、はんだペースト21の全体を加熱する
ことが行われる。基板11が搬送路18上を順に送られ
ることにより、ヒータ19により全体が次第に加熱され
てはんだペースト21が溶融するようになり、図2
(b)に示すように、はんだ21が表面張力によって試
験片15に対して濡れ上がる状態となる。Then, the substrate 11 on which the test pieces 15 are placed as described above is passed through the reflow furnace 17 and
1. The entire test piece 15 and the solder paste 21 are heated. As the substrate 11 is sequentially fed on the transport path 18, the whole is gradually heated by the heater 19 and the solder paste 21 is melted.
As shown in (b), the solder 21 becomes wet with respect to the test piece 15 due to the surface tension.
【0021】このとき、はんだ21と試験片15との間
の濡れ性が良いほど、はんだ21の濡れ上がり量も大き
くなるのであるが、はんだペースト21はソルダレジス
ト14により基板11上の水平方向への広がりが規制さ
れた状態とされているので、溶融したはんだ21が基板
11上を広がることがなくなり、常に濡れ性に応じた量
のはんだ21が試験片15に濡れ上がるようになる。ま
た、この際、リフロー炉17による全体加熱が行われる
ので、基板11、はんだペースト21、試験片15が同
様に加熱されることになり、基板11と試験片15との
間の加熱むらや大きな温度差が生ずることはない。At this time, the better the wettability between the solder 21 and the test piece 15 is, the larger the wet-up amount of the solder 21 is. However, the solder paste 21 is applied to the solder resist 14 in the horizontal direction on the substrate 11. Since the spread of the solder 21 is restricted, the molten solder 21 does not spread on the substrate 11, and the amount of the solder 21 corresponding to the wettability always wets the test piece 15. Also, at this time, since the entire heating is performed by the reflow furnace 17, the substrate 11, the solder paste 21, and the test piece 15 are similarly heated, and uneven heating between the substrate 11 and the test piece 15 causes a large unevenness. No temperature difference occurs.
【0022】尚、ここでは、前記リフロー炉17におけ
るはんだペースト21の加熱の際の温度条件を、図4に
示す温度プロファイル(温度−時間曲線)のように、2
種類で実施している。そのうち温度条件Lでは、プリヒ
ート温度を140℃、ピーク温度を200℃としてお
り、温度条件Hでは、プリヒート温度を160℃、ピー
ク温度を230℃としている。Here, the temperature condition for heating the solder paste 21 in the reflow furnace 17 is set to 2 as shown in the temperature profile (temperature-time curve) shown in FIG.
We carry out by kind. In the temperature condition L, the preheat temperature is 140 ° C. and the peak temperature is 200 ° C., and in the temperature condition H, the preheat temperature is 160 ° C. and the peak temperature is 230 ° C.
【0023】この後、はんだ21が冷却,硬化して試験
片15がはんだ付けされた状態で、基板11がリフロー
炉17から排出され、前記試験片15に対するはんだ2
1の濡れ上がり状態に基づいてはんだ21の濡れ性が評
価されるのである。この場合、本実施例では、濡れ性の
評価は、図2(c)に示すように、試験片15のうちの
はんだ21の濡れ上がり部分の面積(便宜上ハッチング
を付して示す)を求めることにより行われる。Thereafter, the substrate 11 is discharged from the reflow furnace 17 while the solder 21 is cooled and hardened and the test piece 15 is soldered.
The wettability of the solder 21 is evaluated based on the wet-up state of No. 1. In this case, in the present embodiment, the wettability is evaluated by calculating the area (shown with hatching for convenience) of the wetted portion of the solder 21 of the test piece 15 as shown in FIG. It is performed by
【0024】図5は、上記した評価方法を用いて、3種
類の異なるはんだペースト21(材料A,B,C)につ
いて、濡れ力(濡れ上がり面積)を評価した結果を示し
ており、また、各材料に関して上記2種類の温度条件
(L,H)を用いて評価を行っている。この図5から明
らかなように、本実施例の評価方法を用いた場合には、
従来の評価方法(図9参照)と異なり、はんだ21の材
料A,材料B,材料C間で、濡れ性(濡れ上がり面積)
に明確な差が見られた。また、同一材料でも、温度条件
による濡れ性の差が明確に得られた。FIG. 5 shows the results of the evaluation of the wetting force (the wet-up area) of three different solder pastes 21 (materials A, B, and C) using the above-described evaluation method. Each material is evaluated using the above two types of temperature conditions (L, H). As is clear from FIG. 5, when the evaluation method of this embodiment is used,
Unlike the conventional evaluation method (see FIG. 9), the wettability (the wet-up area) between the materials A, B, and C of the solder 21
There was a clear difference between the two. Also, even with the same material, a difference in wettability depending on the temperature condition was clearly obtained.
【0025】これは、従来の濡れ性の評価方法では、溶
融したはんだ2が銅板1上を水平方向に自由に広がって
しまい、試験片3に濡れ上がるはんだの量が変動すると
共に、加熱が銅板1の下面からのみ行われるので、銅板
1と試験片3との間の加熱時間のずれや温度差が生ずる
のに対し、本実施例の評価方法では、上述のように、は
んだ21が基板11上の水平方向への広がりが規制され
た状態で溶融されるので、常に濡れ性に応じた量のはん
だ21が試験片15に濡れ上がるようになると共に、リ
フロー炉17を通すことによる全体加熱によって、基板
11と試験片15とが均一に加熱されるようになったた
めであると考えられる。In the conventional method for evaluating wettability, the molten solder 2 spreads freely on the copper plate 1 in the horizontal direction, and the amount of solder that wets the test piece 3 varies, and heating is performed on the copper plate. 1 is performed only from the lower surface of the test piece 1, there is a difference in the heating time between the copper plate 1 and the test piece 3 and a temperature difference. On the other hand, in the evaluation method of this embodiment, the solder 21 is Since the upper portion is melted in a state where the spread in the horizontal direction is restricted, the solder 21 in an amount corresponding to the wettability always comes up to the test piece 15, and the whole heating by passing through the reflow furnace 17 causes It is considered that this is because the substrate 11 and the test piece 15 are uniformly heated.
【0026】尚、詳しい説明は省略するが、上記した濡
れ性の評価方法によれば、同一の材料からなるはんだ2
1であっても、試験片15の材質の相違(例えば銅とニ
ッケルとの相違)による濡れ性の差は、顕著に得られる
ようになることも確認されている。Although detailed description is omitted, according to the above-described method for evaluating wettability, the solder 2 made of the same material is used.
It has also been confirmed that even with 1, the difference in wettability due to the difference in the material of the test piece 15 (for example, the difference between copper and nickel) can be remarkably obtained.
【0027】このように本実施例の評価方法によれば、
はんだペースト21を水平方向に濡れ広がらない状態で
基板11に塗布し、そのはんだペースト21上に試験片
15を配置して全体加熱を行い、その試験片15に対す
るはんだ21の濡れ上がり状態に基づいてはんだ21の
濡れ性を評価するようにしたので、はんだペースト21
の材料種類や試験片15の材質に応じた濡れ性の差を明
確に得ることができるという優れた効果を奏する。As described above, according to the evaluation method of this embodiment,
The solder paste 21 is applied to the substrate 11 in a state in which the solder paste 21 does not spread in the horizontal direction, the test piece 15 is placed on the solder paste 21, and the whole is heated. Since the wettability of the solder 21 was evaluated, the solder paste 21 was used.
This has an excellent effect that a difference in wettability according to the material type and the material of the test piece 15 can be clearly obtained.
【0028】また、特に本実施例では、基板11上にお
けるはんだ21の水平方向への広がりの規制を、ソルダ
レジスト14の塗布により行うようにしたので、簡易な
方法で確実に基板11上におけるはんだ21の水平方向
への広がりを規制することができるようになる。さらに
は、はんだペースト21の溶融をリフロー炉17内を通
すことにより行うようにしたので、実際に用いられる条
件にて容易にはんだ21の濡れ性の評価を行うことがで
きるようになるといったメリットも得ることができるも
のである。Further, in this embodiment, particularly, the spread of the solder 21 on the substrate 11 in the horizontal direction is controlled by applying the solder resist 14, so that the solder 21 on the substrate 11 can be surely formed by a simple method. 21 can be restricted from spreading in the horizontal direction. Further, since the melting of the solder paste 21 is performed by passing through the inside of the reflow furnace 17, there is a merit that the wettability of the solder 21 can be easily evaluated under the actually used conditions. What you can get.
【0029】図6は、本発明の他の実施例(請求項4に
対応)に係る試験片31〜34を示している。これら
は、上記実施例における矩形板状の試験片15に代え
て、形状を変更した試験片の変形例ともいうべきもので
あり、夫々、はんだペースト21に接触してはんだ21
が濡れ上がる部分が自身で垂直に安定して立つような形
状としたものである。FIG. 6 shows test pieces 31 to 34 according to another embodiment (corresponding to claim 4) of the present invention. These can be called modified examples of the test piece having a changed shape in place of the rectangular plate-shaped test piece 15 in the above embodiment.
The shape is such that the part that gets wet is stably standing vertically by itself.
【0030】即ち、図6(a)に示す試験片31は、開
放部を下向きとしたコ字形に形成されており、図6
(b)に示す試験片32は、逆V字形に形成されてお
り、図6(c)に示す試験片33は、円筒形をなしてお
り、図6(d)にに示す試験片34は、上面から見てL
字形に形成されている。これらによれば、上記実施例と
同様の作用,効果に加え、試験片31〜34を垂直に配
置するための別途の手段が不要となるといった効果を得
ることができる。That is, the test piece 31 shown in FIG. 6A is formed in a U-shape with the open part facing downward.
The test piece 32 shown in (b) is formed in an inverted V shape, the test piece 33 shown in FIG. 6 (c) has a cylindrical shape, and the test piece 34 shown in FIG. , L seen from the top
It is formed in the shape of a letter. According to these, in addition to the operation and effect similar to those of the above-described embodiment, it is possible to obtain an effect that an additional means for vertically disposing the test pieces 31 to 34 becomes unnecessary.
【0031】尚、上記実施例では、全体加熱のためにリ
フロー炉17を用いるようにしたが、例えば高温槽等を
用いて全体加熱を行うようにしても良い。また、上記実
施例では、はんだ21の濡れ上がり面積を求めることに
よって濡れ性を評価するようにしたが、濡れ上がり高さ
を求めることにより、濡れ性を評価することも可能であ
る。その他、本発明は上記した各実施例に限定されるも
のではなく、例えば上記した各部の材質や具体的寸法等
については一例に過ぎないなど、要旨を逸脱しない範囲
内で適宜変更して実施し得るものである。In the above embodiment, the reflow furnace 17 is used for overall heating, but the entire heating may be performed using, for example, a high-temperature bath. Further, in the above-described embodiment, the wettability is evaluated by determining the wet-up area of the solder 21, but the wettability can be evaluated by determining the wet-up height. In addition, the present invention is not limited to each of the above-described embodiments. For example, the materials and specific dimensions of each of the above-described portions are merely examples, and the present invention may be implemented with appropriate changes without departing from the scope of the invention. What you get.
【図1】本発明の一実施例を示すもので、試験片を配置
した状態の基板の縦断正面図FIG. 1 shows an embodiment of the present invention, and is a longitudinal sectional front view of a substrate on which test pieces are arranged.
【図2】試験片に対するはんだの溶融前(a)、はんだ
の溶融後(b)、濡れ面積計測時(c)の様子を順に示
す斜視図FIG. 2 is a perspective view showing states of a test piece before solder melting (a), after solder melting (b), and when measuring a wet area (c) in order.
【図3】リフロー炉の構成を概略的に示す縦断側面図FIG. 3 is a longitudinal side view schematically showing a configuration of a reflow furnace.
【図4】リフロー炉におけるはんだ溶融時の2種類の温
度プロファイルを示す図FIG. 4 is a diagram showing two types of temperature profiles when solder is melted in a reflow furnace.
【図5】3種類のはんだに対する評価結果を示す図FIG. 5 is a diagram showing evaluation results for three types of solders.
【図6】本発明の他の実施例を示すもので、4個の異な
る試験片の形状を示す斜視図FIG. 6 shows another embodiment of the present invention, and is a perspective view showing the shapes of four different test pieces.
【図7】従来例を示すもので、評価時の様子を概略的に
示す斜視図FIG. 7 shows a conventional example, and is a perspective view schematically showing a state at the time of evaluation.
【図8】時間経過に伴う温度の変動(a)及び濡れ力の
変動(b)を示す図FIG. 8 is a diagram showing a change in temperature (a) and a change in wetting force (b) over time.
【図9】3種類のはんだに対する評価結果を示す図FIG. 9 is a diagram showing evaluation results for three types of solders.
図面中、11は基板、13は銅ランド(塗布領域)、1
4はソルダレジスト、15,31,32,33,34は
試験片、17はリフロー炉、21ははんだ(はんだペー
スト)を示す。In the drawing, 11 is a substrate, 13 is a copper land (application area), 1
4 is a solder resist, 15, 31, 32, 33, and 34 are test pieces, 17 is a reflow furnace, and 21 is solder (solder paste).
Claims (4)
布領域に、所要量のはんだペーストを水平方向への広が
りを規制した状態で塗布し、試験片を前記はんだペース
ト上に立てた状態で、全体を加熱してはんだペーストを
溶融させ、前記試験片に対するはんだの濡れ上がり状態
に基づいて、濡れ性を評価することを特徴とするはんだ
の濡れ性評価方法。1. A state in which a required amount of solder paste is applied to an application area provided on a horizontally arranged substrate in a state where the spread in a horizontal direction is regulated, and a test piece is placed on the solder paste. Then, the solder paste is melted by heating the whole, and the wettability is evaluated based on the wet-up state of the solder on the test piece.
の広がりの規制は、前記塗布領域の周囲にソルダレジス
トを塗布することにより行われることを特徴とする請求
項1記載のはんだの濡れ性評価方法。2. The evaluation of solder wettability according to claim 1, wherein the regulation of the spread of the solder on the substrate in the horizontal direction is performed by applying a solder resist around the application area. Method.
をリフロー炉内を通すことにより行われることを特徴と
する請求項1又は2記載のはんだの濡れ性評価方法。3. The method according to claim 1, wherein the melting of the solder paste is performed by passing the substrate through a reflow furnace.
触してはんだが濡れ上がる部分が垂直に安定して立つよ
うな形状とされていることを特徴とする請求項1ないし
3のいずれかに記載のはんだの濡れ性評価方法。4. The test piece according to claim 1, wherein the test piece has a shape in which a portion where the solder is wetted in contact with the solder paste stands vertically and stably. The solder wettability evaluation method described.
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|---|---|---|---|
| JP09447998A JP3314712B2 (en) | 1998-04-07 | 1998-04-07 | Solder wettability evaluation method |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| JP09447998A JP3314712B2 (en) | 1998-04-07 | 1998-04-07 | Solder wettability evaluation method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11295206A true JPH11295206A (en) | 1999-10-29 |
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| Country | Link |
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| JP (1) | JP3314712B2 (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010137714A1 (en) * | 2009-05-29 | 2010-12-02 | 山陽精工株式会社 | Device and method for evaluating wettability of solder paste |
| CN105388090A (en) * | 2015-12-01 | 2016-03-09 | 郑州机械研究所 | Method for testing spreadability of brazing filler metal |
| JP2018006416A (en) * | 2016-06-28 | 2018-01-11 | 株式会社リコー | Evaluation component, electronic board, and electronic board production system |
| CN110320132A (en) * | 2019-07-03 | 2019-10-11 | 郑州机械研究所有限公司 | A kind of solder wetting sprawls test method |
-
1998
- 1998-04-07 JP JP09447998A patent/JP3314712B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| WO2010137714A1 (en) * | 2009-05-29 | 2010-12-02 | 山陽精工株式会社 | Device and method for evaluating wettability of solder paste |
| JP5689795B2 (en) * | 2009-05-29 | 2015-03-25 | 山陽精工株式会社 | Solder paste wettability evaluation apparatus and evaluation method |
| CN105388090A (en) * | 2015-12-01 | 2016-03-09 | 郑州机械研究所 | Method for testing spreadability of brazing filler metal |
| JP2018006416A (en) * | 2016-06-28 | 2018-01-11 | 株式会社リコー | Evaluation component, electronic board, and electronic board production system |
| CN110320132A (en) * | 2019-07-03 | 2019-10-11 | 郑州机械研究所有限公司 | A kind of solder wetting sprawls test method |
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| Publication number | Publication date |
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| JP3314712B2 (en) | 2002-08-12 |
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