JPH1194542A5 - - Google Patents
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- JPH1194542A5 JPH1194542A5 JP1997251019A JP25101997A JPH1194542A5 JP H1194542 A5 JPH1194542 A5 JP H1194542A5 JP 1997251019 A JP1997251019 A JP 1997251019A JP 25101997 A JP25101997 A JP 25101997A JP H1194542 A5 JPH1194542 A5 JP H1194542A5
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【0002】
【従来の技術】半導体位置検出器(Position Sensitive Detector;PSD)は、ホトダイオードを応用した入射スポット光の受光位置を検出するセンサである。
【従来の技術】半導体位置検出器(Position Sensitive Detector;PSD)は、ホトダイオードを応用した入射スポット光の受光位置を検出するセンサである。
図1は、実施の形態に係る測距モジュールを示す。本モジュールは、ハウジングHs内に配置された半導体位置検出器(PSD)1を備える。PSD1は、n型Siからなる半導体基板1cと、半導体基板1cの長手方向に沿って半導体基板1cの表面に形成されたp型Siからなる高抵抗基幹導電層1fと、基幹導電層1fから半導体基板1cの幅方向に沿い基幹導電層1fを横切って延びたp型Siからなる複数の低抵抗分枝導電層1eと、半導体基板1cの表面の基幹導電層1fを覆うとともに分枝導電層1eを含む受光領域に光が入射可能なように半導体基板1cの長手方向に沿って延びた2つの開口を有する遮光膜1dと、半導体基板1cの裏面に高濃度n型Siからなるコンタクト層1bを介して形成された裏面電極1aと、基幹導電層1fの両端部に形成された一対の位置信号電極1B,1Cとを備える。
本モジュールは、PSD1の長手方向に直交する線分に平行に隣接し、ハウジングHs内に配置された遠距離測定用発光ダイオード(第1発光素子)2A,2Cと、その近傍に配置された第1発光素子2A,2Cの出力モニター用のホトダイオード(受光素子)2Bと、第1発光素子2A,2Cから出力された光の通過経路上に配置されて通過光を平行光束とするようにハウジングHsに固定された投光レンズ5と、PSD1の受光面に対向する位置に設けられハウジングHsに固定された受光レンズ4及び外乱光をカットする光学フィルタ6とを備える。また、受光レンズ4と投光レンズ5の光軸は平行であり、PSD1と第1発光素子2A,2Cの表面がこれらの光軸と垂直である。
タイミング発生回路21は、外部から供給されるパルスクロック信号CLKを分周することにより、3つの発光素子2A、2C、3Aのそれぞれの発光を制御するドライブパルス信号LED1〜3を生成する。本実施の形態では、図4に示されるように、CLK信号パルス16個ごとに発光素子2A,2C、3Aのそれぞれのパルス信号を切り換えて出力している。また、タイミング発生回路21は、各発光素子信号のパルスの立ち上がり前にサンプルホールド制御用のS/H_A信号(図中ではA)をパルス出力し、各発光素子信号のパルス信号の終了前に同じくサンプルホールド制御用のS/H_B信号(図中ではB)をパルス出力し、各発光素子信号終了後の所定時間後にサンプルホールド終了を示すVALID信号をサンプルホールド回路30〜33に出力している。また、信号LED1に対応したパルス信号をSYNC信号として外部に出力している。
コンピュータ42は、デジタル出力(gain X,Y)をデコーダ41に出力する。デコーダ41から出力されたアナログ制御信号は、PSD1の出力の増幅率を制御する増幅器26,27,36,37及び発光素子に供給される駆動電流の供給電流を制御する切換器23に入力され、それぞれの出力飽和が生じないようにされる。
すなわち、反射率の異なる被測定物に対して、ダイナミックレンジが飽和してしまうのを防ぐために、コンピュータ42は、それぞれの発光素子2A,2C,3Aの発光時の制御回路11の出力を1回測定して記憶し、出力飽和が起こらないように共通のダイナミックレンジを決定し、デコーダ41の指定するゲイン切換の増幅率を固定する(例えば5V定電源を用いる場合、0.1V〜4Vにコントロールする)。ゲイン切換の増幅率が決まり、ダイナミックレンジが決まったら、n回の測距を行い、第1発光素子2A又は2C点灯時のPSD1の差信号(PSDΔ=IB−IA)、第1発光素子2A又は2C点灯時のPSD1の和信号(PSDΣ=IA+IB)、第2発光素子3A点灯時のPSD1の和信号(近接Σ)から発光素子非点灯時の基準信号分のリファレンス電圧1Vを引いた信号出力をコンピュータ42に記憶し、n回の平均値を求めn回平均値を元に測距演算を行う。なお、この得られたn回の平均値の出力結果をそれぞれPSDΔ+、PSDΣ+、近接Σ+とし、これらの距離依存性を図5に示す。
以上のように、本測距モジュールは、ハウジングHs内に配置され受光面上の入射光位置に応じて2つの電流を出力するPSD1と、ハウジングHsに設けられ被測定物15に光を照射する第1発光素子2Aと、ハウジングHsに設けられ第1発光素子2Aから被測定物15に照射される光よりも低い指向性の光を被測定物15に照射する第2発光素子3Aと、PSD1の受光面1Aに対向するとともに第1及び第2発光素子2A,3Aから出射され被測定物15で反射された光を受光面1Aに導く位置に設けられたレンズ4と、第1及び第2発光素子2A,3Aを異なる時刻に発光させるとともに、第1発光素子発光時にPSDから出力される電流の和及び差に基づいて所定距離以上にある被測定物までの距離が求められ、和、差及び第2発光素子発光時にPSDから出力される電流の和に基づいて所定距離よりも近い被測定物までの距離が求められる信号を出力する制御回路11とを備える。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25101997A JP3930621B2 (ja) | 1997-09-16 | 1997-09-16 | 測距モジュール |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25101997A JP3930621B2 (ja) | 1997-09-16 | 1997-09-16 | 測距モジュール |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1194542A JPH1194542A (ja) | 1999-04-09 |
| JPH1194542A5 true JPH1194542A5 (ja) | 2005-05-19 |
| JP3930621B2 JP3930621B2 (ja) | 2007-06-13 |
Family
ID=17216426
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25101997A Expired - Lifetime JP3930621B2 (ja) | 1997-09-16 | 1997-09-16 | 測距モジュール |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3930621B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103444165B (zh) * | 2011-03-15 | 2017-09-08 | 富士通先端科技株式会社 | 摄像装置和摄像方法 |
| US10596964B2 (en) | 2016-01-13 | 2020-03-24 | Ricoh Company, Ltd. | Distance measurement device, moveable device, and distance measuring method |
| JP6848364B2 (ja) | 2016-11-10 | 2021-03-24 | 株式会社リコー | 測距装置、移動体、ロボット、3次元計測装置、監視カメラ及び測距方法 |
-
1997
- 1997-09-16 JP JP25101997A patent/JP3930621B2/ja not_active Expired - Lifetime
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