JPS58127178A - 部品試験装置 - Google Patents
部品試験装置Info
- Publication number
- JPS58127178A JPS58127178A JP989682A JP989682A JPS58127178A JP S58127178 A JPS58127178 A JP S58127178A JP 989682 A JP989682 A JP 989682A JP 989682 A JP989682 A JP 989682A JP S58127178 A JPS58127178 A JP S58127178A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 30
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 10
- 238000013102 re-test Methods 0.000 description 8
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、部品を移動する複数のラインにテスタから
の信号を伝えるコンタクトラそｎぞｎ設け、各コンタク
トを開閉して部品に試験信号を送る部品試験装置につい
てのものである。
の信号を伝えるコンタクトラそｎぞｎ設け、各コンタク
トを開閉して部品に試験信号を送る部品試験装置につい
てのものである。
従来装置の構成例を第１図に示す。図で、１はテスタ、
２人と２Ｂはコンタクト、３八〜３Ｄは例えばＩＣなど
の部品である。そして、４Ａと４Ｂは部品６Ａ〜６Ｄの
移動用ラインであシ、部品３Ａ・６Ｂと部品６Ｃ・６Ｄ
をそｎぞｎ並列に移動させる。
２人と２Ｂはコンタクト、３八〜３Ｄは例えばＩＣなど
の部品である。そして、４Ａと４Ｂは部品６Ａ〜６Ｄの
移動用ラインであシ、部品３Ａ・６Ｂと部品６Ｃ・６Ｄ
をそｎぞｎ並列に移動させる。
コンタク）２Ａ・２Ｂにはテスタ１から試験４８号を加
える。第１図では部品６Ａ・３Ｂに対してコンタクト２
人・２Ｂを閉じて試験中であシ、部品６Ｃ・３Ｄ＝ｚ待
機させているところである。
える。第１図では部品６Ａ・３Ｂに対してコンタクト２
人・２Ｂを閉じて試験中であシ、部品６Ｃ・３Ｄ＝ｚ待
機させているところである。
部品６Ａ・３Ｂの試験が終ると、コンタクト２人・２Ｂ
を開いて部品６Ａ・３Ｂを自由にし、ライン４Ａ・４Ｂ
によ多部品３Ａ・６Ｂを次工程へ移動させる。そして、
次の部品６Ｃ・３１１コンタクト２Ａ・２Ｂの位置まで
移動させ、コンタクト２人・２Ｂを閉じる。
を開いて部品６Ａ・３Ｂを自由にし、ライン４Ａ・４Ｂ
によ多部品３Ａ・６Ｂを次工程へ移動させる。そして、
次の部品６Ｃ・３１１コンタクト２Ａ・２Ｂの位置まで
移動させ、コンタクト２人・２Ｂを閉じる。
第１図には２つのライン４Ａ・４Ｂの例を示しているが
、必要によりライン数を増やしてもよい。
、必要によりライン数を増やしてもよい。
第１図のような従来装置で多数の部品を試験する場合に
は、ライン４Ａ・４Ｂによる部品６Ａ〜６Ｄの移動と、
コンタクト２Ａ・２Ｂの開閉ト、テスタ１の信号のオン
オフ全シーケンシャルに制御する場合が多い。図のＣＰ
Ｕ５はこｔらを制御するためのもので、第１図の従来装
置をＣＰＵ５で制御する場合のフローチャート例を第２
図に示す。
は、ライン４Ａ・４Ｂによる部品６Ａ〜６Ｄの移動と、
コンタクト２Ａ・２Ｂの開閉ト、テスタ１の信号のオン
オフ全シーケンシャルに制御する場合が多い。図のＣＰ
Ｕ５はこｔらを制御するためのもので、第１図の従来装
置をＣＰＵ５で制御する場合のフローチャート例を第２
図に示す。
ステップ１１は部品６Ａ・６Ｂがライン４Ａ・４Ｂによ
りコンタクト２人・２Ｂの位置にくると、コンタクト２
人・２Ｂを閉じるようにＣＰＵ５から指令が出ることを
示す。
りコンタクト２人・２Ｂの位置にくると、コンタクト２
人・２Ｂを閉じるようにＣＰＵ５から指令が出ることを
示す。
ステップ１２はＣＰＵ５からテスタ１へ試験開始信号を
送ることを示し、こ扛に工りテスタ１からの試験信号が
コンタク）２Ａ・２８に介して部品６Ａ・３Ｂに加えら
ｎる。
送ることを示し、こ扛に工りテスタ１からの試験信号が
コンタク）２Ａ・２８に介して部品６Ａ・３Ｂに加えら
ｎる。
ステップ１６はテスタ１からの試験信号によシ試験が進
み、テスタ１から試験完了信号が出たかどうかをＣＰＵ
５で確認することを示す。
み、テスタ１から試験完了信号が出たかどうかをＣＰＵ
５で確認することを示す。
ステップ１４はテスタ１から試験完了信号が出ると、コ
ンタクト２人・２Ｂを開くようにＣＰＵ５から指令が出
ることを示す。
ンタクト２人・２Ｂを開くようにＣＰＵ５から指令が出
ることを示す。
ステップ１５はステップ１１〜１４による部品６Ａ・６
Ｂの試験結果について、例えばコンタクト２Ａ・２Ｂの
接触不良でデータがとｎなかったなど、不完全なところ
がないかどうかをチェックし、再試験をするかどうかの
判断をすることを示す。
Ｂの試験結果について、例えばコンタクト２Ａ・２Ｂの
接触不良でデータがとｎなかったなど、不完全なところ
がないかどうかをチェックし、再試験をするかどうかの
判断をすることを示す。
ステップ１６は再試験の必要があるときは再びステップ
１１〜１４を繰シ返し、２度目の試験が終了したかどう
かをＣＰＵ５で確認することを示す。
１１〜１４を繰シ返し、２度目の試験が終了したかどう
かをＣＰＵ５で確認することを示す。
ステップ１７はステップ１１〜１６捷での作業が終ると
、部品６Ａ・３Ｂ１次工程へ送り出し、部品６Ｃ・３Ｄ
ｙコンタクト２人・２Ｂの位置へ移動するようにＣＰＵ
５からライン４Ａ・４Ｂに指令が出ることを示す。
、部品６Ａ・３Ｂ１次工程へ送り出し、部品６Ｃ・３Ｄ
ｙコンタクト２人・２Ｂの位置へ移動するようにＣＰＵ
５からライン４Ａ・４Ｂに指令が出ることを示す。
部品６Ｃ・３Ｄがコンタク）２Ａ・２Ｂの位置にぐると
、ステップ１１〜１６に、ｆ：９部品６Ｃ・３ Ｄ ２
試験し、以下、同じ手順を繰シ返しながら部品乙の試験
を続けていく。
、ステップ１１〜１６に、ｆ：９部品６Ｃ・３ Ｄ ２
試験し、以下、同じ手順を繰シ返しながら部品乙の試験
を続けていく。
ところで、ステップ１５による再試験のチェックで、例
えば部品３Ａは再試験の必要はないが部品６Ｂについて
は再試験の必要がちるというケースがおこる場合がある
。このような場合、第１図の従来装置ではライン４Ａ・
４Ｂを並列に運転しているので、再試験の必要がない部
品６Ａについても、ステップ１１〜１６を繰り返す。こ
のため、多数の部品６を試験するには、かなりの時間が
かかるという問題がある。
えば部品３Ａは再試験の必要はないが部品６Ｂについて
は再試験の必要がちるというケースがおこる場合がある
。このような場合、第１図の従来装置ではライン４Ａ・
４Ｂを並列に運転しているので、再試験の必要がない部
品６Ａについても、ステップ１１〜１６を繰り返す。こ
のため、多数の部品６を試験するには、かなりの時間が
かかるという問題がある。
この発明は、コンタク）２Ａ・２Ｂの開閉とライン４Ａ
・４Ｂの運転を個別に制御することにニジ、再試験の必
要がない部品は隣の部品の結果に関係なく次工程に送シ
出すようにするものである。
・４Ｂの運転を個別に制御することにニジ、再試験の必
要がない部品は隣の部品の結果に関係なく次工程に送シ
出すようにするものである。
次に、この発明による実施例の７０−チャートを第６図
に示す。第６図のステップ２１〜２４は第２図のステッ
プ１１〜１４とそｎぞｎ対応する。
に示す。第６図のステップ２１〜２４は第２図のステッ
プ１１〜１４とそｎぞｎ対応する。
ステップ２５は部品６Ａの試験結果についてチェックし
、再試験をするかどうかの判断をすることを示す。ステ
ップ２５は第２図のステップ１５に似ているが、ステッ
プ２５では部品６Ａについて判断するところが異なる。
、再試験をするかどうかの判断をすることを示す。ステ
ップ２５は第２図のステップ１５に似ているが、ステッ
プ２５では部品６Ａについて判断するところが異なる。
５−
ステップ２６は部品３Ａについて再試験が終了したかど
うかをＣＰＵ５で確認することを示す。
うかをＣＰＵ５で確認することを示す。
ステップ２７はステップ２５で再試験の必要がない場合
、またはステップ２６で再試験が終了したことを確認し
た場合は部品６Ａを次工程へ送シ出し、次の部品３Ｃを
コンタク）２Ａの位置へ移動させる指令がＣＰＵ５から
出ることを示す。
、またはステップ２６で再試験が終了したことを確認し
た場合は部品６Ａを次工程へ送シ出し、次の部品３Ｃを
コンタク）２Ａの位置へ移動させる指令がＣＰＵ５から
出ることを示す。
次のステップ２８〜６０では部品３Ｂについてステップ
２５〜２７と同じ工うな手順を踏むことを示す。
２５〜２７と同じ工うな手順を踏むことを示す。
すなわち、第６図では部品６Ａ・６Ｂの試験が終了する
と、まず部品６Ａについて、次に部品６Ｂについてそ牡
ぞｎ再試験の必要があるがどうかを確認する。そして、
再試験の必要があるときはステップ６０からステップ２
１に戻る。このとき、どちらか片方だけ再試験の必要が
ある場合は、再試験の必要がある部品３Ａまたは３Ｂだ
けを残し、次の部品６Ｃまたは３Ｄをコンタク）２Ａ・
２Ｂの位置へ移動させることになる。
と、まず部品６Ａについて、次に部品６Ｂについてそ牡
ぞｎ再試験の必要があるがどうかを確認する。そして、
再試験の必要があるときはステップ６０からステップ２
１に戻る。このとき、どちらか片方だけ再試験の必要が
ある場合は、再試験の必要がある部品３Ａまたは３Ｂだ
けを残し、次の部品６Ｃまたは３Ｄをコンタク）２Ａ・
２Ｂの位置へ移動させることになる。
次に、第６図のタイムチャート例を第４図に示 ６−
す。図のＴ１はステップ２２に対応し、部品３Ａ・６Ｂ
の試験が開始することを示す。Ｔ２はステップ２３・２
４に対応し、コンタクト２人・２Ｂを開にする。Ｔ６は
ステップ２５に対応し、部品６Ａは再試験の必要がなか
ったとする。Ｔ４はステップ２８に対応し、部品３Ｂは
再試験の必要があったとする。Ｔ５はステップ２７に対
応し、部品６Ａを次工程へ送り出し、次の部品６ｃをコ
ンタク）２Ａの位置に移動させる。この場合、部品６Ｂ
は再試験のため、そのままの位置に待機する。
の試験が開始することを示す。Ｔ２はステップ２３・２
４に対応し、コンタクト２人・２Ｂを開にする。Ｔ６は
ステップ２５に対応し、部品６Ａは再試験の必要がなか
ったとする。Ｔ４はステップ２８に対応し、部品３Ｂは
再試験の必要があったとする。Ｔ５はステップ２７に対
応し、部品６Ａを次工程へ送り出し、次の部品６ｃをコ
ンタク）２Ａの位置に移動させる。この場合、部品６Ｂ
は再試験のため、そのままの位置に待機する。
Ｔ６は次の試験開始であり、部品６Ｂと部品６Ｃがテス
トを受ける。
トを受ける。
すなわち、再試験についてはステップ２５とステップ２
８で部品３Ａ・３Ｂを個別にチェックし、再試験が不敬
なものは隣の部品の試験結果に関係なく次工程へ送り出
す。そして、次のステップでは再試験の必要なものがあ
るときは再試験のために残さｎた部品と、再試験の必要
がなく新たに送り込まｎた部品とを試験する。
８で部品３Ａ・３Ｂを個別にチェックし、再試験が不敬
なものは隣の部品の試験結果に関係なく次工程へ送り出
す。そして、次のステップでは再試験の必要なものがあ
るときは再試験のために残さｎた部品と、再試験の必要
がなく新たに送り込まｎた部品とを試験する。
以上のように、この発明にょ牡ば部品６Ａ・６Ｂに対す
る再試験のチェックとライン４Ａ・４Ｂによる部品６Ａ
・６Ｂの移動を個別に制御するので、部品６Ａ〜６Ｄに
対する試験の稼働率をあけることができるという効果が
ある。
る再試験のチェックとライン４Ａ・４Ｂによる部品６Ａ
・６Ｂの移動を個別に制御するので、部品６Ａ〜６Ｄに
対する試験の稼働率をあけることができるという効果が
ある。
第１図は従来装置の構成例、
第２図は第１図のフローチャート例、
第６図はこの発明による実施例のフローチャート、
第４図は第６図のタイムチャート例。
１・・・・・・テスタ、２Ａ・２Ｂ・・・・・・コンタ
クト、６Ａ〜６Ｄ・・・・・部品、４Ａ・４Ｂ・・・・
・・ライン、５・・・・・ＣＰＵ。 代理人 弁理士 小俣欽司 第１図 第２図
クト、６Ａ〜６Ｄ・・・・・部品、４Ａ・４Ｂ・・・・
・・ライン、５・・・・・ＣＰＵ。 代理人 弁理士 小俣欽司 第１図 第２図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、 部品（６）の移動用に並列に設置する複数のライ
ン（４）と、 各ライン（４１に設け、部品＋３１に対し開閉する複数
のコンタクト（２）と、 各コンタクト（２）に試験信号を送るテスタ（１）と、
テスタ山、各コンタクトＱ）および各ライン４）を制御
するＣ Ｐ Ｕ ｔ５１とをもち、各ライン＋４１を移
動する部品ｔ３１を試験する部品試験装置において、 部品（３）に対する再試験のチェックと、ライン４）に
よる部品（３）の移動を個別に制御することを特徴とす
る部品試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP989682A JPS58127178A (ja) | 1982-01-25 | 1982-01-25 | 部品試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP989682A JPS58127178A (ja) | 1982-01-25 | 1982-01-25 | 部品試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58127178A true JPS58127178A (ja) | 1983-07-28 |
| JPH0338549B2 JPH0338549B2 (ja) | 1991-06-11 |
Family
ID=11732881
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP989682A Granted JPS58127178A (ja) | 1982-01-25 | 1982-01-25 | 部品試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58127178A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6122267A (ja) * | 1984-06-29 | 1986-01-30 | Fujitsu Ltd | 試験用治具の取付構造及びそれによる試験方法 |
-
1982
- 1982-01-25 JP JP989682A patent/JPS58127178A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6122267A (ja) * | 1984-06-29 | 1986-01-30 | Fujitsu Ltd | 試験用治具の取付構造及びそれによる試験方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0338549B2 (ja) | 1991-06-11 |
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