JPS5824990B2 - ヒテンカンニオケル ヒテン ノ スイチヨクヘンコウ ノ セイギヨソウチ - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、飛点陰極線管（ｆｌｙｉｎｇ ５ｐｏｔｃ
ａｔｈｏｄｅ ｒａｙ ｔｕｂｅ：以下、単に飛点管と
言う。

）を用いて、空間的に適宜の方法で固定された固定枠に
よって範囲が定められた一つの面（走査面）を、正確に
走査する装置に関する。

この発明が解決しようとする問題は特に、映画フィルム
を連続的にコマ送りしかつ飛点管を使用するテレシネ装
置（すなわち、映画フィルム上の画像をビデオ信号に変
換するための装置）において発生する。

飛越し走査を採用するか否かに拘わらず、テレシネ装置
における基本的な問題は、動いている映画フィルム上の
画像を正確に垂直走査することのできる飛点像を生成す
ることである。

フィルムのコマ送りと飛点管による走査機能とを連動さ
せる制御装置は周知である。

この発明は特に、飛点像を固定枠内の走査面上に照射す
るために往復回転する鏡を使用する場合において有効な
解決策を提供するものであり、この場合に、上記問題は
２つの問題、すなわちコマ送りされるフィルムの固定枠
内の走査面に対する位置を時間の関数として正確に位置
決めするための（すなわち走査が正確に行われる場合に
、フィルムの位置が走査面上で正確であるような）フィ
ルムのコマ送りの制御の問題と、固定枠内の走査面を正
確に走査するための飛点管の垂直方向の掃引（ｓｗｅｅ
ｐ）の制御の問題とに分けることができるものとする。

この発明は、そのような正確な走査を非常に高い精度で
達成するものである。

この発明による飛点管における飛点の垂直偏向の制御装
置の特徴は、空間的に適宜の手段で固定された固定枠内
に形成された１つの走査面を水平方向の走査線毎に順次
垂直に光学走査を行なう垂直偏向手段を少なくとも有す
る飛点陰極線管における飛点の垂直偏向の制御装置にお
いて：前記光学走査において前記飛点の像によって走査
されるように配置され、該飛点の像によって走査された
時に、前記走査面上の各走査線の垂直方向の位置を表わ
す光マーカ信号を発生する固定されたマーカ領域と； 該光マーカ信号を電気信号に変換する変換器と：垂直走
査の周波数および各走査線の垂直方向の位置に関する基
準信号を発生する基準信号発生器と； 前記変換器からの電気信号と前記基準信号発生器からの
基準信号を入力し、かつ該入力した両信号が等しい時に
ゼロとなる誤差信号を出力する制御信号発生回路と： 該誤差信号の関数として前記垂直偏向手段の垂直偏向を
修正する手段とから構成されることにある。

従来、電子走査の目的のために、マーカ領域を固定枠に
関連して形成し、このマーカ領域によって固定枠内のフ
ィールド（すなわち、飛点像によって水平走査を繰り返
し、１回の垂直走査を行なう期間内に走査される１つの
画面）またはラスタの位置を上下左右方向について中心
に位置決めしかつ走査面を正確に走査することができる
ことは周知である。

しかしこのマーカ領域は、走査運動の均一性（すなわち
多数の水平な走査線間の垂直方向の間隔を等しくするこ
と）を規制するものではない。

この発明の上述した特徴およびその他の特徴は。

添付図面を参照して限定されない実施例として述べられ
る以下の説明により、充分に理解されよう。

この発明は、限定されない実施例として、テレシネ装置
における飛越し走査の場合について以下に説明される。

この飛越し走査はより詳細には。２つの固定位置Ｍ１と
Ｍ２の間を往復回転する１つの鏡を使用し、この鏡が固
定位置Ｍ、またはＭ２に停止している間に１フイールド
の走査が行われ。

一方の固定位置Ｍ１（またはＭ２）から他方の固定位置
Ｍ２（またはＭｌ）に移動している間はビデオ信号の垂
直帰線消去期間となり、このような鏡の運動をフィール
ド繰返し周波数に基づいて作動する電子機械装置（図示
しない）の制御により行なう場合について説明される。

例えば２重飛越し走査の場合は、２つの離散的に連続す
るフィールド。

すなわち奇数フィールドと偶数フィールドを有し。

フィルムの各コマ（画像）はこれらの２つのフィールド
の形態によって連続的に走査されて、１フレーム（すな
わち完全な画面）が形成される。

鏡の一方の固定位置Ｍ１は例えば偶数フィールドに相応
し、他方の固定位置Ｍ２は奇数フィールドに相応する。

以下の説明では、フィルムを駆動する装置、光−を電流
に変換する装置およびそれらの信号を処理する装置は１
図示と説明を省略したが、これらの装置は、この発明と
は直接の関連性はなく、かつ種々の公知の方法を用いて
具体化することができる。

第１図には飛点管１．対物レンズ２および走査面５（走
査窓と称してもよい。

）が示される。飛点管１の水平掃引方向すなわち走査線
掃引方向は図の紙面に垂直である。

走査面５上には２つの連続するフィールドが表われると
共に、映画フィルムやスライド等の走査しようとする対
象物が通過する。

そして走査面５は２つの同一形状の部分５ａおよび５ｂ
からなるものと見なされる。

走査面５の枠内には、対物レンズ２と固定位置Ｍ、およ
びＭ２間を往復回転する鏡３とを介して生成される飛点
の像によって、２つの隣接するフィールド（すなわち前
述した奇数フィールドと偶数フィールド）Ｔ、およびＴ
２が規定され、この２つの隣接フィールドＴ１およびＴ
２により１つのパターン６が形成される。

これらの隣接フィールドＴ１およびＴ２は、正しい位置
にある場合には、走査面５の部分５ａおよび５ｂのそれ
ぞれを占める。

すなわち、走査面５上において、映画フィルムの移動方
向と飛点像の垂直走査方向とは互いに反対方向であるの
で、１コマについての奇数フィールドの垂直走査の終端
位置と偶数フィールドの始端位置とが一致する。

図中、パターン６は走査面５の前面に示されているが、
これは図示を明らかにするためであり、実際は走査面５
と同一面上にある。

分光鏡４は走査面５の中心を通る垂直軸に対して４５°
傾けて配置され、飛点管１から発生する光線の一部を固
定されたターゲット７上に偏向させる。

このターゲット７は、分光鏡４の面に対して走査面５と
対称の位置に適宜の手段により固定して配置され、この
ターゲット７は映画フィルム等の対象物が通過するもの
ではない。

ターゲットＴも２つの同一形状の隣接部分７ａおよび７
ｂからなり、この隣接部分７ａおよび７ｂに対応する２
つのフィールドＲ８およびＲ２によりターゲット７上に
パターン８が形成される。

そして、走査面５の隣接部分５ａおよび５ｂにフィール
ドＴ、およびＴ２が正しく位置する時に、フィールドＲ
１およびＲ２はそれぞれターゲット７の隣接部分７ａお
よび７ｂをそれぞれ占める。

同様に、パターン８はターゲット７とずらせて図示して
いるが、これも図示を明らかにするためであり、実際は
両者は同一面上にある。

ターゲット７（詳細は第２図を参照して後述する。

）はフィルムと同様に走査されて、走査線の高さくすな
わち垂直走査における各水平走査線の垂直方向の位置）
を表わす光情報を発生し、この光情報は、光電セルと増
幅器からなる変換器９により電気信号に変換される。

変換器９の出力信号は制御信号発生回路１０の２つの入
力のうちの一方の入力に印加され、この制御信号発生回
路１０の他方の入力にはのこぎり波の基準信号を発生す
る基準信号発生器１１の出力信号（基準信号）が印加さ
れる。

この制御信号発生回路１０（詳細は第３図を参照して後
述する。

から得られる出力信号により、飛点管１の垂直掃引が制
御される。

第２図は、ターゲラＨの２つの同一形状の隣接部分７ａ
および７ｂを第１図と垂直な方向の平面で示す。

記載を簡単にするため、以下にターゲット７の下方の部
分７ａについて説明するが、２つの隣接部分７ａとγｂ
は全く同一に動作する。

下方の部分７ａは一枚の不透明板７０からなり。

この不透明板７０に、共に細長く透明な垂直溝７１と傾
斜溝７２からなるマーカ領域が形成される。

記載全体を通じて、垂直溝７１の「垂直」とは。

各フィールドの方向に拘らず、垂直走査における垂直方
向と同一の意味で記載される。

従ってこの不透明板７０が飛点管１の飛点像により掃引
されると、各走査線毎に変換器９（第１図）の出力端子
に２つのパルスが発生する。

すなわち、飛点像の水平掃引による走査線が垂直溝７１
を横切る時の第一のパルスと、傾斜溝７２を横切る時の
第２のパルスが発生する。

動作の原理は、第１のパルスから第２のパルスまでの時
間間隔を測定すれば、この時間間隔はターゲット７上の
走査線の高さくすなわち垂直溝７１に対して直角な各走
査線の垂直方向の位置）を表わし、すなわち走査面５上
の対応する走査線の高さく垂直方向の位置）を表わすこ
とに基づいている。

垂直溝７１により得られる第１のパルスは、走査線のタ
ーゲット７に対する水平方向移動とは無関係な測定値を
示す参照パルスである。

第３図は第１図の制御信号発生回路１０の一例を示し、
この制御信号発生回路１０によりターゲット７から発生
する光マーカ信号に基づいて飛点の垂直掃引（すなわち
垂直偏向）を制御する。

同図は、第１図の変換器９と基準信号発生器１１と共に
、７つの要素１０１ないし１０７からなる制御信号発生
回路１０を示している。

走査線毎に変換器９の出力端子から得られる２つのビデ
オパルス■１と■２は１分離回路１０１により第１のパ
ルスＶ、と第２のパルスｖ２に分離される。

垂直溝７１に対応する第１のパルス■１は、トリガ発生
器１０３により飛点管１の走査線周波数毎にのこぎり波
信号を生成するための制御に使用される。

この第１のパルス■、はまたサンプリング回路１０４へ
も送られる。

第２のパルスＶ２はサンプリング回路１０２により処理
されるが、このサンプリング回路１０２はトリガ発生器
１０３からののこぎり波信号を第２のパルス■２が表わ
れた瞬間にサンプリングし、そのサンプル値を次の第２
のパルス■２が表われるまで記憶しておき、この記憶値
がサンプリング回路１０２の出力信号となる。

サンプリング回路１０２は１通常はしゃ断されかつ第２
のパルスｖ２によって導通状態にされるトランジスタで
構成することができ、トランジスタが導通している間に
、出力コンデンサの端子にのこぎり波の電圧を供給する
。

従って、サンプリング回路１０２の出力信号は階段状の
信号であり、ｎ番目の階段（ｎ ＝ １．２，３゜・・
・）の高さくすなわち振幅）は、ターゲット７上で走査
線が垂直溝Ｔ１を横切ってから傾斜溝７２を横切るまで
の時間間隔、すなわちターゲット７の部分子ａ上のｎ番
目の走査線の高さ、すなわち走査面５の部分５ａにおけ
る対応する走査線の高さに比例する。

各走査線の垂直方向の間隔が均一であれば、同一走査線
上の第１のパルス■１から第２のパルス■２までの時間
間隔は、各走査線について垂直方向に一定値ずつ増加す
る。

一方、もし一つの走査線が走査されている間にそのフィ
ールドが変位すると。

これに対応した誤差が、当該フィールドについてのサン
プリング回路１０２からの出力信号の後続する全ての階
段に繰り返し発生する。

一方、基準信号発生器１１は、フィールド繰返し周波数
すなわち飛点管１の垂直掃引（すなわち垂直偏向）の繰
返し周波数でトリガパルスによってトリガされて、のこ
ぎり波信号を基準信号として発生する。

こののこぎり波信号は、サンプリング回路１０２と同様
のサンプリング回路１０４において、第１のパルス■１
をトリガパルスとしてサンプリングされる。

このサンプリング回路１０４から出力される走査線の高
さの基準となる階段波信号は、サンプリング回路１０２
から出力される走査線の高さの実際値を示す階段波信号
と比較され、この比較によって、上記誤差が測定される
。

従って、基準信号発生器１１のトリガパルスの周波数と
出力されるのこぎり波信号の傾斜の大きさは、ターゲッ
ト７上のｎ番目の走査線の高さが走査面５上で正しい位
置にある場合のｎ番目の走査線の高さに一致する時に、
サンプリング回路１０４から出力される階段波信号のｎ
番目の階段の高さが、サンプリング回路１０２から出力
される階段波信号の同じｎ番目の階段の高さと一致する
ように１選択される。

すなわち、サンプリング回路１０２と１０４の出力信号
は、比較器１０５の２つの入力端子に印加されて電圧が
比較され、比較器１０５は面入力信号の大小関係に応じ
た大きさと極性の誤差信号を出力し、この誤差信号は面
入力信号が等しい時にゼロとなる。

比較器１０５の出力信号は、サンプリング回路１０２お
よび１０４と同様のサンプリング回路１０６によりサン
プリングされる。

サンプリング回路１０６をサンプリングするためのサン
プリングパルスがサンプリングパルス発生器１０７によ
り供給される。

このサンプリングパルス発生器１０７は第２のパルス■
２のそれぞれの立下りエツジによりトリガされ、第２の
パルス■２のそれぞれについて持続時間が充分に短かい
（５μｓ程度の）１つのサンプリンブレ匂しスを供給し
。

このサンプリングパルスによって、比較器１０５で比較
される電圧が共に１つの同じ走査線に属する間でのみ比
較器１０５の出力電圧がサンプリングされるようにする
。

これは、サンプリング回路１０２でｎ番目の走査線の第
２のパルス■２によりトリガされて階段波信号が出力さ
れた後１次のｎ＋１番目の走査線の第１のパルス■１に
よりサンプリング回路１０４から階段波信号が出力され
るまでの間に比較をしなければならないからである。

サンプリングパルスの持続時間が長過ぎると、ｎ番目の
走査線の実際の高さとｎ−１−１番目の走査線の基準高
さとを比較してしまう恐れがある。

比較器１０５の出力電圧の各サンプル値は１次のサンプ
リング周期までサンプリング回路１０６のコンデンサに
蓄えられる。

サンプリング回路１０６の出力信号は、第１図において
制御信号発生回路１０の出力端子１２と飛点管１の垂直
偏向ヨークとを単に結線して示しであるように、飛点管
１の垂直偏向コイルに印加される垂直掃引信号に加え合
わされる。

このフィードバックループの応答速度とサンプリング周
期とに応じて、垂直偏向制御の所望の正確度（精度）が
得られる。

この発明による飛点管における飛点の垂直偏向の制御装
置によれば、以下のような効果が得られる。

一垂直偏向の位置決めは電子回路により行われ、機械的
装置による偏位には依存しない。

−鏡３は単に固定位置（ＭｌおよびＭ２）に位置させて
各フィールド（奇数フィールドまたは偶数フィールド）
の中心が対物レンズ２の軸上または軸の近傍にあるよう
にするだけでよい。

通常は、飛点管１のスクリーン上のフィールドはスクリ
ーンの中心に一致し、かつ対物レンズ２の軸は飛点管１
のスクリーンに垂直でかつスクリーンの中心に合致して
いるので、制御装置はフィールドを精度よく位置決めす
るためにそれ以上特に行なう必要はない。

一上述したように鏡の固定位置（ＭｌおよびＭ２）は対
物レンズ２の軸上または軸の近傍にあればよいので、鏡
３の固定位置の精度は厳しく要求されない。

上記実施例では、鏡３が固定位置Ｍ１およびＭ２に停止
している間に動いているフィルム等の対象物を垂直走査
し、固定位置Ｍ、およびＭ２間の移動の期間が垂直帰線
消去期間となるテレシネ装置の場合について説明したが
、この発明の制御装置は鏡が１つの位置Ｍ１からもう１
つの位置Ｍ２へ移動している間に垂直走査を行ない、位
置Ｍ２から位置Ｍ１に戻る間が垂直帰線消去期間となる
テレシネ装置にも、勿論同様に採用できる。

次にこの発明の詳細な説明すると、走査線の垂直方向の
位置の実際値と基準値との比較を、各走査線毎に数回ま
たは連続的に行なってもよい。

従って１例えばターゲット上の傾斜溝を複数にして、走
査線毎に複数の情報が得られるターゲットを用いること
ができ、この場合は制御装置の正確度が増大する。

さらに、上記実施例では走査線の位置の測定をのこぎり
波信号を用いてアナログ的に行なっているが、走査線の
垂直位置を測定することのできる垂直透明尺度を適当な
コードで記録した基準ターゲットを用いて、ディジタル
的に行なうこともできる。

あるいは、第４図および第５図に示すように。

ターゲットをフィルムの走査面の一側に配置してもよい
。

第４図は、鏡３と、ターゲット１７に関連付けられた走
査面５とを示す。

変換器９はターゲット１７を透過した飛点から光を受け
る。

従って、第１図の分光鏡は省略され、鏡３からそのまま
同じ光線がくるので、ターゲット１７が受ける光量は第
１図のターゲット７が受ける光量より多い。

第５図はターゲット１７と関連付けられた走査面５の実
施例を示す。

ターゲット１７は不透明部分と透明部分からなる水平方
向アレイ（図示しなＧのを有する。

透明部分は例えば１”を表わし。不透明部分は垂直基準
尺度を形成する。

読出しに際して発生する問題を回避するため、使用され
るコードをグレイコード（ＧＲＡＹ ｃｏｄｅ）とす
ることが好ましい。

第６図は第５図のターゲット１７において基準尺度の１
つの階段を構成する１つの水平方向アレイの拡大図であ
る。

不透明部分はターゲット１７の実体部で構成され、透明
部分は孔１８などの貫通部によって構成される。

基準尺度のピッチは明らかに、垂直偏向制御を所望の精
度で行なうようなものでなければならない。

このためターゲットの基準尺度は、不透明部分と透明部
分を水平方向に連続させることによって１０けたの２進
コードで形成され、ピッチは走査フィールド内の走査線
間隔の１／３に等しくする。

コード化された走査パルスは、復号されて基準のこぎり
波信号と比較されるか、あるいはディジタル化して基準
コードと直接比較される。

前者の場合は、前述した実施例のように比較操作の結果
得られるアナログ信号をサンプリングしかつ処理する。

後者の場合は、比較操作の結果得られるディジタル信号
をアナログ信号に変換し、誤差電圧信号を形成して飛点
管の垂直走査の修正に使用する。

この発明においては、さらに次のように実施できる。

（１）マーカ領域が形成される固定されたターゲットと
、飛点の像を形成する光学手段とを有し。

該マーカ領域を走査する飛点の像を、固定枠内の走査面
を走査する像とは別個のものとする。

（２）あるいは、固定枠内の走査面を走査する飛点管に
よる飛点の像と同じ飛点の像によって走査されるように
、マーカ領域を該固定枠の一側方に配置してもよい。

（３）マーカ領域は不透明部分と透明部分とからなる。

（４）透明部分は１本の垂直溝と少なくとも１本の傾斜
溝からなる。

（５）マーカ領域はグレイ２進コードで目盛った垂直尺
度を形成する。

（６）飛点の像を形成する光学手段は、飛点からの光線
の一部をターゲットに向けて偏光させる分光鏡を有する
。

（７）光学走査がテレシネ装置のフィールド繰返し周波
数で行われるテレシネ装置においては、基準信号発生器
は該光学走査のフィールド繰返し周波数でのこぎり歯状
に変化するのこぎり波信号を発生し、誤差信号を出力す
る回路は、一方で光マーカ信号により決定される瞬間毎
に前記基準信号発生器からの出力信号をサンプリングし
、かつ他方で２つの相前後するサンプリング動作の間に
その直前にサンプリングされた信号の振幅を記憶するた
めのサンプリング回路を有する。

【図面の簡単な説明】

第１図はテレシネ装置におけるこの発明の飛点管におけ
る飛点の垂直偏向の制御装置の要部を簡略に示すブロッ
ク図、第２図は第１図のターゲットの詳細な拡大正面図
、第３図は第１図の制御信号発生回路の詳細なブロック
図、第４図はこの発明の制御装置の変形例の要部のブロ
ック図、第５図は第４図のターゲットと一体の走査面の
拡大正面図、第６図は第５図のターゲットの要部拡大正
面図である。 １・・・・・・飛点管、２・・・・・・対物レンズ、３
・・・・・・鏡。 ４・・・・・・分光鏡、５・・・・・・走査面、５ａｔ
５ｂ・・・・・・隣接部分、７，１７・・・・・・ター
ゲット、９・・・・・・変換器。 １０・・・・・・制御信号発生回路、１１・・・・・・
基準信号発生器。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 空間内に適宜の手段で固定された固定枠内に形成さ
   れた１つの走査面を水平方向の走査線毎に順次垂直に光
   学走査を行なの垂直偏向手段を少なくとも有する飛点陰
   極線管における飛点の垂直偏向の制御装置において： 前記光学走査において前記飛点の像によって走査される
   ように配置され、該飛点の像によって走査された時に、
   前記走査面上の各走査線の垂直方向の位置を表わす光マ
   ーカ信号を発生する固定されたマーカ領域と； 該光マーカ信号を電気信号に変換する変換器と；垂直走
   査の周波数および各走査線の垂直方向の位置に関する基
   準信号を発生する基準信号発生器と： 前記変換器からの電気信号と前記基準信号発生器からの
   基準信号を入力し、かつ該入力した両信号が等しい時に
   モーとなる誤差信号を出力する制御信号発生回路と； 該誤差信号の関数として前記垂直偏向手段の垂直偏向を
   修正する手段とから構成されることを特徴とする飛点管
   における飛点の垂直偏向の制御装置。