JPS59192942A - 自動検査システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は実質」二円筒型の物体を連続的に給送して、そ
ｎらの種々の物理的特性を所定の基準と比較して検査す
るだめの方法及びその自動化製置に関子るものである。

原子炉に用いられる燃料棒は通常母体材料内に結合され
た二酸化ウランを含む円筒型ペレットからなっている。

それらのペレットを最終形状に研磨した後、燃料棒上し
て束ねる前にそれらのベレツ）［き裂や異常点を含んで
いないか、また正常な長さ及び円筒形状を有するかどう
かを光学的に検査されなければならない。

従来の装置において、ペレットヲそのよつ［光学的に検
査するために用いられてきた１つの試みは、多数のペレ
ットの流れからそれらを個々に取り出して検査ステーシ
ョン捷て移送するメカニカルハンドを用いることである
。この検査ステーションにおいて各ペレットは光学的監
視のため、それを完全に露出すべく回転させられ、次い
て他のメカニカルハンドがそれを前記多数のペレットの
流れまで返送し、そこでペレットを選択された位置に分
配するように仕分けを行なう。

このような従来型の装置はメカニカルハンドを操作する
ための複雑なリンク機構を必要とじ−１た検査速度はペ
レットヲ前記ペレットの流れから取り出し、及びそれに
戻すためのメカニカルハントの動作速度により規制され
ることになる。さらにペレットは高品質の研磨材料を含
んでいるため、その面上においてそれらのペレットｅ回
転させるためのローラ支持体が急速に摩滅し、各有効寿
命が制限されることになる。ローラはしはしは不均一に
研磨され、表面のうね状随起を発展させることになる。

これらの隆起はペレットヲ回転時においてかたつかせ、
その結果検査設備が明確なペレット像を形成してそれを
正確に測定する上での障害となる。

このような装置はペレット識別の上でも問題カ多いとい
える。すなわちＶ定ベレットの現実の物理的配置に関す
る情報を、検査設備によシ得られる同一ペレットに関す
る測定情報と関連つけることが困難なことである。この
ような状況はメカニカルハンド全搬送手段の静止部に関
して調製する上での困難ヲ生じ、したがってペレットの
観察及び分類を遅延させることになる。

ペレットヲ光学的に検査すべ〈従来技術によって用いら
れたい捷一つの試みは＼複数のペレットの回転列を支持
するローラの上方において、トラックに沿って移動する
カメラを採用することである。このような装置は筐だ、
ローラを不均一に摩滅させ、その結果、回転中のペレッ
トに望１しくない大きな振動やがたつきを与える場合が
ある。

上述した２つの型の設備に共通する欠点は空気中にダス
トを放出し、この結果生じた気中ダストは前記２つの型
の光学検査装置に一定の関１　　　　　数補正を要求す
ることになる。移動カメラまたはメカニカルハンドにお
ける連結機構に滞留したダスト粒子は検査における種々
の開動や障害の原因となる。

チェックされる特性の数が多い場合、各ペレットの光学
的検査からは大量のデータが引き出され、ストア及び処
理されなけれはならない。

検査工程において、高度のスルーブツト特性を得るため
にはデータを迅速に処理し、ペレットの連続した仕分け
をそれらの検査とほぼ同時に実施できるようにしなけれ
はならない。当該技術分野の現状において、このような
データ処理能力を得ようとすれはきわめて高価な出費を
覚悟しなけれはならない。

したかつて本発明の目的は実質上円筒型の物１木を従来
の検査システムにおけるような不利益を回避して自動的
に検査するための新規にして改良された方法及び装置を
提供するものである。

本発明の第１の様相によｎは、自動検査システムにおい
て実質上円筒型の物体をほぼ連続した通路に沿って給送
することにより、この物体全検査ステーションにおいて
監視すべく露出するようにした次の枦成を有する装置が
提供される。すなわちこの装置は、前記物体を前記通路
に沿って相互に間Ｖ＠ヲ装いて移動させるための手段と
、前記間隔を置いた複数の物体のグループを同軸的に端
面接触関係において束ねるだめの手段と、前記束ねられ
た？ｚｈの物体をその共通軸の周りに制御された角速度
において回転させるために前記通路の一部に収納された
手段と、前記束ねられた複数の物体を吋記検査ステーシ
ョンを過きた前記通路部分に沿って軸方向に制御される
線速度で並進させるだめの手段、及び前記束ねられた物
体を分離して相互に間隔させるために、前記通路部分の
下流側に配置された手段を備え、これにより前記束ねら
れた物体か前記検査ステーションを過きてらせん状に進
行して、監視可能に露出し、さらに前記束ねられた物体
の端面接触関係が検査中の物体の振動及びがたつきを最
小化する機械的安定機能を発揮するようにしたものであ
る。

本発明の前記第１の様相によれば、自動検査システムに
おいて実質上円筒型の物体の列全実質上連続した通路に
沿って給送することにより検査ステーションにおける監
視のために露出させるようにした次の諸段階からなる方
法が提供される。すなわちこの方法は前記物体を前記通
路の第１の部分に沿って互いに間隔を置いて移動させる
段階と、前記互いに隔たった複数の物体のグループを前
記通路における前記第１の部分及び第２の部分の間で同
軸的に端面接触関係で束ねる段階と、前記栢み重ねられ
た物体を前記第２の通路部分においてその共通軸の周り
に制御された角速度で回転させる段階と、前記束ねられ
た物体を前記検査ステーションを過きた前記第２Ａｉ路
部分に沿って制御さ汎た線速度において軸方向て並進さ
せる段階、並びに前記束ねられた物体を前記第２部分の
下流側における第３の通路部分において互いに間隔させ
るべく分離する段階からなり、こｆ′ＬＶＣよって前記
束ねられた物体をらせん状に進行させて、前記検査ステ
ーションを通過させるとき光学的監視のだめに露出させ
、前記物体の前記端面接触関係が前記検査中における物
体の振動及びがたつきを最小化するための機械的安定機
能を発揮するようにしたものである。

本発明の第２の様相によれば、実質上円筒型の物体の列
を限られた通路に沿って給送するための装置が提供され
る。この装置は前記物体を前記通路に沿って軸方向に並
進させるための手段、及び前記並進中の物体を前記通路
の一部においてペレット軸の周りに同時に回転させるた
めの手段を備え、これにより前記物体が前記通路部分に
沿って実質上らせん運動を伴ないながら前進するように
したものである。

本発明の前記第２の様相によれば実質上円筒型の物体の
列を限られた通路に沿って鐙送するための新規の方法が
提供される。この方法は前記物体を前記通路に沿って軸
方向に並進させる段階、並びに前記並進中の物体を前記
通路の一部におりてその物体の軸心の周りに回転させる
） 段階とからなり、これによって前記物体か前記通路部分
に沿って実質上らせん運動を伴ないながら前進するよう
にしたものである。

本発明の第３の様相によれば、実質上円筒型の物体の不
連続な列を所定の基準と比較することにより検査するた
めのシステムが提供される０このシステムは実質上同軸
で端面接触関係において配置した前記物体の束を制御さ
ｎた線速度及び制御さｎた角速度においてその物体束の
軸の周りにらせん運動させなから進行させて光学検査ス
テーション（て出現させるための搬送手段を備え、前記
検査ステーションには前記物体の領域を照明するととも
に、固定した観察領域の限度内で移動させるだめの手段
を含むようにしたものである。前記システムはさらに前
記照明さｎた物体から反射されてくる光強度の関数とし
てめ出力信号を発生すべく配置された光検出素子の厘線
配列と、前記出力信号を周期的に走査させ、検査中の各
物体の選択された特性をあられすビデオ信号を引き出Ｔ
ための手段上を備え、これにより物体表面の異常が他の
物体表面から識別されるようにしたものである。

本発明の前記第３の様相によれば、実質上円筒型の物体
の不連続な列を光学検査ステーションにおいて所定の基
準と比較することにより検査するための方法が提供され
る。そして前記検査ステーションは反射光の強度の関数
である出力信号を発生丁へく配置された光検出素子の直
線配列を含んでいる。この第３の様相による方法は同軸
かつ端面接触関係で配置さｒした前記物体の束を前記検
査ステーションに出現させるために所定の通路に沿って
移動させ、前記検査ステーションを通り過ぎる際、その
束の軸心の周りに制御された線速度及び制御された角速
度においてらせん運動させる段階と、前記らせん運動す
る物体の束のある領域を照射する段階と、前記出力信号
を周期的に走査させ、検査中の各物体の選択された表面
特性をあられ丁ビデオ信号を引き出す段階、並びに前記
ビデオ信号から検査中の物体の前記所定の基準との一致
具合を指示するデータを注出する段階からなり、こｎに
より物体表面の異常が残りの物体表面から識別されるよ
うにしたものである。

第２７図に示す通り、截頭円錐、すなわち角そぎ”１ｆ
Ｌｉ面型の円筒ペレツ）　（５［）からなる物体は＼実
質上連続した通路中を駆動される。これらの円筒ペレッ
トは図示しないが適宜の供給源から供給され、グライン
ダーホイール（５Ｉ）及び（５りにより研磨整形される
。そｎらは次にエンドレスベルトｊ！ｉ３１などのよう
な第１の搬送手段の上に互いに間眺して配置される。こ
のエンドレスベルトｌ５３）は互い（て間脳したベレン
）　（５ｏ）の列を束ね装置１５４）に向かって移送す
るものである。この束ね装置はヘル）　、５’５１の両
側に位置する一対のエンドレスヘルドからなり′、各々
図において垂直面内にを点（５５）に示す固定支持部に
搬送することができる。ペレットがこの固Ｉ定支持部に
到達すると、それらは互いに束ねられる。各ペレットが
順次到達すると、それらの束は一対の回転ローラｆ５［
１及びβ力に向かつて付勢される。ペレット末が所定数
のペレットを含むようニすると、プッシャ關がペレット
束の旬の背後に降下する。このブツシャはレール闘及び
１１＋に支持された走行機構台（５９Ａ）により支持さ
れている。モータ國はスプロケット（６４）と噛み合う
穿孔スチールテープ（６３１１，１介して走行機構台（
５９Δ〕及びブツシャ（６印を駆動する。

回転ローラ（イ）及び（５７１はペレット束に回転運動
を与え、これによりペレットは軸方向に並進して検査ス
テーション（＠全通るところでらせん運動を行なう。検
査ステーション（鰻は丁へてのペレットが観察域（６６
Ａ）全通過する際に光学的に検査するものである。かく
してペレットかこの観察域を横切る際には、円筒ペレッ
トの表面全体か検査ステーションに対して露出される。

次にブツシャ（５８１はペレット束１９＋　’Ｔｈ　一
対のローラ鴫及び（６カから押し出して第２の搬送手段
、丁ガわちエンドレスベルトｆ６７１に載せる。このベ
ルト（Ｇ力はブツシャ卿より早い線速度で移動し、した
がつ＼　　　　　て連続したーレットの間に所定の空間
力３形成されることになる。ベルトはこれら間隔したペ
レットを通路−を経由してタレ゛ット仕分は器に送り込
む。

仕分は器の仕分はホイール６９）は本発明に従って検査
ステーション（６６）によるペレットの光学的検査から
得らｎた情報に応答して動作するものである。仕分はホ
イール（６９）の回転ｆｄ最下部の通路ｉＧ＆に出現し
たペレットをこのホイールの回転方向に応じていずれか
のシュー）　ｔ７（１またはσ１）に向かって打ち込む
ように作用する。ホイールか回転しない場合、ベル１口
６ηは進路を妨けられなかったペレットヲ最下部の通路
（賭から一対のエンドレスベルトＬ７Ｚ及び力）ニ向か
って搬送する。

これらのヘルド（７４及び（７３）はペレットの両側を
把持してそｎらをトレイローダ＠　＊　（７４＋などの
ようす収集ステーションに送り込む。

ペレットはそれらか検査ステーションヲラセん状に通過
するとき、光学的に検査される。第２のブツシャ（８１
）は第１のブツシャいと交互に動作し、したがって第１
のブツシャかペレット束（至））をローラ（５均及びｌ
５７）に沿って押動した後、位置（８すに復帰したとき
−この第２のブツシャ（８１）が検査ステーション＋８
６１を過ぎたペレット束を押動する。したがってペレッ
ト処理時間は比較的短時間に維持される。

検査ステーションｆｆｆｌは第２８及び２９図により詳
細に示すような光学走査及び検出装置を備えている。第
２８図全参照すると１好丑しくけ多モードレーザーから
なる光源（３０ｔ１）が光ビーム（３０６）を提供する
ようになっている。このビームは反射器（３０８）及び
プリズム（３１０）により反射され、発散用レンズ（３
１２）　Ｋ入射して発散する。その結果、ビーム（３０
６）は反射器（３１４）に反射されてフリメートレンズ
（３１Ｇ）に入射し、発散量を縮小する。

集束レンズ（３１８）は光ビームを前記監視域ｒ６０Ａ
）内の第１入射領域（３２０）に細長い光ビームとして
投射するために、発散方向とは異なった方向に尤ビーム
全集束する。ローラ（５匂及び（５力に支持されて前記
第１の照射領域にあられれたペレット束β０）はこの照
射領域をらせん状に通過する。

ペレットの表面から反射した光はレンズＣ３２２）によ
り集束されてｌＸ１０２４個の７オトダイオーＦアレー
（３２４）上に結像する。アレー中の各ダイオードは第
１の照射領域における既知部分域に対応し、フォトダイ
オードに入射した光（ｄその部分域におけるペレットの
表面特性を示す゛情報を含んでいる。フォトダイオード
の信号は１デ一タ予備処理回路Ｃ図示せず）に供給され
、ここで後段のデータ処理装置に処理される前のデータ
が評価され、かつ圧縮される。元ビーム（３０６Ａ）を
発生する第２の光源（３００Δ〕も同様に配置され、そ
の光は光ビーム（３０６）の場合と対象的な方法で反射
され、かつ集束される。

第２９図（て示す通り、監視域疋はさらに第２の入射手
段が自己ｈ′さ汎る。この入射手段附光ビーム０３５３
）ｆ発生する多モードレーザー（３５０）からなってい
る。ビーム（３５３）は反射器（３５５）及び（３５７
）により反射さ八、発散用レンズ（３５９）によって発
散させられる。コリメーションレンズ（３６１）は発散
量全縮小するとともに、そのビームを反射器（６３ｊに
向け、さらにローラ（５６１及び（５力に向かわせる。

各ローラはスリット（３６Ｂ）　ｋ有している。ベレツ
ｌ−（３６９）などの物体かこの領域にあられれると、
それはこの光ヒームの一部を遮断する。しだ力）って遮
断部分（３７］、）は光ビームのこの領域にあられれ、
２本のｊ尿部分（３７３）及び（３７４）はそれぞれペ
レットの上方及び下方を通過する光を含むものである。

反射器（３７６）はレンズ（３７８）にこび）通過部分
を導き、レンズ（３７８）はこの光ビーム部分をフォト
ダイオードアレー（３８０）の部分に集束及び結像すせ
る。ペレツ）　（３６９）の断面高さ、すなわちその直
径は光遮断部（３７１）の高さによって示される。この
情報は７オトダイオードアレー（３８０）の個々のフォ
トダイオードにより生成された信号から引き出されたデ
ータに含寸れており、このようなデータの引き出しはデ
ータ予備処理回路（図示せず）により達成される０ 実施例の説明 記　　　号 ！　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
□図において信号、たとえば信号ＣＰＸの論理反転はテ
下玉−と１−で示される。この信号を伝送するリード線
も同様に指示される０しかしながて指〕ｎる。この約束
は丁へての信号及びＩＪ−ド線について適用されるもの
とする０ 図において用いられた記号は次の通りである。

ＴＦＬＴ−８ＴＡＴＥ又はＴＲＴ−８Ｔ　　　　３状態
バツフアＳＴＢ　　　　　　　　　　　　　　ストロー
ブパルス信号ＲＡＭ　　　　　　　　　　　　　ランダ
ムアクセスメモリーＥＴ）ＩＩＯＭ　　　　　　　　　
　　　プログラム消去可能な読出し専用メモリー ＦＦ　　　　　　　　　　　　　フリップ７０ツブｃ’
ｒｒｔ　　　　　　　　　　　　　カウンタＣＯＭＰ　
　　　　　　　　　　　　コンパレータＳ　１１１−１
；ｌ　Ｔ　　　　　　　　　　　シフトレジスタ１）　
ＣＤ　Ｒデコーダ １）／Ａ　　　　　　　　　　　　　　　　デジタル／
アナログ斐換器Ａ／Ｄ　　　　　　　　　　　　　　　
　アナログ／デジタル変換器ＭＰＬＸＲマルチプレクサ ７　ＳｅｇＩｎｅｎｔ　　　　　　　　　　　　　７セ
グメントデイスプレイＦＩＦＯ先人−先出シフトレジス
タ タイミングパルスの発生 第１６図はタイミングパルス及び他の同期パルスを発生
する回路を示している。第１６図に示す回路は差動ライ
ントライバ（２７１）の出力かステップモータ（図示せ
ず）に接続されたものであり、次の通り動作する。

ストローブ５ＴＢ３１はここに６パルス周波数制御数″
と称する二進数を発生し、これはラッチ（２００）及び
（２０３）の入力にあられれ、ここからビット率掛算器
（２１８）に供給される。ビット率掛算器（２１８）は
パルス周波数制御数ヲ６４で割算するとともに、その商
にリード線Ｃ’Ｐ　Ｘ’にあられれたパルス列の周波数
ヲ掛けるものである。このパルス列の周波数はＩＯＭＨ
，程度であり、後述の回路により発生する。この乗除の
信号はカラ′　ンタ（２５３）に供給されて、さらに１
６で割られた上、差動ライントライバ（２７１）に供給
される。この差動ライントライバ（２７１）ｆｆステッ
プモータにドライブ信号を供給するものである。このド
ライブ信号はパルス周波数制御数により最初に決定され
る周波ｖｉを有する。

ビット率例−算器（２１８）の出力はインバータ（２５
０）により反転され、カウンタｒ２ｓ３）　ｋクロック
付勢し、とのカウンタ（２５３）はそのクロック周波＠
を１６　　で割算する。このカウンタ出力はさらにクロ
ックカウンタ（２５６）に供給されて２５６で割算され
るとともに、クロックカウンタ（２５９）により８て割
算さｎる。カウンタ（２５３）　、（２５６）及び（２
５９）の出力はＮΔＮＤゲート（２６２）Ｋ供給され、
さらにフリップ７０ツブに供給される。フリップフロッ
プ（２６５）は、ワンショットマルチバイブレーク（２
６８〕をトリガーしてｌ）　ＯＯ［Ｊ　Ｎ　Ｔとマーク
されたリード線上に既知周波数のタイミングパルス列全
発生する。それはまたバッファ（２７４）　（（介して
ｒ）ＩＡＩすＳ　Ｃ０ＵＮＴ　　とマークされたリード
線上にもタイミングパルス列を提供する。

ストローブ５ＴＢ３２はランチ（２０６）及び（２０９
）を介してそれぞれカウンタ（２２１）及び（２２４）
に導かれたＡ　１３バスのリード線ＡＢＯ−ＡＢ７に二
進＠を供給するものである。ストローブ５ＴＢ３３ｉ同
様にラッチ（２１２）及び（２１５）　’ｉ介してそれ
ぞれカウンタ（２２７）及び（２３０）に導かれたリー
ド線ＡＢＯ〜ＡＢ７に二進数を供給するものである。こ
れらのカウンタはビット率掛算器（２１８）により生成
１されたパルス列の周波＠全ランチ（２０６）　、（２
０９）　、（２１２）及び（２１５）から対応するカウ
ンタに供給さｎた数により割算するものである。これに
よって発生した既知周波数のパルス列はＮΔＮＤゲー）
（２３７）の出力（６）にあられれる。

ストローブ５ＴＢＤＩ−ｔフリップ７０ツブ（２４６）
のクロック入力に接続されて、フリップフロップ（２４
６）を反転し、リード線ＶＥＬＰ上のパルスを消去する
役目を果たす。したがってリード線ＶＥＴ。

Ｐにあられれた信号の周波数は減少する。

ストローブＳ　ｉ”　Ｂ　Ｏはフリップフロップ（２４
３）を反転するフリップフロップ（２４９）の入力に接
続すれる。この反転動作はリード線ＶＥＬＰにパルスを
加えて、そのリード線にあられれるパルス列の周波数を
増大する役目を果たすものである。

リード線５ＴＢＣ！及び５ＴＢＤＫあられれる信号は後
述するマイクロプロセッサにより制御される。

したがって第１６図の回路はリード線ＶＥＬＰ。

ＰＣＯＵＮＴ、Ｄ］：Ａ　　ＰＯＳ　　Ｃ０ＵＮＴ及び
差動ライントライバ（２７１）１７）出力に制御可能々
周波数のタイミングパルスを発生するものである０基準
ベレツトデータの処理 第２５図は入カフオドダイオード信号を処理丁へく用い
らｎる回ｆｆ１−５　ｋ示している。バッファ増幅器（
２９０）の人力は抵抗（２９３）、（２９Ｇ）及び（２
９９）に接続される。ダイオードアレーにおける各フォ
トダイオードの出力は図示しないが所定の回路により抵
抗（２９９）Ｋ逐次的に提供される。

ａＡＭ（３２ｏ　）１４（ｔ５ｉ別ＲＡ　Ｍ（３２０ａ
）〜（３２０ｈ　）　ｆ含んでおり、これらは並列に接
続さｎたリード線（２）〜（１３）からなるアドレス入
力ラインを有し、したがって個々にアドレス指定さｎる
。

ダイオードアレーが走査されると、第２５図において抵
抗（２９９）Ｅ印加される各ダイオードのアナログ電圧
は３個のバッファ増１＠器（２９，０）　、（３０１）
及び（３０４）により緩衝増幅さｎる。発生したダイオ
ード電圧信号の列は、ビデオ信号を形成するものである
。このアナログ電圧はフラッシュフンバータ（３０７）
によりアナログ型からディジタル型に変換される。変換
された電圧はラッチ（３１０）に保持され、６ビツト数
としてリード線ＡＤＯ〜ＡＤ５に書き込まれ、一対の３
状態バツフア　（３２３）及び（３２６）により選択さ
れたアドレスにおいてｎＡＭ（３２０ｙ入れられる○こ
のアドレスはリード線ＲＯ〜Ｒ９によりこれらの３状態
バツフアに供給される。リー　ド線几０〜Ｒ９上のアド
レスはフリップフロップ（３５０）　、（３５３）及び
（３５９）を反転するストローブ５ＴＢ６　の効果によ
り選択される。この作用はａＡＭ（３２ｏ）にリード線
ＡＤＯ〜Ａ、Ｄ５　上のデータをロードする。その際の
アドレスはΔＲ，０〜Ａ　Ｒ，９によるものではなく、
ＲＯ〜Ｒ９により与えられるものである。第２５図のリ
ード線ＥＯ８は選択された間隔においてフリップ７０ツ
ブ（’３１６）　’ｅ反転し、これによってスイッチ（
３１９）　ｗ駆動してコンデンサ（３８のｔ放電させる
ものである。

Ｒ，ＡＭ　（３２０）かディジタル信号データをロード
した後、ストローブＳ　Ｔ　Ｂ　７　は７リツプフロツ
プ（３５０）、（３５３）及び（３５９）を反転して３
状態バツフア（３２９）及び（３３２）を付勢するとと
もに、３状態バツフア（３２３）及びＣ３２６）を消勢
する。さらにそれはリード線ＡＲＯ〜ＡＲ９により指定
さｎたアドレスでＲＡＭ（３２０洞にストアさｎたデー
タがラッチ（３３８）及び（３４１）内に読み出され、
そこから３状態バツフア（３４４）及び（３４７）に供
給され、これらのバッファがリード線ＤＢＯ〜ＤＢ７に
テイジタルテータを供給することを許容する。ＲＡＭ（
３２０）内にストアされるとともに、ＤＢ６及びＤＢ７
にそれぞれ読み出されるｒｌＶＩＤＥｏ及びｒＫｖｃｏ
ａｒｔｂとマークさｎだリード線上のデータは次のよう
な機能を有する。

第２２図はダイオード重み係数をストアすべく用いられ
るランダムアクセスメモリー（ＲＡＭ４００を示してい
る。ＲＡＭ４００は数個の個別ＲＡＭ（４００ａ）〜Ｃ
４■１】）ヲ含んでおり、これらのアドレスリード紗は
並列に接続されている。

リード線ＤＦＯ〜ＤＦ７（ＤＦババス、Ｖ−ＦＯ〜ＶＦ
”７ＣＶ　Ｆハス）　、及び’ＤＢＯ〜ＤＢ７（ＤＢバ
フ、）ｉ”；を双方向性３状態バツフア（４１９）及び
（４２２）に接続される。

これら双方向性３状態バツフアば■ＦババスらＤＯババ
ス、アルいｆｉＤＢバスかうＩ）　Ｆバスへと信号を伝
達する１つの信号路を選択する役目を果たす。

リード線Ｍ　Ａ　ＯＫ及びＶ　Ｉ’ＴＭは各々ＮＡＮＤ
ゲー）　（４３１）の入力に接続され、このゲートの出
力はインバ〜り（４３７）を介してＮ　Ａ　Ｎ　Ｄゲー
ト（４３４）の入力に接彷１される。ＮＡＮＤゲー）　
（４３４）の仲の入力はリード線ＭＷＤＣに接続される
。ＮＡＮ　Ｉ）ゲート（４３４）の出力は１％Ａ、Ｍ４
００　　に接続される。この回路は第９図の回路との関
連において解続されなければならない。

第９図は基本ダイオードアドレス発生器並びにデータフ
ォーマット回路を示すものである。

カウンタ（４５０）　、（４５３）及び（４５６）の最
も有意味なビットはインバータ（４５０）の入力に接続
され、そのインバータの出力はカウンタ（４５０）の付
勢入力に帰Ｍ接続される。カウンタ（４５０）　、（４
５３）及び（４５６）の最有意味ビットはさらにカウン
タ（４６５）　、（４６８）及び（４７１）の付勢人力
に接続される。

ゲー）　（４７４）の出力はフリップ７０ツブ（４７７
）のリセット入力に接続さｎｌそのフリップフロップの
出力はカウンタ（４８０）に接続される。カウンタ（４
８０）の出力、並ひにフリップフロップ（４７７）の出
力（は１対８デコーダ（４８３）の入力に接続される。

このデコーダの出力はリード線ＳＳＯ〜ＳＳ７’に接続
される。

リード線Ｆ　Ｄ　Ｏ〜Ｆ　Ｄ　７　　は各々フリップフ
ロップ（ａ＆ｚ）　〜（４ｆＥｌ＋）の各クロック人力
に接続される。

リード線ａ　ｓ　ｓ　ｏ”〜Ｒ８Ｓ７≠も同様にこれら
フリップフロップのクリア人力の各々に接続される。

第１Ａ〜ＩＩ−図及び第２Ａ〜第２Ｆ図はストローブ機
能を発揮するデコーダ及びＩＣファンアウトを許容する
働きをするドライバを示すものである。１対８デコーダ
（６５０ａ）〈６５０夏）はリード線ＡＲ’、０〜ＡＲ
７、Ａ［ｉＬ３’、ＡＲ４人５ＥＬＯ１ＳＥＬＩ、５Ｅ
Ｌ２にあられれた信号をデコードするストローブリード
線Ｓ　’Ｌ’　Ｂ　Ｏ〜５ＴＢ４７Ｃ１６進表記〕に伝
達される情報を発生するものである。

７オトダイオードアレーにおける各ダイオードは厳密に
は異なった応答特性を有するものであり、さらにそれら
に対して反射された光もペレットの表面特性きは無関係
に個々に相違するものである。したがってすべてのダイ
オード応答特性を標準化する必要があり、これはダイオ
ード重み係数の発生により行なわれる。

第１及びＩＡ図、第２．９．２２及び２５図に示した回
路において基準ペレットデニタを読み取るとともに、ダ
イオード重み係数を発生する作用は次の通りに遂行され
る。

Ｉ　Ｘ　１０２４個のダイオードアレー（図示せず〕に
おける各フォトダイオードは第９図のカウンタ（４５０
）、（４’５３）及び（４５６〕により逐次的にアドレ
ス指定される。これらのカウンタは几バスへのアドレス
を０１クロツクにより決定された頻度により発生し、〃
・つ供給すｌる。カウンタはｌ×１０２４まてカウント
して停止し、フリップフロップ（４９５）により再始動
される。カウントされた各機は電圧を読み出すべきダイ
オードを選択する。この電圧１−１：第２５図における
抵抗（２９９）に結合され、さらにバッファ増幅器（２
９０）、（３０１）及び（３０４）Ｋ加えられる。これ
により増幅された電圧はフラッシュＡ／Ｄ変換器（３０
７）に結合され、さらにフラッシュ（３１０）及び（３
１３）への入力となるＴＤババス接続される。ラッチ（
３１の及び（３１３）の出力はΔＤババス接続され、そ
こから第２０図におけるＲ　Ａ　Ｍ　（３２０）の人力
に供給される。ＡＤババス供給され、かつＲＡ　Ｍ　（
３２０）に人力された各ダイオード電圧１ｌ−ＬＲバス
により決定されたアドレスにおいてストアされる。この
アドレスは３状態バツフア（３２３）及び（３２６）ｋ
介してＲＡ　Ｍ　（３２０）のアドレス選択端子に供給
される。ダイオード電圧信号はフラッシュＡ／Ｄ変換器
（３０７〕において、マイクロプロセッサ（５５０）の
処理速度より早い速度で発生するため、それらはＲＡ　
Ｍ　（３２０）内にスドアされる。

マイクロプロセッサ（５５０）は所定の時間だけ遅れて
信号全発生し、これを３状態バツフア（５，９５）、（
５９８）及び（６０１）　ｉ介してＡＲババス接続する
。ΔＲババス接続された信号は３状態バツフア（３２９
）及び１１３２）を介してＲＡＭ　（３２０）のアドレ
ス選択端子に供給される。対応するダイオード信号電圧
の大きさニＩｔへＭ　（３２０）からＤＢババス読み出
されてマイクロプロセッサ（５５０）（Ｆｌ伝達され、
このマイクロプロセッサ（５５０）は第１Ａ図の３状態
バツフア（６８Ｇ）及び（６８９）’を介してＤＢババ
スの信号を処理し、さらにデコーダ（６８０）及び（６
８３）　ｋ介してＤ　ハスへの信号全処理する。マイク
ロプロセッサはこれらの信号を処理して後述の重み係数
を演算するものである。

マイクロプロセッサ（５５０）は第１図におケルＥ１）
ＲｌＯＭ　（６２０）及び妬２３〕並びにＲＡ　Ｍ　（
６１４）及び（６１７）に収められた命令によりプログ
ラムさｎる。これらの命令の一部はそれが各ダイオード
信号を所定の基準と比較することによりそのダイオード
の重み係数を演算するとさ、並びにそれらのダイオード
か個々に相違する重み係数（テ従って一定強度の光に応
答した一定の既知信号を発生するように作用することを
要求するものである。

このような演算の後、これらの重み係数（ｄマイクロプ
ロセッサ（５５０）からデコーダ（６０５）を介してＤ
ノベスー＼、丑た方向制御バッファ（６８０）及び（６
８３）並びにＤＢババス介して双方向性３状態バツフア
（４１９）及び（４２２）　（第２２図）［伝達される
。

こｎらの双方向性３状伸バツフアＨＤＢハスｆ　：（ｊ
制御して１１．　Ａ　ＭＣ４００）のデータ人力に接続
され／’ＣＩ’）　ｌ・゛バスに情報を提供させる。こ
れらのデータ人力は前記重み係数を受は取り、受は取ら
れた重み係９５　ｉｊ　Ｉ可ΔバスよりＲＡ　Ｍ　（４
００）に伝達された信号により指定されたアドレスに従
ってストアされる。これらの信号はマイクロプロセッサ
（５５０）ｆｃおいて発生し、そこから第１図における
ΔＲババス伝達され、第２２図における３状態バツフア
（４０７）及び（４１０）を介してＭＡババス接続され
、ここからＲＡ　Ｍ（４００）のアドレス選択端子に接
続される。したがって各フォトダイオードのだめの重み
係数はＲＡ　Ｍ　（４００）内にストアされる。これら
の係数はダイオードにより生成された信号を処理する後
述の回路により用いられる。この信号処理は各ダイオー
ドの異常もしくは個性全実質」二消去して、すべてのダ
イオードにより生じた信号が与えられた光強度に対して
等しく応答するような条件を整えるものである。

第４図は獲得さｎたベレットデータを標準化すへく用い
られる自動利得制御回路を示すものである。第４図に示
すこの回路の動作は次の通りである。

リート線ＢＢＯ〜ＢＢ７は５　ンｆ　（７５０）及び（
７５３）にイ言号を供給し、この信号は基準振幅、すな
わち基準ベレットに応答したフォトダイオードによる平
均的な発生信号の大きさを意味するものである。１３　
Ｂバス上の信号はマイクロプロセッサ（５５ｔ））にお
いて発生し、第１図の入出力デコーダ（６０５）に供給
され、第１Ａ［Ｊにおける方向制御バッファ（６８０）
及び（６８３）を介してＤバスに沿って伝送され、これ
らのバッファから第２図の１）　Ｂバス及び３状態バツ
フア（６ｓｏ）Ｋ供給される。

３状態バツフア（６５０）はこの信号をＤＢババスらＢ
Ｂババス供給し、信号はここから第４Ａ図のランチ（７
５０）及び（７５３）の入力［ＪＩ続される。スト０−
　）Ｓ　Ｔ　Ｂ　Ｉ　Ｂはこの大きな情報をコンパレー
ク（７５６）及び（７５９）の１つの入力セットに供給
する。

これらのコンパレータは供給された情報を他の人力、す
なわちリード線ＡＤＯ−ＡＤ５に供給された振幅情報と
比較するものである。この振幅情報は被検ベレットの走
査中に各ダイオードより発生し、かつＲＡＭ（４ｏｏ）
内にストアされた重み係数により重み付けされた信号の
大きさを指示している。

コンパレータ（７５９）の出力は、’Ｊ−Ｆ線ＡＤｏ〜
ＡＤ５　が含む重み付けされた大きさの信号がリード線
ＢＢＯ〜ＢＢ７か含む基準の大きさより大きいか否かを
指示する。それがもし大きい場合にはフリップ７０ンプ
（７６２）が反転され、これによりカウンタ（７６５）
及び（７７７）が歩進される。これらのカウンタはマイ
クロプロセッサ（５５０）よりＢＢババスあられれ、ラ
ッチ（７６８）及び（７７１）を介してストローブＳ’
ｒＢＩｌ”により供給され、ストローブされた数から加
算方向にカウントする。カウンタ（７６５）及び（７７
４）の出力がカウント２５５にＭ−ｒる七、フリップ７
０ツブＣ７７７）及び（７８０）が反転され、信号Ｔ３
ＳＴＳ”がマイクロプロセッサ（５５０）に帰還接続さ
れる。

カウンタ（７６５）及び（７７４）の出力はラッチ（７
６８）及び（７７］）にラッチされた数と基準の大きさ
を上回ったダイオード信号の大きさの倍数との和である
ため、このラッチされた数及びリード線Ｔ３ＳＴＳ’Ｊ
−の受信信号についてのマイクロプロセッサによる認識
が、信号超過？７ｉの計算を許容するものである。超過
数が受は容れられない数、たとえば被検ペレットの反射
率が基準ペレットの反射率から大きく異なるような場合
、マイクロプロセッサ（５５０）ハダイオ→゛信号につ
いての増幅率、すなわち利得を調整する。本発明の好ま
しい実施例によれば、マイクロプロセッサは各ペレット
の走査中、約５回の利得調整か行なえるようにプログラ
ムされている。

利得調整、すなわち本発明の自動利得制御か実行される
態様は第２５図全参１４ｔ４　して行う以下の説明から
明らかになるであろう。すなわち第２５図は自動利得制
御回路をも示している。リード線ＢＢＯ〜Ｂ１３７はラ
ッチ（８００）及び（８０３）の入力に接続され、これ
らの出力はＤ／Ａ変換器（８０６〕に接続される。リー
ド線Ｓ’ｌ”Ｂ２８はラッチ（８００）及び（８０３）
のラッチ入力に接続される。Ｄ／Ａ変換器（８０６）の
出力はＤ／Ａ変換器（８０９）の入力に接続され、後者
の変換器（８０９）の他の入力にはリード線Ｖ　ＦＯ−
Ｖ　Ｆ　７が接続される。Ｄ／Δ　変換器（８０９）の
出力は演算増幅器（８１２）の人力に接続され、その増
幅器（８１２）は電０１Ｃ−電圧変換モードにおいて作
動する。この回路の動作は次の通りである。

リード１泉ＢＢＯ〜Ｂ　１３７はマイクロプロセッサ（
５５０）７５−らの信号全ラッチ（８００）及び（８０
３）に伝達する。この信号は第４Ａ図の回路において生
成された信号Ｔ　３　Ｓ　■”　Ｓ”に基づくものであ
る。この信号はフォトダイオードの出力音４ε・ス（ペ
レットに関して標準化するに必要な利得夏化の度合に関
する情報を含んでいる。この信号はｓＴＢ徹によりＤ／
Ａ　変換器（８０６）内にストローブされる。

変換器（８０６）の出力はＢＢババス上信号の大きさに
比例したアナログ電流である。この出力電流ｌｄＤ／Δ
変換器（８０９）の入力に供給される。リードｌｘ　ｖ
　ｐ　ｏ〜Ｖ　Ｉｉ″７はダイオード重み係数をストア
するための第２に１」い：示すＲＡＭ（４００）の出力
に接続される。したがってＤ／Ａ変換器（８０９）は必
要なダイオード利得制御量を示すマイクロプロセッサ信
号音１つの入力として受は容れる。

この変換器はさらに各ダイオードのためにダイオード走
査と同期した重み係数をＶＦＦバスから受は容ｎる○ Ｄ／Ａ変換器（８Ｃ９）の出力は重み係数及び利得制御
信号の両方に対応した電流である。この電流は演算増幅
器（８１２）により電圧に変換される。ア、　なわち演
算増幅器（８１２）はフラッシュΔ／Ｄ変換器（３０７
）の人力に供給される出力電圧信号を発生する。フラッ
シュ変換器（３０７）は捷た抵抗（２９９）において発
生し、バッファ増幅器：２９ｏ）、（３０１）及び（３
０４〕により処理された各ダイオードのだめの信号を１
つの入力として受信する０醍換器（３０７）はリード線
ＴＬＩＣＯ〜ＴＤＣ５上の信号に応答して動作する。こ
の信号は自動利得制御イ言号、及びダイオード重み係数
により修正されたダイオード信号の大きさを指示するも
のである。この信号はＴＤＱハス上にあられれ、ラッチ
（３１０）及び（３１３）によりラッチされる。これら
のラッチけり−Ｆ線へ１）０〜ＡＤ５に信号を供給され
る。したかつて信号、すなわち修正されたビデオ信号は
ＡＤハス上に発生して被検ペレットの表面の反射＄全指
示し、フォトダイオードの応答特性における変動及びペ
レット表面の総括的反射率における変動を調整すべく様
塾化されたものである０ 第３図に示した回路の動作は次の通りである。

リード線Ａ　Ｌ３０上にあられれた信号はストロ−ブＳ
　ｉ”　８２０　Ｋよりカウンタ（８５９）及び（８１
３２）内にストローブされる。リード線ＡＢＯ及びＡＢ
ｌにあられれる信号はストローブ５ＴＢ２１によりカウ
ンタ（８６５）内に個々にストローブされる０これら２
個のストローブ処理により、カウンタ（８５９）、（８
６２）及び（８６５）に伝達された情報はこわらのカウ
ンタの増加カラントラ開始する数を提供する。インクリ
メント（増加分）はリード線ＶＥＬＩ）、ＳＳＸ及びＣ
Ｉにより決定される。したがってこれらのカウンタはラ
ッチ（８５０）、（８５３）及び（８５６）によりこれ
らのカウンタに供給された数か、捷たはリード線ＶＥＬ
Ｐ、ＳＳＸもしく　はＣＩ上にあられれた信号によりカ
ウンタ（８５９）、（８６２）及び（８６５）でインク
リメントされた数によって決定される信号ｉ　１Ｊ−ド
線ＴＧＯ〜ＴＧ９上に発生する。

こわらの場合においてコンパレータＣ８６８〕、（８７
１）及び（＋３７４）はＴＯババス上あられれた数をリ
ード線ＲＯ〜Ｒ９にあられれた・潴号七比較する。

このＲバス上の信号は信号処理中のダイオードのアドレ
スを指示する。ダイオードアドレスかＴＧン（ス上にあ
られれた数よりも小さい場合１フリツプフロツプ（８７
７）及び（８８０）は反転されることなく、したがって
リード線５ＴＡＲＴＪｆ、　Ｔ　ＦＬＡ　ＯＫ及びＴＩ
’（ＡＣＫ’に存在する信号は、トラックゲートかいま
た作動していないことを指示するものである。Ｒバス上
のダイオードアレーか′１゛Ｇバス上の数を上回ると同
時に、コンパレータ（８７４）の出力はフリップフロッ
プ（８７７）　ｉ反転し、したがってリード線５ＴＡＲ
Ｔギ、ＴＲ，ＡＯＫ及びｌ”　ＲへＣＫ’はトラックゲ
ートが動作状態にあることを示すものである。したがっ
て連続したダイオード信号のグループか正確に１ペレツ
トの長さだけ間隔？置いて選択される。

トラックケート信号が動作状態をあられ丁と同時にカウ
ンタ（９１６）　、（９２１）及び（９２２）がＴ　（
）バフ、上に存在する数から増加カラントラ開始し、３
状態バツフア（９２５）、（９２８）及び（９３１）ｆ
／こ供給される出力を発生する。これら３状態バツフア
の出力はリード線ＤＢＯ−ＤＢ７、並びにリード線ＤＢ
Ｏ及びＤ’ＢＩに２ストロークにおいて供給される。Ｄ
Ｂババス上この出力はマイクロプロセッサ（５５０）に
供給され、トラックゲートのアドレス指示を提供する。

第３図に示した回路の動作はフォトダイオードアレー（
９４３）がペレット（９４６）の表面を概略的に読み取
るｊ、１．：　５．を示す第２６図との関連においてさ
らに説明される。ＡＢババスらカウンタ（８５９）、（
８６２）及び（８６５）内にストローブされた数はラッ
チ（８５０）、（８５３）及び（８５６）により２スト
ロークでストπ−ブされ、ペレットの最初の走査のため
にトラックゲートｆ：開始するこ（！ｌ：全指示する。

たとえばＡＢババス上故か３であれば、トラックケート
はダイオード３において、すなわちペレット（９４６）
の一端に対応するダイオードにおいて開始するであろう
。この場合、ダイオード１及び２によって生成された情
報は処理回）そｈに用いられない。これに続く走査にお
いてペレットは横方向、すなわちローラ支持体に沿って
軸方向に前進し、破線の輪郭で示すペレ・ツ）　（９４
９）の位置に達する０カウンタ（８５９）　、（８６２
）及び（８６５）によりＴＯババス供給された数はリー
ド線Ｖ’ＥＬＰ。

ＳＳＸ及びＣ１上にあられれた信号によりペレットの軸
方向速度に従って前進し、ＴＧババスらフンパレータ（
８６８）　、（８７１）及び（８７４）に供給される数
ヲ層犬する。これはトラックゲートの開始アドレスをペ
レットの位置に対応するものに変換する。

たとえばカウンタ（８５９）　、（８６２）及び（８６
５）はリード線ＶＢＬＰ、ＳＳＸまたは０１上の信号に
よってＡＢババスらそれらにストローブされた数より増
加方向にカウントされる。この処理はＴＯババスあられ
れた数を図に示′ｆ６５０などの数１で増加カウントし
、トランクゲートをダイオード６５０で開始するもので
ある。ダイオード１〜６４９は処理回路によっては処理
されず、６４９より大きいアドレスを有するダイオード
からの信号のみが処理の対象となる。トラックゲートが
終了するアドレスは後述の他の回路により決定され、こ
れによりペレットの他端を越えたダイオード、すなわち
ベレット（９４６）に関連するダイオード９５１〜１０
２４は処理されなくなる。

３状態／（ツ７ア（９０７）、（９１０）及び（９］７
３）／ｒｉＴＧバス上のデータを整形し、それｆ：ＭＢ
ババスおいてマイクロプロセッサに伝達さｎる別の形態
のデータに翻訳する。したがってトラックゲートの開始
は処理されるべき信号を有するダイオードの最小数のア
ドレスを決定する。この最小数のアドレスはトラックに
沿ったペレット運動を許容すべく変換され、これにより
各ペレットヲ走査する２２０の走査線の各々は、そのペ
レットのトランクに沿った並進、＝Ｕ関係なく、ヘレッ
ト端から同一距離において開始する。

第４図はトラックゲートの１ボ始アドレスから測定され
た信号処理されているダイオードの各々のアドレスを提
供するだめの回路を示している。この第４図に示した回
路の動作は次の通りである。

リード線５ＴＡＲＴ亭はカウンタ（９５０）、（９５３
）及び（９５６）　ｔ　Ｏにセットする。リード線Ｔｒ
（Ａ　ＣＩ＜はリード線Ｃ’ｌ”によってクロックされ
るこれらのカウンタを付勢する。したがって第３図（（
おいてＲバスにより与ネられたアドレスを有するダイオ
ードが読み取ら汎るものと仮定する。

アドレスがＴＧババスより与えられたトラックケートス
タートアドレスに等しいか−１たけそれより大きい場合
（このスタートアドレスはカウンタ（８５９）　、（８
６２）及び（８６５）の出力からなる）、第４図ｔてお
けるカウンタ（９５０）　、’９５３）及び（９５６）
か０（てセントされ、そｎらはＴＲΔＣｉＫ信号にまり
付勢さｎる。いずれか他の時点においてカウンタ（９７
７）　、（９８０）及び（９８３）はストローブ５ＴＢ
２２によりΔＢハスで決定された数にセットされる。こ
の数はダイオードアドレス単位においてトラックゲート
の長さを指示するものである。

カウンタ（９５０）、（９５３）及び（９５６）のイン
クリメントカウンタ値の出力はコンパレータ（９６５）
　、Ｃ９ＧＢ）及び（９７１，）によりラッチ（９７７
）　、（９８０）及び（９８３）の固定した出力と比較
される。この比較は現在読み取られているダイオードア
ドレスがトランクゲートの長さを上回ったか否かを判定
するものである。もしそのアドレスがその長さを上回っ
た場合、フリップフロップ（１■４）は状態を反転して
リード線ＥＮ　Ｄ　　’ＩＩ’　Ｉ’ｔ　Ａ　ＣＫ卒に
トラックケートの終了を指示する信号を発生する。した
がってより高いアドレスを有するダイオードは読み出さ
れない。このさき、３状態バツフア（９８９）、（９９
２）及び（９９５）はリード線Ｒ８５３卆によってスト
ローブされる。したがってラッチ（９７７）、（９８０
）及び（９８３）中にランチされたトラックゲート長さ
は、リード線ＭＢＯ−ＭＢ１５ｆ／［供給される。

トラックゲートの動作中においてカウンタ（９５０）、
（９５３）及び（９５６）のインクリメントアドレスは
、３状■、！鱈バッファ（９５９）及び（９６２）に供
給される。

３状態ノｆツフア（９７４）　ｎデータ識別′清報を収
容している。そのアドレスが読み出されているダイオー
ドの信号において特別の事態が発生すると、リード線１
’　ｎ、　Ｓ　ｉ”　Ｎ　’ｉ’における信号が３状態
バツフア（９５９）、（９Ｇ２）及び（９７４）をスト
ローブする。

その結果、そのダイオードのアドレス及びデータ紅別情
報はリード線ＭＢＯ〜Ｍ　Ｂ　１．５に供給される。こ
のアドレス情報は後述するダイオード信号の分析に用い
られる。したかブ第４図はその信号が読み取られている
各ダイオードのアドレス全提供し、そのアドレスをトラ
ックケートアドレスとの関連において、始１りとして与
えるための回路を示すものである。た、！：えは第２６
図においてトランクゲートをダイオード３て開始すると
、カウンタ（９５０）　、（９５３）及び（９５６）は
ダイオード３をアドレス０として指示し、ダイオード４
をアドレス１として指示することによりそれらを付勢す
る。最新に読まれた各ダイオードのアドレスは第２６図
において（３０３）として示すようなラッチ（９７７）
　、（９８０）及び（９８３）により提供される最大ア
ドレスと比較される。この最大アドレス数に達すると、
ダイオードの読出しが終ｒする。このさき、最大アドレ
ス数が３状態バツフア（９８９）及び（９９２）により
ＭＢババス　ニ供給され、データ識別情報が３状態バツ
フア（９９５）よりそのバスに供給される。後述の理由
により、関連する特定信号全提供するダイオードのアド
レスは、３状態バツフア（９５９）及び（９６２）によ
りＭＢババス伝達され、３状態ノくツファ（９７４）に
よりデータ誠別か形成さ石、る０ 第５図は各フォトダイオードの出力か３個の設定された
）＠値の各々を上回ったかどうか全判定するための回路
を示している。この回路は前記出力が特定の安値を上回
った回数全カウントするものとして示されている。第５
図の回路の動作は次に説明する通りである。

ΔＢババス上あられれたデータは５ＴＢ２９により、ラ
ッチ（１０１０）及び（１０１３Ｆ＋にストローブされ
る。このデータはＴ−１と名づけた所定のスレッシュホ
ールド電圧を指示するものである。

ラッチ（１０１０）及び（１０１３）はこのデータをコ
ン／シータ（１０１６）及びＣ１０１９Ｘ：供給する。

これらのコンノぐレータは前記スレッシュホールド電圧
を被検ペレットに応答して生成された実際の重み付きタ
゛イオード電圧の値と比較するものである。こ扛らの値
は第２５図におけるランチ（３１０）及び（３１３）に
よりΔＤババス上供給されるＯ実際のタ゛イオーＦ値か
スレッシュホールド電圧を上回った場合、フリップフロ
ップ（１０２２Ｆ）人力２がト１ツカ゛−され、リード
線ＴＩＶＩＤＥＯ及びＪ”１ＶＩＤＥＯＰの各々が互い
に反転し、この場合に発生した論理状態の指示が独得さ
れる。した力きってタ゛イオード信号により指示されだ
ペレット表面状態の適合性に関する質問か、Ｔ−１スレ
・ンシュホールドにより指示されたような所定の基準に
よってなされる。

このオペレーションは第２のスレンシ−ホールド電圧を
上回るダイオード冨、圧か存在する力・否かを判定する
場合にも同様に行なわｎる。特にＡ　Ｂバス上に指示さ
れたスレラン 値Ｔ　２　（’ｉ　、ストローブＳ　Ｔ　Ｂ２Ａにより
ランチＣ１０２５）及び（１０２８）にストローブされ
る。このデータｉｊ　コン／＜　レ−タ（１０３１）及
びＣ１０３４に供給さｎ１ΔＤバス上にあられれた重み
付きダイオード１′Ｍと比較される。実際の瓜み付きダ
イオード値がスレッシ−Ｌ　＊　−ルト値を上回ると、
フリップ７０ツブ（１０３７）が状態を反転し、リード
線Ｔ　２ＶＩ　ＤＥＯ及び’Ｉ”２ＶＩＤＥＯ”がその
発生全示す論理値全得ることになる。

同様に第３のスレッシュホールド値Ｔ３ば、ＡＢババス
上あられれたデータからストローブ５ＴＢ３８によりラ
ッチ（１０４ｏン及び（１０４３）内にストローブされ
る。このＡＢババス上データはコンパレータ（１０４６
）及び（１０４９ＸＣ供給され１これらのフンパレータ
はスレッシュホールド値’ｒ３ｔ　Ａ　Ｄハス上にあら
れれた現実の重み付きダイオード値さ比較する。現実の
ダイオード値がスレッシュホールド値を上回るさ、フリ
ップフロップ（１０５２）かその状態全反転するり、−
ドＱ＆　１．”　ＲＡ　ＣＫにより付勢される。この反
転動作はカウンタ（１０５５）に供給されるべき信号を
生じカウンタ（１０５５）はカラ＞　タ（１０６４）と
ともにラッチ（１０５８）及び（１０６１）によりこれ
らのカウンタ内にラッチされた数においてカウントを開
始する。

換言すれば、ダイオード信号がスレッシュホールド値Ｔ
３を上回るたびことに、カウンタ（１０５５人（１０６
４）がラッチ（１０５８）、（１０６１）によりそれら
にランチされた数からの増加カウントを行なう。特にカ
ウンタ（１０５５）及び（１０６４社カウント２５５ま
でカウントし、ここでＮＯＲゲー）（１０７０）の出力
を介して復帰し、それ自身をリセットする。さらにトラ
ックケート消滅は、ＮＯ几ゲート（１０７０）の出力か
カウンタ（１０５５）及び（１ω４〕を再ロードし、連
続走査中においてトラックゲートの再出現を準備するよ
うに働くものである。さらにカウンタ（１０５５）及び
（１０６４）の圧力がカウント２５５に達すると、フリ
ップ７０ツブ（１０６７）かその状態全反転し、リード
線ＩＢ　Ｎ　Ｂ　Ｌ　Ｉ）　Ａ　’１”により付勢され
る。これ１４　’Ｊ　　Ｆ　ｉＭ　１・３’ＳＴＢ”ｉ
、スレンシーホールド値′１゛３を過ぎた特定番号のダ
イオードを指示する論理状態に強制するものである。こ
の特定番号は２５５からラッチ（１０５８）及び（１０
６１にラッチされた数を引いた値に等しい。

スレッシュホールド値Ｔｚ　Ｉ″ｉ比較的Ｋ　＜　、ダ
イオードがたとえは被検ペレット中に含まれた金属など
のような光沢のある金属物体に反射された場合などの十
分な輝度の光を受は容ｎたことを示すために用いられる
。これらの発生はカウンタ（１０５５）及びＣ１０６４
’ＪＣよりカウントされる。それらの所定数、すなわち
２５５からカウンタ（１０５８）及び（１０６１℃ラン
チ数を引いた値が発生すると、金属含有物が存在すると
みなされる。この条件はフリツプフロツプ（１０６７）
７）反転により生じたリード線１’　３　Ｓ　ｉ’　８
％の論理状態により指示される。信号Ｔ３ＳＴＢ”はさ
らに後述の回路により分析される。

リード線′１゛１ＶＩＤＥＯ及びＴ２ＶＩＤ１うＯ並び
にそれらの上述した補数リード線は第１１図に示した回
路により分析される信号を発生する。この第１１図の回
路はリード線ＴＩＣＶＩＤＥＯ上に発生する信号のアド
レスを相関分析することにより、ペレット−ペレット境
界面の位置全判定するものである。第１１図の回路の動
作は次の通りである。

リード線ＣＩはダイオードアドレスが変化するたひこと
に論理パルスを伝達する。インバータ（１１３７）によ
り反転さｎるこのパルスはカウンタ（１０９３λ（１０
９７）及びＣ１１０４辺インクリメント入力に供給され
る。供給されたパルスはこれらのカウンタを歩進させ、
その出力アドレスかＲＡＭ（１１０７）ＩＣおけるアド
レスＮＯヲ連続的に増大させるようにする。カウンタ（
１１１６）及び（１１１９）はリード線Ｉ　ＮＣＲＴＫ
Ｖ上の信号によりカウンタ（１０９３）、（１０９７）
及び（１１０４）により与えられたアドレスにおいてＲ
Ａ　Ｍ（１１０７）から読み比さｎた数から開始する増
加方向の歩進を行なう。リード線ＥＯ８“はカウンタ（
１０９３）、（１０９７）及び（１１０４）を消勢し、
これによってダイオードアレー走査か終わった後、何ら
のアドレス変化も生じないようにする。リード線Ｓ　Ｈ
Ｉ　Ｊｌ”　Ｔ隼はカウンタ（１０９３）、（１０９７
）及び（１１０４）がトラックゲートパルスの存在中に
おいてのみ動作することを保証するものである。

ストローブ５ＴＢ３７によりストローブされるラッチ（
１１２８）及び（１１３１１／ｉ、やがてリード線ＢＢ
Ｏ〜ＢＢ７が含む（第２図におけるドライバ（６５０）
より供給される）データを、コンパレータ（１１２２）
及び（１１２５）の人力に供給する。このＢＢババスあ
庫 られれたデータは所定数のＴＩＶＩＤＥＯイ６．．．ヶ
指示アロｏ各、・１ヤ。。。。符イヘアトの発生は同一
のリード線Ｔ１．ＶＩＤＥＯ’の論理的揺れにより指示
され、Ｎ　Ａ　Ｎ　Ｄケート（１１１０）の人力に接続
される。入力Ｃ４における前記ＮＡＮＤゲートの出力は
、その出力を発生させる正確な論理状態であり、リード
線Ｔ　Ｉ　Ｖ　ＩＤＥＯ”の論理的揺れの発生を反映し
たものである。したがってリード線Ｉ　Ｎ　Ｃ３１Ｌ　
Ｔ　Ｊ（Ｖけ対応する論理的揺れを経過するものである
。このリード線における論理的揺れはカウンタ（１１１
６）及び（１１１９）を歩進させて、リード線Ｔ　Ｋ　
Ｖ　Ｏ〜１゛ｌりＶ７にあられれた数を１だけ増加する
。この１゛ＫＶバスは丁でに述べた通り同時にコンパレ
ータ（１１２２）及びＣ１１２５）の入力とＲＡＭ（１
１０７）のデータ人力に接続されている。したがって１
つの数がＩｔΔＭ（１１０７）内のアドレスから読み出
さｎると、それはカウンタ（１１１６）及び（１１１９
）に供給される。そｎはり一ド葎Ｉ　Ｎ　ＣＲＴＲｖ上
の信号に基つき、こｎらのカウンタの１つによって歩進
されたり歩進されなかったりする。歩進され、あるいは
歩進されなかったこの鍬は同じアドレスに戻さｎｌこｎ
によりダイオードアレーの対応するアドレスに生じたＴ
ＩＶＩＤＥｏのイベントの数かストアさｎる。

′１゛１〜＋　１　ＤＥＯイベントのアドレスの相関図
形により境界面を確立する特定の方法は一例として次の
ように説明される。すなわちカウンタ（１０９３入（１
０９７）及び（１１０４）は信号が分析される全てのダ
イオードアドレスを介して歩進される。これラノカウン
タは各ペレット走査のためにこのサイクルを繰返す。こ
こでダイオード番号２ｏにおいて、例えは各走査のダー
クスペースが生じるものＬ！：する。したがってカウン
タ（１０９３）、Ｃ１０９７）及び（１１０４）が０か
ら１９捷で歩進すると１％　Ａ　Ｍ　ヘのＴＫｖデータ
入カバカバスアドレスにおいて０をストアし、リード線
Ｉ　Ｎ　ＯＲ，Ｔ　Ｋ　Ｖには何らの信号もあられれな
い。しかしながら、第１走査アドレス２０においてＩ　
Ｎ　ＣＲＴ　］＜　Ｖには１つの信号かあられれ、’Ｉ
’ＫＶバスには数１か、Ｓられれる。この数はｒＬＡＭ
内のアドレス（２０）にストアされ、リード線ＩＮＣＲ
ＴＫＶ上の信号はカウンタ（１１１Ｇ）及び（１１１９
）ｉ　０　；から１に歩進する。

カウンタ（１０９３）、（１０９４）及び（１１０４）
はトラックケートの終端、例えは数４００１でカウント
し、そこから第２の走査のために０に復帰して再スター
トする。再びアドレス１から１９までのリード線Ｉ　Ｎ
　ＣＩ”ｔ　’Ｉ”　Ｋ　Ｖ　Ｋは何らの信号も生じな
くなる。しかしながらこのリード線にはアドレス２０に
おいて１つの信号が発生し、カウンタ（１１１６）、及
び（１１１９）全アドレス（２０）においてＲＡ　Ｍ（
１１０７）内にストアされた数すなわち１から２に歩進
させる。

したかつて数“２″′はバスＴ　Ｋ　Ｖにあられれ、こ
の数はＩｔ　Ａ　Ｍ内のアドレス２０に２″とし１　　
　　　　て復帰し、かつストアされる。ここで再びアド
レス２１〜４００には０がストアされることになる。こ
の処理は各ペレットについて２２０回走査を行なうため
に実施され、０〜１９まての全てのアドレスに０全スト
アし、全ての走査の終了時に走介故２２０をアドレス２
０にストアし、更にアドレス２１〜４００に０をストア
するものである。

境界面の存在はＴ　Ｋ　Ｖバスか指示するｆ、ｌ　ｆ　
ＢＢババスよってラッチした数と比較することにより判
定される〇一方各ペレットが２２０回走査される間にお
いて、ＩＮＣＲＴＫＶ信号か境界面の存在チェックのた
めの走査毎において同一アトレスに生ずへき必然性はな
いと考えられる。上側の」易合において、リード線ＩＮ
（、Ｉ％ＴＫ　Ｖ　ｉ’こけアドレス２０において１７
５程度の信号発生かあれは十分と考えられる。この十分
な攻ハラツチ（１１２８）及び（１１３１）によりラッ
チさ′ｒしたＢＢババス上あられれる。所定のアドレス
（ておいて発生ｆるＩ　Ｎ　ＣＲＴ　Ｋ　Ｖイベントの
カウンタがその数に達すると、コンパレータ（１１２２
〕及び（１１２５）ｉｄフリップフロップ（１１３７に
対して１つの信号を発生する０この動作は出力Ｔ　Ｋ　
Ｖ　ＯＲＲＬ及びその補ｉｔ反転してその数が読出され
るＲＡ　Ｍ（１１０７）のアドレスにおける相関性の存
在を指示する。

相関性が判断される方法は上の説明からよく理解される
であろう。第１２図は境界面の相関性が見出されたアド
レスを判定するための回路を示すものである。この第１
２図の回路は次の通りに動作する。

ラッチ（１１２８）及び（１１３１）（第１１図に示″
ｔ）に供給される所定のスレッシュホールドｔｈｔ上回
ったいずれかのアドレスにおける相関数の発生は、すな
わちフリップフロップＣ１１５０）　、（１１５３）　
、（１１５６）、（１１５９）、（１１７０）及び（１
１７１）をトリガーしてカウンタ（１１６５）及び（１
１７４）を付勢するように作用する。これらのカウンタ
が付勢されるＬそれらはリード線０１冷上に発生するパ
ルスをカウントする。すてに述べた通りこれらのパルス
はダイオードアドレスの変化によって生じ、したがって
カウンタはそのような相関性イベントが生じたダイオー
ド数をカウントする。

ＮＡＮＤゲー）　（１１７７）は相関関数の超過が生じ
た場合においてカウンタ：１１６５）及び（１１７４）
’ｉ消勢する。これは検査領域が不当に長いような場合
に生ずるものと考えられる。カウンタ出力リード線ＷＤ
１〜ＷＤ６はこれらにあられれた二進数が正確に対応す
るカウンタのストア数の半分となるようにｉ’＆　ｓ：
されている。境界面の幅数ばその半分の値のみが被検ペ
レットによるものとして２て割算さｎる。他の半分は隣
接ペレットに属すると考えられるからである。この数は
二進アドレス加算器（１１８９）及び（１１９２）に供
給される。ここでこの数はラッチ（１１８０）、（１１
８３）及び（１１８６）にランチされた数から引算され
る。その演算結果はシフトレジスタ（１１９８）％　（
１２０１）及び（１２０４）に供給される。

ＷＤハスにあられれた半分幅情報はシフトレジスタ（１
２０４）及び（１２０７）に供給される０したがってこ
の回路は境界面が存在すると結論つけるに十分な相関関
係が生じたアドレス故ｆＬカウントするものである。こ
の相関政ば２で割算され、更にトランクゲートの開始点
において現実のグイメ−ドアドレスから引算される。こ
の演算後のアドレスは半分幅情報と共に境界面の実際の
アドレスを指示し、シフトレジスタの出力を構成するＰ
１バスにおいて他の回路により用いらｎる０第１３図は
１１１バスにあられｎたデーター＜、　Ｄｉ〕バスにス
トローブするために用いる回路、及び境界面の相関性が
追求されるペレット上の範囲全限定丁へく用いられる回
路を示すものである。第１３図の回路は第１２図に示し
た回路の関連部と共εこ次の通り動作する。

ストローブ（４４１けり一ド線１）　Ｉ　Ｏ〜Ｐ１７か
指示するデータｉ　ｌ）　！３バスの部分〆こストロー
ブするものである。スｌ−ｎ　−−７ｔ４（へ）はリー
ド線１）１８〜ｉＪ　１１５におけるデータｋ　Ｄ　Ｂ
　／（スの残りの部分にストローブするように働く。

ストロ７’　Ｓ　Ｔ　：３３６　ｉ′ｍよりラツｆ（１
２（ｉ８）及び（１２７１）内にラッチさｎたＡＢババ
ス上数は、ダウンカウンタ（１２７４）、（１２７７）
及び（１２８１）かり−１・゛、゛炙１　、ＣＧにより
付勢されてカウントダウン合」始する際の数に対応する
。こｎらのダウンカウンタはＣ２”のタイミングにより
決定される間隔において減少カウントされる。すなわち
そのタイミングはダイオードアドレスか変化する度合を
法学す、３時間すれに対フ１３する０ダウンカウンｔか
所定の敵に達すると、リード線５ＴＰｉＣＧ”の論理状
態が変化し、その変化信号は％１２図におけるフリップ
フロップ（１２２５）に結合さｆＬル。

冷 リ　−　ド線　Ｓ　　Ｔ　　Ｉ）　　Ｉ　　ＣＧ　　　
フ　リ　ツ　ブ　フ　ロ　ン　フ゛（１２２５）をセッ
トし、こ７″Ｌによりフリ゛ンブフロ゛ノフ゛出ｙｌＪ
ｆｃＯ及びＩＣＯ”ｋ制御する。フリップフロップ（１
２２５）ｉフリップフロップ（１２２２）ｉ介して動作
するコンパレータ（１２１６）及び（１２１９）により
反転される。こｎらのコンパレータは信号処理中の夕゛
イオードアドレスをラッチ（１２１０）及び（１２１３
）にう゛ンチさｎたダイオード数と比較する。信号処理
中のダイオードアドレスがラッチ（１２１０１及び’Ｌ
２１３）ｆ／’ｌ−おけるラッチ数ヲ上回ると、フリッ
プフロップ（ｉ２Ｑ、’、）：りＳ反Ｉテされる。リー
ド線）ＣＧ及びＩＣＧはここで境界面の相関性検査を終
了下るよう（・ζ働く。、 すなわち境界面相関性の質問１は第１２１スのラッチ（
１２１の及び（１２１３ＪＡｌのラッチ数を上回シ、か
つ第１３図のラッチ（１２６８）及び（１２７１月のラ
ッチ数を下回るダイオードアドレスに関してのみ行われ
る。したがって、ペレットの限らｎた範囲にわたる相関
性検査において一端ではなく両端の相関性の検出可能性
を伴うｌペレットよシ長い範囲の検査は排除される。

マイクロプロセッサ（５５０）は束ねらｎたペレットの
うちの最初のペレットの先端と最後のペレットの後端と
をそれぞれ指示する想像境界面を確立するようにプログ
ラムされる。これは最初の、捷たけ最後のペレットか１
に近することを指示する外部光学トランスデユーサと関
連して行われる。マイクロプロセッサは更に正確な境界
面をイｎ１・立する。

第６図は連続した各走査量の相関関係を判定すると共に
、相関関係におけるアドレス変化を報告するための回路
を示している。この第６図の回路は次の通りに動作する
〇 第５図におけるフリップフロップ（１０２２）から引出
されてリード線ＴＩＶＩＤＥＯにあられれる信号は、Ｒ
ハス上における指示されたアドレスのダイオードの重み
付きダイオード信号がスレッシュホールド値Ｔｌ’ｉｚ
上回ったことを指示するものである。この信号はＲバス
が指示するアドレスにおいて第６図におけるＲ　Ａ　Ｍ
Ｃ１３２８）捷たＱま（１３３１）の１つ（（供給され
る。このＲＡ　Ｍは３状態バツフア（１３１６）、（１
３０７）　、（１３０４）及び（１３１９）により指定
された信号路に応じて選択される。こｎらの３状態バツ
フアはリード線Ｆ　Ｌ　ｉ　１）及びＩ”　Ｌ　１１〕
斗によって制御される。したがってＲＡＭ（１３２８）
ｔた（〆まＲＡ　Ｍ（１３３１）のいず汎かが全走査期
間中の′Ｌ゛１ヒデオ信号をロードされる。

ここでＩｔ　Ａ健１盗〕か用いられ、このＲＡ　Ｍ（１
３２８）にストアされた匣後のデータがそｎと後続の走
査から得られたデータとの間の相関関係の存在全判定す
るための基準データとして用いらｎるものとする。走査
の終りにおいて３状態バツフア（１３１６）、（１３０
７）　、（１３０４）及び（１３１９）は次の走査によ
りデータを他方のＲＡＭすなわち几Ａ　ｇ１３３１）に
ロードするようにトリガーされる。ＲＡＭ（１３２８）
からのデータはここでは基準走査を含むものであり、３
状態バツフア（１３３４）ｉ介してシフトレジスタＪ〕
に供給される。この供給速度はリード線Ｃν ３のクロック動作により決定される。このテークビット
かシフトレジスタ（１３３υの出力に沿って左から右へ
と進展すると、これらは順次排他的論理和ゲート（１３
２５ａ）〜（１３２５ｈ）の各入力に供給される。この
供給は最下部のゲート（１３２５ｈ）から開始される。

リード線ＴＩＶＩＤＥＯにあられれた信号は遅延手段（
１３２２）Ｋ伝達され、この遅延手系 段はこの信号をなるへくならリード線Ｃ３上の４パルス
信号分だけ遅延させてから、その遅延手段のリード線（
６）を介して排他的論理和ゲー）　（４３２５ａ）〜（
１３２５１＋）の他の全ての入力に伝達するものである
。したがって走査中の特定のダイオ’　　　　　　　　
ｈ　出力がスレッシュホールド値９Ｊ　ｋ　上回ったか
否かを指示するリード線Ｔ　Ｊ　Ｖ　ｉ　Ｄ　Ｉｕ　Ｏ
上の信号は、排他的論理和ゲート（１３２５ａ）桐１３
２５ｈ）により同時にアレー中の４個の先行するダイオ
ードの全信号並びに４個の後続するダイオードの信号と
比較される。相関関係の存在はフリップフロップ（１３
４６）の出力に後続さｆしたリード線ＴＪ　ＯＯＩ’ｔ
　Ｉｔ、の論理状態により示される。

Ｔ　ｌ　Ｖ　Ｉ　Ｄ　Ｅ　Ｏ上の・清報が糸鋸走査情報
、すなわち上の例において几Ａ　Ｍ（１３２８）に納め
られた情卯と比較さｎる間（ておいて、リード線Ｔ　］
、　Ｖｉ　Ｄ　］：　Ｏ上の信号は同時ｅて他のＲＡＭ
すなわちＲ，Ａ　ＭＵ３３１）内にロードされていく。

基準走査と現在の走査との間の相関関係が完全てあれは
、この比較処理は次の走査のために繰返される。

すなわち第３の走査からのテークは以前のようにＲＡＩ
＼ＩＩ’（１３３１）内に読み込まれ、同時にそれは基
桑走査データにおける先行する４ダイオードの信号及び
後続する４ダイオードの信号とビット毎に比較される。

最新の走査からの各新しいビットかＲＡ　Ｍ（１３３１
）内に読み込捷れるさ、先の走査からＲＡ　Ｍ（１３３
１）内にストアされたビットは消去される。しかしなが
ら相関関係の不足かｌっのアドレスにおいて満たさｎる
と、リード線゛ｒ１．００几Ｒ，において１つの信号が
あられれる。

この信号は後述の回路により処理される。

第１８図は相関性データをストアすべく用いられるメモ
リバッファを示すものである。

インバータ（１３８４ａ）〜（１３８４ｈ）及びバッフ
ァ（１３８５ａ〕〜（１３８５ＩＩ）の出力は図示しな
いが、データ表示などの目的で用いられる周辺装置に接
続される。Ｎ　Ａ　Ｎ　Ｉ）ゲート（１３９１）の出力
も捷たこの周辺ディスプレイ回路に接続される。

第１７図は第１８図のＩ’Ｌ　Ａ　Ｍ（１３７５）のテ
ークの読み書きを制御すべく用いらｎる回路を示してい
る。第８図は第１８図のＲＡＭ（１３７５）のロード、
及び読み出しに関連したデータフォーマット動作を制御
子べく用いらｎる回路を示している。

上記の回路は第６図の相関判定回路上の関係において次
の通り動作する。

リード線’Ｊ”　Ｉ　Ｄ　Ａ　Ｔ　Ａ上の信号が変化す
ると、第８図におけるフリップフロップ（１５３１ｎｉ
　反に’ｆる。このフリップフロップ（１５３１）によ
り付勢され７’ｙ　７１Ｊ　ツブ−ｙ　ｏ　ツブ（１５
３４）Ｈ、ＩＪ　−）”線Ｔ　Ｉ　Ｃｊ　０Ｒｒｊ上の
信号により指示さｔ″Ｌだ相関関係の発生に応答する。

更にフリップ７０ツブ（１５５４）はそｎがリード線Ｔ
　Ｉ　ＣＯＩｌＲ上の信号により例勢されたとき、状、
態を反転してリード線１？　Ｌ　Ｉ　Ｐ及びＦＬＩＰ”
に信号を発生する。これはリード線ＴＩＶＪＥＤＯから
のデータ通路全Ｒ，Ａ　Ｍ　（１３２８Ｌｌ’たば１３
３１）のいずれかから他方に切り替える効果を有する。

換言すれば、リード線Ｆ　Ｌ　１１１及びＩ”、ＬＩｌ
°ゝ上の信号により新しい基準走査か指定される。最新
の走査と基準走査との間てＪ呉った相関関係が生じたと
すると、この誤動作のダイオードアドレスはリード線Ｍ
Ｉ３０〜Ｍ１３１５を介して第１８図のＲ’Ａ　Ｍ（１
３７５）に書き込捷れる。この情報はリード線ＢＯ〜Ｂ
ｌｌにより決定されるアドレスにおいて１（、ΔＭ（１
３７５）にストアされる。このアドレスは第１７図の回
路により選択される。カウンタ（１４１３）＼（１４１
６）　、（１４１９）、（１４３０λ（１４３３）及び
（１４３６）はそれらのクロック入力によりそれらにス
トアされた数が同時に読み出されるよう（テ、そしてそ
ｎらに新し１ハ数が書き込址れるように構成されている
。したがってラッチ（１４１３）、（１４１６）　、（
１４１９）からはラッチ（１４３０〕、（１４３３）及
び（１４３ｊ３）の人力［１つの数が゛伝達され、同時
にランチ（１４３０）　、（１４３３）及び（１４３６
）の出力かラッチ（１４１３）、（１４１６）及び（１
４１９）の入力に伝達さｎる。かくしてリ−トＨｇ　Ｂ
　Ｏ〜ｌ３１１は′１゛１相関イヘントのグイオ→゛ア
ドレスにおける占き込みを行な５ために、第１８図にお
けるＩ′ＬΔＭ（１３７５）のアドレスを選択すべく動
作する。

一几Ａ　Ｍ（１３７５）から、こｒＬ（でストアされた
′１吉報を検索するためにはリード線Δ０〜Ａｌｌ上の
数全第１７図におけるリード線ＢＯ−Ｂｌｌに伝達する
。コンパレータ（１４３９）、（１４４２）及び（１４
４５）はＡバス上の数をＢバス上の数と比較してリード
線８　Ｋ　Ｅ　Ｍ　ＪフＴＹ及び８ＫＥＭＰＴＹ”上に
こｎら２つの数か等しいか杏かを示す信号全発生す皇 る。したがってこの回路は′Ｉ゛１相関イベントに関す
る情報をＲＡＭ（１３７５）の逐次的アドレス内にロー
ドし、その結果情報をストアした内のアドレスの付近か
翻訳され、検査されたペレットの表面ＶＣａまれた特定
の造形の開始及び終り全意味する情報を指示するように
させる。これは造形の開始にお匠Ｔ］　４：’ｉｌ関イ
ベイベント生することによっている。′ｔなわぢ、この
点においてダイオード信号か基部走査（でおいてストア
された信号と一致しなくなるという事実に基つくもので
ある。したかってテークは造形の選択された開始点及び
終ｒ点のみが記録されそれらの中間の点か無視さｎるよ
うに圧縮される。これら周辺点のみの報告はデータ量か
少くなることを許容するものである。

ダイオードアドレスはＲ，Ａ　Ｍ（１３７５）内にスト
アされる。しかしながら造形の持続中に報告されたダイ
オード信号はそｎらが余分と思わ、４′″Ｌる場合スト
アさｎない。ストアされる次の信号ｆ’ｌ造形か終ると
ころのダイオードからのものであり、このダイオードア
ドレスは几ΔＭ（１３７５）にストアされる。したがっ
てフォトダイオードアレーによって走査された幅の値に
等しい幅の直線的造形は２つのアドレス、すなわち開始
及び終了としてＲＡＭ（１３７５）内に記録される。実
質的な幅の矩形の造形はそのダイオードアドレスとその
四隅の走査数などにより記録される。

第７図はダイオード信号がＴ２ビデオスレッシュホール
ド値と上回った場合の相関関係の存在全判定するだめの
回路を示している。この第７図の回路は第６図の勾応す
る回路と同様に動作するものであり、これ以上の説明は
省略する。

第１４図は誤ったペレット表面の範囲を判定するだめの
回路を示している。この第１４図に示す回路は次の通り
動作する。

ペレットの面取端などのような領域は誤った表面反射特
性を示すものとして誤って解釈されやすいため、誤った
表面領域を検査対象とするペレット表面の範囲は限定す
ることが望ましい。

したがってラッチ（１７０１）及び（１７０４）ｎダウ
ンカウンタ（１７０６）及び（１７０８）Ｋ新しいゲー
ト、丁なわち誤った表面のゲートかトラックゲートの先
端からずれていることをあられ丁ダイオードアドレスの
数全供給する。ダウンカウンタ（１７０６）　、Ｃ１７
０８）及び（１７０９）はリード線０’　１によりクロ
ック付勢される。

それらの出力がＯＫ達すると誤った表面ゲートか存在す
ることになり、カウンタ（１７３５）、Ｃ１７３８）、
（１７４１）及び（１７５２）［Ｔ　ｒ　Ｖ　ｒ　Ｄ　
ｇｏイヘン）ｉカウントさせる。これらのイヘント／ｆ
ｉ誤ったペレット表面の発生を指示するものと見なせる
。

そしてほぼ同時にラッチ（１７２６）、（１，７２８）
及び（１２３ｏ）（・で納められた数がダウンカウンタ
（１７２０）、（１７２２）　＆ひ（１７２４）ＶｒＣ
供給される。これらのカウンタは誤った表面ケートが存
在するようになったときカウントｋ　ｌソｒ４始Ｔる○
それらはり−１・゛線ＣＩＫよりラッチ（１７２６）、
（１７２８）及び（１７３７）ｖｃよりそれらに供給さ
ｎる欺からｏ−１でカウントする間中クロック付勢され
る。これらのラッチが０に達すると７リツプフロツプＣ
１７１１）に供給される信号はフリップフロツプの状態
を反転し、こｆＬ＋ｃよってカウンタ（１７３５）、（
１７３８）、（１７４１）及び（１７５２によりＴ　１
．　Ｖ　ＩＤＥＯのイベントのカウントを阻止するカウ
ンタ（１７３５）、（１７３８）、（１７４１）及び（
１７５２）の出方は、発生しタ’ｌ”　Ｉ　Ｖ　Ｉ　Ｄ
　ＥＯイベントの総＆に指示するものである。全てのペ
レットが走査された後、これら４つのカウンタに納めら
れた数は３状態バ情報はリート線Ｍ　８１２〜Ｍ　Ｂ、
１５に供給さｎ１リ一ド線ＭＢＯ〜ＭＢＩＩ上の情報を
誤った表面データであると識別するものである。

第１５図？−ｊ：　、データ識別のために各ペレットに
対応するデータと関連すべき数を発生すると共に、その
データを生成する走査を該別する数を発生するだめの回
路を示している。したかつ・てこの走査数は円周座標を
与えるものであるか、ダイオードアドレスは軸座標を与
えるものである。当然ながらこれら２つの座標は現在走
査中のダイオード捷たけメモリーに記憶されたダイオー
ドの信号に関連するものである。第１５ｉに示された回
路は次の通り動作する。

ペレットの第１の走査に先立って、ＮＡＮＤゲー）（１
８０７）からの信号はカウンタ（１８１１）及び（１８
１３）全クリアする。各走査の終りにおいて、リード線
ＥＯＳキ上のパルスがカウンタ（１８１１）及び（１８
１３）を歩進させ、これによりリード線ＳＣＯ〜ＳＣ７
に走査カウント数が供給さｎる。この信号はリード線１
％ｓｓ２”上の信号によりＭＢハスに供給される。３状
態バツフア（１８１７）及び（１８１９）はＤＢハスに
走査カウントを供給する。このＤＢハスは第１及びＩＡ
図におけるコネクションなどで示されるように、マイク
ロプロセッサ（５５０）に接続されており、リード線Ｓ
　ｉ’　Ｂ　４１上の信号によりストローブされる。

リ　−　ト線Ｐ　　ＲＳ　　Ｔ　　Ｐ　　Ｃ聾はカ　ウ
　ンタ（１７７９）、　（１７８１）、（１７９４）及
び（１７９６）をラッチ（１７７５）、（１７７７）、
（１７９０）及び（１７９２ｙ／ｒＣよりラッチされた
数にセットする。

ｈ　ウンタ（１７７９）、（１７８１）、（１７９４）
及び（１７９（にｊ　Ｃ（７）　数カら開始してリード
線Ｃ１”上の信号によりクロックされるたひに増加方向
にカウントする。したがってペレット列における各ペレ
ットに対応させることがてきる独自の数が決定され、他
の回路によって処理されているデータをこのペレットに
対応させることができる。

第１０図は１個のペレットか完全に走査されたか否かを
判定１．、ＭＢババス伝達されたデータに関連するよう
にデータ識別情報を供給し、更にＤＢハスに対しマイク
ロプロセッサが使用するためのペレット位置カウントデ
ータをストローブする回路を示している。この＠ｌＯ図
の回路は次の通りに動作する。

リード線５ＴＢ２７上にあられれた信号は、ラッチ（１
８３０）及び（１８３２）に納められた数をコンパレー
ク（１８３４）及び（１８３６）内にス　トロープして
リード線ＳＣＯ〜ＳＣ７によりコンパレータ（１８３４
）及び（１８３６）に供給された実際の走査数と比較さ
ｎるようにする。こｎらの数が等しいと判断されると、
フリップフロップ（１８３８）はその状態を反転してリ
ード線Ｅ０１）”上にペレットの全体が走査さｎたこと
を指示する信号を発生する。例えば本発明の好しい実施
例においてはラッチ（１８３０）及び（１８３２）に納
められた二進＠は十進数２２０の二進表記である。リー
ド線１％ＳＳ６　　及びＲ，ＳＳ？は３状態バツフア（
１８４６）をトリガーしてリード線２．４，６及び１０
に存在する４ビット語をそｎそれリード線Ｍ　Ｂ　１２
〜Ｍ　８１５に伝達させる。この情報はＭＢハス上の他
のリード線に伝達さｎｌこれらのリード線でもその情報
か認識されるようにする。リード線５ＴＢ４６及び５Ｔ
Ｂ４７上の信号はＩ’　Ｃハス上の情報を２つの異なっ
た時点においてＤＢハスにストローブする。

第２３図は第２５図におけるフラッシュＡ／Ｄコンバー
タ（３０７）のディジタル出力、並ひにディジクルスレ
ッシュホール＞）値ｒ１＋１．　Ｔ２　＆　ヒ゛ｒ３を
アナログ信号に変換すると共に、オシロスコープに伝達
するための信号を複合する。演算増幅器（１８９７）の
出力は抵抗（１９０７）を介して端子（１９０５）に接
続される。端子（１９０５）及び（１９２０）はオシロ
スコープ（図示せず〕のディスプレー及び°トリガー人
力に接続されるように構成されている。ドライバ（１９
２５）及び（１９２６）はフォトダイオードアレーの走
査シーケンスを開始させると共に、そのアレー（てクロ
ックパルス？供給するように動作するものである。この
第２３図の回路は次の通りに動作する０ カウンタ（１９１１）及び（１９１３）はデコーダ（１
９１７）七共にリート線１シ・ｒｌ　、ＥＴ２（及びＥ
Ｔ３″ｒ上に冷 パルス列の繰返しシーケンスを供給する。これらのリー
ド線はＮＡＮＤゲート（“士）つ″ハンの出力と共に３
状態バッファ：１８７７）、（１８７９）　、（１８８
ｔ）及び（１８８３）を逐次的にトリガーするタイミン
グ信号を供給するものである。したがって、こｎら３状
態バツフアの出力は個々にかつ逐次的［Ｄ／Ａ変換器（
１８８５）の人力に信号を与え、この変換器の出力はア
ナログ信号として演算増幅器Ｃ１８ｇ７）ｉ介して端子
（１９０５）Ｋあられれる。したがってリード線ＴＤＣ
Ｏ〜Ｔ　Ｉ）　Ｃ５上の重み付フォ、トダイオード信号
、並びにリード線’Ｉ”　Ｈ１０〜Ｔ’ｆ（１５、Ｔ　
Ｉ−１２０〜’Ｉ”　Ｈ２５及びＴ　Ｉ−１ａ　ｏ〜Ｔ
　Ｈ３５上のスレッシュホールド信号’Ｉ”１．Ｔ２及
びＴ３ばＤ／Ａ変換器（１８８５）に多重的に供給され
、端子（１９０５）における出力は４信号の同時オシロ
スコープ表示を許容するものである。

第２４図はプッシャー検出回路を示すものである。ここ
には第２４図に示すものと、第２４Ｂ図に示すものとの
２つの回路か存在する。これらは第２４Ａ図の人力がブ
ツシャ−ｆｌｉに接続さｎているのに対し、第２４Ｒ図
、７）入力かプッシャー（２）に接続さｎていることを
除いては実質的に同一である。更に第２４Ａ図の回路の
出力ｉｄ４　Ｐ　Ｓ　１１１”（１斗として指示される
が、第２４Ｂ図の回路の出力はＰＳｆ（Ｒ２’として指
示さｎる。こｎら第２４Ａ及Ｏ−第２４ＢｌｉＪの回路
は次の通りに動作する。

第２４Δ図を参照すると、２つのプッシャー（図示せず
）の一方の金属体かトランスデユーサτ（図示せず）に
接近するようになっている。

このトランスデユーサ−は固定支持手段に固定された渦
電流コイルより構成することができる。

この金興体接近動作は節点（１９５７）、したがってＬ
Ｅ　Ｄ（１９５８）に供給されるへき信号を生ずる。Ｌ
ＥＤ（１９５８）により発せられた光はフォトトランジ
スタに伝達され、抵抗Ｃ１９６５，）　ｆ通ずる電流を
変調して節点（１９６２）にプッシャーの位置を指示す
る電圧信号を提供する。ダイオード（１９５５）ｉ’ｊ
：節点（１９５７）に過大な電圧が加えらｎたとき、Ｌ
　Ｅ　Ｄ（１９５８）を保護するものである。Ｌ　Ｅ　
ｌＸ１９５８）及びフォトトランジスタ（１９６０）の
２つを使用することは節点（１９６２）に生じた信号を
節点（１９５７）に存在するノイズから分離させるため
である。

第２４Ｂ図の回路も第２４Ａ図の回路と実質上同様に動
作し、その動作が他のプッシャーに適用さ汎るというこ
とのみ相違するものである。

第４Ｂ図は外部トランスデユーサへノ動作信号全発生す
るための回路を示している。

第４Ｂ図の回路動作において、Ｂ　Ｂ　Ｂバス上に選択
された信号を成功裡に授受されたか否かはＳＳＤの出力
により指示される。この出力はリード線ＢＢＯ〜ＢＢ３
上の信号からなるものであり、バス上に送信され、また
は受信された信号の型を指示するようにフード化される
。

第１９図はオペレ＝りに対しプロセッサ回路のオペレー
ション全指示するだめの信号を発生する回路を示してい
る。ここにモニタリード線と総称ｆるＬＥＤｉ、”　Ｒ
ＡＣＫ”　、Ｔ　Ｓ　Ｏ’、ｘ　ＦＲＥ　Ｎ　Ｂ　Ｌ　
　、　　８　Ｋ　ＥＭ　Ｐ　’ｌ”　Ｙ　、　　８　Ｋ
　ＯＶ　Ｆ　Ｌ　。

Ｓ　Ｙ　Ｓ　Ｍ　Ｅ　Ｍ　　、　Ｍ　Ｓ　４　、　ｆｖ
ｌ　Ｓ　８　、　　Ｌ　Ｅ　Ｄ　Ｔ　ＲＡＣＫ　　、Ｔ
ＫＶＣＯＲ４Ｌ、ｉ’　Ｉ　Ｖ　Ｊ　ＤＥＯ。

Ｔ２ＶＩＤＥＯ，Ｔ３ＶＩＤＥＯ，ＭＳＧ”及びｒ　Ｃ
０１はそれそレインハータ（２ｏ５ｏａ）〜（２゜５０
ｐ）の人力に接続される。

第１９図の回路の動作において幾つかのモニタリード線
上の信号は発光ダイオード（２０５４ａ）〜（２０５４
ｉ）による光学信号として明らかにされる。

休止状態のモニタリード線上の信号は外部モニタ回路へ
の接続に用いられるリード線ＴＰ１〜’Ｊ’　Ｐ　７　
ｔｃ伝達される。ｃｌ）バスとＣバスとの間（Ｃ挿入さ
れたインバータはＣＩ）バス上の信号を反転すると共に
、回路ファンアウトを適当に有する電流源を提供するも
のである。

第２１図は実行制御回路を含む回路を示している。この
第２１１１の回路は次の通りに動作ノ抵抗（２１０４（
７）〜（２１０４ｈ）はインピーダンス整合容量内にお
いて機能し、ノイズを最小化するものである。抵抗Ｃ２
１２４汲ひコンデンサ（２１２８）により遅延されたリ
ード線（２Ｇ）上の信号はＦ　１．　Ｆ　Ｏ（先人−先
出シフトレジスタメモリー〇２１０Ｇ）及び（２１０８
）の８個の入力にイｆ在する信号を、これらＦ’　Ｉ　
Ｉ”０内にラッチし、Ｓ′ＰＢＯばそれらＦ　Ｉ　Ｉ”
　０内にデータを並列にシフトさせるものである。１・
ＩＦＯ中のデータはラッチ（２１１２）及び（２１１４
）を介してＤ　Ｂバス上に読み出さｎる。

Ｆ　Ｉ　Ｆ　０（２１４２）及び（２１４４）はＤ　Ｂ
バスに入力さｎたデータを並列した８ビツトグループと
して対称的にストアすると共に、これらのデータをイン
バータ（２１７００〕〜（２１７０１＋）に供給するも
のである。

Ｆ　Ｔ、　Ｐ　０（２１０６）及び（２１０８）に供給
された情報は決定動作（ｄｅｃｉｓ　ｉｏｎ　ｍａｋｉ
ｎｇ）に関連する。Ｆ　Ｉ　１１’０（２１４２）及び
（２１４４）の出力はペレットに関連して行われるべき
分類動作に関連した′ｍ報を含んでいる。

第３０．３１及び３２図は直径の測定計算を行なうため
に第２９図のフォトダイオードアレー（３８０）に関連
して用いらｎる回ＶＪ番示している。

これら３０．３１及び３２図に示す回路（ｄ次の通りに
動作する。

第２９図におけるアレー（３８０１〕）中の各フォトダ
イオードにより発生した信号はコンパレーク（２３０４
）の入力に加えらｎる。この信号か可変抵抗２３１４）
のタップＣ２３０５）の位置により法学されたスレツシ
ュホールドレベル全超えると、リード線Ｔへｌ１ＤＥＯ
＋及びＴＶＩＤＥＯ−に適当なイ言号か発生する。リー
ド線ＣＬ　ＯＣＫ十及びＣＬ　ＯＣＫ　−；ではダイオ
ードが走査されるたびに１つの信号か発生し、リード線
Ｓ　Ｔ　Ａ　Ｒ’Ｉ’十及びＳＴ　Ａ　Ｒｉ”　−！で
はアレー全体が走査されるたび毎に１つの信号が発生す
る。第３２図におけるダウンカウンタ（２４２８）、（
２４３０）及び（２４３２）は通路に沿ったペレット位
置についての情報を提供するものである。これは第２９
図において直径の測定かなされるスリン）　（３６Ｂ）
に対応する位置であって、第２８図において表面特性の
測定を行うブラケツ）　（３２０）の位置とは異る。し
たがってダウンカウンタは所定のカウント数から始めて
０１でカウントダウンを行なう。こｆＬハブラケット域
（３２０〕に配置されたペレット表面の対応する位置が
スリン）　（３６８）の部分に位置したことを示してい
る。この情報ｒ／″ｉＤＢバスに、そして更にＩパ１１
’　０（２４４２ａ）　〜Ｃ２４４２ｄ）に供給される
。

カ リード線ＣＰＩ、ＣＰＩ　　、ＣＦ２及びＣＦ２”　ｔ
ｄ　第３　ｓ図におけるカウンタに信号を供給し、こａ
ｔてより第２９図における光線（３７３）及び（３７４
）の位置ヲフォトダイオードアレー（３８０）のダイオ
ードアドレスにおいて指示するものである。

かくして欠は領域（３７１）の長さ、したかってペレッ
ト直径か測定される。

上述の好しい実施例において、ランチとしてはラッチモ
ードにおいて動作するＩＣチップ、タイプ７４１６１に
用い、カウンタとしてはカウントモードにおいて動作す
る同型のＩＣチップを用いることができる。マイクロプ
ロセッサはなるへぐならＩＣ−タイプ８０８０１〜−１
　からなるのが好しい。に８テコーダとしてＩＣ−タイ
プ８２０５ｉ用いることができる。ＥＰＲＯＭ５として
（はＩＣ−タイプ２７３２を、寸だ第１図におけるＲ　
Ａ　Ｍ　（６１４）及び（６１７）としては１−０タイ
プ２１１４をそれぞれ用いることかできる。双方向性バ
スドライバにはＩＣ−タイプ８２１　（３ｆ用いること
ができる。第１図におけるオシレータ（５５３）には１
Ｃ−タイプ８２２４を用い、第１図におけるテコーダ（
６０５）としてはＩＣ−タイプ８２２８を用い、更に第
２１２図における８：１エンコーダマルチプレクサ−（
６９２）としてはＩＣ−タイプ７４１５を用いるこおか
できる。捷たコンパレータとして［］、］Ｃ−タイプ７
４５８もしく　（ｒｉ　７４８　ｓを用い、フリップフ
ロップとしては１Ｃ−タイプ７４７４捷たは７４５１１
．２を用いることができる。

第６及び７図における遅延／シフトレジスタ（１３２２
）及び（１６５５）としては丁Ｃ−タイフ“７４１６４
を用い、これらの図におけるシフトレジスタ（１３３７
）及び（１６５０販はＩＣタイプ７４１６４を用いるこ
とができる。まだこれらの図におけるチューブ（１６５
９汲び（１３１３）としてはＩＣ−タイプ７４１５１全
用いＲＡＭとしてはＩＣ−タイプ２１２５を用いること
ができる。このＪ、　Ｃ−タイプ２１２５チツプは捷た
第１１．２０．２２図におけるＲＡＭとして用いること
もできる。第１２図における加算器としてば］Ｃ−タイ
プ７４８３を、捷たＦ　、ｉ　Ｐ　Ｏとしてはｉｃ−タ
イプ７４１９３を用いることかできる。

第１６図における１１Ｆ算器（２１８）七してはＩＣ−
タイプ７４９７ｉ用い、ドライブ増幅器としては１０タ
イプＤＳ８８３２’Ｑ用いることができる。第１８図に
おけるＲＡＭとしてはＩＣ−タイプ２１４７’ｉＤＡ変
換器としてはＩＣ−タイプ１）八ＣＯ８を、寸だ第２５
図におけるフラッシュＡ／Ｄ　変換器（３０７）としテ
ｎ　ｆ　Ｃ−タイプＴ’Ｄ０１０１４Ｊを、更にバッフ
ァ増幅器（２９０）、（３０１）、（３０４）及び（８
１２）はｉ　Ｑ−タイプ２５２０を用いることができる
。

３状態バツフアとしては例えはアメリカ合衆国のナショ
ナルセミコンダクタコーポレイションにより製造販売さ
ｎ、ている１、　Ｃ−タイプＤ　Ｍ２Ｏ２Ｓを用いるこ
とかできる。

上述したＩＣのタイプは米国標準工業規格によるもので
ある。

実施例の１とめ 本発明は実質上連続した通路を通るペレットか検査ステ
ーションを高い機械的安定性を保って螺旋状（で通過す
るようにした自動ベレット検査システム金提供するもの
である。この検査ステーション（はペレットヲ光学的に
検査し、関連するプロセッサ回路が高いスループット特
性（／ｒＣおける光学的検査の信頼性を補償するもので
ある。このシステムは微小のペレット領域を検査てきる
ようになっている。

ペレット検査により得られた信号から大量のペレット特
性指示データを算出処理し、及びそれらの機能を比較的
低価格なデータ処理設備で実行するために、本発明にお
いては抽出報告態様て動作するデータ圧縮技術を用いる
ことによりデータ生成率を抑制し、これによって必要な
データ処理容量を最小化したものである。

各ペレットの直径及びその端面の角落ち状態は完全に検
査される。これらのペレットは検査中において端面接触
関係で束ねらｎ１各ペレツトはそれ自体と隣接のものと
を分離する境界面、′Ｔなわちペレットの端面角落ち部
によって識別される。これは特定の信号強度の位置関係
により処理され、全てのデータをそのデータかす［出さ
れた特定のペレットと関連づけるトラックゲートを発生
するものである。

検査の信頼性は光学的検査工程から引出された信号を標
準化することにより高められる。これらの信号は問題の
ペレット特性とは無関係な因子によって変化し得るもの
であり、この信号の標準化はこのような変動全補償する
ものである０ 以上述べた自動光学検査法、装置及びシステムは実施例
における燃料棒用ペレット検査の他の円筒物体、例えば
チューブ、罐、瓶などの検査にも等しく適用さｎｌその
技術構成自体に関する種々の数値的及び部分的変更も本
発明の範囲内において榎々に実施し得るものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の典型的な実施例として構成された検査
システムにおける光学走査及びデータ処理装置のブロッ
ク線図、第１Ａ−ＩＦ図及び第２Ａ−２Ｆ図はストロー
ブ機能を発揮するデコータ及びドライバの実施例を示す
回路図、第３図及び第４図は本発明に従って構成された
好ましい実施例における光学走査及びデータ処理装置の
グロック線図、第４Ａ図はコンパＶ　−夕及びラッチ回
路を示す図、第４Ｂ図は外部トランスデユーサへの動作
信号を発生するだめの回路を示す図、第５図〜第２３図
、第２４Ａ図、第２４Ｂ図及び第２５図並びに第３０〜
３２図は、本発明の好ましい実施例に従って構成された
検査システムにおいて用いられる光学走査及びデータ処
理装置の機能を略示するブロック線）　　　　　　図、
第２６図は前記検査システムにおいて採用された前進走
査技術を示す略図、第２″７図はｍＪＪ己検歪検査シス
テムレット操作部分を示す斜視図、第２８及び２９図は
前記システムのそｎぞれ軸方向及び横方向の光学走査部
分を示す斜視図である。 （関）−一一一円筒型ペレット （５１）、（５２）　−−＝−クラインダーホイール（
５３）　−−−一エンドレヌヘルト （５＝Ｉｌ　−−−一束ね装置 （５６）、（’５Ｔｌ−−−−ローラー（５８１−−−
−ブツシャ Ｃ５９）　−−−−ベレット束 Ｃ５！ＩＪＡ）−−−一走行機構台 （６０）、ｆｌ’ｉｌｌ　−−−−レールｆ６２１−−
−−モータ ｆ６６１−−−一検査スチージョン （７０）、＋７］１）　−−−一振り分はシュート（７
・Ｄ−一一一収集機構 特許出願人　　　　ゼネラル・エレクトリック・カンパ
ニイ代　　理　　人　　　新　　実　　健　　部図面の
浄書（内容に変更なし） ＦｊＧ、ＩＢ　　　　　　日Ｇ、ＩＣ 絹正斥 ＦＩＧ、　２Ａ　　　　　　　　　　　　ＦＩＧ、　２
Ｂ特開昭５９−１９２９４２（２７） 絹゛正ｎ ＜ａｔ　ＩＦ’　　！・１ｌｔｌ＋ 旧 ロコ 目１　　　　　　　　　　　？ 一 対ギＭ亜 ＩＬｌ　　　　　　　　　　　　　　　　　″′ＦＩＧ
、　１７ ＦＩＧ、　１８ ＦＩＧ、　１９ ＦＩＧ、２０ ￥　史−Ｉ＋ツ２ｏ　　　　ｊ　ψ；　ψ￥９ｔ〜　　
７−にＦＩＧ、２２ ＦＩＧ、　２３ ＦＩＧ、２４八　　　　　　　　　　十１２「ｌＧ、　
２６ ＼−ユ□−□−一一一一一一一ユ　　　　　　　　　　
′、−一一−−−−−１口＋１１□　　、ｂ−路→１１ 神二凪狛 ３５５ ＦＩＧ、　２９ 特開Ｅ］８５９−１９２９４２（３４）イ４）昆 雉、゛て♀記 第１頁の続き ０発　明　者　ウィリアム・マーサイテイスアメリカ合
衆国ノースカロライ ナ井１２８４０３カースル・ヘイン・ ロング・ビュー・サークル１２ ０発　明　者　ロバート・オーイン・キャナダアメリカ
合衆国ノースカロライ ナ州２８４０３ウイルミントン・デ バンシャー・レーン１０５ 手続補正書ｃ力式） １、事件の表示　昭和５８年持、Ｊ−１願第５１３７５
号２、発明の名称　　　自動検査シヌテム３、補正をす
る者 事イ′１との関係　　　持打出願人 氏　名（名　＋’ｌ・）　　　　七不うル・エレクトリ
ック・カンバニイ６、補正により増加する発明の数 ７、補正の対象　明則害、全文 図面全区 ８補正の内容 （１）　　明剣フ１）、全文を別紙の通り補正する。 （２）　　図面、仝図を別紙の通り補正する。 ９添附書類の目録

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 ｉｌｌ　　実質上円筒型を有する物体を所定の基準と比
   較するための連続検査システムにおいて、実質上同軸か
   つ端面接触関係に配置した前記物体の束を一定の通ｆｆ
   ６に沿って前進させ、この束全光学検査ステーションに
   おいてその束の軸の１わりにそれぞれ制御された線速度
   及び角運反において螺旋状に進行させるための搬送手段
   を設け、 前記検査ステーションには前記物体が制限された部分監
   視領域内？通過する間に前記物体のある範囲を照射する
   ための手段を備え、前記検査システムには更に前記照射
   された物体から反射された光の強度の関数として出力信
   号をそれぞれ発生する光検出装置の直線的アレー、及び 前記出力信号を周期的に走査してその走査信号から検査
   された各物体の選択された特性をあられ丁ビテオ信号を
   引出すための手段を備えたことにより、 物体表面の異常部分をその物体の他の表面から識別でき
   るようにしたことを特徴とする実質上円筒型を有する物
   体の連続検査システム。 （２）　　前記検査システムか更に、前記第１のビデオ
   信号から検査された物体の前記所定の基準に対する一致
   度を指示するデータを引出すだめの手段を含む表面処理
   回路を備え、前記データ引出し手段には前記引出された
   データを適当に破壊すること（【より圧縮し、その破壊
   部分において予め処理されたデータを更なるデータ処理
   のために用いるだめの手段を備えたことを特徴とする特
   許請求の範囲第（１）項記載の検査システム。 （３）前記表面処理回路が更に前記ビデオ信号を標準化
   して前記物体の基準値に対する一致具合の＠査とは無関
   係な因子により生じた信号の変動を補償するための手段
   を含むこと全特徴とする特許請求の範囲第（２）項記載
   の検査システム。 （４）　　前記出力信号の振幅が（ｉ）前記光検出装置
   における応答特性の相違、及び（ｉｉ）前記照射域の長
   さＧ′こ沿った入射強度の相違に基いて標準物体反射器
   により（Ｉｍヴされた基準からはずれることかある場合
   において、 前記表面処理回路が更に、 前記ビデオ信号金標べβ化して前記振幅σ）はずれ全補
   償するために前記振幅はずｎに対応する重み係数を発生
   し、これによって前記第１ビデオ信号の振幅全前記走査
   手段と同期して変調するための回路手段金倉む標準化手
   段を諦えたことにより、 前記重み係数が前記第１ビテオ信号を標桑化して変調さ
   れた第１ビデオ信号を生成し、この変調された第１ビデ
   オ信号か前記標準物体反射１　　　　　　器が検査され
   たときの各走査のために実質的な一定振１ｉｉｉを有す
   るようにしたことを特徴とする特許ＦＪ求の範囲第（２
   ）項記載の検査システム。 （５）前記表面処理回路が更に前記重み係数をストアす
   るための手段、及び前記重み係数ストア手段から前記出
   力信号の走査と同期して前記重み係数を読み出すための
   手段を含むこさを特徴とする特許請求の範囲第（４）項
   記載の検査システム０（６）　　前記束ねらｎた各物体
   が互いに異なった反射特性を有する場合において、 前記表面処理回路が更に別記ビデオ信号を標準化して前
   記反射付性の相違を補償するための手段を含み、前記信
   号標準化手段が、 １）ｊ」記監視領域を通過する各物体についての前記ビ
   デオ信号の平均振幅を判定するための手段と、前記平均
   振幅全標準物体反射器のために確立すした所定のスレッ
   シュホールド信号と比較するための手段、及び 前記生成されたビデオ信号の振幅を前記束中の物体に応
   答して変調するために前記比較手段に応答して動作する
   手段を有することにより、前記変調されたビデオ信号の
   平均振幅が互いに反射特性の異なる物体間で実質上同一
   の値となるようにしたことを特徴とする特許請求の範囲
   第（２）項記載の検査システム。 （７）前記比較手段に応答する手段が前記物体の各々に
   ついて比較された品質間の相違全あられ１少なくとも１
   つの利得制御信号全提供するようになっており、前記ビ
   デオ信号変調手段が前記利得制御信号に応答して前記ビ
   デオ−信号の利得を変化すると共に、それをテイジタル
   信号に変換するための手段を含むことを特徴とする特許
   請求の範囲第（６）項記載の検査システム。 （８）前記出力信号の振幅か（ｉ）前記光検出装置の応
   答特性の相違及び（１１）前記反射器の長さに沿った入
   射光強度の相違に基いて標準物体反射器によりイ面立さ
   れた基準からはずれ、かつ前記束ねられた各物体が互い
   に異なった表面反射特性を有する可能性かある場合にお
   いて、 前記表面処理回路が更に、 前記各光検出装置の出力信号における前記基準値からの
   振幅の変動をあられす各検出装置のための重み係数をス
   トアするための手段上、前記走査手段と同期して前記ス
   トア手段からＭｉＪ記重み係数を読み出すための手段と
   １前記アレー走査と同期した前記重み係数の読み出しに
   応答して第１のアナログ信号を発生するための第１変換
   手段と、 前記監視領域に移動する各物体について前記ビデオ信号
   の平均振幅をディジタル型で判定するための手段と、 前記平均振幅を前記標準物体反射器について僅；立さｎ
   たスレッシュホールド信号と比較するための手段と、 前記物体の各々について前記比較された、品質ｍ」の相
   違をあられすディジタル数を演算するための手段と、 前記ディジタル数に応答して第２のアナログ信号を発生
   するための第２変換手段と、前記第１及び第２のアナロ
   グ信号に応答してその振幅が前記重み係数及び前記ディ
   ジタル数の関数となる結合されたアナログ信号を発生す
   るための手段と、 前記ビデオ信号全ディジタル型信号に変換するための手
   段であって、前記ディジタル型信号を変調すべく用いら
   れる前記結合されたアナログ信号によって制御された可
   変利得を有するようにした第３変換手段、及び 前記変調されたディジタル型信号を前記手段の入力に返
   還して前記ビデオ信号の平均振幅を判定し、前記信号の
   返還によって前記回路に対する自動利得制御を提供する
   ための手段をｂえたことによシ、 前記変軸されたディジタル型信号の振幅が各走査全通し
   て前記標準物体度射器に関し実賀上一定に維持される七
   共に、前記ビデオ信号の平均振幅が（ｉ）各光強度装置
   の応答特性の相違、（Ｉ）前記物体の束の長さに沿った
   入射光強度の相違、及び（ｉｉｉ）各物体の表面反射特
   性の相違、に左右されることなく異なった反射特性を有
   する物体について実質上同一となるようにしたことを特
   徴とする特許請求の範囲第（２）項記載の検査システム
   。 （９）　　前記物体の束がそれらの端面において防接し
   た所定数の前記円筒型物体を含んでおり、前記検査シス
   テムが所定の長さ及び直径寸法に対する各物体の適合性
   もしくは相Ｍｋ検査するものであり、ｍＪ記検査領域の
   長さか少なくとも１個の物体の長さより長くしである場
   合において、前記表面処理回路か更に、 前記ビデオ信号に応答して前記端面もしくは境界面の各
   々を複数の走査中において同一のアレー位置において発
   生する複数の弱１つたビデオ信号振幅として検出するた
   めの手段と１前記検出手段に応答してその出力信号か単
   一の物体から受取られた照度に対応する連続したアレー
   装置のグループに対応する信号を選択することによりト
   ラックゲートを発生するための手段、及び 前記単一の物体の線速度に応答して前記トラックゲート
   ヲ前進させるだめの手段ｆｆ：備えたことにより、 前記トラックゲートが前記直線移動する単一物体の境界
   面を追跡すると共に、前記物体に対応する信号全トラッ
   クゲートの先端及び後端により連続的に持ち送りするよ
   うにしたこと全特徴とする特許請求の範囲第（２）捷た
   は（３）項記載の検査システム。 （１０）表面処理回路が更に、 各被検物体の持ち送りされる一対の端面間の開開をその
   実長寸法の測定値として判定するための手段と、 前記実長寸法と所定の物体長寸法とを比較するための手
   段と、 前記比較手段に応答して前記実長寸法か前記所定の長さ
   寸法の所定の範囲内に細首る場合において、前記トラン
   クゲート端の各々をその対応する境界面の中心に位置さ
   せるための手段と、前記比較手段により前記実長寸法が
   前記所定の長さ寸法の前記範囲に納捷らないことが判断
   された場合において、前記トラックゲートの先端を検査
   中の物体と検査済物体との境界面の中央に位置させるだ
   めの手段、及び 前記トラックゲートの先端の背後における前記検量中物
   体のだめのトランクゲートの後端を■す記所定の物体長
   さ寸法に等しい距離だけ隔てるための手段を含むことを
   特徴とする特許請求の仲、囲第（９）項記載の検査シス
   テム。 （＋１）　　前記表面処理回路が更に、前記東向におけ
   る第１の物体のためのトラックゲート先端を前記束１べ
   の第１の物体と次の物体との間の境界面の中心に位置さ
   せるための手段と・ 前記第１物体のためのトラックゲート先端を対応するト
   ラックゲート後端から前方に前記所定物体の長さ寸法に
   等しい距離だけ隔てるための手段と、 前記東向における最終物体のためのトラックゲート後端
   を前記東門における前記最終物体とその前の物体との間
   の境界面の中心に位置させるための手段、及び ｈＭ記最！、ｉ物体のためのトランクゲート後端を対応
   了るトラックゲート先端の背後において前記所定物体の
   長さ寸法に等しい距しだけ隅てるだめの手段′ｆｆ：備
   えたことヲ笥徴とする特許請求の範囲第（１０）項記載
   の検査システム。 （１２）　　前記角速度及び線速度が前記窓の長さを横
   切る螺旋移動中の物体における少なくとも１回転の自転
   を堤供するように選択されており、各物体の円筒面が選
   択された走査速度及び走査ｆ＠１υＪに応じた間隔て横
   歪されるようにした場合において、 前記表面処理回路か更に 前記ビデオ信号における所定のスレッジ−ホールドレベ
   ルを超えた振幅変化ケ検出し、前記スレッシュホールド
   レベルの谷交叉が検査さｎた物体表６１］における明表
   面部と略表面部との転移を指示するようにしたｙυ作手
   手段、 前記転移を対応するトラックゲートにより規定された物
   体と相関つけるための手段と、１　　　　　　各相関°
   けられた転移０そ０物体表面′９ける軸座標を前記直線
   配列された対応する光検出装置の位置により判定するた
   めの手段と、Ｕ記角速度及び前記物体表面の選択された
   円周基竿に応じて前記物体表面における各相関っりらｎ
   た転移の同前座標全判定するだめの手段、並ひに 前記各転移の座・係を前記物Ｉ体表面の条件を指示する
   抽出データとしてストアするための手段全備えたことに
   より、 前記ビテオイ言号に含まれたデータ量全圧縮するように
   したことを特徴とする特許請求の範囲第（ｎｊ項記載の
   検査システム。 （１３）　　実質上円筒型の物体を光学検査ステーショ
   ン（ｌておいて所定の基準さ比較することにより連続的
   ｌて検査するための方法であって、前記検査ステーショ
   ンが光検出装置の線型アレーを含み、アレー中の各装置
   かそれらに反射されてきた光強度の関汐としての出力信
   号を発生するようにしたものにおいて、 前記物体の束ｉ１つの通路に沿って同軸かつ端面接触関
   係を＾ｉｆｆ持して移動させると々により前記検査ステ
   ーションに用現させ、更に前記束勿前記検査ステーショ
   ンを通過する際にその共通軸の１わりに制御された線速
   度及び角速度をもって螺旋状に進行させる段階と、 ＾ｉＪ記螺旋状に進行する束の一定領域全照明する段階
   と、 Ｍｉｌ記出力出力信号期的に走査して検査中の各物体の
   選択さｎた表面特性をあられ丁ビデオ信号を引出丁段階
   、及び 前記ビデオ信号から前記検査中の物体の前記所定基準に
   対する一致状態を指示するデータを抽出する段階からな
   ることにより、 物体表面の異常が物体表關の他の部分から品別さ汎るよ
   うにしたことを特徴とする実質上円筒型の物体を所定の
   基準と比較して検査するだめの方法。 （１４）　　前記方法が更に前記データを適当に破壊し
   てそれにより抽出されたデータが更なるデータ処理に用
   いられるように圧縮する段階を含むことを特徴とする特
   許請求の範囲第（Ｉ３）項記載の方法。 （１５）前記方法が更に前記ビデオ信号を標準化して前
   記基準との一致具合についての前記物体検査とは無関係
   な因子により生じた信号の変動全補償する段階を含むこ
   とを特徴とする特許請求の範囲第ｆ＋３）”ｉたＩ″１
   （１４）項に記載の方法。 （１６１前記出力信号の振幅が（ｉ）前記光検出装置の
   応答特性の相違及び（ＩＩ）前記照明域の長さに沿った
   入射光強度の相違に基いて標準物体反射器により確立さ
   れた基準からはずれることがある場合において、前記方
   法か更に、 前記Ｖｉ幅はすれに対応する重み係数を発生する段階、
   及び前記ビデオ信号の振幅を前記出力信号の前記周１０
   −１的走査と同期して皮調する段階とを偏えたことによ
   り＼ ｊｊｊＪ記重み係蔽を、前記標準物体反射器か検査され
   る場合の前記出力信号の各走査中において実質上一定の
   振幅全有する変訴１ビデオ信号を生成することにより、
   前記ビデオ信号を標準化するのに用いるようにしたこと
   を特徴とする特許Ｊ６求の範囲第（１５）項記載の方法
   。 （１７！　　前記ビデオ信号の振幅を変調する段階が、
   前記重み係数をストアする段階、及び 前記ストアから前記圧力信号の各走罹と同期して対応す
   る箪み係数ケ読み出す段階を含むことを特徴とする特許
   ＭＷ求の範囲第（１６）項記載の方法。 （１８１前記束ねられた物体の各々が標準物体反射器に
   関する異なった表面反射特性を有する場合において前記
   方法が更に、 前記検査ステーションを通過する前記東向の各物体に関
   する前記ビデオ信号の平均振幅を判定する段階と・ 前記東向の各物体（で関する前記平均振幅全、歇準物体
   反射器についてイ商立された所定のスレッシュホールド
   信号と比較する段階、及び前記東向の各物体のために生
   成されたｍＪ記ビテオ信号の振幅を前記比較結果に応答
   して変調する段階を含むことにより、 前記変調されたビデオ信号の平均振１翻か反射特性にお
   いてのみ互いに相違する物体について実質上同一の値と
   なるようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第（１
   ５）項記載の方法。 （１９）前記東向の各物体が前記標準物体反射器に関し
   て異なった表面反射特性を有する場合において、前記方
   法が更に 前記検査ステーションを通過する前記東向の各物体につ
   いて前記ビデオ信号の平均振幅を判定する段階と、 前記東向の各物体についての前記平均振１’ｆ！ｆを前
   記標準物体反射器について確立された所定のスレンシュ
   ホールド信号と比較する段階１及び前記東向の各物体に
   ついて生成された前記ヒ゛デオ伯号の振幅を前記比較結
   果に応答して変調する段階を含むことにより 前記変調されたビデオ信号の平均振幅か反射特性におい
   てのみ互いに相違する物体間において実質上同一の値と
   なるようにしたことを特徴とする特許請求の后−〕囲第
   １１６）項記載の方法。