JPS5926357B2 - 選果装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、みかんなどの果実をその品質または大きさ
に応じて複数種類に分類する選果装置に関する。

収穫、集荷されたみかんなどの果実を検査してその中か
ら表皮が変色した傷病果を除去したり、また傷の程度も
しくは大きさに応じて品質分類する選果作業は、現在手
作業で行なわれており、多くの人手と時間とを費やすと
ともに、作業者によつて検査基準が異なるからばらつき
力汰きいという問題があつた。

この発明は上記の実情に鑑みてなされたものであつて、
作業人員の削減と処理時間の短縮を図ることができ、さ
らに一定化された検査基準によつてばらつきの少ない選
果が可能となる自動選果装置を提供するものである。

以下、図面を参照してこの発明をみかんの選別に適用し
た場合の実施例について詳しく説明する。

この実施例において、左右とは第１図に示す主コンベア
３００の進行方向ＹＤに向つて言うものとする。第１図
において、みかんＭＫは主コンベア３００の始端におい
てその中心線ＭＣ上に一定間隔でのせられ、コンベア３
００によつて一定速度で矢印ＹＤ方向に搬送される。

コンベア３００の途上には、みかんＭＫのコンベア３０
０の中心線ＭＣからの位置ずれを検出する位置ずれ検出
装置４００、みかんＭＫの縦寸法および横寸法を測定す
る寸法測定装置５００、みかんＭＫの表皮を検査してそ
の異常変色の様子から傷病（たとえば、そうか傷病）の
程度を検出する表皮検査装置６００、および表皮検査装
置６００からの検査データにもとづいてみかんＭＫを「
秀」、「優」、「良」、および「不可」の４段階に振分
ける振分装置７００が、搬送方向ＹＤにそつて順次配置
されている。これらの装置群の主コンベア３００終端が
わには、上記４段階評価に対応して４つの分類コンベア
３１０，３２０，３３０，３４０が、コンベア３００に
対して直交するように設けられている。位置ずれ検出装
置４００、寸法測定装置５００、および表皮検査装置６
００は、後述するところから明らかになるように各セン
サ４０１，５０１，６０１とその制御回路４０２，５０
２，６０２とからそれぞれ構成されている。振分装置７
００は、各分類コンベア３１０，３２０，３３０，３４
０に対応してそれぞれ設けられ、主コンベア３００上の
みかんＭＫを対応する分類コンベア３１０，３２０，３
３０，３４０上に移乗させる空気吹出ノズル７１０，７
２０，７３０，７４０と、みかんＭＫが通過したことを
検出する出力センサ７０１と、出力センサ７０１からの
ノズル選定信号にもとずいてノズル７１０・・・・・・
・・・７４０のいずれかを作動させる振分信号を出力す
るシフト・レジスタ７５０とから構成されている。これ
らの各装置４００，５００，６００，７００は、制御装
置８５０を介して中央処理装置８００（以下単にＣＰＵ
という）により集中制御されている。ＣＰＵ８ＯＯには
、設定器８６０、表示器８７０、およびプリンタ８８０
が接続されている。設定器８６０は、後述するみかんの
寸法を評価するための寸法評価基準Ｓ１〜Ｓ５、および
みかんの表皮評価をするための表皮評価基準Ｌ１〜Ｌ３
、ずれ許容範囲ＢＯ、回数設定値ＳＮ等を設定するもの
であり、これらの基準にもとづいて、ＣＰＵ８ＯＯによ
つて寸法については６段階の評価が、表皮については上
記の４段階の評価が実行される。そして、これらの評価
の各段階に分類されたみかんの積算個数が表示器８７０
に逐次表示されるとともに、最終的な上記積算個数およ
びその他の必要なデータがプリンタ８８０によつて打出
される。さらに、コンベア３００の駆動軸には回転量検
出器３５０が設けられており、この検出器３５０から、
コンベア３００の搬送速度に比例した周期の一連のコン
ベア・パルスが、位置ずれ検出装置４００、寸法測定装
置５００、およびシフト・レジスタ７５０に送られてい
る。位置ずれ検出装置４００は、第２図ないし第４図に
示されている。

この装置４００は、みかんＭＫの中心線ＭＣからの左右
へのずれ量Ａおよびずれの方向を検出するものである。
後に明らかになるように、表皮検査装置６００において
はみかんＭＫの中心が主コンベア３００の中心線ＭＣ上
に位置していることが要請される。みかんＭＫの中心線
ＭＣからのずれ量Ａが許容範囲外にある場合には、表皮
検査装置６００による検査は行なわれない。この位置ず
れ検出装置４００は、後に行なわれる表皮検査のための
準備として、あらかじめみかんＭＫが所定の許容範囲内
に位置しているか否かを判定する基礎となる位置ずれデ
ータを出力するものである。第２図において、位置ずれ
検出装置４００は、主コンベア３００の両側の所定箇所
に配置された１対の左右側光電検出器４０３，４０４（
センサ４０１）を含んでいる。

左側光電検出器４０３を構成する投光器４０３ａはコン
ベア３００の右側に、受光器４０３ｂはコンベア３００
の左側にそれぞれ設けられ、右側光電検出器４０４を構
成する投光量４０４ａはコンベア３００の左側に、受光
器４０４ｂはコンベア３００の右側にそれぞれ設けられ
ている。そして、両光電検出器４０３，４０４は、その
投射光がコンベア３００の進行方向とは反対方向に向つ
てコンベア３００を斜めに横断するよう、かつ両投射光
が中心線ＭＣ上で交差するように設置されている。両光
電検出器４０３，４０４の投射光はともに同じ角度で中
心線ＭＣと交わつており、その角度をａとする。中心線
ＭＣから距離ＡだけずれたみかんＭＫがＭＫｌで示す位
置に至ると、光電検出器４０４の投射光が遮断され受光
器４０４ｂから検出信号が出力される。コンベア３００
の搬送にともない次にみかんＭＫがＭＫ２で示す位置に
くると光電検出器４０３の投射光が遮断されて受光器４
０３ｂから検出信号が出力される。検出器２の投射光が
遮光された時点から検出器１の投射光が遮光された時点
までの時間をＴ１、コンベア３００の搬送速度をＶとす
ると位置ＭＫｌ，ＭＫ２間の搬送方向にそう距離Ｂは、
で表わされる。

また、みかんＭＫの中心線ＭＣからのずれ量Ａは、で表
わされるから、速度Ｖが既知であれば時間Ｔ１を測定す
ることにより、第（１）、（２）式からずれ量Ａが求め
られる。

光電検出器４０４の検出信号が光電検出器４０３の検出
信号よりも以前に出力された場合には、みかんＭＫは中
心線ＭＣの右側にあり、逆の場合には左側にあるから、
両光電検出器４０３，４０４から出力される検出信号の
発生時点の前後関係によつて、みかんＭＫが中心線ＭＣ
の左右いずれにずれているかが判定される。第３図およ
び第４図を参照して、両光電検出器４０３，４０４の受
光器４０３ｂ，４０４ｂからの検出信号は増巾器４１１
，４２１および波形整形回路４１２，４２２を経て、立
上り検出器４１３，４２３および位置ずれ方向判定回路
４３２にそれぞれ送られる。検出器４１３，４２３は微
分器を含み、各検出信号の立上りを検出して１イ固のパ
ルスを出力する。この立上り検出パルスは、位置ずれ制
御回路４３１に送られる。制御回路４３１はフリツプ・
フロツプなどの記憶素子を含み、両検出器４１３，４２
３のうちのいずれか一方から立上り検出パルスが送られ
た時点から、他方から同パルスが送られた時点まで（上
述の時間Ｔ１に相当する）を記述してこの間Ｔ１だけゲ
ート４３３を開く制御信号を出力する。また、この制御
信号は位置ずれ方向判定回路４３２に送られる。方向判
定回路４３２は、上記制御信号と受光器４０３ｂまたは
４０４ｂからの検出信号とのＡＮＤ論理を演算して、左
または右の判定信号を出力する。制御回路４３１から制
御信号が出力されているときに受光器４０４ｂから検出
信号が出力されていればみかんＭＫは中心線ＭＣの右側
にずれており、右側位置信号が出力される。ゲート４３
３には、回転量検出器３５０からのコンベア・パルスが
入力しており、このパルスは、制御回路４３１から制御
信号が出力されている時間Ｔ１の間のみゲート４３３を
経てカウンタ４３４に送られ計数される。コンベア．パ
ルスのパルス間隔はコンベア３００の搬送速度に比例し
ているから、カウンタ４３４の計数値は第（１）式にお
ける距離Ｂを表わしている。ずれ量Ａに関係する距離Ｂ
を表わすカウンタ４３４からのずれ量データ信号、およ
び判定回路４３２からのずれ方向データ信号はラツチ回
路４３５に送られ、位置データ信号として一時的に記憶
される。そして、ＣＰＵ８ＯＯから出力指令が送られる
と出力ゲート４３６を経てＣＰｕに転送される。以下に
詳述するＣＰＵ８ＯＯのプログラム処理では、ずれ量Ａ
の代わりに、このずれ量Ａに第（２）式で関係づけられ
る距離Ｂを表わすカウンタ４３４からの位置ずれ量デー
タが用いられる。この位置ずれ量データをＢＮで表わす
。ここでＮは位置ずれ検出回数を示し、後に明らかにさ
れるように、１〜１０のうちいずれかである。なお、上
記において、光電検出器４０３，４０４の検出信号の立
上りの検出に代えて立下りを検出し、この立下り検出信
号を位置ずれ制御回路４３１に入力してもよい。

みかんの寸法測定装置５００は、第５図ないし第１０図
に示されている。

この装置５００はへたとその反対側とを結ぶ線がほぼ垂
直になるような姿勢で搬送されるみかんの、上下方向の
寸法（縦寸法）と搬送方向の寸法（横寸法）とを測定す
るものである。第５図および第６図において、コンベア
３００の両側に、互いに対向する投光器と受光器とから
なる多数の光電検出器が（センサ５０１）が配置されて
いる。

これらの光電検出器は、コンベア３００の搬送方向にそ
つて所要間隔をおいて４列に配列され、かつ各列には（
ｊ）個の光電検出器が含まれている。光電検出器の各列
をコンベア３００の搬送方向にそつて、第１列、第２列
、第３列および第４列とし、各列において配置された光
電検出器を下から上に向つて第１段、第２段、第３段、
・・・・・・・・・、第ｊ段とする。すべての光電検出
器は第Ｋ列第Ｊ段（Ｋ＝１〜４、Ｊ−１〜ｊ）の光電検
出器として一義的に特定されるからこれらの光電検出器
を５ＫＪで表わし、またこれらの光電検出器５ＫＪを構
成する投光器および受光器をそれぞれ５ＫＪａ，５ＫＪ
ｂで表わす。第１列第１段の光電検出器５１１は、コン
ベア３００の搬送面から所要高さＨ上方の位置に設けら
れている。各段の光電検出器は第１列から第４列に向つ
て高さｈずつ順次高い位置に配置され、また各列におい
て上下に隣接する光電検出器の高度差は４ｈとなつてい
る。したがつて、すべての光電検出器５ＫＪは、光電検
出器５１１，５２１，５３１，５４１，５１２，５２２
，・・・・・・・・・，５４ｊの順にｈずつ高くなつて
いる。第７図において、発光ドライブ回路５０４、受光
タイミング制御回路５０６、縦寸法測定回路５０７、お
よび横寸法ゲート制御回路５０８は、ＣＰＵ８ＯＯから
の制御信号にもとずいて動作する制御回路５０３から出
力される２種類のタイミング信号によつて制御されてい
る。

これらのタイミング信号は、第８図および第１０図に示
されているように、所要の周期で繰返され測定時間帯Ｔ
ｌｌ・・・・・・・・・Ｔｌ８を定める測定タイミング
信号と、各測定時間帯内で各投光器５１１ａ・・・・・
・・・・５４ｊａの発光タイミングを時分割する発光タ
イミング信号である。発光ドライブ回路５０４はこれら
の両タイミング信号を受けて、各段毎に発光タイミング
を時分割し、第１段の投光器５Ｋ１ａから第ｊ段の投光
器５Ｋｊａを順次発光させる。受光器５１１ｂ・・・・
・・・・・５４ｊｂからは投光器５１１ａ・・・・・・
・・・５４ｊａの投射光がみかんＭＫによつて遮光され
たときに検出信号が出力される。この検出信号は、各列
毎に増巾器５０５、受光タイミング制御回路５０６を経
て縦寸法測定回路５０７に送られる。制御回路５０６は
たとえばゲート回路からなり、測定時間帯Ｔｌｌ・・・
・・・・・・Ｔｌ８の間のみそのゲートを開いて検出信
号を通過させる。縦寸法測定回路５０７は、各受光器５
１１ｂ・・・・・・・・・５４ｊｂからの検出信号にも
とずき、検出信号を出力した受光器のうち最も高い位置
にある受光器を測定して、縦寸法データ信号を出力する
。

各列における受光器からの検出信号は段毎に時分割され
ているから発光タイミング信号とのＡＮＤ論理により何
段目の受光器からの検出信号かを識別でき、また何列目
の受光器からの検出信号かは制御回路５０６の出力ライ
ンによつて識別される。測定回路５０７内には第９図に
示すようにすべての光電検出器５１１・・・・・・・・
・５４ｊに対応する記憶素子（たとえばフリツプ・フロ
ツプ）９１１・・・・・・・・・９４ｊが備えられ、検
出信号によつてその検出信号を発生した受光器５１１ｂ
・・・・・・・・・５４ｊｂに対応する声子がセツトさ
れる。みかんＭＫの通過後、セツトされている素子のう
ち最も高い位置にある受光器に対応する素子がたとえば
優先回路などにより判定される。各受光器５１１ｂ・・
・・・・・・・５４ｊｂの高さ位置はあらかじめ定めら
れているから、最も高（・位置にある受光器に対応する
記憶素子の判定によつてみかんＭＫの縦寸法が検出され
る。この場合の測定精度はｈである。測定された縦寸法
はデコーダでコード化されてデータ・ラツチ回路５１１
に送られる。たとえば、測定時間Ｔｌｌにお（・て（み
かんが第６図ＭＫｌｌの位置にあるとき）、受光器５１
１ｂ・・・・・・・・・５１４ｂから検出信号が出力さ
れ記憶素子９１１・・・・・・・・・９１４がセツトさ
れる。

つぎに測定時間帯Ｔｌ２において（みかんＭＫｌ２）、
受光器５１１ｂ−・・・・・・・・５１６ｂから検出信
号が出力され、記憶素子９１５，９１６が加えてセツト
される。みかんＲの搬送にともない、同様にして記憶素
子９２１・・・・・・・・・９２５、９３１・・・・・
・・・・９３５がセツトされ、測定時間帯Ｔｌ６におい
て（みかんＭＫｌ６）、素子９４１・・・・・・・・・
９４５がセツトされる。そして、みかんＭＫの通過後、
セツトされた記憶素子のうちで最も高い位置にある受光
器５１６ｂに対応する素子９１６のセツト出力にもとず
いて、受光器５１６ｂの高さ（Ｈ＋５Ｘ４ｈ）を表わす
縦寸法データ信号が測定回路５０７から出力される。さ
らに第７図および第１０図を参照して、第４列の受光器
５４Ｊｂからの検出信号は横寸法ゲート制御回路５０８
に送られる。

この制御回路５０８は、第４列の受光器５４Ｊｂのいず
れかから検出信号が最初に出力された時点から最後の検
出信号が出力される時点までの時間を検出して、この間
ゲート５０９を開くゲート制御信号を出力する。この制
御回路５０８１ζたとえばＡＮＤ回路と、開始検出用お
よび終了検出用の２つのタイマと、フリツプ・フロツプ
とから構成され、両タイマには、測定タイミング信号の
周期と測定時間帯との和よりも若干長い同一の設定時間
ＴｌＯが設定されている。測定時間帯Ｔｌ４において（
みかんが第６図ＭＫｌ４の位置にあるとき）、受光器５
４１ｂ・・・・・・・・・５４３ｂからはじめて検出信
号が出力されると、これらの検出信号は発光タイミング
信号とのＡＮＤ論理により確認される。また、最もはや
く出力された受光器５４１ｂからの検出信号によつて開
始検出用タイマがセツトされ計時動作を開始し、設定時
間ＴｌＯ経過後、信号を出力してフリツプ・フロツプを
セツトする。このフリツブ・フロツプのセツト出力がゲ
ート制御信号となつて制御回路５０８から出力される。
開始検出用タイマは以後に送られる検出信号によつてり
セツトされることはない。終了検出用タイマは、各検出
信号毎にりセツトされ、りセツトされる毎に計時動作を
開始する。したがつて、このタイマは、測定時間帯Ｔｌ
４においてりセツトされ、計時動作を開始するが、次の
測定時間帯Ｔｌ５において（みかんＭＫｌ５）出力され
る受光器５４１ｂ・・・・・・・・・５４４ｂの検出信
号によつて再びりセツトされ、りセツト後設定時間Ｔｌ
Ｏに達するまでの間に再度りセツトされるから出力を発
生することはない。みかんＭＫが搬送されるにともない
同様の動作が繰返され、終了検出用タイマは測定時間帯
Ｔｌ７において（みかんＭＫｌ７）もまたりセツトされ
る。そして、次の測定時間帯Ｔｌ８において（みかんＭ
Ｋｌ８）は、第４列の受光器５４１ｂ・・・・・・・・
・５４ｊｂのいずれからも検出信号が出力されないから
、上記のりセツトされた時点から設定時間ＴｌＯ経過後
終了検出用タイマから出力が発生して上記フリツプ・フ
ロツプがりセツトされる。これにより、ゲート制御信号
がなくなり、ゲート５０９が閉じられる。このようにし
て、ゲート制御回路５０８からは、第４列の受光器５４
１ｂ・・・・・・・・・５４ｊｂのいずれかから最初に
検出信号が出力された時点から最後に検出信号が出力さ
れる時点までの時間が検出され、正確にこれと同一時間
だけゲート制御信号が出力される。ゲート５０９には、
回転量検出器３５０からのコンベア・パルスが入力して
おり、制御回路５０８からゲート制御信号が出力されて
いる時間の間のみゲート５０９を経てカウンタ５１０に
送られ計数される。コンベア・パルスのパルス間隔はコ
ンベア３００の搬送速度に比例しているから、カウンタ
５１０の計数値はみかんＭＫの横寸法を表わしている。
このカウンタ５１０からの横寸法データ信号はデータ・
ラツチ回路５６１に送られ一時的に記憶される。そして
、ＣＰＵ８ＯＯから出力指令が送られると、ラツチ回路
５５１の縦寸法データおよびラツチ回路５６１の横寸法
データは、それぞれ出力ゲート５５２，５６２を経てＣ
ＰＵ８ＯＯに送られる。これらの縦寸法データおよび横
寸法データをそれぞれＳＬＮおよびＳＴＮで表わす。こ
こでＮは上記同様に寸法測定回数を示す。なお、上記に
おいては、多数の投光器を時分割によつてパルス発光さ
せているがもちろん連続光させることもできるのぱ言う
までもない。この場合には、ライン数は増加するが、縦
寸法測定回路は記憶素子群およびおよび優先回路で足り
、また横寸法ゲート制御回路は単にフリツプ．フロップ
のみで構成し得る。さらに、４つの増幅器５０５の出力
をそれぞれレベルホールド回路に入力し、４つのレベル
ホールド回路のどれが最大レベルを保持しているかによ
つて列を検出し、そのレベルをディジタル値に変換する
ことによつて段を検出するようにしてもよい。みかんの
表皮検査装置６００は第１１図ないし第１５図に示され
ている。

この表皮検査装置６００は、みかんＭＫの表皮を光学的
に色相検査して異常変色の様子から傷病（たとえばそう
か傷病）の程度を検出するものである。みかんは成熟に
つれてその表皮が底部（へた部の反対側）からしだいに
緑色より黄色に変色する。これは表皮表面の葉緑素が成
熟とともに分解されて透明物質となり、表皮中のカロチ
ノイド色素による地色（黄色および赤色）がしだいに露
呈するからである。みかん表皮の断面が第１１図に、そ
の光学的特性が第１２図にそれぞれ示されている。みか
ん表皮の表面には葉緑素の層６３０があり、その内部に
地色の層（カロチノイド色素が主に支配するから、以下
カロチノイド層という）６３１がある。みかん表皮への
入射光Ｕは、葉緑素層６３０を透過してカロチノイド層
６３１で反射し、再び葉緑素層６３０を経て表皮からの
反射光ｗとなる。みかん表皮内に入射した光は葉緑素層
６３０およびカロチノイド層６３１で吸収されるから、
葉緑素層６３０の透過率をＰｅｌカロチノイド層６３１
における反射率をＦとすれば、みかん表皮全体の反射率
Ｒは次式で表わされる。ここで、葉緑素層６３０の透過
率Ｐｅは、層６３０に含まれる葉緑素の量に応じて変わ
るので、葉緑素の単位当りの透過率をＰとし、葉緑素層
６３０に（ｘ）単位の葉緑素が含まれていたとすれば、
層６３０の透過率Ｐ８は、で表わされ、第（自）式は となる。

第１２図かられかるように、カロチノイド層６３１の反
射率Ｆは、樹令、産地、収穫年の気候などにより若干異
なるものの、短波長の光ほど反射率Ｆが小さく、反射し
にくい。

また、葉緑素は緑色光および赤外光を非常によく透過し
、青色光および赤色光の領域で高い吸収率Ｑを示す。葉
緑素の多いみかん表皮では、葉緑素によつて青色光およ
び赤色光が大きく吸収されるから緑色を呈し、葉緑素が
減少すると赤色光の吸収が少なくなるから表皮は黄色へ
と変色する。第（自）式におけるみかん表皮の反射率Ｒ
は光の波長によつて異なつた値をとるから、緑色光（５
６００λ）、赤色光（６７００λ）、および赤外光（９
５００λ）の同反射率をそれぞれＲｇ，ＲｒｌおよびＲ
ｉとする。

同様にカロチノイド層６３１における反射率Ｆを、Ｆｇ
（緑）、Ｆｒ（赤）、Ｆｉ（赤外）とし、単位量当りの
葉緑素の透過率Ｐを、Ｐｇ（緑）、Ｐｒ（赤）、Ｐｉ（
赤外）として第（自）式を各波長別に書きなおせば次の
ようになる。第（自）式を第（自）式および第（自）式
で除して、を得る。

第（５）式の両辺を（ロ）を底とする対数に変換し、第
（自）式の両辺を（ハを底とする対数に変換すると次式
のようになる。

ここで 〔の演算により（ｘ）を消去して整理すれば次式を得る
。

みかん表皮に緑色光、赤色光および赤外光を投射してそ
の反射光を受光器で検出した場合、緑色光、赤色光、ぉ
よび赤外光のそれぞれの検出電圧Ｖｇ，ｒ、およびＶｉ
が、μＧ，μｒ、およびμｉを定数として次式の関係を
満足するものとする。第（２）式を第（１）式および第
（ハ）式でそれぞれ除し、整理すれば次式を得る。

第（２５）式および第（２６）式を第（社）式に代入す
れば、次のようになる。

第（１）式および第（至）式の条件が満足されれば、第
（資）式は第（支）式のようになる。

さて、単位量当りの葉緑素の透過率Ｐｇ，Ｐｒ，Ｐｉは
みかんの種類に関係なく一定である。

また、カロチノイド層６３１の反射率Ｆｇ，Ｆｒ，Ｆｉ
は上記のように樹令、産地、気候、肥料、土壌等により
多少異なるが、同一の産地および同一収穫時期に関して
は上記の条件の多くが同一となるから、反射率Ｆｇ，Ｆ
ｒ，Ｆｉを一定と考えることができる。したがつて、第
（ト）式および第（至）式を満足する（α）およびφ）
が必ず１つ存在することになる。一般にみかんはそれが
正常なものであつても全体的にむらなく黄色に変色して
いるものではなく、多くの場合変色の遅れた緑色の表皮
が部分的に存在している。しかし、第（至）式および第
（至）式は、あらゆるみかんに対して一定である単位量
当りの葉緑素の透過率Ｐに関係し、葉緑素層６３０の透
過率Ｐｅには無関係である。したがつて、反射率Ｆｇ，
Ｆｒ，Ｆｉを正常なみかんのカロチノイド層の反射率を
表わす値に選定した上で第（社）式および第（３０式を
満足する（α）、（（ロ）を求めておけば、正常なみか
んに対しては、葉緑素の量すなわち黄色への変色度のむ
らの有無に全くかかわりなく、第（２８）式が成立する
ことになる。逆にいえば、みかんが正常でなく傷病に冒
されているみかんに対しては第（２８）式は成立せず、
第（支）式の左辺と右辺との差が零ではない値となり、
この差ＬＯを求めることによりみかんの傷病に対する評
価が可能となる。以下、この差ＬＯを傷病指数と称し、
ＣＰＵ８ＯＯによる処理ではＬＯＮ（Ｎ−１〜１０）で
表わす。傷病指数ＬＯＮが零に近い値であるほどそのみ
かんは品質が良いことを示し、指数ＬＯＮが大きい値を
とるときそのみかんの品質は悪い。さらに、第（支）式
では赤外光検出電圧Ｖｉと、緑色光検出電圧Ｖｇおよび
赤色光検出電圧Ｖｒとの比が求められている。第１２図
から明らかなように、赤外光は葉緑素をよく透過し、か
つカロチノイド層でよく反射する。一般に、個々のみか
んによりカロチノイド層の反射率が変わり、また各測定
毎にみかんと受光器との間の光学的条件が変わるから、
上記の各検出電圧Ｖｉ，Ｖｇ，Ｖｒの絶対値は変動する
。しかしながら、各電圧の比ＶＶＶｇ．Ｖｉ／Ｖｒをと
ることによつて上記諸条件の変化を補正することができ
るから、第（３１）式によるみかんの評価はきわめて正
確であるといえる。第１３図および第１４図を参照して
、コンベア３００の側方に、赤外光投光器６２０１、赤
色光投光器６２０ｒ、緑色光投光器６２０ｇ、および受
光器６２１が配置されている。投光器６２０１からの赤
外光はハーフ・ミラー６２２を透過して、両投光器６２
０ｒ，６２０ｇからの赤色光および緑色光はハーフ・ミ
ラー６２２で反射して、コンベア３００上を搬送される
みかんＭＫの同一部分に投射される。そして、それらの
反射光が受光器６２１によつて受光される。上記の各光
は、みかんＭＫのへたとその反対側部分を極とした場合
の中央環状部（赤道部）ＭＺに照射される。ＭＫ２Ｏで
示すように、みかんの位置がコンベア３００の中心線Ｍ
Ｃから大きくずれている場合には、みかんＭＫからの反
射光は受光器６２１に受光されないおそれがある。この
ようなみかんＭＫ２Ｏに対してはその表皮検査が不可能
ないしは不正確になるから、中心線ＭＣから所定許容範
囲外にあるみかんに対しては表皮検査は行なわれない。
上述のように、みかんＭＫのコンベア３００の中心線Ｍ
Ｃからのずれ量Ａは位置ずれ検出装置４００によつてあ
らかじめ検出される。第１５図において、ドライブ回路
６０４は、ＣＰＵ８ＯＯからの制御信号によつて制御さ
れる制御回路６０３から送られるタイミング信号にもと
づいて各投光器６２０ｇ，６２０ｒ，６２０１を交互に
順次発光させる。

受光器６２１からの受光信号は増巾器６０５を経て各メ
モリ６０６ｇ，６０６ｒ，６０６１に送られ、各投光器
の発光タイミングに同期して緑色、赤色、赤外毎にサン
プリングされかつ一時的に記憶される。メモリ６０６ｇ
，６０６ｒ，６０６１からは緑色光検出電圧Ｖｇ、赤色
光検出電圧Ｖｒ、赤外光検出電圧Ｖｉがそれぞれ出力さ
れる。次に割算器６０７，６０８でこれらの電圧の比Ｖ
ｉ／Ｖｇ，．Ｖｉ／Ｖｒが演算され、さらに対数変換器
６０９，６１０で、これらの電圧比が（α）および（（
ロ）を底とする対数、）にそれぞれ変換され、Ａ−Ｄ変
換器６１１でデジタル量に変換されたのち、データ・セ
レクタ６１２を経てこれらの対数値および赤外光検出電
圧Ｖｉがデータ・ラツチ回路６１３に送られ一時的に記
憶される。

そして、ＣＰＵ８ＯＯから出力指令が送られると出力ゲ
ート６１４を経てＣＰＵ８ＯＯに転送される。なお、上
記において、赤外光検出電圧Ｖｉと他の検出電圧Ｖｇ，
Ｖｒとの比が採用されているが、緑色光検出電圧Ｖｇお
よび赤色光検出電圧Ｖｒのみを用いてもみかんの傷病の
検査は可能である。出力センサ７０１は、みかんがコン
ベア３００によつて搬送されてセンサ７０１の位置に至
つたことを検出するものであつて、たとえばコンベア３
００を挟んで対向する投光器および受光器から構成され
る。ＣＰＵ８ＯＯとしてはマイクロプロセツサを用いる
ことができ、その構成の１例が第１６図に示されている
。

このマイクロプロセツサは、周知のように、演算部ＡＬ
Ｕ，８Ｏｌ、命令レジスタ８０２、命令デコーダ８０３
、アキユムレータＡｃｃ，８Ｏ４、Ｂレジスタ、Ｃレジ
スタ、Ｄレジスタ、Ｅレジスタ、Ｈレジスタ、およびＬ
レジスタ等の特定レジスタを含むレジスタ群８０５、デ
！ータ・バツフアＤＢ，８Ｏ６、ならびにアドレス・
バツフアＡＢ，８Ｏ７等を有している。また、ＣＰＵ８
ＯＯには、読み出し専用の主記憶装置（リード・オンリ
・メモリ、以下ＲＯＭという）、および書き込み読み出
し可能な主記憶装置（ランダム・アクセス・メモリ、以
下ＲＡＭという）が、データ・バス、アドレス・バス、
およびコントロール．バスにより接続されている。ＲＯ
Ｍには実際のプログラムが格納されている。ＲＡＭの内
容は第１７図に示されている。

ＲＡＭは多数のデータ・エリヤを有しており、各データ
・エリアには１ないし複数語の記憶場所が含まれている
。各データ・エリヤは、１６ビツトのアドレス情報のう
ち上位桁８ビツトの情報により指定され、下位桁８ビツ
トの情報により各データ・エリヤに含まれる複数個の記
憶場所の各々が指定される。第１７図および後述するプ
ログラムで山便宜上、データ・エリヤないし記憶場所を
上位桁、下位桁に分けないで一括して指定する場合があ
る。回数データ・エリヤ８１１は上位桁アドレスＳＡで
指定される。このエリヤ８１１には４語の記憶場所が含
まれ、位置ずれ検出回数ＢＫＮ、寸法測定回数ＳＫＮ、
表皮検査回数ＬＫＮ、および出力センサ検出回数０ＫＮ
にそれぞれ割り当てられている０コンベア３００以上に
は比較的狭い一定間隔でみかんＭＫがのせられ搬送され
ていく。したがつて、位置ずれ検出装置４００の位置か
らノズル７４０の位置までの間には多数のみかんＭＫが
コンベア３００上に存在することになる。そして、ある
１つのみかんＭＫについてのずれ量検出時点と寸法測定
時点とは異つている。上記の各回数はみかんにその回数
の番号を付すことによつてみかんＭＫを特定するもので
あつて、たとえば、第３回目にずれ量が検出されたみか
んの寸法データは第３回目に寸法を測定して得たデータ
ということになる。この回数の最大数は選別すべきみか
んの総数にする必要はなく、各時点でコンベア３００上
にのつているみかんの数よりも大きければ足りる。この
最大数が回数設定値ＳＮであつて、この実施例ではＳＮ
＝１０に設定されている。第１０回目という番号が付さ
れて特定されるみかんの次に搬送されてくるみかんは、
最初にもどつて第１回目の番号が付される。回数設定値
ＳＮ＝１０が書き込まれているエリヤ８１２はアドレス
ＡＫＮで指定される。データ・エリヤ８１３，８１４，
８１５はそれぞれ、位置ずれ検出装置４００からの位置
ずれ量データＢＮ、寸法測定装置５００からの縦寸法デ
ータＳＬＮおよび横寸法データＳＴＮ、ならびに表皮検
査装置５００からの対数値１０ｇ０（Ｑ±）、、および
赤外光検出電圧Ｖｉを書き込むエリヤであり、それぞれ
上位桁アドレス４Ｄ，５Ｄ，６Ｄで指定される。

位置ずれ量データ・エリヤ８１３には回数設定値ＳＮに
対応して１０語の記憶場所があり、それらの下位桁アド
レスは回数Ｎ（１〜１０）によつて表わされる。寸法デ
ータ・エリヤ８１４には２０語の記憶場所がある。縦寸
法データＳＬＮの記憶場所の下位桁アドレスは回数Ｎの
２倍の数字によつて、横寸法データＳＴＮの記憶場所の
下位桁アドレスは回数Ｎの２倍＋１の数字によつて表わ
される。表皮検査データ・エリヤ８１５には３０語の記
憶場所があり、第〜回目の対数値１０ｇ（ｉ（令モ）の
記憶場所の下位桁アドレスは回数Ｎの３倍の数字によつ
て、同対数値１０ｇβＣ？牟）の記憶場所の下位桁アド
レスは回数Ｎの３倍＋１の数字によつて、同赤外光検出
電圧Ｖｉの記憶場所の下位桁アドレスは回数Ｎの３倍＋
２の数字によつてそれぞれ表わされる。データ・エリヤ
８１６は傷病指数ＬＯＮを書き込むエリヤであつて、１
０語の記憶場所を含んでいる。これらの記憶場所の下位
桁アドレスは回数Ｎによつて表わされる。ノズル・エリ
ヤ８１７は上位桁アドレス７Ｎによつて指定される。

このエリヤ８１７には５語の記憶場所があり、ノズルな
し、ノズル７１０、ノズル７２０、ノズル７３０、およ
びノズル７４０を指定するコードＮＺＩ（１−０〜４）
があらかじめ書き込まれている。これらの記憶場所の下
位桁アドレスはそれぞれＺＮ，ＬＡ，ＬＢ，ＬＣ，ＬＤ
で表わされる。ずれ許容範囲設定エリヤ８１８には、表
皮検査のために許容される最大ずれ量ＡＯに対応する値
ＢＯがあらかじめ書き込まれている。このずれ許容範囲
ＢＯは、上記最大ずれ量ＡＯを１０ｍ１Ｌとし、コンベ
ア・パルス換算係数をＣとした場合、第（２）式より、
で表わされる。

このエリヤ８１８はアドレスＳＢＡにより指定される。
寸法評価基準設定エリヤ８１９には、極小２Ｓ、小Ｓ、
中Ｍ、中大Ｌ、大２Ｌ、および極大３Ｌの６段階に分類
すべき寸法の境界値Ｓｌ，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４、およびＳ
５があらかじめ設定されている。これらの値は、Ｓ１く
Ｓ２〈Ｓ３〈Ｓ４〈Ｓ５の関係にある。この実施例では
横寸法データＳＴＮにもとづいて寸法評価が実行される
。表皮評価基準設定エリヤ８２０には、秀ＬＡ、優ＬＢ
、良ＬＣ、および不可ＬＤの４段階に分類すべき表皮（
傷病）評価の境界値Ｌｌ，Ｌ２、およびＬ３があらかじ
め設定されている。これらの値は、Ｌ１〈Ｌ２くＬ３の
関係にある。上記エリヤ８１９，８２０の各記憶場所は
アドレスＳＡｌ，ＳＡ２，ＳＡ３，ＳＡ４，ＳＡ５，Ｌ
Ａｌ，ＬＡ２およびＬＡ３により指定される。評価結果
データ・エリヤ８２１は、回数Ｎに対応して１０語の記
憶場所を有している。

このエリヤ８２１は上位桁アドレスＧで指定され、各記
憶場所の下位桁アドレスは回数Ｎを示す数字により表わ
される。これらの記憶場所には、位置ずれＢＮが許容範
囲ＢＯを超えていた場合の評価ＺＮ、および表皮評価Ｌ
Ａ，ＬＢ，ＬＣ，ＬＤが書き込まれる。これらの評価を
表わすコードＺＮ，ＬＡ，ＬＢ，ＬＣ，ＬＤはノズル・
エリヤ８１７における各記憶場所の下位桁アドレスを表
わすコードと同じものが用いられており、各評価によつ
てそれに対応するノズルが直接に指定されるようになつ
ている。データ・エリヤ８２２，８２３は、寸法評価お
よび表皮評価によつて分類されたみかんの積算個数を計
数するものであつて、カウンタとして用いられている。

６段階の寸法評価に対応する各記憶場所はアドレスＡ２
Ｓ，ＡＳ，ＡＭ，ＡＬ，ｊＡ２Ｌ，Ａ３Ｌによつて、４
段階の表皮評価に対応する各記憶場所はアドレスＡＬＡ
，ＡＬＢ，ＡＬＣ，ＡＬＤによつてそれぞれ指定される
。

ＣＰＵ８ＯＯによる各データの処理およびそれらの評価
は、第１８図に示すように、位置ずれ検出処理、寸法測
定処理、表皮検査処理、および出力センサ処理の順に実
行される。第１９ａ図を参照して、位置ずれ検出処理は
次の手順により実行される。

ステツプ１ 位置ずれ量データＢＮをアドレス４Ｄで指定される位置
ずれ量データ・エリヤ８１３に書き込む。

位置ずれ検出回数ＢＫＮが第Ｎ回目であることを、アド
レスＳＡＳ４で指定される記憶場所から読み出して、デ
ータ・エリヤ８１３内の下位桁アドレスがＮで表わされ
る記憶場所に第Ｎ回目の位置ずれ量データＢＮを書き込
む。ステツプ２ 位置ずれ量データＢＮがずれ許容範囲ＢＯよりも小さい
かどうかを判断する。

第Ｎ回目の位置ずれ量データＢＮが、エリヤ８１８に書
き込まれているずれ許容範囲ＢＯよりも小さい場合には
、ステツプ４に移る。

データＢＮがＢＯよりも大きい場合には、ステツプ３に
移る。ステツプ３ 命令語ＺＮをアドレスＧで指定される評価結果エリヤ８
２１に書き込む。

位置ずれ量データＢＮがずれ許容範囲ＢＯよりも大きい
場合には、他の検査、とくに表皮検査の誤差が大きくな
る可能性があるから、次の寸法測定および表皮検査は行
なわれない。

命令語ＺＮは、寸法測定、および表皮検査の処理、なら
びに振分けの実行の禁止を意味する。第Ｎ番目の位置ず
れ検出に対しては、命令語ＺＮが、評価結果エリヤ８２
１内の下位桁アドレスがＮで表わされる記憶場所に書き
込まれる。ステツプ４ 位置ずれ検出回数ＢＫＮが回数設定値ＳＮに等しいかど
うかを判断する。

ＢＫＮ８ＳＮの場合にはステツプ５に、ＢＫＮ＝ＳＮの
場合にはステツプ６にそれぞれ移行する。

ステツプ５アドレスＳＡＳ４で指定される記憶場所の記
憶内容、すなわち位置ずれ検出回数ＢＫＮに＋１する。

次の位置ずれ検出に備えるためである。

たとえば、検出回数ＢＫＮが３であつたなら＋１するこ
とにより４となる。ステツプ６ アドレスＳＡＳ４で指定される記憶場所に１を書き込む
。

回数設定値ＳＮは１０に設定されているから、位置ずれ
検出回数ＢＫＮが１０である場合には、再び元に戻つて
検出回数ＢＫＮは１から計数される。

ステツプ１のより詳細なプログラム実行手順は第２０ａ
図に示されている。

以下の記述において、〔〕で示されるコードは、ＲＯＭ
内の実行プログラムの命令に続いて格納されているもの
とする。下位桁アドレス〔Ｓ４〕をＬレジスタに入れ（
ステツプ１１１）、回数エリヤ８１１の上位桁アドレス
〔ＳＡ］をＨレジスタに入れる（ステツプ１１２）。こ
れにより、位置ずれ検出回数ＢＫＮの記憶場所のアドレ
スがＨＬレジスタによつて指定される。次に、ＨＬレジ
スタの内容をアドレス・バツフアＡＢに入れて（ステツ
プ１１３）、位置ずれ検出回数ＢＫＮをデータ・バツフ
アＤＢに読み出し（ステツプ１１４）、この検出回数Ｂ
ＫＮをＬレジスタに転送する（ステツプ１１５）。後に
行なわれるプログラム処理のためにＬレジスタの内容を
Ｃレジスタに転送しておく（ステツプ１１６）。位置ず
れ量データ・エリヤ８１３の上位桁アドレス〔４Ｄ〕を
Ｈレジスタに入れる（ステツプ１１７）。これで、デー
タ・エリヤ８１３内の第Ｎ回目に対応する記憶場所がＨ
Ｌレジスタにより指定されたことになる。次に、位置ず
れ量データＢＮをデータ・バツフアＤＢに入れ（ステツ
プ１１８）、ＨＬレジスタの内容をアドレス・バツフア
ＡＢに入れて（ステツプ１１９、ＨＬレジスタで指定さ
れるアドレスの記憶場所に位置ずれ量データＢＮを書き
込む（ステツプ１２０）。ステツプ２および３の詳細は
第２０ｂ図に示されている。データ・バツフアＤＢには
ステツプ１１８で位置ずれ量データＢＮが転送されてい
るから、この内容をアキユムレータＡｅｃに入れる（ス
テツプ１２１）。次に、ずれ許容範囲設定エリヤ８１８
のアドレス〔ＳＢＡ〕をＨＬレジスタブに入れて（ステ
ツプ１２２）エリヤ８１８を指定し、ＨＬレジスタの内
容をアドレス・バツフアＡＢに転送する（ステツプ１２
３）。

そして、エリヤ８１８の記憶内容、すなわちずれ許容範
囲ＢＯを読み出してＴレジスタに入れる（ステツプ１２
４）。演算部ＡＬＵで、アキユムレータＡｃｃの内容Ｂ
ＮとＴレジスタの内容ＢＯとの差を演算して（ステツプ
１２５）、ＢＮ≦ＢＯであれば後述のステツプ１３１に
移り、ＢＮ＞ＢＯであればステツプ１２６に移行する。
評価結果エリヤ８２１の上位桁アドレス〔Ｇ〕をＨレジ
スタに入れ（ステツプ１２６、ステツプ１１６でＣレジ
スタに待避させておいた検出回数ＢＫＮをＬレジスタに
戻す（ステツプ１２７）。これで、評価結果エリヤ８２
１内の第Ｎ回目に対応する記憶場所のアドレスがＨＬレ
ジスタで指定されたことになる。次に、命令語〔ＺＮ〕
をデータ・バツフアＤＢに入れ（ステツプ１２８）、Ｈ
Ｌレジスタの内容をアドレス・バツフアＡＢに入れて（
ステツプ１２９）、命令語ＺＮをＨＬレジスタによつて
指定される記憶場所に書き込む（ステツプ１３０）。ス
テツプ４〜６の詳細は第２０ｃ図に示されている。エリ
ヤ８１２のアドレス〔ＡＫＮ〕をＨＬレジスタに入れて
エリヤ８１２を指定し（ステツプ１３１）、ＨＬレジス
タの内容をアドレス・バツフアＡＢに転送して（ステツ
プ１３２）回数設定値ＳＮを読み出しこれをＴレジスタ
に入れる（ステツプ１３３）。Ｃレジスタ内にストアさ
れている検出回数ＢＫＮをアキユムレータＡｃｃに入れ
（ステツプ１３４）、演算部ＡＬＵでＴレジスタの内容
ＳＮとアキユムレータＡｃｃの内容ＢＫＮとの差を演算
する（ステツプ１３５）。ゼロ・フラグＺＦがセツトさ
れているか否かを判断して（ステツプ１３６）セツトさ
れていなければＢＫＮ＼ＳＮであるからステツプ１３７
に移つてアキユムレータＡｅｃの内容に＋１し、ゼロ・
フラグＺＦがセツトされればＢＫＮ−ＳＮであるからス
テツプ１３８に移つてアキユムレータＡｅｃの内容を１
にする。次に、ステツプ１１１，１１２と同様に、下位
桁アドレス〔Ｓ４〕をＬレジスタに入れ（ステツプ１３
９）、上位桁アドレス〔ＳＡ〕をＨレジスタに入れて（
ステツプ１４０）、ＨＬレジスタにより位置ずれ検出回
数ＢＫＮの記憶場所を指定する。ＨＬレジスタの内容を
アドレス・バツフアＡＢに転送し（ステツプ１４１）、
アキユムレータＡｃｃの内容をデータ・バツフアＤＢに
転送して（ステツプ１４２）、アキユムレータＡｃｃの
内容をＨＬレジスタで指定される記憶場所に書き込む（
ステツプ１４３）。第１９ｂ図を参照して、寸法測定処
理は次の手順により実行される。ステツプ１１ 縦寸法データＳＬＮおよび横寸法データＳＴＮを、アド
レス５Ｄで指定される寸法データ・エリヤ８１４に書き
込む。

ステツプ１と同様に、寸法測定回数ＳＫＮが第Ｎ回目で
あることを、アドレスＳＡＳ５で指定される記憶場所か
ら読み出して、データ・エリヤ８１４内の下位桁アドレ
スがＮの２倍、およびＮの２倍＋１で表わされる記憶場
所に、第Ｎ回目の縦寸法データＳＬＮおよび横寸法デー
タＳＴＮを書き込む。

ステツプ１２ 命令語ＺＮが評価結果エリヤ８２１に書き込まれている
かどうかを判断する。

第Ｎ回目の位置ずれ検出において、位置ずれ量データＢ
Ｎがずれ許容範囲ＢＯを越えていた場合には、寸法デー
タ処理は行なう必要はない。

ＢＮ〈ＢＯかどうかは既にステツプ２で判断されており
、ＢＮ＞ＢＯの場合には評価結果エリヤ８２１内の第Ｎ
回目に対応する記憶場所に命令語ＺＮが書き込まれてい
る。命令語ＺＮが書き込まれているときにはステツプ２
４に移り、書き込まれていない場合にはステツプ１３に
移行する。ステツプ１３ 横寸法データＳＴＮが寸法評価基準Ｓ１よりも小さいか
どうかを判断する。

ＳＴＮ＜Ｓ１であれば、極小２Ｓに分類されステツプ１
４に移る。

ＳＴＮ≧Ｓ１であればステツプ１５に移る。ステツプ１
４ アドレスＡ２Ｓで指定される記憶場所の内容に＋１する
。

第Ｎ回目のみかんは極小２Ｓと評価されたのであるから
、極小２Ｓと評価されたみかんの積算個数を計数するた
めにアドレスＡ２Ｓの内容に１だけ加算する。

ステツプ１５ 横寸法データＳＴＮが寸法評価基準Ｓ２よりも小さいか
どうかを判断する。

ＳＴＮ＜Ｓ２であれば、小Ｓに分類されステツプ１６に
移る。

ＳＴＮ≧Ｓ２であればステツプ１７に移る。ステツプ１
６ アドレスＡＳで指定される記憶場所の内容に＋１する。

アドレスＡＳの記憶場所の内容は小Ｓと評価されたみか
んの積算個数を表わしている。

ステツプ１７ 横寸法データＳＴＮが寸法評価基準Ｓ３よりも小さいか
どうかを判断する。

ＳＴＮ＜Ｓ３であれば中Ｍに分類されステツプ１８に移
り、ＳＴＮ≧Ｓ３であればステツプ１９に移る。

ステツプ１８ アドレスＡＭで指定される記憶場所の内容に＋１する。

ステツプ１９ 横寸法データＳＴＮが寸法評価基準Ｓ４よりも小さいか
どうかを判断する。

ＳＴＮ＜Ｓ４であれば中大Ｌと評価されステツプ２０に
移り、ＳＴＮ≧Ｓ４であればステツプ２１に移る。

ステツプ２０ アドレスＡＬで指定される記憶場所の内容に＋１する。

ステツプ２１ 横寸法データＳＴＮが寸法評価基準Ｓ５よりも小さいか
どうかを判断する。

ＳＴＮ＜Ｓ５であれば大２Ｌと評価されてステツプ２２
に移り、ＳＴＮ≧Ｓ５であれば極大３Ｌを評価されてス
テツプ２３に移る。

ステツプ２２ アドレスＡ２Ｌで指定される記憶場所の内容に＋１する
。

アドレス２３ アドレスＡ３Ｌで指定される記憶場所の内容に＋１する
。

ステツプ２４ 寸法測定回数ＳＫＮが回数設定値ＳＮに等しいかどうか
を判断する。

ＳＫＮ＼ＳＮの場合にはステツプ２５に、ＳＫＮ＝ＳＮ
の場合にはステツプ２６にそれぞれ移行する。

ステツプ２５ アドレスＳＡＳ５で指定される記憶場所の記憶内容、す
なわち寸法測定回数ＳＫＮに＋１する。

ステツプ２６アドレスＳＡＳ５で指定される記憶場所に
１を書き込む。

ステツプ２４〜２６は、ステツプ４〜６に対応するもの
である。

このようにして、みかんの横寸法データＳＴＮにもとず
いてみかんの寸法評価が行なわれ極小２Ｓから極大３Ｌ
までの６段階の各分類毎にそれらの積算個数が計数され
る。

ステツプ１１のより詳細なプログラム実行手順は第２０
ｄ図に示されている。

下位桁アドレス〔Ｓ５〕をＬレジスタに入れ（ステツプ
１５１）、回数エリヤ８１１の上位桁アドレス〔ＳＡ〕
をＨレジスタに入れる（ステツプ１５２）。これにより
、寸法測定回数ＳＫＮの記憶場所のアドレスがＨＬレジ
スタによつて指定される。次に、ＨＬレジスタの内容を
アドレス・バツフアＡＢに入れて（ステツプ１５３）、
寸法測定回数ＳＫＮをデータ・バツフアＤＢに読み出し
（ステツプ１５４）、この測定回数ＳＫＮをＣレジスタ
に転送する（ステツプ１５５）、またデータ・バツフア
ＤＢの内容である測定回数ＳＫＮをアキユムレータＡｃ
ｃに入れ（ステツプ１５６）、２をＴレジスタに入れる
（ステツプ１５７）。次に、アキユムレータＡｃｃの内
容である測定回数ＳＫＮとＴレジスタの内容である２と
の積を演算部ＡＬＵで演算してその結果をアキユムレー
タＡｃｃに入れる（ステツプ１５８）。これにより、寸
法データ・エリヤ８１４内の第Ｎ回目に対応する縦寸法
データの記憶場所の下位桁アドレスが求められた訳であ
る。アキユムレータＡｃｅの内容をＬレジスタに転送し
て上記下位桁アドレスを指定する（ステツプ１５９）。
アキユムレータＡｃｅの内容に＋１して第Ｎ回目に対応
する横寸法データの記憶場所の下位桁アドレスを求めて
おく（ステツプ１６０）。寸法データ・エリヤ８１４の
上位桁アドレス〔５Ｄ〕をＨレジスタに入れ（ステツプ
１６１）、ＨＬレジスタの内容をアドレス・バツフアＡ
Ｂに転送し（ステツプ１６２）たのち、横寸法データＪ
フ の下位桁アドレス指定のためにアキユムレータＡｃｅの
内容をＬレジスタに入れておく（ステップ１６３）。

縦寸法データＳＬＮをデータ・バツフアＤＢに転送し（
ステツプ１６４）、このデータＳＬＮを、ステツプ１６
２で指定されたアドレスに書き込む（ステツプ１６５）
。そして、ＨＬレジスタの内容をアドレス・バツフアＡ
Ｂに転送して（ステツプ１６６）横寸法データの記憶場
所を指定し、横寸法データＳＴＮをデータ・バツフアＤ
Ｂに転送し（ステツプ１６７）、ステツプ１６６で指定
されるアドレスに横寸法データＳＴＮを書き込む（ステ
ツプ１６８）。ステツプ１２の詳細は第２０ｅ図に示さ
れている。

後のステツプ１７６のために、ステツプ１６７でデータ
・バツフアＤＢに転送された横寸法データＳＴＮをＢレ
ジスタに待避させておく（ステツプ１６９）。ステツプ
１５５でＣレジスタに待避させておいた寸法測定回数Ｓ
ＫＮをＬレジスタに入れ（ステツプ１７０）、判定結果
エリヤ８２１の上位桁アドレス〔Ｇ〕をＨレジスタに入
れて（ステツプ１７１）、判定結果エリヤ８２１内の第
Ｎ回目に対応する記憶場所を指定する。ＨＬレジスタの
内容をアドレス・バツフアＡＢに転送して、この内容に
よつて指定される記憶場所に書き込まれている判定結果
（ＧＯ）をアキユムレータＡｃｃに読み出す（ステツプ
１７３）。そして、命令語〔ＺＮ〕をＴレジスタに入れ
（ステツプ１７４）、この命令語〔ＺＮ〕とアキユムレ
ータＡｃｃに読み出した判定結果ＧＯとが等しいかどう
か判断する（ステツプ１７５）。ＧＯ−ＺＮであれば、
第Ｎ回目の位置ずれ検出の判定はＺＮであつたことを意
味するからステツプ２４に移り、ＧＯ８ＺＮであればス
テツプ１３に移つて寸法評価処理を実行する。ステツプ
１３，１４の詳細は第２０ｆ図に示されている。ステツ
プ１６９でＢレジスタに待避しておいた横寸法データＳ
ＴＮをアキユムレータＡｃｃに入れ（ステツプ１７６）
、寸法評価基準Ｓ１が書き込まれている記憶場所のアド
レス〔ＳＡＩ〕をＨＬレジスタに入れる（ステツプ１７
７）。ＨＬレジスタの内容をアドレス・バツフアＡＢに
転送して（ステツプ１７８）寸法評価基準Ｓ１をＴレジ
スタに読み出す（ステツプ１７９）。アキユムレータＡ
ｃｃの内容である横寸法データＳＴＮがＴレジスタの内
容である寸法評価基準Ｓ１よりも小さいかどうかを判断
して（ステツプ１８０）、ＳＴＮ＜Ｓ１であればステツ
プ１８１に移る。極小２Ｓと評価されたみかんの積算個
数を計数する記憶場所のアドレス〔Ａ２Ｓ〕をＨＬレジ
スタに入れ（ステツプ１８１）、ＨＬレジスタの内容を
アドレス・バツフアＡＢに転送して（ステツプ１８２）
、アドレスＡ２Ｓに書き込まれている内容Ａ２ＳＭ、す
なわち積算個数をアキユムレータＡｃｃに読み出す（ス
テツプ１８３）。

アキユムレータＡｃｃの内容に＋１し（ステツプ１８４
）たのち、ＨＬレジスタの内容であるアドレスＡ２Ｓを
アドレス・バツフアＡＢに転送し（ステツプ１８５）、
アキユムレータＡｃｃの内容である加算結果Ａ２ＳＭ＋
１をデータ・バツフアＤＢに転送して（ステツプ１８６
）、上記加算結果をアドレスＡ２Ｓの記憶場所に書き込
む（ステツプ１８７）。ステツプ１５，１６の詳細が第
２０ｇ図に示されている。

この図において、ステツプ１８８〜１９８は、第２０ｆ
図におけるステツプ１７７〜１８７に対応していること
が理解されよう。ステツプ１７７，１８１ではアドレス
〔ＳＡｌ〕〔Ａ２Ｓ〕をＨＬレジスタに入れているのに
対し、ステツプ１８８，１９２ではアドレス〔ＳＡ２〕
〔ＡＳ〕をＨＬレジスタに入れている点が異なつている
にすぎない。ステツプ１７〜２３も同様にして実行され
ることは容易に理解されよう。また、ステップ２４〜２
６はステツプ４〜６に対応しているから、より詳細には
第２０ｅ図に示すものと同様にして実行される。第１９
ｃ図を参照して、表皮検査処理は次の手順により実行さ
れる。

ステツプ３１ 対数値１０ｇ０（イ））、１０ｇβＣ心？）、赤外光
３検出電圧Ｖｉを、アドレス６Ｄで指定される表皮検査
データ・エリヤ８１５に書き込む。

ステツプ１，１１と同様に、表皮検査回数ＬＫＮが第Ｎ
回目であることを、アドレスＳＡＳ６で指定される記憶
場所から読み出して、データ・工リヤ８１５内の下位桁
アドレスがＮの３倍、Ｎの３倍＋１、およびＮの３倍＋
２で表わされる記憶場所に、第Ｎ回目の対数値）、赤外
光検出電圧 Ｖｉを書き込む。

ステツプ３２ 命令語ＺＮが評価結果エリヤ８２１に書き込まれている
かどうかを判断する。

これはステツプ１２に対応するものであり、命令語ＺＮ
が書き込まれているときにはステツプ４５に移り、書き
込まれていない場合にはステツプ３３に移行する。

ステツプ３３ 傷病指数ＬＯＮをアドレス６Ｅで指定される傷病指数エ
リヤ８１６に書き込む。

第（３１）式により第Ｎ回目の傷病指数ＬＯＮを算出し
、エリヤ８１６内の下位桁アドレスがＮで表わされる記
憶場所に指数ＬＯＮを書き込む。

ステツプ３４ 傷病指数ＬＯＮが表皮評価基準Ｌ１よりも小さいかどう
かを判断する。

ＬＯＮ＜Ｌ１であれば、秀ＬＡに分類されステツプ３５
に移る。

ＬＯＮ≧Ｌ１であればステツプ３７に移る。ステツプ３
５ 評価［秀」を表わすコードＬＡを、アドレスＧで指定さ
れる評価結果エリヤ８２１に書き込む。

第Ｎ回目の表皮検査に対しては、エリヤ８２１内の下位
桁アドレスがＮで表わされる記憶場所にコードＬＡを書
き込む。これにもとずいて、後のステツプでノズル７１
０が選定される。ステツプ３６ アドレスＡＬＡで指定される記憶場所の内容に＋１する
。

秀ＬＡと評価されたみかんの積算個数を計数するためで
ある。

ステツプ３７ 傷病指数ＬＯＮが表皮評価基準Ｌ２よりも小さいかどう
かを判断する。

ＬＯＮ＜Ｌ２であれば、優ＬＢに分類されステツプ３８
に移る。

ＬＯＮ≧Ｌ２であればステツプ４０に移る。ステツプ３
８ 評価「優」を表わすコードＬＢを、アドレスＧで指定さ
れる評価結果エリヤ８２１に書き込む。

第Ｎ回目の表皮検査に対しては、エリヤ８２１のために
評価結果がエリヤ８２１に書き込まれるとともに、各評
価毎にそれらの積算個数が計数される。ステツプ３１の
詳細は第２０ｈ図に示されている。

下位桁アドレス〔Ｓ６〕をＬレジスタに入れ（ステツブ
２０１）、回数エリヤ８１１の上位桁アドレス〔ＳＡ〕
をＨレジンタに入れる（ステツプ２０２）。これにより
、表皮検査回数ＬＫＮの記憶場所のアドレスがＨＬレジ
スタによつて指定される。次に、ＨＬレジスタの内容を
アドレス・バツフアＡＢに入れて（ステツプ２０３）表
皮検査回数ＬＫＮをデータ・バツフアＤＢに読み出し（
ステツプ２０４）、この検査回数ＬＫＭをＣレジスタに
転送する（ステツプ２０５）。また、データ・バツフア
ＤＢの内容である検査回数ＬＫＮをアキユムレータＡｃ
ｃに入れ（ステツプ２０６）、３をＴレジスタに入れる
（ステツプ２０７）。アキユムレータＡｃｃの内容であ
る検査回数ＬＫＮとＴレジスタの内容である３との積を
演算してその結果をアキユムレータＡｃｃに入れる（ス
テツプ２０８）。これにより、対数値１０ｇａ（５÷）
の表皮検査データ・エリヤ８１５内の第Ｎ回目に対応す
る記憶場所の下位桁アドレスが求められた訳である。ア
キユムレータＡｃｃの内容をＬレジスタに転送して上記
下位桁アドレスを指定する（ステツプ２０９）。アキユ
ムレータＡｃｃの内容に＋１して、対数値１０ｇβ（域
と）の第Ｎ回目に対応する記憶場所の下位桁アドレスを
求めておく（ステツプ２１０）。表皮検査データ・エリ
ヤの上位桁アドレス〔６Ｄ〕をＨレジスタに入れ（ステ
ツプ２１１）、ＨＬレジスタの内容をアドレス・バツフ
アＡＢに転送（ステツプ２１２）したのち、対数値１０
ｇβ（ｙ）の下位桁アドレス指定のためにアキユムレー
タＡｃｃの内容をＬレジスタに入れておく（ステツプ２
１３）。対数値１０ｇ０（÷壬）をデータ・バツフアＤ
Ｂに転送し（ステツプ２１４）、このデータをステツプ
２１２で指定されたアドレスに書き込む（ステツプ１６
５）。アキユムレータＡｃｃの内容にさらに＋１して検
出電圧Ｖｉの第Ｎ回目に対応する記憶場所の下位桁アド
レスを求めておく（ステツプ２１６）。そしてＨＬレジ
スタの内容をアドレス・バツフアＡＢに転送（ステツプ
２１７）したのち、検出電圧Ｖｉの下位桁アドレス指定
のためにアキユムレータＡｃｃの内容をＬレジスタに入
れておく（ステツプ２１８）。対数値１０ｇβ（Ｘ÷）
をデータ・バツフアＤＢに転送し（ステツプ２１７）こ
のデータをステツプ２１７で指定されたアドレスに書き
込む（ステツプ２２０）。最後に、ＨＬレジスタの内容
をアドレス・バツフアＡＢに転送し（ステツプ２２１）
、検出電圧Ｖｉをデータ・バツフアＤＢに転送して（ス
テツプ２２２）、このデータをステツプ２２１で指定さ
れたアドレスに書き込む（ステツプ２２３）。第１９ｄ
図を参照して、出力センサ処理は次の手順により実行さ
れる。

ステツプ５１ 出力センサ検出回数０ＫＮを読み出す。

出力センサ検出回数０ＫＮが第Ｎ回目であることを、ア
ドレスＳＡＳ７で指定される記憶場所から読み出す。

ステツプ５２ 判定結果ＺＮ、または評価結果ＬＡ−ＬＤを読み出す。

命令語ＺＮおよび評価結果ＬＡ−ＬＤは評価結果エリヤ
８２１に書き込まれているからこのエリヤ８２１の上位
桁アドレスＧと、ステツプ５１で読みだされた回数Ｎ（
下位桁アドレス）とによつて第Ｎ回目の判定結果または
評価結果が書き込まれている記憶場所を指定して、その
場所に書き込まれている内容を読み出す。

ステツプ５３ ノズルなしＮｌ．またはノズル７１０〜７４０を選定す
る。

ノズル・エリヤ８１７の各記憶場所を指定する下位桁ア
ドレスは上記の結果を表わすコードと同一コードが用い
られているから、上記結果の読み出しにより、ノズル・
エリヤ８１７の結果に対応する記憶場所が指定される。

そして、指定された記憶場所にあらかじめ書き込まれて
いるノズル・コードＮＺＩ（＝Ｏ〜４）が読み出される
。ステツプ５４出力センサ検出回数０ＫＮが回数設定値
ＳＮに等しいかどうかをステツプ１３１〜１３６と同様
にして判断する。

０ＫＮ′ＳＳＮの場合にはステツプ５５に、０ＫＮ−Ｓ
Ｎの場合にはステツプ５６にそれぞれ移行する〜 ステツプ５５ アドレスＳＡＳ７で指定される記憶場所の記憶内容、す
なわち出力センサ検出回数０ＫＮに＋１する。

（詳細は、ステツプ１３７，１３９〜１４３と同様）ス
テツプ５６ アドレスＳＡＳ７で指定される記憶場所に１を書き込む
。

（詳細はステツプ１３８〜１４３と同様）ステツプ５１
〜５３の詳細は第２０１図に示されている。下位桁アド
レス〔Ｓ７〕をＬレジスタに入れ（ステツプ２３１）、
回数エリヤ８１１の上位桁アドレス〔ＳＡ〕をＨレジス
タに入れる。（ステツプ２３２）。これにより、出力セ
ンサ検出回数０ＫＮの記憶場所のアドレスがＨＬレジス
タにより指定される。次に、ＨＬレジスタの内容をアド
レス・バツフアＡＢに転送して（ステツプ２３３）、出
力センサ検出回数０ＫＮをアドレス・バツフアＤＢに読
み出し（ステツプ２３４）、この検出回数０ＫＮをＬレ
ジスタに転送し（ステツプ２３５）、さらにＣレジスタ
に格納しておく（ステツプ２３６）。評価結果エリヤ８
２１の上位桁アドレス〔Ｇ〕をＨレジスタに入れ（ステ
ツプ２３７）、ＨＬレジスタの内容をアドレス・バツフ
アＡＢに転送する（ステツプ２３８）。このことにより
、評価結果エリヤ８２１内の第Ｎ回目に対応する記憶場
所が指定されるので、その記憶場所に書き込まれている
結果ＺＮ、またはＬＡ〜ＬＤをＬレジスタに読み出す（
ステツプ２３９）。ノズル・エリヤ８１７の上位桁アド
レス〔７Ｎ〕をＨレジスタに入れ（ステツプ２４０）、
ＨＬレジンタの内容をアドレス・バツフアＡＢに転送す
る（ステツプ２４１）。Ｌレジスタにはステツプ２３９
で結果を表わすコードが入れられており、ノズル・エリ
ヤ８１７の各記憶場所の下位桁アドレスは結果を表わす
コードと同一コードが用いられているから、ステツプ２
４１によりノズル・エリヤ８１７内の結果に対応する記
憶場所が指定される。次に、この記憶場所に書き込まれ
ているノズル・コードＮＺＩ（１−０〜４）をデータ・
バツフアＤＢに読み出し（ステツプ２４２）、出力セン
サ７０１に転送する（ステツプ２４３）。このようにし
て、各検出毎にみかんの評価に対応したノズルを表わす
ノズル・コードＮＺＩ信号が出力センサ７０１に送られ
る。このノズル・コードＮＺＩ信号は、センサ７０１か
らみかんの検出信号とともにノズル選定信号としてシフ
ト・レジスタ７５０に送られる。

出力センサ７０１の位置と各ノズル７１０〜７４０の位
置とは若干離れているから、出力センサ７０１によるみ
かんの検出時点から、このみかんをコンベア３１０〜３
４０に移乗させるためにノズル７１０〜７４０から空気
を吹出すべき時点までの間には一定の時間差がある。シ
フト・レジスタ７５０は回転量検出器３５０からのコン
ベア・パルスを計数することにより、ノズル選定信号に
より規定されるノズルに応じて上記時間差を計時し、み
かんが選定されたノズルの位置に至つたときに振分信号
を出力してそのノズルを作動させる。ＣＰＵ８ＯＯによ
る評価が秀ＬＡの場合にはノズル７１０から、優ＬＢの
場合にはノズル７２０から、良ＬＣの場合にはノズル７
３０から、不可ＬＤの場合にはノズル７４０からそれぞ
れ空気が吹出され、みかんはその評価に対応するコンベ
ア３１０〜３４０に移される。判定結果がＺＮの場合に
は、いずれのノズル７１０〜７４０も作動せず、そのみ
かんはコンベア３００によつてその終点まで搬送される
。上記実施例では、表皮検査装置６００からの表皮検査
データにもとづいてみかんを評価し振分けているが、寸
法測定装置５００からの寸法測定データにもとづくみか
んの評価によつて振分けてもよいし、上記両データの組
合せによつてみかんを複数分類に選別することも可能で
ある。

みかんは通常その外観をよくみせるために着色される。
この着色の良否もまた表皮検査装置６００からの表皮検
査データにもとずいて判定することが可能であるから、
みかんを着色具合に応じて分類し、その積算個数を計数
したり選別したりすることもできる。さらに、寸法測定
装置４００、表皮検査装置６００のいずれでもみかんに
限らず他の果実に適用可能であるからこの発明による装
置は、りんごその他の果実の選果にも適用しうる。以上
詳細に説明したようにこの発明による選実装置では位置
ずれ検出装置によつて搬送路の中心線に対する果実のず
れ量が検出されかつ判定手段によつてそのずれ量が許容
範囲内にあるかどうかが判定される。

また果実表皮検査装置によつて波長の異なる光が果実表
皮に投射されかつ果実からの反射光量が測定される。そ
して判定手段によつて位置ずれ量が許容範囲内にあると
判定された場合にのみ、果実表皮検査装置によつて測定
された反射光量にもとづいて果実が複数段階に評価され
る。したがつて果実の評価を正確に行うことができ、正
確な選果が可能となる。また果実振分装置を備えている
から果実を表皮評価手段の評価に応じて複数の搬送路に
振分けることができる。

このようにして果実の評価および振分け作業が自動的に
行なわれるから、作業人員の削減と処理時間の短縮を図
ることができる。

【図面の簡単な説明】

図面はこの発明の実施例を示し、第１図は全体を示すプ
ロツク図、第２図ないし第４図は位置ずれ検出装置を示
し、第２図は配置構成図、第３図はプロツク図、第４図
は動作を示すタイム・チヤート、第５図ないし第１０図
は寸法測定装置を示し、第５図は配置構成を示す平面図
、第６図は同側面図、第７図はプロツク図、第８図およ
び第１０図は動作を示すタイム・チヤート、第９図は記
憶素子の構成図、第１１図ないし第１５図は表皮検査装
置を示し、第１１図はみかん表皮の断面図、第１２図は
みかん表皮における光の特性を示すグラフ、第１３図は
配置構成を示す平面図、第１４図は同正面図、第１５図
はプロツク図、第１６図はＣＰＵを示すプロツク図、第
１７図はＲＡＭの内容を示す図、第１８図ないし第２０
図は実行プログラムを示すフローチヤートである。 ３００・・・・・・主コンベア、３１０，３２０，３３
０，３４０・・・・・・分類コンベア、４００・・・・
・・位置ずれ検出装置、４０３，４０４・・・・・・光
電検出器、６００・・・・・・表皮検査装置、６２０ｇ
，６２０ｒ，６２０１・・・・・・投光器、６２１・・
・・・・受光器、７００・・・・・・振分装置、７１０
，７２０，７３０，７４０・・・・・・空気吹出ノズル
、８００・・・・・・ＣＰＵ．ＭＣ・・・・・・中心線
、ＭＫ・・・・・・みかん。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 搬送路上を搬送されている果実を評価して複数種類
   に区分けする装置であつて、それぞれの投射光が搬送路
   上の中心線上で交差するように配置された１対の光電検
   出器を備え、搬送されている果実が一方の投射光を遮光
   する時点と他方の投射光を遮光する時点とにもとづき果
   実の上記中心線からの位置ずれ量を検出する果実の位置
   ずれ検出装置と、少なくとも２種類の波長の異なる光を
   果実表皮に投射しそれらの反射光量を測定する果実表皮
   検査装置と、位置ずれ検出装置によつて検出された位置
   ずれ量が所要の許容範囲内にあるかどうかを判定する判
   定手段と、判定手段によつて位置ずれ量が許容範囲内に
   あると判定された場合に、果実表皮検査装置によつて測
   定された反射光量にもとづいて果実を複数段階に評価す
   る表皮評価手段と、表皮評価手段の評価にもとづいて各
   果実をその評価に応じて複数の搬送路に振分ける果実振
   分装置と、を備えている選果装置。 ２ 表皮評価手段が上記各反射光量をそれぞれ異なる底
   で対数変換し、両対数値の差にもとづいて果実を複数段
   階に評価するものである特許請求の範囲第１項記載の選
   果装置。